JPH11195580A - 半導体露光装置及び露光方法 - Google Patents

半導体露光装置及び露光方法

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JPH11195580A
JPH11195580A JP9366297A JP36629797A JPH11195580A JP H11195580 A JPH11195580 A JP H11195580A JP 9366297 A JP9366297 A JP 9366297A JP 36629797 A JP36629797 A JP 36629797A JP H11195580 A JPH11195580 A JP H11195580A
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JP
Japan
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spatial filter
focal point
mask
mirror
exposure
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JP9366297A
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English (en)
Inventor
Hideshi Nakano
英志 仲野
Jiro Mukai
二郎 向井
Hiroharu Yamamoto
弘治 山元
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Kawaguchi Kogaku Sangyo KK
Ball Semiconductor Inc
Original Assignee
Kawaguchi Kogaku Sangyo KK
Ball Semiconductor Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 球状半導体に最適な光リソグラフィーを行う
ことができる半導体露光装置及び露光方法の提供と共
に、同装置等の技術的思想を平面状の露光対象物に応用
した半導体露光装置及び露光方法を提供すること。 【解決手段】 第1の半導体露光装置は、光源部1とコ
リメータレンズ2とこのコリメータレンズ2の焦点に配
置された空間フィルターとしてのピンホール3とこのピ
ンホール3を第1焦点に一致させて配置するとともに、
球状の露光対象物としての球状半導体4及びその同心円
状外側に球状マスク5をそれぞれ第2焦点に配置した回
転楕円ミラー6から構成されている。前記光源部1から
出射される平行光束は、コリメータレンズ2のレンズ焦
点にビームスポットを形成し、ビームスポットはピンホ
ール3によってきれいな光束に整形される。整形された
光束は、第1焦点から回転楕円ミラーの反射面60で反
射して第2焦点に集光し、球状マスク5の回路パターン
が、球状半導体4に焼き付けられる。よって、球状半導
体4に対する一括露光を可能にする半導体露光装置を提
供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路のパター
ン形成の一方式である光リソグラフィーに用いられ且つ
露光技術の分野で有用な半導体露光装置及び露光方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】現在、光リソグラフィーの中心になって
いる半導体露光装置は、縮小投影型露光装置(ステッパ
ー)であり、その露光光学系は、投影光学系とそれに対
応する照明光学系で構成されている。そして投影光学系
では、物体(レチクル)を照明した光線束を投影レンズ
で結像面に位置するウェハーに照射して、回路パターン
をウェハーに焼付けている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ステッパーの
投影光学系は、平面状のウェハーに光を効率よく供給す
ることをその開発目的としており、現在のステッパーを
球状半導体の露光装置にそのまま流用できなかった。ま
た、パターンの微細加工の進展と共に、使用する光源の
短波長化が進むことにより、投影レンズ系を必須とする
投影光学系も問題点が顕在化してきている。それは、第
1に、エキシマレーザー等の短波長域で使用できるレン
ズ材料が、石英に限定されており、この単一硝材では色
収差の補正が不可能であること、第2に、光学系の大型
化とともに、レンズ特有の「画角」や「視野」等の問題
を解決する必要があること、第3に、レンズ材料の石英
が高価であること等である。
【0004】そこで、上記課題を解決するため、本願発
明は、球状半導体に最適な光リソグラフィーを行うこと
ができる半導体露光装置及び露光方法を提供すると共
に、同装置等の技術的思想を平面状の露光対象物に応用
した半導体露光装置及び露光方法を提供せんとする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1に記載の発明は、平行光線束を生成する光
源部と、該光源部からの平行光線束を集束するコリメー
タレンズと、該コリメータレンズの焦点に配置された空
間フィルターと、該空間フィルターを第1焦点に一致さ
せて配置するとともに、第2焦点に球状の露光対象物を
配置する回転楕円ミラーと、前記露光対象物と同心円状
に配置されたマスクからなることを特徴とする半導体露
光装置である。なお、ここでコリメータレンズは、ミラ
ーを含む概念である。また、マスクは球状露光対象物に
対する露光範囲に応じて構成され、例えば、略全面に露
光する場合には球状に構成され、露光範囲が狭い場合に
は半球状に構成される。
【0006】前記光源部から出射される平行光線束は、
コリメータレンズによって集束されて、レンズ焦点にビ
ームスポットを形成する。前記焦点には、空間フィルタ
ーが配置されており、ビームスポットは空間フィルター
によってきれいな光線束に整形される。前記空間フィル
ターは回転楕円ミラーの第1焦点に一致して配置されて
おり、恰も第1焦点を点光源とした光線束が、回転楕円
ミラーの反射面で反射して第2焦点に集光する。この第
2焦点には、球状の露光対象物と球状マスク等が、同心
円状に配置されているので、マスクの転写パターンが球
状の露光対象物に焼き付けられる。よって、球状の露光
対象物に対する一括露光を可能にする半導体露光装置
(以下、第1の半導体露光装置)を提供することができ
る。
【0007】上記課題を解決するため、請求項2に記載
の発明は第1の半導体露光装置において、前記光源部と
前記コリメータレンズ間にリングビームのリング径を可
変可能なリングビーム生成手段を配置したことを特徴と
する半導体露光装置である。
【0008】前記リングビーム生成手段によりリングビ
ームのリング径を最大径から徐々に最小径まで縮小する
と、前記コリメータレンズに入射するリングビームのリ
ング径も徐々に縮小する。そして、前記コリメータレン
ズにより集束され、空間フィルターにより整形された
後、前記回転楕円ミラーの第1焦点から放射されるリン
グビームは、その出射角(拡がり角)が、連続的に小さ
くなる。即ちリングビームは、その拡がり角が鋭角的に
なるに従い、第1焦点から第2焦点側に回転楕円ミラー
の反射面を連続的に走査するように移動し、その反射リ
ングビームと光軸とのなす角が連続的に大きくなり、第
2焦点に集光する。よって第2焦点の球状マスクの一極
から他極にかけて、その表面を輪切り状に連続的に走査
して照明するので、球状露光対象物に対する走査露光を
可能にする半導体露光装置(以下、第2の半導体露光装
置)を提供することができる。特に、この第2の露光装
置では、第1の露光装置において、回転楕円ミラーの反
射面で入射角が相違することによる反射率の相違に起因
する照度のむらが問題となっても、走査タイミングに合
わせて光源部の光量の強度を調整できるので、球状の露
