KR100722557B1 - 서브회로기판 시험장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 서브회로기판에 구비된 회로 성능검사를 간단하게 하기 위한 시험장치에 관한 것이다. 본 발명은 서브회로기판과 연결하기 위한 연결커넥터가 일단에 구비되고, 상기 서브회로기판의 각 회로별 시험을 위한 경로가 제공되는 도선패턴이 형성된다. 그리고 상기 도선패턴의 연결을 차단/유지하여 시험 경로를 선택적으로 유지하기 위한 스위칭 수단으로서, 각 도선패턴별로 토글 스위치가 구비되거나 또는 노브 캡(Knob cap)가 구비되는 핀헤더소켓이 구비된다. 상기 서브회로기판과 연결된 상태에서 전원 공급이 이루어지면 상기 서브회로기판의 회로별 정상 유무를 확인하기 위한 램프가 구비되고, 만약 램프가 구비되지 않는 회로 검사 항목에 대해서는 해당 도선패턴의 단자에 오실로스코우프 또는 멀티메타의 프로브 팁을 직접 접촉하여 결과를 확인하게 한다. 이에 따라 본 발명에서는 메인회로기판에 장착되어 시험하기 어려운 서브회로기판에 대해서 간단한 연결 조작만으로 성능을 시험할 수 있는 잇점이 있다.
서브회로기판, 시험장치, 커넥터, 측정장치

Description

서브회로기판 시험장치{APPARATUS FOR CONTROLLING OF SUB PRINTED CITCUIT BOARD}
도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 서브회로기판 시험장치의 사시도.
도 2는 도 1에 도시된 서브회로기판 시험장치가 서브회로기판에 연결되는 사시도.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
10 : 서브회로기판 시험장치 11 : 연결 컨넥터
13 : 도선 패턴 15 : 핀헤더 소켓
19 : 램프 20 : 절환 스위치
29 : 토글 스위치
본 발명은 서브회로기판 시험장치에 관한 것으로서, 특히 메인회로기판에 장착되는 서브회로기판의 회로별 정상동작 시험을 간단하게 검사할 수 있도록 하는 서브회로기판 시험장치에 관한 것이다.
통상, 인쇄회로기판(PCB)는 반도체, 컨덴서, 저항 등 각종 부품이 구비되고, 그 부품 상호간을 연결시켜 원하는 기능을 제공하도록 한다. 이러한 인쇄회로기판은 가전제품, 컴퓨터, 휴대단말장치 등 모든 전자기기에 사용되고 있다. 근래에는 차량에도 각종 전자제어기능이 적용되고 있어 이에 따른 전기/전자부품의 사용이 증가하고 있으며, 이는 인쇄회로기판의 사용으로 이어진다.
상기 인쇄회로기판은 제품 개발단계에서 정상적으로 동작이 실행되는지에 대한 검사가 필수적이다. 상기 검사방법으로는 일반적으로 인쇄회로기판의 이면에 형성된 납땜부위에 테스트장치를 접촉시켜 기능검사를 수행한다.
그러나, 상기 인쇄회로기판에는 각종 전자소자들이 구비된 메인회로기판과 별도로 상기 메인회로기판에 구비된 전자소자들을 제어하는 서브회로기판이 별도로 장착될 수 있다. 상기 서브회로기판과 상기 메인회로기판은 전기적으로 연결이 접속된다.
예를 들어, 차량 엔진룸에는 지능형 전원분산모듈(Intelligent Power Distribution Module, 이하 'IPDM'이라 함)이 구비된다. 상기 IPDM은 캔통신(CAN:Controller Area Network) 방식에 의하여 스위칭 신호를 제공받아 각종 릴레이를 제어하고 전원을 분배하는 기능을 한다. 여기서 상기 릴레이는 스위치 조작에 따라 차량에 제공된 다수의 기기들을 제어하도록 제공된다. 상기 기기들은 헤드램프, 안개등, 점멸등, 에어컨, 모터 팬, 와이퍼, 파워 윈도우, 후드 등이 될 수 있다. 이러한 상기 릴레이 등이 설치되는 것이 메인회로기판이다. 그리고 상기 릴 레이의 온/오프 제어를 수행하고 또한 상기 캔통신을 제어하기 위한 전자소자가 구비되는 것이 서브회로기판이다.
이와 같은 구성을 갖는 상기 서브회로기판도 메인회로기판과 같이 성능 검사를 실시해야 한다. 그러나 상기 서브회로기판은 대체적으로 공간을 많이 차지하지 않도록 메인회로기판상에서 수직으로 고정되기 때문에 성능 검사를 실시함에 있어 불편한점이 있다. 즉 메인회로기판은 이면에 테스트 장치를 이용하여 기능검사가 가능하지만, 서브회로기판은 그 구조 특성상 기능검사를 용이하게 실시할 수 없었다.
