JPH11111800A - 基板搬送方法及びその装置 - Google Patents

基板搬送方法及びその装置

Info

Publication number
JPH11111800A
JPH11111800A JP9269523A JP26952397A JPH11111800A JP H11111800 A JPH11111800 A JP H11111800A JP 9269523 A JP9269523 A JP 9269523A JP 26952397 A JP26952397 A JP 26952397A JP H11111800 A JPH11111800 A JP H11111800A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
unit
buffer
exposure
storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9269523A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3988805B2 (ja
Inventor
Yasufumi Koyama
康文 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP26952397A priority Critical patent/JP3988805B2/ja
Priority to KR1019980033973A priority patent/KR100276638B1/ko
Priority to US09/151,183 priority patent/US6253118B1/en
Publication of JPH11111800A publication Critical patent/JPH11111800A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3988805B2 publication Critical patent/JP3988805B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67778Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67173Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67745Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/137Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の収納順序を工夫することにより、基板
搬送に無駄な待ち時間が生じることを防止してスループ
ットを向上させる。 【解決手段】 基板を一時的に収納しておくための収
納部を備えているバッファ部32と、処理ユニットとの
間で基板の受け渡しを行うとともに、バッファ部32の
所定の収納部との間で基板の収納/取り出しを行う第1
の基板搬送ロボット31と、露光ユニットとの間で基板
の受け渡しを行うとともに、バッファ部32の所定の収
納部との間で基板の収納/取り出しを行う第2の基板搬
送ロボット33と、バッファ部32に対して基板を収納
する際には、先に収納した基板の収納部から少なくとも
1つの収納部を隔てて収納するように第1/第2の基板
搬送ロボット31,33を制御するIFユニット制御部
とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶表示器用のガラス基板などの基板に対してフォトリソ
グラフィ工程の各処理(被膜形成処理、プリベーク処
理、露光処理、現像処理、ポストベーク処理など)を施
す基板処理装置で用いられる基板搬送装置に係り、特
に、基板を一時的に収納しておく複数個の収納部を備え
たバッファ部を介して、露光処理前後の各種の基板処理
を行う処理ユニットと、露光処理を行う露光ユニットと
の間で基板を受け渡す基板搬送方法及びその装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の基板搬送装置として、例
えば、特開平9−74126号公報に示すようなものが