光対象物全表面に対し、均一に照明することができる。
【0009】上記課題を解決するため、請求項3に記載
の発明は、平行光線束を生成する光源部と、該光源部か
らの平行光線束を集束するコリメータレンズと、該コリ
メータレンズの焦点に配置された空間フィルターと、該
空間フィルターを第1焦点に一致させて配置するととも
に、第2焦点に球状の露光対象物を配置する回転楕円ミ
ラーと、前記光源部と前記コリメータレンズ間又は前記
コリメータレンズと前記空間フィルター間に配置された
マスクからなることを特徴とする半導体露光装置であ
る。
【0010】これらの半導体露光装置の内、マスクが光
源部とコリメータレンズ間に配置された装置を第3の半
導体露光装置とし、マスクがコリメータレンズと空間フ
ィルター間に配置された装置を第4の半導体露光装置と
すると、これらの半導体露光装置が、上記第1の半導体
露光装置と異なる点は、マスクの位置である。即ち、第
3、第4半導体露光装置は、空間フィルターを中心にし
て、マスクと球状の露光対象物が対称的に配置されてお
り、マスクの転写パターンを球状の露光対象物に射影で
きる構成(Projection構成)となっている。具体的に
は、マスクの転写パターン情報(マスクパターン情報)
を含んだ光線束が、空間フィルターによってきれいな光
線束に整形された後、回転楕円ミラーの反射面で反射し
て第2焦点に集光して、球状の露光対象物を一様に照射
し、直接、マスクの転写パターンを焼き付ける。よっ
て、球状の露光対象物に対し、色収差の問題を生じるこ
とがない、最適な光リソグラフィーを可能にする半導体
露光装置を提供できる。またマスクの転写パターンを球
状露光対象物に直接、射影できるので、分解能を高める
ことができる。さらに、回転楕円ミラーの外側にマスク
を配置しているので、マスクのアライメントが向上し且
つその交換も極めて容易となる。
【0011】上記課題を解決するため、請求項4に記載
の発明は、第3,第4の各半導体露光装置において、前
記マスクを前記光源部と前記コリメータレンズ間に配置
した場合には、前記光源部と前記マスク間にリングビー
ムのリング径を可変可能なリングビーム生成手段を配置
し(第5の半導体露光装置)、一方、前記マスクを前記
コリメータレンズと前記空間フィルター間に配置した場
合には、前記光源部と前記コリメータレンズ間に前記リ
ングビーム生成手段を配置し(第6の半導体露光装置)
たことを特徴とする。これらの第5の半導体露光装置及
び第6の半導体露光装置も、上記第2の半導体露光装置
と同様に、前記リングビーム生成手段を介在させること
により、走査露光を可能にするもので、回転楕円ミラー
の反射面で入射角が相違することによる反射率の相違に
起因する照度のむらが問題となっても、走査タイミング
に合わせて、光源部の光量の強度を調整できるので、球
状の露光対象物に対し均一に照明することができる。そ
の他の構成は、第3,第4の各半導体露光装置と同様で
あるので、同様な作用、効果を奏する。
【0012】上記課題を解決するため、請求項5に記載
の発明は、平行光線束を生成する光源部と、該光源部か
らの平行光線束を集束する第1コリメータレンズと、該
第1コリメータレンズの焦点に配置された第1空間フィ
ルターと、該第1空間フィルターを第1焦点に一致させ
て配置するとともに、第2焦点に第2空間フィルターを
配置する回転楕円ミラーと、該回転楕円ミラーの後に配
置された第2コリメータレンズと、該第2コリメータレ
ンズの後に配置された平面状の露光対象物と、前記光源
部と前記第1コリメータレンズ間又は前記第1コリメー
タレンズと前記第1空間フィルター間に配置されたマス
クからなることを特徴とする半導体露光装置である。
【0013】これらの半導体露光装置の内、マスクが光
源部と第1コリメータレンズ間に配置された装置を第7
の半導体露光装置とし、マスクが第1コリメータレンズ
と第1空間フィルター間に配置された装置を第8の半導
体露光装置とすると、これらの半導体露光装置は平面状
の露光対象物に対するProjection構成となっている。即
ち、第7,第8の半導体露光装置によれば、転写パター
ン情報を乗せた光線束が第1の空間フィルターで整形さ
れて、回転楕円ミラーの反射面で反射され、第2焦点に
集光する。そしてこの第2焦点に配置された第2の空間
フィルターにより、ミラーの反射面の傷や欠陥により散
乱光を含んだ光線束が、再びきれいなビームに整形さ
れ、転写パターン情報を乗せた光線束が、第2のコリメ
ータレンズにより平行光線束に変換されて、平面状の露
光対象物に射影される。上記構成では、結像レンズを構
成要素としていないため、光源の短波長化が進んでもレ
ンズによる色収差が問題となることはなく、またレンズ
特有の画角や視野等の問題を無視できる。さらに、平面
状の露光対象物に対し、光線束を垂直に効率よく照射で
きる。
【0014】上記課題を解決するため、請求項6に記載
の発明は、前記マスクを前記光源部と前記第1コリメー
タレンズ間に配置した場合には、前記光源部と前記マス
ク間にリングビームのリング径を可変可能なリングビー
ム生成手段を配置し(以下、第9の半導体露光装置)、
一方、前記マスクを前記第1コリメータレンズと前記第
1空間フィルター間に配置した場合には、前記光源部と
前記第1コリメータレンズ間に前記リングビーム生成手
段を配置したことを特徴とする半導体露光装置(以下、
第10の半導体露光装置)である。これらの第9の半導
体露光装置及び第10の半導体露光装置は、平面状の露
光対象物に対するProjection構成において、前記リング
ビーム生成手段を介在させることにより、走査露光を可
能にするもので、回転楕円ミラーの反射面で入射角が相
違することによる反射率の相違に起因する照度のむらが
問題となっても、走査タイミングに合わせて、光源部の
光量の強度を調整できるので、平面状の露光対象物に対
し、均一に照明することができる。その他の構成は、第
7,第8の各半導体露光装置と同様であるので、同様な
作用、効果を奏する。
【0015】上記第1乃至第6の各半導体露光装置にお
いて、請求項7に記載の発明は、回転楕円ミラーの第2
焦点側の頂点に、露光対象物を出し入れする開口部を設
けたことを特徴とする半導体露光装置である。このよう
にすれば、球状露光対象物の位置決め、露光のオートメ
ーション化のみらなず、その後の集積回路のアセンブリ
ーまで、球状露光対象物の1個単位の処理が可能にな
る。
【0016】上記課題を解決するため、請求項8に記載
の発明は、回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露光対象
物を配置すると共に、その露光対象物と同心円状にマス
クを配置した後、集束された光線束を前記回転楕円ミラ
ーの第1焦点に配置された空間フィルターにより整形
し、その空間フィルターから発散される光線束を前記回
転楕円ミラーの反射面で折曲げて、前記マスクに一様に
照射することを特徴とする露光方法である。この露光方
法によれば、球状の露光対象物に対する一括露光を可能
にする。
【0017】上記課題を解決するため、請求項9に記載
の発明は、回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露光対象
物を配置すると共に、その露光対象物と同心円状にマス
クを配置した後、集束されたリングビームを前記回転楕
円ミラーの第1焦点に配置された空間フィルターにより
整形し、その空間フィルターから放射されるリングビー
ムを、前記回転楕円ミラーの反射面で折曲げて、前記マ
スクに照射し、さらに前記リングビームのリング径を変
化させ、その変化に応じて前記空間フィルターから放射
されるリングビームを前記回転楕円ミラーの反射面で走
査させると共に折曲げて、前記マスクを走査して照射す
ることを特徴とする露光方法である。この露光方法によ
れば、第2焦点に配置されたマスクが球状の場合、その
一極から他極にかけて、その表面を輪切り状に連続的に
走査して照明するので、球状露光対象物に対する走査露
