JP2014190890A - 硬さ試験機、及び硬さ試験方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】くぼみ領域を正確且つ高速に抽出することが可能な硬さ試験機、及び硬さ試験方法を提供する。
【解決手段】圧子を試料の表面に押し付けることによりくぼみを形成させるくぼみ付け手段と、CCDカメラを制御して試料の表面を撮像させ、画像データを取得させる撮像制御手段と、取得された画像データに基づいて、くぼみ領域を抽出するくぼみ領域抽出手段と、抽出されたくぼみ領域に基づいて、試料の硬さを算出する硬さ算出手段と、を備える。また、くぼみ領域抽出手段は、試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、くぼみ領域を抽出するパターンマッチング手段と、を備える。
【選択図】図5
【解決手段】圧子を試料の表面に押し付けることによりくぼみを形成させるくぼみ付け手段と、CCDカメラを制御して試料の表面を撮像させ、画像データを取得させる撮像制御手段と、取得された画像データに基づいて、くぼみ領域を抽出するくぼみ領域抽出手段と、抽出されたくぼみ領域に基づいて、試料の硬さを算出する硬さ算出手段と、を備える。また、くぼみ領域抽出手段は、試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、くぼみ領域を抽出するパターンマッチング手段と、を備える。
【選択図】図5
Description
本発明は、硬さ試験機、及び硬さ試験方法に関する。
従来、所定の試験力で圧子を試料に押し付けて形成したくぼみの寸法に基づいて試料の硬さを計測する硬さ試験機が知られている。例えば、ビッカース硬さ試験機は、正四角錐の圧子を試料の表面に押し込んで形成したくぼみの対角線長さを計測し、この計測したくぼみの対角線長さに基づいて、硬さを算出している。
一般に、周知の硬さ試験機では、金属材料の硬さ試験を行う際、撮像手段により撮像された試料表面の画像に対して、輝度値が所定の値(閾値)を下回ったか否かを判定することにより2値化処理を実行し、試料表面に形成されたくぼみ領域を抽出する処理が行われる(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、上記従来の硬さ試験機では、撮像された画像全体にシェーディングなどの輝度変化が存在する。従って、従来の硬さ試験機は、画像全体に2値化処理を行う際、輝度変化の影響を受けて正しくくぼみ領域を抽出できないことがある。特に、形成されたくぼみ領域が小さい場合には、正確なくぼみ領域の抽出が困難である。
また、従来の硬さ試験機は、例えば、図14に示すように、形成されたくぼみK2近傍に汚れなどがある場合にも、正確なくぼみ領域の抽出が困難である。
また、従来の硬さ試験機は、例えば、図14に示すように、形成されたくぼみK2近傍に汚れなどがある場合にも、正確なくぼみ領域の抽出が困難である。
本発明は、くぼみ領域を正確に抽出することが可能な硬さ試験機、及び硬さ試験方法を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、上記目的を達成するためになされたものであり、
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機において、
前記圧子を前記試料の表面に押し付けることにより、当該試料の表面に前記くぼみを形成させるくぼみ付け手段と、
撮像手段を制御して前記試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得させる撮像制御手段と、
前記撮像制御手段により取得された試料の表面の画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの領域を抽出するくぼみ領域抽出手段と、
前記くぼみ領域抽出手段により抽出されたくぼみ領域に基づいて、前記試料の硬さを算出する硬さ算出手段と、
を備え、
前記くぼみ領域抽出手段は、
前記試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、
前記縮小画像生成手段により生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、前記くぼみ領域を抽出するパターンマッチング手段と、
を備えることを特徴とする。
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機において、
前記圧子を前記試料の表面に押し付けることにより、当該試料の表面に前記くぼみを形成させるくぼみ付け手段と、
撮像手段を制御して前記試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得させる撮像制御手段と、
前記撮像制御手段により取得された試料の表面の画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの領域を抽出するくぼみ領域抽出手段と、
前記くぼみ領域抽出手段により抽出されたくぼみ領域に基づいて、前記試料の硬さを算出する硬さ算出手段と、
を備え、
前記くぼみ領域抽出手段は、
前記試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、
前記縮小画像生成手段により生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、前記くぼみ領域を抽出するパターンマッチング手段と、
を備えることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の硬さ試験機において、
前記パターンマッチング手段は、前記圧子に対応するくぼみ形状を含むモデルにより前記縮小画像を走査して算出される相関度に基づいて、前記くぼみ領域を抽出することを特徴とする。
前記パターンマッチング手段は、前記圧子に対応するくぼみ形状を含むモデルにより前記縮小画像を走査して算出される相関度に基づいて、前記くぼみ領域を抽出することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の硬さ試験機において、
