JPH11145259A - ウェハ位置決め装置 - Google Patents

ウェハ位置決め装置

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JPH11145259A
JPH11145259A JP32952697A JP32952697A JPH11145259A JP H11145259 A JPH11145259 A JP H11145259A JP 32952697 A JP32952697 A JP 32952697A JP 32952697 A JP32952697 A JP 32952697A JP H11145259 A JPH11145259 A JP H11145259A
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JP
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wafer
stage
positioning
center
orientation flat
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JP32952697A
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English (en)
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Tatsuyuki Ishijima
達之 石島
Masayuki Sato
正行 佐藤
Kiyoshi Kobayashi
清 小林
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Seiko Seiki KK
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Seiko Seiki KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェハのダメージの軽減、ウェハの位置決め
精度の向上、およびウェハの位置決め時間の短縮化が図
れるウェハ位置決め装置の提供。 【解決手段】 ウェハaを載置させたステージ15を回
転させる。レーザ変位センサ17は、回転するウェハa
の周面に対してレーザ光を照射させ、その周面から反射
するレーザ光を受ける。制御装置は、この受光量に応じ
た信号に基づいて、ウェハaのオリエンテーションフラ
ットa1の位置と、ウェハaの中心とステージ15の回
転中心とのずれを求める。その求めたオリエンテーショ
ンフラットa1の位置を、ステージ15の回転によりX
軸方向に位置決めする。さらに、X軸駆動モータ7やY
軸駆動モータ13を駆動してステージ15を移動させ、
ウェハaの中心を目標位置に位置決めし、この位置決め
の際に、その求めたずれにより補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリコンウェハな
どのウェハを位置決めするウェハ位置決め装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のウェハ位置決め装置は、
XYテーブル上にステージが搭載され、このステージは
X軸方向およびY軸方向に移動できるとともに回転自在
に構成されている。ウェハを位置決めするには、図6
(A)に示すように、ステージ202が所定の位置でウ
ェハaを受け取ると、図6(B)に示す3つのフォトセ
ンサ203〜205がある位置までステージ202を移
動させる。そして、ステージ202を回転させてウェハ
aを回転させ、オリエンテーションフラットa1のおよ
その位置を、その3つのフォトセンサ203〜205に
より検出する。オリエンテーションフラットa1の検出
は、図6(B)のような場合には、中央のフォトセンサ
204のみが「OFF」になり他のフォトセンサ20
3、205がいずれも「ON」になるために可能であ
る。このオリエンテーションフラットa1が検出される
と、ステージ202の回転を停止させてステージ202
を所定位置まで移動させたのち、図6(C)に示すよう
に、オリエンテーションフラットa1に板206を押し
当てて、オリエンテーションフラットa1を所定方向に
位置決めさせている。その後、XYテーブルの駆動によ
り、ステージ202を目標位置に移動させて、ウェハa
を目標位置に位置決めさせる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来装置で
は、上記のようにオリエンテーションフラットa1に板
206を接触させ、これによりオリエンテーションフラ
ットa1の位置決めをメカ的に行うために、位置決めの
際にウェハaにダメージを与えてしまうおそれがあると
いう問題があった。また、従来装置では、ウェハaをス
テージ202上に位置決めさせる際に、ウェハaの中心
とステージ202の中心とがずれる場合があり、この場
合にはそのずれ量を把握することが出来ない。このた
め、XYテーブルの駆動によりステージ202を目標位
置に移動し、ウェハaをその目標位置に位置決めしよう
とすると、そのずれ量だけずれた位置にウェハaが位置
決めされ、ウェハaの位置決め精度が悪いという問題が
あった。さらに、従来装置では、ウェハaのステージ2
02上での位置決めの際に、図6(B)によるオリエン
テーションフラットa1のおよその位置検出と、さらに
ステージ202を移動させ、図6(C)によるオリエン
テーションフラットa1のメカ的な位置決めと、の2工
程からなる。このため、全体として、ウェハaを目標位
置に位置決めするまでの時間がかかるという問題があっ
た。
【0004】そこで、本発明の目的は、ウェハのダメー
ジの軽減、ウェハの位置決め精度の向上、およびウェハ
の位置決め時間の短縮化を図るようにしたウェハ位置決
め装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明では、ウェハを載
置させるステージ15と、このステージを回転する回転
手段(ステージ駆動モータ16など)と、この回転手段
で回転されるステージ上のウェハaの周面に対して光を
照射させ、その周面から反射する光を受け、この受光量
に応じた信号に基づいて、ウェハに設けた基準用の切欠
き(オリエンテーションフラットa1)の位置と、ウェ
ハの中心とステージの回転中心とのずれとの、少なくと
も一方を検出する検出手段(レーザ変位センサ17な
ど)と、この検出手段の検出結果に基づいて、ウェハの
位置決めを行う位置決め手段とを具備している。上記の
位置決め手段は、検出手段で検出されたウェハの切欠き
の位置を、ステージの回転により所定方向(X軸方向)
に位置決めする第1位置決め手段と、ウェハの中心を目
標位置に位置決めし、この位置決めの際に検出手段で検
出されたずれにより補正する第2位置決め手段(X軸駆
動モータ7やY軸駆動モータ13など)とからなる。
【0006】このように本発明のウェハ位置決め装置で
は、ウェハを載置させたステージを回転させ、ウェハに
設けた基準用の切欠きを検出し、この検出されたウェハ
の切欠きの位置をステージを回転して所定方向と一致す
るようにした。このため、ウェハの切欠き位置の位置決
めをウェハに非接触で行うことができるので、その位置
決めの際にウェハのダメージを防止できる。また、本発
明のウェハ位置決め装置では、回転するウェハの外周面
に光を照射し、その反射光量に応じた信号に基づいてウ
ェハの基準用の切り欠き位置、およびウェハの中心とス
テージの回転中心とのずれを検出し、この検出した切り
欠き位置およびずれに基づいてウェハを位置決めするよ
うにしたので、ウェハの位置決め精度が向上する。さら
に、本発明のウェハ位置決め装置では、偏心の位置決め
と、切り欠き位置の位置決めとを平行して行えるように
したので、ウェハの位置決め時間が短縮される。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明のウェハ位置決め装
置の実施の形態を図1ないし図5を参照して詳細に説明
する。図1は、この実施の形態のウェハ位置決め装置の
構成を示す斜視図である。図2は、同装置の電気的な構
成を示すブロック図である。このウェハ位置決め装置
は、図1に示すように基台1を有し、この基台1上のX
軸方向には2つのレール2、3が平行に配置されてい
る。このレール2、3には、X軸方向移動部材4の底部
に設けた凹溝が嵌合され、X軸方向移動部材4がレール
2、3に案内されてX軸方向に摺動できるように構成さ
れている。X軸方向移動部材2の中央には、基台1上の
X軸方向に向けて配置されるボールネジ5が噛み合って
いる。このボールネジ5の一端は基台1上に固定した支
持具6により回転自在に支持され、その他端は基台1上
に固定したX軸駆動モータ7の回転軸に接続されてい
る。このような構成により、X軸駆動モータ7が駆動さ
れるとボールネジ5が回転し、この回転によりX軸方向
移動部材4はレール2、3に案内されてX軸方向に移動
することができる。
【0008】X軸方向移動部材4上のY軸方向には2つ
のレール8、9が平行に配置されている。このレール
8、9には、Y軸方向移動部材10の底部に設けた凹溝
が嵌合され、Y軸方向移動部材10がレール8、9に案
内されてY軸方向に摺動できるように構成されている。
Y軸方向移動部材10の幅方向の中央には、X軸方向移
動部材4上のY軸方向に向けて配置されるボールネジ1
1が噛み合っている。このボールネジ11の一端はX軸
方向移動部材4上に固定した支持具12により回転自在
に支持され、その他端は基台1上に固定したY軸駆動モ
ータ13の回転軸に接続されている。このような構成に
より、Y軸駆動モータ13が駆動されるとボールネジ1
1が回転し、この回転によりY軸方向移動部材10はレ
ール8、9に案内されてY軸方向に移動することができ
る。
【0009】Y軸方向移動部材10の一端側には、ウェ
ハaを載置するステージ15が搭載され、このステージ
15はステージ駆動モータ16により回転できるように
構成されている。また、Y軸方向移動部材10の他端側
の所定の高さ位置には、ステージ駆動モータ16により
ステージ15を回転させてステージ15上のウェハaを
回転させ、図3に示すように、その回転状態のウェハa
の外周面に対してレーザ光を照射させ、その周面から反
射するレーザ光を受け、この受けたレーザ光に応じたア
ナログ信号が得られるレーザ変位センサ17が配置され
ている。このレーザ変位センサ17がレーザ光を使用す
ることにより得られる電気信号は、ウェハaの外周面ま
での距離に応じたものである。従って、ウェハaの外周
面までの距離に応じた電気信号が連続的に得られる形式
のセンサであれば、レーザ光以外に電磁波や超音波を使
用したセンサを使用するようにしても良い。
【0010】次に、このように構成される実施の形態の
電気的な構成について、図2を参照して説明する。この
実施の形態は、図2に示すように、レーザ変位センサ1
7の検出信号がA/D変換器21によりA/D変換され
てコンピュータからなる制御装置23に入力されるよう
に構成されている。また、操作部22の操作に応じた信
号が制御装置23に入力されるように構成されている。
制御装置23の出力側には、制御対象としてX軸駆動モ
ータ7、Y軸駆動モータ13、およびステージ駆動モー
タ16が接続されている。制御装置23は、あらかじめ
定めた手順により各種の演算や各モータの制御を後述の
ように行う。
【0011】次に、このような構成からなる実施の形態
の動作について、図面を参照して説明する。いま、所定
の位置で待機するステージ15上に、前工程で所定の処
理がされたウェハaが載置されると、ステージ駆動モー
タ16が駆動されてステージ15が回転を開始すると
(ステップ1)、制御装置23は、レーザ変位センサ1
7からの検出信号を取り込む(ステップ2)。この信号
の取り込みは、ステージ15が1回転(360度)する
まで行われる(ステップ1〜ステップ3)。
【0012】上記のように、制御装置23に取り込まれ
るレーザ変位センサ17の検出信号Sは、図3に示すよ
うに、1回転するウェハaの外周面に対してレーザ光を
照射させ、その外周面から反射するレーザ光を受け、こ
の受光量に応じたアナログ信号である。この検出信号S
は、レーザ変位センサ17とウェハaのレーザ光の照射
部との間の距離の大小に応じて、図5に示すようにその
振幅の大きさが変化する。また、検出信号Sは、ウェハ
aの中心がステージ15の回転中心と偏心することによ
る偏心成分S1と、ウェハaのオリエンテーションフラ
ットa1による成分S2とが合成(重畳)されたものと
なる。ここで、図5(A)はステージ15の回転中心と
ウェハaの中心との間に偏心をあり、同図(B)はその
偏心がない場合を示す。
【0013】そこで、制御装置23は、レーザ変位セン
サ17の検出信号Sのオリエンテーションフラットa1
の成分S2から、オリエンテーションフラットa1の位
置する角度を算出する(ステップ4)。この角度の算出
は、図5(A)(B)に示すように、ウェハaの回転開
始時を0度とし、最初にオリエンテーションフラットa
1の検出が開始された時点をθ1度、オリエンテーショ
ンフラットa1の検出が終了した位置をθ2度とすれ
ば、オリエンテーションフラットa1の位置する角度は
θ1からθ2となる。さらに、制御装置23は、レーザ
変位センサ17の検出信号Sの偏心成分S1に基づい
て、ウェハaの中心がステージ15の回転中心からX軸
方向およびY軸方向にずれている偏心量を算出する(ス
テップ4)。
【0014】次に、操作者が操作部22の操作により、
ウェハaの位置決めの指示があると(ステップ5)、そ
の算出された角度に基づき、オリエンテーションフラッ
トa1がX軸と平行になるように、ステージ駆動モータ
16を駆動させてステージ15を回転させる(ステップ
6)。この結果、ステージ15上のウェハaは、オリエ
ンテーションフラットa1がX軸と平行になる。この動
作に並行して、ステップ6では、ウェハaの目標位置へ
の位置決めを行う。この位置決めは、ステップ4で算出
された偏心量に基づいて、目標の位置までのステージ1
5の移動量が補正され、その補正した移動量だけステー
ジ15が移動するようにX軸駆動モータ7とY軸駆動モ
ータ13が制御される。例えば、ウェハaの中心が、ス
テージ15の回転中心と一致せずにX軸方向に2mmだ
け多くずれている場合には、X軸駆動モータ7がX軸方
向移動部材4(ステージ15)をX軸方向に送るとき
に、その送り(移動量)を2mmだけ少なくする。この
結果、ウェハaは、目標位置に位置決めされる。
【0015】以上説明したように、この実施の形態で
は、ウェハaのオリエンテーションフラットa1の位置
する角度を求め、この求めた角度からオリエンテーショ
ンフラットa1のX軸方向への位置決めをウェハaに非
接触で行うようにした。このため、オリエンテーション
フラットa1の位置決めの際に、ウェハaのダメージを
防止できる。また、この実施の形態では、回転するウェ
ハaの外周面にレーザ光を照射し、その反射光量に応じ
た信号に基づいて、ウェハaのオリエンテーションフラ
ットa1の位置する角度、およびウェハaの中心とステ
