JPH09146673A - キーボード試験装置 - Google Patents
キーボード試験装置Info
- Publication number
- JPH09146673A JPH09146673A JP7307383A JP30738395A JPH09146673A JP H09146673 A JPH09146673 A JP H09146673A JP 7307383 A JP7307383 A JP 7307383A JP 30738395 A JP30738395 A JP 30738395A JP H09146673 A JPH09146673 A JP H09146673A
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- Japan
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- keyboard
- test
- laser light
- laser
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Abstract
(57)【要約】
【課題】キーボードの多数のキースイッチの組込み不良
および異物の検出を瞬時に発見しかつ高精度で短時間に
検査を行なう。 【解決手段】試験ヘッド１はキーボードのキースイッチ
を押圧する多数のバネ付押下棒９を有し上下移動を行な
う。バネ付押下棒９はキースイッチ１１および１２を加
圧する。バネ圧調整ネジ８は加圧する荷重を調整する。
ゲート１０はレーザ光２８が通過する溝を有しバネ付押
下棒９に装着される。赤外線レーザ６はレーザ光２８を
射出する。センサ７はゲート１０を通過したレーザ光２
８を受光する。
および異物の検出を瞬時に発見しかつ高精度で短時間に
検査を行なう。 【解決手段】試験ヘッド１はキーボードのキースイッチ
を押圧する多数のバネ付押下棒９を有し上下移動を行な
う。バネ付押下棒９はキースイッチ１１および１２を加
圧する。バネ圧調整ネジ８は加圧する荷重を調整する。
ゲート１０はレーザ光２８が通過する溝を有しバネ付押
下棒９に装着される。赤外線レーザ６はレーザ光２８を
射出する。センサ７はゲート１０を通過したレーザ光２
８を受光する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はキーボード試験装置
に関し、特にキースイッチを押下したときの変位量をレ
ーザ計測により自動検出するキーボード試験装置に関す
る。
に関し、特にキースイッチを押下したときの変位量をレ
ーザ計測により自動検出するキーボード試験装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来この種のキーボードの試験装置とし
ては、一定荷重を有したソレノイドを用いて順次キース
イッチを打鍵することにより、キーボードのスイッチ機
能を確認する方式が取られている。
ては、一定荷重を有したソレノイドを用いて順次キース
イッチを打鍵することにより、キーボードのスイッチ機
能を確認する方式が取られている。
【０００３】或いは、作業者が各キースイッチ毎に指で
押下することにより、組立時のズレや機構部への異物の
つまり等を検出している。
押下することにより、組立時のズレや機構部への異物の
つまり等を検出している。
【０００４】このようなキーボード試験装置の一例とし
て、特開平１−１４０２１８号公報記載の「キー検査装
置」が知られている。
て、特開平１−１４０２１８号公報記載の「キー検査装
置」が知られている。
【０００５】この公報では、キースイッチの押圧試験に
２種類のウエイトを有する重りをソレノイドのプランジ
ャに吊下げ外部指令によって重りの選択を行なった後、
全キースイッチのテストを順次自動的に行ない、試験の
結果をキースイッチの信号としてパソコンのメモリに記
憶させ、高速かつ高精度の押圧試験を自動的に行なう技
術が記載されている。この押圧試験装置では一定の重り
を載せたときのキースイッチの動作状態を電気信号のオ
ンオフとして各キー毎に確認しているため、試験時間が
長くかかってしまう。
２種類のウエイトを有する重りをソレノイドのプランジ
ャに吊下げ外部指令によって重りの選択を行なった後、
全キースイッチのテストを順次自動的に行ない、試験の
結果をキースイッチの信号としてパソコンのメモリに記
憶させ、高速かつ高精度の押圧試験を自動的に行なう技
術が記載されている。この押圧試験装置では一定の重り
を載せたときのキースイッチの動作状態を電気信号のオ
ンオフとして各キー毎に確認しているため、試験時間が
長くかかってしまう。
【０００６】また、一定の荷重でのキースイッチの動作
状態を電気信号のオンオフとして間接的に見ているため
に、微妙な組込み不良および小さい異物、ゴミの混入は
判別が困難であった。
状態を電気信号のオンオフとして間接的に見ているため
に、微妙な組込み不良および小さい異物、ゴミの混入は