光を可能にする。
【0018】上記課題を解決するため、請求項10に記
載の発明は、回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露光対
象物を配置した後、集束され且つマスクパターン情報を
含んだ光線束を、前記回転楕円ミラーの第1焦点に配置
された空間フィルターにより整形し、その空間フィルタ
ーから発散され且つマスクパターン情報を含んだ光線束
を前記回転楕円ミラーの反射面で折曲げて、前記露光対
象物に一様に照射することを特徴とする露光方法であ
る。この露光方法によれば、球状の露光対象物に対し、
色収差の問題を生じることがない、最適な光リソグラフ
ィーを可能にし、またマスクの転写パターンを球状露光
対象物に直接、射影できるので、分解能を高めることが
できる。
【0019】上記課題を解決するため、請求項11に記
載の発明は回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露光対象
物を配置した後、集束され且つマスクパターン情報を含
んだリングビームを前記回転楕円ミラーの第1焦点に配
置された空間フィルターにより整形し、その空間フィル
ターから放射され且つマスクパターン情報を含んだリン
グビームを前記回転楕円ミラーの反射面で折曲げて前記
露光対象物に照射し、さらに、前記リングビームのリン
グ径を変化させて、その変化に応じて前記空間フィルタ
ーから放射され且つマスクパターン情報を含んだリング
ビームを前記回転楕円ミラーの反射面で走査させると共
に折曲げて、前記露光対象物を走査して照射することを
特徴とする露光方法である。この露光方法によれば走査
露光が可能となり、回転楕円ミラーの反射面で入射角が
相違することによる反射率の相違に起因する照度のむら
が問題となっても、走査タイミングに合わせて、リング
ビームの光量の強度を調整して、球状の露光対象物に対
し均一に照明することができる。
【0020】上記課題を解決するため、請求項12に記
載の発明は、回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且つ同
ミラーの光軸上に平面状の露光対象物を配置した後、集
束され且つマスクパターン情報を含んだ光線束を前記回
転楕円ミラーの第1焦点に配置された第1空間フィルタ
ーにより整形し、その第1空間フィルターから発散され
且つマスクパターン情報を含んだ光線束を、前記回転楕
円ミラーの反射面で折曲げて同ミラーの第2焦点に配置
された第2空間フィルターにより再び整形し、さらに、
その第2空間フィルターから発散され且つマスクパター
ン情報を含んだ光線束をコメリートして、前記露光対象
物に一様に照射することを特徴とする露光方法である。
この露光方法によれば、結像レンズを構成要素としてい
ないため、光源の短波長化が進んでもレンズによる色収
差が問題となることはなく、またレンズ特有の画角や視
野等の問題を無視できる。さらに、平面状の露光対象物
に対し、光線束を垂直に効率よく照射できる。
【0021】上記課題を解決するため、請求項13に記
載の発明は、回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且つ同
ミラーの光軸上に平面状の露光対象物を配置した後、集
束され且つマスクパターン情報を含んだリングビームを
前記回転楕円ミラーの第1焦点に配置された第1空間フ
ィルターにより整形し、その第1空間フィルターから放
射され且つマスクパターン情報を含んだリングビームを
前記回転楕円ミラーの反射面で折曲げて、同ミラーの第
2焦点に配置された第2空間フィルターにより再び整形
し、その第2空間フィルターから放射され且つマスクパ
ターン情報を含んだリングビームをコメリートして、前
記露光対象物に照射し、さらに、前記リングビームのリ
ング径を変化させ、その変化に応じて前記第2空間フィ
ルターから放射され且つコリメートされるマスクパター
ン情報を含んだリングビームにより、前記露光対象物を
走査して照射することを特徴とする露光方法である。こ
の露光方法によれば、走査露光が可能となり回転楕円ミ
ラーの反射面で入射角が相違することによる反射率の相
違に起因する照度のむらが問題となっても、走査タイミ
ングに合わせて、リングビームの光量の強度を調整でき
るので、平面状の露光対象物に対し、均一に照明するこ
とができる。
【0022】その他の露光方法として、回転楕円ミラー
の第2焦点の後方で且つ同ミラーの光軸上にマスク及び
平面状の露光対象物を配置した後、集束された光線束を
前記回転楕円ミラーの第1焦点に配置された第1空間フ
ィルターにより整形し、その第1空間フィルターから発
散される光線束を前記回転楕円ミラーの反射面で折曲げ
て、同ミラーの第2焦点に配置された第2空間フィルタ
ーにより再び整形し、さらに、その第2空間フィルター
から発散された光線束をコメリートして、前記マスクに
一様に照射するようにしてもよい(請求項14に記載の
発明)。また、回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且つ
同ミラーの光軸上にマスク及び平面状の露光対象物を配
置した後、集束されたリングビームを前記回転楕円ミラ
ーの第1焦点に配置された第1空間フィルターにより整
形し、その第1空間フィルターから放射されるリングビ
ームを前記回転楕円ミラーの反射面で折曲げて、同ミラ
ーの第2焦点に配置された第2空間フィルターにより再
び整形し、その第2空間フィルターから放射されるリン
グビームをコメリートして、前記マスクに照射し、さら
に前記リングビームのリング径を変化させて、その変化
に応じて前記第2空間フィルターから放射され且つコリ
メートされるリングビームにより、前記マスクを走査し
て照射するようにしてもよい(請求項15に記載の発
明)。これらの露光方法によれば、平面状の露光対象物
に対し、光線束を垂直に効率よく照射でき、特に後者の
露光方法によれば、走査露光が可能となり、回転楕円ミ
ラーの反射面で入射角が相違することによる反射率の相
違に起因する照度のむらが問題となっても、走査タイミ
ングに合わせて、リングビームの光量の強度を調整でき
るので、平面状の露光対象物に対し、均一に照明するこ
とができる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る第1乃至第
10の各半導体露光装置及び各装置による露光方法の実
施形態を、図面に基づいて説明する。図1は第1の半導
体露光装置の実施形態を示す構成例図、図2及び図3は
第2の半導体露光装置の実施形態を示す構成例図、図4
は同半導体露光装置の作用説明図、図5は第3の半導体
露光装置の実施形態を示す構成例図、図6は第4の半導
体露光装置の実施形態を示す構成例図、図7は第5の半
導体露光装置の実施形態を示す構成例図、図8は第6の
半導体露光装置の実施形態を示す構成例図、図9は第7
の半導体露光装置の実施形態を示す構成例図、図10は
第8の半導体露光装置の実施形態を示す構成例図、図1
1は第9の半導体露光装置の実施形態を示す構成例図、
図12は第10の半導体露光装置の実施形態を示す構成
例図である。また図13,図14は、その他の半導体露
光装置の構成例図である。なお、各図において、同一符
号の構成例は、同一内容の構成を示す。
【0024】第1の半導体露光装置は、図1に示したよ
うに、光源部1と、コリメータレンズ2と、このコリメ
ータレンズ2の焦点に配置された空間フィルターとして
のピンホール3と、このピンホール3を第1焦点に一致
させて配置するとともに、球状の露光対象物としての球
状半導体4及びその同心円状外側に球状マスク5をそれ
ぞれ第2焦点に配置した回転楕円ミラー6から構成され
ている。
【0025】前記光源部1から出射される平行光線束
は、コリメータレンズ2によって集束されて、レンズ焦
点にビームスポットを形成する。前記焦点には、ピンホ
ール3が配置されており、ビームスポットはピンホール
