JPH11142449A - 電子部品の抵抗測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】特別な接触検出回路を設けずに接触検出が行な
えるとともに、装置の小型化と測定時間の短縮を実現で
きる電子部品の抵抗測定装置を提供する。 【解決手段】ターンテーブル２０の保持溝２１に被測定
コンデンサ５を保持し、保持溝２１の底面に接触電極１
３ａ，１３ｂを設けるとともに、ターンテーブル２０の
裏面に接触電極１３ａ，１３ｂと接続されたダミー抵抗
１２を固定する。測定端子７ａ，７ｂをコンデンサ５の
電極に接触させると同時に、コンデンサ５の電極を接触
電極１３ａ，１３ｂとも導通させる。測定端子７ａ，７
ｂから直流電圧を印加し、その漏れ電流を検出すること
によりコンデンサ５の接触検出と絶縁抵抗測定とを同時
に行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はコンデンサなどの電
子部品の抵抗測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】チップ型の積層セラミックコンデンサの
特性選別では、コンデンサの絶縁抵抗を測定し、その値
があるしきい値以上であれば良品とし、未満であれば不
良品として選別する。ところで、コンデンサの絶縁抵抗
は一般に非常に大きいため、測定端子とコンデンサの電
極との接触不良があった場合の測定値（測定端子の絶縁
抵抗値に相当）と、接触が正常な場合の測定値とを区別
することが難しい。そのため、従来では例えば次のよう
な方法で絶縁抵抗測定とは別に特殊な回路を用いて接触
検出を行なっていた。

【０００３】従来、図１に示すように測定端子の接触検
出と絶縁抵抗の測定とを行なうことができる絶縁抵抗測
定装置が知られている（例えば特開平４−１３１７７０
号公報参照）。すなわち、１は正弦波発生器、２は直流
測定電源であり、それぞれの一端はアースされ、他端は
スイッチ３によって択一的に切り換えられる。スイッチ
３は電流制限抵抗４を介して被検体であるコンデンサ５
の一端に接続され、コンデンサ５の他端はアンプ６の入
力に接続される。なお、コンデンサ５の両端の電極には
測定端子７ａ，７ｂが接触している。アンプ６の出力は
スイッチ８を介してＡ／Ｄ変換器９に接続され、解析装
置（ＣＰＵ）１０と接続されている。また、アンプ６の
出力はＲＭＳ／ＤＣ変換器１１を介してスイッチ８とも
接続されている。スイッチ８をアンプ側へ切り換える
と、アンプ６はそのままＡ／Ｄ変換器９と接続され、ス
イッチ８をＲＭＳ／ＤＣ変換器側へ切り換えると、アン
プ６はＲＭＳ／ＤＣ変換器１１を介してＡ／Ｄ変換器９
と接続される。

【０００４】次に、上記測定装置を用いて被検体である
コンデンサ５の絶縁抵抗値を測定する方法を説明する。
まず、コンデンサ５が正しく測定端子７ａ，７ｂに接触
しているかを確認するため、スイッチ３を正弦波発生器
１側へ切り換え、周波数が例えば１ｋＨｚ程度の交流信
号を流す。同時に、スイッチ８をＲＭＳ／ＤＣ変換器１
１側へ切り換える。その結果、交流信号がコンデンサ５
を通り、アンプ６で増幅された後、ＲＭＳ／ＤＣ変換器
１１で実効値に対応した直流信号に変換される。そし
て、この直流信号をＡ／Ｄ変換器９でデジタル化し、Ｃ
ＰＵ１０で解析する。デジタル化された信号が基準以下
であれば、接触不良である。