前記パターンマッチング手段は、予め定められた順番の縮尺率で縮小された縮小画像を走査して前記相関度を算出し、当該算出された相関度のうち最大の相関度が所定の閾値以上であると判定した場合は、当該最大相関度を示す領域を前記くぼみ領域として抽出することを特徴とする。
前記パターンマッチング手段は、予め定められた順番の縮尺率で縮小された縮小画像を走査して前記相関度を算出し、当該算出された相関度のうち最大の相関度が所定の閾値以上であると判定した場合は、当該最大相関度を示す領域を前記くぼみ領域として抽出することを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項2又は3に記載の硬さ試験機において、
前記パターンマッチング手段は、全ての縮尺率で縮小された全ての縮小画像を走査して算出される全ての相関度のうち最大相関度を示す領域を前記くぼみ領域として抽出することを特徴とする。
前記パターンマッチング手段は、全ての縮尺率で縮小された全ての縮小画像を走査して算出される全ての相関度のうち最大相関度を示す領域を前記くぼみ領域として抽出することを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜4のいずれか一項に記載の硬さ試験機において、
前記硬さ算出手段により算出された試料の硬さを表示手段に表示させる表示制御手段を備えることを特徴とする。
前記硬さ算出手段により算出された試料の硬さを表示手段に表示させる表示制御手段を備えることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機の硬さ試験方法において、
前記圧子を前記試料の表面に押し付けることにより、当該試料の表面に前記くぼみを形成させるくぼみ付け工程と、
撮像手段を制御して前記試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得させる撮像制御工程と、
前記撮像制御工程で取得された試料の表面の画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの領域を抽出するくぼみ領域抽出工程と、
前記くぼみ領域抽出工程で抽出されたくぼみ領域に基づいて、前記試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を含み、
前記くぼみ領域抽出工程は、
前記試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成工程と、
前記縮小画像生成工程で生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、前記くぼみ領域を抽出するパターンマッチング工程と、
を含む硬さ試験方法である。
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機の硬さ試験方法において、
前記圧子を前記試料の表面に押し付けることにより、当該試料の表面に前記くぼみを形成させるくぼみ付け工程と、
撮像手段を制御して前記試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得させる撮像制御工程と、
前記撮像制御工程で取得された試料の表面の画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの領域を抽出するくぼみ領域抽出工程と、
前記くぼみ領域抽出工程で抽出されたくぼみ領域に基づいて、前記試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を含み、
前記くぼみ領域抽出工程は、
前記試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成工程と、
前記縮小画像生成工程で生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、前記くぼみ領域を抽出するパターンマッチング工程と、
を含む硬さ試験方法である。
本発明によれば、くぼみ領域を抽出する際に、2値化処理を行う必要がないため、輝度変化や汚れの影響を受けることなく正確にくぼみ領域を抽出することができる。
以下、本発明の実施の形態を、図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の説明において、図1におけるX方向を左右方向とし、Y方向を前後方向とし、Z方向を上下方向とする。また、X−Y面を水平面とする。
硬さ試験機100は、例えば、圧子14a(図3参照)の平面形状が矩形状に形成されたビッカース硬さ試験機である。硬さ試験機100は、図1〜図4に示すように、試験機本体10と、制御部6と、操作部7と、モニター8と、を備えて構成されている。
試験機本体10は、図2に示すように、試料Sの硬さ測定を行う硬さ測定部1と、試料Sを載置する試料台2と、試料台2を移動させるXYステージ3と、試料Sの表面に焦点を合わせるためのAFステージ4と、試料台2(XYステージ3、AFステージ4)を昇降する昇降機構部5と、を備えて構成されている。
硬さ測定部1は、図3に示すように、試料Sの表面を照明する照明装置11と、試料Sの表面を撮像するCCDカメラ12と、圧子14aを備える圧子軸14と対物レンズ15を備え、回転することにより圧子軸14と対物レンズ15との切り替えが可能なターレット16と、を備えて構成されている。
照明装置11は、光を照射することにより試料Sの表面を照明するものである。照明装置11から照射される光は、レンズ1a、ハーフミラー1d、ミラー1e、及び対物レンズ15を介して試料Sの表面に到達する。
CCDカメラ12は、試料Sの表面から対物レンズ15、ミラー1e、ハーフミラー1d、ミラー1g、及びレンズ1hを介して入力された反射光に基づき、当該試料Sの表面や圧子14aにより試料Sの表面に形成されるくぼみを撮像して画像データを取得する。そして、CCDカメラ12は、複数フレームの画像データを同時に蓄積、格納可能なフレームグラバー17を介して、当該取得した画像データを制御部6に出力する。
