JPH11205950A - ジャンクションブロックの導通チェック構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ジャンクションブロック内のヒューズ等の被
導通検査部品を通電検査する際に、その都度の、カバー
の着脱操作を不用にする。 【解決手段】 被導通検査部品１３を露出状態で収納す
るブロック本体１１と、ブロック本体１１に着脱自在に
取り付けられ露出状態の被導通検査部品１３を覆うカバ
ー１９と、ブロック本体１１に設けられ被導通検査部品
１３の導通電極に接続される一対の端子と、一対の端子
のそれぞれに設けられカバー１９に向けて突出する検査
用接触子２５と、カバー１９に穿設され検査用接触子２
５を挿入する透孔２７とを具備し、ブロック本体１１に
カバー１９を装着した状態で、検査用接触子２５が透孔
２７に挿入されるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、内部に集中配置し
た被導通検査部品（ヒューズ、リレー等）の導通を検査
するジャンクションブロックの導通チェック構造に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】自動車等には、ヒューズやリレー類を内
部に集中配置した図８に示すジャンクションブロック１
が搭載される。ジャンクションブロック１は、ブロック
本体３とカバー５とからなり、ブロック本体３の内部に
は、不図示のヒューズ、リレー類が収納されている。

【０００３】ブロック本体３の車室側には上述のカバー
５が取り付けられ、カバー５はブロック本体３に収納さ
れたヒューズ等を覆っている。このカバー５は、ヒュー
ズ等が交換できるように、ブロック本体３に取り外し自
在となる。車体側から送られてきたハーネス７は、ブロ
ック本体３の車体側の取付面に穿設した複数の開口孔を
通って、ブロック本体３の内部へと導入される。ブロッ
ク本体３の内部には、ヒューズ等に接続される電気回路
がバスバーで形成され、ハーネスは、このバスバーを介
してヒューズ等に接続される。

【０００４】このようなジャンクションブロック１を設
置することにより、ハーネス７の途中からの回路分岐を
大幅に減少させることができ、ハーネス束の肥大防止
や、ヒューズ等の脱着交換のサービス性を向上させるこ
とができた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述したジャンクショ
ンブロックの一つに、例えばヒューズのみを集中配置さ
せたヒューズボックスがある。このヒューズボックス
は、製品としての組立て完了時に、複数のヒューズが取
り付けられるとともに、このヒューズを覆うカバーが装
着される。このようにして組立ての完了されたヒューズ
ボックスは、製造工程の最終段階でそれぞれのヒューズ
の導通を検査する通電検査が行われる。しかしながら、
このようなヒューズボックスに代表されるジャンクショ
ンブロックでは、被導通検査部品であるヒューズを覆う
カバーを、ブロック本体に取り付けてあるため、検査の
都度、カバーを取り外してヒューズ両端の電極にテスタ
ー等をあてて通電確認を行い、その後再びカバーをブロ
ック本体に取り付けなければならず、多数回の通電検査
を行う場合には、カバー着脱のために多くの作業時間が
無駄に消費されることとなった。本発明は上記状況に鑑
みてなされたもので、ジャンクションブロック内のヒュ
ーズ等の通電検査時に、カバーの着脱を廃止することの
できるジャンクションブロックの導通チェック構造を提
供し、通電検査時間の短縮を図ることを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る導通チェック構造は、内部に被導通検査
部品が収納されるジャンクションブロックの導通チェッ
ク構造であって、前記被導通検査部品を露出状態で収納
するブロック本体と、該ブロック本体に着脱自在に取り
付けられ露出状態の前記被導通検査部品を覆うカバー
と、前記ブロック本体に設けられ前記被導通検査部品の
導通電極に接続される一対の端子と、該一対の端子のそ
れぞれに設けられ前記カバーに向けて突出する検査用接
触子と、前記カバーに穿設され該検査用接触子を挿入す
る透孔とを具備し、前記ブロック本体に前記カバーを装
着して前記検査用接触子を前記透孔に挿入したことを特
徴とする。