判別が困難であった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のキーボ
ード試験装置は、キーボード上の多数のキースイッチに
対し各キースイッチ１個毎に試験を行なうため、試験時
間が長くなるという欠点を有している。
ード試験装置は、キーボード上の多数のキースイッチに
対し各キースイッチ１個毎に試験を行なうため、試験時
間が長くなるという欠点を有している。
【０００８】また、キースイッチの動作状態を電気信号
のオンオフとして間接的に検出するため、キースイッチ
の微妙な組込み不良および小さい異物、ゴミの混入は判
別が困難なため、誤まった判定を行なうという欠点を有
している。
のオンオフとして間接的に検出するため、キースイッチ
の微妙な組込み不良および小さい異物、ゴミの混入は判
別が困難なため、誤まった判定を行なうという欠点を有
している。
【０００９】本発明の目的は、一定荷重による変位量を
全キー同時に測定することにより、各キーの微妙な組込
み不良および異物混入を瞬時に発見しかつ高精度で短時
間に検査できるキーボード試験装置を提供することにあ
る。
全キー同時に測定することにより、各キーの微妙な組込
み不良および異物混入を瞬時に発見しかつ高精度で短時
間に検査できるキーボード試験装置を提供することにあ
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明のキーボード試験
装置は、キーボードのキースイッチを押すための加圧手
段と、前記加圧手段に装着されレーザ光の通過および遮
断機能を有する透過手段と、前記キースイッチの数に対
応した前記加圧手段および透過手段を有した試験ヘッド
と、前記レーザ光を射出するレーザと、前記透過手段を
通過した前記レーザ光を受光する検知手段と、前記検知
手段により検査結果を表示する表示手段と、前記キーボ
ードを前記試験ヘッドの下部に移動させる移動手段と、
試験条件の設定および試験動作の管理制御を自動的に行
なう制御手段とから構成されたことを特徴としている。
装置は、キーボードのキースイッチを押すための加圧手
段と、前記加圧手段に装着されレーザ光の通過および遮
断機能を有する透過手段と、前記キースイッチの数に対
応した前記加圧手段および透過手段を有した試験ヘッド
と、前記レーザ光を射出するレーザと、前記透過手段を
通過した前記レーザ光を受光する検知手段と、前記検知
手段により検査結果を表示する表示手段と、前記キーボ
ードを前記試験ヘッドの下部に移動させる移動手段と、
試験条件の設定および試験動作の管理制御を自動的に行
なう制御手段とから構成されたことを特徴としている。
【００１１】前記加圧手段が加圧の調整ができるバネと
バネ圧力調整用ネジを含むことを特徴としている。
バネ圧力調整用ネジを含むことを特徴としている。
【００１２】前記透過手段が前記レーザ光を通過させる
ためのコの字型の溝を有したブロックであることを特徴
としている。
ためのコの字型の溝を有したブロックであることを特徴
としている。
【００１３】前記透過手段が前記レーザ光を通過させる
ための楕円または円型の穴を有したブロックであること
を特徴としている。
ための楕円または円型の穴を有したブロックであること
を特徴としている。
【００１４】また、前記レーザが赤外線レーザであるこ
とを特徴としている。
とを特徴としている。
【００１５】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１６】図１は本発明のキーボード試験装置の一つ
の実施の形態を示す斜視図である。
の実施の形態を示す斜視図である。
【００１７】図１に示す本実施の形態は、キーボードの
一群のキーを押圧するバネ付押下棒９を有する試験ヘッ
ド１と、被試験用キーボードを装着し試験ヘッド１の下
まで移動できるキーボードセット治具２と、試験判定値
の設定変更および試験時間の調整を行なう制御ボックス
３と、試験のスタートを指令するスタートスイッチ４
と、試験結果を表示する判定表示器５と、センサ７とか
ら構成されている。
一群のキーを押圧するバネ付押下棒９を有する試験ヘッ
ド１と、被試験用キーボードを装着し試験ヘッド１の下
まで移動できるキーボードセット治具２と、試験判定値
の設定変更および試験時間の調整を行なう制御ボックス
３と、試験のスタートを指令するスタートスイッチ４
と、試験結果を表示する判定表示器５と、センサ７とか
ら構成されている。
【００１８】図２は試験ヘッド周辺を示す詳細断面図で
あり、レーザ光を射出する赤外線レーザ６と、レーザ光
２８を受光するセンサ７と、キースイッチ１２に加圧す
る荷重を調整するためのバネ圧調整ネジ８と、キースイ
ッチ１２のキートップ２１を押下するためのバネ付押下
棒９と、レーザ光２８を通過させる溝を含んだ許容変位
量設定用のゲート１０と、キースイッチ１１および１２
とを備えている。
あり、レーザ光を射出する赤外線レーザ６と、レーザ光
２８を受光するセンサ７と、キースイッチ１２に加圧す
