JP4693792B2 - 打鍵装置 - Google Patents

打鍵装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4693792B2
JP4693792B2 JP2007005890A JP2007005890A JP4693792B2 JP 4693792 B2 JP4693792 B2 JP 4693792B2 JP 2007005890 A JP2007005890 A JP 2007005890A JP 2007005890 A JP2007005890 A JP 2007005890A JP 4693792 B2 JP4693792 B2 JP 4693792B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dome
metal dome
keying
keystroke
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007005890A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008171328A (ja
Inventor
裕 粟飯原
崇司 江戸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujikura Ltd filed Critical Fujikura Ltd
Priority to JP2007005890A priority Critical patent/JP4693792B2/ja
Publication of JP2008171328A publication Critical patent/JP2008171328A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4693792B2 publication Critical patent/JP4693792B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)
  • Manufacture Of Switches (AREA)

Description

この発明は、打鍵装置に関し、特にメタルドームの試験片の耐久性試験を行う際に、メタルドームの打鍵耐久寿命を高い精度で確認することを可能とし、また、前記メタルドームが破断した直後で打鍵試験を終了し、その破断情況も観察できることを可能とした打鍵装置に関する。
近年、携帯電話、デジタルカメラ、PDA、MD、CDプレーヤ等のスイッチとしてはドーム型スイッチが使用されている。このドーム型スイッチには、メタルドーム及びこのメタルドームを基板の表面に押さえて位置を保持するためのドーム押えシートが使用されている。
ドーム型スイッチは、PCB(Printed Circuit Board)もしくはFPC(Flexible Printed Circuit)などのプリント配線基板の上に導電性材料からなる第1接点部が備えられ、この第1接点部の周りに第2接点部が環状に備えられている。前記第1接点部に接離可能な可撓性を備えた椀型形状のメタルドームが、その外周を第2接点部に接続して載置されている。
前記メタルドームは導電材料としての例えばステンレスの材料からなる。さらに、メタルドームは上記の第1接点部をほぼ中央にして覆うように、つまり椀型形状の凹面の中心方向側に前記第1接点部が位置するように配置されているので、メタルドームの頂点が下方へ押圧されると、頂点付近が反転して凹むように押し込まれて第1接点部に接触し、導通することになる。
したがって、メタルドームは繰り返し打鍵されることから、何十万回ないしは何百万回の打鍵耐久性が要求されるので、メタルドーム用の打鍵装置が用いられて、メタルドームの試験片に対して耐久性試験が行われている。
図5を参照するに、従来のメタルドーム用の打鍵装置101としては、複数のメタルドーム103を設置するための複数のドーム設置部105を備えたステージ107が基台109上に設けられており、前記複数の各ドーム設置部105に設置された複数のメタルドーム103を繰り返し打鍵するための複数の打鍵ヘッド111が前記複数の各メタルドーム103に対応して基台109上の架台113に設けられている。
すなわち、前記架台113は、基台109上に立設した支柱部115とこの支柱部115に横架したシリンダ保持部材117とから構成されており、前記シリンダ保持部材117には、前記複数の各打鍵ヘッド111が前記メタルドーム103を打鍵すべくメタルドーム103に向けて上下運動せしめる打鍵ヘッド駆動装置としての例えば複数のエアシリンダ119が前記複数の各メタルドーム103に対応して設けられており、前記複数の各打鍵ヘッド111が前記各エアシリンダ119のシリンダロット121の下端に設けられている。
また、上記の複数のエアシリンダ119は1つの電磁弁123を介して制御装置125に接続されており、複数のエアシリンダ119が同じ周期で同時に上下動する構成である。
したがって、複数のメタルドーム103をステージ107の各ドーム設置部105へ設置すると共に予め打鍵回数を制御装置125で設定してから打鍵を開始することで、前記設定打鍵回数分の打鍵耐久寿命が確認される。
なお、従来のメタルドーム103用の打鍵装置101としては、特許文献1に示されているキーボード打鍵試験機が該当するものである。
特開平1−108623号公報
