JPH11168129A - 基板搬送装置およびプラズマ処理装置 - Google Patents

基板搬送装置およびプラズマ処理装置

Info

Publication number
JPH11168129A
JPH11168129A JP33415397A JP33415397A JPH11168129A JP H11168129 A JPH11168129 A JP H11168129A JP 33415397 A JP33415397 A JP 33415397A JP 33415397 A JP33415397 A JP 33415397A JP H11168129 A JPH11168129 A JP H11168129A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
receiver
receivers
transfer
plasma processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33415397A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihiko Watanabe
邦彦 渡辺
Masahiro Tanaka
政博 田中
Takemi Toritsuka
武美 鳥塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP33415397A priority Critical patent/JPH11168129A/ja
Publication of JPH11168129A publication Critical patent/JPH11168129A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manipulator (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】基板の位置ずれ、落下、クラック等の破損を有
効に防止できる基板搬送装置およびプラズマ処理装置を
提供する。 【解決手段】減圧下で基板1を搬送する基板搬送装置に
おいて、搬送する基板1の内側に、基板1の下面と接触
する複数個の基板受け3aを設け、基板1の外周部と接
触する複数個の基板受け3bを設け、さらに基板1の外
側に複数個の基板受け3cを設け、基板受け3b、3c
を基板受け3aより高い位置に、かつ基板1から遠ざか
るにしたがって徐々に高い位置に設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル
や、半導体装置等の製造プロセスにおいて、ガラス基板
や半導体ウェハ等の各種基板を減圧下で搬送する基板搬
送装置、および該基板搬送装置を具備するプラズマ処理
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示パネル製造用のガラス基板や半
導体装置製造用の半導体ウェハ上に、各種の薄膜を成膜
したり、成膜した薄膜に所要のパターニングを施すため
の装置としてプラズマ処理装置が知られている。
【0003】この種のプラズマ処理装置として代表的な
ものに、スパッタリング装置、プラズマCVD装置、ド
ライエッチング装置がある。
【0004】これらのプラズマ処理装置では、基板仕込
室にガラス基板または半導体ウェハ等の基板を搬入した
後、当該基板仕込室を真空に減圧し、真空搬送ロボット
により基板を順次加熱室またはプラズマ処理室に搬送
し、所定の処理を施した後、基板取出室に搬送し、当該
基板取出室を大気圧まで戻して基板を搬出する(後で図
5、図6を用いて詳述)。
【0005】しかし、当該プラズマ処理装置内における
基板搬送は、真空減圧下で行われるため、大気中におけ
る真空吸着による基板固定が不可能であり、また、絶縁
物であるガラス基板の場合は静電吸着による基板固定が
困難であり、基板の位置ずれが起こりやすく、最悪の場
合は基板が破損したりする(基板にクラックや欠けが発
生)。
【0006】図7(a)は従来の基板搬送装置の基板保
持部の概略上面図、(b)はその側面図である。
【0007】1は搬送する基板、2は真空搬送ロボット
ハンド、4はロボットハンド2の基板受けホルダ、3は
基板受けホルダ4上に設けられ、基板1の下面と接触し
該基板1を保持する6個の基板受け(パッド)、5は基
板ストッパである。
【0008】基板1を合成樹脂等からなる基板受け3と
の摩擦により保持し、また、基板1の位置ずれを最小限
に抑えるため、図7に示すような基板ストッパ5を基板
受けホルダ4に設けている。すなわち、ロボットハンド
2の6個の基板受け3上に保持した基板1の位置ずれが
起きないように、該基板1の対向する2辺の近傍に、4
個の角柱状の基板ストッパ5が設けてあり、基板1の搬
送中に、該基板1が動いたとしても、この基板ストッパ
5に基板1の辺が接触することで大きな位置ずれを防止
している。