ある。この基板搬送装置は、基板を一時的に収納してお
く複数個(例えば50段)の収納部を備えたバッファ部
を介して、処理ユニットと露光ユニットとの間で基板を
受け渡すように構成されており、処理ユニットとバッフ
ァ部における搬送を第1の基板搬送部が行うとともに、
バッファ部と露光ユニットにおける搬送を第2の基板搬
送部が行うようになっている。
【0003】この装置は、例えば、以下のように動作す
る。なお、バッファ部は、下から第1段目〜第25段目
の収納部が送りバッファ、下から第26段目〜第50段
目の収納部が戻りバッファとなるように取り扱われ、送
りバッファは露光ユニットへ向けて搬送される露光前の
基板を収納し、戻りバッファは露光ユニットから送り出
される露光済の基板を収納するようになっている構成の
ものを例に採って説明する。
【0004】処理ユニットにより被膜形成処理、プリベ
ーク処理を施された露光前の第1枚目の基板は、第1の
基板搬送部により受け取られて送りバッファの第1段目
の収納部(最下段)に収納される。次いで、第2枚目の
基板は、第1の基板搬送部により受け取られ、送りバッ
ファの空きのうち最も下に位置する収納部(第2段目の
収納部)に収納される。以下、処理ユニットで処理を施
された基板が上記のように一段ごとに順に送りバッファ
の収納部に収納されてゆく。
【0005】第2の基板搬送部は、送りバッファに収納
されている基板のうち、最も先に収納された基板から順
に受け取って露光ユニットに渡す。例えば、上記のよう
に収納された第1枚目の基板と第2枚目の基板のうち第
1枚目の基板から露光ユニットに渡す。
【0006】露光ユニットで露光処理された第1枚目の
基板は、第2の基板搬送部により受け取られてバッファ
部の戻りバッファ(例えば、戻りバッファの最下段であ
る第26段目)に収納される。次に、第2枚目の基板
は、戻りバッファの空きのうち最も下に位置する収納部
(例えば、第25段目の上に位置する第26段目の収納
部)に収納される。以下、露光ユニットにより露光され
た基板が上記のように一段ごとに順に収納部に収納され
る。
【0007】第1の基板搬送部は、戻りバッファに基板
があれば、最も先に収納された基板を受け取って処理ユ
ニットに渡す。そして、処理ユニットに渡された基板
は、現像処理を施されるようになっている。
【0008】このように基板を搬送することにより、処
理ユニットと露光ユニットのスループットの違いを吸収
するようになっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、第1または第2の基板搬送部のうちの
一方がバッファ部との間で基板の受け渡しを行っている
際には、各収納部が近接していることから昇降動作に支
障を来すので、他方の基板搬送部は同じ収納部だけでな
く、その収納部に隣接する2つの収納部との間において
も基板の受け渡しを行うことができずに搬送が停滞する
場合がある。したがって、第1/第2の基板搬送部に待
ち時間が生じてスループットが低下するという問題点が
ある。
【0010】なお、上記のような問題を回避するために
収納部のピッチを拡げることが考えられるが、このよう
にすると当然のことながら収納できる基板の枚数が減少
したり、バッファ部の高さが高くなって基板搬送部の昇
降高さも高くする必要が生じる等の不都合が生じる。
【0011】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、基板の収納順序を工夫することによ
り、基板搬送に無駄な待ち時間が生じることを防止して
スループットを向上させることができる基板搬送方法及
びその装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の基板搬送方法は、基板を一時的に
収納しておく複数個の収納部を備えているバッファ部を
介して、露光処理前後の各種の基板処理を行うための処
理ユニットと、露光処理を行うための露光ユニットとの
間で基板の受け渡しを行う基板搬送方法において、前記
バッファ部に基板を収納する際には、先に収納した基板
の収納部から少なくとも1つの収納部を隔てて収納する
ようにしたことを特徴とするものである。
【0013】また、請求項2に記載の基板搬送装置は、
露光処理前後の各種の基板処理を行うための処理ユニッ