【０００７】この導通チェック構造では、カバーがブロ
ック本体に取り付けられた状態で、それぞれの被導通検
査部品の導通電極に接続された端子が、一対の検査用接
触子となって透孔を介してカバーの表面に露出し、カバ
ーの表面から突出した所望の検査用接触子間の導通をテ
スター等により検査することで、被導通検査部品の導通
検査が行えるようになる。

【０００８】そして、本発明に係る導通チェック構造
は、前記検査用接触子が、前記透孔を貫通して前記カバ
ーから突出することを特徴としてもよい。

【０００９】この導通チェック構造では、検査用接触子
がカバーの表面から突出し、テスター等の検査針（プロ
ーブ）を用いての接触が容易となる。

【００１０】また、本発明に係る導通チェック構造は、
検査用接触子が、前記透孔内に収容されることを特徴と
してもよい。

【００１１】この導通チェック構造では、検査用接触子
がカバーの表面から突出せず、検査用接触子と他部品と
の接触が防止されるとともに、プローブが透孔に挿入さ
れることで、プローブの滑りが規制される。

【００１２】更に、本発明に係る導通チェック構造は、
前記カバーの表面に凹部を形成し、該凹部の底面に前記
透孔を穿設し、該透孔を貫通させた前記検査用接触子を
凹部内に配置したことを特徴としてもよい。

【００１３】この導通チェック構造では、検査用接触子
がカバーの表面から突出せず、検査用接触子と他部品と
の接触が防止されるとともに、凹部内に検査用接触子が
配置されることで、カバー表面から突出させずに検査用
接触子の露出面積が大きく確保される。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る導通チェック
構造の好適な実施の形態を図面を参照して詳細に説明す
る。図１は本発明に係る導通チェック構造を備えたジャ
ンクションブロックのカバーを外した状態の斜視図、図
２はカバーを装着したジャンクションブロックの斜視
図、図３は図１の端子の拡大斜視図、図４は図２のＡ−
Ａ矢視図、図５は図１のカバーの平面図である。

【００１５】図１に示すようにブロック本体１１の内部
には、被導通検査部品であるヒューズ１３を収納する収
納空間１５を形成してある。この収納空間１５は、ブロ
ック本体１１の車室側の面で開口している。収納空間１
５の開口部には周壁１７が設けられ、周壁１７にはカバ
ー１９が脱着可能に装着される。従って、収納空間１５
の開口部で露出するヒューズ１３は、図２に示すように
周壁１７に装着されたカバー１９によって覆われるよう
になっている。

【００１６】ブロック本体１１の収納空間１５には、図
３に示す音叉端子２１を一つのヒューズ１３に対し二つ
ずつ複数対設けてある。音叉端子２１は、ブロック本体
１１の内部で電気回路を形成するバスバー２３と一体に
形成されている。ブロック本体１１の内部には車体側か
らの不図示のハーネスが導入され、ハーネスは所定のバ
スバー２３に接続される。即ち、音叉端子２１は、バス
バー２３を介して車体側の所定のハーネスに接続されて
いる。

【００１７】音叉端子２１には、挟入間隙２１ａを挟ん
で対向する一対の接触部２１ｂを形成してある。接触部
２１ｂの挟入間隙２１ａには、図４に示すヒューズ１３
の脚端子１３ａが圧入される。脚端子１３ａの圧入され
た音叉端子２１は、弾性復帰力により、一対の接触部２
１ｂで脚端子１３ａに圧接して導通する。

【００１８】音叉端子２１の例えば一方の接触部２１ｂ
には、カバー１９方向へ向かって突出する検査用接触子
２５を突設してある。この実施形態では、接触部２１ｂ
の上部からピン状に延出させることで、検査用接触子２
５を音叉端子２１と一体に形成してある。なお、検査用
接触子２５は、音叉端子２１と別体のものを音叉端子２
１に付設するものであってもよい。