【0009】なお、従来の基板搬送装置の構成を開示し
たものとしては、例えば、プレスジャーナル社発行の
「月刊エルシーディ インテリジェンス(LCD Intell
igence)」1997年5月号、第100〜109頁があ
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図7の従来の基板搬送
装置では、基板ストッパ5が基板1の辺に対して直立し
て設けてあり、基板1の位置ずれがある範囲を超える
と、基板1の端面(側面)が基板ストッパ5と接触し、
基板1にクラックや欠けが発生することがある。すなわ
ち、基板の位置ずれを防止するために設けた基板ストッ
パ5が、かえって基板の破損の原因となるという問題が
あった。
【0011】また、基板の位置ずれの範囲がさらに大き
くなると、基板1が基板ストッパ5の上に乗り上げてし
まうことが起きる(図4(b)参照)。この場合、基板
1を支える基板受け3の一部が該基板1の下面に接触で
きず、乗り上げた基板1は基板ストッパ5の上を滑りや
すくなるので、さらに基板の位置ずれがひどくなり、基
板が落下することもある。
【0012】基板1の基板ストッパ5への乗り上げを防
止するために、基板1と基板ストッパ5との間隙を大き
くすると、基板ストッパ5の本来の目的である基板位置
ずれ防止機能が充分に発揮できなくなってしまう。
【0013】本発明の目的は、上記従来技術の問題を解
消し、基板の位置ずれ、落下、クラック等の破損を有効
に防止することができる基板搬送装置およびプラズマ処
理装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、基板保持機能と基板ストッパ機能を併せ持った基板
受け構造を採用した。
【0015】すなわち、本発明の基板搬送装置は、減圧
下で基板を搬送する基板搬送装置において、搬送する基
板の内側に、該基板の下面と接触する複数個の第1の基
板受けを設け、基板の外周部、基板の外側の少なくとも
一方に、複数個の第2の基板受けを設けたことを特徴と
する。
【0016】また、上記第2の基板受けを、上記第1の
基板受けより高い位置に設けたことを特徴とする。
【0017】また、上記第2の基板受けを、基板から遠
ざかるにしたがって徐々に高い位置に設けたことを特徴
とする。
【0018】また、上記基板受けの形状が、球の一部で
あることを特徴とする。
【0019】また、上記基板受けが合成樹脂または石英
からなることを特徴とする。
【0020】さらに、本発明のプラズマ処理装置は、減
圧下で基板を搬送する基板搬送装置を具備するプラズマ
処理装置において、搬送する基板の内側に、該基板の下
面と接触する複数個の第1の基板受けを設け、基板の外
周部直下、基板の外側の少なくとも一方の、上記第1の
基板受けより高い位置に、複数個の第2の基板受けを設
けたことを特徴とする。
【0021】本発明は、基板受けを利用して基板ストッ
パ機能を持たせたことが特徴である。これにより、基板
がストッパ機能を有する基板受けに接触してもダメージ
が少なく、また、基板が基板受けに乗り上げても、従来
の基板受けと同じ機能を果たし、また、基板受けを基板
から遠ざかるにつれて徐々に高くすることにより、基板
中央部の重心が基板外周部より下がることにより位置ず
れが防止される。このように本発明では、上記の構成に
より、搬送する基板の位置ずれが抑制され、安定な搬送
が可能となり、落下、クラックや欠け等の破損を有効に
防止できる。なお、基板内側の第1の基板受けに追加し
て設ける第2の基板受けは、基板外周部、基板外側のい
ずれか一方に設けることにより本発明の効果は得られ
る。また、第2の基板受けを第1の基板受けより高い位
置に設け、複数個の第2の基板受けを、基板から遠ざか
るにつれて徐々に高く設けるのが望ましいが、第1の基
板受けと第2の基板受け、複数個の第2の基板受けは同
じ高さに設けても本発明の効果は得られる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について詳細に説明する。なお、以下で説明する
図面で、同一機能を有するものは同一符号を付け、その
繰り返しの説明は省略する。
【0023】図5は本発明の一実施の形態のクラスタ型
プラズマ処理装置の概略上面図である。
【0024】11は基板仕込室、12は基板取出室、1
3a、13b、13c、13dは加熱室またはプラズマ
処理室、14は基板搬送室、10は真空搬送室14内に
備えられた真空搬送ロボット、2はロボットハンド、7
はロボットアーム、1は基板である。
【0025】図6は本発明の一実施の形態のインライン
型プラズマ処理装置の概略上面図である。
【0026】11は基板仕込室、12は基板取出室、1
3a、13b、13c、13dは加熱室またはプラズマ
処理室、14a、14bは基板搬送室、15は基板移載
室、10a、10bは真空搬送ロボット、2はロボット
ハンド、7はロボットアーム、1は基板である。
【0027】図5、図6に示すプラズマ処理装置では、
