JPH11154469A - Ｔｖ用ガラスパネルの金属ピンの欠陥検査方法及び装置 - Google Patents
Ｔｖ用ガラスパネルの金属ピンの欠陥検査方法及び装置Info
- Publication number
- JPH11154469A JPH11154469A JP31865997A JP31865997A JPH11154469A JP H11154469 A JPH11154469 A JP H11154469A JP 31865997 A JP31865997 A JP 31865997A JP 31865997 A JP31865997 A JP 31865997A JP H11154469 A JPH11154469 A JP H11154469A
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- Japan
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- panel
- metal pin
- light source
- hole
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- Pending
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ＴＶ用ガラスパネルに封着された金属ピンの貫
通孔欠陥を、手鏡又は触手等の外観検査なしに自動検出
する。 【解決手段】ＴＶ用ガラスパネル６のスカート部１に封
着された金属ピン７の中心軸Ｌの延長上において、パネ
ルの内部に散乱光源３、パネルの外部に撮像カメラ２を
配置し、貫通孔欠陥８による透過光を外部からガラス越
しに前記撮像カメラで撮像することにより貫通孔欠陥を
検出する。
通孔欠陥を、手鏡又は触手等の外観検査なしに自動検出
する。 【解決手段】ＴＶ用ガラスパネル６のスカート部１に封
着された金属ピン７の中心軸Ｌの延長上において、パネ
ルの内部に散乱光源３、パネルの外部に撮像カメラ２を
配置し、貫通孔欠陥８による透過光を外部からガラス越
しに前記撮像カメラで撮像することにより貫通孔欠陥を
検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＴＶ用ガラスパネ
ルに封着された金属ピンの貫通孔欠陥の検査に関する。
ルに封着された金属ピンの貫通孔欠陥の検査に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＴＶ用ガラスパネルのスカート部の内面
には、シャドウマスクを支持するためのピンが通常３個
又は４個封着される。通常このピンとしては中空椀状の
金属ピンが用いられ、この金属ピンにはその製造時又は
ガラスパネルへの封着時に小さな貫通孔が明くことがあ
る。この貫通孔が封着された金属ピンの露出部に発生す
ると、陰極線管の製造工程又はその後の陰極線管に悪影
響を与えるため、封着後に外観検査が行われる。
には、シャドウマスクを支持するためのピンが通常３個
又は４個封着される。通常このピンとしては中空椀状の
金属ピンが用いられ、この金属ピンにはその製造時又は
ガラスパネルへの封着時に小さな貫通孔が明くことがあ
る。この貫通孔が封着された金属ピンの露出部に発生す
ると、陰極線管の製造工程又はその後の陰極線管に悪影
響を与えるため、封着後に外観検査が行われる。
【０００３】従来、この外観検査を行う場合、貫通孔欠
陥が死角に入るため目視検査がきわめて困難であり、補
助的手段として手鏡や触手などが用いられる。また、こ
れらに代わる検査方法として、一般に画像処理を応用す
ることが提案されているが、次の理由により実用化が困
難であった。
陥が死角に入るため目視検査がきわめて困難であり、補
助的手段として手鏡や触手などが用いられる。また、こ
れらに代わる検査方法として、一般に画像処理を応用す
ることが提案されているが、次の理由により実用化が困
難であった。
【０００４】すなわち、画像処理による突起形物体の全
周検査は、一般に複数のカメラを直接周囲に配置する
か、カメラ又は被検体の一方を回転させなければならな
いため、いずれも広い装置化スペース又は複雑な回転機
構が必要となり、これをガラスパネル内側の限られた空
間に装置として組み込むことが難しい。また、画像処理