即ち、CCDカメラ12は、本発明の撮像手段として機能する。
即ち、CCDカメラ12は、本発明の撮像手段として機能する。
圧子軸14は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動される負荷機構部(図示省略)により試料台2に載置された試料Sに向けて移動され、先端部に備えた圧子14aを試料Sの表面に所定の試験力で押し付ける。本実施形態では、圧子14aとして、ビッカース用の四角錐圧子(対面角が136±0.5°)を使用する。
対物レンズ15は、それぞれ異なる倍率からなる集光レンズであって、ターレット16の下面に複数保持されている。対物レンズ15は、ターレット16の回転により試料Sの上方に配置されることで、照明装置11から照射される光を一様に試料Sの表面に照射させる。
ターレット16は、下面に圧子軸14と複数の対物レンズ15を取り付け可能に構成される。ターレット16は、Z軸方向を中心に回転することにより、圧子軸14及び複数の対物レンズ15の中の何れか一つを試料Sの上方に配置可能なように構成されている。即ち、圧子軸14を試料Sの上方に配置することで試料Sの表面にくぼみを形成することができ、対物レンズ15を試料Sの上方に配置することで形成されたくぼみを観察することができるようになっている。
試料台2は、上面に載置される試料Sを、試料固定部2aで固定する。
XYステージ3は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動する駆動機構部(図示省略)により駆動され、試料台2を圧子14aの移動方向(Z方向)に垂直な方向(X,Y方向)に移動させる。
AFステージ4は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、CCDカメラ12が撮像した画像データに基づき試料台2を微細に昇降させることで、試料Sの表面に焦点を合わせる。
昇降機構部5は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、試料台2(XYステージ3、AFステージ4)をZ方向に移動させることで、試料台2と対物レンズ15との間の相対距離を変化させる。
XYステージ3は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動する駆動機構部(図示省略)により駆動され、試料台2を圧子14aの移動方向(Z方向)に垂直な方向(X,Y方向)に移動させる。
AFステージ4は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、CCDカメラ12が撮像した画像データに基づき試料台2を微細に昇降させることで、試料Sの表面に焦点を合わせる。
昇降機構部5は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、試料台2(XYステージ3、AFステージ4)をZ方向に移動させることで、試料台2と対物レンズ15との間の相対距離を変化させる。
操作部7は、キーボード71と、マウス72と、を備えて構成され、硬さ試験を行う際のユーザによる入力操作を受け付ける。そして、操作部7は、ユーザによる所定の入力操作を受け付けると、その入力操作に応じた所定の操作信号を生成して、制御部6へと出力する。
具体的には、操作部7は、ユーザが、くぼみの合焦位置を決定する条件を選択する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザが、試料台2(昇降機構部5及びAFステージ4)の移動する範囲(試料台2と対物レンズ15との間の相対距離の範囲)を指定する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザが、硬さ試験機100による硬さ試験を実施する際の試験条件値を入力する操作を受け付ける。入力された試験条件値は、制御部6に送信される。ここで、試験条件値とは、例えば、試料Sの材質、圧子14aにより試料Sに負荷される試験力(N)、対物レンズ15の倍率、等の値である。
また、操作部7は、ユーザが、くぼみの合焦位置の決定を手動で行う手動モード又は自動で行う自動モードの何れかを選択する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザが、硬さ試験を実施する際の試験位置をプログラミングする操作を受け付ける。
具体的には、操作部7は、ユーザが、くぼみの合焦位置を決定する条件を選択する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザが、試料台2(昇降機構部5及びAFステージ4)の移動する範囲(試料台2と対物レンズ15との間の相対距離の範囲)を指定する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザが、硬さ試験機100による硬さ試験を実施する際の試験条件値を入力する操作を受け付ける。入力された試験条件値は、制御部6に送信される。ここで、試験条件値とは、例えば、試料Sの材質、圧子14aにより試料Sに負荷される試験力(N)、対物レンズ15の倍率、等の値である。
また、操作部7は、ユーザが、くぼみの合焦位置の決定を手動で行う手動モード又は自動で行う自動モードの何れかを選択する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザが、硬さ試験を実施する際の試験位置をプログラミングする操作を受け付ける。
モニター8は、例えば、LCDなどの表示装置により構成されている。モニター8は、操作部7において入力された硬さ試験の設定条件、硬さ試験の結果、及びCCDカメラ12が撮像した試料Sの表面や試料Sの表面に形成されるくぼみの画像等を表示する。
即ち、モニター8は、本発明の表示手段として機能する。
即ち、モニター8は、本発明の表示手段として機能する。