ところで、従来のメタルドーム用の打鍵装置101では、予め「打鍵耐久寿命(回数)」を試験前に決めておき、この設定打鍵回数で打鍵終了後のメタルドーム103の合否のみを確認していた。そのために、メタルドーム103の本来の打鍵耐久寿命が分からないという問題点があった。
すなわち、メタルドーム103が破断した直後のメタルドーム103の状態を確認したいのであるが、予め設定した打鍵回数が終了するまでは、たとえその途中でメタルドーム103が破断しても、その後も打鍵し続けることになるので、予め設定した打鍵回数分のみの打鍵耐久寿命が確認されるだけである。したがって、メタルドーム103破断時のデータ収集ができないものであった。そのために、様々な形状のメタルドーム103を開発していく上での弊害となるという問題点があった。
上記発明が解決しようとする課題を達成するために、この発明の打鍵装置は、椀型形状のメタルドームを伏せた状態で設置するドーム設置部を備えたステージと、このステージに設置した前記メタルドームを繰り返し打鍵する打鍵ヘッドと、この打鍵ヘッドを前記メタルドームに向けて往復運動せしめる打鍵ヘッド駆動装置と、を備えた打鍵装置において、
前記ドーム設置部に設置されたメタルドームの破断を検出する破断検出センサを、前記メタルドームに対向して前記ステージの内部に設けたことを特徴とするものである。
また、この発明の打鍵装置は、前記打鍵装置において、前記メタルドームと前記破断検出センサとの間に、平板状の樹脂部材を介設することが好ましい。
また、この発明の打鍵装置は、前記打鍵装置において、前記ステージに複数のドーム設置部を設け、あるいは1つのドーム設置部を備えたステージを複数個、設けると共に、前記各ドーム設置部にそれぞれ前記破断検出センサを設け、前記各ドーム設置部に対応して複数個の打鍵ヘッドを設け、これらの各打鍵ヘッドをそれぞれ独立して駆動制御する構成であることが好ましい。
また、この発明の打鍵装置は、前記打鍵装置において、前記破断検出センサが近接センサであることが好ましい。
以上のごとき課題を解決するための手段から理解されるように、この発明によれば、破断検出センサでメタルドームの亀裂(破断)を検出できるので、メタルドームの破断直後の打鍵回数が分かる。したがって、メタルドームの本来の正確な打鍵耐久寿命が分かる。例えば、破断検出センサには高周波磁界を発生する検出コイルが備えられ、電磁誘導によりメタルドームに誘導電流が流れるが、この電流の変化からメタルドームの破断を検出できる。
また、破断検出センサを導入したので、メタルドームの設置位置精度や形状に依存しない設定電圧(閾値)で破断の大きさの判別もできる。微小な破断も判別できる。
また、メタルドームの破断直後に打鍵試験を停止できるので、メタルドームの破断直後の状態(破断の初期状態)を確認でき、メタルドームの形状等の違いによる破断のメカニズムも分かる。
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図1を参照するに、この実施の形態に係る打鍵装置1は、可撓性を備えた椀型形状のメタルドーム3を設置するためのドーム設置部5を備えたステージ7が複数個、基台9上に設けられており、前記複数の各ステージ7のドーム設置部5に設置された各メタルドーム3を繰り返し打鍵するための複数の打鍵ヘッド11が前記複数の各メタルドーム3に対応して基台9上の架台13に設けられている。
なお、上記のメタルドーム3は導電材料としての例えばステンレスの金属材料からなり、メタルドーム3の頂点が打鍵ヘッド11で下方へ押圧されると、図2(B)の2点鎖線に示されているように頂点付近が反転して凹むように押し込まれる構成である。
また、上記の架台13は、基台9上に立設した支柱部15とこの支柱部15に横架したシリンダ保持部材17とから構成されており、前記シリンダ保持部材17には、前記複数の各打鍵ヘッド11が前記メタルドーム3を打鍵すべくメタルドーム3に向けて上下方向に往復運動せしめる打鍵ヘッド駆動装置としての例えば複数のエアシリンダ19が前記複数の各メタルドーム3に対応して設けられており、前記各エアシリンダ19のシリンダロッド21の下端に打鍵ヘッド11が設けられている。
また、上記の各エアシリンダ19はそれぞれ電磁弁23を介して制御装置25に接続されており、複数の各エアシリンダ19が互いに独立して制御されて上下動する構成である。
なお、前述した実施の形態では、1つのドーム設置部5を備えたステージ7を複数個、設けたが、複数のドーム設置部5を備えた1つのステージが設けられても良い。
図2(A)を併せて参照するに、上記の各ドーム設置部5には、当該ドーム設置部5に設置されたメタルドーム3の破断を検出する破断検出センサとしての例えば近接センサ27が、前記メタルドーム3に対向してステージ7の内部に設けられている。なお、上記の各近接センサ27はそれぞれ制御装置25に接続されている。また、上記のメタルドーム3と近接センサ27との間に、平板状の樹脂部材としての例えば樹脂プレート29が介設されている。
言い換えれば、近接センサ27がステージ7に設けたセンサ用穴部31に挿入される形態で埋め込み設置されている。前記近接センサ27が上から樹脂プレート29で覆われるようにセンサ用穴部31が塞がれており、前記樹脂プレート29の上面がメタルドーム3を設置するためのドーム設置部5となる。このようにメタルドーム3と近接センサ27との間に樹脂プレート29を介設することで、近接センサ27が金属部であるメタルドーム3だけを感知することができる。
上記構成により、複数の椀型形状のメタルドーム3が複数の各ステージ7のドーム設置部5へ伏せた状態で設置される。次いで、予め何十万回ないしは何百万回という設定打鍵回数が制御装置25に設定されてから、メタルドーム3の打鍵試験が開始される。