3によってきれいな光線束に整形される。前記ピンホー
ル3は、回転楕円ミラー6の第1焦点F1に一致して配
置されており、整形された光線束は、回転楕円ミラーの
反射面60で反射して第2焦点に集光する。この第2焦
点には、外側に球状マスク5が、その内側に球状半導体
4がそれぞれ同心円状に配置されているので、球状マス
ク5の回路パターンが、球状半導体4に焼き付けられ
る。よって、球状半導体4に対する一括露光を可能にす
る半導体露光装置を提供することができる。
【0026】前記光源部1は、半導体レーザー、固体レ
ーザー、気体レーザー、色素レーザー、エキシマーレー
ザーもしくは自由電子レーザーなどの各種レーザー光
源、またはLED(発光ダイオード)やその他の単色光
などの光源と、その光源からのビームを平行光線束に変
換する平行光線束生成手段等からなる。なお、図示省略
したが、光源には、各種レーザー等に対応した駆動装置
等が接続されている。
【0027】前記コリメータレンズ2の焦点距離を調整
することにより、そのレンズ2により屈折された光線束
と光軸Aとでなす入射角θの大きさを調整し、ひいては
前記ピンホール3からの拡がり角や球状マスク5の照射
面積を調整できる。なお、前記コリメータレンズ2の代
わりに、ミラー系を用いて、前記光源部1により生成さ
れた平行光線束を集束させてもよい。
【0028】前記ピンホール3の径は、回転楕円ミラー
6の第1焦点F1を点光源に近似させるため、可及的に
微小であることが必要である。即ち、球状半導体4の表
面を照射する光線束の分解能を高めるためには、前記球
状マスク5への入射角が垂直であることが望ましい。球
状マスク5上で、90°±1′に入射角誤差を押さえる
ためには、前記ピンホール3を1.5μmの径にし、厚
さは1μmに抑えることが好ましい。またピンホール3
の形は、円に限定されるものではなく、クロス形、菱形
でもよい。このようなピンホール3は、回転楕円ミラー
6の第1焦点F1側の頂点の開口部を塞ぐように配置さ
れている。
【0029】前記回転楕円ミラー6は、その光軸A−A
を中心に回転した楕円反射面を備えたミラーであり、第
1焦点F1の位置に前記ピンホール3を配置しており、
恰も整形された光線束の点光源を第1焦点に配置するよ
うになっている。
【0030】一方、前記回転楕円ミラー6の第2焦点F
2には、例えば、直径1mmの単結晶シリコンの球状半
導体4に、直径約10mmの球状マスク5を被せて同心
円状に配置する。よって第1焦点の第2次光源から、反
射面60で反射して第2焦点F2に集光する光線束は、
球状マスク5の表面に対し、垂直方向から一様に照射す
るので、球状半導体4に対する一括露光を可能にする。
【0031】前記回転楕円ミラー6の第2焦点側の頂点
には、球状半導体4や球状マスク5を出し入れする開口
部61を設ける。これは露光後の球状半導体4等を取出
すと共に、次に露光する球状半導体4等をセットできる
ようにするためである。なお、回転楕円ミラー6の反射
面60は、前記ピンホール3からの所定波長の光線束の
入射角が異なっても、反射率が略同一となるように加工
されている。これは、前記球状マスク5、ひいては球状
半導体4の表面を、むらなく、照度の均一を保ちつつ、
一括露光できるようにするためである。
【0032】以上の第1の半導体露光装置による露光方
法は、以下の手順による。まず、第1に、前記球状半導
体4の電極想定領域を利用して、その半導体4を所定の
手段、例えば真空吸着手段により、回転楕円ミラー6の
第2焦点F2に配置すると共に、分割した球状マスク5
を前記半導体4に被せてセットする。第2に、光源部1
をオンすると、集束された光線束が前記ピンホール3に
より整形され、そのピンホール3から発散される光線束
が、前記回転楕円ミラー6の反射面60で折曲げられ、
前記マスク5を一様に照射する。露光が終了すれば前記
開口部61から露光後の球状半導体4を取出すと共に、
次に露光する球状半導体4をセットする。以上の露光方
法においても第1の半導体露光装置と同様な作用効果を
奏する。
【0033】次に、図2乃至図4に基づいて、第2の半
導体露光装置の構成例を説明する。この第2半導体露光
装置が、上記第1半導体露光装置と異なる点は、前記光
源部1と前記コリメータレンズ2間にリングビームのリ
ング径を可変可能なリングビーム生成手段7を配置した
点である。その他の構成は、前記第1の半導体露光装置
と同様であるので、同一符号を付して、詳細な説明を省
略する。
【0034】前記リングビーム生成手段7は、前記光源
部1からの平行光線束を、光軸Aに対して垂直な仮想平
面への照射形状が円環状のリングビームに変換すると共
に、そのリングビームのリング径を可変調整できるよう
にしたもので、例えば、図3(イ)に示すように、光フ
ァイバー70とその光軸Aに沿って移動可能な円錐プリ
ズム71からなっている。前記光ファイバー70は入射
端面70aに傾斜角θfが付けられており、光源部1方
向から平行光線束が入射するとその光線束は所定の入射
角θinで入射し、入射端面70aにより屈折され、光フ
ァイバー20のコア部とクラッド部の境界面においてス
キュー反射を繰り返した後に、出射端面70bより、拡
がり角(出射角)θoutを持ったリングビームとして射
出する。
【0035】前記円錐プリズム71は、頂角αを備えた
面を第2面71bにして前記ファイバー70の光軸Aに
一致して配置される。該頂角αは、第1面71aに入射
したリングビームが、第2面71bの屈折点において光
軸Aと略平行に出射するように成形されている。そして
円錐プリズム71をファイバー70の出射端面70bか
ら遠ざけるように移動させると、光軸Aから高い位置の
第1面71aにリングビームが入射するので、第2面7
1bから出射するリングビームのリング径を大きくする
ことができる。逆に、円錐プリズム71をファイバー7
0の出射端面70bに近づけるように移動させると、光
軸Aから低い位置の第1面71aにリングビームが入射
するので、第2面71bから出射するリングビームのリ
ング径を小さくすることができる。このようなリング径
の縮小拡大に応じて、前記コリメータレンズ2への入射
高が調整され、ひいては前記ピンホール3への入射角θ
が調整される。
【0036】この第2の半導体露光装置や後述する第
5,第6,第9,第10の各半導体露光装置、或いは図
14の装置のリングビーム生成手段は、上記構成に限定
されるものではなく、例えば、上記円錐プリズム71を
固定しておいて、光ファイバー70を光軸Aに沿って移
動させるようにしてもよい。また、凸レンズとその焦点
に位置する光源とリングスリットから構成し、光源から
の光線を凸レンズで平行光線束に変換させて、さらにス
リット径の異なる多数のリングスリットにより、リング
ビームを生成するようにしてもよい。また、光軸Aを中
心にして、前記光ファイバー70を回転させることによ
り、平行光線束に対する入射角を連続的に変化させるこ
とによって、拡がり角を連続的に変化させ、リングビー
ム生成手段としてもよい。
【0037】なお前記ファイバー70に代えて、石英製
の円柱状ロッドを用いてもよい。また、前記光ファイバ
ー70に代えて、入射端面が、光軸Aに対して略垂直に
形成された光ファイバーを用い、この入射端面に対し
て、平行光線束を斜めに入射させることにより、前記フ
ァイバー70と同様な作用効果を奏する。さらに、前記
光ファイバー70に代えて、図3(ロ)に示したような
入射端面を円錐状に成形した光ファイバーを用いてもよ
い。このファイバー70によれば、その入射端面に対
し、同時に360度の方向から平行光線束が入射するの
で、綺麗なリングビームを射出することができる。
【0038】上記構成の半導体露光装置による作用を説
明する。上述のように、前記円錐プリズム71を光ファ
イバー70から遠ざけた位置(以下、初期位置)ではリ
ングビームの径が大きくなり、そのリングビームは、前
記コリメータレンズ2により、そのリング幅とリング径
が集束されて焦点に集光され、前記ピンホール3にてビ