制御部6は、図4に示すように、CPU61と、RAM62と、記憶部63と、を備えて構成され、記憶部63に記憶された所定のプログラムが実行されることにより、所定の硬さ試験を行うための動作制御等を行う機能を有する。
CPU61は、記憶部63に格納された処理プログラム等を読み出して、RAM62に展開して実行することにより、硬さ試験機100全体の制御を行う。
RAM62は、CPU61により実行された処理プログラム等をRAM62内のプログ
ラム格納領域に展開するとともに、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果等をデータ格納領域に格納する。
記憶部63は、例えば、プログラムやデータ等を記憶する記録媒体(図示省略)を有しており、この記録媒体は、半導体メモリ等で構成されている。また、記憶部63は、CPU61が硬さ試験機100全体を制御する機能を実現させるための各種データ、各種処理プログラム、これらプログラムの実行により処理されたデータ等を記憶する。
また、記憶部63は、CCDカメラ12により取得された試料Sの表面の画像データに基づく画像を縮小するための縮尺率を予め複数記憶する。さらに、記憶部63は、試料Sの表面の画像データに基づく画像を縮小する複数の縮尺率の選択される順番を予め記憶する。
RAM62は、CPU61により実行された処理プログラム等をRAM62内のプログ
ラム格納領域に展開するとともに、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果等をデータ格納領域に格納する。
記憶部63は、例えば、プログラムやデータ等を記憶する記録媒体(図示省略)を有しており、この記録媒体は、半導体メモリ等で構成されている。また、記憶部63は、CPU61が硬さ試験機100全体を制御する機能を実現させるための各種データ、各種処理プログラム、これらプログラムの実行により処理されたデータ等を記憶する。
また、記憶部63は、CCDカメラ12により取得された試料Sの表面の画像データに基づく画像を縮小するための縮尺率を予め複数記憶する。さらに、記憶部63は、試料Sの表面の画像データに基づく画像を縮小する複数の縮尺率の選択される順番を予め記憶する。
次に、本実施形態に係る硬さ試験機100の動作について、図5のフローチャートを参照して説明する。
まず、圧子14aにより試料Sの表面にくぼみを形成する(ステップS1:くぼみ付け工程)。具体的には、まず、ユーザは、試料台2の上面に硬さ試験の対象となる試料Sを載置して試料固定部2aで固定する。次に、CPU61は、ターレット16を回転させて圧子軸14を試料Sに対向する所定の位置に配置させる。そして、CPU61は、負荷機構部(図示省略)を駆動することにより圧子軸14を下降させ、圧子軸14の先端部に備えられた圧子14aにより試料Sの表面にくぼみを形成させる。
即ち、CPU61は、圧子14aを試料Sの表面に押し付けることにより、当該試料Sの表面にくぼみを形成させるくぼみ付け手段として機能する。
まず、圧子14aにより試料Sの表面にくぼみを形成する(ステップS1:くぼみ付け工程)。具体的には、まず、ユーザは、試料台2の上面に硬さ試験の対象となる試料Sを載置して試料固定部2aで固定する。次に、CPU61は、ターレット16を回転させて圧子軸14を試料Sに対向する所定の位置に配置させる。そして、CPU61は、負荷機構部(図示省略)を駆動することにより圧子軸14を下降させ、圧子軸14の先端部に備えられた圧子14aにより試料Sの表面にくぼみを形成させる。
即ち、CPU61は、圧子14aを試料Sの表面に押し付けることにより、当該試料Sの表面にくぼみを形成させるくぼみ付け手段として機能する。
次に、試料Sの表面の画像データを取得する(ステップS2:撮像制御工程)。具体的には、まず、CPU61は、ターレット16を回転させて、圧子軸14の代わりに対物レンズ15を試料Sに対向する所定の位置に配置させる。次いで、CPU61は、対物レンズ15を介してCCDカメラ12により撮像された画像データに基づいて昇降機構部5及びAFステージ4を昇降させ、試料Sの表面に対する焦点合わせを行う。そして、CPU61は、CCDカメラ12により試料Sの表面を撮像させて、試料Sの表面の画像データを取得させる。
即ち、CPU61は、CCDカメラ12を制御して試料Sの表面を撮像させ、当該試料Sの表面の画像データを取得させる撮像制御手段として機能する。
なお、図6に、ステップS2で取得された試料Sの表面の画像データに基づく画像G1の一例を示す。図6中のK1は、試料Sの表面に形成されたくぼみの領域を示している。
即ち、CPU61は、CCDカメラ12を制御して試料Sの表面を撮像させ、当該試料Sの表面の画像データを取得させる撮像制御手段として機能する。
なお、図6に、ステップS2で取得された試料Sの表面の画像データに基づく画像G1の一例を示す。図6中のK1は、試料Sの表面に形成されたくぼみの領域を示している。
次に、くぼみ領域抽出処理を行う(ステップS3:くぼみ領域抽出工程)。具体的には、CPU61は、ステップS2で取得された試料Sの表面の画像データに基づいて、試料Sの表面に形成されたくぼみの領域K1を抽出する処理を行う。
即ち、CPU61は、撮像制御手段により取得された試料Sの表面の画像データに基づいて、試料Sの表面に形成されたくぼみの領域K1を抽出するくぼみ領域抽出手段として機能する。
即ち、CPU61は、撮像制御手段により取得された試料Sの表面の画像データに基づいて、試料Sの表面に形成されたくぼみの領域K1を抽出するくぼみ領域抽出手段として機能する。
より具体的には、図7のフローチャートに示すように、まず、画像G1を45°回転させる(ステップS31)。具体的には、CPU61は、図8に示すように、図5のステップS2で取得された画像G1(図6参照)を、45°回転させる。