トと、露光処理を行うための露光ユニットとの間で基板
の受け渡しを行うための基板搬送装置において、複数枚
の基板を一時的に収納しておくために複数個の収納部を
備えているバッファ部と、前記処理ユニットとの間で基
板の受け渡しを行うとともに、前記バッファ部の所定の
収納部との間で基板の収納/取り出しを行う第1の基板
搬送手段と、前記露光ユニットとの間で基板の受け渡し
を行うとともに、前記バッファ部の所定の収納部との間
で基板の収納/取り出しを行う第2の基板搬送手段と、
前記バッファ部に対して基板を収納する際には、先に収
納した基板の収納部から少なくとも1つの収納部を隔て
て収納するように前記第1/第2の基板搬送手段を制御
する制御手段と、を備えていることを特徴とするもので
ある。
【0014】また、請求項3に記載の基板搬送装置は、
請求項2に記載の基板搬送装置において、前記バッファ
部に形成されている複数個の収納部を送りバッファと戻
りバッファの2つのグループに分割し、前記制御手段
は、前記処理ユニットからの基板を収納するために送り
バッファを用い、前記露光ユニットからの基板を収納す
るために戻りバッファを用いるようにしたことを特徴と
するものである。
【0015】
【作用】請求項1に記載の方法発明によれば、処理ユニ
ットと露光ユニットとの間で基板を搬送するためにバッ
ファ部に基板を収納する際には、先の基板を収納した収
納部から少なくとも1つの収納部を隔てるようにする。
したがって、第1/第2の基板搬送手段のいずれか一方
が収納部に基板を収納している状態であっても、その近
辺に収納されている先の基板はその基板の収納部から少
なくとも1つの収納部を隔てているので、先の基板を取
り出すために他方の基板搬送手段を進入させても基板搬
送手段同士が干渉することを防止できる。したがって、
基板の収納時であってもその近辺の基板を取り出すこと
ができるので、基板搬送に無駄な待ち時間が生じること
を防止できる。
【0016】また、請求項2に記載の装置発明によれ
ば、第1/第2の基板搬送手段によりバッファ部に基板
を収納する際には、先に収納した基板の収納部から少な
くとも1つの収納部を隔てて収納するように制御手段が
制御する。したがって、第1/第2の基板搬送手段のい
ずれか一方が収納部に基板を収納している状態であって
も、その近辺に収納されている先の基板はその基板の収
納部から少なくとも1つの収納部を隔てているので、先
の基板を取り出すために他方の基板搬送手段を進入させ
ても基板搬送手段同士が干渉することを防止できる。し
たがって、基板の収納時であってもその近辺の基板を取
り出すことができるので、基板搬送に無駄な待ち時間が
生じることを防止できる。
【0017】また、請求項3に記載の装置発明によれ
ば、送りバッファと戻りバッファの2つに分けて、基板
の状態ごとに収納部をグループ分けしたので、第1/第
2の基板搬送手段の移動制御が容易になる。また、もし
仮に装置が故障して処理が停止したとしても、バッファ
部に収納されている、見た目には区別できない多くの基
板を露光前基板と露光済基板との状態別に容易に分離で
きる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1は、本発明に係る基板搬送装置
を備えた基板処理装置の概略構成を示す平面図であり、
図2は、基板搬送装置の概略構成を示す斜視図である。
また、図3は、基板処理装置を露光ユニット側からみた
図である。
【0019】この基板処理装置は、インデクサ1と、処
理ユニット2と、インターフェイスユニット3(以下、
IFユニットと略す)と、露光ユニット4などを備えて
構成されている。
【0020】インデクサ1は、基板を積層収納するキャ
リアCを載置するための載置テーブル11と、この載置
テーブル11に載置されたキャリアCと処理ユニット2
に配備された基板搬送ロボット23(詳細後述)との間
で基板の搬送を行う基板搬入出ロボット12とを備えて
いる。
【0021】処理ユニット2は、第1の装置配置部21
と、第2の装置配置部22と、基板搬送ロボット23と
を備えている。第1の装置配置部21には、フォトレジ
スト液を回転塗布して被膜形成処理を行うためのスピン
コータSCと、現像を行うためのスピンデベロッパSD
などが図1のX方向に沿って複数台配備されている。ま
