JPH11132847A - 光スペクトラムアナライザ - Google Patents
光スペクトラムアナライザInfo
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- JPH11132847A JPH11132847A JP9295294A JP29529497A JPH11132847A JP H11132847 A JPH11132847 A JP H11132847A JP 9295294 A JP9295294 A JP 9295294A JP 29529497 A JP29529497 A JP 29529497A JP H11132847 A JPH11132847 A JP H11132847A
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- JP
- Japan
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- diffraction grating
- light
- mirror
- diffracted light
- wavelength
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 小型化、低価格で高速測定が可能な光スペク
トラムアナライザを実現する。 【解決手段】 入射光を回折させて波長毎の回折光を検
出する光スペクトラムアナライザにおいて、入射光を平
行光にして反射するコリメータミラーと、このコリメー
タミラーからの反射光を回折させる回折格子と、この回
折格子からの波長毎の回折光を収束光として反射させる
集光ミラーと、集光ミラーからの各々の収束光の反射角
を変化させることにより回折光を走査する走査ミラー
と、この走査ミラーからの反射光のうちでスリットを通
過した回折光を検出する光検出器とを設ける。
トラムアナライザを実現する。 【解決手段】 入射光を回折させて波長毎の回折光を検
出する光スペクトラムアナライザにおいて、入射光を平
行光にして反射するコリメータミラーと、このコリメー
タミラーからの反射光を回折させる回折格子と、この回
折格子からの波長毎の回折光を収束光として反射させる
集光ミラーと、集光ミラーからの各々の収束光の反射角
を変化させることにより回折光を走査する走査ミラー
と、この走査ミラーからの反射光のうちでスリットを通
過した回折光を検出する光検出器とを設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入射光を回折させ
て波長毎の回折光を検出する光スペクトラムアナライザ
に関し、特に回折光の走査方法を改良した光スペクトラ
ムアナライザに関する。
て波長毎の回折光を検出する光スペクトラムアナライザ
に関し、特に回折光の走査方法を改良した光スペクトラ
ムアナライザに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光スペクトラムアナライザは回折
格子により入射光を回折させ、波長毎の回折光を検出す
ることによりスペクトル分析を行っている。
格子により入射光を回折させ、波長毎の回折光を検出す
ることによりスペクトル分析を行っている。
【0003】図4はこのような従来の光スペクトラムア
ナライザの一例を示す構成図である。図4において1は
コリメータミラー、2は回折格子、3は集光ミラー、4
はミラー、5はスリット、6はフォトダイオード等の光
検出器、100は入射光である。
ナライザの一例を示す構成図である。図4において1は
コリメータミラー、2は回折格子、3は集光ミラー、4
はミラー、5はスリット、6はフォトダイオード等の光
検出器、100は入射光である。
【0004】入射光100はコリメータミラー1により
平行光になり回折格子2に入射され、回折格子2からの
回折光は集光ミラー3及びミラー4を介してスリット5
に入射される。また、スリット5を通過した回折光は光
検出器6に入射される。
平行光になり回折格子2に入射され、回折格子2からの
回折光は集光ミラー3及びミラー4を介してスリット5
に入射される。また、スリット5を通過した回折光は光
検出器6に入射される。
【0005】ここで、図4に示す従来例の動作を図5及
び図6を用いて説明する。図5は波長毎の回折光の様子
を例示した説明図であり、図6は回折格子2での回折の
状態を説明する説明図であり、図5及び図6共に図4と
同一符号を付してある。
び図6を用いて説明する。図5は波長毎の回折光の様子