制御装置25の指令により各電磁弁23を介して複数のエアシリンダ19が互いに独立して作動して前記打鍵ヘッド11を上下に往復動せしめることで、図2(A)に示されているように各ステージ7のメタルドーム3が対応する各打鍵ヘッド11で打鍵される。このとき、各メタルドーム3の頂点が下方へ押圧されると、図2(B)の2点鎖線に示されているように頂点付近が反転して凹むように押し込まれることになる。
図3を併せて参照するに、近接センサ27は先端部に検出コイル33が設けられており、前記検出コイル33に接続した内部回路35が近接センサ27の内部に設けられている。前記検出コイル33より点線の矢印の方向に高周波磁界が発生する。
そこで、検出物体37(金属)であるメタルドーム3が図3の実線の矢印で示されているように前記検出コイル33の高周波磁界に近づくと、電磁誘導により検出物体37(メタルドーム3に該当)に誘導電流(渦電流)が流れることになる。しかも、上記の打鍵試験の過程で、メタルドーム3に亀裂等の破断が生じていないときは、上記の検出物体37の誘導電流(渦電流)が変化せずに安定した状態となる。
上記の打鍵試験の過程でメタルドーム3が破断すると、このメタルドーム3の破断状態には、例えば、図4(A)に示されているように大きく隙間が空いた破断と、図4(B)に示されているように微小な亀裂などがある。これらの「メタルドーム3の破断」は検出物体37であるメタルドーム3に誘導電流に変化を生じさせることになる。この誘導電流の変化は、近接センサ27の検出コイル33のインピーダンス、発振、電圧値をも変化させる。
そこで、検出コイル33から出力される電圧値に対して、「メタルドーム3の破断」時の閾値を設けることで、「メタルドーム3の破断」の状態を検出することができるのである。例えば、図4(C)に示されているように、メタルドーム3の直径がφ3mmであるとき、メタルドーム3が破断していないときの電圧値に対して「メタルドーム3の破断」の電圧値の変化を相対値として換算すると、メタルドーム3が破断無しの電圧値(相対値)は0mVであり、図4(A)に示されているように大きく隙間が空いた破断のときは近接センサ27の電圧値(相対値)が40mVであり、図4(B)に示されているように微小な亀裂のときは近接センサ27の電圧値(相対値)が30mVである。
したがって、予めメタルドーム3の各破断状態での電圧値(相対値)の閾値を予め設定しておくことで、上記の打鍵試験の過程でメタルドーム3が破断したことを検出することができる。しかも、破断の大きさを判別することができる。
また、打鍵開始後、複数のメタルドーム3のいずれかが破断すると、その破断したメタルドーム3の箇所の近接センサ27が前記破断を検出するが、複数の各エアシリンダ19は各電磁弁23で互いに独立して制御される構成であるので、該当するエアシリンダ19(つまり、打鍵ヘッド11)のみを停止することができる。しかも、そのときの打鍵回数は制御装置25の図示しないメモリに記憶して保持することができ、その他のメタルドーム3に対しては停止することなく、引き続き打鍵試験を続けることができる.
ちなみに、従来例の図5の場合と同じように複数のエアシリンダ19(つまり、打鍵ヘッド11)を1つの電磁弁23で駆動制御させてしまうと、1つのメタルドーム3が破断した時に、他の全てのメタルドーム3の破断試験も止めなければならなくなる。
以上のことをまとめると、この実施の形態の打鍵装置1では下記の効果を奏する。
(1)破断検出センサとしての例えば近接センサ27を導入し、この近接センサ27でメタルドーム3の亀裂(破断)を検出できるので、メタルドーム3の破断直後の打鍵回数が分かる。したがって、試験開始から破断までの正確な打鍵回数を把握できるので、メタルドーム3の本来の打鍵耐久寿命が分かる。
(2)近接センサ27をメタルドーム3の破断を検出する破断検出センサとして使用することで、メタルドーム3の設置位置精度やメタルドーム3の形状に依存せずに破断を検出できる。つまり、メタルドーム3の適用範囲を広くできる。
(3)近接センサ27をメタルドーム3の破断を検出する破断検出センサとして使用することで、予め設定した設定電圧(閾値)で破断の大きさを判別することもできる。大きく隙間の空いた破断だけでなく、徴小な亀裂も判別できる。
(4)複数の打鍵ヘッド11は互いに独立して制御できるので、メタルドーム3が破断した場合、その破断直後に該当する打鍵ヘッド11だけを停止できることから、メタルドーム3の破断直後の状態(破断の初期状態)を確認でき、メタルドーム3の形状等の違いによる破断のメカニズムを分析し、把握することができる。
この発明の実施の形態の打鍵装置の概略的な正面図である。 (A)はステージの断面を含む拡大図で、(B)はメタルドームが打鍵されるときの状態を示す概略的な断面図である。 近接センサの動作原理とメタルドームの破断の検知方法を示す概略説明図である。 メタルドームの破断状態の平面図とその破断時の近接センサの電圧値の変化量(相対値)を示すもので、(A)は大きく隙間の空いた破断状態のときで、(B)は微小な亀裂のときで、(C)は破断無しのときである。 従来の打鍵装置の概略的な正面図である。
符号の説明
1 打鍵装置
3 メタルドーム
5 ドーム設置部
7 ステージ
11 打鍵ヘッド
13 架台
19 エアシリンダ(打鍵ヘッド駆動装置)
23 電磁弁
25 制御装置
27 近接センサ(破断検出センサ)
29 樹脂プレート(樹脂部材)
33 検出コイル
37 検出物体