た、第2の装置配置部22には、プリベーク処理やポス
トベーク処理を行うためのベークユニットBUと、複数
台のエッジ露光部EEWとが配備されている。
【0022】ベークユニットBUは、基板Wを所定温度
に加熱するベーク装置と、加熱された基板Wを常温付近
に冷却するための冷却装置とから構成されており、これ
らのベーク装置と冷却装置とをX方向および鉛直方向
(紙面に向かうZ方向)に二次元的に配置して構成され
ている。さらに、第2の装置配置部22は、IFユニッ
ト3側に、後述する第1の基板搬送ロボット31と基板
Wの受け渡しを行うための基板受け渡し台25を備えて
おり、これに立設された複数本の支持ピンを介して基板
Wの受け渡しを行うようになっている。
【0023】基板搬送ロボット23は、上述した第1/
第2の装置配置部21,22の間に設けられ、そのCの
字状に形成されたハンド23aで基板Wを当接支持する
ようになっている。ハンド23aは、移動台23bの上
部に取り付けられており、第1/第2の装置配置部2
1,22に沿って配設されたガイド軸や螺軸を含むX方
向移動機構23cによって移動台23bごとX方向に水
平移動され、図示しないZ方向移動機構により移動台2
3bごとZ方向に昇降移動されるように構成されてい
る。さらに、移動台23b上にて水平面内(X─Y平
面)で進退自在に、かつ、Z軸周りに旋回自在に構成さ
れている。
【0024】このように構成されている基板搬送ロボッ
ト23は、ハンド23aの旋回や、X,Z方向の水平,
昇降移動、進退動作を適宜に組み合わせることによっ
て、スピンコータSCやスピンデベロッパSD、ベーク
ユニットBU、エッジ露光部EEWなどの処理装置との
間における基板Wの搬入搬出動作や、基板受け渡し台2
5との間における基板Wの搬入搬出動作などを行う。
【0025】IFユニット3は、本発明における基板搬
送装置に相当するものであり、第1の基板搬送ロボット
31と、バッファ部32と、第2の基板搬送ロボット3
3と、基板搬送台34と、基板搬出台35とを一体的に
ユニット化して構成されている。
【0026】第1の基板搬送ロボット31は、Z方向駆
動部31aと、連結部材31bと、回転駆動部31c
と、伸縮駆動部31dと、基板支持部31eとから構成
されている。Z方向駆動部31aは、Z方向に沿って立
設された螺軸やモータにより連結部材31bをZ方向に
駆動して回転駆動部31cを昇降駆動する。回転駆動部
31cは、回転軸を縦置きにしたモータを内蔵してお
り、このモータの回転によって伸縮駆動部31dをZ軸
周りにX−Y平面内で回転駆動する。また、伸縮駆動部
31dは、主動プーリと従動プーリに掛け渡されている
ワイヤーに連動連結された基板支持部31eを、モータ
の回転駆動によってX−Y平面内で進退駆動するもので
ある。なお、第1の基板搬送ロボット31は、本発明に
おける第1の基板搬送手段に相当するものである。
【0027】このように構成されている第1の基板搬送
ロボット31は、基板受け渡し台25と、バッファ部3
2の所定の収納部32aとの間で基板Wの受け渡しを行
う。バッファ部32の収納部32aに対する基板の収納
は、図4に示すように行われる。
【0028】まず、回転駆動部31cにより基板支持部
31eを旋回させてバッファ部32側に向け、基板Wを
収納しようとする収納部32aの高さに基板支持部31
eの高さが一致するように、Z方向駆動部31aによっ
て調整を行う。次いで、基板支持部31eを伸長させて
基板Wを収納部32aに挿入し、Z方向駆動部31aに
よって基板支持部31eをZ方向に下降させて基板Wを
その収納部32aに載置する。そして、基板Wを収納し
た収納部32aより下方に基板支持部31eを下降させ
た後、基板支持部31eを下方の収納部32aから退出
させて収納を完了する。また、バッファ部32の収納部
32aからの基板Wの取り出しは、上述した収納手順と
逆の動作で、基板Wの下方から基板支持部31eを上昇
させることによって行うようになっている。
【0029】バッファ部32は、基板Wを一時的に収納
しておく複数個の収納部32aを積層形成されてなり、
IFユニット3の一側面に固定支持されている。これら
の各収納部32aは、第1の基板搬送ロボット31およ
び第2の基板搬送ロボット33により基板Wの収納/取
り出しが行えるように、それらの配設されている側に開
