JPH11160254A - コンプトン散乱放射線撮影装置 - Google Patents

コンプトン散乱放射線撮影装置

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JPH11160254A
JPH11160254A JP34451797A JP34451797A JPH11160254A JP H11160254 A JPH11160254 A JP H11160254A JP 34451797 A JP34451797 A JP 34451797A JP 34451797 A JP34451797 A JP 34451797A JP H11160254 A JPH11160254 A JP H11160254A
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JP
Japan
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detector
radiation
generator
scattered radiation
compton scattering
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JP34451797A
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Hiroshi Miyamoto
宏 宮本
Takuichi Imanaka
拓一 今中
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Non Destructive Inspection Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来に比較してより深部を撮影することの可
能なコンプトン散乱放射線撮影装置を提供すること。 【解決手段】 放射線の発生器2及びこの放射線に起因
するコンプトン散乱放射線R2の検出器3を備える。発
生器2及び検出器3のコリメーター2a,3aにおける
各スリット2b,3bの中心軸R3,R4を交差させて
これら発生器2及び検出器3をそれらの相対位置が一定
となるように配置する。コンクリートC1内に格子状の
鉄筋C2,C3を有する鉄筋コンクリート構造物Cの表
面C4に検出器3の中心軸R4をほぼ直交させると共に
検出器3と表面C4とを所望の距離に保ちつつ発生器2
及び検出器3を表面C4に沿って走査する走査装置を備
える。構造物Cは、その表面C4が平面状又はほぼ一定
の曲率を有するものであることが望ましい。撮影対象部
Tからコンプトン散乱に起因して得られる散乱放射線R
2により構造物Cの内部を撮影する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば鉄筋コンク
リート構造物の鉄筋、空洞、材木等の異物を撮影するに
適したコンプトン散乱放射線撮影装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、コンプトン散乱放射線撮影装置に
関する先行文献としては、例えば、特開昭63−701
53号公報に記載のものが知られている。同公報によれ
ば、放射線源から物体に一次ビームを照射し、放射線源
とは物体を挟んで反対側の位置に一次検出器を配置し
て、物体を透過した一次ビームを検出している。また、
物体からの散乱放射線を捉える二次検出器を放射線源と
同じ側に配置している。放射線源及び一次検出器は検査
領域の中心周りに回転しかつ水平移動する。二次検出器
もおそらく一次検出器と同様に回転又は水平移動すると
推察される。
【0003】同撮影装置を用いて平板状の物体を撮影す
るのであれば、一次ビームは平板状の物体表面に垂直に
交差することとなるであろう。円柱状の物体を撮影する
場合も同様である。
【0004】一方、上記公報の如き放射線源と散乱放射
線の検出器とを用いて、コンプトン散乱により構造体壁
の内部を撮影する撮影装置も知られている。同装置にお
いても、放射線源から発せられる一次ビームの中心線を
構造体壁の表面にほぼ直交させ、放射線源と検出器とを
共に壁の表面に沿って走査させている。
【0005】しかし、上述の如き従来構成の撮影装置で
は、検出器の中心線・すなわち撮影に寄与する散乱放射