ームスポットを形成する。そして前記ピンホール3、即
ち回転楕円ミラー6の第1焦点F2から出射角θoutで
出射したリングビームL1は反射面60で反射し、図4
に示したように、球状マスク5の一極N近辺を照射す
る。その後、除除に前記円錐プレズム71を光ファイバ
ー70の出射端面70bに向けて移動させるに従い、出
射角θoutは鋭角化し、反射面60で反射したリングビ
ームは、一極N近辺から他極Sに連続的に移動し、球状
マスク5の表面を、略垂直に輪切りするように走査しつ
つ他極S近辺を照射する。
【0039】よってこの第2の半導体露光装置では、球
状半導体4に対する走査露光を可能にする半導体露光装
置を提供することができる。特に、第2の露光装置では
走査露光を可能にするので、回転楕円ミラーの反射面6
0の各反射点Q1,Q2・・・Qn(図2参照)で反射
する段階で、入射角が相違することによる反射率の相違
に起因する照度のむらが問題となっても、走査タイミン
グに合わせて光源部1の出力を調整し、照度の均一を図
ることができる。
【0040】その他、光源の後にホモナイザを配置し
て、照度ムラの原因の一つである光源の光線束の強さの
ムラを一様にすることもできる。また光ファイバー70
の前に偏光器、アテェニュエータを配置してもよいし、
また光ファイバー70の後に検光子を配置してもよい。
【0041】以上の第2の半導体露光装置による露光方
法は、以下の手順による。その第1手順は、上記第1の
半導体露光装置による露光方法と同一であるが、第2
に、前記円錐プリズム71の初期位置において、光源部
1をオンすると、前記リングビームが前記ピンホール3
により整形され、そのピンホール3から放射されるリン
グビームが前記回転楕円ミラー6の反射面60で折曲げ
られ、前記マスク5の一極N近辺を照射する。第3に、
前記円錐プリズム71をファイバー70に除除に近づけ
て、前記リングビームのリング径を変化させると、その
変化に応じて前記ピンホール3から放射されるリングビ
ームが前記反射面60上を走査すると共に折曲がり、前
記マスク5走査して照射する。露光が終了すれば前記開
口部61から露光後の球状半導体を取出すと共に、次に
露光する球状半導体を挿入し、前記プリズム71を逆移
動させればよい。以上の露光方法においても第2の半導
体露光装置と同様な作用効果を奏する。
【0042】次に、図5に基づいて、第3の半導体露光
装置の構成例を説明する。第3半導体露光装置と上記第
1半導体露光装置とが異なる点は、マスクの形と配置位
置であって、この第3半導体露光装置では、前記光源部
1と前記コリメータレンズ間に平面状のマスク5を配置
して、Projection構成としている。その他の構成は、前
記第1の半導体露光装置と同様であるので、同一符号を
伏して、詳細な説明を省略する。
【0043】この第3半導体露光装置では、前記光源部
1からの平行光線束が、前記マスク5を照射して透過す
ることにより、マスクパターン情報を含んだ光線束が、
コリメータレンズ2により集束され、ピンホール3によ
って、きれいな光線束(集束光線束)に整形された後、
回転楕円ミラー6の反射面60で反射して第2焦点F2
に集光し、球状半導体4の表面を一様に照射し、直接、
マスクパターンを焼き付ける。よって、球状半導体4に
対し、色収差の問題を生じることがない、最適な光リソ
グラフィーを可能にする半導体露光装置を提供できる。
また、マスクパターンを球状半導体4に直接、射影でき
るので、回折の影響を受けず、分解能を高めることがで
きる。さらに、回転楕円ミラー6の外側で且つ光軸Aを
共通にして平面状のマスク5を配置しているので、マス
ク5の作成やアライメントが向上すると共に、その交換
も極めて容易となる。
【0044】次に、図6に基づいて、第4半導体露光装
置の構成例を説明する。この第4半導体露光装置は、上
記第3半導体露光装置と同様に、Projection構成の構成
例を示したもので、両者の差異点は、半球状のマスク5
をコリメータタレンズ2とピンホール3間に配置してい
る点である。前記マスク5は、前記コリメータレンズ2
により集束されるビームに対応できるように、前記ピン
ホール3を覆う半球状に成形されている。
【0045】その他の構成は、前記第3の半導体露光装
置と同様であるので、この第4実施形態に係る半導体露
光装置においても、第3の半導体露光装置と同様の作用
効果を奏する。
【0046】以上の第3,第4の半導体露光装置による
露光方法は、以下の手順による。第1に、回転楕円ミラ
ー6の第2焦点F2に球状半導体4を配置した後に、第
3半導体露光装置による場合は、光源部1の後ろに光軸
を一致させてマスク5をセットし、第4半導体露光装置
による場合は、前記ピンホール3を覆うようにマスク5
をセットする。第2に、光源部1をオンすると、集束さ
れ且つマスクパターン情報を含んだ光線束が、前記ピン
ホール3により整形され、そのピンホール3から発散さ
れる前記光線束が、前記回転楕円ミラー6の反射面60
で折曲げられ、前記半導体4を一様に照射する。露光が
終了すれば前記開口部61から露光後の球状半導体4を
取出すと共に、次に露光する球状半導体4をセットす
る。以上の露光方法においても、第3,第4の半導体露
光装置と同様な作用効果を奏する。
【0047】次に、図7及び図8に基づいて、第5,第
6半導体露光装置の構成例を説明する。第5半導体露光
装置は、図5に示した上記第3半導体露光装置の光源部
1とマスク5間に前記リングビーム生成手段7を配置し
たものであり、一方、第6半導体露光装置は、図6に示
した上記第4半導体露光装置の光源部1とコリメータレ
ンズ2間に前記リングビーム生成手段7を配置したもの
である。それぞれ前記リングビーム生成手段7を配置し
たので、前記円錐プリズム71の初期位置では、マスク
パターン情報を含んだ光線束が、回転楕円ミラー6で反
射して、球状半導体4の一極N近辺を照射して、マスク
パターンを射影する。その後、除除に前記円錐プレズム
71を光ファイバー70の出射端面70bに向けて移動
させるに従い、マスクパターン情報を含んだ光線束が、
一極N近辺から他極Sに連続的に移動し、球状半導体4
の表面を、略垂直に輪切りするように走査しつつ、マス
クパターンを射影する。
【0048】よって、これらの第5,第6の半導体露光
装置では、Projection構成においても、球状半導体5に
対する走査露光を可能にする半導体露光装置を提供する
ことができる。特に、回転楕円ミラーの反射面60の各
反射点Q1,Q2・・・Qnで反射する段階で、入射角
が相違することによる反射率の相違に起因する照度のむ
らが問題となっても、走査タイミングに合わせて光源部
1の出力を調整し、照度の均一を図ることができる。ま
た、第5,第6の半導体露光装置は、Projection構成で
あるので、第3,第4の半導体露光装置と同様の作用効
果を奏する。
【0049】以上の第5,第6の半導体露光装置による
露光方法は、以下の手順による。その第1手順は、上記
第3,第4の半導体露光装置による露光方法と同一であ
るが、第2に光源部1をオンすると、集束され且つマス
クパターン情報を含んだリングビームが、前記ピンホー
ル3により整形され、そのピンホール3から放射される
前記リングビームが、前記回転楕円ミラー6の反射面6
0で折曲げられて前記半導体4を照射し、回路パターン
を焼き付ける。第3に、前記リングビーム生成手段7に
より、前記リングビームのリング径を変化させると、そ
の変化に応じて前記ピンホール3から放射される前記リ
ングビームが、前記回転楕円ミラー6の反射面60を走
査すると共に折曲げられ、前記半導体4を走査して照射
する。以上の露光方法においても、第5,第6の半導体
露光装置と同様な作用効果を奏する。
【0050】次に、図9に基づいて、第7の半導体露光
装置の構成例を説明する。この第7半導体露光装置が、
上記第1乃至第6半導体露光装置と異なる点は、露光対
象物として、通常のウエハーを想定した点であり、この
ウエハーに対し前記Projection構成を適用するものであ