ージ15の回転中心との偏心量求め、この求めた角度と
偏心量に基づいてウェハaを位置決めするようにしたの
で、ウェハaの位置決め精度が向上する。さらに、この
実施の形態では、ステージ15を回転しながらウェハa
のオリエンテーションフラットa1の位置決めと並行し
て、ウェハaを目標位置に位置決めするようにしたの
で、ウェハの位置決め時間の短縮化が図れる。
【0016】ところで、以上説明したこの実施の形態の
ウェハ位置決め装置は、半導体を製造する工程でウェハ
の位置決めが必要な装置、例えば露光装置、ウェハ検査
装置、ウェハの切断装置等として使用可能である。そこ
で、この実施の形態のウェハ位置決め装置をウェハ検査
装置として使用する場合について説明する。この場合に
は、先ずウェハを回転しながらウェハ全体を目視で観察
し、その後に、ウェハを顕微鏡で観察するためにウェハ
を目標位置に位置決めするように構成する必要がある。
このため、具体的には、図1において、例えば基台1の
中央の上方に顕微鏡を増設するとともに、この顕微鏡か
ら離れた位置でステージ15がウェハaを受取り、この
受取った位置でステージ15を回転させ、その後に上記
のようにステージ15上でのウェハaのオリエンテーシ
ョンフラットa1の位置決めを非接触で行いながら、ス
テージ15を移動させてウェハaを顕微鏡で観察する目
標位置に上述のように位置決めするように構成する。こ
のような構成によれば、ステージ15の回転により、ウ
ェハaのオリエンテーションフラットa1の位置の検出
と、ウェハの目視による観察とが同時にできるので、検
査のサイクルタイムを短縮できる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、ウェハ
を載置させたステージを回転させ、ウェハに設けた基準
用の切欠きを検出し、この検出されたウェハの切欠きの
位置をステージを回転して所定方向と一致するようにし
た。このため、ウェハの切欠き位置の位置決めをウェハ
に非接触で行うことができるので、その位置決めの際に
ウェハのダメージを防止できる。また、本発明では、回
転するウェハの外周面に光を照射し、その反射光量に応
じた信号に基づいてウェハの基準用の切り欠き位置、お
よびウェハの中心とステージの回転中心とのずれを検出
し、この検出した切り欠き位置およびずれに基づいてウ
ェハを位置決めするようにしたので、ウェハの位置決め
精度が向上する。さらに、本発明では、偏心の位置決め
と、切り欠き位置の位置決めとを平行して行えるように
したので、ウェハの位置決め時間が短縮される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の構成を示す斜視図であ
る。
【図2】同実施の形態の電気系の構成を示すブロック図
である。
【図3】レーザ変位センサの動作を説明する斜視図であ
る。
【図4】本発明の実施の形態のウェハの位置決め処理を
示すフローチャートである。
【図5】レーザ変位センサの検出信号の一例を示す波形
図である。
【図6】従来装置の動作を説明する説明図である。
【符号の説明】
a ウェハ a1 オリエンテーションフラット 1 基台 4 X軸方向移動部材 7 X軸駆動モータ 10 Y軸方向移動部材 13 Y軸駆動モータ 15 ステージ 16 ステージ駆動モータ 17 レーザ変位センサ 23 制御装置

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェハを載置させるステージと、 このステージを回転する回転手段と、 この回転手段で回転される前記ステージ上のウェハの周
    面に対して光を照射させ、その周面から反射する光を受
    け、この受光量に応じた信号に基づいて、前記ウェハに
    設けた基準用の切欠きの位置と、前記ウェハの中心と前
    記ステージの回転中心とのずれとの、少なくとも一方を
    検出する検出手段と、 この検出手段の検出結果に基づいて、前記ウェハの位置
    決めを行う位置決め手段と、 を具備することを特徴とするウェハ位置決め装置。
  2. 【請求項2】 前記位置決め手段は、 前記検出手段で検出されたウェハの切欠きの位置を、前
    記ステージの回転により所定方向に位置決めする第1位
    置決め手段と、 前記ウェハの中心を目標位置に位置決めし、この位置決
    めの際に前記検出手段で検出された前記ずれにより補正
    する第2位置決め手段と、 からなることを特徴とする請求項1記載のウェハ位置決
    め装置。
  3. 【請求項3】 前記ウェハに設けた基準用の切欠きは、
    オリエンテーションフラットであることを特徴とする請
    求項1または請求項2記載のウェハ位置決め装置。
  4. 【請求項4】 前記ウェハの外観を観察する顕微鏡を、
    前記第2位置決め手段の上方の所定位置に配置すること
    を特徴とする請求項2または請求項3記載のウェハ位置
    決め装置。
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