る荷重を調整するためのバネ圧調整ネジ８と、キースイ
ッチ１２のキートップ２１を押下するためのバネ付押下
棒９と、レーザ光２８を通過させる溝を含んだ許容変位
量設定用のゲート１０と、キースイッチ１１および１２
とを備えている。
【００１９】なお、図２において図１に示す構成要素に
対応するものは同一の参照数字または符号を付し、その
説明を省略する。
対応するものは同一の参照数字または符号を付し、その
説明を省略する。
【００２０】図３はキーボード試験装置の制御ボックス
の動作を説明するブロック図である。制御全体をコント
ロールするシーケンサ１３と、レーザ光２８の照射およ
びレーザ光２８の検出制御を行なうレーザ制御回路１４
と、被試験キーボードを試験ヘッド１の下に移動させる
移動ステージ１７と、移動ステージ１７の動作を制御す
るステージ制御回路１５と、シーケンサ１３に試験スタ
ートを指令する操作パネル１６と、試験結果の判定を判
定表示器５に出力する結果表示回路１８とを備えてい
る。
の動作を説明するブロック図である。制御全体をコント
ロールするシーケンサ１３と、レーザ光２８の照射およ
びレーザ光２８の検出制御を行なうレーザ制御回路１４
と、被試験キーボードを試験ヘッド１の下に移動させる
移動ステージ１７と、移動ステージ１７の動作を制御す
るステージ制御回路１５と、シーケンサ１３に試験スタ
ートを指令する操作パネル１６と、試験結果の判定を判
定表示器５に出力する結果表示回路１８とを備えてい
る。
【００２１】なお、図３において図２に示す構成要素に
対応するものは同一の参照数字または符号を付し、その
説明を省略する。
対応するものは同一の参照数字または符号を付し、その
説明を省略する。
【００２２】図４は図２に示すゲートの横断面図であ
る。
る。
【００２３】次に、図１、図２、図３および図４を参照
して本実施の形態の動作をより詳細に説明する。
して本実施の形態の動作をより詳細に説明する。
【００２４】被試験キーボードをキーボードセット治具
２にセットし、スタートスイッチ４をオンすると、被試
験キーボードが試験ヘッド１の真下に移動する。
２にセットし、スタートスイッチ４をオンすると、被試
験キーボードが試験ヘッド１の真下に移動する。
【００２５】被試験キーボードが所定の位置に設定され
ると、試験ヘッド１が下降するため試験ヘッド１に備え
られたバネ付押下棒９の先端が被試験用キーボードのキ
ースイッチ１２のキートップ２１を押し下げるため、キ
ースイッチ１２が加圧により正規の状態からの変位量を
生じる。ここで、正規の状態とはキースイッチ１２が加
圧されない自然な状態を示す。
ると、試験ヘッド１が下降するため試験ヘッド１に備え
られたバネ付押下棒９の先端が被試験用キーボードのキ
ースイッチ１２のキートップ２１を押し下げるため、キ
ースイッチ１２が加圧により正規の状態からの変位量を
生じる。ここで、正規の状態とはキースイッチ１２が加
圧されない自然な状態を示す。
【００２６】この時点で赤外線レーザ６が発光し、レー
ザ光２８はバネ付押下棒９に装着されたゲート１０の溝
を通過し、センサ７で受光される。
ザ光２８はバネ付押下棒９に装着されたゲート１０の溝
を通過し、センサ７で受光される。
【００２７】キースイッチ１１および１２が正常に組込
まれており、変位量が予め設定された許容範囲内の値で
あれば、レーザ光２８はゲート１０を通過しセンサ７で
受光される。キースイッチ１１が不良品で変位量が許容
範囲の値を超える場合、レーザ光２８はキースイッチ１
１に対応するゲート１０で遮断されるため、センサ７に
正しく受光されない。
まれており、変位量が予め設定された許容範囲内の値で
あれば、レーザ光２８はゲート１０を通過しセンサ７で
受光される。キースイッチ１１が不良品で変位量が許容
範囲の値を超える場合、レーザ光２８はキースイッチ１
１に対応するゲート１０で遮断されるため、センサ７に
正しく受光されない。
【００２８】従って、キースイッチ１１の組込み異常が
あったことが判定され、その結果が判定表示器５に表示
されることになる。
あったことが判定され、その結果が判定表示器５に表示
されることになる。
【００２９】すなわち、ゲート１０に予め設定した変位
量の許容範囲からレーザ光が外れた場合は、レーザ光２
８が遮断され不良と判定され、結果表示回路１８により
判定表示器５に不良品であったことが表示されることに
なる。
量の許容範囲からレーザ光が外れた場合は、レーザ光２
８が遮断され不良と判定され、結果表示回路１８により
判定表示器５に不良品であったことが表示されることに
なる。
【００３０】次に、組込み不良の判定メカニズムを説明
する。
する。
【００３１】本試験機の検査対象であるキーボードのキ
ースイッチ１１および１２は、正しくはメンブレンキー
スイッチと呼ばれる。
ースイッチ１１および１２は、正しくはメンブレンキー
スイッチと呼ばれる。
【００３２】図５はメンブレンキースイッチの構造を示
す図である。
す図である。