基板仕込室11にガラス基板または半導体ウェハ等の基
板1を搬入した後、当該基板仕込室11を真空に減圧
し、真空搬送ロボット10(10a、10b)により基
板1を順次加熱室またはプラズマ処理室13a〜13d
に搬送し、加熱、スパッタリング、プラズマCVD、ド
ライエッチング等の所定の処理を施した後、基板取出室
12に搬送し、当該基板取出室12内を大気圧まで戻し
て基板を搬出する。
【0028】真空搬送ロボット10(10a、10b)
は、基板搬送室14(14a、14b)内に設置され、
図示は省略するが、荒引きポンプ、ターボ分子ポンプ、
メカニカルブースタポンプ等により、所要の真空度に排
気された後、駆動される。
【0029】次に、真空搬送ロボット10(10a、1
0b)のロボットハンド2、すなわち、基板保持機構に
ついて以下詳述する。
【0030】図1(a)は本発明の一実施の形態の基板
搬送装置の基板保持部の概略上面図、(b)はその側面
図である。
【0031】1は搬送する基板、2は真空搬送ロボット
ハンド、4a、4bはロボットハンド2の基板受けホル
ダ、3a、3b、3cは合計14個の基板受け(パッ
ド)で、3aは基板1の内側の基板受けホルダ4a上に
配置され、該基板1の下面と接触し該基板1を摩擦によ
り保持する6個の基板受け(第1の基板受け)、3bは
基板1の外周部直下の基板受けホルダ4b上に配置さ
れ、該基板1の外周部の下面と接触し該基板1を摩擦に
より保持する4個の基板受け、3cは基板1の外側の基
板受けホルダ4b上に配置された4個の基板受けである
(3b、3cが第2の基板受け)。
【0032】基板受け3a、3b、3cの形状は半球状
(断面形状が半円)で、その形成材料は耐熱性のフッ素
樹脂等の合成樹脂や石英(ガラスを含む)等からなる。
【0033】図1(a)に示すように、基板1の外周部
に基板受け3bが設置され、基板1の外側に基板受け3
cが設置されており、各基板受けホルダ4bには、基板
受け3b、3cが合計2個設置されている。
【0034】また、図1(b)に示すように、基板受け
3aはすべて同じ高さに設けられ、基板受け3b、3c
は、基板受け3aより高い位置に設けられている。ま
た、基板受け3b、3cは、基板1から遠ざかるにした
がって徐々に高い位置になるように設けられている。す
なわち、端部の基板受け3a、3b、3cの最上部に接
する面が斜平面となるように設けられる。このため、基
板受けホルダ4bの上面が斜平面に形成されている。
【0035】図2(a)は基板受けホルダ4b部の拡大
詳細上面図、(b)はその側面図である。
【0036】図3(a)は別の例の基板受けホルダ4b
部の拡大詳細上面図、(b)はその側面図である。図2
と図3とは、基板受けホルダ4上の基板受け3b、3c
の配置のみ異なる。
【0037】以下、図1を用いて、本発明により基板位
置ずれを防止する作用(機能)について説明する。
【0038】ロボットハンド2により基板1を保持した
とき、基板1の内側の6個の基板受け3a、および基板
1の外周部の4個の基板受け3bは、基板1に接触し、
基板1を摩擦により保持する機能を果たしている。4個
の基板受け3bは、ここでは、その最上部よりやや内側
で基板1を保持している。4個の基板受け3bは、この
基板保持機能の他に、基板1の位置ずれに対してストッ
パの機能を果たしている。すなわち、基板1がずれるた
めには、基板受け3bの最上部を乗り越えて移動する必
要があるため、該基板受け3bが位置ずれの障壁となっ
ている。
【0039】また、基板受け3bの最上部が、基板受け
3aの最上部より高い(例えば0.5mm)位置にある
ので、図1(b)に示すごとく、基板1が下に向かって
凸形に変形し、基板外周部の高さより基板中央部の重心
が低くなるため、これによっても基板の位置ずれが防止
できる。
【0040】なお、基板1の外側の4個の基板受け3c
は、基板1と全く接触していない。また、基板受け3c
は、基板1の端面より外側で、基板1下面より上側とな
っているので、万が一、基板搬送中に、基板1の位置が
大きくずれた場合も、基板受け3bのさらに外側の基板
受け3cに基板1の端部が当ることにより、位置ずれの
進行が防止できる。すなわち、基板ストッパの機能を果
たしている基板受け3bを乗り越えた場合でも、その外
側の基板受け3cが順次ストッパの役割を果たすように
なっている。
【0041】また、従来の基板ストッパ(図7の符号
5)がなく、基板1の端面に接触するものがないので、
位置ずれが万が一生じても、基板にクラックや欠け等の
破損が起きない。
【0042】このように、回転モーメントがかかりやす
い基板外周部および外側に基板受け3b、3cを設けた
ので、基板1の位置ずれが起こりにくく、搬送中の位置
ずれに対しても、基板1の支持位置が基板受け3b、3
cと順々に変化し、基板1にクラック等の破損が発生し
にくくなっている。さらに、従来のロボットを少し改良
するだけで本発明を容易に実施することができる。
【0043】基板1が正規の位置に比較的近く保持され
