JPH11176788A - 超音波洗浄装置 - Google Patents

超音波洗浄装置

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JPH11176788A
JPH11176788A JP36291597A JP36291597A JPH11176788A JP H11176788 A JPH11176788 A JP H11176788A JP 36291597 A JP36291597 A JP 36291597A JP 36291597 A JP36291597 A JP 36291597A JP H11176788 A JPH11176788 A JP H11176788A
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JP
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ultrasonic
cleaned
ultrasonic cleaning
substrate
holding
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JP36291597A
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Katsuichi Okano
勝一 岡野
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Kaijo Corp
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Kaijo Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被洗浄物の表面に対する洗浄効果を低下させ
ずに、被洗浄物の裏面の洗浄を同時に可能にするととも
に、洗浄液の少液化を図ること。 【解決手段】 超音波洗浄装置本体1の下方に長手状に
形成された洗浄液導出部22の基板20の外周方向に位
置する長手方向一端部に切り欠き凹部22aを設けると
ともに、保持台3の上面に基板20の裏面用洗浄液噴出
口12を設けることによって、前記保持台上に係合保持
された基板20を保持台ごと回転駆動すれば、チャック
部材2に阻害されることなく理想的な近接距離に超音波
洗浄装置本体1を設置することができ、しかも基板20
の裏面の洗浄を表面と同時に行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被洗浄物となる半
導体ウエハやガラス基板などの基板を超音波洗浄する超
音波洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の超音波洗浄装置としては、例えば
本願出願人による特開平6−461号公報に記載のもの
が知られている。この従来の超音波洗浄装置を図10お
よび図11を参照して説明する。
【0003】図10は、従来の超音波洗浄装置本体11
1および従来の超音波洗浄装置130を正面からみた一
部断面を含む図であり、図11は、従来の超音波洗浄装
置本体111を底面からみた図である。
【0004】図10に示すように、超音波洗浄装置本体
111は、半導体ウェハやガラス基板などの基板からな
る被洗浄物117およびこれを搬送する搬送手段(図示
せず)を除く構成からなっていて断面略凹状で長手方向
に箱状になっており、ステンレス等で形成されている。
そして、この超音波洗浄装置本体111は、超音波洗浄
装置本体111の天井面である振動板111a上に配置
された超音波振動子115と、この超音波振動子115
を駆動する超音波発振器116とで構成されている。
【0005】この超音波洗浄装置本体111と、被洗浄
物117を矢印Y方向に一定速度で搬送する搬送手段
(図示せず)とで超音波洗浄装置130が構成されてい
る。
【0006】また、超音波発振器116は例えば950
KHzの超音波信号で超音波振動子115を駆動する。
すなわち、高周波の超音波振動子を用いて洗浄を行うハ
イメガソニック対応の装置となっている。
【0007】前記超音波洗浄装置本体111は、前記凹
部内に配設した超音波振動子115の振動板111aが
天井面になっており、前記振動板111aに対向して設
けられ、超音波振動子115の面に対して角度θ(0<