【０００５】接触が良好であれば、次にスイッチ３を直
流電源２側へ切り換えると同時に、スイッチ８をアンプ
６側へ切り換える。これにより、電流制限抵抗４で制限
された電流はコンデンサ５に充電される。充電後、コン
デンサ５の漏れ電流をアンプ６で増幅し、この出力をＡ
／Ｄ変換器９でデジタル化したものをＣＰＵ１０で解析
し、コンデンサ５の絶縁抵抗値を計算する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】一般に、絶縁抵抗測定
はコンデンサ５の特性選別工程で実施される。この特性
選別工程では、コンデンサはパーツフィーダなどの供給
装置からターンテーブルなどの搬送治具へ送り込まれ、
ターンテーブルを間欠回転させながら測定端子をコンデ
ンサの電極に接触させることで、絶縁抵抗などが測定さ
れる。ところが、上記絶縁抵抗測定装置では、接触検出
と絶縁抵抗測定とを回路を切り換えることで検出してい
るため、測定に時間がかかるとともに、接触検出のため
に特別の回路を必要とするため、設備が高価になるとい
う欠点があった。特に、測定チャンネル数が多い場合
（例えば１２０チャンネル）には、各チャンネル毎に接
触検出回路を設ける必要があり、設備の大型化と高コス
ト化を招くばかりか、測定時間の長期化が避けられず、
生産性が低下するという問題があった。

【０００７】そこで、本発明の目的は、特別な接触検出
回路を設けずに接触検出が行なえるとともに、装置の小
型化と測定時間の短縮を実現できる電子部品の抵抗測定
装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、電子部品の電極に測定端
子を接触させ、電子部品に流れる電流を検出することに
より電子部品の抵抗値を測定する装置において、上記電
子部品の電極に、測定端子間の絶縁抵抗値Ｒｔより小さ
く、上記電子部品の抵抗値の許容下限値Ｒmin より大き
い抵抗値Ｒｄを持つダミー抵抗の電極を接触可能とし、
上記測定端子を電子部品の電極に接触させると同時に、
ダミー抵抗の電極を電子部品の電極に接触させ、電子部
品とダミー抵抗との並列回路に流れる電流を検出するも
のである。

【０００９】測定端子を電子部品の電極に押しつける
と、電子部品の電極はダミー抵抗の電極とも接触する。
ここで、測定端子から電気信号を印加すると、この信号
は電子部品とダミー抵抗との並列回路に流れるので、並
列回路の抵抗値Ｒに対応した出力信号が得られる。ダミ
ー抵抗の抵抗値Ｒｄは測定端子間の絶縁抵抗値Ｒｔより
小さく、測定すべき電子部品の抵抗値の許容下限値Ｒmi
n より大きく設定されている。そのため、並列回路の抵
抗値ＲがＲmin ・Ｒｄ／（Ｒmin ＋Ｒｄ）より低い場合
には、電子部品の絶縁抵抗値が低すぎる、つまり絶縁不
良であることを意味するので、不良品と判定すればよ
い。一方、並列回路の抵抗値Ｒがダミー抵抗の抵抗値Ｒ
ｄより大きい場合には、絶縁抵抗値が高すぎる、つまり
接触不良であることを意味するので、再度測定端子を接
触させて測定すればよい。また、測定端子が電子部品の
電極と接触していない場合、ダミー抵抗とも接触しない
ことになるので、接触不良を確実に検出できる。さら
に、測定端子と電子部品の電極との接触が良好であって
も、接触電極と電子部品の電極との接触が不良である場
合が生じる。その場合には、並列回路の出力が電子部品
の抵抗値のみに対応した出力となるので、問題がない。

【００１０】実際の絶縁抵抗測定では、ターンテーブル
などの搬送治具を用いて測定を行うことが多い。本発明
はこのような搬送治具に適用することができる。すなわ
ち、請求項２では、一方向に周回駆動される搬送治具
と、上記搬送治具の上面に設けられた電子部品を収納保
持するための保持溝と、上記保持溝の底部に電子部品の
電極と接触可能に設けられた一対の接触電極とを備え、
上記測定端子は上記搬送治具の上方に昇降可能に配置さ
れ、上記搬送治具には上記ダミー抵抗が一体に組み込ま
れ、かつ上記接触電極とダミー抵抗の電極とが互いに接
続されている。このように構成すれば、搬送しながら抵
抗測定を実施できるので、小型の装置で生産性を向上さ
せることができる。

