JP2001129175A - 遊技盤の釘打ち検査方法及び検査板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】簡単な構成によって釘の配列パターンを正確に
識別すること。 【解決手段】予め定めた基準配列パターンに基づいて遊
技盤１に打ち込まれた多数の釘２が基準配列パターン通
りに正しく打ち込まれているかどうかを検査する遊技盤
の釘打ち検査方法において、基準配列パターンと同一パ
ターンの検査配列パターンに基づいて多数のコンタクト
プローブ４を配列した検査板３を用い、遊技盤１の表面
１ａと検査板３のコンタクトプローブ４のプランジャー
４２が位置する側の面３ｂとを対面させかつ基準配列パ
ターンと検査配列パターンとが正対するよう遊技盤１と
検査板３との位置決めをし、その後、両者１、３を接近
させ、両者１、３の間隔が基準間隔となったときの各コ
ンタクトプローブ４の導通、非導通状態に基づいて釘打
ちの良否を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、遊技盤の釘打ち検
査方法及び検査板、詳しくは、予め定めた基準配列パタ
ーンに基づいてパチンコ機などの遊技盤に打ち込まれた
多数の釘が基準配列パターン通りに正しく打ち込まれて
いるかどうかを検査する遊技盤の釘打ち検査方法及びこ
の検査方法を実施するにあたって用いられる検査板に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来、遊技盤の釘打ち検査方法として、
目視による検査方法の他に画像処理装置を用いて光学
的、電気的に検査を行う方法が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、画像処
理による検査方法には、釘の頭部光沢による反射によっ
て釘の配列パターンを正確に識別することが困難な場合
があり、また、遊技盤表面のセル板が釘と同系色の場合
に釘の配列パターンを正確に識別することが困難になる
という問題があった。

【０００４】本発明は、上記の如き従来の検査方法の問
題点を解決し、簡単な構成によって釘の配列パターンを
正確に識別することができる遊技盤の釘打ち検査方法及
びこの検査方法に用いる検査板を提供することを目的と
する。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明による遊技盤の釘
打ち検査方法は、予め定めた基準配列パターンに基づい
て遊技盤に打ち込まれた多数の釘が前記基準配列パター
ン通りに正しく打ち込まれているかどうかを検査する遊
技盤の釘打ち検査方法において、前記基準配列パターン
と同一パターンの検査配列パターンに基づいて多数のコ
ンタクトプローブを配列した検査板を用い、前記遊技盤
の表面と前記検査板のコンタクトプローブのプランジャ
ーが位置する側の面とを対面させかつ前記基準配列パタ
ーンと前記検査配列パターンとが正対するよう前記遊技
盤と前記検査板との位置決めをし、その後、両者を接近
させ、両者の間隔が基準間隔となったときの各コンタク
トプローブの導通、非導通状態に基づいて釘打ちの良否
を判定するようにしたことを特徴とする。なお、基準配
列パターンとは、遊技盤に打ち込まれる釘の全てに対す
るものに限定されるものでなく、例えば、命釘と通称さ
れる釘のみに対するものであってもよい。

【０００６】本発明による遊技盤の釘打ち検査方法にお
いて、遊技盤への釘打ちが良好に行われた遊技盤に対し
て検査を行う場合には、各コンタクトプローブのプラン
ジャーは対応する釘の頭部と当接し各コンタクトプロー
ブは導通状態となる。一方、遊技盤に釘の打ち忘れがあ
った場合には、正確に打ち込まれた釘に対応するコンタ
クトプローブは上記と同様に動作して導通状態となる
が、打ち忘れた釘に対応するコンタクトプローブのプラ
ンジャーは釘の頭部と当接することがないためこのコン
タクトプローブが非導通状態となる。そして、このコン
タクトプローブの非導通状態からこの遊技盤は釘打ち不
良であると判定できる。その他、例えば、一部の釘が基
準配列パターンからずれた位置に釘打ちされている遊技
盤についても、これらの釘に対応するコンタクトプロー
ブが非導通状態となるため、この遊技盤の釘打ち不良を
判定することができる。

【０００７】また、本発明による検査板は、予め定めた
基準配列パターンに基づいて遊技盤に打ち込まれた多数
の釘が前記基準配列パターン通りに正しく打ち込まれて
いるかどうかを検査する遊技盤の釘打ち検査方法に用い
られる検査板であって、前記基準配列パターンと同一パ
ターンの検査配列パターンに基づいて多数のコンタクト
プローブを配列して構成されることを特徴とする。