る。具体的には、第7半導体露光装置は、回転楕円ミラ
ー6を中心に、マスク5、第1のコリメータレンズとし
てのレンズ2及び回転楕円ミラー6の第1焦点F1に配
置された第1の空間フィルターとしてのピンホール3
と、平面状の露光対象物としてのウエハー4、第2のコ
リメータレンズとしてのレンズ8及び回転楕円ミラー6
の第2焦点F2に配置された第2の空間フィルターとし
てのピンホール9を対称的に配置して構成している。
【0051】このような構成において、光源部1からの
平行光線束が、マスク5を透過すると、マスクパターン
情報を乗せた光線束が、レンズ2によって集束され、ピ
ンホール3で整形されて集束光線束となり、回転楕円ミ
ラー6の反射面60で反射し第2焦点に集光する。そし
てこの第2焦点に配置されたピンホール9により、ミラ
ー6の反射面60の傷や欠陥により散乱光を含んだ光線
束が、再びきれいなビームに整形され、レンズ8により
平行光線束に変換されて、マスクパターンがウエハー4
に射影される。
【0052】上記構成では、結像レンズを構成要素とし
ていないため、光源部1の短波長化が進んでも色収差の
問題を無視できる。またレンズ特有の画角や視野等の問
題を考慮する必要がなくなる。さらにマスクパターン情
報を乗せた光線束が、ウエハー4に対し、垂直に効率よ
く照射される。また回転楕円ミラー6の第2焦点F2に
第2の空間フィルター9を配置したので、ミラー6の反
射面60の傷や欠陥で散乱光を含んだ光線束あっても、
きれいなビームに整形される。なお、上記第7実施形態
において、第2の空間フィルターを省略してもよい。
【0053】次に、図10に基づいて、第8半導体露光
装置の構成例を説明する。この第8半導体露光装置は、
上記第7半導体露光装置と同様に、通常のウエハーに対
するProjection構成の構成例を示したもので、異なる点
は、半球状のマスクをレンズ2とピンホール3間に配置
している点である。
【0054】その他の構成は、前記第7の半導体露光装
置と同様であるので、この第8実施形態に係る半導体露
光装置においても、第7の半導体露光装置と同様の作用
効果を奏する。
【0055】以上の第7,第8の半導体露光装置による
露光方法は、以下の手順による。第1に、回転楕円ミラ
ー6の第2焦点F2の後方で且つ同ミラー6の光軸A−
A上にウエハー4を配置した後に、第7半導体露光装置
による場合は、光源部1の後ろに光軸を一致させてマス
ク5をセットし、第8半導体露光装置による場合は、前
記ピンホール3を覆うようにマスク5をセットする。第
2に、光源部1をオンすると、集束され且つマスクパタ
ーン情報を含んだ光線束が、前記ピンホール3により整
形され、そのピンホール3から発散される前記光線束
が、前記回転楕円ミラー6の反射面60で折曲げられ、
再び前記ピンホール9により整形され、コメリートされ
て、前記ウエハー4を一様に照射する。以上の露光方法
においても、第7,第8の半導体露光装置と同様な作用
効果を奏する。
【0056】次に、図11及び図12に基づいて、第
9,第10半導体露光装置の構成例を説明する。第9半
導体露光装置は上記第7半導体露光装置の光源部1とマ
スク5間に前記リングビーム生成手段7を配置したもの
であり、一方第10半導体露光装置は、上記第8半導体
露光装置の光源部1とレンズ2間に前記リングビーム生
成手段7を配置したものである。それぞれ前記リングビ
ーム生成手段7を配置したので、前記円錐プリズム71
の初期位置では、マスクパターン情報を含んだリングビ
ームが、回転楕円ミラー6の反射面60で反射して第2
焦点F2に集光し、この第2焦点F2に配置されたピン
ホール9により、ミラー6の反射面60の傷や欠陥によ
り散乱光を含んだリングビームが再びきれいなビームに
整形され、レンズ8により平行光線束に変換されて、マ
スクパターンが、ウエハー4の中心部に射影される。そ
の後、除除に前記円錐プレズム71を光ファイバー70
の出射端面70bに向けて移動させるに従い、マスクパ
ターン情報を含んだリングビームがマスク中心から周辺
方向に、リングの径を除除に拡大するように、連続的に
走査しつつ照射する。
【0057】よって、これらの第9,第10の半導体露
光装置では、Projection構成において、ウエハー5に対
する走査露光を可能にする半導体露光装置を提供するこ
とができる。特に、回転楕円ミラーの反射面60の各反
射点Q1,Q2・・・Qnで反射する段階で、入射角が
相違することによる反射率の相違に起因する光量のむら
が問題となっても、走査タイミングに合わせて光源部1
の出力を調整し、照度の均一を図ることができる。また
第9,第10の半導体露光装置は、Projection構成であ
るので、第7,第8の半導体露光装置と同様の作用効果
を奏する。
【0058】以上の第9,第10の半導体露光装置によ
る露光方法は、以下の手順による。その第1手順は、上
記第7,第8の半導体露光装置による露光方法と同一で
あるが、第2に光源部1をオンすると、前記リングビー
ムが、前記ピンホール3により整形され、前記反射面6
0で折曲げられて、さらにピンホール9により整形さ
れ、コリメートされて前記半導体4を照射し、回路パタ
ーンを焼き付ける。第3に前記リングビーム生成手段7
により、前記リングビームのリング径を変化させると、
その変化に応じて前記ピンホール9から放射される前記
リングビームが、前記ウエハー4を走査して照射する。
以上の露光方法においても、第9,第10の半導体露光
装置と同様な作用効果を奏する。
【0059】なお、図13に示したように、マスク5を
第2のコリメータレンズ8とウエハー4間に配置しても
よい。この場合、図14に示したように、光源部1と第
1のコリメータレンズ2間にリングビーム生成手段7を
配置してもよい。図13の半導体露光装置による露光方
法は、次の手順による。まず第1に、回転楕円ミラー6
の第2焦点F2の後方で且つ同ミラー6の光軸A−A上
にマスク5及びウエハー4を配置する。第2に、光源部
1をオンすると、集束された光線束が、前記ピンホール
3により整形され、前記回転楕円ミラー6の反射面60
で折曲げられ、同ミラー6の第2焦点F2に配置された
ピンホール9により再び整形される。そしてそのピンホ
ール9から発散された光線束がコメリートして、前記マ
スク5を一様に照射し、回路パターンを焼き付ける。一
方、図14の半導体露光装置による露光方法は、上記第
1手順の後、光源部1をオンすると、集束されたリング
ビームがピンホール3により整形された後、前記回転楕
円ミラー6の反射面60で折曲げられ、ピンホール9に
より再び整形されてコメリートされ、前記マスク5に照
射する。その後、リングビーム生成手段7により、前記
リングビームのリング径を変化させると、その変化に応
じて前記ピンホール9から放射されるリングビームによ
り、前記マスク5を走査して照射する。図13,図14
の半導体露光装置及び露光方法によれば、平面状の露光
対象物に対し、光線束を垂直に効率よく照射でき、特に
図14の半導体露光装置によれば、走査露光が可能とな
り、回転楕円ミラーの反射面で入射角が相違することに
よる反射率の相違に起因する照度のむらが問題となって
も、走査タイミングに合わせて、リングビームの光量の
強度を調整できるので、平面状の露光対象物に対し、均
一に照明することができる。
【0060】なお、上記各実施形態での半導体露光装置
及び露光方法では、フォトリソグラフィーによる露光装
置を例に採り説明しているが、荷電粒子ビームによる電
子線リソグラフィーまたはX線リソグラフィーに用いて
もよい。
【0061】
【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、球状露
光対象物に対する一括露光を可能にする半導体露光装置
を提供することができる。
【0062】請求項2に記載の発明によれば、第2焦点
のマスクの一極から他極にかけて、その表面を輪切り状
に連続的に走査して照明するので、球状露光対象物に対