θ<10°)傾斜して設けられた反射板111bを含む
下面側が底面となっている。
【0008】この超音波洗浄装置本体111の天井面で
ある振動板111aと底面である反射板111bは、ボ
ルト121とナット122によりパッキン119を介し
て締結固定されている。そして、図11にも示すよう
に、反射板111bは、一方の側面に、3箇所の洗浄液
供給口112と、この洗浄液供給口112の他方の側面
に2箇所のオーバーフロー排出口114を有し、また反
射板111bの底面中央に長手状に形成された洗浄液導
出部126と、この洗浄液導出部126の中央に形成さ
れたスリット125とを有している。
【0009】また、前記パッキン119の一方には、断
面略L字状の整流板118が取り付けられ、この整流板
118には複数のスリット120が下部に形成されて整
流作用を行う。
【0010】次に、前記構成からなる超音波洗浄装置の
動作について説明する。
【0011】図10に示すように、洗浄液124が洗浄
液供給口112から矢印X方向より超音波洗浄装置本体
111内に供給されると、洗浄液124は整流板118
のスリット120で整流されて超音波洗浄装置本体11
1内を層流となって流れ、洗浄液噴出口113に沿って
均一な形状となって洗浄液噴出口113から被洗浄物1
17上に噴出される。このとき超音波振動子115は、
超音波信号により駆動され、振動板111aを介して超
音波を超音波洗浄装置本体111の底面である反射板1
11bに向けて放射する。この反射板111bは、所定
角度θだけ傾斜しているので反射板111bにより反射
した超音波123aおよび123bは反射を繰り返しつ
つ最終的に洗浄液噴出口113に集束して超音波導出部
126に導かれスリット125(図11に図示)から被
洗浄物117上に強力な超音波洗浄液を照射する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来の超音波洗浄装置
130は、図10に示すように、被洗浄物117を洗浄
液噴出口113の下側をローラーなどの搬送手段(図示
せず)により矢印Y方向、すなわち一方向に一定速度で
通過させて洗浄を行う。
【0013】この超音波洗浄装置130は、半導体ウェ
ハやガラス基板などの基板からなる被洗浄物117を搬
送手段(図示せず)によって一枚ずつ搬送して洗浄する
枚葉式の洗浄装置である。
【0014】この種の枚葉式の洗浄装置(枚葉式とは、
1枚1枚被洗浄物を洗浄するものをいう)には、超音波
洗浄装置130のように、洗浄物をローラーなどにより
一定速度で通過させて洗浄する構成のもののほか、異な
る形式のものとして、例えば被洗浄物の裏面を吸着プレ
ート上に真空吸着により固定し、これを高速回転して洗
浄する構成のものがある。
【0015】図10に示すような従来の超音波洗浄装置
130による被洗浄物117の洗浄は、被洗浄物117
の基板上面を洗浄するために超音波洗浄装置130を複
数台並設して使用するために多量の洗浄液が必要であ
る。
【0016】また、被洗浄物117を吸着プレート上に
真空吸着して洗浄する場合には、被洗浄物117の裏
面、すなわち吸着されている面は洗浄することができな
い。
【0017】また、被洗浄物を搬送手段により搬送して
被洗浄物の両面を洗浄する構成のものは、上下に分割さ
れた洗浄装置内を通過させて洗浄する構成となっている
ため装置が大型化する。
【0018】一方、近年の半導体の高集積化にともない
半導体ウェハ等の洗浄はより高い清浄度が求められてお
り、また、半導体の高集積化によって半導体製造プロセ
スも高度化、多様化し、他工程への汚染防止の点からも
被洗浄物の両面を洗浄して高洗浄度を維持することが求
められている。さらに、洗浄液などの使用液量が少なく
てすみ、かつ小型化された装置も要望されている。
【0019】本発明は上記従来技術の欠点に鑑みてなさ
れたものであって、半導体ウェハなどの被洗浄物を超音
波洗浄する超音波洗浄装置、特に高速回転型の枚葉式超
音波洗浄装置において、小型でかつ被洗浄物の表面に対
する洗浄効果を低下ささせずに裏面の洗浄を可能にする
とともに、洗浄液の少液化も図ることができる超音波洗
浄装置を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】本発明による超音波洗浄
装置は、被洗浄物を固定保持する保持台と、前記保持台
上に設けられ、搬送手段により1枚づつ搬送される被洗