次に、全ての縮尺率でパターンマッチング処理が終了したか否かを判定する(ステップS32)。具体的には、CPU61は、ステップS31で45°回転させた画像G1を記憶部63に記憶された全ての縮尺率で縮小した全ての縮尺画像に対して、パターンマッチング処理(ステップS34参照)が終了したか否かを判定する。全ての縮尺率でパターンマッチング処理が終了したと判定した場合(ステップS32:YES)は、ステップS37へと移行する。一方、少なくとも一つの縮尺率でパターンマッチング処理が終了していないと判定した場合(ステップS32:NO)は、次のステップS33へと移行する。
次に、縮小画像を生成する(ステップS33:縮小画像生成工程)。具体的には、CPU61は、ステップS31で45°回転させた画像G1を、記憶部63に記憶された複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像G2を生成する。図9に、ステップS33で生成された縮小画像G2の一例を示す。なお、ステップS33で生成される縮小画像G2は、未だパターンマッチング処理が終了していない縮尺率で縮小された画像である。
即ち、CPU61は、試料Sの表面の画像データに基づく画像G1を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像G2を生成する縮小画像生成手段として機能する。
即ち、CPU61は、試料Sの表面の画像データに基づく画像G1を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像G2を生成する縮小画像生成手段として機能する。
次に、パターンマッチング処理を行う(ステップS34:パターンマッチング工程)。具体的には、CPU61は、ステップS33で生成された縮小画像G2に対してパターンマッチング処理を行い、くぼみ領域K1を抽出する。
即ち、CPU61は、縮小画像生成手段により生成された縮小画像G2に対してパターンマッチング処理を行い、くぼみ領域K1を抽出するパターンマッチング手段として機能する。
以下、図10〜図13を参照して、正規化相関法を用いたパターンマッチング処理を説明する。
即ち、CPU61は、縮小画像生成手段により生成された縮小画像G2に対してパターンマッチング処理を行い、くぼみ領域K1を抽出するパターンマッチング手段として機能する。
以下、図10〜図13を参照して、正規化相関法を用いたパターンマッチング処理を説明する。
本実施形態では、図10に示す走査用モデル200を利用して、パターンマッチング処理を行う。走査用モデル200は、矩形状に形成され、X方向に28画素、Y方向に30画素の840画素で構成されている。走査用モデル200は、略中央部に配置され、圧子14aに対応する既知のくぼみ形状を45°回転させたものに対応する黒領域201と、当該黒領域201の周囲を覆う白領域202と、左端部の中央部に配置された灰色領域203と、を備えている。なお、灰色領域203は、マッチング処理に使用しない領域である。
黒領域201は、行方向、列方向ともに20画素の400画素で構成されている。灰色領域203は、行方向に20画素、列方向に2画素の40画素で構成されている。白領域202は、全領域から黒領域201と灰色領域203を除いた400画素で構成されている。即ち、黒領域201と白領域202とは同一の画素数で構成されている。従って、黒領域201を構成する各画素を−1、白領域202を構成する各画素を1でカウントすると、走査用モデル200で使用する画素の和が0となるようになっている。
黒領域201は、行方向、列方向ともに20画素の400画素で構成されている。灰色領域203は、行方向に20画素、列方向に2画素の40画素で構成されている。白領域202は、全領域から黒領域201と灰色領域203を除いた400画素で構成されている。即ち、黒領域201と白領域202とは同一の画素数で構成されている。従って、黒領域201を構成する各画素を−1、白領域202を構成する各画素を1でカウントすると、走査用モデル200で使用する画素の和が0となるようになっている。
本実施形態では、ステップS33で生成された縮小画像G2(図9参照)に対して、走査用モデル200を利用してラスタ走査することにより、マッチング処理を行う。但し、図11に示すように、縮小画像G2の周囲の画像が形成されていない領域G3に関しては、マッチング処理は行われない。
具体的には、まず、走査用モデル200を、図12に示すように、R1〜R5の5つの領域に区分けする。領域Cは、黒領域201に割り当てられ、残りの領域A、B、D、Eは、白領域202に割り当てられている。ここで、各領域R1〜R5の輝度値の合計をそれぞれA〜E、各領域R1〜R5の輝度値の二乗の合計をそれぞれA2〜E2、1(黒画素)又は−1(白画素)の画素数をN、A〜Eの合計をKとすると、相関度mは、数式1で算出することができる。
m=(A+B+D+E−C)/sqrt(N)/sqrt(A2+B2+C2+D2+E2−K*K/N) …(1)
具体的には、まず、走査用モデル200を、図12に示すように、R1〜R5の5つの領域に区分けする。領域Cは、黒領域201に割り当てられ、残りの領域A、B、D、Eは、白領域202に割り当てられている。ここで、各領域R1〜R5の輝度値の合計をそれぞれA〜E、各領域R1〜R5の輝度値の二乗の合計をそれぞれA2〜E2、1(黒画素)又は−1(白画素)の画素数をN、A〜Eの合計をKとすると、相関度mは、数式1で算出することができる。
m=(A+B+D+E−C)/sqrt(N)/sqrt(A2+B2+C2+D2+E2−K*K/N) …(1)
本実施形態では、マッチング処理を高速化するため、1列毎に、図13に示すように、上端部からの4行分の領域の輝度値の合計をU、下端部からの4行分の領域の輝度値の合計をDN、中間の20行分の領域の輝度値の合計をMedとして、下記の6つの数式2〜数式7を算出する。なお、数式2〜数式7において、stは行開始番号、st_rは列開始番号、I[x][y]は座標(x、y)の輝度値を示している。
数式2〜数式7を算出した後、当該数式2〜数式7で算出された値を利用して、A〜E、及びA2〜E2を算出する。例えば、A及びA2は、それぞれ数式8及び数式9で算出することができる。なお、数式8及び数式9において、st_rは列開始番号を示している。
