JPH11183454A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
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- JPH11183454A JPH11183454A JP9356606A JP35660697A JPH11183454A JP H11183454 A JPH11183454 A JP H11183454A JP 9356606 A JP9356606 A JP 9356606A JP 35660697 A JP35660697 A JP 35660697A JP H11183454 A JPH11183454 A JP H11183454A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 板状の試験体の欠陥を検出する検査装置にお
いて、試験体先後端部の斜行に対して、コストを上げず
に検査効率を向上させる必要があった。 【解決手段】 第一の走査機構１２及び第二の走査機構
１３を設け同時に第三の台車６を廃止した。
いて、試験体先後端部の斜行に対して、コストを上げず
に検査効率を向上させる必要があった。 【解決手段】 第一の走査機構１２及び第二の走査機構
１３を設け同時に第三の台車６を廃止した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は直進搬送される板
状の試験体に対して搬送直交方向に走査し欠陥の検出を
行う検査装置に関するものである。
状の試験体に対して搬送直交方向に走査し欠陥の検出を
行う検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８〜１５は従来の検査装置を示す図で
ある。図８は探触子ヘッド及び台車の配置と各走査軸を
示す。図９〜１１は検査工程を示す。図１２は試験体表
面の各探触子ヘッドによる検査領域を示す。図１３〜１
５は探触子ヘッドの試験体に対する接離材機構を示す。
図において、１は板状の試験体、２は超音波探触子、３
は超音波探触子２を複数千鳥状に配置した探触子ヘッ
ド、４は探触子ヘッド３を試験体の搬送方向に直線状に
複数保持し搬送方向及び搬送直交方向に走査軸を有する
第一の台車、５は試験体の長手方向の片端部を検査する
探触子ヘッド３を保持し搬送方向及び搬送直交方向に走
査軸を有する第二の台車、６は試験体の長手方向のもう
一方の片端部を検査する探触子ヘッド３を保持し搬送方
向及び搬送直交方向に走査軸を有する第三の台車、７は
探触子ヘッド３下面に取り付けられたシュウ、８は探触
子ヘッド３を保持するとともに直交する２つの回転軸を
有するジンバル機構、９は探触子ヘッド３を試験体１に
接離材させるアクチュエータ、１０は探触子ヘッド３を
水平に保持する平行リンク機構、１１はアクチュエータ
９及び平行リンク機構１０を保持するフレームである。
ある。図８は探触子ヘッド及び台車の配置と各走査軸を
示す。図９〜１１は検査工程を示す。図１２は試験体表
面の各探触子ヘッドによる検査領域を示す。図１３〜１
５は探触子ヘッドの試験体に対する接離材機構を示す。
図において、１は板状の試験体、２は超音波探触子、３
は超音波探触子２を複数千鳥状に配置した探触子ヘッ
ド、４は探触子ヘッド３を試験体の搬送方向に直線状に
複数保持し搬送方向及び搬送直交方向に走査軸を有する
第一の台車、５は試験体の長手方向の片端部を検査する
探触子ヘッド３を保持し搬送方向及び搬送直交方向に走
査軸を有する第二の台車、６は試験体の長手方向のもう
一方の片端部を検査する探触子ヘッド３を保持し搬送方
向及び搬送直交方向に走査軸を有する第三の台車、７は
探触子ヘッド３下面に取り付けられたシュウ、８は探触
子ヘッド３を保持するとともに直交する２つの回転軸を
有するジンバル機構、９は探触子ヘッド３を試験体１に
接離材させるアクチュエータ、１０は探触子ヘッド３を
水平に保持する平行リンク機構、１１はアクチュエータ
９及び平行リンク機構１０を保持するフレームである。
【０００３】次に、動作について説明する。図において
Ａ方向は試験体の搬送方向を示し、各探触子ヘッド３に
は説明のため仮にＢ１〜Ｂ９の記号を表示する。また搬
送直交方向をＸ走査軸、搬送方向をＹ走査軸とし、それ
ぞれの軸上の移動をＸ走査、Ｙ走査と定義する。従来の
検査装置は上記のように構成され、まず図９に示すよう
に試験体１先端が探触子ヘッドＢ８及び探触子ヘッドＢ
９の位置に来た所で搬送を停止し、探触子ヘッドＢ８及
びＢ探触子ヘッドＢ９が試験体１に接材し検査可能な状
態となった所で再び試験体１を搬送し長手方向の端部を
検査する。この時第二の台車５及び第三の台車６のＸ走
査、Ｙ走査により試験体１の端部形状に倣うことができ
るため、検査領域を確保しつつ装置の破損を防ぐことが
できる。次に図１０に示すように試験体１先端が探触子
ヘッドＢ１の位置に来た所で搬送を停止し、探触子ヘッ
ドＢ１〜探触子ヘッドＢ７が試験体１に接材し検査可能
な状態となった所で第一の台車４がＸ走査を開始する。
端部まで走査すると、第一の台車４のＹ走査により１つ
の探触子ヘッド３当りの有効検査幅分だけ搬入側に探触
子ヘッド３全体をシフトする。そして今度は逆方向のＸ
走査を行い１サイクルの検査が終了する。このサイクル
を試験体１後端が探触子ヘッドＢ８及び探触子ヘッドＢ
９の位置にくるまで繰り返す。さらに残された試験体１
後端部の検査については図１１に示すように試験体１後
端が探触子ヘッドＢ７の位置に来た所で搬送を停止し、
探触子ヘッドＢ１〜探触子ヘッドＢ７が試験体１に接材
し検査可能な状態となった所で第一の台車４がＸ走査を
開始する。端部まで走査すると、第一の台車４のＹ走査
により１つの探触子ヘッド３当りの有効検査幅分だけ今
度は搬出側にシフトした後Ｘ走査を行い１枚の試験体１
の検査が終了する。図１２には各探触子ヘッド３の検査
領域をＢ１〜Ｂ９で表示し同時にその検査方向を示し、
試験体１の全面が検査されていることがわかる。上記の
探触子ヘッド３の試験体１への接離材であるが、接材は
アクチュエータ９の押し付け力が平行リンク機構１０及
びジンバル機構８を介して探触子ヘッド３に伝えられ
る。この時、試験体１の厚さが変化しても平行リンク機
構１０により探触子ヘッド３は試験体１表面に対し常に
平行な状態で一定の押し付け力を受け、かつ試験体１表
面のうねりに対し直交する２つの回転軸を有するジンバ
ル機構８により探触子ヘッド３が面倣いし安定した検査
が可能となる。またシュウ７は耐摩耗性の高い材料から
製作され試験体１との接触から探触子ヘッド３を保護し
ている。離材はアクチュエータ９の引き付け力により上
記と逆の動作で行われる。
Ａ方向は試験体の搬送方向を示し、各探触子ヘッド３に
は説明のため仮にＢ１〜Ｂ９の記号を表示する。また搬
送直交方向をＸ走査軸、搬送方向をＹ走査軸とし、それ
ぞれの軸上の移動をＸ走査、Ｙ走査と定義する。従来の
検査装置は上記のように構成され、まず図９に示すよう
に試験体１先端が探触子ヘッドＢ８及び探触子ヘッドＢ
９の位置に来た所で搬送を停止し、探触子ヘッドＢ８及
びＢ探触子ヘッドＢ９が試験体１に接材し検査可能な状
態となった所で再び試験体１を搬送し長手方向の端部を
検査する。この時第二の台車５及び第三の台車６のＸ走
査、Ｙ走査により試験体１の端部形状に倣うことができ
るため、検査領域を確保しつつ装置の破損を防ぐことが
できる。次に図１０に示すように試験体１先端が探触子
ヘッドＢ１の位置に来た所で搬送を停止し、探触子ヘッ
ドＢ１〜探触子ヘッドＢ７が試験体１に接材し検査可能
な状態となった所で第一の台車４がＸ走査を開始する。
端部まで走査すると、第一の台車４のＹ走査により１つ
の探触子ヘッド３当りの有効検査幅分だけ搬入側に探触
子ヘッド３全体をシフトする。そして今度は逆方向のＸ
走査を行い１サイクルの検査が終了する。このサイクル
を試験体１後端が探触子ヘッドＢ８及び探触子ヘッドＢ
９の位置にくるまで繰り返す。さらに残された試験体１
後端部の検査については図１１に示すように試験体１後
端が探触子ヘッドＢ７の位置に来た所で搬送を停止し、
探触子ヘッドＢ１〜探触子ヘッドＢ７が試験体１に接材
し検査可能な状態となった所で第一の台車４がＸ走査を
開始する。端部まで走査すると、第一の台車４のＹ走査
により１つの探触子ヘッド３当りの有効検査幅分だけ今
度は搬出側にシフトした後Ｘ走査を行い１枚の試験体１
の検査が終了する。図１２には各探触子ヘッド３の検査
領域をＢ１〜Ｂ９で表示し同時にその検査方向を示し、
試験体１の全面が検査されていることがわかる。上記の
探触子ヘッド３の試験体１への接離材であるが、接材は
アクチュエータ９の押し付け力が平行リンク機構１０及
びジンバル機構８を介して探触子ヘッド３に伝えられ
る。この時、試験体１の厚さが変化しても平行リンク機
構１０により探触子ヘッド３は試験体１表面に対し常に
平行な状態で一定の押し付け力を受け、かつ試験体１表
面のうねりに対し直交する２つの回転軸を有するジンバ
ル機構８により探触子ヘッド３が面倣いし安定した検査
が可能となる。またシュウ７は耐摩耗性の高い材料から
製作され試験体１との接触から探触子ヘッド３を保護し
ている。離材はアクチュエータ９の引き付け力により上
記と逆の動作で行われる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の検査装置は以上
のように構成されているので次のような課題があった。
図１６は試験体１の先端及び後端部が変形（ここでは斜
行と言う）した場合の検査領域を示す。最初の走査は試
験体１端部の斜行に倣うためＸ走査、Ｙ走査の両方を行
いながら全ての探触子ヘッド３が斜め方向に移動する。
Ｙ走査による全体シフトの後は試験体１端部の斜行に倣
わないＸ走査のみを行う。このため図に示す未検査領域
が発生するという問題があった。この未検査領域を無く
するには探触子ヘッドＢ１のみを接材させ斜行した先端
部を一度検査し、斜行のない試験体１と同じ条件とした
後に通常の検査を開始する必要があった。後端部の斜行
についても同様の動作をする必要があった。斜行のない
試験体１と検査時間を比較すると斜行のある場合は上記
のように第一の台車４の両端に位置する探触子ヘッド３
による先後端部の検査が余分な時間となり、検査効率の
低下ひいては生産効率の低下につながっていた。
のように構成されているので次のような課題があった。
図１６は試験体１の先端及び後端部が変形（ここでは斜
行と言う）した場合の検査領域を示す。最初の走査は試
験体１端部の斜行に倣うためＸ走査、Ｙ走査の両方を行
いながら全ての探触子ヘッド３が斜め方向に移動する。
Ｙ走査による全体シフトの後は試験体１端部の斜行に倣
わないＸ走査のみを行う。このため図に示す未検査領域
が発生するという問題があった。この未検査領域を無く
するには探触子ヘッドＢ１のみを接材させ斜行した先端
部を一度検査し、斜行のない試験体１と同じ条件とした
後に通常の検査を開始する必要があった。後端部の斜行
についても同様の動作をする必要があった。斜行のない
試験体１と検査時間を比較すると斜行のある場合は上記
のように第一の台車４の両端に位置する探触子ヘッド３
による先後端部の検査が余分な時間となり、検査効率の
低下ひいては生産効率の低下につながっていた。
【０００５】この発明は上記のような課題を解消するた
めになされたもので、走査軸及び台車の数を増やすこと
なく、先後端部の斜行によっても検査時間が伸びない検
査効率の高い検査装置を得ることを目的とする。
めになされたもので、走査軸及び台車の数を増やすこと
なく、先後端部の斜行によっても検査時間が伸びない検
査効率の高い検査装置を得ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の発明によれば、上
記第一の台車に設けられ最も搬出側に位置する上記探触
子ヘッドを保持し搬送方向に走査軸を有する第一の走査
機構と、上記第一の台車に設けられ最も搬入側に位置し
かつ試験体の長手方向の片端部を検査する上記探触子ヘ
ッド及び試験体後端を検査する上記探触子ヘッド双方を
保持し搬送方向に走査軸を有する第二の走査機構備え、
かつ上記第三の台車を廃止したものである。
記第一の台車に設けられ最も搬出側に位置する上記探触
子ヘッドを保持し搬送方向に走査軸を有する第一の走査
機構と、上記第一の台車に設けられ最も搬入側に位置し
かつ試験体の長手方向の片端部を検査する上記探触子ヘ
ッド及び試験体後端を検査する上記探触子ヘッド双方を
保持し搬送方向に走査軸を有する第二の走査機構備え、
かつ上記第三の台車を廃止したものである。
【０００７】また、第２の発明によれば、隣接する探触
子ヘッドを連結するジンバルアームと、このジンバルア
ームを回転支持するシャフトを備えたものである。
子ヘッドを連結するジンバルアームと、このジンバルア
ームを回転支持するシャフトを備えたものである。
【０００８】また、第３の発明によれば、探触子ヘッド
において上記ジンバル機構の替わりに弾性体を備えたも
のである。
において上記ジンバル機構の替わりに弾性体を備えたも
のである。
【０００９】
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１、２はこの発
明の実施の形態１を示す図であり、図１は探触子ヘッド
及び台車の配置と各走査軸を示し、図２は試験体先端部
の斜行における検査領域を示す。図において３、４、５
は従来の装置と同一または相当部分を示すものである。
また、従来の装置と同様にＡ方向は試験体の搬送方向を
示し、各探触子ヘッド３には説明のため仮にＢ１〜Ｂ９
の記号を表示する。１２は第一の台車４の最も搬出側に
保持された探触子ヘッドＢ１を保持しＹ走査軸を有する
第一の走査機構、１３は第一の台車３の最も搬入側に保
持されかつ試験体１の長手方向の片端部を検査する探触
子ヘッドＢ８及び試験体後端を検査する探触子ヘッドＢ
７双方を保持しＹ走査軸を有する第二の走査機構であ
る。
明の実施の形態１を示す図であり、図１は探触子ヘッド
及び台車の配置と各走査軸を示し、図２は試験体先端部
の斜行における検査領域を示す。図において３、４、５
は従来の装置と同一または相当部分を示すものである。
また、従来の装置と同様にＡ方向は試験体の搬送方向を
示し、各探触子ヘッド３には説明のため仮にＢ１〜Ｂ９
の記号を表示する。１２は第一の台車４の最も搬出側に
保持された探触子ヘッドＢ１を保持しＹ走査軸を有する
第一の走査機構、１３は第一の台車３の最も搬入側に保
持されかつ試験体１の長手方向の片端部を検査する探触
子ヘッドＢ８及び試験体後端を検査する探触子ヘッドＢ
７双方を保持しＹ走査軸を有する第二の走査機構であ
る。
【００１０】前記のように構成された検査装置において
は、従来の装置と同様試験体１先端が探触子ヘッドＢ８
及び探触子ヘッドＢ９の位置に来た所で搬送を停止し、
探触子ヘッドＢ８及び探触子ヘッドＢ９が試験体１に接
材し検査可能な状態となった所で再び試験体１を搬送し
長手方向の端部を検査する。この時第二の台車５つまり
探触子ヘッドＢ９の走査方法は変わらないが、探触子ヘ
ッドＢ８に関しては従来第三の台車６が行っていたＸ走
査を第一の走査４のＸ走査、Ｙ走査を第二の走査機構１
３のＹ走査に置換えることにより同様にして試験体１の
端部形状に倣うことができる。さらに試験体１先端が探
触子ヘッドＢ１の位置に来た所で搬送を停止し、探触子
ヘッドＢ１〜探触子ヘッドＢ７が試験体１に接材し第一
の台車４がＸ走査を開始する。ここで第一の走査機構１
２及び第二の走査機構１３が停止した状態とすることに
より従来と同様の動作を行うことができる。次に試験体
１先後端部が斜行している場合の動作について述べる。
第一の走査機構１２により探触子ヘッドＢ１単独でＹ走
査が可能となることで同時に探触子ヘッドＢ１と探触子
ヘッドＢ２の間隔を変えることが可能となる。図２に実
施の形態１による試験体１の先端及び後端部が斜行した
場合の検査領域を示すが、探触子ヘッドＢ１と探触子ヘ
ッドＢ２の間隔を走査中に変化させることで先端部の斜
行量が１つの探触子ヘッド３当りの有効検査幅分以下で
あれば従来２往復必要としていたＸ走査が１往復で可能
となり検査効率を向上させることが可能となる。後端部
でも第二の走査機構１３により同様の効果を得ることが
できる。さらに走査軸の数を比較すると従来は３つの台
車で各２軸ずつを有し合計６軸であったが、上記のよう
な検査効率の向上にもかかわらず２つの台車で同じく合
計６軸であり、つまり同等のコストでより高い機能を持
たせることが可能となる。
は、従来の装置と同様試験体１先端が探触子ヘッドＢ８
及び探触子ヘッドＢ９の位置に来た所で搬送を停止し、
探触子ヘッドＢ８及び探触子ヘッドＢ９が試験体１に接
材し検査可能な状態となった所で再び試験体１を搬送し
長手方向の端部を検査する。この時第二の台車５つまり
探触子ヘッドＢ９の走査方法は変わらないが、探触子ヘ
ッドＢ８に関しては従来第三の台車６が行っていたＸ走
査を第一の走査４のＸ走査、Ｙ走査を第二の走査機構１
３のＹ走査に置換えることにより同様にして試験体１の
端部形状に倣うことができる。さらに試験体１先端が探
触子ヘッドＢ１の位置に来た所で搬送を停止し、探触子
ヘッドＢ１〜探触子ヘッドＢ７が試験体１に接材し第一
の台車４がＸ走査を開始する。ここで第一の走査機構１
２及び第二の走査機構１３が停止した状態とすることに
より従来と同様の動作を行うことができる。次に試験体
１先後端部が斜行している場合の動作について述べる。
第一の走査機構１２により探触子ヘッドＢ１単独でＹ走
査が可能となることで同時に探触子ヘッドＢ１と探触子
ヘッドＢ２の間隔を変えることが可能となる。図２に実
施の形態１による試験体１の先端及び後端部が斜行した
場合の検査領域を示すが、探触子ヘッドＢ１と探触子ヘ
ッドＢ２の間隔を走査中に変化させることで先端部の斜
行量が１つの探触子ヘッド３当りの有効検査幅分以下で
あれば従来２往復必要としていたＸ走査が１往復で可能
となり検査効率を向上させることが可能となる。後端部
でも第二の走査機構１３により同様の効果を得ることが
できる。さらに走査軸の数を比較すると従来は３つの台
車で各２軸ずつを有し合計６軸であったが、上記のよう
な検査効率の向上にもかかわらず２つの台車で同じく合
計６軸であり、つまり同等のコストでより高い機能を持
たせることが可能となる。
【００１１】実施の形態２．図３はこの発明の実施の形
態２を示す正面図であり、図４はその側面図、図５は探
触子ヘッド部の詳細図である。図において２、３、８、
９、１０、１１は従来の装置と同一または相当部分を示
すものである。隣接する探触子ヘッド３を連結するジン
バルアーム１４と、このジンバルアーム１４を回転支持
するシャフト１５を設けることにより、１つのアクチュ
エータ９により同時に２つの探触子ヘッド３を接離材さ
せ、かつ試験体１に対する面倣い機能を双方の探触子ヘ
ッド３に持たせることが可能となる。この接離材機構は
第一の台車４に複数設置されるが、数を半減することに
よりコスト低減及びメンテナンス性の向上が計れる。
態２を示す正面図であり、図４はその側面図、図５は探
触子ヘッド部の詳細図である。図において２、３、８、
９、１０、１１は従来の装置と同一または相当部分を示
すものである。隣接する探触子ヘッド３を連結するジン
バルアーム１４と、このジンバルアーム１４を回転支持
するシャフト１５を設けることにより、１つのアクチュ
エータ９により同時に２つの探触子ヘッド３を接離材さ
せ、かつ試験体１に対する面倣い機能を双方の探触子ヘ
ッド３に持たせることが可能となる。この接離材機構は
第一の台車４に複数設置されるが、数を半減することに
よりコスト低減及びメンテナンス性の向上が計れる。
【００１２】実施の形態３．図６、７はこの発明の実施
の形態３を示す図である。探触子ヘッド３と平行リンク
１０を３点以上の弾性体１６で連結し、試験体１表面の
うねりに対する面倣い機能をその弾性体１６のたわみで
行い、部品点数が多いジンバル機構８を廃止したもので
ある。本検査装置においては探触子ヘッド３が複数設置
されているため部品点数削減の効果がより大きくコスト
低減及びメンテナンス性の向上が計れる。
の形態３を示す図である。探触子ヘッド３と平行リンク
１０を３点以上の弾性体１６で連結し、試験体１表面の
うねりに対する面倣い機能をその弾性体１６のたわみで
行い、部品点数が多いジンバル機構８を廃止したもので
ある。本検査装置においては探触子ヘッド３が複数設置
されているため部品点数削減の効果がより大きくコスト
低減及びメンテナンス性の向上が計れる。
【００１３】
【発明の効果】第１の発明によれば、第一の走査機構及
び第二の走査機構を設け同時に第三の台車を廃止するこ
とにより、同等もしくは同等以下のコストで試験体の先
後端の斜行に対して検査時間の短縮を計ることができる
と共に、台車の数を削減したことによりメンテナンス性
の向上が計れる。
び第二の走査機構を設け同時に第三の台車を廃止するこ
とにより、同等もしくは同等以下のコストで試験体の先
後端の斜行に対して検査時間の短縮を計ることができる
と共に、台車の数を削減したことによりメンテナンス性
の向上が計れる。
【００１４】また、第２の発明によれば、１つのアクチ
ュエータで２つの探触子ヘッドを接離材させることによ
り、接離材機構の数を半減しコスト低減及びメンテナン
ス性の向上を計ることができる。
ュエータで２つの探触子ヘッドを接離材させることによ
り、接離材機構の数を半減しコスト低減及びメンテナン
ス性の向上を計ることができる。
【００１５】また、第３の発明によれば、ジンバル機構
の替わりに弾性体を設けることにより部品点数を削減し
コスト低減及びメンテナンス性の向上を計ることができ
る。
の替わりに弾性体を設けることにより部品点数を削減し
コスト低減及びメンテナンス性の向上を計ることができ
る。
【図１】 この発明による検査装置の実施の形態１を示
す探触子ヘッドの配置図である。
す探触子ヘッドの配置図である。
【図２】 この発明による検査装置の実施の形態１によ
る試験体先端部の検査領域図である。
る試験体先端部の検査領域図である。
【図３】 この発明による検査装置の実施の形態２を示
す正面図である。
す正面図である。
【図４】 この発明による検査装置の実施の形態２を示
す側面図である。
す側面図である。
【図５】 この発明による検査装置の実施の形態２を示
す詳細図である。
す詳細図である。
【図６】 この発明による検査装置の実施の形態３を示
す平面図である。
す平面図である。
【図７】 この発明による検査装置の実施の形態３を示
す側面図である。
す側面図である。
【図８】 従来の検査装置を示す探触子ヘッドの配置図
である。
である。
【図９】 従来の検査装置における検査工程の説明図で
ある。
ある。
【図１０】 従来の検査装置における検査工程の説明図
である。
である。
【図１１】 従来の検査装置における検査工程の説明図
である。
である。
【図１２】 従来の検査装置における試験体全面の検査
領域図である。
領域図である。
【図１３】 従来の検査装置における接離材機構を示す
正面図である。
正面図である。
【図１４】 従来の検査装置における接離材機構を示す
側面図である。
側面図である。
【図１５】 従来の検査装置における接離材機構を示す
詳細図である。
詳細図である。
【図１６】 従来の検査装置における試験体先端部の検
査領域図である。
査領域図である。
２ 超音波探触子、３ 探触子ヘッド、４ 第一の台
車、５ 第二の台車、１２ 第一の走査機構、１３ 第
二の走査機構、１４ ジンバルアーム、１５ シャフ
ト、１６ 弾性体。
車、５ 第二の台車、１２ 第一の走査機構、１３ 第
二の走査機構、１４ ジンバルアーム、１５ シャフ
ト、１６ 弾性体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中島 優 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 新田 一裕 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 村山 章 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 飯塚 幸理 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 大野 成之 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 直進搬送される板状の試験体の欠陥を検
出する検査装置において、複数の超音波探触子を千鳥状
に配置した複数の探触子ヘッドと、この探触子ヘッドを
試験体の搬送方向に直線状に複数保持し搬送方向及び搬
送直交方向に走査軸を有する第一の台車と、この第一の
台車に設けられ最も搬出側に位置する上記探触子ヘッド
を保持し搬送方向に走査軸を有する第一の走査機構と、
上記第一の台車に設けられ最も搬入側に位置しかつ試験
体の長手方向の片端部を検査する上記探触子ヘッド及び
試験体後端を検査する上記探触子ヘッド双方を保持し搬
送方向に走査軸を有する第二の走査機構と、試験体の長
手方向のもう一方の片端部を検査する上記探触子ヘッド
を保持し搬送方向及び搬送直交方向に走査軸を有する第
二の台車から構成されたことを特徴とする検査装置。 - 【請求項２】 隣接する上記探触子ヘッドを連結するジ
ンバルアームと、このジンバルアームを回転支持するシ
ャフトを設けたことを特徴とする請求項１記載の検査装
置。 - 【請求項３】 上記探触子ヘッドが試験体表面のうねり
に対する面倣い手段において弾性体を設けたことを特徴
とする請求項１記載の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35660697A JP3354466B2 (ja) | 1997-12-25 | 1997-12-25 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP35660697A JP3354466B2 (ja) | 1997-12-25 | 1997-12-25 | 検査装置 |
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| JPH11183454A true JPH11183454A (ja) | 1999-07-09 |
| JP3354466B2 JP3354466B2 (ja) | 2002-12-09 |
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ID=18449868
Family Applications (1)
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| JP35660697A Expired - Fee Related JP3354466B2 (ja) | 1997-12-25 | 1997-12-25 | 検査装置 |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP3354466B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5668158U (ja) * | 1979-10-30 | 1981-06-06 | ||
| JPS59105559A (ja) * | 1982-12-09 | 1984-06-18 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 超音波自動探傷装置 |
| JPH0261555A (ja) * | 1988-08-26 | 1990-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波自動探傷方法 |
| JPH02154149A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-13 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波自動探傷装置 |
| JPH07174739A (ja) * | 1993-12-20 | 1995-07-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査装置 |
-
1997
- 1997-12-25 JP JP35660697A patent/JP3354466B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5668158U (ja) * | 1979-10-30 | 1981-06-06 | ||
| JPS59105559A (ja) * | 1982-12-09 | 1984-06-18 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 超音波自動探傷装置 |
| JPH0261555A (ja) * | 1988-08-26 | 1990-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波自動探傷方法 |
| JPH02154149A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-13 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波自動探傷装置 |
| JPH07174739A (ja) * | 1993-12-20 | 1995-07-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査装置 |
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| JP3354466B2 (ja) | 2002-12-09 |
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