た場合は、図7に示した従来の装置でも、基板受け3に
より基板位置ずれ防止効果が得られる。ただし、搬送中
に基板1がずれた場合は、前述のように、基板1の端面
が基板ストッパ5に当り、基板1の端面近傍にクラック
や欠けが発生する原因となる。
【0044】次に、基板が比較的大きくずれた場合につ
いて、図4を用い、本発明と従来技術とを比較して説明
する。
【0045】図4は基板が比較的大きく右にずれた場合
の、本発明および従来技術による基板搬送装置での搬送
の様子を示す側面図である。(a)が本発明の図1の基
板搬送装置、(b)が従来の図7の基板搬送装置の場合
を示す。
【0046】(a)の本発明の基板搬送装置では、基板
ストッパ機能は、基板1の右側の基板受け3cと、基板
1の左側の基板受け3aが果たしており、図1(b)の
正規の位置の保持状態と原理的に同じ効果を得ることが
できる。
【0047】ところが、(b)の従来の基板搬送装置の
場合は、基板1が右側の基板ストッパ5の上に乗り上げ
てしまい、基板1の左端以外は基板受け3と接しておら
ず、基板1は基板ストッパ5上を滑べりやすく、非常に
不安定であり、さらなる位置ずれや落下を起こす可能性
が大きい。
【0048】このような従来技術における問題は、基板
1の端部付近の基板受け3と基板ストッパ5の構成が不
連続、つまり、基板受け3と基板ストッパ5との段差が
大きく、基板ストッパ5が角柱状である構成に起因す
る。
【0049】基板の基板ストッパ5への乗り上げを防止
するためには、基板1と基板ストッパ5との間隙を大き
くすればよいが、これでは基板位置ずれの許容値を大き
くすることになり、基板ストッパ5の本来の効果が得に
くくなる。
【0050】本発明の効果を検証するために、図1の基
板搬送装置を具備する図5のクラスタ型プラズマ処理装
置において、基板1として、550mm×650mmサ
イズ、厚さ0.7mmのLCD製造用ガラス基板を10
0枚搬送した手順について説明する。なお、本テストの
目的は、搬送の安定性の検証であるため、基板1上に成
膜を施さないで行った。
【0051】まず第1に、基板仕込室11から1枚目の
基板1を搬入し、真空に減圧した後、真空搬送ロボット
10を用いて加熱室13aに基板1を搬送した。
【0052】第2に、加熱室13aにおいて、基板1を
約300℃に加熱した。
【0053】第3に、真空搬送ロボット10を用いて、
加熱室13aからプラズマ処理室13bに基板1を搬送
した。
【0054】第4に、真空搬送ロボット10を用いて、
プラズマ処理室13bからプラズマ処理室13dに基板
1を搬送した。
【0055】第5に、真空搬送ロボット10を用いて、
プラズマ処理室13dから基板取出室12に基板1を搬
送した。
【0056】第6に、基板取出室12において、基板1
を約100℃に冷却されるまで保持した。
【0057】第7に、基板取出室12内を大気圧に戻し
て、基板1を搬出した。
【0058】次に、2枚目の基板に関しては、上記手順
第3の搬送先および第4の搬送元をプラズマ処理室13
cとした。また、3枚目以降は、プラズマ処理室13b
と13cとを交互に搬送することにした。
【0059】この搬送テストを、基板1の搬入を120
秒毎に行い、合計100枚ほど実施し、基板1の位置ず
れや破損に関して調査した。
【0060】図1の基板搬送装置を具備した図5のプラ
ズマCVD装置の場合、100枚の搬送テストで、基板
破損は発生しなかった。
【0061】また、大気圧に戻した時点での基板位置の
変動幅は、最大4.5mm(左右±2.3mm)であっ
た。この値は、加熱された基板1の熱が真空搬送ロボッ
ト10に伝わることにより、ロボットアーム7が熱膨張
を起こし、位置ずれが発生することを考慮すると、搬送
の基板保持機能による基板位置ずれはほとんど発生しな
いと考えられる。
【0062】同様のテストを図7の従来の基板搬送装置
を具備した同様のプラズマCVD装置において実施した
ところ、79枚目の基板が20mm以上も大きくずれた
ため、搬送テストを中止した。それまでの78枚の基板
の位置変動幅も、最大12mm(左右±6mm)であっ
た。
【0063】さらに、図1の基板搬送装置を具備した図
6のインライン型プラズマCVD装置の場合において
も、上記と同様の効果が確認された。
【0064】以上本発明を実施の形態に基づいて具体的
に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変
更可能であることは勿論である。例えば、ロボットハン
ド2上の基板受け3a、3b、3cの配列、数や、真空
搬送ロボット10自体の構造が異なる場合にも本発明は
有効である。また、図1〜3において基板受け3cの外
側にも同様の基板受けを設けてもよい。その場合、その
最上部が基板受け3cの最上部よりさらに高くなるよう
に設けるのがよい。また、基板内側の基板受け3aに追
加して設ける基板受け3b、3cは、基板外周部、基板
外側のいずれか一方に設けることにより本発明の効果は