その他のB〜E、及びB2〜E2も、数式2〜数式7で算出された値を利用して算出することが可能である。そして、算出されたA〜E、及びA2〜E2を上記の数式1に代入することにより、走査用モデル200の1領域分の相関度mを算出することができる。
以降、ラスタ走査により、走査用モデル200を1領域分ほど列方向にずらしてマッチング処理を行い、相関度mを算出する。その際、例えば、A及びA2は、それぞれ数式10及び数式11で算出することができる。
A=A+U[st_r+30]−U[st_r] …(10)
A2=A2+U2[st_r+30]−U2[st_r] …(11)
その他のB〜E、及びB2〜E2も、上記と同様の要領で算出することが可能である。以下、同様に、ラスタ走査により、走査用モデル200を1領域分ほど列方向にずらしてマッチング処理を行い、相関度mを算出する。
以降、ラスタ走査により、走査用モデル200を1領域分ほど列方向にずらしてマッチング処理を行い、相関度mを算出する。その際、例えば、A及びA2は、それぞれ数式10及び数式11で算出することができる。
A=A+U[st_r+30]−U[st_r] …(10)
A2=A2+U2[st_r+30]−U2[st_r] …(11)
その他のB〜E、及びB2〜E2も、上記と同様の要領で算出することが可能である。以下、同様に、ラスタ走査により、走査用モデル200を1領域分ほど列方向にずらしてマッチング処理を行い、相関度mを算出する。
そして、ラスタ走査により縮小画像G2の最右端にまで到達した場合、走査用モデル200を1領域分ほど行方向にずらすとともに、開始列、即ち、縮小画像G2の最左端へと移動させる。この移動に伴い、上記の数式2〜数式7を再計算する。例えば、U及びU2は、それぞれ数式12及び数式13で算出することができる。
U[i]=U[i]+I[st+4][i]−I[st][i] …(12)
U2[i]=U2[i]+I[st+4][i]*I[st+4][i]−I[st][i]*I[st][i] …(13)
その他のMed、Med2、DN、及びDN2も、上記と同様の要領で算出することが可能である。そして、再計算後のU、U2、Med、Med2、DN、及びDN2を利用して、A〜E、及びA2〜E2を算出し、相関度mを算出する。
縮小画像G2の全ての領域で相関度mを算出すると、当該パターンマッチング処理を終了し、次のステップS35へと移行する。
U[i]=U[i]+I[st+4][i]−I[st][i] …(12)
U2[i]=U2[i]+I[st+4][i]*I[st+4][i]−I[st][i]*I[st][i] …(13)
その他のMed、Med2、DN、及びDN2も、上記と同様の要領で算出することが可能である。そして、再計算後のU、U2、Med、Med2、DN、及びDN2を利用して、A〜E、及びA2〜E2を算出し、相関度mを算出する。
縮小画像G2の全ての領域で相関度mを算出すると、当該パターンマッチング処理を終了し、次のステップS35へと移行する。
次いで、図7のステップS35では、最大相関度が閾値以上であるか否かを判定する(ステップS35)。具体的には、CPU61は、ステップS34のパターンマッチング処理により算出された最大相関度が、所定の閾値以上であるか否かを判定する。なお、所定の閾値は、くぼみ領域K1との相関性を認め得る値であれば、いかなる値であってもよい。最大相関度が閾値以上であると判定した場合(ステップS35:YES)は、ステップS33で生成された縮小画像G2内にくぼみ領域K1が含まれると判定し、最大相関度を示す座標値及び当該縮小画像G2の縮尺率を取得する(ステップS36)。そして、CPU61は、ステップS36で取得された最大相関度の座標値及び縮尺率に基づいてくぼみ領域K1を抽出して図7のくぼみ領域抽出処理を終了し、図5のステップS4へと移行する。一方、最大相関度が閾値未満であると判定した場合(ステップS35:NO)は、ステップS32へと移行して、全ての縮尺率でパターンマッチング処理が終了したか否かを判定する。
即ち、CPU61は、パターンマッチング手段として、圧子14aに対応するくぼみ形状(黒領域201)を含む走査用モデル200により縮小画像G2を走査して算出される相関度mに基づいて、くぼみ領域K1を抽出する。
また、CPU61は、パターンマッチング手段として、予め定められた順番の縮尺率で縮小された縮小画像G2を走査して相関度mを算出し、算出された相関度mのうち最大の相関度が所定の閾値以上であると判定した場合(ステップS35:YES)は、当該最大相関度を示す領域をくぼみ領域K1として抽出する。
即ち、CPU61は、パターンマッチング手段として、圧子14aに対応するくぼみ形状(黒領域201)を含む走査用モデル200により縮小画像G2を走査して算出される相関度mに基づいて、くぼみ領域K1を抽出する。
また、CPU61は、パターンマッチング手段として、予め定められた順番の縮尺率で縮小された縮小画像G2を走査して相関度mを算出し、算出された相関度mのうち最大の相関度が所定の閾値以上であると判定した場合(ステップS35:YES)は、当該最大相関度を示す領域をくぼみ領域K1として抽出する。
なお、全ての縮尺率でパターンマッチング処理が終了したと判定した場合(ステップS32:YES)は、最大相関度の座標値及び縮尺率を取得する(ステップS37)。具体的には、CPU61は、全ての縮尺率で行われたパターンマッチング処理により算出された全ての相関度のうち最大の相関度を含む縮小画像G2にくぼみ領域K1が含まれると判定し、最大相関度を示す座標値及び当該縮小画像G2の縮尺率を取得する。そして、CPU61は、ステップS37で取得された最大相関度の座標値及び縮尺率に基づいてくぼみ領域K1を抽出して図7のくぼみ領域抽出処理を終了し、図5のステップS4へと移行する。
即ち、CPU61は、パターンマッチング手段として、全ての縮尺率で縮小された全ての縮小画像G2を走査して算出される全ての相関度mのうち最大相関度を示す領域をくぼみ領域K1として抽出する。
即ち、CPU61は、パターンマッチング手段として、全ての縮尺率で縮小された全ての縮小画像G2を走査して算出される全ての相関度mのうち最大相関度を示す領域をくぼみ領域K1として抽出する。