【００１１】同様に、請求項３では、一方向に周回駆動
される搬送治具と、上記搬送治具の上面に設けられた電
子部品を収納保持する保持溝と、上記保持溝の底部に電
子部品の電極と接触可能に設けられ、かつ搬送治具の下
面に延設された一対の接触電極と、上記搬送治具の上方
に昇降可能に配置され、保持溝に収納された電子部品を
押圧して電子部品の電極を接触電極と接触させる押圧具
とを備え、上記測定端子は上記搬送治具の下方に、上記
接触電極と接触可能に配置され、上記ダミー抵抗は押圧
具に一体に組み込まれ、その端子が上記電子部品の電極
と接触可能であるものである。この場合には、押圧具に
ダミー抵抗を設けることで、請求項２と同様な作用効果
を奏する。

【００１２】上記ダミー抵抗の抵抗値Ｒｄは電子部品の
許容下限値Ｒmin の１０倍以上に設定するのが望まし
い。すなわち、Ｒｄ≫Ｒmin の場合には、Ｒmin ・Ｒｄ
／（Ｒmin ＋Ｒｄ）はほぼＲmin に等しくなるので、Ｒ
min ＜Ｒ＜Ｒｄの範囲内にあるか否かで、電子部品自身
および接触が正常であるか否かを判定できる。

【００１３】並列回路の抵抗値Ｒが正常値、つまりＲmi
n ＜Ｒ＜Ｒｄの関係式を満足する場合には、抵抗値Ｒと
ダミー抵抗の抵抗値Ｒｄとから、次式を用いて電子部品
の抵抗値Ｒｍを求めることができる。 Ｒｍ＝Ｒ・Ｒｄ／（Ｒｄ−Ｒ） このようにダミー抵抗を測定すべき電子部品と並列に接
続し、その並列回路の抵抗値Ｒを測定することで、接触
検出と絶縁抵抗測定とを同時に実施でき、スイッチ等の
切換を必要としない。また、格別な接触検出回路も必要
としない

【００１４】

【発明の実施の形態】本発明の抵抗測定方法の原理を、
図２，図３にしたがって説明する。ここでは、説明を簡
単にするため、測定すべき電子部品としてチップコンデ
ンサ５を用いた。なお、図２において図１の回路と同一
部品には同一符号を付して重複説明を省略する。

【００１５】１２はダミー抵抗であり、測定端子７ａ，
７ｂ間の絶縁抵抗値Ｒｔより十分小さく、かつコンデン
サ５の絶縁抵抗値の許容下限値Ｒmin より十分大きな抵
抗値Ｒｄを持つ抵抗器が使用される。すなわち、 Ｒmin ≪Ｒｄ≪Ｒｔ ・・・（１）

【００１６】ダミー抵抗１２の両端の端子１２ａ，１２
ｂは接触電極１３ａ，１３ｂと予め接続されており、接
触電極１３ａ，１３ｂは被測定コンデンサ５の電極５
ａ，５ｂと接触可能である。また、測定回路と接続され
た測定端子７ａ，７ｂは従来と同様に被測定コンデンサ
５の電極５ａ，５ｂと接触可能である。被測定コンデン
サ５の電極５ａ，５ｂが測定端子７ａ，７ｂと導通し、
かつ接触電極１３ａ，１３ｂとも導通した状態では、ダ
ミー抵抗１２と被測定コンデンサ５とが並列接続され
る。なお、図３の等価回路に示すように、コンデンサ５
は絶縁抵抗値Ｒｍと静電容量Ｃｍとで構成されている。

【００１７】コンデンサ５とダミー抵抗１２との並列回
路の抵抗値Ｒは次式で表される。 Ｒ＝Ｒｍ・Ｒｄ／（Ｒｍ＋Ｒｄ） ・・・（２） なお、測定端子７ａ，７ｂと被測定コンデンサ５の電極
５ａ，５ｂとの間、および電極５ａ，５ｂと接触電極１
３ａ，１３ｂとの間には接触抵抗が存在するが、これら
は通常数オーム以下であるから、Ｒｄに比べて極めて小
さく、その影響は無視できる。

