KR101313555B1 - 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치 - Google Patents
인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101313555B1 KR101313555B1 KR1020110116830A KR20110116830A KR101313555B1 KR 101313555 B1 KR101313555 B1 KR 101313555B1 KR 1020110116830 A KR1020110116830 A KR 1020110116830A KR 20110116830 A KR20110116830 A KR 20110116830A KR 101313555 B1 KR101313555 B1 KR 101313555B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- isolator
- probe
- switch
- input
- output
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/22—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-emitting devices, e.g. LED, optocouplers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2815—Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Geometry (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명의 일 측면에 따르면, 검사 대상 PCB에 전원과 신호를 따로 연결하지 않고도 PCB 상에 조립되어 있는 아이솔레이터를 검사할 수 있는 검사 장치를 제공한다.
이를 위해 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치는, 아이솔레이터의 입력단 핀에 접촉되는 입력단 프로브; 아이솔레이터의 출력단 핀에 접촉되는 출력단 프로브; 아이솔레이터의 종류을 선택하기 위한 제1 스위치; 입력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 입력단 핀에 인가되는 하이 또는 로우 신호를 선택하기 위한 제2 스위치; 출력단 프로브에 연결되는 램프; 입력단 또는 출력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 핀에 인가되는 전원을 공급하는 배터리;를 포함하고, 아이솔레이터가 손상된 경우에 제2 스위치를 통해 선택된 신호가 하이 신호이면 램프가 꺼지고 로우 신호이면 램프가 켜지는 것을 특징으로 한다.
이를 위해 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치는, 아이솔레이터의 입력단 핀에 접촉되는 입력단 프로브; 아이솔레이터의 출력단 핀에 접촉되는 출력단 프로브; 아이솔레이터의 종류을 선택하기 위한 제1 스위치; 입력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 입력단 핀에 인가되는 하이 또는 로우 신호를 선택하기 위한 제2 스위치; 출력단 프로브에 연결되는 램프; 입력단 또는 출력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 핀에 인가되는 전원을 공급하는 배터리;를 포함하고, 아이솔레이터가 손상된 경우에 제2 스위치를 통해 선택된 신호가 하이 신호이면 램프가 꺼지고 로우 신호이면 램프가 켜지는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 검사 대상 PCB에 전원과 신호를 따로 연결하지 않고도 PCB 상에 조립되어 있는 아이솔레이터의 정상 작동 여부를 검사할 수 있는 아이솔레이터 검사 장치에 관한 것이다.
아이솔레이터는 1차 측과 2차 측으로 구분되며, 1차 측과 2차 측 신호의 전원 분리를 위하여 사용되는 부품이다. 아이솔레이터가 손상되는 경우, 신호의 전달이 제대로 이루어지지 않고 신호의 끊김 현상이 발생한다. 따라서 이러한 끊김 현상이 있는지 여부를 정확하게 파악하는 것이 중요하다.
종래(한국공개특허공보 제2008-0063411호)에는 이러한 끊김 현상이 있는지 여부를 검사하는 방법으로, PCB에 전원과 신호를 인가하고 멀티테스터기 혹은 오실로스코프를 이용하여 신호를 계측함으로써 아이솔레이터의 손상 여부를 파악하는 방법을 사용하였다.
그러나 이러한 종래 아이솔레이터 검사 방법은 멀티테스터기 또는 오실로스코프에서 계측되는 신호를 다시 2차적으로 분석해서 아이솔레이터의 손상 여부를 파악해야 한다는 문제점이 있었다.
또한, 멀티테스터기 또는 오실로스코프를 이용하면 신호를 인가하기 위해서 제어용 PCB가 추가로 연결되어야 하는 문제점이 있었다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 검사 대상 PCB에 전원과 신호를 따로 연결하지 않고도 PCB 상에 조립되어 있는 아이솔레이터를 검사할 수 있는 검사 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치는, 아이솔레이터의 입력단 핀에 접촉되는 입력단 프로브; 아이솔레이터의 출력단 핀에 접촉되는 출력단 프로브; 아이솔레이터의 종류을 선택하기 위한 제1 스위치; 입력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 입력단 핀에 인가되는 하이 또는 로우 신호를 선택하기 위한 제2 스위치; 출력단 프로브에 연결되는 램프; 입력단 또는 출력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 핀에 인가되는 전원을 공급하는 배터리;를 포함하고, 아이솔레이터가 손상된 경우에, 제2 스위치를 통해 선택된 신호가 하이 신호이면 램프가 꺼지고 로우 신호이면 램프가 켜지는 것을 특징으로 한다.
