JPH11218472A - 試験装置 - Google Patents

試験装置

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JPH11218472A
JPH11218472A JP2245998A JP2245998A JPH11218472A JP H11218472 A JPH11218472 A JP H11218472A JP 2245998 A JP2245998 A JP 2245998A JP 2245998 A JP2245998 A JP 2245998A JP H11218472 A JPH11218472 A JP H11218472A
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JP
Japan
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load
load cell
receiving portion
load receiving
test
Prior art date
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Application number
JP2245998A
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English (en)
Inventor
Hideji Takabayashi
秀次 高林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba TEC Corp
Original Assignee
Toshiba TEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba TEC Corp filed Critical Toshiba TEC Corp
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Publication of JPH11218472A publication Critical patent/JPH11218472A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 反復押下試験の対象物が備える反復押下部を
押し下げるとともに反復押下部の押し上げ方向の力を測
定する試験装置を得る。 【解決手段】 ロードセル6と反復押下試験の対象物2
とを移動機構によって相対的に移動させ、ロードセル6
の荷重受け部10と対象物2が備える反復押下部4とを
接離させる。これにより、荷重受け部10で反復押下部
4を押し下げるとともに、反復押下部4が荷重受け部1
0に加える押し上げ方向の荷重をロードセル6に備えら
れたストレンゲージに接続された回路により測定するこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バネ式のスイッチ
の寿命を調べる試験などに使用する試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スイッチやキーボードのキーなど、操作
者によって押し下げられてバネ等の力によって復帰する
ような装置については、その寿命や劣化の進み方を調べ
る必要がある。従来、寿命や劣化の進み方を調べる試験
では、スイッチのボタンやキーボードのキーを繰り返し
押し下げる装置と、ボタンやキーの下のバネの力を測定
する装置との二つの装置を用い、ボタンやキーを所定時
間あるいは所定回数押し下げる毎に、押し下げられたボ
タンやキーを復帰させるバネの力を測定している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】反復押下試験では、従
来、スイッチのボタンやキーボードのキーを繰り返し押
し下げるための装置に反復押下試験の対象物であるスイ
ッチやキーボードをセットする作業と、ボタンやキーの
下のバネの力を測定する装置にスイッチやキーボードを
セットする作業とを、所定時間あるいは所定回数毎に交
互に繰り返さなければならず、手間がかかるという不都
合がある。
【0004】本発明は、反復押下試験の対象物が備える
反復押下部を押し下げるとともに反復押下部の押し上げ
方向の力を測定する試験装置を得ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明の試
験装置は、起歪部に貼り付けられたストレンゲージの抵
抗値の変化から荷重受け部に加えられた荷重を得るロー
ドセルと、反復押下試験の対象物を固定的に支持する支
持台と、前記対象物が備える反復押下部と前記荷重受け
部とが接離するように前記支持台と前記ロードセルとを
相対的に移動させる移動機構とを備える。
【0006】したがって、反復押下試験の対象物が備え
る反復押下部が荷重受け部によって押し下げられるとと
もに、反復押下部から加えられる押し上げ方向の荷重が
ストレンゲージに接続された回路により測定される。
【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載の試
験装置であって、移動機構は反復押下試験の対象物とロ
ードセルとを反復押下部が荷重受け部に加える力の方向
と直交する方向に相対移動させ、前記対象物と前記ロー
ドセルとの相対移動方向における前記荷重受け部の上流
側及び下流側には保護部材が設けられ、前記保護部材は
前記反復押下部が前記荷重受け部に加える力に直交し且
つ前記荷重受け部の先端を含む仮想平面上に先端部が位
置する形状である。
【0008】したがって、荷重受け部が反復押下試験の
対象物が備える反復押下部に接する際、その対象物から
相対移動方向の荷重が加えられることはない。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の試験装置の実施の第一の
実施の形態について、図1及び図2を参照して説明す
る。本実施の形態の試験装置1は、スイッチやキーボー
ドのキーの寿命や劣化の進み方を調べるための反復押下
試験などに用いられる。
【0010】スイッチ2は、繰り返し押し下げられる反
復押下部であるボタン4を備えている。スイッチ2の内
部には、ボタン4が押し下げられることによって接続さ
れる端子(図示せず)と、押し下げられたボタン4を上
向きに押し上げるバネ5とが収められている。
【0011】スイッチ2は複数個一列に並べられて支持
台3に位置固定され、端子が接続される程度にボタン4
が押し下げられた状態でのバネ5の力が試験装置1で測
定される。ここで、端子が接続される程度にボタン4が
押し下げられた状態のスイッチ2の底面からボタン4の
上面までの高さをaとする。
【0012】試験装置1にはロードセル6が用いられて
いる。ロードセル6は、アルミ製のブロックに貫通孔7
を形成し、最も薄い四ヵ所を起歪部8とし、起歪部8に
ストレンゲージ9を貼り付けたものである。このような
ロードセル6の一端には、荷重受け部10が下面から突
出して設けられている。荷重受け部10はボタン4に面
する円筒面を有し、この円筒面の軸方向は荷重受け部1
0の移動方向に直交している。また、ロードセル6の他
端は、支持部材11によって支持されている。
【0013】支持部材11は、図示しない移動機構に連