線が壁表面に斜めに放出されることとなり、大幅に減衰
していた。その結果、例えば鉄筋コンクリート壁の内部
撮影を行おうとしても、鉄筋の入った深部等を撮影する
のは非常に困難であった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来の実状に鑑
みて、本発明の目的は、従来に比較してより深部を撮影
することの可能なコンプトン散乱放射線撮影装置を提供
することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るコンプトン散乱放射線撮影装置の特徴
は、放射線の発生器及びこの放射線に起因するコンプト
ン散乱放射線の検出器を備え、これら発生器及び検出器
はコリメーターを各々有しており、これら両コリメータ
ーにおける各スリットの中心軸を交差させてこれら発生
器及び検出器をそれらの相対位置が一定となるように配
置し、表面が平面状又はほぼ一定の曲率を有する被検査
体の前記表面に前記検出器の前記中心軸をほぼ直交させ
ると共に前記検出器と前記表面とを所望の距離に保ちつ
つ前記発生器及び検出器を前記表面に沿って走査する走
査装置を備え、前記散乱放射線により前記被検査体内部
を撮影することにある。
【0008】同特徴によれば、両コリメーターにおける
各スリットの中心軸を交差させてこれら発生器及び検出
器をそれらの相対位置が一定となるように配置すること
で、中心軸の交差部分が撮影対象部となる。「表面が平
面状又は一定の曲率を有する被検査体」とは、例えば平
面状の壁や円柱状の構造柱の他、曲率が大きくて照射放
射線及び散乱放射線の光路長に殆ど影響を与えない程度
の自由曲面をも含む。「被検査体の表面に検出器の中心
軸をほぼ直交させつつ走査装置で発生器及び検出器を表
面に沿って走査する」のであるから、散乱放射線は撮影
対象部と被検査体の表面との最短距離を通って検出器に
向かうこととなる。したがって、微弱な散乱放射線の減
衰が最低限に抑制されることとなる。これに対し、照射
放射線はエネルギーが高く散乱放射線に比較して被検査
体内での減衰度が低いので、光路長(放射線の通る経路
長)が多少増大しても影響は小さい。しかも、走査装置
は「検出器と表面とを所望の距離に保ちつつ発生器及び
検出器を表面に沿って走査する」のであるから、照射放
射線及び散乱放射線の被検査体内での光路長はほぼ一定
であり、撮影感度は撮影面全面において一様となる。
【0009】また、上記特徴構成に加え、本発明の他の
特徴構成は、前記各コリメーターが前記両中心軸を含む
平面に直交する方向に広がりを有しており、前記検出器
における前記散乱放射線の検出部を前記直交する方向に
複数個配置し、前記検出器における前記コリメーターの
前記スリットに前記各検出部間を仕切る前記散乱放射線
の仕切を設けたことにある。
【0010】同他の特徴構成によれば、「各コリメータ
ーが両中心軸を含む平面に直交する方向に広がりを有し
ており、検出器における散乱放射線の検出部を前記直交
する方向に複数個配置してある」ので、複数の検出器に
より幅広い領域を一度に走査できるので、撮影時間の短
縮が可能となる。しかも、「散乱放射線の仕切」は、
「検出器におけるコリメーターのスリットにおいて各検
出部間を仕切る」のであるから、各検出部に対応する撮
影対象部以外の散乱線を除去する。
【0011】
【発明の効果】このように、上記本発明に係るコンプト
ン散乱放射線撮影装置の特徴によれば、減衰度の低い照
射放射線の被検査体内における光路長を長くする分、エ
ネルギーの低下した減衰度の大きな散乱放射線の被検査
体内における光路長を短くすることで、散乱放射線の減
衰を最低限に抑制し、より深い部分を撮影することが可
能となった。
【0012】また、上記他の特徴によれば、複数の撮影
部を用いて撮影時間を短縮すると共に、仕切で各検出部
に対応する撮影対象部以外の散乱線を除去することによ
り、鮮明な画像を得ることが可能となった。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、図1〜図4を参照しなが
ら、本発明の第一実施形態について説明する。なお、こ
の第一実施形態における被検査体は鉄筋コンクリート壁
Cであり、撮影装置1は、コンクリート内部に埋め込ま
れた鉄筋を散乱放射線により透過撮影する事を目的とし