【００１８】もし、コンデンサ５が良品であれば、 Ｒｍ≧Ｒmin ・・・（３） であるから、 Ｒmin ・Ｒｄ／（Ｒmin ＋Ｒｄ）≦Ｒ＜Ｒｄ ・・・（４） となる。次に、コンデンサ５が不良品であれば、 Ｒｍ＜Ｒmin ・・・（５） であるから、 Ｒ＜Ｒmin ・Ｒｄ／（Ｒmin ＋Ｒｄ） ・・・（６） となる。また、測定端子７ａ，７ｂと被測定コンデンサ
５の電極５ａ，５ｂが接触不良の場合は、 Ｒ＝Ｒｔ ・・・（７） となる。さらに、被測定コンデンサ５の電極５ａ，５ｂ
と接触電極１３ａ，１３ｂが接触不良の場合は、 Ｒ＝Ｒｍ ・・・（８） となる。上記（４），（６），（７），（８）式より図
４のような関係が得られる。

【００１９】図４から明らかなように、測定値Ｒが、 Ｒmin ＜Ｒ＜Ｒｄ ・・・（９） を満たす場合に、安全に絶縁抵抗の特性選別が行なえ
る。なお、測定値Ｒが Ｒmin ・Ｒｄ／（Ｒmin ＋Ｒｄ）＜Ｒ＜Ｒmin ・・・（10） の場合、（３）式を満たす良品を不良品としてしまう
が、Ｒｄを（１）式の条件下で十分大きくすれば、その
割合は僅かである。具体的には、被測定コンデンサ５の
絶縁抵抗値Ｒｍの許容下限値Ｒmin の１０倍以上に設定
するのが望ましい。したがって、例えば被測定コンデン
サ５の許容下限値Ｒmin ＝１０ＧΩの場合には、Ｒｄ＝
１００〜２００ＧΩ程度に設定するのがよい。同じく、
測定値Ｒが、 Ｒｄ＜Ｒ ・・・（11） の場合も、（３）式を満たす良品を不良品としてしまう
ことがあるが、これもＲｄを（１）式の条件下で十分大
きくすることで、実質的に問題でなくなる。ただし、Ｒ
ｄとＲｔは安全に区別できる程度、すなわちＲｔをＲｄ
の１０倍以上、好ましくは５０倍〜１００倍程度大きく
するのがよい。

【００２０】ここで、本発明にかかる接触検出方法およ
び抵抗測定方法を図５にしたがって説明する。まず、測
定端子７ａ，７ｂを被測定コンデンサ５の電極５ａ，５
ｂに接触させる（ステップＳ１）。このときの接触圧に
より、被測定コンデンサ５の電極５ａ，５ｂはダミー抵
抗１２の端子１２ａ，１２ｂと接続された接触電極１３
ａ，１３ｂとも接触する。そのため、直流電源２から電
流制限抵抗４で制限された電流が被測定コンデンサ５と
ダミー抵抗１２との並列回路に流れ、コンデンサ５に充
電される。

【００２１】充電後、並列回路の漏れ電流をアンプ６で
増幅し、この出力をＡ／Ｄ変換器９でデジタル化したも
のをＣＰＵ１０で測定する（ステップＳ２）。このと
き、ＣＰＵ１０で測定されるのは、コンデンサ５とダミ
ー抵抗１２との並列回路の抵抗値Ｒである。

【００２２】次に、接触検出のために、抵抗値Ｒをコン
デンサ５の絶縁抵抗の許容下限値Ｒmin およびダミー抵
抗１２の抵抗値Ｒｄと比較する（ステップＳ３）。本来
であれば、抵抗値ＲをＲmin ・Ｒｄ／（Ｒmin ＋Ｒｄ）
と比較すべきであるが、上記のようにＲｄ≫Ｒmin に設
定されているので、Ｒmin と比較することで、より安全
な特性選別が行なえる。

【００２３】ステップＳ３において、Ｒmin ＜Ｒ＜Ｒｄ
の場合には、コンデンサ５が良品であり、かつ測定端子
７ａ，７ｂとコンデンサ５との接触が良好であることを
意味する。（１）式を変形すると、被測定コンデンサ５
の絶縁抵抗値Ｒｍは次式で求められる（ステップＳ
４）。 Ｒｍ＝Ｒ・Ｒｄ／（Ｒｄ−Ｒ） ・・・（６）