放されている。
【0030】第2の基板搬送ロボット33は、横置きさ
れたガイド軸と螺軸を含むY方向駆動部33aと、この
Y方向駆動部33aに取り付けられてY方向に移動され
るZ方向駆動部33bと、連結部材33cと、回転駆動
部33dと、伸縮駆動部33eと、基板支持部33fと
から構成されている。Y方向駆動部33aは、IFユニ
ット3の内側面に固定され、上記の各部全体をY方向に
沿って移動する。その他の連結部材33c、回転駆動部
33d、伸縮駆動部33eは、上述した第1の基板搬送
ロボット31の各部と同様の構成を有する。なお、第2
の基板搬送ロボット33は、本発明における第2の基板
搬送手段に相当するものである。
【0031】このように構成されている第2の基板搬送
ロボット33は、バッファ部32の収納部32aと、基
板搬入台34および基板搬出台35との間で基板Wの受
け渡しを行う。バッファ部32との基板Wの受け渡し
は、上述した第1の基板搬送ロボット31と同様に行わ
れ、基板搬入台34への基板Wの載置や、基板搬出台3
5からの基板Wの取り出しは、それぞれの台34,35
に配備された支持ピンを介して行われるようになってい
る。これらの支持ピンに支持された基板Wは、露光ユニ
ット4との間で受け渡されるようになっている。
【0032】露光ユニット4は、露光を行うための、例
えば、縮小投影露光機(ステッパ)などの露光機や、基
板Wの位置決めを行うアライメント機構、露光ユニット
4内で基板Wの搬送などを行う基板搬送ロボット(いず
れも図示省略)などを一体的にユニット化されてなる。
なお、この露光ユニット4内の基板搬送ロボットは、I
Fユニット3内の基板搬入台34に載置された露光前基
板Wを露光ユニット4内に取り込むとともに、露光ユニ
ット4にて露光処理を終了した露光済基板Wを露光ユニ
ット4から搬出してIFユニット3内の基板搬出台35
に載置する。
【0033】上記のように構成されている基板処理装置
の制御系は、図5に示すように構成されている。すなわ
ち、インデクサ制御部6aと、処理ユニット制御部6b
と、IFユニット制御部6cと、露光ユニット制御部6
dなどを備えている。
【0034】インデクサ制御部6aは、インデクサ1内
の基板搬入出ロボット12などを制御して、キャリアC
から処理前の基板Wを取り出したり、処理ユニット2の
基板搬送ロボット23との基板Wの受け渡しを制御す
る。また、基板搬送ロボット23から処理済の基板Wを
受け取って、キャリアCに処理済の基板Wを収納する動
作を制御する。
【0035】処理ユニット制御部6bは、処理ユニット
2内の各機器(スピンコータSCやスピンデベロッパS
Dなど)を制御して、操作部6fから設定されたシーケ
ンスに従って処理ユニット2内の一連の処理を行わせる
とともに、基板受け渡し台25との間における基板Wの
搬送を制御する。
【0036】本発明の制御手段に相当するIFユニット
制御部6cは、IFユニット3内の第1,第2の基板搬
送ロボット31,33を制御して、処理ユニット2から
露光ユニット4への露光前基板Wの搬送および露光ユニ
ット4から処理ユニット2への露光済基板Wの搬送など
を制御する。さらにIFユニット制御部6cには、メモ
リ6gが接続されており、バッファ部32の収納部32
aの使用管理や、何段隔てて収納部32aを使用するか
を示す『段情報』(本実施例では1段隔てる)が予め設
定されている。
【0037】本実施例では、バッファ部32の複数個の
収納部32aが図6に示すようにNo.1からNo.5
0まで識別して管理されているとともに、一例として複
数個の収納部32aを上下2つのグループに分割し、N
o.1からNo.25までの25個の収納部32aを送
りバッファFBとして取り扱い、No.26からNo.
50までの25個の収納部32aを戻りバッフBBとし
て取り扱うようになっている。これらのグループ情報も
メモリ6gに予め格納されている。そして、基板受け渡
し台25から露光ユニット4に搬送される露光前基板W
を送りバッファFBに収納し、露光ユニット4から基板
受け渡し台25に搬送される露光済基板Wを戻りバッフ
ァBBに収納するようになっている。
【0038】なお、複数個の収納部32aを上記のよう
に2つのグループに分割することなく、例えば、No.
1の収納部32aを送りバッファFBに利用し、No.