ている。これらの鉄筋は、鉄筋コンクリート壁C1内に
おいて複数本の縦鉄筋C2と横鉄筋C3とを格子状に直
交配置してなるものである。
【0014】図3及び図4に示すように、撮影装置1は
発生器2及び検出器3と、これら発生器2及び検出器3
を鉄筋コンクリート壁Cの構造物表面C4に沿って走査
するための走査装置10とを備えている。また、図示し
ないが、撮影装置1は発生器2のための電源装置と検出
器3の画像処理及び可視化装置と制御装置とを備えてい
る。
【0015】図1〜4におけるX軸は構造物表面C4に
沿う水平方向、Y軸は構造物表面C4に直交する水平方
向、Z軸は構造物表面C4に沿う上下(鉛直)方向を示
している。また、これらX、Y、Z軸は互いに直交して
いる。
【0016】走査装置10の基部は、基台11の両側に
構造物表面C4と直交する姿勢で一対の横ガイド12,
12を設けると共に、これら横ガイド12,12の間に
構造物表面C4に対する接当板13を設けてなる。発生
器2、検出器3、第二テーブル17及び第三テーブル1
8は第一テーブル16上に載置してある。2本の昇降装
置15,15はこれら載置した部材を構造物表面C4に
沿って上下方向であるZ軸方向に移動させる。第二テー
ブル17は、第一テーブル16に対し3本の突起と溝よ
りなるY軸スライド手段19及び図示しない駆動装置に
よって構造物表面C4に直交するY軸方向に相対移動す
る。さらに、第三テーブル18は、2本の突起と溝とよ
りなるX軸スライド手段20より構造物表面C4に沿い
ながら第二テーブル17に対しX軸方向へ相対移動可能
となっている。
【0017】発生器2及び検出器3は、角度調節可能な
状態で第三テーブル18上に相対位置が一定となるよう
に取り付けられている。そして、昇降装置15、Y軸ス
ライド手段19及びX軸スライド手段20は、撮影対象
部Tの深さを調節すると共に、構造物表面C4に沿って
発生器2及び検出器3を走査させる。
【0018】図1,2に示すように、発生器2はスリッ
ト2bを有する発生側コリメーター2aに焦点2cを設
けてなる。焦点2cは、実際には放射性同位元素やター
ゲットにより構成されているが、同図では模式的に描い
てある。スリット2bは、図1のX−Y平面において幅
狭となっている。しかし、図2(b)に示すように、Y
−Z平面においてスリット2bはZ軸方向へ扇形に広が
る形状となっている。
【0019】一方、検出器3は、スリット3bを有する
検出側コリメーター3aに検出部であるシンチレーター
3c及び光電子増倍管3dを複数個設けてなる。なお、
シンチレーター3c及び光電子増倍管3dの代わりに半
導体検出器を複数個設けてもよい。スリット3bは、ス
リット2b同様図1のX−Y平面では幅狭となっている
が、図2(b)のY−Z平面ではZ軸方向に対して幅広
となっている。また、先のシンチレーター3c及び光電
子増倍管3dは、Z軸方向に対し複数個並べてあり、さ
らに各シンチレーター3cの間を仕切る散乱放射線R2
の仕切3eをスリット3b内に設けてなる。
【0020】発生器2及び検出器3は、スリット2bの
中心軸である発生側中心軸R3及びスリット3bの中心
軸である検出側中心軸R4を一定の角度φをなすように
互いに交差させて先の第三テーブル18上に固定してあ
る。すなわち、発生器2及び検出器3におけるスリット
2b,3bの相対配置により鉄筋コンクリート壁C内に
おける撮影対象部Tの位置を特定している。また、検出
側中心軸R4を構造物表面C4に直交させて散乱放射線
R2のコンクリート部C1内における光路長(経路長)
M2を最短にしている。図1のX−Y平面は、発生側中
心軸R3及び検出側中心軸R4を含んでいる。上述した
通りこのX−Y平面に直交するZ軸方向に対してスリッ
ト2b,3bは広がりを有しており、Z軸方向に対する
幅を持った状態で構造物表面C4に沿って走査を行うこ
とで、効率よい撮影が可能となる。
【0021】スリット2bにより絞り込まれた照射放射
線R1は、シンチレーター3c内を透過すると共に各部
位で散乱する。スリット2b及び3bの相対関係により
撮影に寄与する放射線の経路は、焦点2c及びシンチレ
ーター3cと撮影対象部Tとをそれぞれ結ぶ符号R1,
R2となる。照射放射線R1の全長L1のうち符号L2
はコンクリート部C1内の光路長である。コンクリート
部C1内における照射側光路長L2=xとすると、散乱