結されている。この移動機構は、荷重受け部10の先端
と支持台3との間隔をaに保って支持部材11を平行移
動させる。
【0014】ロードセル6の両側面及び上面の三方の面
は、保護部材12で覆われている。保護部材12の内面
とロードセル6の両側面及び上面との間には、隙間が設
けられており、直接接触してはいない。
【0015】ロードセル6の両側に位置する保護部材1
2の二枚の側壁は、下端が荷重受け部10の下端と同じ
高さになるように形成されている。さらに、保護部材1
2の下端は、外側は少なくとも外力が付加されない状態
のボタン4の高さから下端まで丸みがつけられ、内側は
少なくとも押し下げられた状態のボタン4の高さから下
端まで丸みがつけられている。
【0016】このような保護部材12は、支持台3に対
して相対移動することによってボタン4を高さaまで押
し下げて、水平方向に移動する荷重受け部10がボタン
4から水平方向の荷重を受けることを防ぐ。
【0017】ストレンゲージ9は、図示しない回路に接
続されている。この回路は、各種の演算を行い各部を集
中的に制御するCPUや、各種のプログラムが格納され
たROM、可変データを一時的に記憶したり一部分がカ
ウンタ領域に利用されたりするRAMを備えている。こ
の回路によって、ストレンゲージ9の抵抗値が測定され
る。
【0018】このような構成において、本実施の形態で
は、荷重受け部10を備えるロードセル6がスイッチ2
の上を水平方向に平行移動する。ロードセル6が移動す
ると、まず保護部材12がスイッチ2のボタン4に突き
当たる。ロードセル6が移動するにしたがって、ボタン
4は保護部材12の下端の曲面によって徐々に押し下げ
られ、高さaまで押し下げられる。
【0019】ロードセル6はさらに移動し、荷重受け部
10をボタン4の上に位置させる。そして、荷重受け部
10がボタン4の所定位置に位置すると、ロードセル6
は移動を停止する。
【0020】この状態では、荷重受け部10には、ボタ
ン4を介してバネ5から押し上げ方向の力が加えられて
いる。その力により、起歪部8が撓み、ストレンゲージ
9の抵抗値が変化する。この抵抗値の変化により、スイ
ッチ2のバネ5が荷重受け部10に加える押し上げ方向
の力が測定される。測定値は、各スイッチ2ごとに、そ
のときの押下回数とともにRAMに記憶される。
【0021】測定が終了すると、ロードセル6は他のス
イッチ2へと移動し、次のスイッチ2について測定を行
う。保護部材12の下端には内側にも丸みがつけられて
いるので、ボタン4の高さaから突出した分は押し下げ
られるため、ボタン4が保護部材12の内側にひっかか
ることはない。
【0022】このようにして各スイッチ2について測定
を繰り返す。反復押下試験の結果は、例えば、ROMに
格納されたプログラムに予め設定された所定値を測定値
が下回ったときの各スイッチ2の押下回数をCPUが平
均し、その平均値で示される。また、測定値の記録か
ら、スイッチ2の劣化の進み方を知ることができる。
【0023】本実施の形態によれば、ロードセル6によ
る測定であるので、測定値に高い精度が期待できる。ま
た、ロードセル6とスイッチ2との一方向の相対移動に
よって、複数個のスイッチ2についての反復押下試験が
できるので、一つのスイッチ2から他のスイッチ2へと
ロードセル6を移動させるときにロードセル6とスイッ
チ2との高さ方向の位置制御の必要がなく、ロードセル
6とスイッチ2との相対位置の制御を容易にすることが
でき、したがって、ロードセル6と各スイッチ2との相
対位置の制御にかかる時間を短くすることができるの
で、一つのスイッチ2から他のスイッチ2へロードセル
6が移動するのにかかる時間を短くすることができる。
【0024】なお、本実施の形態では、ロードセル6が
備える荷重受け部10によってボタン4を押し下げ、と
もにバネ5の押し上げ方向の力を測定しているが、実施
にあたっては、ボタン4の押下回数が所定回数になる毎
にバネ5の押し上げ方向の力を測定するようにしてもよ
い。
【0025】また、本実施の形態では、ロードセル6と
スイッチ2とを水平方向に相対的に移動させているが、
実施にあたっては、ロードセル6とスイッチ2とが上下
方向に相対的に移動する構造であってもよい。例えば、
ロードセル6と支持台3との間隔がaとなる位置と、押
し下げられていないスイッチ2の高さよりもやや高く設
定した位置との間でロードセル6を鉛直方向に移動さ
せ、支持台3を水平方向に移動させる構造の移動機構を
設ける。この場合には、ボタン4が荷重受け部10に水
平方向の荷重を加えることがないので、保護部材12は
設けられていなくてもよい。
【0026】また、本実施の形態では、スイッチ2を一
列に並べてロードセル6を平行移動させているが、実施
にあたっては、スイッチ2を円形に並べ、ロードセル6
を支持部材11側を中心にして回転させても、同様の効
果を得ることができる。
【0027】また、本実施の形態では、スイッチ2を固
定してロードセル6を移動させているが、実施にあたっ
ては、ロードセル6を固定し、スイッチ2を移動させて
も同様の効果を得ることができる。
【0028】さらに、本実施の形態では、試験装置1を
スイッチ2の反復押下試験に用いているが、実施にあた
っては、キーボードのキーなど他の繰り返し押し下げら
れる装置の寿命や劣化の進み方を調べるのに用いていて
もよい。
【0029】
【発明の効果】請求項1記載の発明では、起歪部に貼り
付けられたストレンゲージの抵抗値の変化から荷重受け
部に加えられた荷重を得るロードセルと、反復押下試験
の対象物を固定的に支持する支持台と、前記対象物が備
える反復押下部と前記荷重受け部とが接離するように前
記支持台と前記ロードセルとを相対的に移動させる移動
機構とを備えるので、ロードセル秤の荷重受け部によっ
て反復押下部を押し下げるとともに反復押下部から加え
られる押し上げ方向の荷重を測定できる。したがって、
従来のように、反復押下部を繰り返し押し下げる装置
と、反復押下部の押し上げ方向の荷重を測定する装置と
に、反復押下試験の対象物を所定時間あるいは所定押下
回数ごとに交互に設置する手間を省くことができる。
【0030】請求項2記載の発明では、移動機構は反復
押下試験の対象物とロードセルとを反復押下部が荷重受
け部に加える力の方向と直交する方向に相対移動させ、
前記対象物と前記ロードセルとの相対移動方向における
前記荷重受け部の上流側及び下流側には保護部材が設け
られ、前記保護部材は前記反復押下部が前記荷重受け部
に加える力に直交し且つ前記荷重受け部の先端を含む仮
想平面上に先端部が位置する形状であるので、荷重受け
部が反復押下試験の対象物に接する際、その対象物から
水平方向の荷重が加えられることはないため、荷重受け
部に水平方向の荷重が加わることによりロードセル秤が
故障したり測定結果に悪影響が及ぼされることを防止で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態の試験装置を構成するロ
ードセル及び保護部材を示す斜視図である。
【図2】支持台に複数個並べられた反復押下試験の対象
物の一つにロードセルが接している状態を示す正面図で
ある。
【符号の説明】
1 試験装置 2 反復押下試験の対象物 3 支持台 4 反復押下部 6 ロードセル 8 起歪部 9 ストレンゲージ 10 荷重受け部 12 保護部材