또한, 배터리는 상기 입력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 입력단 핀에 전원을 인가하는 제1 배터리와, 상기 출력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 출력단 핀에 전원을 인가하는 제2 배터리를 포함하고, 상기 제1 배터리와 제2 배터리는 같은 전원 값을 가지는 것을 특징으로 한다.
또한, 배터리는 입력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 입력단 핀에 전원을 인가하는 제1 배터리와, 출력단 프로브를 통해 아이솔레이터의 출력단 핀에 전원을 인가하는 제2 배터리를 포함한다.
또한, 램프는 LED 램프인 것을 특징으로 한다.
또한, 아이솔레이터는 Narrow Body SOIC 타입인 것을 특징으로 한다.
또한, 제1 스위치 또는 제2 스위치는 토글(Toggle) 스위치인 것을 특징으로 한다.
또한, 제1 스위치를 통해 선택되는 아이솔레이터의 종류는 외형은 동일하나 입/출력단 핀의 개수가 서로 다른 것을 특징으로 한다.
또한, 입력단 프로브와 출력단 프로브는 스프링을 포함한다.
또한, 입력단 프로브의 개수와 출력단 프로브의 개수가 서로 같은 것을 특징으로 한다.
또한, 제1 스위치는 입력단 프로브에 연결되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 검사 대상 PCB에 전원과 신호를 따로 연결하지 않고도 PCB 상에 조립되어 있는 아이솔레이터를 검사할 수 있다.
또한, 신호의 개수와 종류가 다른 복수 개의 아이솔레이터를 검사할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터를 포함하는 칩을 도시한 개략도이다.
도 2는 도 1에 도시된 칩에 포함된 아이솔레이터의 기능을 도시한 개념도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터를 포함하는 칩을 도시한 개략도이다.
도 4는 도 3에 도시된 칩에 포함된 아이솔레이터의 기능을 도시한 개념도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치를 도시한 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치를 도시한 회로도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치가 칩에 접촉되는 것을 도시한 개략도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치의 구성을 도시한 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 칩에 포함된 아이솔레이터의 기능을 도시한 개념도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터를 포함하는 칩을 도시한 개략도이다.
도 4는 도 3에 도시된 칩에 포함된 아이솔레이터의 기능을 도시한 개념도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치를 도시한 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치를 도시한 회로도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치가 칩에 접촉되는 것을 도시한 개략도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치의 구성을 도시한 블록도이다.
이하에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
먼저 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치가 적용되는 칩에 대해 도 1 내지 도 4를 통해 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터를 포함하는 칩을 도시한 개략도이고, 도 2는 도 1에 도시된 칩에 포함된 아이솔레이터의 기능을 도시한 개념도이다. 도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터를 포함하는 칩을 도시한 개략도이고, 도 4는 도 3에 도시된 칩에 포함된 아이솔레이터의 기능을 도시한 개념도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터의 검사 장치는 Narrow Body SOIC 타입의 칩에 적용될 수 있다. 일 예로 Narrow Body SOIC 타입의 칩인 Si8440/45 또는 Si8460에 적용되어 아이솔레이터의 손상 여부를 검사할 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, Si8440/45 모델의 칩은 1차 측에 4개의 입력단 핀(A1, A2, A3, A4)이 구비되고, 2차 측에 4개의 출력단 핀(B1, B2, B3, B4)이 구비된다. 그리고 기타 전원이 인가되는 핀(VDD1, VDD2)과 그라운드 핀(GND1, GND2) 등이 구비된다.
또한, 도 2에 도시된 바와 같이, Si8440/45 모델의 칩에 포함된 아이솔레이터에 의해서 1차 측과 2차 측 신호의 전원은 분리된다. 예를 들어, A1에 입력되는 신호가 GND1 대비 3.3V 레벨이면, B1으로 출력되는 신호는 GND2 대비 5V의 신호로 변환이 가능하다.
또한, Si8460의 경우에도 도 3 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 아이솔레이터에 의해 1차 측과 2차 측 신호의 전원은 분리된다.
Si8460 모델의 칩은 1차 측에 6개의 입력단 핀(A1, A2, A3, A4, A5, A6)이 구비되고, 2차 측에 6개의 출력단 핀(B1, B2, B3, B4, B5, B6)이 구비된다. 그리고 기타 전원이 인가되는 핀(VDD1, VDD2)과 그라운드 핀(GND1, GND2) 등이 구비된다.