を例示した説明図であり、図6は回折格子2での回折の
状態を説明する説明図であり、図5及び図6共に図4と
同一符号を付してある。
【0006】平行光にされた入射光100は回折格子2
においてその波長毎に応じて図5中”イ”及び”ロ”に
示すような角度に回折され、集光ミラー3でそれぞれの
波長毎の回折光は収束光となり反射されミラー4を介し
てスリット5に入射される。
においてその波長毎に応じて図5中”イ”及び”ロ”に
示すような角度に回折され、集光ミラー3でそれぞれの
波長毎の回折光は収束光となり反射されミラー4を介し
てスリット5に入射される。
【0007】このため、集光ミラー3によりスリット5
上に集光される回折光はその波長によりそれぞれの集光
位置が異なる。
上に集光される回折光はその波長によりそれぞれの集光
位置が異なる。
【0008】例えば、図5中”イ”に示す回折光はスリ
ット5上の図5中”ハ”に示す位置に集光され、図5
中”ロ”に示す回折光はスリット5上の図5中”ニ”に
示す位置に集光される。
ット5上の図5中”ハ”に示す位置に集光され、図5
中”ロ”に示す回折光はスリット5上の図5中”ニ”に
示す位置に集光される。
【0009】このため、図5中”イ”に示す回折光はス
リット5を通過して光検出器6で検出されるが、一方、
図5中”ロ”に示す回折光はスリット5により遮断され
て光検出器6には入射されない。
リット5を通過して光検出器6で検出されるが、一方、
図5中”ロ”に示す回折光はスリット5により遮断され
て光検出器6には入射されない。
【0010】また、図6において回折格子2の法線と入
射光及び回折光とのなす角度を”θ1”及び”θ2”、
入射光の波長を”λ”、回折格子2のピッチを”d”と
した場合、 d(sinθ1+sinθ2)=λ (1) が成り立つ。
射光及び回折光とのなす角度を”θ1”及び”θ2”、
入射光の波長を”λ”、回折格子2のピッチを”d”と
した場合、 d(sinθ1+sinθ2)=λ (1) が成り立つ。
【0011】また、式(1)を変形することにより、 θ2=sin−1(λ/d−sinθ1) (2) となる。
【0012】例えば、”θ1=30度”、”λ=1.5
μm”及び”d=1.2μm”とすれば、式(2)か
ら”θ2=48.6度”となり、入射角と回折角の角度
差”θ3”は、 θ3=48.6−30.0=18.6度 (3) となる。
μm”及び”d=1.2μm”とすれば、式(2)か
ら”θ2=48.6度”となり、入射角と回折角の角度
差”θ3”は、 θ3=48.6−30.0=18.6度 (3) となる。
【0013】同様に、”θ1=33.2度”、”λ=
1.6μm”及び”d=1.2μm”とすれば、式
(2)から”θ2=51.8度”となり、入射角と回折
角の角度差”θ3’”は、 θ3’=51.8−33.2=18.6度 (4) となる。
1.6μm”及び”d=1.2μm”とすれば、式
(2)から”θ2=51.8度”となり、入射角と回折
角の角度差”θ3’”は、 θ3’=51.8−33.2=18.6度 (4) となる。
【0014】すなわち、回折格子2を回転させ”θ1”
を”30度”若しくは”33.2度”にすることによ
り、波長”1.5μm”若しくは”1.6μm”の波長
の回折光の回折格子2から出射される角度が”18.6
度”と同じになる。
を”30度”若しくは”33.2度”にすることによ
り、波長”1.5μm”若しくは”1.6μm”の波長
の回折光の回折格子2から出射される角度が”18.6
度”と同じになる。
【0015】ここで、回折格子2からの出射角が”1
8.6度”の回折光がスリット5を通過するように光学
系を調整すれば、波長”1.5μm”及び”1.6μ
m”の回折光を選択することができる。
8.6度”の回折光がスリット5を通過するように光学
系を調整すれば、波長”1.5μm”及び”1.6μ
m”の回折光を選択することができる。
【0016】言い換えれば、回折格子2を”30度〜3
3.2度”回転させることにより、波長”1.5μm〜
1.6μm”の回折光を光検出器6で検出することが可
能になる。
3.2度”回転させることにより、波長”1.5μm〜
1.6μm”の回折光を光検出器6で検出することが可
能になる。
【0017】従って、回折格子2を回転させてスリット
5上の集光位置を変化させることにより、特定波長の回
折光を選択的に光検出器6に入射させることができる。
5上の集光位置を変化させることにより、特定波長の回
折光を選択的に光検出器6に入射させることができる。