次いで、図5のステップS4では、くぼみ領域解析処理を行う(ステップS4)。具体的には、CPU61は、ステップS3のくぼみ領域抽出処理で抽出されたくぼみ領域K1に対して2値化処理等の解析処理を実行し、くぼみの寸法を計測するためのくぼみ計測用の頂点を抽出する。なお、具体的な解析処理については、従来公知の技術を用いることができるため、詳細な説明は省略する。
次に、試料Sの硬さを算出する(ステップS5:硬さ算出工程)。具体的には、CPU61は、ステップS4で抽出されたくぼみ計測用の頂点の座標値を参照してくぼみの対角線長さを計測し、当該計測された対角線長さに基づいて試料Sの硬さを算出する。
即ち、CPU61は、くぼみ領域抽出手段により抽出されたくぼみ領域K1に基づいて、試料Sの硬さを算出する硬さ算出手段として機能する。
次に、試料Sの硬さを算出する(ステップS5:硬さ算出工程)。具体的には、CPU61は、ステップS4で抽出されたくぼみ計測用の頂点の座標値を参照してくぼみの対角線長さを計測し、当該計測された対角線長さに基づいて試料Sの硬さを算出する。
即ち、CPU61は、くぼみ領域抽出手段により抽出されたくぼみ領域K1に基づいて、試料Sの硬さを算出する硬さ算出手段として機能する。
次に、試料Sの硬さを表示する(ステップS6)。具体的には、CPU61は、モニター8を制御してステップS5で算出された試料Sの硬さを表示させる。
即ち、CPU61は、硬さ算出手段により算出された試料Sの硬さをモニター8に表示させる表示制御手段として機能する。
即ち、CPU61は、硬さ算出手段により算出された試料Sの硬さをモニター8に表示させる表示制御手段として機能する。
以上のように、本実施形態に係る硬さ試験機100は、圧子14aを試料Sの表面に押し付けることにより、当該試料Sの表面にくぼみを形成させるくぼみ付け手段(CPU61)と、撮像手段(CCDカメラ12)を制御して試料Sの表面を撮像させ、当該試料Sの表面の画像データを取得させる撮像制御手段(CPU61)と、撮像制御手段により取得された試料Sの表面の画像データに基づいて、試料Sの表面に形成されたくぼみの領域K1を抽出するくぼみ領域抽出手段(CPU61)と、くぼみ領域抽出手段により抽出されたくぼみ領域K1に基づいて、試料Sの硬さを算出する硬さ算出手段(CPU61)と、を備える。また、くぼみ領域抽出手段は、試料Sの表面の画像データに基づく画像G1を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像G2を生成する縮小画像生成手段(CPU61)と、縮小画像生成手段により生成された縮小画像G2に対してパターンマッチング処理を行い、くぼみ領域K1を抽出するパターンマッチング手段(CPU61)と、を備える。
従って、本実施形態に係る硬さ試験機100によれば、くぼみ領域K1を抽出する際に、2値化処理を行う必要がないため、輝度変化や汚れの影響を受けることなく正確にくぼみ領域K1を抽出することができる。また、パターンマッチング処理を行うことにより、高速でくぼみ領域K1を抽出することができる。
従って、本実施形態に係る硬さ試験機100によれば、くぼみ領域K1を抽出する際に、2値化処理を行う必要がないため、輝度変化や汚れの影響を受けることなく正確にくぼみ領域K1を抽出することができる。また、パターンマッチング処理を行うことにより、高速でくぼみ領域K1を抽出することができる。
特に、本実施形態に係る硬さ試験機100によれば、パターンマッチング手段は、圧子14aに対応するくぼみ形状を含むモデル(走査用モデル200)により縮小画像G2を走査して算出される相関度mに基づいて、くぼみ領域K1を抽出するため、高速で縮小画像G2を走査することができることとなって、くぼみ領域K1の抽出を高速化することができる。
また、本実施形態に係る硬さ試験機100によれば、パターンマッチング手段は、予め定められた順番の縮尺率で縮小された縮小画像G2を走査して相関度mを算出し、算出された相関度mのうち最大の相関度が所定の閾値以上であると判定した場合は、当該最大相関度を示す領域をくぼみ領域K1として抽出するため、全ての縮小画像G2を走査することなく、圧子14aに対応するくぼみ形状との相関性が認められる領域をくぼみ領域K1として抽出できることとなって、処理時間を短縮することができる。
また、本実施形態に係る硬さ試験機100によれば、パターンマッチング手段は、全ての縮尺率で縮小された全ての縮小画像G2を走査して算出される全ての相関度mのうち最大相関度を示す領域をくぼみ領域K1として抽出するため、圧子14aに対応するくぼみ形状との相関度が最も大きい領域を抽出することとなって、精度よくくぼみ領域K1を抽出することができる。
以上、本発明に係る実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
例えば、上記実施形態では、パターンマッチング処理(図7のステップS34)を行った後に、算出された最大相関度が閾値以上であるか否かを判定し(ステップS35)、最大相関度が閾値以上であると判定した場合(ステップS35:YES)は、最大相関度を示す座標値及び当該縮小画像G2の縮尺率を取得する(ステップS36)ようにしているが、これに限定されるものではない。例えば、パターンマッチング処理後に、ステップS35の判定を行うことなくステップS32へと移行して、全ての縮尺率でパターンマッチング処理が終了したか否かを判定するようにしてもよい。
この場合、常に、全ての縮尺率で行われたパターンマッチング処理により算出された全ての相関度のうち最大の相関度を含む縮小画像G2にくぼみ領域K1が含まれると判定し、最大相関度を示す座標値及び当該縮小画像G2の縮尺率を取得することとなる。
この場合、常に、全ての縮尺率で行われたパターンマッチング処理により算出された全ての相関度のうち最大の相関度を含む縮小画像G2にくぼみ領域K1が含まれると判定し、最大相関度を示す座標値及び当該縮小画像G2の縮尺率を取得することとなる。