또한, 도 4에 도시된 바와 같이, Si8460 모델의 칩에 포함된 아이솔레이터에 의해서 1차 측과 2차 측 신호의 전원은 분리된다. 도 2에서와 유사하게, A1에 입력되는 신호가 GND1 대비 3.3V 레벨이면, B1으로 출력되는 신호는 GND2 대비 5V의 신호로 변환이 가능하다.
다음으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치의 구성에 대해 도 5 내지 도 6을 통해 설명한다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치를 도시한 사시도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치를 도시한 회로도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터 검사 장치(1)는 프로브(10), 제1 스위치(20), 제2 스위치(30), 램프(40), 배터리(50), 본체(60)를 포함한다.
프로브(10)는 본체(60)의 일 면에 구비될 수 있는데, 바람직하게는 본체(60)의 하부에 구비된다.
또한, 프로브(10)는 아이솔레이터의 입력단 핀에 접촉되는 입력단 프로브(13)와 아이솔레이터의 출력단 핀에 접촉되는 출력단 프로브(16)를 포함한다. 입력단 프로브(13)와 출력단 프로브(16)는 각각 하나 이상 구비된다.
또한, 입력단 프로브(13)와 출력단 프로브(16)는 서로 쌍을 이루며 구비된다.
또한, 프로브(10)는 스프링을 포함한다. 이는 프로브(10)가 아이솔레이터의 핀에 정확도 높게 접촉하기 위함이다.
또한, 입력단 프로브(13)와 출력단 프로브(16)는 서로 마주 보며 설치될 수 있다.
또한, 프로브(10)는 도 4에 도시된 바와 같이 16개로 구비될 수 있다.
제1 스위치(20)는 본체(60)의 일 면에 구비될 수 있는데, 도 5에서는 본체(60)의 상면에 구비된 것을 도시하고 있다.
또한, 제1 스위치(20)는 프로브(10)가 접촉하는 아이솔레이터의 종류를 사용자가 선택하기 위해 구비된다. 위에서 설명했듯이 본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터 검사 장치(1)는 하나 이상의 종류의 아이솔레이터를 검사한다. 따라서 사용자는 제1 스위치(20)로 검사할 아이솔레이터를 선택할 수 있다.
여기서, Si8445/8440와 Si8460 두 아이솔레이터를 예로 들어 설명한다.
두 모델은 외형은 동일하나 입/출력단 신호의 개수가 4개와 6개로 다르다. 본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터 검사 장치에 의하면 두 모델 모두 검사할 수 이따.
두 모델의 1, 3-6번 핀과 9, 11-14, 16번 핀은 신호의 방향이 동일하다. 이 두 모델의 차이는 2, 7번 핀과 10, 15번 핀에 기인한다.
사용자는 제1 스위치(20)를 통해 두 모델에 대한 손상 여부를 각각 검사할 수 있다.
또한, 제1 스위치(20)는 입력단 프로브(13)에 연결되어 구비되어 실시될 수 있다.
또한, 제1 스위치(20)는 도 5에 도시된 바와 같이 토글(Toggle)형 스위치로 실시될 수 있는데, 도 5에 도시된 바와 달리 버튼형 스위치 등 다양한 형태로 실시될 수 있다.
또한, 제1 스위치(20)를 통해 선택될 수 있는 아이솔레이터의 종류는 외형은 동일하나 입출력단 핀의 개수가 서로 다른 것을 기준으로 나뉘어진다. 즉, 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이 입출력단 핀의 개수가 4개인 것과 6개인 것인 아이솔레이터를 그 예로 들 수 있다.
제2 스위치(30) 역시 본체(60)의 일 면에 구비될 수 있는데, 도 5에서는 본체(60)의 상면에 구비된 것을 도시하고 있다.
또한, 제2 스위치(30)는 입력단 프로브(13)를 통해 아이솔레이터의 입력단 핀에 인가되는 하이(High) 또는 로우(Low) 신호를 선택하기 위해 구비된다.
제2 스위치(30)도 역시 도 3에 도시된 바와 같이 토글(Toggle)형 스위치로 실시될 수 있는데, 도 5에 도시된 바와 달리 버튼형 스위치 등 다양한 형태로 실시될 수 있다.
램프(40)는 출력단 프로브(16)에 연결되어 검사되는 아이솔레이터의 손상 여부를 표시한다. 램프(40)는 전원이 인가되면 켜지는 형태의 램프이면 LED 램프 등 어떤 형태든 적용이 가능하다.
배터리(50)는 프로브(10)를 통해 아이솔레이터에 전원을 공급한다.
또한, 후술할 도 8에서 보듯이 배터리(50)는 제1 배터리(53)와 제2 배터리(56)를 포함한다.