側光路長M2=xcosφとなる。入射時強度Ioの照射
放射線R1が光路長L2=xのコンクリート部内におい
て線吸収係数μ1で吸収された結果として、撮影対象部
Tでの強度をI1とすると、I1は次式により表され
る。
【0022】
【数1】 また、Noをコンクリート部C1又は鉄筋C2,C3の
単位体積当たりの電子数とし、dσ/dΩを微分散乱断
面積とすると、撮影対象部Tから検出器3方向へ散乱さ
れる割合Rは、次式の通りとなる。
【0023】
【数2】 さらに、撮影対象部Tから散乱放射線R2が光路長M2
=xcosφのコンクリート部において線吸収係数μ2で
吸収された結果としての強度をI2とすると、I2は次
式により表される。
【0024】
【数3】 そして、上記式(1)〜(3)より、I2とIoとの関
係は次式により表される。
【0025】
【数4】 一方、入射放射線のエネルギーをEγ、角度(π−φ)
方向へのコンプトン散乱による反射放射線のエネルギー
をEγ'とすると、Eγ'は次式により表示される。
【0026】
【数5】 かかるコンプトン散乱によるエネルギー低下に起因し
て、光路長M2における散乱側線吸収係数μ2は、光路
長L2における照射側線吸収係数μ1よりも大となる。
よって、式(4)に示すように、従来方式に比較して、
本発明では照射側線吸収係数μ1よりも大となる散乱側
線吸収係数μ2に1未満のcosφが掛け合わされるた
め、その分だけ強度I2の値も大となり、撮像の画質も
向上する。なお、コンクリート又は鉄筋により上記各式
のNoが異なるため、強度I2の強弱として撮影対象部
Tの透過撮影が可能となる。線束密度向上のため、全光
路長L1,M1はできるだけ小さいことが望ましい。
【0027】ここで、先のY軸スライド手段19の調節
によりシンチレーター3cと撮影対象部TとのY軸方向
に対する深さM1を所望の距離に特定することで撮影対
象部Tと焦点2cとの深さL1をも同時に所望の距離に
特定できる。従って、照射放射線R1及び散乱放射線R
2のコンクリート部C1内における光路長L2、M2も
一定となり、これらによりコンクリート部C1内での減
衰は一定となる。その結果、散乱線による画像も均一な
画像となる。
【0028】使用に際しては、先のY軸スライド手段1
9の調節により、撮影対象部Tの深さM2を特定する。
次に、X軸スライド手段20により構造物表面C4をX
軸方向に走査する。さらに、X軸方向の走査が一度終了
すると直交方向Dに対する撮影対象部Tの幅分だけ昇降
装置15を確保させる。以下、同様の走査を繰り返す。
この操作により特定深さの二次元画像を得ることができ
る。
【0029】次に、図5〜図7を参照しながら本発明の
第二実施形態について説明する。なお、先と同様の部材
には同様の符号を付してあるものとする。先の実施形態
においては、被検査体として鉄筋コンクリート壁を用い
たが、本実施形態では被検査体として鉄筋コンクリート
支柱Cを用いている。また、検出器3はその検出側中心
軸R4が構造物表面C4の表面に直交するように設置さ
れている。本実施形態における移動装置30は、発生側
中心軸R3に対する検出側中心軸R4と構造物表面C4
とが常に直交するように発生器2及び検出器3を構造物
表面C4に沿って移動させるものである。
【0030】移動装置30は、床スラブ上に載置する基
台31上に複数の昇降装置32をもって第一テーブル3
3を円弧状の第一テーブル33を上下移動、すなわちZ
軸方向に対し移動可能に支持している。また、第一テー
ブル33上には2本の円弧状の突起及び溝よりなる第一
スライド手段36,36をもって第二テーブル34をC
の中心軸周りに摺動可能に取り付けてある。さらに、第
二テーブル34上には、一対の突起及び溝よりなる第二
スライド手段37,37をもって第三テーブル35を鉄
筋コンクリート支柱Cに対し、近接及び離隔移動可能に
支持してある。この第二スライド手段37を介する移動
によっても検出側中心軸R4と構造物表面C4との直交
状態は変化しないように検出器3と第二スライド手段3
7の関係が設定されている。
【0031】撮影に際しては、先と同様第二スライド手
段37を介して撮影対象部Tとの深さである全光路長M
1を調節することにより散乱側のコンクリート部C1内
における光路長M2を特定する。ついで、第一スライド
手段36に沿って発生器2及び検出器3により構造物表