【００１９】従って、ヒューズ１３の装着された音叉端
子２１は、図１に示すようにそれぞれの検査用接触子２
５をカバー１９へ向けて突出させた状態となる。カバー
１９には、それぞれの検査用接触子２５に対応させて透
孔２７を穿設してある。透孔２７は、検査用接触子２５
が挿通可能な孔となっている。検査用接触子２５は、カ
バー１９がブロック本体１１に取り付けられることで、
図４に示すように透孔２７を介してカバー１９の上面か
ら若干量突出した状態となる。即ち、ヒューズ１３の導
通電極（両極）に接続した一対の音叉端子２１は、カバ
ー１９を装着した状態においても、検査用接触子２５を
介してカバー１９の上面に露出することになる。

【００２０】図５に示すように、カバー１９の表面に
は、それぞれの一対の透孔２７毎にヒューズ容量、遮断
回路名等を示す刻印又は印刷２９を施してある。これに
より、透孔２７から突出される検査用接触子２５がどの
ヒューズ１３に対応するものであるかが、分かるように
なっている。また、この刻印又は印刷は、ヒューズ１３
の設けられる配線回路図の一部と共に表示を行うこと
で、視覚的に容易にヒューズ１３が特定できるようにす
るものであってもよい。

【００２１】このように構成したジャンクションブロッ
クの導通チェック構造では、カバー１９がブロック本体
１１に取り付けられた状態で、それぞれのヒューズ１３
の両極に接続された音叉端子２１が、一対の検査用接触
子２５となって透孔２７を介してカバー１９の表面に露
出することとなる。従って、カバー１９の表面から突出
した所望のヒューズ表示に対応する一対の検査用接触子
２５間の導通をテスターにより検査することで、図６に
示す回路図のａ−ｂ間を通電検査することになり、ヒュ
ーズ１３の導通検査が行えることになる。

【００２２】このように、上述のジャンクションブロッ
クの導通チェック構造によれば、音叉端子２１に検査用
接触子２５を設け、カバー１９にこの検査用接触子２５
に対応する透孔２７を穿設し、カバー１９を取り付けた
状態においても、検査用接触子２５がカバー１９の表面
から突出するようにしたので、カバー１９を脱着するこ
となく、ブロック本体１１の内部に収納されたヒューズ
１３の導通を容易に検査することができる。この結果、
導通検査の都度にカバー１９を着脱する手間を省くこと
ができ、通電検査の作業時間を短縮することができる。

【００２３】また、この実施形態におけるジャンクショ
ンブロックの導通チェック構造では、検査用接触子２５
をカバー１９の表面から突出させたので、テスター等の
プローブを用いての接触が容易となる。

【００２４】更に、カバー１９が例えば四角形であり、
回転方向複数位置でブロック本体１１に取り付けできる
場合には、透孔２７と検査用接触子２５との配置を、カ
バー１９の特定の向きでのみ一致する位置関係とするこ
とで、カバー１９の逆向きでの取り付けを防止すること
もできる。

【００２５】なお、上述の実施形態では、検査用接触子
２５がカバー１９の表面から突出される場合を例に挙げ
て説明したが、検査用接触子２５は、図７に示すよう
に、カバー１９の表面から突出させずに、露出させるも
のであってもよい。

【００２６】即ち、図７（ａ）に示す例では、検査用接
触子２５を、透孔２７に収容させた状態で、カバー１９
の表面に露出させている。従って、透孔２７内にプロー
ブを挿入することで、検査用接触子２５との導通が可能
となる。この例によれば、検査用接触子２５がカバー１
９の表面から突出しないので、検査用接触子２５と他部
品との接触を防止することができるとともに、プローブ
を透孔２７に挿入するので、プローブの滑りを規制し
て、導通検査の作業性を良好にすることができる。