제1 배터리(53)는 입력단 프로브(13)를 통해 아이솔레이터의 입력단 핀에 전원을 인가하고, 제2 배터리(56)는 출력단 프로브(16)를 통해 아이솔레이터의 출력단 핀에 전원을 인가한다.
다음으로, 도 6에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터 검사 장치의 회로도에 대해 설명한다. 여기서는 Si8445/8440와 Si8460 두 아이솔레이터를 검사하는 것을 예로 들어 설명한다.
제2 스위치(30)를 하이에 위치하면 제1 배터리(53)의 3.3V가 인가되어 하이 신호를 입력시켜 준다. 제2 스위치(30)를 로우에 위치하면 제1 배터리(53)의 GND1이 인가되어 로우 신호를 입력시켜 준다.
또한, 제1 스위치(20)를 Si8445로 위치하면 입력단 프로브(13)의 TP3, TP4, TP5, TP6번에만 하이 또는 로우 신호를 인가시켜 검사할 수 있다.
또한, 제1 스위치(20)를 Si8460으로 위치하면 TP2, TP3, TP4, TP5, TP6, TP7번에 하이 또는 로우 신호를 인가시켜 검사할 수 있다.
또한 TP2, TP15의 경우, Si8445 모드일 때는 GND에 연결되어야 한다.
또한 TP7, TP10의 경우, Si8445 모드일 때는 No connection이어야 한다.
검사하고자 하는 아이솔레이터가 손상된 경우, 제2 스위치(30)를 통해 선택된 신호가 하이 신호인 경우에는 램프(40)가 꺼지고 로우 신호인 경우에는 램프(40)가 켜진다.
또한, 검사하고자 하는 아이솔레이터가 정상인 경우에는, 제2 스위치(30)를 통해 선택된 신호가 하이 신호이면 램프(40)가 꺼지고 로우 신호이면 램프(40)가 켜진다.
이와 같은 과정을 통해 아이솔레이터의 손상 여부를 파악할 수 있다.
도 7은 Si8445/8440 또는 Si8460 아이솔레이터를 검사하기 위해서 프로브(10)가 접촉되는 것을 도시하고 있다.
다음으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터 검사 장치가 직접 적용되어 아이솔레이터를 검사하는 연결 구성을 도 8을 통해 설명한다. 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄 회로 기판에 실장되는 아이솔레이터의 검사 장치의 구성을 도시한 블록도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 아이솔레이터 검사 장치(1)의 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)는 입력단 프로브(13)에 연결되고, 입력단 프로브(13)에는 전원을 공급하는 제1 배터리(53)가 연결된다.
또한, 출력단 프로브(16)에는 전원을 공급하는 제2 배터리(56)가 연결되고, LED 램프(40)가 연결된다.
또한, 입력단 프로브(13)는 측정하고자 하는 아이솔레이터(3)의 입력단 핀에 접촉하고, 출력단 프로브(16)는 측정하고자 하는 아이솔레이터(3)의 출력단 핀에 접촉된다.
1 : 아이솔레이터 검사 장치 3: 아이솔레이터
10 : 프로브 13 : 입력단 프로브
16 : 출력단 프로브 20 : 제1 스위치
30 : 제2 스위치 40 : LED 램프
50 : 배터리 53 : 제1 배터리
56 : 제2 배터리 60 : 본체
10 : 프로브 13 : 입력단 프로브
16 : 출력단 프로브 20 : 제1 스위치
30 : 제2 스위치 40 : LED 램프
50 : 배터리 53 : 제1 배터리
56 : 제2 배터리 60 : 본체
Claims (10)
- 아이솔레이터의 입력단 핀에 접촉되는 입력단 프로브;
상기 아이솔레이터의 출력단 핀에 접촉되는 출력단 프로브;
상기 아이솔레이터의 종류을 선택하기 위한 제1 스위치;
상기 입력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 입력단 핀에 인가되는 하이 또는 로우 신호를 선택하기 위한 제2 스위치;
상기 출력단 프로브에 연결되는 램프;
상기 입력단 또는 출력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 핀에 인가되는 전원을 공급하는 배터리;를 포함하고,
상기 아이솔레이터가 손상된 경우에, 상기 제2 스위치를 통해 선택된 신호가 하이 신호이면 상기 램프가 꺼지고 로우 신호이면 상기 램프가 켜지는 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 배터리는 상기 입력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 입력단 핀에 전원을 인가하는 제1 배터리와, 상기 출력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 출력단 핀에 전원을 인가하는 제2 배터리를 포함하고, 상기 제1 배터리와 제2 배터리는 같은 전원 값을 가지는 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 배터리는 상기 입력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 입력단 핀에 전원을 인가하는 제1 배터리와, 상기 출력단 프로브를 통해 상기 아이솔레이터의 출력단 핀에 전원을 인가하는 제2 배터리를 포함하는 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 램프는 LED 램프인 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 아이솔레이터는 Narrow Body SOIC 타입인 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 스위치 또는 제2 스위치는 토글(Toggle) 스위치인 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 스위치를 통해 선택되는 아이솔레이터의 종류는 외형은 동일하나 입/출력단 핀의 개수가 서로 다른 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 입력단 프로브와 상기 출력단 프로브는 스프링을 포함하는 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 입력단 프로브의 개수와 상기 출력단 프로브의 개수가 서로 같은 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 스위치는 상기 입력단 프로브에 연결되는 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110116830A KR101313555B1 (ko) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110116830A KR101313555B1 (ko) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130051599A KR20130051599A (ko) | 2013-05-21 |