する走査露光を可能にする半導体露光装置を提供するこ
とができる。特に、回転楕円ミラーの反射面で入射角が
相違することによる反射率の相違に起因する光量のむら
が問題となっても、走査タイミングに合わせて光源部の
光量の強度を調整できるので、球状マスク等の全面を均
一に照明することができる。
【0063】請求項3に記載の発明によれば、Projecti
on構成であるので、球状の露光対象物に対し色収差の問
題を生じることがない、最適な光リソグラフィーを可能
にする半導体露光装置を提供できる。またマスクの転写
パターンを球状露光対象物に直接、射影できるので、分
解能を高めることができる。さらに、回転楕円ミラーの
外側にマスクを配置しているので、マスクのアライメン
トが向上し且つその交換も極めて容易となる。
【0064】請求項4に記載の発明によれば、Projecti
on構成において走査露光を可能にするもので、回転楕円
ミラーの反射面で入射角が相違することによる反射率の
相違に起因する照度むらが問題となっても、走査タイミ
ングに合わせて、光源部の光量の強度を調整できるの
で、均一に照明することができる。その他の構成は、請
求項3に記載の半導体露光装置と同様であるので、同様
な作用、効果を奏する。
【0065】請求項5に記載の発明は、Projection構成
を平面状の露光対象物に応用したもので、結像レンズを
構成要素としていないため、光源の短波長化が進んでも
レンズによる色収差が問題となることはなく、またレン
ズ特有の画角や視野等の問題を無視できる。さらに、平
面状の露光対象物に対し、垂直に光線束を効率よく照射
できる。
【0066】請求項6に記載の発明は、リングビーム生
成手段を介在させることにより、Projection構成におい
ても走査露光を可能にするもので、回転楕円ミラーの反
射面で入射角が相違することによる反射率の相違に起因
する照度むらが問題となっても、走査タイミングに合わ
せて、光源部の光量の強度を調整できるので、平面状の
露光対象物に対し、均一に照明することができる。その
他の構成は、請求項5の半導体露光装置と同様であるの
で、同様な作用、効果を奏する。
【0067】請求項7に記載の発明によれば、球状半導
体の位置決め、露光のオートメーション化のみらなず、
その後の集積回路のアセンブリーまで、球状半導体の1
個単位の処理が可能になる。
【0068】請求項8に記載の発明によれば、球状の露
光対象物に対する一括露光を可能にする。
【0069】請求項9に記載の発明によれば、第2焦点
に配置されたマスクが球状の場合、その一極から他極に
かけて、その表面を輪切り状に連続的に走査して照明す
るので、球状露光対象物に対する走査露光を可能にす
る。特に、回転楕円ミラーの反射面で入射角が相違する
ことによる反射率の相違に起因する照度のむらが問題と
なっても、走査タイミングに合わせて、リングビームの
光量の強度を調整することにより、球状の露光対象物全
表面に対し、均一に照明することができる。
【0070】請求項10に記載の発明によれば、球状の
露光対象物に対し、色収差の問題を生じることがない、
最適な光リソグラフィーを可能にし、またマスクの転写
パターンを球状露光対象物に直接、射影できるので、分
解能を高めることができる。さらに回転楕円ミラーの外
側にマスクを配置することを前提としているので、マス
クのアライメントが向上し且つその交換も極めて容易と
なる。
【0071】請求項11に記載の発明によれば、走査露
光が可能となり、回転楕円ミラーの反射面で入射角が相
違することによる反射率の相違に起因する照度のむらが
問題となっても、走査タイミングに合わせて、リングビ
ームの光量の強度を調整して球状の露光対象物に対し均
一に照明することができる。
【0072】請求項12に記載の発明によれば、結像レ
ンズを構成要素としていないため、光源の短波長化が進
んでもレンズによる色収差が問題となることはなく、ま
たレンズ特有の画角や視野等の問題を無視できる。さら
に、平面状の露光対象物に対し光線束を垂直に効率よく
照射できる。
【0073】請求項13に記載の発明によれば、走査露
光が可能となり、回転楕円ミラーの反射面で入射角が相
違することによる反射率の相違に起因する照度のむらが
問題となっても、走査タイミングに合わせて、リングビ
ームの光量の強度を調整できるので、平面状の露光対象
物に対し、均一に照明することができる。
【0074】請求項14及び請求項15に記載の各発明
によれば、平面状の露光対象物に対し、光線束を垂直に
効率よく照射でき、特に請求項15の露光方法によれ
ば、走査露光が可能となり、回転楕円ミラーの反射面で
入射角が相違することによる反射率の相違に起因する照
度のむらが問題となっても、走査タイミングに合わせて
リングビームの光量の強度を調整できるので、平面状の
露光対象物に対し、均一に照明することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1の半導体露光装置の概略構成図、
【図2】 第2の半導体露光装置の概略構成図、
【図3】 (イ)は同半導体露光装置の概略構成図、
(ロ)は別例のファイバーの断面図、
【図4】 同半導体露光装置の作用を説明する説明図、
【図5】 第3の半導体露光装置の概略構成図、
【図6】 第4の半導体露光装置の概略構成図、
【図7】 第5の半導体露光装置の概略構成図、
【図8】 第6の半導体露光装置の概略構成図、
【図9】 第7の半導体露光装置の概略構成図、
【図10】 第8の半導体露光装置の概略構成図、
【図11】 第9の半導体露光装置の概略構成図、
【図12】 第10の半導体露光装置の概略構成図、
【図13】 別例の半導体露光装置の概略構成図、
【図14】 別例の半導体露光装置の概略構成図であ
る。
【符号の説明】
A−A 光軸 1 光源部 2 8 コリメータレンズ 3 9 空間フィルター 4 露光対象物 N 一極 S
他極 5 マスク 6 回転楕円ミラー 60 反射面 7 リングビーム生成手段 70 光ファイバー 71 円錐プリズム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 仲野 英志 千葉県流山市南流山4丁目1番地の7 ボ ールセミコンダクター株式会社内 (72)発明者 向井 二郎 神奈川県横浜市青葉区寺家町167番地 株 式会社川口光学産業内 (72)発明者 山元 弘治 神奈川県横浜市青葉区寺家町167番地 株 式会社川口光学産業内

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平行光線束を生成する光源部と、 該光源部からの平行光線束を集束するコリメータレンズ
    と、 該コリメータレンズの焦点に配置された空間フィルター
    と、 該空間フィルターを第1焦点に一致させて配置するとと
    もに、第2焦点に球状の露光対象物を配置する回転楕円
    ミラーと、 前記露光対象物と同心円状に配置したマスクからなるこ
    とを特徴とする半導体露光装置。
  2. 【請求項2】 前記光源部と前記コリメータレンズ間
    に、リングビームのリング径を可変可能なリングビーム
    生成手段を配置したことを特徴とする請求項1に記載の
    半導体露光装置。
  3. 【請求項3】 平行光線束を生成する光源部と、 該光源部からの平行光線束を集束するコリメータレンズ
    と、 該コリメータレンズの焦点に配置された空間フィルター
    と、 該空間フィルターを第1焦点に一致させて配置するとと
    もに、第2焦点に球状の露光対象物を配置する回転楕円
    ミラーと、 前記光源部と前記コリメータレンズ間又は前記コリメー
    タレンズと前記空間フィルター間に配置されたマスクか
    らなることを特徴とする半導体露光装置。
  4. 【請求項4】 前記マスクを前記光源部と前記コリメー
    タレンズ間に配置した場合には、前記光源部と前記マス
    ク間にリングビームのリング径を可変可能なリングビー