浄物を前記保持台上面より一定距離離間した位置で支持
する基板支持手段と、前記基板支持手段上に載置された
被洗浄物の端部を係合保持する保持手段と、前記保持台
を回転駆動する駆動手段と、前記保持台の上方に配置さ
れて前記被洗浄物の略半面に対して超音波洗浄液を噴射
する超音波洗浄装置本体とを備え、前記超音波洗浄装置
本体は、前記被洗浄物のパターン形成面の最大幅の半分
よりも少なくとも長手方向の長さが大である超音波振動
子と、前記超音波振動子の面に対して所定の角度傾斜し
て設けられた反射板と、前記反射板の中央に長手状でか
つ下方に突出して形成された洗浄液導出部と、前記洗浄
液導出部の中央に長手状に形成されたスリットとを備
え、前記洗浄液導出部の長手方向一端部には、前記被洗
浄物に対して所定距離接近したとき、深さが前記保持手
段と非接触でかつ被洗浄物の端部からの長さが前記被洗
浄物のパターン形成面よりも外側となる切り欠き凹部を
設けてなるものである。
【0021】また、本発明による前記基板支持手段は、
前記保持台上の少なくとも3箇所以上の保持ピンでなる
ものである。
【0022】また、本発明による前記保持手段は、前記
被洗浄物の端部を少なくとも3箇所以上係合保持可能で
かつ開閉可能なチャック部材でなるものである。
【0023】また、本発明による前記保持台は、前記基
板支持手段上に載置された被洗浄物の裏面の前記超音波
洗浄装置本体に対応する略半面に対して洗浄液を噴射し
て洗浄を行う洗浄液噴出口を設けてなるものである。
【0024】また、本発明による前記保持台は、周縁部
に所定の高さの凸部を設けたものである。
【0025】また、本発明による前記超音波洗浄装置本
体は、被洗浄物を搬送する搬送手段の搬送経路から退避
可能な構成としたものである。
【0026】また、本発明による前記超音波振動子は、
500KHz以上の超音波駆動周波数で駆動されてなる
ものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
による超音波洗浄装置の実施例を説明する。
【0028】図1は、本発明による超音波洗浄装置15
の全体を示す一部断面を含む側面図、図2は、本発明に
よる超音波洗浄装置15を正面から見た断面図、図3
は、図1および図2に示す超音波洗浄装置15の一部拡
大図、図4は、図2に示す超音波洗浄装置15の平面
図、図5は、図1に示す超音波洗浄装置15の動作を示
す説明図、図6は、被洗浄物としての半導体ウェハを示
す図、図7および図8は、本発明による超音波洗浄装置
の第1および第2実施例を示す一部断面を含む側面図、
図9は、超音波の強度と距離の関係を示す図である。
【0029】本発明による超音波洗浄装置の第1および
第2実施例を図7および図8を参照して説明する。
【0030】図7および図8に示すように、本発明によ
る超音波洗浄装置の第1および第2実施例は、図10に
示す超音波洗浄装置111の基本的な構成を使用し、従
来の超音波洗浄装置130が被洗浄物117を搬送手段
により一方向に搬送していたものを半導体ウェハなどの
被洗浄物を固定して高速回転させ、かつ被洗浄物の裏面
も洗浄可能な構成としている点に特徴を有している。
【0031】高速回転型の枚葉式超音波洗浄装置は、洗
浄中ならびに洗浄後も高速回転させることにより被洗浄
物上の洗浄液を遠心力により飛散させて乾燥させること
ができるので被洗浄物の表面にしみなどが残らないとい
う利点がある。
【0032】図7および図8に示すように、この超音波
洗浄装置は、超音波洗浄装置本体1と、半導体ウェハな
どの被洗浄物としての基板20を固定保持する保持台3
と、保持台3上に設けた基板支持手段としての複数の針
状の保持ピン3bと、保持手段としてのフック状のチャ
ック部材2とを備えている。
【0033】前記保持台3、保持ピン3b、チャック部
材2により固定手段を構成する。
【0034】また、この超音波洗浄装置本体1の構成の
詳細は後述するが、従来の超音波洗浄装置本体111と
略同一の構成となっている。
【0035】図7に示す第1実施例である超音波洗浄装
置は、超音波洗浄装置本体1の超音波振動子を含む振動
面が半導体ウェハよりも小さくなっているのに対して、
図8に示す第2実施例である超音波洗浄装置は、超音波
洗浄装置本体1の超音波振動子を含む振動面が半導体ウ
ェハよりも大きくなっている点に差異がある。
【0036】図7および図8に示すように、この超音波