【００３３】キースイッチ１２は、キートップ２１と、
スイッチ機能を果すメンブレンシート１９と、キーの押
下に対し伸縮するラバー２０とから構成される。メンブ
レンシート１９をラバー２０を介して、キートップ２１
で上部より押下することにより接点が導通し入力と判断
される。
スイッチ機能を果すメンブレンシート１９と、キーの押
下に対し伸縮するラバー２０とから構成される。メンブ
レンシート１９をラバー２０を介して、キートップ２１
で上部より押下することにより接点が導通し入力と判断
される。
【００３４】メンブレンシート１９は接点２３および抵
抗印刷回路２４を含む上部導電シート２２と、スペーサ
２５と、接点２７を印刷した下部導電シート２６とから
構成される。
抗印刷回路２４を含む上部導電シート２２と、スペーサ
２５と、接点２７を印刷した下部導電シート２６とから
構成される。
【００３５】キートップ２１を押下することにより、ラ
バー２０の加圧により上部導電シート２２の接点２３
が、スペーサ２５の切欠き穴を通して下部導電シート２
６の接点２７と接触する構造である。
バー２０の加圧により上部導電シート２２の接点２３
が、スペーサ２５の切欠き穴を通して下部導電シート２
６の接点２７と接触する構造である。
【００３６】図６はキースイッチに装着されるラバーの
良品不良品の状態を示す図である。
良品不良品の状態を示す図である。
【００３７】図６（ａ）はラバーが正常に組込まれた良
品の状態を示し、図６（ｂ）はラバーが正常に組込まれ
ていない不良品の状態を示す。
品の状態を示し、図６（ｂ）はラバーが正常に組込まれ
ていない不良品の状態を示す。
【００３８】図７はキースイッチの荷重と変位量との関
係を示す図である。
係を示す図である。
【００３９】キースイッチ１２のラバー２０が図６
（ｂ）のように正常に組込まれていない場合、良品と不
良品とでは、図７に示すように一定の荷重に対して変位
量に大きな違いが生じるので、グラフから良品と不良品
との変位量がもっとも顕著な差となる荷重を選択し判定
基準とする。
（ｂ）のように正常に組込まれていない場合、良品と不
良品とでは、図７に示すように一定の荷重に対して変位
量に大きな違いが生じるので、グラフから良品と不良品
との変位量がもっとも顕著な差となる荷重を選択し判定
基準とする。
【００４０】どの程度の変位量で合否の判定を出すかの
調整は、バネ付押下棒９に内蔵されたバネ圧調整ネジ８
により行なう。バネ圧が強ければ一定の荷重に対して変
位量が小さく、バネ圧が弱ければ一定の荷重に対して変
位量が大きくなる。
調整は、バネ付押下棒９に内蔵されたバネ圧調整ネジ８
により行なう。バネ圧が強ければ一定の荷重に対して変
位量が小さく、バネ圧が弱ければ一定の荷重に対して変
位量が大きくなる。
【００４１】上述のように、１対の赤外線レーザ６およ
びセンサ７が、多数のキースイッチから構成される１列
のキースイッチ群の良品と不良品とを判定する。キーボ
ードにはこのようなキースイッチ群が数個の列用意され
ているので、各列に対応した数だけの赤外線レーザ６お
よびセンサ７が配置され、これらがスタートスイッチ４
の投入により同時に動作するため、多数のキースイッチ
の一つでも組込み不良が有れば、瞬時に判定されること
になる。
びセンサ７が、多数のキースイッチから構成される１列
のキースイッチ群の良品と不良品とを判定する。キーボ
ードにはこのようなキースイッチ群が数個の列用意され
ているので、各列に対応した数だけの赤外線レーザ６お
よびセンサ７が配置され、これらがスタートスイッチ４
の投入により同時に動作するため、多数のキースイッチ
の一つでも組込み不良が有れば、瞬時に判定されること
になる。
【００４２】試験時間は、１００個程度のキースイッチ
を同時にオンし瞬時に同時判定するので、被試験用キー
ボードのセッティング時間を含めても５秒程度となるの
で、試験時間の大幅な短縮が図れることになる。
を同時にオンし瞬時に同時判定するので、被試験用キー
ボードのセッティング時間を含めても５秒程度となるの
で、試験時間の大幅な短縮が図れることになる。
【００４３】なお、レーザは本実施の形態で記した赤外
線レーザに限定されるものではない。
線レーザに限定されるものではない。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のキーボー
ド試験装置は一定荷重によるキースイッチの変位量をレ
ーザ計測により全キースイッチ同時に測定することがで
きるので、各キースイッチの微妙な組込み不良および異
物混入を瞬時に発見しかつ高精度で短時間に検査できる
という効果を有している。
ド試験装置は一定荷重によるキースイッチの変位量をレ
ーザ計測により全キースイッチ同時に測定することがで
きるので、各キースイッチの微妙な組込み不良および異
物混入を瞬時に発見しかつ高精度で短時間に検査できる
という効果を有している。
【図１】本発明のキーボード試験装置の一つの実施の形
態を示す斜視図である。
態を示す斜視図である。