また、上記実施形態では、パターンマッチング処理において、正規化相関法を採用して説明しているが、これに限定されるものではない。例えば、正規化相関法の代わりに、幾何マッチングや一般化ハフ変換といった手法を採用して、パターンマッチング処理を行うようにしてもよい。
また、上記実施形態では、算出された試料Sの硬さをモニター8に表示させる(図5のステップS6)ことにより、ユーザに報知させるようにしているが、これに限定されるものではない。例えば、音声を出力可能なスピーカ等を備えるようにして、モニター8に表示させる代わりに、当該スピーカから音声出力させるようにしてもよい。或いは、モニター8に表示させると同時に、スピーカから音声出力させるようにしてもよい。
また、上記実施形態では、硬さ試験機100としてビッカース硬さ試験機を例示して説明しているが、これに限定されるものではない。圧子の形状が既知のものであればいかなる硬さ試験機に適用してもよく、例えば、ダイヤモンド長四角錘による圧子を備えるヌープ硬さ試験機等に適用することも可能である。
その他、硬さ試験機100を構成する各装置の細部構成及び各装置の細部動作に関しても、本発明の趣旨を逸脱することのない範囲で適宜変更可能である。
100 硬さ試験機
10 試験機本体
1 硬さ測定部
11 照明装置
12 CCDカメラ(撮像手段)
14 圧子軸
14a 圧子
15 対物レンズ
16 ターレット
17 フレームグラバー
2 試料台
3 XYステージ
4 AFステージ
5 昇降機構部
6 制御部
61 CPU(くぼみ付け手段、撮像制御手段、くぼみ領域抽出手段、縮小画像生成手段、パターンマッチング手段、硬さ算出手段、表示制御手段)
62 RAM
63 記憶部
7 操作部
8 モニター(表示手段)
200 走査用モデル(モデル)
S 試料
G1 画像
G2 縮小画像
K1 くぼみ領域
10 試験機本体
1 硬さ測定部
11 照明装置
12 CCDカメラ(撮像手段)
14 圧子軸
14a 圧子
15 対物レンズ
16 ターレット
17 フレームグラバー
2 試料台
3 XYステージ
4 AFステージ
5 昇降機構部
6 制御部
61 CPU(くぼみ付け手段、撮像制御手段、くぼみ領域抽出手段、縮小画像生成手段、パターンマッチング手段、硬さ算出手段、表示制御手段)
62 RAM
63 記憶部
7 操作部
8 モニター(表示手段)
200 走査用モデル(モデル)
S 試料
G1 画像
G2 縮小画像
K1 くぼみ領域
Claims (6)
- 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機において、
前記圧子を前記試料の表面に押し付けることにより、当該試料の表面に前記くぼみを形成させるくぼみ付け手段と、
撮像手段を制御して前記試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得させる撮像制御手段と、
前記撮像制御手段により取得された試料の表面の画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの領域を抽出するくぼみ領域抽出手段と、
前記くぼみ領域抽出手段により抽出されたくぼみ領域に基づいて、前記試料の硬さを算出する硬さ算出手段と、
を備え、
前記くぼみ領域抽出手段は、
前記試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成手段と、
前記縮小画像生成手段により生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、前記くぼみ領域を抽出するパターンマッチング手段と、
を備えることを特徴とする硬さ試験機。 - 前記パターンマッチング手段は、前記圧子に対応するくぼみ形状を含むモデルにより前記縮小画像を走査して算出される相関度に基づいて、前記くぼみ領域を抽出することを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。
- 前記パターンマッチング手段は、予め定められた順番の縮尺率で縮小された縮小画像を走査して前記相関度を算出し、当該算出された相関度のうち最大の相関度が所定の閾値以上であると判定した場合は、当該最大相関度を示す領域を前記くぼみ領域として抽出することを特徴とする請求項2に記載の硬さ試験機。
- 前記パターンマッチング手段は、全ての縮尺率で縮小された全ての縮小画像を走査して算出される全ての相関度のうち最大相関度を示す領域を前記くぼみ領域として抽出することを特徴とする請求項2又は3に記載の硬さ試験機。
- 前記硬さ算出手段により算出された試料の硬さを表示手段に表示させる表示制御手段を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の硬さ試験機。
- 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機の硬さ試験方法において、
前記圧子を前記試料の表面に押し付けることにより、当該試料の表面に前記くぼみを形成させるくぼみ付け工程と、
撮像手段を制御して前記試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得させる撮像制御工程と、
前記撮像制御工程で取得された試料の表面の画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの領域を抽出するくぼみ領域抽出工程と、
前記くぼみ領域抽出工程で抽出されたくぼみ領域に基づいて、前記試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を含み、
前記くぼみ領域抽出工程は、
前記試料の表面の画像データに基づく画像を予め定められた複数の縮尺率のうち選択された縮尺率で縮小して縮小画像を生成する縮小画像生成工程と、
前記縮小画像生成工程で生成された縮小画像に対してパターンマッチング処理を行い、前記くぼみ領域を抽出するパターンマッチング工程と、
を含む硬さ試験方法。
Priority Applications (4)
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