による検査方法は一般に汚れ及び被検体の表面状態の影
響を受けるため、表面の清浄化等の前処理を行ったり、
これらを欠陥と区別して除くための複雑な処理プログラ
ムを必要とする。
周検査は、一般に複数のカメラを直接周囲に配置する
か、カメラ又は被検体の一方を回転させなければならな
いため、いずれも広い装置化スペース又は複雑な回転機
構が必要となり、これをガラスパネル内側の限られた空
間に装置として組み込むことが難しい。また、画像処理
による検査方法は一般に汚れ及び被検体の表面状態の影
響を受けるため、表面の清浄化等の前処理を行ったり、
これらを欠陥と区別して除くための複雑な処理プログラ
ムを必要とする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ＴＶ
用ガラスパネルのスカート部の内面に封着された中空椀
状の金属ピンの貫通孔を、目視検査又は触手によらずに
自動検出することであり、さらに従来必要であった複数
のカメラ、又はカメラ若しくは被検体の一方を回転させ
る機構を必要とせずに、被検体外部に固定したカメラで
自動検出しようとするものである。
用ガラスパネルのスカート部の内面に封着された中空椀
状の金属ピンの貫通孔を、目視検査又は触手によらずに
自動検出することであり、さらに従来必要であった複数
のカメラ、又はカメラ若しくは被検体の一方を回転させ
る機構を必要とせずに、被検体外部に固定したカメラで
自動検出しようとするものである。
【０００６】本発明の他の目的は、検査の際に金属ピン
の外観画像を必要としないようにして、金属ピンの表面
状態及び汚れの影響を受けることなく検査可能にするこ
とにある。
の外観画像を必要としないようにして、金属ピンの表面
状態及び汚れの影響を受けることなく検査可能にするこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、ＴＶ用ガラス
パネルのスカート部の内面に封着された中空椀状の金属
ピンの貫通孔を検出する検査方法であって、該金属ピン
の中心軸の延長上において、前記パネルの内部に金属ピ
ンを投射できるように散乱光源を設け、かつパネルの外
部に金属ピンと相対向して撮像カメラを配置し、金属ピ
ンの貫通孔を通って集光する前記光源からの投射光をパ
ネル外部から該撮像カメラで撮像することにより、金属
ピンの貫通孔を検出することを特徴とするＴＶ用ガラス
パネルの金属ピンの欠陥検査方法を提供する。
パネルのスカート部の内面に封着された中空椀状の金属
ピンの貫通孔を検出する検査方法であって、該金属ピン
の中心軸の延長上において、前記パネルの内部に金属ピ
ンを投射できるように散乱光源を設け、かつパネルの外
部に金属ピンと相対向して撮像カメラを配置し、金属ピ
ンの貫通孔を通って集光する前記光源からの投射光をパ
ネル外部から該撮像カメラで撮像することにより、金属
ピンの貫通孔を検出することを特徴とするＴＶ用ガラス
パネルの金属ピンの欠陥検査方法を提供する。
【０００８】さらに、本発明はＴＶ用ガラスパネルのス
カート部の内面に封着された中空椀状の金属ピンの貫通
孔を検出する検査装置であって、前記パネルの内部に金
属ピンを投射できるように設けた散乱光源とパネルの外
部に金属ピンと相対向して配置した撮像カメラとを具備
し、これら散乱光源と撮像カメラは前記金属ピンの中心
軸と光学的に整列されており、金属ピンの貫通孔を通っ
て集光する前記光源からの投射光を該撮像カメラでパネ
ル外部から撮像することにより、金属ピンの貫通孔を検
出するように構成したことを特徴とするＴＶ用ガラスパ
ネルの金属ピンの欠陥検査装置を提供する。
カート部の内面に封着された中空椀状の金属ピンの貫通
孔を検出する検査装置であって、前記パネルの内部に金
属ピンを投射できるように設けた散乱光源とパネルの外
部に金属ピンと相対向して配置した撮像カメラとを具備
し、これら散乱光源と撮像カメラは前記金属ピンの中心
軸と光学的に整列されており、金属ピンの貫通孔を通っ
て集光する前記光源からの投射光を該撮像カメラでパネ
ル外部から撮像することにより、金属ピンの貫通孔を検
出するように構成したことを特徴とするＴＶ用ガラスパ
ネルの金属ピンの欠陥検査装置を提供する。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の検査方法を、図１に示す
実施例に従って具体的に説明する。図１は金属ピンを封
着したＴＶ用ガラスパネル（以下パネルとする）を、本
発明の検査装置にセットした状態における金属ピン部分
の断面図である。
実施例に従って具体的に説明する。図１は金属ピンを封
着したＴＶ用ガラスパネル（以下パネルとする）を、本
発明の検査装置にセットした状態における金属ピン部分
の断面図である。
【００１０】図示するように被検査パネル６は、台５に
設けた位置決めガイド４により位置決めされ、スカート
部１を下にした状態でセットされる。このパネル６の前
記スカート部１の内面には、通常３個又は４個の金属ピ
ン７がインダクション加熱又はガス加熱により封着され
ている。
設けた位置決めガイド４により位置決めされ、スカート
部１を下にした状態でセットされる。このパネル６の前
記スカート部１の内面には、通常３個又は４個の金属ピ
ン７がインダクション加熱又はガス加熱により封着され
ている。
【００１１】パネル６の内部にはこの金属ピンを内側か
ら投射又は照射するための散乱光源３が、またパネル６
の外部には金属ピンと相対向して撮像カメラ２がそれぞ
れ設置されており、これら散乱光源３と撮像カメラ２
は、パネル６が供給された状態で金属ピン７の中心軸Ｌ
の延長上に位置して、該中心軸Ｌと光学的に整列されて
いる。この場合、散乱光源３と撮像カメラ２は通常は金
属ピン７の中心軸Ｌと一致するように配置されるが、目
的が達成できれば必ずしも完全に一致していなくてもよ
い。
ら投射又は照射するための散乱光源３が、またパネル６
の外部には金属ピンと相対向して撮像カメラ２がそれぞ
れ設置されており、これら散乱光源３と撮像カメラ２
は、パネル６が供給された状態で金属ピン７の中心軸Ｌ
の延長上に位置して、該中心軸Ｌと光学的に整列されて
いる。この場合、散乱光源３と撮像カメラ２は通常は金
属ピン７の中心軸Ｌと一致するように配置されるが、目
的が達成できれば必ずしも完全に一致していなくてもよ
い。
【００１２】上記散乱光源３としては、パネル６に封着
された金属ピン７の露出部すべてをできるだけ均一に照
射できるように、指向性の小さい散乱光源が有効であ
る。このため、散乱光源３は例示のように金属ピン７に
対し凹面状に形成するのが望ましい。また、撮像カメラ
２としては通常ＣＣＤカメラが多用されるが、後述する
ように金属ピンの貫通孔を通ってピン内部に集光する散
乱光源３からの透過光を、パネル６の外部から検出でき
るものであれば、適宜使用できる。
された金属ピン７の露出部すべてをできるだけ均一に照
射できるように、指向性の小さい散乱光源が有効であ
る。このため、散乱光源３は例示のように金属ピン７に
対し凹面状に形成するのが望ましい。また、撮像カメラ
２としては通常ＣＣＤカメラが多用されるが、後述する
ように金属ピンの貫通孔を通ってピン内部に集光する散
乱光源３からの透過光を、パネル６の外部から検出でき
るものであれば、適宜使用できる。
【００１３】次に、金属ピン７の貫通孔欠陥を実際に検
出する方法について説明する。パネル６に封着された金
属ピン７に貫通孔欠陥８が存在する場合、散乱光源３か
ら投射される散乱光の一部がここを通過して金属ピン７
の開口端を封ずるガラス面に照射され、貫通孔欠陥８の
大きさにほぼ比例した集光９を生ずる。この場合、集光
位置は常に金属ピン開口端１１の輪郭部の作る範囲内に
制限されるので、撮像カメラ２はパネル外部に固定した
ままでこの集光９を撮像可能となる。
出する方法について説明する。パネル６に封着された金
属ピン７に貫通孔欠陥８が存在する場合、散乱光源３か
ら投射される散乱光の一部がここを通過して金属ピン７
の開口端を封ずるガラス面に照射され、貫通孔欠陥８の
大きさにほぼ比例した集光９を生ずる。この場合、集光
位置は常に金属ピン開口端１１の輪郭部の作る範囲内に
制限されるので、撮像カメラ２はパネル外部に固定した
ままでこの集光９を撮像可能となる。
【００１４】一方、集光９の面積は、貫通孔欠陥８の大
きさ、位置、金属ピン径及び散乱光源３の入射角などに
依存することが実験上確かめられている。しかし、散乱
光源３は前記したように金属ピン７に対しやや凹面を持
ち、かつ指向性の少ない散乱光であるため、前記貫通孔
欠陥８の大きさ、位置、金属ピン径等の影響は、欠陥検
査として実用上無視できる程度に低減される。この集光
９を撮像カメラ２にて撮像後、通常は画像処理装置１０
により画像処理プログラムを実施し、欠陥有無の識別を
行う。
きさ、位置、金属ピン径及び散乱光源３の入射角などに
依存することが実験上確かめられている。しかし、散乱
光源３は前記したように金属ピン７に対しやや凹面を持
ち、かつ指向性の少ない散乱光であるため、前記貫通孔
欠陥８の大きさ、位置、金属ピン径等の影響は、欠陥検
査として実用上無視できる程度に低減される。この集光
９を撮像カメラ２にて撮像後、通常は画像処理装置１０
により画像処理プログラムを実施し、欠陥有無の識別を
行う。
【００１５】図２のａ、ｂ、ｃ、ｄは、この画像処理プ
ログラムの一例と処理順序を示す。ａはカメラ画像の一
例を示し、金属ピン開口端１１の輪郭部画像１５及び貫
通孔欠陥画像１２を含んでいる。ｂはカメラ画像ａを２
値化、ラベリング処理後、重心位置１３を求め、これを
基準に検査エリア１４を設定したものである。
ログラムの一例と処理順序を示す。ａはカメラ画像の一
例を示し、金属ピン開口端１１の輪郭部画像１５及び貫
通孔欠陥画像１２を含んでいる。ｂはカメラ画像ａを２
値化、ラベリング処理後、重心位置１３を求め、これを
基準に検査エリア１４を設定したものである。
【００１６】普通この検査エリア１４は、金属ピン開口
端１１の輪郭部画像面積から金属ピンの厚みと金属ピン
７の近傍部を除いた領域であり、多くの経験から前記輪
郭部画像面積の７０〜８０％を検査エリアとして選べ
ば、貫通孔欠陥による透過光はこの領域に集光する。ｃ
で貫通孔欠陥画像１２の強調処理を行う。ｄは識別処理
を示し、検査エリア１４に貫通孔欠陥画像１２を重ね合
わせて、欠陥有無の識別処理をする。
端１１の輪郭部画像面積から金属ピンの厚みと金属ピン
７の近傍部を除いた領域であり、多くの経験から前記輪
郭部画像面積の７０〜８０％を検査エリアとして選べ
ば、貫通孔欠陥による透過光はこの領域に集光する。ｃ
で貫通孔欠陥画像１２の強調処理を行う。ｄは識別処理
を示し、検査エリア１４に貫通孔欠陥画像１２を重ね合
わせて、欠陥有無の識別処理をする。
【００１７】図１の光学系において、撮像カメラ２から
パネル６の外面までを７０ｍｍ、パネル内面から散乱光
源３までを１０ｍｍに固定し、撮像カメラ２による撮影
及び画像処理装置１０で画像処理を行った後、占有画素
数をしきい値として識別させた結果、プログラム処理時
間１秒、Ｓ／Ｎ比２．５以上で、０．５ｍｍφ程度の貫
通孔まで検出できた。
パネル６の外面までを７０ｍｍ、パネル内面から散乱光
源３までを１０ｍｍに固定し、撮像カメラ２による撮影
及び画像処理装置１０で画像処理を行った後、占有画素
数をしきい値として識別させた結果、プログラム処理時
間１秒、Ｓ／Ｎ比２．５以上で、０．５ｍｍφ程度の貫
通孔まで検出できた。
【００１８】なお、これまではパネル６に封着された一
つの金属ピンの貫通孔欠陥の検出について説明したが、
台５にこれと同じ検査装置を封着されている金属ピンの
数及びそれらの封着位置に合わせて設ければ、すべての
金属ピンを同時に検査できる。
つの金属ピンの貫通孔欠陥の検出について説明したが、
台５にこれと同じ検査装置を封着されている金属ピンの
数及びそれらの封着位置に合わせて設ければ、すべての
金属ピンを同時に検査できる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、金属ピンに封着された
金属ピンの貫通孔欠陥を簡便な光学系で自動検査できる
ので、金属ピンが封着されて間もない高温状態にあるパ
ネルにも適用できる。その結果、製造工程の比較的上流
で検査することで、設備異常の早期発見及び連続欠陥の
早期対策が可能になり、歩留まり向上に大きく貢献し経
済的メリットが得られる。
金属ピンの貫通孔欠陥を簡便な光学系で自動検査できる
ので、金属ピンが封着されて間もない高温状態にあるパ
ネルにも適用できる。その結果、製造工程の比較的上流
で検査することで、設備異常の早期発見及び連続欠陥の
早期対策が可能になり、歩留まり向上に大きく貢献し経
済的メリットが得られる。
【００２０】さらに、本発明は従来の手鏡及び触手など
による補助的検査手段が一切不要となり、一台の撮像カ
メラで短時間に検査できるので、パネルの全数検査に容
易に対応できる。また、金属ピンの表面状態及び汚れな
どの影響を受けることなく、精度の良い検査が得られ
る。
による補助的検査手段が一切不要となり、一台の撮像カ
メラで短時間に検査できるので、パネルの全数検査に容
易に対応できる。また、金属ピンの表面状態及び汚れな
どの影響を受けることなく、精度の良い検査が得られ
る。
【図１】本発明による検査方法の一例を説明するための
断面説明図。
断面説明図。
【図２】図１で得られた画像の画像処理プログラムの一
例を示す説明図（ａ：カメラ画像、ｂ：検査エリア算
出、ｃ：強調処理、ｄ：欠陥有無識別処理）。
例を示す説明図（ａ：カメラ画像、ｂ：検査エリア算
出、ｃ：強調処理、ｄ：欠陥有無識別処理）。
１：スカート部 ２：撮像カメラ ３：散乱光源 ４：位置決めガイド ５：台 ６：パネル ７：金属ピン ８：貫通孔欠陥 ９：集光 １０：画像処理装置
Claims (2)
- 【請求項１】ＴＶ用ガラスパネルのスカート部の内面に
封着された中空椀状の金属ピンの貫通孔を検出する検査
方法であって、該金属ピンの中心軸の延長上において、
前記パネルの内部に金属ピンを投射できるように散乱光
源を設け、かつパネルの外部に金属ピンと相対向して撮
像カメラを配置し、金属ピンの貫通孔を通って集光する
前記光源からの投射光を該撮像カメラでパネル外部から
撮像することにより、金属ピンの貫通孔を検出すること
を特徴とするＴＶ用ガラスパネルの金属ピンの欠陥検査
方法。 - 【請求項２】ＴＶ用ガラスパネルのスカート部の内面に
封着された中空椀状の金属ピンの貫通孔を検出する検査
装置であって、前記パネルの内部に金属ピンを投射でき
るように設けた散乱光源とパネルの外部に金属ピンと相
対向して配置した撮像カメラとを具備し、これら散乱光
源と撮像カメラは前記金属ピンの中心軸と光学的に整列
されており、金属ピンの貫通孔を通って集光する前記光
源からの投射光を該撮像カメラでパネル外部から撮像す
ることにより、金属ピンの貫通孔を検出するように構成
したことを特徴とするＴＶ用ガラスパネルの金属ピンの
欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31865997A JPH11154469A (ja) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | Ｔｖ用ガラスパネルの金属ピンの欠陥検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31865997A JPH11154469A (ja) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | Ｔｖ用ガラスパネルの金属ピンの欠陥検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11154469A true JPH11154469A (ja) | 1999-06-08 |
Family
ID=18101612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31865997A Pending JPH11154469A (ja) | 1997-11-19 | 1997-11-19 | Ｔｖ用ガラスパネルの金属ピンの欠陥検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11154469A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100336204B1 (ko) * | 1998-11-12 | 2002-06-20 | 서두칠 | 음극선관용 패널의 핀융착장치와 그 제어방법 |
-
1997
- 1997-11-19 JP JP31865997A patent/JPH11154469A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100336204B1 (ko) * | 1998-11-12 | 2002-06-20 | 서두칠 | 음극선관용 패널의 핀융착장치와 그 제어방법 |
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