【0018】また、回折格子2を回転させる方法として
は図7及び図8に示すような方法がある。図7及び図8
は回折格子2を回転させる手段を示す構成図である。
は図7及び図8に示すような方法がある。図7及び図8
は回折格子2を回転させる手段を示す構成図である。
【0019】図7において2は図5と同一符号を付して
あり、7は回折格子2が固定される固定手段、8は駆動
手段である。
あり、7は回折格子2が固定される固定手段、8は駆動
手段である。
【0020】固定手段7はその一点が図7中”イ”に示
す回転中心に固定されると共に前記回転中心に対して左
右対称に回折格子2が固定される。また、固定手段7の
一端には駆動手段8が接続される。
す回転中心に固定されると共に前記回転中心に対して左
右対称に回折格子2が固定される。また、固定手段7の
一端には駆動手段8が接続される。
【0021】例えば、駆動手段8が図7中”ロ”の方向
に固定手段7の一端を移動させると、それに伴い回折格
子2は図7中”イ”に示す回転中心を中心にして図7
中”ハ”の方向に回転する。
に固定手段7の一端を移動させると、それに伴い回折格
子2は図7中”イ”に示す回転中心を中心にして図7
中”ハ”の方向に回転する。
【0022】同様に、駆動手段8が図7中”ニ”の方向
に固定手段7の一端を移動させると、それに伴い回折格
子2は図7中”イ”に示す回転中心を中心にして図7
中”ホ”の方向に回転する。
に固定手段7の一端を移動させると、それに伴い回折格
子2は図7中”イ”に示す回転中心を中心にして図7
中”ホ”の方向に回転する。
【0023】一方、図8において2は図5と同一符号を
付してあり、9は回転軸、10はモータ、11は角度検
出器である。
付してあり、9は回転軸、10はモータ、11は角度検
出器である。
【0024】回折格子2は回転軸9に直接固定され、回
転軸9はモータ10に接続されると共に角度検出器11
に接続される。
転軸9はモータ10に接続されると共に角度検出器11
に接続される。
【0025】この方法では回折格子2をモータ10によ
り直接回転させ、回折格子2の回転角度を角度検出器で
検出する。
り直接回転させ、回折格子2の回転角度を角度検出器で
検出する。
【0026】この結果、回折格子2の回転角度と光検出
器6からの出力信号である回折光の強度を得ることによ
り、入射光100の波長と強度を調べることが可能にな
る。
器6からの出力信号である回折光の強度を得ることによ
り、入射光100の波長と強度を調べることが可能にな
る。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】しかし、回折格子2は
重量が重いのでこの回折格子2を精密に回転させるため
の手段は大きく高価になり、また、高速で回転させるこ
とが困難であるので高速測定が出来ないと言った問題点
があった。従って本発明が解決しようとする課題は、小
型化、低価格で高速測定が可能な光スペクトラムアナラ
イザを実現することにある。
重量が重いのでこの回折格子2を精密に回転させるため
の手段は大きく高価になり、また、高速で回転させるこ
とが困難であるので高速測定が出来ないと言った問題点
があった。従って本発明が解決しようとする課題は、小
型化、低価格で高速測定が可能な光スペクトラムアナラ
イザを実現することにある。
【0028】
【課題を解決するための手段】このような課題を達成す
るために、本発明の第1では、入射光を回折させて波長
毎の回折光を検出する光スペクトラムアナライザにおい
て、前記入射光を平行光にして反射するコリメータミラ
ーと、このコリメータミラーからの反射光を回折させる
回折格子と、この回折格子からの波長毎の回折光を収束
光として反射させる集光ミラーと、前記集光ミラーから
の各々の収束光の反射角を変化させることにより前記回
折光を走査する走査ミラーと、この走査ミラーからの反
射光のうちでスリットを通過した回折光を検出する光検
出器とを備えたことを特徴とするものである。
るために、本発明の第1では、入射光を回折させて波長
毎の回折光を検出する光スペクトラムアナライザにおい
て、前記入射光を平行光にして反射するコリメータミラ
ーと、このコリメータミラーからの反射光を回折させる
回折格子と、この回折格子からの波長毎の回折光を収束
光として反射させる集光ミラーと、前記集光ミラーから
の各々の収束光の反射角を変化させることにより前記回
折光を走査する走査ミラーと、この走査ミラーからの反
射光のうちでスリットを通過した回折光を検出する光検
出器とを備えたことを特徴とするものである。