    ム生成手段を配置し、 一方、前記マスクを前記コリメータレンズと前記空間フ
    ィルター間に配置した場合には、前記光源部と前記コリ
    メータレンズ間に前記リングビーム生成手段を配置した
    ことを特徴とする請求項3に記載の半導体露光装置。
  5. 【請求項5】 平行光線束を生成する光源部と、 該光源部からの平行光線束を集束する第1コリメータレ
    ンズと、 該第1コリメータレンズの焦点に配置された第1空間フ
    ィルターと、 該第1空間フィルターを第1焦点に一致させて配置する
    とともに、第2焦点に第2空間フィルターを配置する回
    転楕円ミラーと、 該回転楕円ミラーの後に配置された第2コリメータレン
    ズと、 該第2コリメータレンズの後に配置された平面状の露光
    対象物と、 前記光源部と前記第1コリメータレンズ間又は前記第1
    コリメータレンズと前記第1空間フィルター間に配置さ
    れたマスクからなることを特徴とする半導体露光装置。
  6. 【請求項6】 前記マスクを前記光源部と前記第1コリ
    メータレンズ間に配置した場合には、前記光源部と前記
    マスク間にリングビームのリング径を可変可能なリング
    ビーム生成手段を配置し、 一方、前記マスクを前記第1コリメータレンズと前記第
    1空間フィルター間に配置した場合には、前記光源部と
    前記第1コリメータレンズ間に前記リングビーム生成手
    段を配置したことを特徴とする請求項5に記載の半導体
    露光装置。
  7. 【請求項7】 前記回転楕円ミラーの第2焦点側の頂点
    に、露光対象物を出し入れする開口部を設けたことを特
    徴とする請求項1乃至請求項4の何れかに記載の半導体
    露光装置。
  8. 【請求項8】 回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露光
    対象物を配置すると共に、その露光対象物と同心円状に
    マスクを配置した後、 集束された光線束を前記回転楕円ミラーの第1焦点に配
    置された空間フィルターにより整形し、その空間フィル
    ターから発散される光線束を前記回転楕円ミラーの反射
    面で折曲げて前記マスクに一様に照射することを特徴と
    する露光方法。
  9. 【請求項9】 回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露光
    対象物を配置すると共に、その露光対象物と同心円状に
    マスクを配置した後、 集束されたリングビームを前記回転楕円ミラーの第1焦
    点に配置された空間フィルターにより整形し、その空間
    フィルターから放射されるリングビームを、前記回転楕
    円ミラーの反射面で折曲げて、前記マスクに照射し、 さらに、前記リングビームのリング径を変化させ、その
    変化に応じて前記空間フィルターから放射されるリング
    ビームを前記回転楕円ミラーの反射面で走査させると共
    に折曲げて前記マスクを走査して照射することを特徴と
    する露光方法。
  10. 【請求項10】 回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露
    光対象物を配置した後、集束され且つマスクパターン情
    報を含んだ光線束を、前記回転楕円ミラーの第1焦点に
    配置された空間フィルターにより整形し、その空間フィ
    ルターから発散される前記光線束を前記回転楕円ミラー
    の反射面で折曲げて、前記露光対象物に一様に照射する
    ことを特徴とする露光方法。
  11. 【請求項11】 回転楕円ミラーの第2焦点に球状の露
    光対象物を配置した後、 集束され且つマスクパターン情報を含んだリングビーム
    を前記回転楕円ミラーの第1焦点に配置された空間フィ
    ルターにより整形し、その空間フィルターから放射され
    る前記リングビームを前記回転楕円ミラーの反射面で折
    曲げて前記露光対象物に照射し、 さらに、前記リングビームのリング径を変化させて、そ
    の変化に応じて前記空間フィルターから放射される前記
    リングビームを前記回転楕円ミラーの反射面で走査させ
    ると共に折曲げて、前記露光対象物を走査して照射する
    ことを特徴とする露光方法。
  12. 【請求項12】 回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且
    つ同ミラーの光軸上に平面状の露光対象物を配置した
    後、 集束され且つマスクパターン情報を含んだ光線束を前記
    回転楕円ミラーの第1焦点に配置された第1空間フィル
    ターにより整形し、その第1空間フィルターから発散さ
    れる前記光線束を、前記回転楕円ミラーの反射面で折曲
    げて、同ミラーの第2焦点に配置された第2空間フィル
    ターにより再び整形し、 さらにその第2空間フィルターから発散される前記光線
    束をコメリートして、前記露光対象物に一様に照射する
    ことを特徴とする露光方法。
  13. 【請求項13】 回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且
    つ同ミラーの光軸上に平面状の露光対象物を配置した
    後、 集束され且つマスクパターン情報を含んだリングビーム
    を前記回転楕円ミラーの第1焦点に配置された第1空間
    フィルターにより整形し、その第1空間フィルターから
    放射される前記リングビームを前記回転楕円ミラーの反
    射面で折曲げて同ミラーの第2焦点に配置された第2空
    間フィルターにより再び整形し、 その第2空間フィルターから放射される前記リングビー
    ムをコメリートして前記露光対象物に照射し、 さらに、前記リングビームのリング径を変化させ、その
    変化に応じて前記第2空間フィルターから放射される前
    記リングビームにより、前記露光対象物を走査して照射
    することを特徴とする露光方法。
  14. 【請求項14】 回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且
    つ同ミラーの光軸上にマスク及び平面状の露光対象物を
    配置した後、 集束された光線束を前記回転楕円ミラーの第1焦点に配
    置された第1空間フィルターにより整形し、その第1空
    間フィルターから発散される光線束を前記回転楕円ミラ
    ーの反射面で折曲げて、同ミラーの第2焦点に配置され
    た第2空間フィルターにより再び整形し、 さらに、その第2空間フィルターから発散された光線束
    をコメリートして、前記マスクに一様に照射することを
    特徴とする露光方法。
  15. 【請求項15】 回転楕円ミラーの第2焦点の後方で且
    つ同ミラーの光軸上にマスク及び平面状の露光対象物を
    配置した後、 集束されたリングビームを前記回転楕円ミラーの第1焦
    点に配置された第1空間フィルターにより整形し、その
    第1空間フィルターから放射されるリングビームを前記
    回転楕円ミラーの反射面で折曲げて、同ミラーの第2焦
    点に配置された第2空間フィルターにより再び整形し、 その第2空間フィルターから放射されるリングビームを
    コメリートして、前記マスクに照射し、 さらに、前記リングビームのリング径を変化させて、そ
    の変化に応じて前記第2空間フィルターから放射され且
    つコリメートされるリングビームにより、前記マスクを
    走査して照射することを特徴とする露光方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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