【図２】試験ヘッド周辺を示す詳細断面図である。
【図３】キーボード試験装置の制御ボックスの動作を説
明するブロック図である。
明するブロック図である。
【図４】図２に示すゲートの横断面図である。
【図５】メンブレンキースイッチの構造を示す図であ
る。
る。
【図６】キースイッチに装着されるラバーの良品不良品
の状態を示す図である。
の状態を示す図である。
【図７】キースイッチの荷重と変位量との関係を示す図
である。
である。
１ 試験ヘッド ２ キーボードセット治具 ３ 制御ボックス ４ スタートスイッチ ５ 判定表示器 ６ 赤外線レーザ ７ センサ ８ バネ圧調整ネジ ９ バネ付押下棒 １０ ゲート １１，１２ キースイッチ １３ シーケンサ １４ レーザ制御回路 １５ ステージ制御回路 １６ 操作パネル １７ 移動ステージ １８ 結果表示回路 １９ メンブレンシート ２０ ラバー ２１ キートップ ２２ 上部導電シート ２３ 接点 ２４ 抵抗印刷回路 ２５ スペーサ ２６ 下部導電シート ２７ 接点 ２８ レーザ光
Claims (5)
- 【請求項１】 キーボードのキースイッチを押すための
加圧手段と、前記加圧手段に装着されレーザ光の通過お
よび遮断機能を有する透過手段と、前記キースイッチの
数に対応した前記加圧手段および透過手段を有した試験
ヘッドと、前記レーザ光を射出するレーザと、前記透過
手段を通過した前記レーザ光を受光する検知手段と、前
記検知手段により検査結果を表示する表示手段と、前記
キーボードを前記試験ヘッドの下部に移動させる移動手
段と、試験条件の設定および試験動作の管理制御を自動
的に行なう制御手段とから構成されたことを特徴とする
キーボード試験装置。 - 【請求項２】 前記加圧手段が加圧の調整ができるバネ
とバネ圧力調整用ネジを含むことを特徴とした請求項１
記載のキーボード試験装置。 - 【請求項３】 前記透過手段が前記レーザ光を通過させ
るためのコの字型の溝を有したブロックであることを特
徴とした請求項１記載のキーボード試験装置。 - 【請求項４】 前記透過手段が前記レーザ光を通過させ
るための楕円または円型の穴を有したブロックであるこ
とを特徴とした請求項１記載のキーボード試験装置。 - 【請求項５】 前記レーザが赤外線レーザであることを
特徴とした請求項１，２，３および４記載のキーボード
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7307383A JP2752940B2 (ja) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | キーボード試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7307383A JP2752940B2 (ja) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | キーボード試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09146673A true JPH09146673A (ja) | 1997-06-06 |
| JP2752940B2 JP2752940B2 (ja) | 1998-05-18 |
Family
ID=17968400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7307383A Expired - Lifetime JP2752940B2 (ja) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | キーボード試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2752940B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US20140283629A1 (en) * | 2013-03-22 | 2014-09-25 | Quanta Computer Inc. | Keyboard testing machine |
| CN105258928A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-01-20 | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 | 一种多功能键盘按键的寿命测试装置 |
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-
1995
- 1995-11-27 JP JP7307383A patent/JP2752940B2/ja not_active Expired - Lifetime
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