Claims (4)

  1. 椀型形状のメタルドームを伏せた状態で設置するドーム設置部を備えたステージと、このステージに設置した前記メタルドームを繰り返し打鍵する打鍵ヘッドと、この打鍵ヘッドを前記メタルドームに向けて往復運動せしめる打鍵ヘッド駆動装置と、を備えた打鍵装置において、
    前記ドーム設置部に設置されたメタルドームの破断を検出する破断検出センサを、前記メタルドームに対向して前記ステージの内部に設けたことを特徴とする打鍵装置。
  2. 前記メタルドームと前記破断検出センサとの間に、平板状の樹脂部材を介設したことを特徴とする請求項1記載の打鍵装置。
  3. 前記ステージに複数のドーム設置部を設け、あるいは1つのドーム設置部を備えたステージを複数個、設けると共に、前記各ドーム設置部にそれぞれ前記破断検出センサを設け、前記各ドーム設置部に対応して複数個の打鍵ヘッドを設け、これらの各打鍵ヘッドをそれぞれ独立して駆動制御する構成であることを特徴とする請求項1又は2記載の打鍵装置。
  4. 前記破断検出センサが近接センサであることを特徴とする請求項1、2又は3記載の打鍵装置。
JP2007005890A 2007-01-15 2007-01-15 打鍵装置 Expired - Fee Related JP4693792B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007005890A JP4693792B2 (ja) 2007-01-15 2007-01-15 打鍵装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007005890A JP4693792B2 (ja) 2007-01-15 2007-01-15 打鍵装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008171328A JP2008171328A (ja) 2008-07-24
JP4693792B2 true JP4693792B2 (ja) 2011-06-01

Family

ID=39699343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007005890A Expired - Fee Related JP4693792B2 (ja) 2007-01-15 2007-01-15 打鍵装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4693792B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200447991Y1 (ko) 2009-02-20 2010-03-09 김동언 메탈 돔 스위치 검사장치

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02309250A (ja) * 1989-05-24 1990-12-25 Furukawa Electric Co Ltd:The アルミ覆鋼線の探傷方法
JPH08261879A (ja) * 1995-03-27 1996-10-11 Pfu Ltd タッピング試験装置
JPH11218472A (ja) * 1998-02-04 1999-08-10 Toshiba Tec Corp 試験装置
JP2003123586A (ja) * 2001-10-05 2003-04-25 Fujikura Ltd ドーム型金属バネ
JP2003172674A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Tokyo Seimitsu Sokki Kk スイッチ耐久試験装置
JP2004117138A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Universal Kiki Kk 鉄道車両用台車枠の探傷用センサーユニット及びこれを用いた探傷設備

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02309250A (ja) * 1989-05-24 1990-12-25 Furukawa Electric Co Ltd:The アルミ覆鋼線の探傷方法
JPH08261879A (ja) * 1995-03-27 1996-10-11 Pfu Ltd タッピング試験装置
JPH11218472A (ja) * 1998-02-04 1999-08-10 Toshiba Tec Corp 試験装置
JP2003123586A (ja) * 2001-10-05 2003-04-25 Fujikura Ltd ドーム型金属バネ
JP2003172674A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Tokyo Seimitsu Sokki Kk スイッチ耐久試験装置
JP2004117138A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Universal Kiki Kk 鉄道車両用台車枠の探傷用センサーユニット及びこれを用いた探傷設備

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008171328A (ja) 2008-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20020144886A1 (en) Touch switch with a keypad
KR100320981B1 (ko) 접촉응답을제공하는압전스위치
RU2285945C2 (ru) Способ и устройство для генерации сигналов обратной связи
US20180046249A1 (en) Haptic stylus
US20040252104A1 (en) Inputting device stimulating tactile sense of operator thereof
ATE350672T1 (de) Fingertester
KR20070092477A (ko) 터치판넬의 터치기능 검사방법 및 검사장치
JP4693792B2 (ja) 打鍵装置
JP4950779B2 (ja) プローブカードの登録方法及びこのプログラムを記録したプログラム記録媒体
JP2009206272A (ja) 半導体装置の検査方法及びプローバ装置
JP2016080380A (ja) 解析装置、解析方法、及び、プログラム
TWI545320B (zh) 敲擊測試治具
US8436633B2 (en) Method to determine needle mark and program therefor
KR101500268B1 (ko) 가변 마운팅 음파 터치패드
JP5312971B2 (ja) 粒子圧縮試験機及び粒子圧縮試験機用試料台
KR20080078111A (ko) 터치 키패드 어셈블리 및 그 운용 방법
US20160380628A1 (en) Keyboard Assembly
JP7177686B2 (ja) 可搬型打撃装置
KR101966895B1 (ko) 터치 센서 검사 장치 및 방법
JP2001129175A (ja) 遊技盤の釘打ち検査方法及び検査板
KR930005875Y1 (ko) 전자식 다이어프램 펌프
JP2010016553A (ja) チューナ検査装置及びチューナ検査方法
JP6405121B2 (ja) 打撃判定装置、打撃判定方法、及び、プログラム
JP6132507B2 (ja) 基板支持装置および基板検査装置
JP5474467B2 (ja) 抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110113

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110215

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110222

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140304

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees