JPH11145581A - プリント基板の穴明け方法および装置 - Google Patents

プリント基板の穴明け方法および装置

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JPH11145581A
JPH11145581A JP9307708A JP30770897A JPH11145581A JP H11145581 A JPH11145581 A JP H11145581A JP 9307708 A JP9307708 A JP 9307708A JP 30770897 A JP30770897 A JP 30770897A JP H11145581 A JPH11145581 A JP H11145581A
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laser beam
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Kunio Arai
邦夫 荒井
Hiroshi Aoyama
博志 青山
Hideo Ueno
秀雄 上野
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    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
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    • H05K3/0035Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation of organic insulating material of blind holes, i.e. having a metal layer at the bottom
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    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 穴形状が高品質かつ加工速度を向上させるこ
とができるプリント基板の穴明け方法および装置を提供
するを提供すること。 【解決手段】 制御装置11によりレ−ザ発振器1およ
びガルバノミラ−5,6を制御して、1個の穴に対して
2度目の以降のパルスの巾を徐々に減らすようにして加
工する。このようにすると、穴の底部に絶縁物が残ら
ず、意図する形状に穴を加工することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザによりプリ
ント基板に穴、特に底付き穴を加工するプリント基板の
穴明け方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プリント基板のレ−ザ穴明け方法として
知られているバ−スト加工法とサイクル加工法を図面に
より説明する。図7はバ−スト加工法の動作説明図、図
8は加工穴の断面図である。図7に示すように、バ−ス
ト加工法では加工プログラムにしたがってプリント基板
のある穴明け位置にビ−ムを位置決めしてから、一定パ
ルス巾WC(ms),一定ピ−ク出力PC(W),一定
パルス周期TC(ms)のビ−ムを穴形成に必要なだけ
連続的にNパルス(N=1、2、3、…、n)ショット
する。例えば,樹脂厚50〜100μmの場合、3連続
ショット(N=3)する場合、図8に示すように、第1
パルスでは、入口径DT1、穴底径dB1の穴が形成さ
れ、第2パルスにより入口径DT2,穴底径dB2の穴
に、第3パルスにより入口径DT3,穴底径dB3に加
工される。すなわち、穴底を徐々に広げるように加工す
る。すなわち、TGを(ms)位置決め時間とすると、 パルスエネルギ−EC(mJ)=WCxPC…式1 1穴当たりのト−タルエネルギ−EN(mJ)=ECxN…式2 1穴当たりの穴明け周期TD(ms)=TG+TCx(N−1)+WC…式3 である。
【0003】図9はサイクル加工法の動作説明図、図1
0は加工穴の断面図である。図9に示すように、サイク
ル加工法では加工プログラムにしたがって複数の穴明け
位置にビ−ムを位置決めしてから、一定のパルス巾WC
(ms)、一定のピ−ク出力PC(W)のビ−ムを1シ
ョットして途中穴を形成する。そして必要な穴形状が得
られるまでプログラムを複数Nサイクル繰り返して穴形
成する。例えば,樹脂厚50〜100μmの場合3サイ
クル繰り返して徐々に穴底を広げるように穴形成する場
合、図10に示すように、第1サイクル目のパルスによ
り入口径Dt1、穴底径db1の穴に、第2サイクル目
のパルスにより入口径Dt2、穴底径db2の穴に、第
3サイクル目のパルスにより入口径Dt3,穴底径db
3である。上記から明らかなように、サイクル加工法に
おけるパルスエネルギ−ECおよび1穴当たりのト−タ
ルエネルギ−ENはバ−スト加工法と同じであるが、1
穴当たりの穴明け周期TDは、式4で表される。 TD(ms)=(TG+WC)xN…式4 以上から、バ−スト加工法ではビ−ム位置決時間TG,
パルス周期TC,パルスショット数Nが短いほど穴明け
周期TDが短いつまり穴明速度が速くなる。一方,サイ
クル加工法は1パルスごとに加工する穴を変えるから、
サイクル数Nが多いと穴明け速度が約1/Nに低下する
欠点がある。例えば,ビ−ム位置決にガルバノミラ−を
使用した場合,ビ−ムの実用位置決め周期は約2ms
(周波数500Hz)である。一方,発振器のパルス周
期能力は0.5ms(周波数2000Hz)程度であ
る。また,穴品質面を考慮するとパルス巾15μs,パ
ルス周期は2〜1ms(周波数500〜1000Hz)
の場合1穴当たり3パルス必要である。従って,バ−ス
ト加工法の実用穴明け周期は6.02〜4.02ms
(穴明け速度166〜248穴/秒)である。一方,サ
イクル加工の穴明け周期は6.05ms(穴明け速度1
65穴/秒)である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、バ−スト加
工法の場合、パルス周期TCを短くして加工速度を上げ
ようとすると分解物が飛散しきれない状態で後続のビ−
ムに晒されるため第2パルス以降で穴内部にプラズマが
発生しやすい。そして、プラズマが発生すると、穴壁面
がバレル状になり、すなわち穴の深さ方向の中央部が径
方向に膨らみ、穴をテーパ状に加工することができなか
ったり、プラズマ化にエネルギ−が奪われエネルギ−不
足により分解閾値に達しなくなり炭化するだけで、穴を
広げることができない。従って、材料によっては、パル
ス周期を長く5ms,パルス巾を短く15μs以下して
ショット数を1〜2ショット増やさなければならないこ
ともあり、このような場合には、加工速度が大幅に低下
する。また、加工速度を向上させようとしてパルス巾W
Cを長くすると、穴底の樹脂残差は減るが、内層や穴周
辺の温度上昇に費やされ穴品質が低下する。また、穴底
銅箔面への到達エネルギ−が急増するため穴底の温度上
昇が大きく内層銅箔を溶融したり貫通してしまうことが
ある。
【0005】一方、サイクル加工法の場合、1つの穴に
関するパルス周期は十分に長く、第1パルスによる分解
物が十分に飛散してから次のパルスの加工が行われるの
でバ−スト加工に比べて穴内部でのプラズマの発生が少
なく、バ−スト加工法に比べれば穴形状は良好で、バレ
ル状の穴内壁やエネルギ−不足による穴品質不良の発生
も少ない。また,熱の拡散が改善され温度上昇が緩和さ
れるため内層銅箔の溶融や貫通は少ないが、加工速度が
遅い。そして、サイクル加工法であっても、図11に示
すように、底部の径をdB4(あるいはdb4)に形成
したいにもかかわらず、穴底に近い側に曲面状の樹脂が
残ってしまうことがあり、後工程におけるめっき不良が
発生したり、通電面積を確保できなかった。
【0006】本発明の目的は、上記した課題を解決し、
穴形状が高品質かつ加工速度を向上させることができる
プリント基板の穴明け方法および装置を提供するにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記した課題は、レーザ
のパルス巾を徐々に減らしながら1個の穴を加工するこ
とにより解決される。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態に係る
プリント基板用のレ−ザ穴明機の装置構成を示すであ
る。図で、1はレーザ発振器、2はレーザビ−ム、3は
径コントロール用のアパ−チャ、5、6はガルバノミラ
ー、7はテレセントリック方式のfθレンズ、8はX−
Y加工テ−ブル、9はプリント基板、10は加工位置、
11は制御装置である。
【0009】次に、動作を説明する。始めに加工工程に
ついて説明する。レ−ザ発振器1から出射されたレ−ザ
ビ−ム2(以下、ビ−ムという。)はアパ−チャ3、コ
−ナ−ミラ−4、加工プログラムにしたがって角度変換
され所定の振り角に位置決めされたガルバノミラ−5,
6を通り、fθレンズ7により光軸と平行方向(プリン
ト基板9に対して垂直方向)に方向変換され、X−Y加
工テ−ブル8上にセットされたプリント基板9上の加工
位置10に縮小投影され穴加工が行われる。上記の工程
を高速(数百ポイント/毎秒)で繰り返し高速のスキャ
ニング加工を行う。そして、ガルバノミラ−とfθレン
ズの加工域fmmxθラジアン(例えば50mmx50
mm)の穴明けが終了すると加工プログラムにしたがっ
て次の加工域にX−Yテ−ブルがステップ移動する。こ
れを順次繰返えして全域の加工を行う。
【0010】図2は本発明をバースト加工法に適用した
場合の動作説明図、図3は加工穴の断面図である。制御
装置11は加工プログラムにしたがってガルバノミラ−
5、6を位置決め(位置決め時間TG(ms))する
と、先ず第1条件のパルス巾が大きいエネルギのビ−ム
(パルス巾がW11(ms)、ピ−ク出力PC(W)、
パルス周期T11(ms))をNパルス(N=1,2
…)出射させ、入口径DT、穴底径dBB1のテ−パ状
の穴を形成する。したがって、第1条件のパルスエネル
ギ−E11(mJ)、第1条件のト−タルエネルギ−E
N11(mJ)、第1条件の加工周期TN11(ms)
は式5〜7で表される。 E11=W11xPC…式5 EN11=E11xN…式6 TN11=T1x(N−1)+W1…式7 続いてパルス条件を第2条件のパルス条件に変え、パル
ス巾が中位のエネルギのビ−ム(パルス巾W12(m
s),ピ−ク出力PC(W),パルス周期T12(m
s))をMパルス(M=1,2…)出射させ、第1条件
で形成された穴入口(径DT)を損傷することなく穴底
径をdBB2に広げる。したがって、第2条件のパルス
エネルギ−E12(mJ)、第2条件のト−タルエネル
ギ−EN12(mJ)、第2条件の加工周期TN12
(ms)は式8〜10で表される。 E12=W12xPC…式8 EN12=E12xM…式9 TN12=T12x(M−1)+W12…式10 引き続き、パルス条件を第3条件のパルス条件に変え、
パルス巾が小さいエネルギのビ−ム(パルス巾W13
(ms),ピ−ク出力PC(W),パルス周期T13
(ms))をLパルス(L=1,2…)出射させ、第1
条件で形成された穴入口(径DT)を損傷することなく
穴底径をdBB3に広げる。したがって、第3条件のパ
ルスエネルギ−E13(mJ)、第3条件のト−タルエ
ネルギ−EN13(mJ)、第3条件の加工周期TN1
3(ms)は式11〜12で表される。 E13=W13xPC…式10 EN13=E13xL…式11 TN13=T13x(L−1)+W13…式12 従って,1穴当たりの穴明け周期TDB(ms)と投入
エネルギ−ENB(mJ)は式13、14で表される。 TDB=TG+TN11+TN12+TN13…式13 ENB=EN11+EN12+EN13…式14 なお、TN11≧TN12≧TN13とする。この結
果、EN11≧EN12≧EN13である。このように
第1穴目の穴を加工したら、ガルバノミラ−5,6を次
の加工位置に位置決めし、以下、上記と同様にして他の
穴を順次加工する。
【0011】図4は本発明をサイクル加工法に適用した
場合の動作説明図、図5は加工工程を示す穴の断面図で
ある。この実施の形態では加工プログラムにしたがって
ガルバノミラ−5,6を位置決め(位置決時間TG(m
s))したら、先ず第1条件のパルス巾が大きいW21
(ms),ピ−ク出力PC(W)の高エネルギ−ビ−ム
を1回出射して入口径Dt,穴底径dbb1のテ−パ状
の穴を加工する。そして加工プログラムにしたがってビ
−ム位置決めと第1条件のパルス出射を総ての穴に対し
て行うことを1サイクルとしてN回(N=1,2…)行
う。したがって、第1条件のパルスエネルギ−E21
(mJ)、第1条件のト−タルエネルギ−EN21(m
J)、第1条件の加工周期TN21(ms)は式15〜
17で表される。 E21=W21xPC…式15 EN21=E21xN…式16 加工周期TN21=TG+W21…式17 続いてガルバノミラ−5,6を位置決め(位置決時間T
G(ms))したら、第2条件のパルス巾が中位のW2
2(ms),ピ−ク出力PC(W)のビ−ムを1回出射
して入口径Dt,穴底径dbb1のテ−パ状の穴を穴入
口(径Dt)に損傷を与えることなく穴底径dbb2に
広げる。そして加工プログラムにしたがってビ−ム位置
決めと第2条件のパルス出射を総ての穴に対して行うこ
とを1サイクルとしてM回(M=1,2…)行う。した
がって、第2条件のパルスエネルギ−E22(mJ)、
第2条件のト−タルエネルギ−EN22(mJ)、第2
条件の加工周期TN22(ms)は式18〜20で表さ
れる。 E22=W22xPC…式18 EN22=E22xM…式19 TN22=TG+W22…式20 さらに引き続いてガルバノミラ−5,6を位置決め(位
置決時間TG(ms))したら、第3条件のパルス巾が
小さいパルス巾W23(ms),ピ−ク出力PC(W)
のビ−ムを1回出射して入口径Dt,穴底径dbb2の
テ−パ状の穴を穴入口(径Dt)に損傷を与えることな
く穴底径dbb3に広げる。そして加工プログラムにし
たがってビ−ム位置決めと第2条件のパルス出射を総て
の穴に対して行うことを1サイクルとしてM回(M=
1,2…)行う。したがって、第3条件のパルスエネル
ギ−E23(mJ)、第3条件のト−タルエネルギ−E
N23(mJ)、第3条件の加工周期TN23(ms)
は式21〜23で表される。 E23=W23xPC…式21 EN23(mJ)=E23xM…式22 TN23(ms)=TG+W23…式23 従って,1穴当たりの穴明け周期TDC(ms)と投入
エネルギ−ENC(mJ)は式24、25で表される。 TDC=TN21+TN22+TN23…式24 ENC=EN21+EN22+EN23…式25 なお、TN21≧TN22≧TN23とする。この結
果、EN21≧EN22≧EN23である。なお、上記
ではN,M,Lを1または複数としたが、樹脂厚50〜
100μmの場合は、N,M,Lは通常1でよく、ガラ
ス繊維強化材の入ったものや樹脂厚100μm以上の場
合はN,M,Lを2にするとよい。
【0012】図6は本発明による加工結果の拡大図であ
る。なお、この図は、従来15μsで一定であったパル
ス巾を、W11(またはW21)を0.025ms(す
なわち25μs。なお、目安は従来の1.5〜2.5倍
がよい。)、W12(またはW22)を0.012ms
(すなわち12μs。なお、目安は従来の0.5〜1倍
がよい。)、W13(またはW23)を0.008ms
(すなわち8μs。なお、目安は従来の0.3〜0.7
倍がよい。)にした場合を示すものである。
【0013】この図から明らかなように、第1条件では
従来よりも長いパルス巾で穴底に到達する高レベルのエ
ネルギ−を投入しても材料の分解にエネルギ−が費やさ
れるため穴入口や穴壁面への熱影響が少ないし、穴品質
や穴形状への影響も少ない。
【0014】また、第2条件以降では従来よりもやや短
いパルス巾にすると穴入り口や穴壁面を損傷させずに穴
底面積を広げることができ、樹脂の炭化や内層銅箔の損
傷もなくなる。これは、ピ−ク出力PC一定でパルス巾
を変えると発振周波数を主とした縦モ−ドは変化しない
が空間的強度分布である横モ−ドが変化する、すなわち
ビーム径が細くなり、第2パルス条件および、第3パル
ス条件で加工することにより第1パルス条件あるいは第
2パルス条件で残った突出部を除去でき。この結果、穴
の形状を意図する形状にコントロ−ルできる。そして、
これらの傾向はパルス周期をかえても従来のパルス巾一
定方式に比べて安定しており、パルス周期を短くしても
穴形状や穴品質への影響が少ない。したがって、発振器
の最小パルス周期0.5ms(2000Hz)を適用可
能になる。すなわち、ガルバノミラ−の実用位置決め周
期は2ms(500Hz)とすると,穴明け周期3.0
2ms(穴明け速度331穴/秒)を実現でき、上記従
来の約2倍の速度で加工できる。しかも,穴品質マ−ジ
ンが増えるため材料によっては2パルスで仕上げること
も可能になり加工時間をさらに短縮でき、例えば,3シ
ョット加工が2ショット加工になった場合,穴明け周期
はバ−スト加工の場合2.52ms(穴明け速度396
穴/秒,従来比240%),サイクル加工の場合4.0
2ms(穴明け速度249穴/秒,従来比150%)に
短縮される。
【0015】なお、上記では底付き穴の加工について説
明したが、貫通穴の場合であって適用できる。すなわ
ち、貫通穴の場合も、加工途中、特に1回のパルスで穴
が貫通しない場合、上記底付き穴の場合と同じような問
題が発生するが、本発明を適用すれば、ほぼ円錐の内面
形状を得ることができる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
バースト法サイクル法のいずれの場合もレーザのパルス
巾を徐々に減らしながら1個の穴を加工する。すなわ
ち、第1条件でほぼ穴の形状を形成し、第2条件および
第3条件で底部の形状だけを仕上げるから、意図する穴
形状に加工することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るプリント基板用のレ
−ザ穴明機の装置構成を示すである。
【図2】本発明をバースト加工法に適用した場合の動作
説明図である。
【図3】本発明をバースト加工法に適用した場合の加工
穴の断面図である。
【図4】本発明をサイクル加工法に適用した場合の動作
説明図である。
【図5】本発明をサイクル加工法に適用した場合の穴の
断面図である。
【図6】本発明の実施の形態に係る加工穴の拡大断面図
である。
【図7】従来のバ−スト加工法の動作説明図である。
【図8】従来のバ−スト加工法による加工穴の断面図で
ある。
【図9】従来のサイクル加工法の動作説明図である。
【図10】従来のサイクル加工法による加工穴の断面図
である。
【図11】従来の加工穴の拡大断面図である。
【符号の説明】
1 レ−ザ発振器 5,6 ガルバノミラ− 11 制御装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザのパルス巾を徐々に減らしながら
    1個の穴を加工することを特徴とするプリント基板の穴
    明け方法。
  2. 【請求項2】 1個の穴に対して2度目の以降のパルス
    の巾を徐々に減らすように制御する制御装置を備えたこ
    とを特徴とするプリント基板の穴明け装置。
JP9307708A 1997-11-10 1997-11-10 プリント基板の穴明け方法および装置 Pending JPH11145581A (ja)

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JP9307708A JPH11145581A (ja) 1997-11-10 1997-11-10 プリント基板の穴明け方法および装置
US09/577,888 US6479788B1 (en) 1997-11-10 2000-05-25 Method and apparatus of making a hole in a printed circuit board

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US09/577,888 US6479788B1 (en) 1997-11-10 2000-05-25 Method and apparatus of making a hole in a printed circuit board

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