KR101313555B1 true KR101313555B1 (ko) | 2013-10-01 |
Family
ID=48661502
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110116830A KR101313555B1 (ko) | 2011-11-10 | 2011-11-10 | 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101313555B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980013903A (ko) * | 1996-08-05 | 1998-05-15 | 조양래 | 공전속도제어 스테퍼 모터 테스터(Tester for idle speed control servo system) |
KR20040002442A (ko) * | 2002-06-25 | 2004-01-07 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 반도체 장치 및 그의 시험 방법 |
KR100722557B1 (ko) | 2006-05-18 | 2007-05-28 | 한국단자공업 주식회사 | 서브회로기판 시험장치 |
KR20070067160A (ko) * | 2004-09-30 | 2007-06-27 | 각고호우징 게이오기주크 | 전자 회로 시험 장치 |
-
2011
- 2011-11-10 KR KR1020110116830A patent/KR101313555B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980013903A (ko) * | 1996-08-05 | 1998-05-15 | 조양래 | 공전속도제어 스테퍼 모터 테스터(Tester for idle speed control servo system) |
KR20040002442A (ko) * | 2002-06-25 | 2004-01-07 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 반도체 장치 및 그의 시험 방법 |
KR20070067160A (ko) * | 2004-09-30 | 2007-06-27 | 각고호우징 게이오기주크 | 전자 회로 시험 장치 |
KR100722557B1 (ko) | 2006-05-18 | 2007-05-28 | 한국단자공업 주식회사 | 서브회로기판 시험장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130051599A (ko) | 2013-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009204329A (ja) | 回路ボード検査システム及び検査方法 | |
CN108572310B (zh) | 电路测试方法 | |
WO2016017292A1 (ja) | デバイスの検査方法、プローブカード、インターポーザ及び検査装置 | |
KR101798440B1 (ko) | 반도체 장치의 검사 장치 및 반도체 장치의 검사 방법 | |
US6856154B2 (en) | Test board for testing IC package and tester calibration method using the same | |
JP4571076B2 (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
KR101727378B1 (ko) | 기판 검사 장치 | |
JP2008071999A (ja) | 半導体装置及びその検査方法並びに半導体装置の検査装置の検査方法 | |
US7268571B1 (en) | Method for validating and monitoring automatic test equipment contactor | |
KR20150052563A (ko) | 검사 장치 및 방법 | |
US20070024305A1 (en) | Apparatuses for inspecting pogo pins of an electrical die sorting system and a method for performing the same | |
KR101313555B1 (ko) | 인쇄 회로 기판에 실장된 아이솔레이터의 검사 장치 | |
US7898274B2 (en) | Structure of probe | |
US20100123472A1 (en) | Probe card and test method using the same | |
JP2005315775A (ja) | 片面移動式プローブを用いた4端子検査方法及び4端子検査用治具 | |
KR100882425B1 (ko) | 멀티 사이트 테스트용 프로브카드 | |
JP2007012709A (ja) | 半導体検査装置および半導体装置の検査方法 | |
US7098679B2 (en) | Circuit tester interface | |
KR100700935B1 (ko) | 캘리브레이션 지그 및 이를 갖는 캘리브레이션 장치 | |
KR100953331B1 (ko) | 테스트 헤더부의 회전 이동을 제어하는 장치 | |
JP2003309050A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2006261391A (ja) | 半導体装置およびその検査方法 | |
JP6733199B2 (ja) | 検査装置、検査方法及び検査プログラム | |
KR101397370B1 (ko) | Tiu 보드 검사 장치 | |
KR100701374B1 (ko) | 반도체 소자의 아이디디큐 불량분석 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |