JPH11144264A - 光電式位置検出回路 - Google Patents
光電式位置検出回路Info
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- JPH11144264A JPH11144264A JP31762997A JP31762997A JPH11144264A JP H11144264 A JPH11144264 A JP H11144264A JP 31762997 A JP31762997 A JP 31762997A JP 31762997 A JP31762997 A JP 31762997A JP H11144264 A JPH11144264 A JP H11144264A
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Abstract
路を提供すること。 【解決手段】 発光ダイオードの点灯時の光を、駆動さ
れる検出対象を介して光検出素子で受光することによっ
て、前記検出対象の駆動位置を検出するようにした光電
式位置検出回路であって、前記発光ダイオードの点灯時
の前記光検出素子の出力をサンプルホールドする第1の
サンプルホールド回路と、前記発光ダイオードの消灯時
の前記光検出素子の出力をサンプルホールドする第2の
サンプルホールド回路と、これらの第1及び第2のサン
プルホールド回路の両出力の差を演算する減算回路とを
設け、この減算回路の出力を前記検出対象の駆動位置の
検出値とするように構成した。
Description
回路に関し、特にレーザ光束を偏向して光ディスクの微
動トラッキングを行うヘッドの偏向量を検出する技術に
関するものである。
0Gビット/(インチ)2を越える光磁気ディスク装置の開
発が進んでいる。この装置では、光磁気ディスクのトラ
ックと交差する方向に例えば回動する粗動用アームの先
端部に設けた対物光学系に対するレーザ光束の入射角を
ガルバノミラー等の偏向手段により微調整して、微動ト
ラッキングを例えば0.34μmと狭いトラックピッチレ
ベルで正確に行うようなことが考えられている。この場
合、微動トラッキングを実現するためには、ガルバノミ
ラーのミラー回動量を検出する必要があるが、精密な制
御の必要性から温度変化や経年変化に強い光電式位置検
出回路が望まれていた。
な背景に鑑みてなされたものであり、請求項1の発明
は、発光ダイオードの点灯時の光を、駆動される検出対
象を介して光検出素子で受光することによって、前記検
出対象の駆動位置を検出するようにした光電式位置検出
回路であって、前記発光ダイオードの点灯時の前記光検
出素子の出力をサンプルホールドする第1のサンプルホ
ールド回路と、前記発光ダイオードの消灯時の前記光検
出素子の出力をサンプルホールドする第2のサンプルホ
ールド回路と、これらの第1及び第2のサンプルホール
ド回路の両出力の差を演算する減算回路とを設け、この
減算回路の出力を前記検出対象の駆動位置の検出値とす
ることを特徴とする。
つわるハード,ソフトの進歩に伴う外部記憶装置への要
求、特に大記憶容量への要求の高まりに対して提案され
たニア・フィールド記録(NFR:near field recordin
g) 技術と呼ばれる記録再生方式を用いた光磁気ディス
ク記録再生装置の概要を図1乃至図5を参照して説明す
る。
ある。 ディスクドライブ装置1には光ディスク2が図
示しないスピンドルモータの回転軸に装着されている。
一方、光ディスク2の情報を再生または記録するために
回動(粗動)アーム3が光ディスク2の記録面に対して
平行になるように取り付けられている。この回動アーム
3はボイスコイルモーター4によって回転軸5を回転中
心として回動可能となっている。この回動アーム3の光
ディスク2に対向する先端には、光学素子を搭載した浮
上型光学ヘッド6が搭載されている。また、回動アーム
3の回転軸5近傍には光源ユニットおよび受光ユニット
を備えた光源モジュール7が配設され、回動アーム3と
一体となって駆動する構成となっている。
するものであり、特に浮上型光学ヘッド6を詳細に説明
するものである。浮上型光学ユニット6はフレクシャー
ビーム8に取り付けられており、光ディスク2に対向し
て配置されている。また、フレクシャービーム8は他端
で回動アーム3に固着されており、フレクシャービーム
8の弾性力により先端部の浮上光学ユニット6を光ディ
スク2に接触させる方向に加圧している。
9,対物レンズ10,ソリッドイマージョンレンズ(S
IL)11,磁気コイル12から構成されており、光源
モジュール7から出射された平行なレーザー光束13を
光ディスク2上に収束させるはたらきをする。また、回
動アーム3の先端部には前記レーザー光束13を浮上型
光学ユニット6に導くために立ち上げミラー31が固着
されている。立ち上げミラー31により対物レンズ10
に入射したレーザー光束13は、対物レンズ10の屈折
作用により収束される。この集光点近傍にはソリッドイ
マージョンレンズ(SIL)11が配置されており、前
記収束光を更に微細なエバネッセント光15として光デ
ィスク2に照射させる。
ージョンレンズ(SIL)11の周囲には、光磁気記録
方式で記録するための磁気コイル12が形成されてお
り、記録時には必要な磁界を光ディスク2の記録面上に
印加出来るようになっている。このエバネッセント光1
5と磁気コイル12により、光ディスク2への高密度な
記録および再生が可能となる。なお、浮上型光学ユニッ
ト6は光ディスク2の回転による空気流により微小量浮
上するものであり、光ディスク2の面振れ等に追従す
る。このため従来の光ディスク装置では必要であった対
物レンズの焦点制御(フォーカスサーボ)が不要となっ
ている。
に搭載された光源モジュール7および浮上型光学ユニッ
ト6へ導かれる光束に関し詳細に説明する。回動アーム
3は先端部に浮上型光学ユニット6を搭載し、他端には
ボイスコイルモーター4を駆動するための駆動コイル1
6が固着されている。駆動コイル16は扁平状のコイル
であり、図示せぬ磁気回路内に空隙をおいて挿入配置さ
れている。回転軸5と回動アーム3はベアリング17,
17により回動自在に締結されており、駆動コイルに電
流を印加すると磁気回路との電磁作用により回転軸5を
回転中心として回動アーム3を回動させることができ
る。
ル7には半導体レーザー18,レーザー駆動回路19,
コリメートレンズ20,複合プリズムアッセイ21,レ
ーザーパワーモニターセンサー22,反射プリズム2
3,データ検出センサー24,およびトラッキング検出
センサー25が配置されている。半導体レーザー18か
ら放出された発散光束状態のレーザー光束は、コリメー
トレンズ20によって平行光束に変換される。この平行
光束の断面形状は半導体レーザー18の特性から長円状
であり、光ビームを光ディスク2上に微小に絞り込むに
は都合が悪いため略円形断面に変換する必要がある。こ
のためコリメートレンズ20から出射された断面長円状
の平行光束を、複合プリズムアッセイ21に入射させる
ことにより平行光束の断面形状を整形する。
は入射光軸に対して所定の斜面を形成しており、入射光
を屈折させることにより平行光束の断面形状を長円形状
から略円形形状に整形することが出来る。整形されたレ
ーザー光束は複合プリズムアッセイ21内を進み第1の
ハーフミラー面21bに入射する。第1のハーフミラー
面21bは光ディスク2から得られた情報を、データ検
出センサー24,およびトラッキング検出センサー25
に導くために設定されているが、往路においては半導体
レーザー18から出射されたレーザーの出力パワーを検
出するためのレーザーパワーモニターセンサー22への
光束を分離する役目を果たす。
光した光の強度に比例した電流を出力するため、図示せ
ぬレーザーパワーコントロール回路にこの出力を帰還さ
せることにより半導体レーザー18の出力を安定化させ
ることが出来る。複合プリズムアッセイ21から出射さ
れた略円形断面形状をもったレーザー光束13は偏向ミ
ラー26に照射され、レーザー光束13の進行方向が変
えられる。この偏向ミラー26は紙面に垂直な軸を回動
中心とするガルバノモーター27に取り付いており、レ
ーザー光束13を紙面に平行な方向に微小角度振ること
が出来るようになっている。
ー26の回転角度を検出する偏向ミラー位置検出センサ
ー28が配設されている。偏向ミラー26を反射したレ
ーザー光束13は、第1のリレーレンズ29および第2
のリレーレンズ(イメージングレンズ)30を経て、立
ち上げミラー31で反射後浮上型光学ユニット6に至
る。この第1のリレーレンズ29および第2のリレーレ
ンズ30は、偏向ミラー26の反射面と浮上型光学ユニ
ット6に配置されている対物レンズ10の瞳面(主平
面)との関係を共役関係になるようにするもので、リレ
ーレンズ光学系を形成するものである。すなわち光ディ
スク2上の集光ビームが所定のトラックから僅かにずれ
た場合、偏向ミラー26を僅かに回転させることにより
対物レンズ10に入射させるレーザー光束13を傾か
せ、光ディスク2上の焦点を移動させて補正するもので
ある。しかしながら、この方式で焦点の補正を行う時、
偏向ミラー26と対物レンズ10の光学的距離が長い場
合は、対物レンズ10へ入射するレーザー光束13の移
動量が大きくなり、対物レンズ10に入射出来なくなる
場合がある。
ーレンズ29および第2のリレーレンズ30によって、
偏向ミラー26の反射面と対物レンズ10の瞳面との関
係を共役関係になるように設定し、偏向ミラー26が回
動しても対物レンズ10に入射するレーザー光束13は
移動せず、正確なトラッキング制御が可能となるように
している。なお、光ディスク2の内周/外周に渡るアク
セス動作は、ボイスコイルモーター4により回動アーム
3を回動させて行い、極微小なトラッキング制御のみ偏
向ミラー26を回動させて行う。
路のレーザー光束13は、往路と逆に進み偏向ミラー2
6に反射されて複合プリズムアッセイ21に入射する。
その後第1のハーフミラー面21bで反射され、第2の
ハーフミラー面21cに向かう。第2のハーフミラー面
21cは、トラッキング検出センサー25へ向かう透過
光と、データ検出センサー24へ向かう反射光を生成
し、復路のレーザー光束を分離する。第2のハーフミラ
ー面21cを透過したレーザー光束はトラッキング検出
センサー25へ照射され、トラッキング誤差信号を出力
する。
されたレーザー光束はウォラストンプリズム32により
偏光分離され、かつ集光レンズ33によって収束光に変
換後、反射プリズム23で反射されてデータ検出センサ
ー24に照射される。データ検出センサー24は2つの
受光領域をもっており、ウォラストンプリズム32によ
り偏光分離された2つの偏光ビームをそれぞれ受光する
ことにより、光ディスク2に記録されているデータ情報
を読取データ信号を出力する。なお、正確には前記トラ
ッキング誤差信号およびデータ信号は図示せぬヘッドア
ンプ回路によって生成され、制御回路または情報処理回
路に送られるものである。
26を駆動するガルバノモーター27の制御用サーボ回
路について説明する。同図において、コントローラ34
は、回動アーム3を回動させて高速シークさせる時は、
偏向ミラー26をデフォルト位置(レーザ光束13を対
物レンズ10の光軸上に位置させる位置)に維持させる
指令信号を出力し、シーク終了後の微動トラッキング時
には、目標トラックを探して対物レンズ10からの集光
ビームを正しくオントラックさせるための指令信号を出
力し、オントラック後は前述したトラッキング誤差信号
に基づき集光ビームの位置修正を行う指令信号を出力す
る。
位相補償を行う回路であり、コントローラ34からの指
令信号と、偏向ミラー位置検出センサー28からの偏向
ミラー26のデフォルト位置からの偏差を示す信号を信
号処理回路36で処理されたフィードバック信号との偏
差信号の位相報償を行って、その結果をガルバノモータ
ー27を駆動するパワードライブ回路37に出力する。
これにより、ガルバノモーター27は指令信号通りに駆
動され、偏向ミラー26による微動トラッキングが行わ
れる。
8としては、2つの反射型フォトインタラプターが使用
され、各々を偏向ミラー26の回動軸を挟んだ対称な位
置で偏向ミラー26の裏面に設けた反射面に対向させ、
且つ偏向ミラー26が前述のデフォルト位置にある時に
反射面と各反射型フォトインタラプターとが等距離に配
置してある。このようにすることにより、各々の反射型
フォトインタラプターのフォトトランジスタの出力の差
は、偏向ミラー26がデフォルト位置にある時にゼロに
なる。
型フォトインタラプターによって構成された偏向ミラー
位置検出センサー28及び信号処理回路36の詳細な回
路図を示す。
28a,28bを構成する2つの発光ダイオードは直列接
続されて、図8(イ)に示すパルス発生器36aからの
パルス信号S1により駆動されるアナログスイッチ36a
によりパルス信号S1がハイレベルになる毎に点灯され
る。また、第1,第2の反射型フォトインタラプター2
8a,28bを構成する2つのフォトトランジスタの各エ
ミッタ出力は増幅回路36cを介して差動増幅回路36d
に入力され、偏向ミラー26のデフォルト位置からの回
動位置を示すフィードバック信号を得るようになってい
る。
前述のフィードバック信号は、並列の第1,第2のサン
プルホールド回路36e,36fに入力されるようになっ
ている。そして、これらの第1,第2のサンプルホール