得られる。また、基板受け3b、3cを基板受け3aよ
り高い位置に設け、基板受け3b、3cを基板1から遠
ざかるにつれて徐々に高く設けるのが望ましいが、基板
受け3aと基板受け3b、3c、基板受け3bと基板受
け3cとは同じ高さに設けても本発明の効果は得られ
る。さらに、本発明は、上記液晶表示パネル製造用のガ
ラス基板の搬送に限るものではなく、半導体ウェハへの
スパッタリング成膜装置、プラズマCVD装置、あるい
はドライエッチング装置、その他のプラズマ利用装置や
半導体製造装置にも同様に適用して大きな効果が得られ
る。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板位置ずれを防止し、安定した搬送が可能となり、基
板落下や基板破損が低減できる基板搬送装置およびプラ
ズマ処理装置を提供することができる。したがって、製
品歩留りの向上、基板ずれや破損対処のためのロスタイ
ムの低減、装置稼動率の向上を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の基板搬送装置の基板保
持部の概略上面図、(b)はその側面図である。
【図2】(a)は基板受けホルダ4b部の拡大詳細上面
図、(b)はその側面図である。
【図3】(a)は別の例の基板受けホルダ4b部の拡大
詳細上面図、(b)はその側面図である。
【図4】基板が比較的大きく右に位置ずれを起こした場
合の、(a)本発明および(b)従来の基板搬送装置で
の搬送の様子を示す側面図である。
【図5】本発明の一実施の形態のクラスタ型プラズマ処
理装置の概略上面図である。
【図6】本発明の一実施の形態のインライン型プラズマ
処理装置の概略上面図である。
【図7】(a)は従来の基板搬送装置の基板保持部の概
略上面図、(b)はその側面図である。
【符号の説明】
1…基板、2…真空搬送ロボットハンド、3a、3b、
3c…基板受け、4a、4b…基板受けホルダ、7…ロ
ボットアーム、10、10a、10b…真空搬送ロボッ
ト、11…基板仕込室、12…基板取出室、13a、1
3b、13c、13d…加熱室またはプラズマ処理室、
14、14a、14b…基板搬送室、15…基板移載
室。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成9年12月25日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】減圧下で基板を搬送する基板搬送装置にお
    いて、搬送する基板の内側に、該基板の下面と接触する
    複数個の第1の基板受けを設け、基板の外周部、基板の
    外側の少なくとも一方に、複数個の第2の基板受けを設
    けたことを特徴とする基板搬送装置。
  2. 【請求項2】上記第2の基板受けを、上記第1の基板受
    けより高い位置に設けたことを特徴とする請求項1記載
    の基板搬送装置。
  3. 【請求項3】上記第2の基板受けを、基板から遠ざかる
    にしたがって徐々に高い位置に設けたことを特徴とする
    請求項1または2記載の基板搬送装置。
  4. 【請求項4】減圧下で基板を搬送する基板搬送装置にお
    いて、搬送する基板の内側に、該基板の下面と接触する
    複数個の第1の基板受けを設け、基板の外周部直下、基
    板の外側の少なくとも一方の、上記第1の基板受けより
    高い位置に、複数個の第2の基板受けを設けたことを特
    徴とする基板搬送装置。
  5. 【請求項5】上記第2の基板受けを、基板から遠ざかる
    にしたがって徐々に高い位置に設けたことを特徴とする
    請求項4記載の基板搬送装置。
  6. 【請求項6】上記基板受けの形状が、球の一部であるこ
    とを特徴とする請求項1または4記載の基板搬送装置。
  7. 【請求項7】上記基板受けが合成樹脂または石英からな
    ることを特徴とする請求項1または4記載の基板搬送装
    置。
  8. 【請求項8】減圧下で基板を搬送する基板搬送装置を具
    備するプラズマ処理装置において、搬送する基板の内側
    に、該基板の下面と接触する複数個の第1の基板受けを
    設け、基板の外周部直下、基板の外側の少なくとも一方
    の、上記第1の基板受けより高い位置に、複数個の第2
    の基板受けを設けたことを特徴とするプラズマ処理装
    置。
  9. 【請求項9】上記第2の基板受けを、基板から遠ざかる
    にしたがって徐々に高い位置に設けたことを特徴とする
    請求項8記載のプラズマ処理装置。