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 起歪部に貼り付けられたストレンゲージ
    の抵抗値の変化から荷重受け部に加えられた荷重を得る
    ロードセルと、 反復押下試験の対象物を固定的に支持する支持台と、 前記対象物が備える反復押下部と前記荷重受け部とが接
    離するように前記支持台と前記ロードセルとを相対的に
    移動させる移動機構と、を備える試験装置。
  2. 【請求項2】 移動機構は反復押下試験の対象物とロー
    ドセルとを反復押下部が荷重受け部に加える力の方向と
    直交する方向に相対移動させ、前記対象物と前記ロード
    セルとの相対移動方向における前記荷重受け部の上流側
    及び下流側には保護部材が設けられ、前記保護部材は前
    記反復押下部が前記荷重受け部に加える力に直交し且つ
    前記荷重受け部の先端を含む仮想平面上に先端部が位置
    する形状である請求項1記載の試験装置。
JP2245998A 1998-02-04 1998-02-04 試験装置 Pending JPH11218472A (ja)

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JP2245998A JPH11218472A (ja) 1998-02-04 1998-02-04 試験装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008171328A (ja) * 2007-01-15 2008-07-24 Fujikura Ltd 打鍵装置
CN101995549A (zh) * 2010-10-21 2011-03-30 浙江吉利汽车研究院有限公司 控制开关耐久试验装置
CN103926531A (zh) * 2014-04-18 2014-07-16 上海大众汽车有限公司 旋钮试验装置

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