【0029】本発明の第2では、本発明の第1におい
て、前記走査ミラーを往復回転させることにより前記回
折光を走査することを特徴とするものである。
て、前記走査ミラーを往復回転させることにより前記回
折光を走査することを特徴とするものである。
【0030】本発明の第3では、本発明の第1におい
て、前記走査ミラーを一定方向に連続回転させることに
より前記回折光を走査することを特徴とするものであ
る。
て、前記走査ミラーを一定方向に連続回転させることに
より前記回折光を走査することを特徴とするものであ
る。
【0031】本発明の第4では、本発明の第1におい
て、前記走査ミラーを前記回折格子と前記集光ミラーと
の間若しくは前記コリメータミラーと回折格子との間に
配置したことを特徴とするものである。
て、前記走査ミラーを前記回折格子と前記集光ミラーと
の間若しくは前記コリメータミラーと回折格子との間に
配置したことを特徴とするものである。
【0032】本発明の第5では、本発明の第3におい
て、前記走査ミラーとして多面鏡を用いたことを特徴と
するものである。
て、前記走査ミラーとして多面鏡を用いたことを特徴と
するものである。
【0033】本発明の第6では、本発明の第1におい
て、前記回折格子の固定角度の変更を可能にしたことを
特徴とするものである。
て、前記回折格子の固定角度の変更を可能にしたことを
特徴とするものである。
【0034】
【発明の実施の形態】以下本発明を図面を用いて詳細に
説明する。図1は本発明に係る光スペクトラムアナライ
ザの一実施例を示す構成図である。ここで、1,3,
5,6及び100は図5と同一符号を付してあり、2a
は回折格子、12は走査ミラーである。
説明する。図1は本発明に係る光スペクトラムアナライ
ザの一実施例を示す構成図である。ここで、1,3,
5,6及び100は図5と同一符号を付してあり、2a
は回折格子、12は走査ミラーである。
【0035】入射光100はコリメータミラー1により
平行光になり回折格子2aに入射され、回折格子2aか
らの回折光は集光ミラー3及び走査ミラー12を介して
スリット5に入射される。また、スリット5を通過した
回折光は光検出器6に入射される。
平行光になり回折格子2aに入射され、回折格子2aか
らの回折光は集光ミラー3及び走査ミラー12を介して
スリット5に入射される。また、スリット5を通過した
回折光は光検出器6に入射される。
【0036】ここで、図1に示す実施例の動作を図2を
用いて説明する。図2は波長毎の回折光の様子を例示し
た説明図であり、図1と同一符号を付してある。
用いて説明する。図2は波長毎の回折光の様子を例示し
た説明図であり、図1と同一符号を付してある。
【0037】平行光にされた入射光100は回折格子2
aにおいてその波長毎に応じて図2中”イ”及び”ロ”
に示すような角度に回折され、集光ミラー3でそれぞれ
の波長毎の回折光は収束光になり走査ミラー12を介し
てスリット5に入射される。
aにおいてその波長毎に応じて図2中”イ”及び”ロ”
に示すような角度に回折され、集光ミラー3でそれぞれ
の波長毎の回折光は収束光になり走査ミラー12を介し
てスリット5に入射される。
【0038】このため、集光ミラー3によりスリット5
上に集光される回折光はその波長によりそれぞれの集光
位置が異なる。
上に集光される回折光はその波長によりそれぞれの集光
位置が異なる。
【0039】例えば、図2中”イ”に示す回折光はスリ
ット5上の図2中”ハ”に示す位置に集光され、図2
中”ロ”に示す回折光はスリット5上の図2中”ニ”に
示す位置に集光される。
ット5上の図2中”ハ”に示す位置に集光され、図2
中”ロ”に示す回折光はスリット5上の図2中”ニ”に
示す位置に集光される。
【0040】このため、図2中”イ”に示す回折光はス
リット5を通過して光検出器6で検出されるが、一方、
図2中”ロ”に示す回折光はスリット5により遮断され
て光検出器6には入射されない。
リット5を通過して光検出器6で検出されるが、一方、
図2中”ロ”に示す回折光はスリット5により遮断され
て光検出器6には入射されない。
【0041】この状態で、回折格子2aを固定して走査
ミラー12を回転させてスリット5上の集光位置を変化
させることにより、特定波長の回折光を選択的に光検出
器6に入射させることができる。
ミラー12を回転させてスリット5上の集光位置を変化
させることにより、特定波長の回折光を選択的に光検出
器6に入射させることができる。
【0042】例えば、図6における”θ1”を”31.
6度(=(30+33.2)/2)に固定した場合、波
長”1.5μm”若しくは”1.6μm”の波長の回折
光に対する”θ2”は式(2)から”46.6度”若し
くは”54.0度”になる。
6度(=(30+33.2)/2)に固定した場合、波
長”1.5μm”若しくは”1.6μm”の波長の回折
光に対する”θ2”は式(2)から”46.6度”若し
くは”54.0度”になる。
【0043】従って、波長”1.5μm”若しくは”
1.6μm”の波長の回折光の回折格子2aから出射さ
れる角度”θ3”は前記角度から”31.6度”を引い
た”15.0度”若しくは”22.4度”となる。
1.6μm”の波長の回折光の回折格子2aから出射さ
れる角度”θ3”は前記角度から”31.6度”を引い
た”15.0度”若しくは”22.4度”となる。
【0044】走査ミラー12を回転させてこのような角
度で出射される回折光がスリット5に入射するようにす
れば、波長”1.5μm〜1.6μm”の回折光を光検
出器6で検出することが可能になる。
度で出射される回折光がスリット5に入射するようにす
れば、波長”1.5μm〜1.6μm”の回折光を光検
出器6で検出することが可能になる。
【0045】ここで、光検出器6と走査ミラー12との
距離が十分長ければ回折光の回折格子2aから出射され
る角度差”9,2度(=(15.0+22.4)/
2)”の半分である”4.6度”の回転を走査ミラー1
2でさせれば良い。
距離が十分長ければ回折光の回折格子2aから出射され
る角度差”9,2度(=(15.0+22.4)/
2)”の半分である”4.6度”の回転を走査ミラー1
2でさせれば良い。
【0046】但し、光検出器6と走査ミラー12との距
離が短くなると走査ミラー12の回転角度は大きくなる
ので前記”4.6度”は上記条件下における走査ミラー
12の最小の回転角度である。
離が短くなると走査ミラー12の回転角度は大きくなる
ので前記”4.6度”は上記条件下における走査ミラー
12の最小の回転角度である。
【0047】すなわち、走査ミラー12の回転角度と光
検出器6からの出力信号である回折光の強度を得ること
により、入射光100の波長と強度を調べることが可能
になる。
検出器6からの出力信号である回折光の強度を得ること
により、入射光100の波長と強度を調べることが可能
になる。
【0048】この結果、回折格子2aと比較して小型な
走査ミラー12を回転させることにより、小型化、低価
格で高速測定が可能になる。
走査ミラー12を回転させることにより、小型化、低価
格で高速測定が可能になる。
【0049】また、従来例のように回折格子2を回転さ
せる角度と比較して走査ミラー12を回転させる角度は
大きい場合が多いので、回転する角度分解能に対する波
長分解能が向上する。
せる角度と比較して走査ミラー12を回転させる角度は
大きい場合が多いので、回転する角度分解能に対する波
長分解能が向上する。
【0050】例えば、従来例では回折格子2を回転させ
る角度が”3.2度(=33.2−30)”であるのに
対して実施例では最小”4.6度”であり、角度分解能
に対する波長分解能が”約1.4倍”向上することにな
る。
る角度が”3.2度(=33.2−30)”であるのに
対して実施例では最小”4.6度”であり、角度分解能
に対する波長分解能が”約1.4倍”向上することにな
る。
【0051】なお、走査ミラー12の回転動作に関して
は、様々な角度で出射される回折光をスリット5に入射
させるのに必要な角度、例えば、上述の”4.6度”の
範囲で往復回転動作させるか、或いは、一定方向に連続
回転動作させれば良い。また、走査ミラー12の駆動方
法について図8等に示す方法を用いれば良い。
は、様々な角度で出射される回折光をスリット5に入射
させるのに必要な角度、例えば、上述の”4.6度”の
範囲で往復回転動作させるか、或いは、一定方向に連続
回転動作させれば良い。また、走査ミラー12の駆動方
法について図8等に示す方法を用いれば良い。
【0052】また、図1の実施例の説明に際して例示し
た回折格子2aの固定角度及びピッチ、回折光の波長等
の数値に関しては、勿論、これに限定される訳ではな
い。
た回折格子2aの固定角度及びピッチ、回折光の波長等
の数値に関しては、勿論、これに限定される訳ではな
い。
【0053】また、走査ミラー12は集光ミラー3とス
リット5との間に配置したが、これに限定される訳では
ない。例えば、回折格子2aと集光ミラー3との間、若
しくは、コリメータミラー1と回折格子2aとの間に走
査ミラー12を配置しても構わない。
リット5との間に配置したが、これに限定される訳では
ない。例えば、回折格子2aと集光ミラー3との間、若
しくは、コリメータミラー1と回折格子2aとの間に走
査ミラー12を配置しても構わない。
【0054】この場合には光検出器6と走査ミラー12
との距離が十分長くなるので、回転角度が小さくでき
る。
との距離が十分長くなるので、回転角度が小さくでき
る。
【0055】また、走査ミラー12としてポリゴンミラ
ー等の多面鏡を用いることにより、さらに高速測定が可
能になる。
ー等の多面鏡を用いることにより、さらに高速測定が可
能になる。
【0056】図3はポリゴンミラーの一例を示す正面図
及び平面図である。ポリゴンミラーは図3中”イ”に示
す中心に点対称に”ロ”,”ハ”,”ニ”,”ホ”,”
ヘ”及び”ト”に示す鏡が配置された構成になってい
る。
及び平面図である。ポリゴンミラーは図3中”イ”に示
す中心に点対称に”ロ”,”ハ”,”ニ”,”ホ”,”
ヘ”及び”ト”に示す鏡が配置された構成になってい
る。
【0057】従って、走査ミラー12として図3中”
イ”を回転中心としてポリゴンミラーを連続回転させる
ことにより、回折光が高速に走査されて走査ミラーが1
枚の場合と比較して高速測定が可能になる。
イ”を回転中心としてポリゴンミラーを連続回転させる
ことにより、回折光が高速に走査されて走査ミラーが1
枚の場合と比較して高速測定が可能になる。
【0058】例えば、5面鏡の多面鏡を”3000rp
m”で回転させた場合、走査周期”T”は、 T=1/{(5×3000)/60}=4msec (5) となる。
m”で回転させた場合、走査周期”T”は、 T=1/{(5×3000)/60}=4msec (5) となる。
【0059】図1において回折格子2aの固定角度が回
転可能な構成にすることにより、走査可能波長範囲を選
択することが可能になる。
転可能な構成にすることにより、走査可能波長範囲を選
択することが可能になる。
【0060】例えば、図1の実施例の説明では回折格子
2aを”31.6度”に固定することにより、波長が”
1.5μm〜1.6μm”の回折光の検出を可能にした
が、回折格子2aを回転させてその固定角度を変化させ
ることにより、スリット5を通過して光検出器6で検出
される回折光の波長が変化することになる。
2aを”31.6度”に固定することにより、波長が”
1.5μm〜1.6μm”の回折光の検出を可能にした
が、回折格子2aを回転させてその固定角度を変化させ
ることにより、スリット5を通過して光検出器6で検出
される回折光の波長が変化することになる。
【0061】すなわち、回折格子2aの固定角度を変え
ることにより、光検出器6で検出される回折光の波長を
適宜選択することが可能になる。
ることにより、光検出器6で検出される回折光の波長を
適宜選択することが可能になる。
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。請求項1乃至請
求項4の発明によれば、回折格子と比較して小型な走査
ミラーを回転させることにより、小型化、低価格で高速
測定が可能な光スペクトラムアナライザが実現できる。
本発明によれば次のような効果がある。請求項1乃至請
求項4の発明によれば、回折格子と比較して小型な走査
ミラーを回転させることにより、小型化、低価格で高速
測定が可能な光スペクトラムアナライザが実現できる。
【0062】また、請求項5の発明によれば、走査ミラ
ーとして多面鏡を用いることにより、さらに高速測定が
可能になる。
ーとして多面鏡を用いることにより、さらに高速測定が
可能になる。
【0063】また、請求項6の発明によれば、回折格子
の固定角度の変更を可能にすることにより、走査可能波
長範囲を選択することが可能になる。
の固定角度の変更を可能にすることにより、走査可能波
長範囲を選択することが可能になる。
【図1】本発明に係る光スペクトラムアナライザの一実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図2】波長毎の回折光の様子を例示した説明図であ
る。
る。
【図3】ポリゴンミラーの一例を示す正面図及び平面図
である。
である。
【図4】従来の光スペクトラムアナライザの一例を示す
構成図である。
構成図である。
【図5】波長毎の回折光の様子を例示した説明図であ
る。
る。
【図6】回折格子での回折の状態を説明する説明図であ
る。
る。
【図7】回折格子を回転させる手段を示す構成図であ
る。
る。
【図8】回折格子を回転させる手段を示す構成図であ
る。
る。
1 コリメータミラー 2,2a 回折格子 3 集光ミラー 4 ミラー 5 スリット 6 光検出器 7 固定手段 8 駆動手段 9 回転軸 10 モータ 11 角度検出器 12 走査ミラー 100 入射光
Claims (6)
- 【請求項1】入射光を回折させて波長毎の回折光を検出
する光スペクトラムアナライザにおいて、 前記入射光を平行光にして反射するコリメータミラー
と、 このコリメータミラーからの反射光を回折させる回折格
子と、 この回折格子からの波長毎の回折光を収束光として反射
させる集光ミラーと、 前記集光ミラーからの各々の収束光の反射角を変化させ
ることにより前記回折光を走査する走査ミラーと、 この走査ミラーからの反射光のうちでスリットを通過し
た回折光を検出する光検出器とを備えたことを特徴とす
る光スペクトラムアナライザ。 - 【請求項2】前記走査ミラーを往復回転させることによ
り前記回折光を走査することを特徴とする特許請求の範
囲請求項1記載の光スペクトラムアナライザ。 - 【請求項3】前記走査ミラーを一定方向に連続回転させ
ることにより前記回折光を走査することを特徴とする特
許請求の範囲請求項1記載の光スペクトラムアナライ
ザ。 - 【請求項4】前記走査ミラーを前記回折格子と前記集光
ミラーとの間若しくは前記コリメータミラーと回折格子
との間に配置したことを特徴とする特許請求の範囲請求
項1記載の光スペクトラムアナライザ。 - 【請求項5】前記走査ミラーとして多面鏡を用いたこと
を特徴とする特許請求の範囲請求項3記載の光スペクト
ラムアナライザ。 - 【請求項6】前記回折格子の固定角度の変更を可能にし
たことを特徴とする特許請求の範囲請求項1記載の光ス
ペクトラムアナライザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9295294A JPH11132847A (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | 光スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9295294A JPH11132847A (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | 光スペクトラムアナライザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11132847A true JPH11132847A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=17818750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9295294A Pending JPH11132847A (ja) | 1997-10-28 | 1997-10-28 | 光スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11132847A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010589A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nidek Co Ltd | 物体測定装置 |
US7196791B2 (en) | 2000-11-30 | 2007-03-27 | Tomra Systems Asa | Optical detection device |
CN102103067A (zh) * | 2009-12-18 | 2011-06-22 | 天津市拓普仪器有限公司 | 分光光度计光学系统 |
JP2018119946A (ja) * | 2017-01-20 | 2018-08-02 | 株式会社リコー | 分光器および分析装置 |
JP2019120580A (ja) * | 2018-01-04 | 2019-07-22 | 株式会社リコー | 分光器 |
JP2022111364A (ja) * | 2017-01-20 | 2022-07-29 | 株式会社リコー | 分光器および分析装置 |
-
1997
- 1997-10-28 JP JP9295294A patent/JPH11132847A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7196791B2 (en) | 2000-11-30 | 2007-03-27 | Tomra Systems Asa | Optical detection device |
JP2007292777A (ja) * | 2000-11-30 | 2007-11-08 | Tomra Systems Asa | 光学的検出デバイス |
CN100430701C (zh) * | 2000-11-30 | 2008-11-05 | 光感环境技术公司 | 光学控制检测设备 |
US7701574B2 (en) | 2000-11-30 | 2010-04-20 | Tomra Systems Asa | Optically controlled detection device |
JP2007010589A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nidek Co Ltd | 物体測定装置 |
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CN110178005A (zh) * | 2017-01-20 | 2019-08-27 | 株式会社理光 | 分光器,分析设备和波长可变光源 |
US11060909B2 (en) | 2017-01-20 | 2021-07-13 | Ricoh Company, Ltd. | Spectrometer, analysis equipment, and wavelength-variable light source |
JP2022111364A (ja) * | 2017-01-20 | 2022-07-29 | 株式会社リコー | 分光器および分析装置 |
JP2019120580A (ja) * | 2018-01-04 | 2019-07-22 | 株式会社リコー | 分光器 |
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