ド回路36e,36fは、図8(イ)(ロ)に示すパルス
発生器36aからの前述したパルス信号S1及びこのパル
ス信号S1がハイレベルになる直前でローレベルに落ち
るS1とハイレベル期間が等しいパルス信号S2によって
夫々一定期間毎に交互に駆動されるようになっており、
パルス信号S1により2つの発光ダイオードが点灯され
たときには、その点灯毎に第1のサンプルホールド回路
36eのコンデンサには、偏向ミラー26のデフォルト
位置からの回動位置を示すフィードバック信号がサンプ
ルホールドされ、2つの発光ダイオードの点灯直前のパ
ルス信号S2により第2のサンプルホールド回路36fが
駆動されたときは、その駆動毎に2つの発光ダイオード
の消灯時に差動増幅回路36dから出力される、温度や
経年変化に伴い発生するドリフト(暗電流を含む)電流
を示す信号がそのコンデンサにサンプルホールドされ
る。
路36e,36fの各ホールド値は、バッファ回路36gを
介して減算回路36hに入力されて両者の差が求められ
るため、この減算回路36hからはフォトトランジスタ
から差動増幅回路までの電子部品の温度変化や経年変化
に伴うドリフトが除去されたフィードバック信号が前述
の位相進み遅れ補正回路35に帰還され、精度高いサー
ボ制御が実現される。
温度変化や経時変化に伴い変化するドリフトの影響のな
い光電式の位置検出が可能になる。
す図である。
部を示す図である。
理回路の詳細回路図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 発光ダイオードの点灯時の光を、駆動さ
れる検出対象を介して光検出素子で受光することによっ
て、前記検出対象の駆動位置を検出するようにした光電
式位置検出回路であって、前記発光ダイオードの点灯時
の前記光検出素子の出力をサンプルホールドする第1の
サンプルホールド回路と、前記発光ダイオードの消灯時
の前記光検出素子の出力をサンプルホールドする第2の
サンプルホールド回路と、これらの第1及び第2のサン
プルホールド回路の両出力の差を演算する減算回路とを
設け、この減算回路の出力を前記検出対象の駆動位置の
検出値とすることを特徴とする光電式位置検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31762997A JP3934226B2 (ja) | 1997-11-04 | 1997-11-04 | 光電式位置検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31762997A JP3934226B2 (ja) | 1997-11-04 | 1997-11-04 | 光電式位置検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11144264A true JPH11144264A (ja) | 1999-05-28 |
JP3934226B2 JP3934226B2 (ja) | 2007-06-20 |
Family
ID=18090301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31762997A Expired - Fee Related JP3934226B2 (ja) | 1997-11-04 | 1997-11-04 | 光電式位置検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3934226B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1308927C (zh) * | 2003-10-30 | 2007-04-04 | 索尼株式会社 | 光盘装置 |
-
1997
- 1997-11-04 JP JP31762997A patent/JP3934226B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1308927C (zh) * | 2003-10-30 | 2007-04-04 | 索尼株式会社 | 光盘装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3934226B2 (ja) | 2007-06-20 |
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