面C4の表面を走査し、一度の走査が終了すると先の撮
影対象部TにおけるZ軸方向に対する撮影対象部Tの幅
分だけ昇降装置32を上昇ないし下降させ、以下同様の
走査を繰り返す。
【0032】最後に、本発明のさらに他の実施の形態の
可能性について説明する。上記各実施形態では、被検査
体として鉄筋コンクリート構造物を用いたが、本発明の
検査対象はこれに限られたものではない。例えば、ハニ
カム構造物などを検査することも可能である。
【0033】上記各実施形態では、被検査物の表面が平
面状又は曲率一定な円柱状であったが、発生器2及び検
出器3の距離に対する曲率の変動が小さい限り走査装置
10曲面の検査も可能である。なぜなら、上述のコンク
リート部C1内における光路長M2、L2の変動が小さ
ければ撮影感度は大幅に変更せず、従って安定した画像
を得ることも可能となるからである。
【0034】なお、特許請求の範囲の項に記入した符号
は、あくまでも図面との対照を便利にするためのものに
すぎず、該記入により本発明は添付図面の構成に限定さ
れるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】発生器2,検出器3及び鉄筋コンクリート壁C
の関係を示すX−Y平面での切断断面図である。
【図2】(a)は図1におけるA−A線断面図、(b)
は図1におけるB−B線断面図である。
【図3】本発明にかかる撮影装置1と鉄筋コンクリート
壁Cとの関係を示す平面図である。
【図4】撮影装置1の正面図である。
【図5】本発明の第二実施形態を示す図1相当図であ
る。
【図6】本発明の第二実施形態にかかる撮影装置1の平
面図である。
【図7】図6の正面図である。
【符号の説明】
C 鉄筋コンクリート壁(被検査体) C1 コンクリート部 C2 縦鉄筋 C3 横鉄筋 C4 構造物表面 R1 照射放射線 R2 散乱放射線 R3 発生側中心軸 R4 検出側中心軸 T 撮影対象部 1 撮影装置 2 発生器 2a 発生側コリメーター 2b スリット 2c 焦点 3 検出器 3a 検出側コリメーター 3b スリット 3c シンチレーター 3d 光電子増倍管 3e 仕切 10 走査装置 11 基台 12 横ガイド 13 接当板 15 昇降装置(Z軸駆動機構) 16 第一テーブル 17 第二テーブル 18 第三テーブル 19 Y軸スライド手段 20 X軸スライド手段 30 移動装置 31 基台 32 昇降装置 33 第一テーブル 34 第二テーブル 35 第三テーブル 36 第一スライド手段 37 第二スライド手段

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線の発生器(2)及びこの放射線に
    起因するコンプトン散乱放射線(R2)の検出器(3)
    を備え、これら発生器(2)及び検出器(3)はコリメ
    ーター(2a,3a)を各々有しており、これら両コリ
    メーター(2a,3a)における各スリット(2b,3
    b)の中心軸(R3,R4)を交差させてこれら発生器
    (2)及び検出器(3)をそれらの相対位置が一定とな
    るように配置し、表面(C4)が平面状又はほぼ一定の
    曲率を有する被検査体(C)の前記表面(C4)に前記
    検出器(3)の前記中心軸(R4)をほぼ直交させると
    共に前記検出器(3)と前記表面(C4)とを所望の距
    離に保ちつつ前記発生器(2)及び検出器(3)を前記
    表面(C4)に沿って走査する走査装置(10)を備
    え、前記散乱放射線(R2)により前記被検査体(C)
    内部を撮影するコンプトン散乱放射線撮影装置。
  2. 【請求項2】 前記各コリメーター(2a,3a)が前
    記両中心軸(R3,R4)を含む平面に直交する方向
    (Z)に広がりを有しており、前記検出器(3)におけ
    る前記散乱放射線(R2)の検出部(3c,3d)を前
    記直交する方向(Z)に複数個配置し、前記検出器
    (3)における前記コリメーター(3a)の前記スリッ
    ト(3b)に前記各検出部(3c,3d)間を仕切る前
    記散乱放射線(R2)の仕切(3e)を設けてある請求
    項1に記載のコンプトン散乱放射線撮影装置。
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