JPH11121331A - レチクルローダ機構 - Google Patents

レチクルローダ機構

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JPH11121331A
JPH11121331A JP9279060A JP27906097A JPH11121331A JP H11121331 A JPH11121331 A JP H11121331A JP 9279060 A JP9279060 A JP 9279060A JP 27906097 A JP27906097 A JP 27906097A JP H11121331 A JPH11121331 A JP H11121331A
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Japan
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reticule
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rod
slider
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JP9279060A
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Takumi Tomizawa
巧 富澤
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】縮小投影露光装置におけるレチクルローダ機構
において、レチクル16と載置面14aとの間に介在す
る異物に起因する装填されるレチクル16の光軸に対す
る傾きを防止する。 【解決手段】レチクルステージ14の載置面14aと載
置面14aに対応するレチクル16の下面の部分とを拭
き清掃する洗浄ユニット1を設け、レチクル16をレチ
クルステージに装填する前にに付着している異物を除去
している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板に転写
するパターンが形成されるレチクルを縮小投影露光装置
のレチクルステージに自動的に装填する関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の縮小投影露光装置には、
レチクルのような光学部品に塵芥が付着しないようにレ
チクル保管装置が備えられている。また、保管中に塵芥
が付着したか否かを検査する装置や洗浄装置も付設され
ている。
【0003】このような露光システムにおけるレチクル
の搬送は、まず、レチクル保管装置からレチクルを搬送
機構より取り出しパーティクル検査装置へ搬送する。そ
こでレチクル表面に異物が付着していないか否かを検査
する。もし、異物が付着していると判定されると、洗浄
装置へ搬送される。表面の異物が除去されたら、再びパ
ーティクル検査装置で検査される。その結果、合格であ
ればレチクルは自動的に縮小投影露光装置のレチクル装
填部のレチクルローダ機構に搬送される。
【0004】図4は従来の一例におけるレチクルローダ
機構を説明するための斜視図である。検査装置から送ら
れるレチクルは、図4に示すように、他の搬送機構から
移載されるレチクル16をフォ一ク24に乗せ吸着パッ
ド12で吸着保持し、鏡筒内にフォーク24を挿入し、
レチクル16をレチクルステージ14の上で停止させ
る。そして、フォーク24を下降させレチクル16を四
個所の載置面14aに乗せた状態で吸着パッドの吸着力
を解除し、フォーク24を引き抜きレチクル16を装填
していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のレチクルの搬送システムの構成では、洗浄装置
で異物であるパーティクル25aが除去され検査装置で
パーティクル25aの有無が検査されても、検査装置か
らレチクルステージまでの搬送経路途中でパーティクル
25aが付着する恐れがある。また、検査装置にしても
パターンが形成されるの中心部の異物の有無を容易に確
認できるものの見逃す恐れがある。特に、パターン形成
領域を保護膜で覆うようにペリクルが装着されるレチク
ルの場合は、パターン面を覆うペリクルの表面のみ洗浄
するので、レチクルステージの載置面に対応するレチク
ルの四隅の面にパーティクルが付着している確率が高
い。
【0006】このようにレチクルの四隅の面のいずれか
にパーティクル25bが付着した場合、レチクルをレチ
クルステージの載置面14aに載置すると、レチクルの
面が露光光の光軸に対して垂直な面にならず、異物の分
だけ高くなりレチクルの面がいずれかに傾き、半導体基
板に転写されるパターンに歪みや位置ずれを起こすとい
う問題がある。一方、レチクルが載置される載置面に異
物が付着していても同様の問題を起すことになる。
【0007】従って、本発明の目的は、レチクルとレチ
クルステージの載置面との間に異物が無くレチクルの面
を露光光の光軸に対して垂直になるようにレチクルを装
填できるレチクルローダ機構を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、露光装
置の鏡筒内にレチクルを搬送しレチクルステージの載置
面に前記レチクルを載置する移載機構を備えるレチクル
ローダ機構において、前記鏡筒内に挿入され前記載置面
を拭き清掃するとともに前記鏡筒外に停留して前記移載
機構により搬送される前記レチクルの下面の前記載置面
に対応する両側部分を拭き清掃する異物除去部をもつワ
イパ部材を具備する洗浄ユニットを備えるレチクルロー
ダ機構である。
【0009】また、前記ワイパ部材の異物除去部は、内
部に洗浄液の流路を有する棒状部材の一端部側に有し前
記流路と通じ上下に配設される一対の前記洗浄液の流出
口部材と、前記流出口部材を覆ように長手方向に前記棒
状部材に載置され前記洗浄液の吐出口を有する一対の弓
形状の板ばね部材と、この板ばね部材と前記棒状部材と
の間に充填される弾力性の吸水部材と、前記一対の板ば
ね部材を包む綿布部材とを備えることが望ましい。さら
に、前記棒状部材に乾燥ガスの流路を形成し該流路と通
ずるとともに前記乾燥ガスを噴出するとともに前記棒状
部材の上下に設けられる乾燥ガス噴射ノズルを備えるこ
とが望ましい。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
【0011】図1は本発明の一実施の形態におけるレチ
クルローダ機構を示す斜視図である。このレチクルロー
ダ機構は、図1に示すように、レチクル洗浄装置から搬
送されるレチクル16を回転爪13で保持し上下に移動
するプリアライメント部5と、回転爪13から解放され
るレチクル16を乗せ吸着パッド12で保持し鏡筒部1
5内に挿入されレチクルステージ14の載置面14aに
レチクル16を移載するフォーク4と、鏡筒部15外に
配置される支持部11上に配置されるベース10の上を
摺動し鏡筒部15内に進入し載置面14aを拭き清掃す
るとともに後退してベース10上に停止し移動するフォ
ーク4が保持するレチクル16の載置面14aに対応す
る両側下面を移動に伴なって拭き清掃する異物除去部2
aをもつワイパ部材2を具備する洗浄ユニット1を備え
ている。
【0012】また、異物除去部2aの外皮は、例えば、
毛ばたたない光学部品用の拭き取り紙あるいは洗い晒し
た綿布などである。また、ワイパ2はスライダ9と一体
化され、スライダ9の案内溝にベース10の突出部と精
密に嵌合しスライダ9はワイパ2を伴なって矢印方向に
蛇行することなく移動できるようになっている。
【0013】なお、このスライダ9の移動は、スライダ
9の下部に取り付けられたラック6とベース10内のモ
ータ7aの軸に取付けられ突出するピニオン7bとが噛
み合い、モータ7aの回転で行なわれている。すなわ
ち、モータ7aの回転方向でスライダ9の前進および後
退を行なっている。
【0014】このスライダ9とベース10との組立体
は、上下動機構8に乗せられ後述するように、ワイパ2
の上下移動を仕さどている。この上下動機構8は、ベー
ス10を所定の距離だけ上昇および下降させる電磁ソレ
ノイドとワイパ2の異物除去部2aに押圧力を与える圧
電素子を備えている。
【0015】図2は図1のワイパの実施例を示す断面図
である。レチクルや載置面に付着する塵芥が、空気中に
浮遊していたものであれば、前述のように、洗浄液なし
で、単に綿布や紙などで拭く動作で除去できるが、保管
棚以前に付着したパーティクルは拭くだけの動作では除
去できない。特に、ペリクル付きのレチクルの場合は、
取り難いパーティクルが付着している。そこで、図2に
示すワイパを適用するに至った。
【0016】このワイパは、図2に示すように、内部に
洗浄液の流路21を有する棒状部材の一端部側に有し流
路21と通じ上下に配設される一対のニップル20と、
このニップル20を覆うように長手方向に載置され洗浄
液を吐出する吐出口19aを有するる一対の弓形状の板
ばね19と、この板ばね19と棒状部材との間に充填さ
れる弾力性の吸水材18と、一対の板ばね19と棒状部
材とをを包む綿布材17とで構成されている。なお、こ
の線布材17はリティナ23によって固定されている。
【0017】また、洗浄液である溶剤としては、パーテ
ィクルなどの異物を溶解し易く乾燥速度が速いメチル・
エチル・ケトンを使用することが望ましい。吸水材18
は、例えば、スポンジのようなもので作られ、ベローズ
ポンプのような定量吐出ポンプなどで流露21を経て供
給される洗浄液を吸取り蓄える機能を有している。すな
わち、定量ポンプの一回の供給量の洗浄液を蓄えてい
る。
【0018】そして、レチクルステージの載置面やレチ
クルの裏面に異物除去部である綿布材17を押し付ける
ことで、板ばね19が凹んで吸水材18が圧縮され洗浄
液が吐出口19aから滲み出て綿布材17を洗浄液で濡
らす。圧電素子の伸縮で板ばね19を押圧する量を設定
すれば、綿布材17に供給する洗浄液の量が決められ
る。従って、過剰に供給することはないし、液滴となっ
て下方の縮小レンズなどの光学部品を汚すことがない。
【0019】また、メチル・エチル・ケトンのような溶
解力がなく乾燥速度が遅いが、一般的に使用されるアル
コール類がある。しかしながら、乾燥速度が遅いため、
乾燥手段が必要となってくる。そこで、本発明では、異
物除去部の近くでワイパ2が移動する方向にエア噴出ノ
ズル3を並べ設けたことである。
【0020】なお、エア噴出ノズル3から噴出されるガ
スは、乾燥窒素が望ましく市販のボンベに電磁開閉弁を
取付け鏡筒外に配置し、図2の流路22と繋がるフレキ
シブルチューブと連結させる。勿論、前述の洗浄液も、
流路21と繋がりスライダ9から導出されるフレキシブ
ルチューブと定量ポンプよって供給される。
【0021】図3(a)〜(d)は図2のワイパを具備
する図1のレチクルローダ機構の動作を説明するために
動作順に示す主要部の図である。次に、図1、図2およ
び図3を参照してレチクルローダ機構の動作を説明す
る。
【0022】まず、下方の保管棚より引き出されるレチ
クル16を回転爪13で保持しているプリアライメント
部5が上昇し待機している。この状態のとき、スライダ
9は上下動機構8により最も低い位置に置かれている。
そして、ワイパ2の異物除去部2aの外皮である綿布材
17の表面とレチクルステージ14の載置面14aと略
一致している。そして、電圧が印加されていた圧電素子
を解除して異物除去部2aを稍下げる。そして、スライ
ダ9を前後に移動させ洗浄液を載置面に塗りながら拭き
清掃する。
【0023】そして、圧電素子に電圧を印加し、異物除
去部2aを載置面14aから引き離す。次に、必要に応
じて加熱された乾燥窒素をエア噴出ノズル3から噴き出
しながらスライダ9を前後に移動させる。
【0024】次に、図3(b)に示すように、ワイパ2
とスライダ9を後退させ元の位置に戻し他の積層型圧電
素子を動作させワイパ2が最も高い位置にする。この動
作と平行して、フォーク4が前進し下降しているプリア
ライメント部5の回転爪13の間に挿入され回転爪13
の回転によりレチクル16の保持が解除されフォーク4
に移載される。
【0025】そして、フォーク4に乗せられたレチクル
16はその裏面が吸着パッド12で保持され、フォーク
4は前進しながらレチクル16の裏の両側面をがワイパ
2の異物除去部2aで拭き清掃する。必要に応じてフォ
ーク4を前後に往復させ清掃する。そして、圧電素子の
付勢を解除し異物除去部2aをレチクル16の下面から
引き離す。そして、エア噴出ノズル3から乾燥窒素を噴
出させレチクル16に残存する洗浄液を乾燥させる。
【0026】次に、図3(c)に示すように、フォーク
4が前進しレチクル16が載置面14aの上で停止す
る。そして、フォーク4が下降しレチクル16が載置面
14aに乗せられる。そして、吸着パッド12の保持が
解除され、図面に示していないところの載置面14aの
吸着穴で吸着されレチクル16は、レチクルステージ1
4に装填される。
【0027】そして、図3(d)に示すように、フォー
クは後退し元の位置に戻り、プリアライメント部5は下
降し、次のレチクルを取り出す保管棚の位置で待機す
る。この動作をもってレチクルローダ機構の動作は完了
する。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、レチクル
ステージの載置面とレチクルステージの載置面に対応す
るレチクルの下面部分を拭き清掃する手段を設け、レチ
クルをレチクルステージに装填する前に、前記手段でレ
チクルに付着するパーティクルやレチククルステージに
付着するパーティクルを除去し、レチクルは露光光の光
軸に垂直な面で装填できるので、従来、起きていたパタ
ーンの位置ずれやパターン形状による不良を無くすとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態におけるレチクルローダ
機構を示す斜視図である。
【図2】図1のワイパの実施例を示す断面図である。
【図3】図2のワイパを具備する図1のレチクルローダ
機構の動作を説明するために動作順に示す主要部の図で
ある。
【図4】従来の一例におけるレチクルローダ機構を説明
するための斜視図である。
【符号の説明】
1 洗浄ユニット 2 ワイパ 2a 異物除去部 3 エア噴出ノズル 4,24 フォーク 5 プリアライメント部 6 ラック 7a モータ 7b ピニオン 8 上下動機構 9 スライダ 10 ベース 11 支持部 12 吸着パッド 13 回転爪 14 レチクルステージ 14a 載置面 15 鏡筒部 16 レチクル 17 綿布材 18 吸水材 19 板ばねル 19a 吐出口 20 ニップル 21,22 流路 23 リテイナ 25a,25b パーティクル

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光装置の鏡筒内にレチクルを搬送しレ
    チクルステージの載置面に前記レチクルを載置する移載
    機構を備えるレチクルローダ機構において、前記鏡筒内
    に挿入され前記載置面を拭き清掃するとともに前記鏡筒
    外に停留して前記移載機構により搬送される前記レチク
    ルの下面の前記載置面に対応する両側部分を拭き清掃す
    る異物除去部をもつワイパ部材を具備する洗浄ユニット
    を備えることを特徴とするレチクルローダ機構。
  2. 【請求項2】 前記ワイパ部材の異物除去部は、内部に
    洗浄液の流路を有する棒状部材の一端部側に有し前記流
    路と通じ上下に配設される一対の前記洗浄液の流出口部
    材と、前記流出口部材を覆ように長手方向に前記棒状部
    材に載置され前記洗浄液の吐出口を有する一対の弓形状
    の板ばね部材と、この板ばね部材と前記棒状部材との間
    に充填される弾力性の吸水部材と、前記一対の板ばね部
    材を包む綿布部材とを備えることを特徴とする請求項1
    記載のレチクルローダ機構。
  3. 【請求項3】 前記棒状部材に乾燥ガスの流路を形成し
    該流路と通ずるとともに前記乾燥ガスを噴出するととも
    に前記棒状部材の上下に設けられる乾燥ガス噴射ノズル
    を備えることを特徴とする請求項2記載のレチクルロー
    ダ機構。
JP9279060A 1997-10-13 1997-10-13 レチクルローダ機構 Expired - Lifetime JP3068533B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003068620A (ja) * 2001-08-28 2003-03-07 Sendai Nikon:Kk 露光装置

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