洗浄装置は、超音波洗浄装置本体1の洗浄液供給口18
から供給された純水等からなる洗浄液が超音波振動子4
により超音波振動が印加されて基板20の表面に照射さ
れる。そして、基板20の裏面は、例えば4本の前記保
持ピン3bで支持されており、前記基板20の周縁端部
20bの少なくとも3ヶ所がチャック部材2で係合保持
され、保持台3を矢印X方向に図示せぬモーターなどの
駆動手段により回転駆動することによって基板20の表
面全体を洗浄することができる。
【0037】一方、この超音波洗浄装置は、基板20が
前記保持ピン3bにより保持台3の上面から所定距離離
間配置されているため基板20の裏側に空間が生じ、基
板20の裏面洗浄用の洗浄液噴出口12を設けることに
より表面とあわせて裏面も同時に洗浄することが可能と
なっている。
【0038】しかして、第1および第2実施例による超
音波洗浄装置は、基板20の周縁端部20bの少なくと
も3ヶ所をチャック部材2で固定する構成となっている
ため、保持手段としてのチャック部材2が基板20の表
面の上方に凸状に突出することになる。このチャック部
材2による突出部は、基板20の表面から略8mm〜1
0mm程度の高さとなる。
【0039】しかしながら、基板20の表面に対して超
音波振動を確実に伝達し、かつ十分な洗浄力を得るため
には、表面張力の作用によって洗浄液を基板20の表面
上に保持する保持力が得られるように超音波洗浄装置本
体1を基板20の表面全体にわたって十分な距離接近さ
せるのが望ましい。したがって、図10に示すような従
来の超音波洗浄装置130では、超音波洗浄装置本体1
11を被洗浄物117の表面から略3mm〜5mm上方
に設置している。被洗浄物を吸着プレート上に真空吸着
して洗浄する構成のものも同様である。
【0040】そこで、図7に示すように、第1実施例と
しての超音波洗浄装置本体1の長手方向の幅をチャック
部材2をさけて小さくすれば、従来通り基板20の表面
から略3mm〜5mm上方に設置することが可能となる
が、超音波洗浄装置本体1の長手方向の幅を小さくする
と、同時に超音波振動子4の長手方向の幅も相対的に小
さくなるので、基板20の表面全体を洗浄することがで
きなくなり有効洗浄面積が小さくなってしまう。しか
も、基板20の外周部に洗浄できない部分が生じて完全
に洗浄することができず、また洗浄部分と非洗浄部分と
の識別をすることも困難となる。
【0041】そこで、図8に示すように、超音波振動子
4の長手方向の幅が基板20の外径よりも大きくなるよ
うにすると、チャック部材2の凸状の突出部をさけて基
板20の表面から10mm以上上方に設置する必要があ
る。
【0042】しかしながら、図9に示すように超音波洗
浄装置本体1の超音波振動子4から放射される超音波の
強度は、被洗浄物である基板20の表面との距離が10
mmを越えると急激に低下し始め、洗浄効果が低下す
る。
【0043】図9は流量12リットル/分、発振器出力
600W(ワット)、測定点D点の位置にセンサを配置
し、超音波洗浄装置の下面とセンサとの距離を図示のよ
うに5mm、10mm・・・というように離間したとき
の超音波の音圧、この場合電圧(V)に変換して測定し
た値を図示したものである。
【0044】図9から明らかなように、超音波洗浄装置
と被洗浄物とが一定の距離以上離間すると超音波の出力
も急激に低下することがわかる。したがって、斜線で示
す範囲内の超音波洗浄力を備えた超音波洗浄装置が望ま
れる。
【0045】かかる観点からみて、本発明者は図7およ
び図8に示す超音波洗浄装置に改良を加え十分な超音波
洗浄力を備え、かつ洗浄液の少液化を図ることができる
超音波洗浄装置を発明した。
【0046】以下に、本発明による第3実施例としての
超音波洗浄装置15を図1乃至図6を参照して説明す
る。なお、図7および図8に示す超音波洗浄装置と同一
の構成および機能を有する部分には同一の符号を付して
いる。
【0047】図1および図2に示すように、カバー15
aおよび下台15bを有する超音波洗浄装置15は、超
音波洗浄装置本体1と、半導体ウェハなどの被洗浄物と
しての基板20を固定保持する保持台3と、保持台3上
に設けた基板支持手段としての保持ピン3bと、保持手
段としてのフック状のチャック部材2とを備えている。
【0048】前記保持台3、保持ピン3b、チャック部
材2により固定手段を構成する。
【0049】図2および図4に示すように、保持台3は
円盤状でなり、周縁部が洗浄液の飛散を防止する凸部3
aになっている。この凸部3aは、基板20の表面より
少なくとも高く形成されている。この凸部3aの内周側
に洗浄中もしくは洗浄後の洗浄液を排出する洗浄液排出
ダクト25がこの場合2ヶ所に設けられている。この洗
浄液排出ダクト25は、2ヶ所でなくともよく、少なく
とも1ヶ所以上適宜設ければよい。
【0050】前記保持台3上の基板支持手段としての保
持ピン3bは針状の部材からなり、基板20の裏面を汚
染しないように一点で支持している。図4に示す実施例
では、保持ピン3bは等間隔で4ヶ所に配設されてい
る。また、保持手段としてのチャック部材2は、基板2
0の円周に沿って等間隔で4ヶ所に配設されている。図
3に示すように、前記チャック部材2は、図示せぬ開閉
機構により開閉可能になっており、開状態で基板20を
上方より受け入れて基板20が前記保持ピン3b上に載
置されると閉じて図6に示す基板20の周縁端部20b
を係合保持して固定する。前記保持ピン3bおよびチャ
ック部材2は少なくとも3ヶ所以上設ければよい。
【0051】また、図1および図2に示すように、軸1
3は、一端が保持台3の裏側中心に連結され、他端は駆
動手段(図示せず)に連結されており、この駆動手段に
より軸13は、正逆回転可能(図1および図2では矢印
X方向に回転する)となっている。この回転は、約18
00〜2000r.p.m(リボリューションパーミニ
ッツ)となっている。また、前記軸13の回転中心に
は、基板20の裏面を洗浄するための洗浄液を供給する
洗浄液供給路24が形成され、保持台3の中心を貫通し
て保持台3の上面の回転中心に裏面用洗浄液噴出口12
が配設されている。
【0052】一方、超音波洗浄装置15の上部に設けら
れた略半球状のカバー15aは、略円筒状の下台15b
と開閉可能に接続固定されており、内側面に一対の支持
部材16を介して超音波洗浄装置本体1を垂下状に取り
付け固定している。前記カバー15aは、被洗浄物の洗
浄時に洗浄液の飛散を防ぎ、かつ外部からの不純物の進
入を防ぐものである。
【0053】図2に示すように、超音波洗浄装置15の
超音波洗浄装置本体1は、薄板長方形状のステンレスな
どからなる上側ケース1a、および断面略凹状でかつ長
手状の振動板1bと、この振動板1bの凹部内に配設し
た超音波振動子4と、この振動板1bと対向し、超音波
振動子5の面に対して角度θ(0<θ<10°)傾斜し
て設けられた反射板1c等で構成されてなり、超音波振
動子4の図1に示す長手方向の幅は、少なくとも基板2
0のパターン形成面20aの最大幅の半分よりも大なる
径方向長さを有し、基板20が回転することで表面を全
面にわたって洗浄が可能になっている。すなわち、超音
波振動子4の長手方向の幅は、少なくともパターン形成
面20aの最大幅の半分よりも大なる径方向長さを有し
ていれば超音波振動が伝播可能であるので基板20の表
面全面の洗浄に十分であるが、基板20の半径より大き
い径方向長さを有するものであってもよい。また、基板
20が矩形形状のものであれば、長手方向の幅の1/2
の大きさよりも大であればよい(短手方向、長手方向が
同一長さである場合にはいずれでもよい)。また、図6
に示すように、基板20である半導体ウエハは一部にオ
リフラ面をもっているが、前記径方向長さは、このオリ
フラ面以外の外周面での径方向長さとすればよい。
【0054】図2および図4に示すように、前記上側ケ
ース1aおよび振動板1bと前記反射板1bはパッキン
9を介して複数のボルト10とナット11により密閉状
態に締結固定されている。そして、超音波振動子4は、
ケーブル6を介して上側ケース1a上に設けたコネクタ
5と接続され、このコネクタ5はケーブル7を介して超
音波発振器8と接続されている。この超音波発振器8
は、超音波振動子4を超音波信号で駆動する。また、超
音波発振器8は、500KHz以上の超音波信号を用い
ることが可能であり、本実施例では950KHzの超音
波信号の駆動周波数で超音波振動子4を駆動するハイメ
ガソニック対応の装置となっている。
【0055】図1および図4に示すように、超音波洗浄
装置本体1の長手方向の端面の一方には洗浄液供給口1
8が設けられ、この給液口から純水などの洗浄液23を
給液する。そして、図2にも示すように反射板1cの中
央に長手状にかつ下方に突出して形成された洗浄液導出
部22と、この洗浄液導出部22の中央に形成されたス
リット14とを有している。
【0056】また、図1および図3にも示すように、前
記洗浄液導出部22の前記基板20の外周方向に位置す
る一端部には凹部22aが形成されている。前記洗浄液
導出部22の凹部(切り欠き凹部)22aは、チャック
部材2の凸部に対応した深さ、ならびに径方向および周
方向の幅に対応した切り欠きとなっている。
【0057】チャック部材2が基板20の表面上部に略
8mm〜10mm程度の凸部であれば、前記切り欠き凹
部22aの深さdは、略5mm程度で形成すればよい。
従って、超音波振動子4および洗浄液導出部22の長手
方向の幅が基板20の半径よりも大きい場合であっても
基板20の表面から上方略3mm〜5mmの距離内に超
音波洗浄装置本体1を配置可能な構成となっている。
【0058】また、洗浄液導出部22の凹部22aの基
板20の径方向における長さxは、図6に示す基板20
のパターン形成面20aよりも外側に形成する必要があ
る。すなわち、パターン形成面20aは、基板20の周
縁端部20bの少なくとも内側に形成されているので、
この周縁端部20bの範囲若しくはこの周縁端部20b
からパターン形成面20aの最外周部近傍までの範囲で
洗浄液導出部22の一部を切り欠いて形成する。
【0059】また、基板20の周方向の洗浄液導出部2
2の凹部22aの幅は、洗浄液導出部22の幅の方がチ
ャック部材2よりも大きくなっているので、洗浄液導出
部22の幅を切り欠けばチャック部材2とは非接触とな
る。基板20を係合保持するチャック部材2の大きさ
は、洗浄を行う観点からは極力小さな部材で構成する必
要があるからである。
【0060】前記構成によって、超音波洗浄装置本体1
を被洗浄物である基板20の表面に対して高洗浄効果が
期待できる理想的な近接距離に配置することが可能とな
り、チャック部材2に接触することなく、しかもチャッ
ク部材2を含めた被洗浄物の周縁端部20bも同時に洗
浄が可能となるため、被洗浄物表面に対する洗浄効果が
維持できるだけでなく、装置全体の高洗浄度を維持する
ことが可能である。
【0061】さらに、超音波洗浄装置本体1の超音波振
動子4の長手方向の幅が少なくとも基板20のパターン
形成面20aの最大幅の半分よりも大なる径方向長さを
有していればよいから、基板20のパターン形成面20
aの全長にわたる長手方向長さを有する超音波洗浄装置
本体を設ける場合にくらべて洗浄液の少液化を図ること
ができる。
【0062】次に、本発明による超音波洗浄装置15の
動作について説明する。
【0063】図5に示すように、被洗浄物としての基板
20の供給時は、超音波洗浄装置15のカバー15a
は、図示せぬ開閉機構により支軸28を中心として自動
的に約90度開き、このカバー15aに支持部材16で
垂下状に取り付けられた超音波洗浄装置本体1も一体に
退避する。
【0064】基板20は、搬送機構30により搬送され
て保持台3上の保持ピン3b上に載置される。これに先
立って、保持台3上に設けられたチャック部材2(本実
施例では4箇所)は、図示せぬ開閉機構により開かれて
基板20を受け入れる。
【0065】前記保持台3上への基板20の供給並びに
搬出を行う搬送機構30は、アーム状の部材の先端に設
けられたフック状の爪部30aで基板20を1枚づつ把
持して搬送する。
【0066】前記保持台3の保持ピン3b(本実施例で
は4本)上に基板20が載置されると、図3および図4
に示すように、前記チャック部材2が閉じて基板20の
周縁端部20bを係合保持して固定する。
【0067】前記基板20が固定されると、図1に示す
ように、前記カバー15aが図示せぬ開閉機構により自
動的に閉じられる。
【0068】超音波洗浄装置15の運転が開始される
と、洗浄液供給口18から純水などの洗浄液23が超音
波洗浄装置本体1内に供給されて満たされ、前記洗浄液
23が洗浄液噴出口21から基板20の略半面上に噴出
する。このとき超音波振動子4は、超音波発振器8から
の超音波信号(この場合950KHz)により駆動さ
れ、超音波が振動板1bを介して超音波洗浄装置本体1
の底面である反射板1cに向けて放射される。
【0069】反射板1cは所定角度θ(0<θ<10
°)だけ傾斜しているため、反射板1cにより反射した
超音波17aおよび17bは、反射を繰り返しつつ最終
的に洗浄液噴出口21に収束して超音波導出部22に導
かれ、スリット14から保持台3に固定されて回転して
いる基板20上に強力な超音波洗浄液を照射して表面を
洗浄する。この洗浄中、保持台3の凸部3aは、洗浄液
23が遠心力により飛散するのを防ぐ堰として作用し、
洗浄液23を洗浄液排出ダクト25に有効に導き、洗浄
中並びに洗浄後、洗浄液排出口26を経て超音波洗浄装
置15の外部に排出する。
【0070】このとき、超音波洗浄装置本体1の超音波
振動子4が基板20のパターン形成面20aの最大径の
略半径の長さであっても、保持台3に固定された基板2
0が回転することによって基板20の表面全面にわたっ
て洗浄が行われる。
【0071】また、保持台3の上面中心に設けられた裏
面用洗浄液噴出口12からも基板20の裏面の前記超音
波洗浄装置本体1に対応する略半面に対して洗浄液が放
射される。このとき、超音波洗浄装置本体1から基板2
0の表面に対して照射される強力な超音波は、基板20
の裏面にも伝播するため基板20の裏面に対しても超音
波洗浄による洗浄が可能となり、基板20の裏面の洗浄
も同時に行うことができると共に、基板20の表面に付
着した汚れが飛散して裏面に再付着することも防止でき
る。この基板20の裏面への洗浄液の放射は、保持台3
が回転しても常に超音波洗浄装置本体1に対応する略半
面にのみ洗浄液を噴射する構成になっており、保持台3
上に固定された基板20が回転することによって、基板
20の裏面全面が洗浄される。また、表面の洗浄液の照
射とは異なり、基板20の裏面の略半面に洗浄液がある
程度満遍なく照射されていれば所望の洗浄効果、すなわ
ち基板20の表面に付着した汚れ等の再付着の防止等の
洗浄効果を得ることができる。したがって、洗浄液の使
用液量も基板表面のものに比べて少なくてよい。
【0072】さらに、基板20の裏面の略半面に対して
洗浄液を噴射しする構成のため、裏面全面に対して洗浄
液を噴射する場合にくらべて洗浄液の少液化が図れる。
【0073】基板20の両面の洗浄が終了すると、超音
波洗浄装置本体1および裏面用洗浄液噴出口12からの
洗浄液の噴出を停止する。そして、洗浄液の噴出を停止
した後も保持台3を所定時間回転し続け、基板20の両
面に残った洗浄液を飛散させて乾燥する。
【0074】基板20の洗浄が完了すると、図5に示す
ように、再び超音波洗浄装置15のカバー15aおよび
チャック部材2が開かれ、搬送機構30によって洗浄済
みの基板20が把持されて搬出される。そして、新たな
被洗浄物としての基板20を受け入れて同様の動作を繰
り返す。
【0075】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の超音波洗
浄装置によれば、特に高速回転型の枚葉式超音波洗浄装
置において、被洗浄物の表面に対する洗浄効果を低下さ
せずに裏面の洗浄も同時に行うことができるとともに、
洗浄液の少液化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による第3実施例としての超音波洗浄装
置15の全体を示す一部断面を含む側面図である。
【図2】本発明による超音波洗浄装置15を正面からみ
た断面図である。
【図3】図1および図2に示す超音波洗浄装置15の一
部拡大図である。
【図4】図2に示す状態の超音波洗浄装置15の平面図
である。
【図5】図1に示す超音波洗浄装置15の動作を示す図
である。
【図6】被洗浄物としての半導体ウェハを示す図であ
る。
【図7】本発明による超音波洗浄装置の第1実施例とし
ての一部断面を含む側面図である。
【図8】本発明による超音波洗浄装置の第2実施例とし
ての一部断面を含む側面図である。
【図9】超音波の強度と距離との関係を示す図である。
【図10】従来の超音波洗浄装置本体111を含む超音
波洗浄装置130の正面図である。
【図11】従来の超音波洗浄装置本体111を底面から
みた図である。
【符号の説明】
1 超音波洗浄装置本体 1a 上側ケース 1b 振動板 1c 反射板 2 チャック部材 3 保持台 3b 保持ピン 4 超音波振動子 8 超音波発振器 12 裏面用洗浄液噴出口 15 超音波洗浄装置 15a カバー 17a 超音波 17b 超音波 20 基板 20a 基板のパターン形成面 20b 基板の周縁端部 21 洗浄液噴出口 22 洗浄液導出部 22a 洗浄液導出部の凹部 23 洗浄液

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被洗浄物を固定保持する保持台と、 前記保持台上に設けられ、搬送手段により1枚づつ搬送
    される被洗浄物を前記保持台上面より一定距離離間した
    位置で支持する基板支持手段と、 前記基板支持手段上に載置された被洗浄物の端部を係合
    保持する保持手段と、 前記保持台を回転駆動する駆動手段と、 前記保持台の上方に配置されて前記被洗浄物の略半面に
    対して超音波洗浄液を噴射する超音波洗浄装置本体とを
    備え、 前記超音波洗浄装置本体は、 前記被洗浄物のパターン形成面の最大幅の半分よりも少
    なくとも長手方向の長さが大である超音波振動子と、 前記超音波振動子の面に対して所定の角度傾斜して設け
    られた反射板と、 前記反射板の中央に長手状でかつ下方に突出して形成さ
    れた洗浄液導出部と、 前記洗浄液導出部の中央に長手状に形成されたスリット
    とを備え、 前記洗浄液導出部の長手方向一端部には、前記被洗浄物
    に対して所定距離接近したとき、深さが前記保持手段と
    非接触でかつ被洗浄物の端部からの長さが前記被洗浄物
    のパターン形成面よりも外側となる切り欠き凹部を設け
    てなることを特徴とする超音波洗浄装置。
  2. 【請求項2】 前記基板支持手段は、前記保持台上の少
    なくとも3箇所以上の保持ピンでなることを特徴とする
    請求項1記載の超音波洗浄装置。
  3. 【請求項3】 前記保持手段は、前記被洗浄物の端部を
    少なくとも3箇所以上係合保持可能でかつ開閉可能なチ
    ャック部材でなることを特徴とする請求項1記載の超音
    波洗浄装置。
  4. 【請求項4】 前記保持台は、前記基板支持手段上に載
    置された被洗浄物の裏面の前記超音波洗浄装置本体に対
    応する略半面に対して洗浄液を噴射して洗浄を行う洗浄
    液噴出口を設けてなることを特徴とする請求項1記載の
    超音波洗浄装置。
  5. 【請求項5】 前記保持台は、周縁部に所定の高さの凸
    部を設けたことを特徴とする請求項1又は請求項4記載
    の超音波洗浄装置。
  6. 【請求項6】 前記超音波洗浄装置本体は、被洗浄物を
    搬送する搬送手段の搬送経路から退避可能な構成とした
    ことを特徴とする請求項1記載の超音波洗浄装置。
  7. 【請求項7】 前記超音波振動子は、500KHz以
    上の超音波駆動周波数で駆動されてなることを特徴とす
    る請求項1記載の超音波洗浄装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002054472A1 (fr) * 2000-12-28 2002-07-11 Yoshiharu Yamamoto Appareil pour nettoyer une plaquette de semi-conducteur
JP2020203259A (ja) * 2019-06-19 2020-12-24 国立大学法人 鹿児島大学 超音波洗浄装置及び超音波洗浄方法
WO2023162464A1 (ja) * 2022-02-24 2023-08-31 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ウェットプロセス装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002054472A1 (fr) * 2000-12-28 2002-07-11 Yoshiharu Yamamoto Appareil pour nettoyer une plaquette de semi-conducteur
US7216656B2 (en) 2000-12-28 2007-05-15 Yoshiharu Yamamoto Semiconductor substrate cleansing apparatus
JP2020203259A (ja) * 2019-06-19 2020-12-24 国立大学法人 鹿児島大学 超音波洗浄装置及び超音波洗浄方法
WO2023162464A1 (ja) * 2022-02-24 2023-08-31 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ウェットプロセス装置

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