이에 본 발명은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 메인회로기판과 전기적으로 연결되어 있는 서브회로기판의 성능 검사를 보다 간단하게 실시할 수 있도록 하는 서브회로기판 시험장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면, 메인회로기판에 설치되는 서브회로기판과 연결하기 위한 컨넥터, 상기 서브회로기판에 구비된 회로에 대한 검사 경로를 제공하는 복수의 도선패턴, 상기 회로에 대한 검사 경로를 선택적으로 제공하도록 상기 도선패턴에 각각 구비되는 스위칭 수단, 상기 스 위칭 수단 조작에 따라서 상기 회로에 대한 검사 결과를 확인하는 표시수단, 그리고 상기 회로별로 서로 상이한 전원을 공급하기 위한 하나 이상의 전원공급단자를 포함하여 구성된다.
본 발명의 상기 전원공급단자는, 5V, 12V, 이그니션전원 4V이다.
본 발명의 상기 스위칭 수단은, 상기 도선패턴상에 토글(toggle) 스위치가 구비되거나, 또는 노브캡에 의해 상기 도선패턴의 연결/차단 모드를 제공하는 핀헤더소켓이고, 상기 핀헤더소켓은 상기 도선패턴을 따라 상기 컨넥터와 일대일로 대응되어 설치된다.
본 발명의 상기 표시수단은 동일하거나 또는 서로 상이한 색상을 갖는 발광다이오드인 것이 바람직하다.
본 발명에서 모터 팬 기능에 대응되는 도선패턴에는 열에 의하여 저항값이 다르게 제공되는 가변저항수단이 장착된다.
본 발명은, 상기 서브회로기판의 정상 여부를 확인하는 측정 수단이 더 구비되며, 상기 측정 수단은 오실로스코우프 또는 멀티메타이다. 그리고 상기 오실로스코우프 또는 멀티메타는 시험하고자 하는 회로에 대응되는 해당 도선패턴의 접점에 연결하여 상기 회로로부터 출력되는 파형 또는 전압값의 적정 출력 여부를 검사하게 된다.
이와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의하면 메인회로기판과 연결되는 서브회로기판을 별도의 시험장치를 이용하여 간단하게 결합시킨 다음 스위칭 조작에 의해 그 서브회로기판에 구비된 여러 기능에 대한 회로의 정상 여부를 간단하게 검사할 수 있는 이점이 있다.
이하, 본 발명에 의한 서브회로기판 시험장치를 첨부된 도면에 도시된 바람직한 실시 예를 참고하여 상세하게 설명한다.
도 1에는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 서브회로기판 시험장치의 사시도가 도시되어 있고, 도 2에는 도 1에 도시된 서브회로기판 시험장치가 서브회로기판에 연결되는 사시도가 도시되어 있다.
이들 도면을 참조하면, 서브회로기판 시험장치(이하 '시험장치'라 약칭함)(10)는 일측면에 서브회로기판(5)과 연결 가능하도록 연결 컨넥터(11)가 구비된다. 상기 연결 컨넥터(11)는 상기 서브회로기판(5)과 끼움 연결되도록 암/수 형태의 컨넥터이다. 즉, 서브회로기판(5)에 암 컨넥터(7)가 형성되면 시험장치(10)에는 수 컨넥터가 형성되는 것이다.
그리고, 상기 연결 컨넥터(11)와 전기적으로 연결되는 도선패턴(13)이 복수개 형성된다. 상기 도선패턴(13)은 상기 연결 컨넥터(11)와 1:1 패턴으로 연결되며 상기 서브회로기판(5)에 구비된 회로에 대하여 각각 할당되도록 한다. 예를 들어, 상기 서브회로기판(5)이 장착되는 메인회로기판(1), 즉 IPDM에서 제공하는 헤드램프, 안개등, 점멸등, 에어컨, 모터 팬, 와이퍼, 파워 윈도우, 후드 등의 온/오프를 단속하는 릴레이(4)에 대한 제어회로와 캔통신 제어회로 등이 서브회로기판(5)에 구비되는바, 상기 각각의 기능별 릴레이 제어회로와 캔통신 제어회로에 대하여 상기 도선패턴(13)이 각각 독립적으로 연결되는 것이다.
그리고, 상기 도선패턴(13)별로 성능 검사를 선택적으로 할 수 있도록 스위 칭 수단이 제공된다. 상기 스위칭 수단은 도선패턴(13)의 소정 위치에 토글 스위치 (29)형태로 제공되거나, 도선패턴(13) 중앙에 도선패턴(13)의 연결을 선택적으로 차단할 수 있는 핀헤더소켓(15) 형태로 제공된다. 상기 핀헤더소켓(15)은 한 쌍의 핀 구조가 상기 각 도선패턴과 대응되어 복수개 형성되며, 상기 핀 구조에 노브캡(16)이 탈부착되어 도선패턴(13)의 경로를 차단/연결하게 한다.
아울러, 모터 팬 기능에 대응되는 도선패턴(13)에는 열에 의하여 저항 값이 다르게 제공되는 가변저항수단(30)이 구비된다.
그리고, 상기 서브회로기판(5)의 회로 검사에 대한 결과를 육안으로 용이하게 확인하기 위한 표시 램프(19)가 구비된다. 상기 표시 램프(19)는 서브회로기판(5)이 제공하는 회로마다 모두 제공할 수도 있으나, 시험장치(10)의 공간 한계로 인하여 주요 기능시험에 대해서만 램프가 제공된다. 본 발명에서는 총 8개의 램프가 구성되는 것을 보이고 있으며, 각각 발광다이오드로 구비된다.
또한, 상기 성능 검사시에 상기 회로는 상이한 전원을 공급받아야 한다. 이를 위해 5V 공급단자(21)와 12V 공급단자(23)를 통해 전원이 공급되어야 하며, 그중 어느 하나의 전원이 선택되어 공급되도록 전원 선택을 위한 절환스위치(20)가 구비된다. 그리고 시험장치(10)에는 이그니션 전원공급을 위한 공급라인(25)이 별도 형성되며 이그니션 전원단속을 위한 스위치가 구비될 수 있다.
한편, 상기 도선패턴(13)의 타단에도 단자(17)들이 형성된다.
미 설명 부호 27는 접지라인이다.
이하 상기한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 서브회로기판 시험장 치의 작용을 상세하게 설명한다.
먼저, 시험자는 성능검사하고자 하는 시험리스트를 선택한다. 상기 시험리스트는 예컨대 앞서 설명한 바와 같이 헤드램프, 안개등, 점멸등, 에어컨, 모터 팬, 와이퍼, 파워 윈도우, 후드 등이 될 수 있으며, 이러한 항목 중에서 성능검사하고자 하는 항목을 선택한다. 상기 선택은 모든 항목을 선택하거나 일부만을 선택할 수 있다.
본 발명에서는 상기 항목 중에서 헤드램프, 안개등, 에어컨, 모터 팬, 파워윈도우에 대하여 성능검사를 실시함을 일례로 설명하고 그 각 항목에 대한 연결컨넥터 번호는 예컨대 '21', '22', '26', '27', '30'로 가정한다. 즉, 이 말은 상기 컨넥터 번호에 대응되어 서브회로기판(5)에 상기한 항목을 제어하는 회로가 구비되는 것이며, 또한 메인회로기판(1)에도 대응하는 릴레이(3)들이 구비됨을 말하는 것이다.
또한, 상기 항목 검사에 대하여 육안으로 확인할 수 있도록 램프가 제공된다.
그리고, 상기 항목은 모두 12V 공급전원에 의해 시험됨을 실시 예로 한다.
이와 같은 상태에서, 시험자가 시험장치(10)의 연결 컨넥터(11)와 서브회로기판(5)의 컨넥터(7)를 상호 연결한다. 이때 상기 컨넥터(7)(11)는 핀투핀(PIN-TO-PIN) 방식의 컨넥터 사용을 배제하도록 한다. 이는 장시간 사용시 핀이 휘어지는 현상이 발생할 수 있고, 이에 정확한 검사가 실시되지 않을 수 있음을 감안한 것이다.
다음, 절환스위치(20)를 상기 12V공급단자(23)로 절환하여 12V 전원이 공급되게 한다. 아울러 미도시된 이그니션 전원 단속용 스위치를 조작하여 이그니션전원 입력단자(25)를 통해 B+ 전원이 지속적으로 공급되게 한다. 이와 같이 상기 연결 컨넥터(11)가 연결되면 서브회로기판(5)과 시험장치(10)는 전기적 연결상태가 된다. 이때 상기 검사 항목에 대한 도선패턴(13)은 토글스위치(29) 또는 핀헤더소켓(15)에 의해 단선된 상태이다.
이후, 시험을 위하여 상기 항목 설정된 컨넥터 번호 '21', '22', '26', '27', '30'번에 대한 전기적 연결이 도통되도록 한다. 즉, 현재 단선상태인 '21', '22', '26', '27', '30'번에 해당되는 상기 핀헤더소켓(15)의 핀에 노브캡(16)를 씌여 도통상태로 변경하거나, 만일 상기 항목들에 대하여 상기 핀헤더소켓(15) 형태가 아니고 토글스위치(29)가 위치한 경우에는 해당 토글스위치(29)를 스위칭하여 온동작시킨다.
그러면, 상기 B+전원과 구동전원이 공급되고 있기 때문에, 상기 성능 검사하고자 하는 항목에 장애가 발생되지 않는 경우 상기 헤드램프, 안개등, 에어컨, 모터 팬, 파워윈도우와 대응되는 램프(19)가 스위칭 동작에 따라 순차적 또는 랜덤하게 점등된다. 만일, 상기와 같은 상태에서 대응되는 램프가 점등되지 않게 되면 상기 서브회로기판(5)의 해당 회로에 장애가 있음을 알게 된다. 따라서, 상기 램프(19) 점등 여부에 따라 정상/비정상 여부를 판단할 수 있다. 물론, 상기 램프(19)가 점등되었을 때 회로 장애가 발생되도록 할 수도 있다.
다음으로, 상기 시험시에 해당 시험항목에 램프가 제공되지 않을 수도 있다.
이 경우에는 상기 시험장치(10)의 양단 접점단자(11)(17)에 미도시하고 있는 오실로스코우프 또는 멀티메타의 프로브 팁을 연결하여 해당 회로의 파형 또는 전압이 정상적으로 발생하고 있는지 검사한다.
예를 들어, 컨넥터 번호 '21'인 헤드램프에 대한 시험시에 램프가 제공되지 않는 경우에는 상기 컨넥터 '21'에 대응되는 도선패턴의 양 접점에 오실로스코우프 또는 멀티메타의 프로브 팁을 접촉하고, 상기 헤드램프의 적정 파형이나 전압이 발생되면 정상으로 판단하고, 반대인 경우에는 장애로 판단하다.
이와 같이 상기 실시 예에 설명되고 있는 본 발명은 메인회로기판에 장착된 서브회로기판의 정상 여부를 시험장치를 연결하고 그 시험장치에 구비된 램프의 온/오프 동작, 또는 오실로스코우프/멀티메타 등의 측정 수단을 이용하여 간단하게 검사할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 도시된 실시 예를 참고하여 설명하고 있으나, 이는 예시적인 것들에 불과하며, 본 발명의 속하는 기술 분야의 통상 지식을 가진 자라면 본 발명의 요지 및 범위에 벗어나지 않으면서도 다양한 변형, 변경 및 균등한 타 실시 예들이 가능하다는 것을 명백하게 알 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 청구범위의 기술적인 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
위에서 상세히 설명한 바와 같은 본 발명에 의한 서브회로기판 시험장치는, 서브회로기판의 정상적인 동작 여부를 간단하게 시험할 수 있고, 서브회로기판이 제공하는 회로별 정상 여부를 여러 공정이 아닌 한 번의 조작만으로 쉽게 확인할 수 있음으로써, 서브회로기판에 대한 검사시간 단축은 물론 정확한 검사결과를 기대할 수 있어 작업능률이 향상되는 효과가 있다.

Claims (8)

  1. 메인회로기판에 설치되는 서브회로기판과 연결하기 위한 컨넥터,
    상기 서브회로기판에 구비된 회로에 대한 검사 경로를 제공하는 복수의 도선패턴,
    상기 회로에 대한 검사 경로를 선택적으로 제공하도록 상기 도선패턴에 각각 구비되는 스위칭 수단,
    상기 스위칭 수단 조작에 따라서 상기 회로에 대한 검사 결과를 확인하는 표시수단, 그리고
    상기 회로별로 서로 상이한 전원을 공급하기 위한 하나 이상의 전원공급단자를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 전원공급단자는, 5V, 12V, 이그니션전원 4V인 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 스위칭 수단은, 상기 도선패턴상에 토글(toggle) 스위치가 구비되거나, 또는 노브캡에 의해 상기 도선패턴의 연결/차단 모드를 제공하는 핀헤더소켓인 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 핀헤더소켓은 상기 도선패턴을 따라 상기 컨넥터와 일대일로 대응되어 설치되는 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 표시수단은 동일하거나 또는 서로 상이한 색상을 갖는 발광다이오드인 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  6. 제 1항에 있어서,
    모터 팬 기능에 대응되는 도선패턴에는 열에 의하여 저항값이 다르게 제공되는 가변저항수단이 장착되는 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 서브회로기판의 정상 여부를 확인하는 측정 수단이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 측정 수단은 오실로스코우프 또는 멀티메타이고,
    상기 오실로스코우프 또는 멀티메타는 시험하고자 하는 회로에 대응되는 해 당 도선패턴의 접점에 연결하여 상기 회로로부터 출력되는 파형 또는 전압값의 적정 출력 여부를 검사하는 것을 특징으로 하는 서브회로기판 시험장치.
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