JP33415397A 1997-12-04 1997-12-04 基板搬送装置およびプラズマ処理装置 Pending JPH11168129A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33415397A JPH11168129A (ja) 1997-12-04 1997-12-04 基板搬送装置およびプラズマ処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33415397A JPH11168129A (ja) 1997-12-04 1997-12-04 基板搬送装置およびプラズマ処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11168129A true JPH11168129A (ja) 1999-06-22

Family

ID=18274135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33415397A Pending JPH11168129A (ja) 1997-12-04 1997-12-04 基板搬送装置およびプラズマ処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11168129A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100731602B1 (ko) * 2000-05-27 2007-06-22 주성엔지니어링(주) Lcd 제조용 클러스터 장비 및 그 작동방법
US7641247B2 (en) 2002-12-17 2010-01-05 Applied Materials, Inc. End effector assembly for supporting a substrate
KR100968725B1 (ko) * 2007-11-19 2010-07-08 주식회사 테스 기판 반송용 블레이드 및 이를 구비하는 기판 반송 장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100731602B1 (ko) * 2000-05-27 2007-06-22 주성엔지니어링(주) Lcd 제조용 클러스터 장비 및 그 작동방법
US7641247B2 (en) 2002-12-17 2010-01-05 Applied Materials, Inc. End effector assembly for supporting a substrate
KR100968725B1 (ko) * 2007-11-19 2010-07-08 주식회사 테스 기판 반송용 블레이드 및 이를 구비하는 기판 반송 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20080025835A1 (en) Bernoulli wand
TWI470722B (zh) 基板搬送機構、基板處理裝置及半導體裝置之製造方法
TWI246142B (en) Semiconductor processing system and transfer apparatus for the same
JP2008297584A (ja) 成膜装置
TWI668786B (zh) 基板搬送裝置及基板搬送方法
JP2009094242A (ja) 基板保持機構、基板受渡機構、及び基板処理装置
KR100581418B1 (ko) 얼라인먼트 처리기구 및 그것을 사용한 반도체 처리장치
US9368384B2 (en) Substrate conveying method, recording medium in which program is recorded for causing substrate conveying method to be executed, and substrate conveyor
JP2002261148A (ja) 処理システム及び被処理体の予熱方法
KR20170016291A (ko) 접합 장치, 접합 시스템, 접합 방법 및 컴퓨터 기억 매체
JP4109733B2 (ja) 基板搬送システム及び半導体製造装置
JP2001233452A (ja) 薄板状材の定点搬送装置
TWI408094B (zh) 真空裝置、基板搬送方法
JPH11168129A (ja) 基板搬送装置およびプラズマ処理装置
JP2002353291A (ja) 基板搬送装置
JP2003068824A (ja) 吸着保持器、搬送装置、基板の搬送方法、及び、電気光学装置の製造方法
JPH06247507A (ja) 搬送アーム
JPH05100199A (ja) 搬送アーム
JP2639424B2 (ja) 搬送方法
KR20210118950A (ko) 자동화된 뱃치 생산 박막 증착 시스템 및 그 사용 방법
JP4227235B2 (ja) 基板処理装置
JP3082148B2 (ja) 複合型ウェハ処理装置
JP3806272B2 (ja) マルチチャンバ型真空処理システム及び基板搬送装置
JPH0529431A (ja) 基板搬送用アーム
JPH09115996A (ja) カセットの搬送および保管方法ならびに該方法に用いる搬送装置