【０００８】本発明による検査板は、遊技盤の釘打ち検
査方法を実施する際、コンタクトプローブのプランジャ
ーが位置する側の面が遊技盤の表面に対面するよう配置
されるとともに、検査配列パターンが基準配列パターン
と正対するよう遊技盤に対して位置決めされ、その後、
遊技盤に接近させられる。そして、遊技盤との間隔が基
準間隔となったとき、各コンタクトプローブの導通、非
導通状態が判定回路に入力され、判定回路において釘打
ちの良否が判定される。

【０００９】

【発明の実施の形態】本発明による遊技盤の釘打ち検査
方法の一実施形態を図面に基づいて説明する。

【００１０】図１は、検査対象となるパチンコ機の遊技
盤の概略正面図、図２は、本発明の一実施形態に係る遊
技盤の釘打ち検査方法の実施に用いられる検査板の概略
正面図、図３及び図４は、同釘打ち検査方法を説明する
ための説明図である。

【００１１】遊技盤１は、ベニヤ板の表面にセル板を貼
着し、セル板の上から予め定めた基準配列パターンに基
づいて多数の釘２を打ち込むなどして作成される。

【００１２】検査板３は、遊技盤１の基準配列パターン
と同一パターンの検査配列パターンに基づいて多数のコ
ンタクトプローブ４を配列して構成される。換言する
と、コンタクトプローブ４の個数は遊技盤１に打ち込ま
れた釘２と同数であり、個々のコンタクトプローブ４は
釘２と１対１に対応している。

【００１３】各コンタクトプローブ４は、中央の円筒状
絶縁体４１ａで絶縁された二つの円筒状導電体４１ｂ、
４１ｃからなるスリーブ４１と、このスリーブ４１に挿
通された導電性プランジャー４２と、スリーブ４１に内
蔵されたスプリング（図示せず）とを備える公知のコン
タクトプローブで、検査板３に対し垂直に配設されてお
り、図３及び図４に示すように、そのスリーブ４１は検
査板３の貫通孔３ａに固着されている。

【００１４】各コンタクトプローブ４は、定常時はスプ
リングの付勢力によってプランジャー４２がスリーブ４
１から最大限突出した状態にあり、二つの円筒状導電体
４１ｂ、４１ｃは絶縁状態（非導通状態）とされている
が、外部からプランジャー４２に押圧力が加わりプラン
ジャー４２がスプリングの付勢力に抗してスリーブ４１
内部に所定ストローク以上進入したときプランジャー４
２が二つの円筒状導電体４１ｂ、４１ｃと接触し、二つ
の円筒状導電体４１ｂ、４１ｃはプランジャー４２を介
して導通状態に変わるよう動作する。

【００１５】図３及び図４に示すように、各スリーブ４
１の二つの円筒状導電体４１ｂ、４１ｃにそれぞれリー
ド線５ａ、５ｂが接続されており、これらのリード線５
ａ、５ｂは判定回路６に接続されている。判定回路６に
は表示器７が電気的に接続されている。

【００１６】次に、上記のように構成された検査板３を
用いた釘打ち検査方法を説明する。

【００１７】まず、図３に示すように、遊技盤１の表面
１ａと検査板３のコンタクトプローブ４のプランジャー
４２が位置する側の面３ｂとを対面させるとともに、基
準配列パターンと検査配列パターンとが正対するよう遊
技盤１と検査板３との位置決めをする。このような位置
決めは、ベニヤ加工時の基準穴又は基準コーナーを利用
して行うことができる。

【００１８】その後、両者１、３を接近させ、両者１、
３の間隔が基準間隔となったとき（図４に示す状態に対
応する。）の各コンタクトプローブ４の導通、非導通状
態に基づいて判定回路６が釘打ちの良否を判定する。こ
こで、両者１、３を接近させる方法の一例としては、図
示しないが、遊技盤１を固定した治具ボード又は検査板
３を固定した治具ボードを手動レバーを操作し又はエア
シリンダを動力として上昇又は下降させて接近させる方
法がある。

【００１９】ここで、基準間隔Ｄは、予め定めた深さま
で打ち込まれた釘２に対してコンタクトプローブ４が確
実に導通状態となることを最低限の条件として設定され
ている。ただし、釘２が予め定めた深さよりも深く打ち
込まれる場合もあることから、このような釘２に対して
は、コンタクトプローブ４が導通状態とならないように
大きめな基準間隔Ｄ１に設定することが望ましい。その
場合、浅く打ち込まれた釘２に対するコンタクトプロー
ブ４も導通状態となるため、このような釘２も検査対象
とする場合には、さらに大きめな基準間隔Ｄ２を別個に
設定しておき、正しく打ち込まれた釘２に対するコンタ
クトプローブ４が導通状態とならないようにすることに
よって浅く打ち込まれた釘２を峻別することができる。
なお、浅く打ち込まれた釘２の峻別は、基準間隔Ｄを上
述したような深く打ち込まれた釘２を峻別可能な基準間
隔Ｄ１に設定しておき、判定回路６において、コンタク
トプローブ４の導通タイミングが正規の導通タイミング
よりも早いかどうかを判定することによっても峻別可能
である。

【００２０】このような遊技盤の釘打ち検査方法におい
て、遊技盤１への釘打ちが良好に行われた遊技盤１に対
して検査を行う場合には、図４に示すように、各コンタ
クトプローブ４ａのプランジャー４２ａは対応する釘２
ａの頭部２１ａと当接し各コンタクトプローブ４ａは導
通状態となる。そして、判定回路６は、当該遊技盤１を
良品と判定する。

【００２１】一方、遊技盤１に釘２の打ち忘れがあった
場合には、正確に打ち込まれた釘２ａに対応するコンタ
クトプローブ４ａは上記と同様に動作して導通状態とな
るが、打ち忘れた釘２ｂ（図３及び図４において二点鎖
線で示す）に対応するコンタクトプローブ４ｂのプラン
ジャー４２ｂは、図４に示すように釘２ｂの頭部２１ｂ
と当接することがないため、このコンタクトプローブ４
ｂが非導通状態のままとなる。そして、判定回路６は、
このコンタクトプローブ４ｂの非導通状態からこの遊技
盤１は釘打ち不良であると判定し、表示器７に不良の表
示がされる。

【００２２】その他、例えば、図３に示すように、一部
の釘２ｃが基準配列パターンからずれた位置に打ち込ま
れ、あるいは、遊技盤１に対し斜めに打ち込まれた釘２
ｄがある遊技盤１についても、図４に示すように、これ
らの釘２ｃ、２ｄに対応するコンタクトプローブ４ｃ、
４ｄが非導通状態のままとなるため、この遊技盤１の釘
打ち不良を判定することができる。

【００２３】なお、釘打ち不良の遊技盤１に対しては、
上記のような表示器７による表示がされる他に、この遊
技盤１を不良品ラインに流すようにする。

【００２４】以上説明したように、本実施形態による遊
技盤の釘打ち検査方法によると、遊技盤の盤面の種類に
応じて検査板を用意し、この検査板を使用して釘の配列
パターンを正確に識別することができる。

【００２５】

【発明の効果】本発明の遊技盤の釘打ち検査方法による
と、簡単な構成の検査板を用いて釘の配列パターンを正
確に識別することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】検査対象となるパチンコ機の遊技盤の概略正面
図である。

【図２】本発明の一実施形態に係る遊技盤の釘打ち検査
方法の実施に用いられる検査板の概略正面図である。

【図３】同釘打ち検査方法を説明するための説明図であ
る。

【図４】同じく釘打ち検査方法を説明するための説明図
である。

【符号の説明】

１ 遊技盤 １ａ 表面 ２ 釘 ３ 検査板 ４ コンタクトプローブ ４２ プランジャー

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2C088 DA07 DA13 DA21 2F061 AA06 BB10 CC40 DD22 DD27 FF03 FF09 FF33 FF51 FF61 FF76 GG10 HH79 HH95 NN08 VV08 VV48 2F069 AA03 BB40 CC10 DD15 DD24 DD25 GG01 GG06 GG12 GG52 GG58 GG66 GG68 GG77 HH01 JJ01 JJ19 LL03 MM04 MM11 MM23 QQ03 QQ07

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 予め定めた基準配列パターンに基づいて
   遊技盤に打ち込まれた多数の釘が前記基準配列パターン
   通りに正しく打ち込まれているかどうかを検査する遊技
   盤の釘打ち検査方法において、 前記基準配列パターンと同一パターンの検査配列パター
   ンに基づいて多数のコンタクトプローブを配列した検査
   板を用い、 前記遊技盤の表面と前記検査板のコンタクトプローブの
   プランジャーが位置する側の面とを対面させかつ前記基
   準配列パターンと前記検査配列パターンとが正対するよ
   う前記遊技盤と前記検査板との位置決めをし、その後、
   両者を接近させ、両者の間隔が基準間隔となったときの
   各コンタクトプローブの導通、非導通状態に基づいて釘
   打ちの良否を判定するようにしたことを特徴とする遊技
   盤の釘打ち検査方法。
2. 【請求項２】 予め定めた基準配列パターンに基づいて
   遊技盤に打ち込まれた多数の釘が前記基準配列パターン
   通りに正しく打ち込まれているかどうかを検査する遊技
   盤の釘打ち検査方法に用いられる検査板であって、 前記基準配列パターンと同一パターンの検査配列パター
   ンに基づいて多数のコンタクトプローブを配列して構成
   されることを特徴とする検査板。