【００２７】また、図７（ｂ）に示す例では、カバー１
９の表面に凹部３１を形成し、この凹部３１の底面に透
孔２７を穿設し、この透孔２７を貫通させた検査用接触
子２５を、凹部３１内に配置させてある。この例によれ
ば、上述同様に、検査用接触子２５がカバー１９の表面
から突出しないので、検査用接触子２５と他部品との接
触を防止することができるとともに、凹部３１内に検査
用接触子２５を配置させたので、カバー表面から突出さ
せずに検査用接触子２５の露出面積を大きくすることが
でき、プローブの接触を容易にすることができる。

【００２８】なお、上述の実施形態では、ブロック本体
の内部に収納される被導通検査部品がヒューズである場
合を例に説明したが、本発明に係るジャンクションブロ
ックの導通チェック構造は、被導通検査部品がその他の
リレー類等であっても、上述同様の効果を奏するもので
ある。

【００２９】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明に係
る請求項１の導通チェック構造によれば、端子に検査用
接触子を設け、カバーに透孔を穿設し、カバーを取り付
けた状態で、検査用接触子がカバーの表面に露出するよ
うにしたので、カバーを脱着することなく、ブロック本
体の内部に収納された被導通検査部品の導通を容易に検
査することができる。この結果、カバーを着脱する手間
を省き、通電検査の作業時間を短縮することができる。

【００３０】請求項２の導通チェック構造によれば、検
査用接触子をカバーの表面から突出させたので、テスタ
ー等のプローブを用いての接触を容易にすることができ
る。

【００３１】請求項３の導通チェック構造によれば、検
査用接触子がカバーの表面から突出しないので、検査用
接触子と他部品との接触を防止することができ、且つプ
ローブを透孔に挿入するので、導通検査の作業性を良好
にできる。

【００３２】請求項４の導通チェック構造によれば、凹
部内に検査用接触子を配置させたので、検査用接触子の
露出面積を大きくすることができ、カバー表面から検査
用接触子を突出させずに、検査用接触子への接触を容易
にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る導通チェック構造を備えたジャン
クションブロックのカバーを外した状態の斜視図であ
る。

【図２】カバーを装着したジャンクションブロックの斜
視図である。

【図３】図１の端子の拡大斜視図である。

【図４】図２のＡ−Ａ矢視図である。

【図５】図１のカバーの平面図である。

【図６】図１のジャンクションブロックの回路図であ
る。

【図７】本発明に係る導通チェック構造の変形例を示す
要部拡大図である。

【図８】従来のジャンクションブロックの斜視図であ
る。

【符号の説明】

１１ ブロック本体 １３ ヒューズ（被導通検査部品） １９ カバー ２１ 音叉端子（端子） ２５ 検査用接触子 ２７ 透孔 ３１ 凹部

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 内部に被導通検査部品が収納されるジャ
   ンクションブロックの導通チェック構造であって、 前記被導通検査部品を露出状態で収納するブロック本体
   と、該ブロック本体に着脱自在に取り付けられ露出状態
   の前記被導通検査部品を覆うカバーと、前記ブロック本
   体に設けられ前記被導通検査部品の導通電極に接続され
   る一対の端子と、該一対の端子のそれぞれに設けられ前
   記カバーに向けて突出する検査用接触子と、前記カバー
   に穿設され該検査用接触子を挿入する透孔とを具備し、 前記ブロック本体に前記カバーを装着して前記検査用接
   触子を前記透孔に挿入したことを特徴とするジャンクシ
   ョンブロックの導通チェック構造。
2. 【請求項２】 前記検査用接触子が、前記透孔を貫通し
   て前記カバーから突出することを特徴とする請求項１記
   載のジャンクションブロックの導通チェック構造。
3. 【請求項３】 前記検査用接触子が、前記透孔内に収容
   されることを特徴とする請求項１記載のジャンクション
   ブロックの導通チェック構造。
4. 【請求項４】 前記カバーの表面に凹部を形成し、該凹
   部の底面に前記透孔を穿設し、該透孔を貫通させた前記
   検査用接触子を凹部内に配置したことを特徴とする請求
   項１記載のジャンクションブロックの導通チェック構
   造。