【００２４】一方、ステップＳ３において、Ｒmin ≧Ｒ
の場合にはコンデンサ５の抵抗値が低すぎる、つまり絶
縁不良であるから、不良品として取り出す（ステップＳ
５）。さらに、ステップＳ３において、Ｒ≧Ｒｄの場合
には測定端子７ａ，７ｂがコンデンサ５に正常に接触し
ていない、つまり接触不良であることを意味するので、
再度測定端子７ａ，７ｂを接触させるためにステップＳ
１へ戻る。

【００２５】以上のように、本発明装置では接触検出用
の回路が不要となるので、図２から明らかなように、正
弦波発生器１、スイッチ３，８、ＲＭＳ／ＤＣ変換器１
１など（図１参照）が不要となる。したがって、測定回
路が非常に簡素となり、１台で多数の測定チャンネルを
もつ装置においては、大幅なコスト低減と小型化を実現
できる。また、スイッチ３，８の切換が不要となるの
で、測定時間を短縮できるという効果もある。

【００２６】図６〜図８は抵抗測定装置の具体例を示
す。２０は搬送治具の一例であるターンテーブルであ
り、ターンテーブル２０は矢印方向に一定ピッチ間隔で
間欠的に回転駆動される。ターンテーブル２０の外周部
には、図７のように被検体であるチップ型コンデンサ５
を１個ずつ保持できる凹状の保持溝２１が上記駆動ピッ
チと同一ピッチ間隔で設けられている。ターンテーブル
２０の各保持溝２１の底面には、図８のように２個の接
触電極１３ａ，１３ｂが形成されており、これら接触電
極１３ａ，１３ｂはスルーホール電極２２ａ，２２ｂを
介して裏面電極２３ａ，２３ｂに接続されている。そし
て、裏面電極２３ａ，２３ｂにはダミー抵抗１２が架け
渡して固定され、半田や導電性接着剤２４等によって裏
面電極２３ａ，２３ｂと端子１２ａ，１２ｂとが接続さ
れている。

【００２７】なお、接触電極１３ａ，１３ｂを設ける位
置は保持溝２１の底面に限らず、保持溝２１の側面であ
ってもよい。ただし、実施例のように接触電極１３ａ，
１３ｂを保持溝２１の底面に設けた場合には、後述する
測定端子７ａ，７ｂの押圧力が電極５ａ，５ｂと接触電
極１３ａ，１３ｂとを接触させる方向に働くので、接続
信頼性が高くなる。

【００２８】各保持溝２１の内周面には、図８に示すよ
うに空気穴２５が設けられており、各空気穴２５は切替
弁２６を介して負圧源２７および正圧源２８と接続され
ている。保持溝２１にコンデンサ５が収容されている間
は、空気穴２５と負圧源２７とが接続されており、保持
溝２１の内周面にコンデンサ５を吸着保持している。そ
のため、コンデンサ５の電極５ａ，５ｂに対する測定端
子７ａ，７ｂの接触位置が一定となり、安定した特性測
定が可能となるとともに、ターンテーブル２０の回転に
伴う遠心力によってコンデンサ５が保持溝２１から脱落
するのを防止できる。また、保持溝２１からコンデンサ
５を取り出す際には、切替弁２６が正圧源２８側に切り
替わり、エアーを吹き出してコンデンサ５を保持溝２１
から排出するようになっている。

【００２９】ターンテーブル２０の周囲には、図６のよ
うにコンデンサ５を保持溝２１へ供給する供給部３０、
容量を測定する容量測定部３１、コンデンサ５に直流電
圧を印加する予備充電部３２、ＩＲ測定部３３、不良品
排出部３４、良品取出部３５等が設けられている。供給
部３０に対応する位置には、コンデンサ５を１個ずつタ
ーンテーブル２０へ送り込むパーツフィーダなどの供給
装置３６が配置されている。また、容量測定部３１から
予備充電部３２を経てＩＲ測定部３３に至る経路の上部
には、図８に示されるような昇降可能な測定端子７ａ，
７ｂがそれぞれ配置されている。

【００３０】また、予備充電部３２を経て予備充電を終
了した後、ＩＲ測定部３３で測定端子７ａ，７ｂを被測
定コンデンサ５の電極５ａ，５ｂに接触させる。ここ
で、図２に示される回路を用いて、接触検出と絶縁抵抗
の測定とを行なう。この絶縁抵抗値Ｒは被測定コンデン
サ５とダミー抵抗１２との並列回路の絶縁抵抗であるか
ら、（６）式により被測定コンデンサ５の絶縁抵抗Ｒｍ
を計算で求めることができる。

【００３１】上記のようにして求めた被測定コンデンサ
５の容量値Ｃｍと絶縁抵抗値Ｒｍの何れか一方が基準範
囲外であれば、不良品排出部３４から排出され、容量Ｃ
ｍと絶縁抵抗Ｒｍとが共に基準範囲内であれば、良品取
出部３５より取り出される。

【００３２】図９はＩＲ測定部３３の他の実施例を示
す。この実施例では、ターンテーブル２０の保持溝２１
の底部に形成した接触電極１３ａ，１３ｂを、ターンテ
ーブル２０の底面まで延設し、この接触電極１３ａ，１
３ｂに下方から測定端子７ａ，７ｂを接触させる。ま
た、保持溝２１に収納されたコンデンサ５の電極５ａ，
５ｂに対して、上方から押圧具４０が押圧可能となって
いる。押圧具４０にはダミー抵抗１２が埋め込んで固定
されており、このダミー抵抗１２の端子１２ａ，１２ｂ
は押圧具４０の下面に突出する端子４１，４２と接続さ
れている。

【００３３】測定の際しては、測定端子７ａ，７ｂを上
昇させると同時に、押圧具４０を下降させる。これによ
って、測定端子７ａ，７ｂが接触電極１３ａ，１３ｂに
接触すると同時に、押圧具４０の端子４１，４２がコン
デンサ５の電極５ａ，５ｂに接触する。これによって、
確実な接触性を得ることができる。なお、接触検出と絶
縁抵抗測定の方法は先の実施例で説明した通りである。

【００３４】本発明が対象とする電子部品は、コンデン
サに限らず容量を持たない部品、例えばスイッチ類、リ
レー等であってもよい。例えば、リレーのオープン時の
絶縁抵抗測定にも適用できる。また、本発明のダミー抵
抗としては実施例のようなリード付き抵抗器に限らず、
チップ型抵抗器を用いてもよい。したがって、本発明で
いう電極とは端子を含む概念である。さらに、ダミー抵
抗は別付部品である必要はなく、搬送治具（例えばター
ンテーブル）に一体に形成されたものであってもよい。
この場合には、搬送治具を所望の抵抗率を有する材料で
形成し、一対の接触電極を設けるだけでよい。

【００３５】搬送治具としては、実施例のように電子部
品を保持する保持溝を等ピッチ間隔で円周上に設けたタ
ーンテーブルであってもよいし、電子部品を保持する保
持溝を等ピッチ間隔で設けた無端ベルトであってもよ
い。また、ターンテーブルを用いる場合において、保持
溝は底面と円周方向両側面と内周面とを備えたものに限
らず、例えば外周部に切欠溝を設けた回転体と、回転体
の底面側を支持する不動の底板とで構成してもよい。こ
の場合には、電子部品の下面が底板に対して摺動するこ
とになる。

【００３６】また、本発明にかかる抵抗測定装置は、図
２に示される回路に限るものでなく、他の公知の回路を
用いることができることは勿論である。また、図６では
予め予備充電を行なった後、絶縁抵抗測定（接触検出を
含む）を別のステップで行なうようにしたが、特開平４
−２５４７６９号公報のように充電と絶縁抵抗測定（接
触検出を含む）とを同時に行なってもよい。

【００３７】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、被測定電子部品とダミー抵抗との並列回路の抵
抗値を検出することで、測定端子の接触検出と電子部品
の絶縁抵抗測定とを同時に行なえるようにしたので、接
触検出のための専用回路が不要となり、絶縁抵抗測定回
路のみで信頼性の高い特性選別を行なうことができる。
そのため、装置が大幅に簡素化され、特に測定チャンネ
ル数の多い測定装置において、装置の大幅な小型化と低
コスト化を実現できる。また、接触検出と絶縁抵抗測定
とで回路を切り換える必要がないので、切換に要する時
間を短縮でき、生産性の向上を実現できる。さらに、従
来では接触検出が困難であった微小容量コンデンサの絶
縁抵抗測定においても、高い信頼性をもって実施でき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来のコンデンサの絶縁抵抗測定装置の一例の
回路図である。

【図２】本発明にかかる抵抗測定装置の一例の回路図で
ある。

【図３】図２の抵抗測定装置の要部の等価回路図であ
る。

【図４】並列回路の抵抗値Ｒの値による判断手法を示す
図である。

【図５】本発明にかかる接触検出方法および絶縁抵抗測
定方法を示すフローチャート図である。

【図６】本発明にかかる抵抗測定装置の一例の概略平面
図である。

【図７】図４の抵抗測定装置に用いられるターンテーブ
ルの斜視図である。

【図８】図６の抵抗測定装置のＩＲ測定部の断面図であ
る。

【図９】図６の抵抗測定装置のＩＲ測定部の他の実施例
の断面図である。

【符号の説明】

５ 被測定コンデンサ（電子部品） ７ａ，７ｂ 測定端子 １２ ダミー抵抗 １３ａ，１３ｂ 接触電極 ２０ ターンテーブル（搬送治具） ２１ 保持溝

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】電子部品の電極に測定端子を接触させ、電
   子部品に流れる電流を検出することにより電子部品の抵
   抗値を測定する装置において、 上記電子部品の電極に、測定端子間の絶縁抵抗値Ｒｔよ
   り小さく、上記電子部品の抵抗値の許容下限値Ｒmin よ
   り大きい抵抗値Ｒｄを持つダミー抵抗の電極を接触可能
   とし、 上記測定端子を電子部品の電極に接触させると同時に、
   ダミー抵抗の電極を電子部品の電極に接触させ、電子部
   品とダミー抵抗との並列回路に流れる電流を検出するよ
   うにした電子部品の抵抗測定装置。
2. 【請求項２】一方向に周回駆動される搬送治具と、 上記搬送治具の上面に設けられた電子部品を収納保持す
   るための保持溝と、 上記保持溝の底部に電子部品の電極と接触可能に設けら
   れた一対の接触電極とを備え、 上記測定端子は上記搬送治具の上方に昇降可能に配置さ
   れ、 上記搬送治具には上記ダミー抵抗が一体に組み込まれ、
   かつ上記接触電極とダミー抵抗の電極とが互いに接続さ
   れていることを特徴とする請求項１に記載の電子部品の
   抵抗測定装置。
3. 【請求項３】一方向に周回駆動される搬送治具と、 上記搬送治具の上面に設けられた電子部品を収納保持す
   る保持溝と、 上記保持溝の底部に電子部品の電極と接触可能に設けら
   れ、かつ搬送治具の下面に延設された一対の接触電極
   と、 上記搬送治具の上方に昇降可能に配置され、保持溝に収
   納された電子部品を押圧して電子部品の電極を接触電極
   と接触させる押圧具とを備え、 上記測定端子は上記搬送治具の下方に、上記接触電極と
   接触可能に配置され、 上記ダミー抵抗は押圧具に一体に組み込まれ、その端子
   が上記電子部品の電極と接触可能であることを特徴とす
   る請求項１に記載の電子部品の抵抗測定装置。
4. 【請求項４】上記ダミー抵抗の抵抗値Ｒｄは電子部品の
   許容下限値Ｒmin の１０倍以上に設定されていることを
   特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の電子部
   品の抵抗測定装置。
5. 【請求項５】上記測定端子から電子部品とダミー抵抗と
   の並列回路に直流電圧を印加し、その漏れ電流から並列
   回路の抵抗値Ｒを測定するＩＲ測定回路が設けられ、 上記抵抗値ＲがＲmin ＜Ｒ＜Ｒｄの関係式を満足すると
   き、 上記抵抗値Ｒとダミー抵抗の抵抗値Ｒｄとから、次式を
   用いて電子部品の抵抗値Ｒｍを求めることを特徴とする
   請求項１ないし４のいずれかに記載の電子部品の抵抗測
   定装置。 Ｒｍ＝Ｒ・Ｒｄ／（Ｒｄ−Ｒ）