3の収納部32aを戻りバッファBBに利用するよう
に、各収納部32aを送りと戻りとで交互に利用するよ
うにしてもよい。
【0039】露光ユニット制御部6dは、露光ユニット
4内の各機器を制御して、基板搬入台34から露光前基
板WをIFユニット3内に取り込み、アライメント処理
を経て露光処理を行い、露光済の基板Wを基板搬出台3
5に載置する一連の露光処理を制御するものである。
【0040】なお、上述したインデクサ制御部6aと、
処理ユニット制御部6bと、IFユニット制御部6c
と、露光ユニット制御部6dとは相互に情報伝送が行わ
れ、基板Wの収納・載置/取り出しのタイミングに関す
る情報の授受などが行われている。
【0041】次に、上記のように構成された基板処理装
置の動作について説明するが、主としてIFユニット3
における動作を詳細に説明する。
【0042】処理前基板Wを積層収納したキャリアCが
載置テーブル11に載置されると、インデクサ1の基板
搬入出ロボット12が処理前基板Wを一枚ずつ取り出
し、処理ユニット2の基板搬送ロボット23に順次引き
渡してゆく。そして、処理ユニット2内において、被膜
形成処理やプリベーク処理などの露光前の各種処理が施
されてゆく。露光前の各種処理が施された基板W(露光
前基板)は、基板受け渡し台25に載置される。
【0043】基板受け渡し台25に露光前基板Wが載置
されると、IFユニット3が露光前基板Wを露光ユニッ
ト4に順次に送り込んでゆく。具体的には、まず、第1
枚目の露光前基板Wが第1の基板搬送ロボット31によ
って基板受け渡し台25から取り出され、バッファ部3
2の送りバッファFBに収納される。本実施例における
収納順序は、図7に示すように送りバッファFBの最下
段に位置するNo.1の収納部32aからとなるように
設定されている。したがって、第1枚目の露光前基板W
が送りバッファFBのNo.1の収納部32aに収納さ
れる。
【0044】第2枚目以降の露光前基板Wが基板受け渡
し台25に載置されてくると、IFユニット3の第1の
基板搬送ロボット31が第2枚目以降の露光前基板Wを
順に送りバッファFBに収納してゆく。このときの収納
は、メモリ6gに設定されている『段情報』に基づいて
行われる。つまり、本実施例では『段情報』が1段隔て
に設定されているので、図7に示すように第2枚目以降
の露光前基板Wは、No.2の収納部32aを飛ばして
1段隔てたNo.3の収納部32aから収納されてゆ
く。
【0045】露光ユニット4が露光処理を行うことがで
きる状態になった場合には、第2の基板搬送ロボット3
3が、バッファ部32の送りバッファFBに収納されて
いる露光前基板Wのうち最も先に収納されたものを取り
出す。例えば、上述したようにして第1枚目の露光前基
板Wが送りバッファFBに収納され、第2枚目の露光前
基板Wが送りバッファFBに収納されつつある状態とす
る。この場合には、第2の基板搬送ロボット33が、そ
の基板支持部33eをNo.1の収納部32aに進入さ
せて第1枚目の露光前基板Wを取り出すことになる。従
来例のように露光前基板Wを1段ごとに収納している
と、このとき第1の基板搬送ロボット31と第2の基板
搬送ロボット33とが干渉するため第2の基板搬送ロボ
ット33による第1枚目の露光前基板Wを取り出すこと
はできないが、本発明によると1つの収納部32aを隔
てて基板Wを収納してあるので、そのような不都合が生
じることなく第1枚目の露光前基板Wを取り出すことが
できる。
【0046】露光ユニット4による第1枚目の基板Wに
対する露光処理が終わると、基板搬出台35には第1枚
目の露光済基板Wが載置される。すると第2の基板搬送
ロボット33は、図8に示すように第1枚目の露光済基
板Wを戻りバッファBBのNo.26の収納部32aに
収納する。第2枚目以降の露光済基板Wは、第1枚目の
露光済基板Wが収納されたNo.26の収納部32aか
ら1段隔ててNo.28の収納部32a以降に収納され
てゆく。そして、第1の基板搬送ロボット31が戻りバ
ッファBBに収納された露光済基板Wのうち最も先に載
置されたものを取り出して、処理ユニット2に搬送して
現像処理やポストベーク処理を施す。例えば、第1の露
光済基板Wが戻りバッファBBのNo.26の収納部3
2aに収納された後、第2の露光済基板Wが戻りバッフ
ァBBのNo.28の収納部32aに収納されつつある
状態では、第1の基板搬送ロボット31が第1の露光済
基板Wを取り出すことになる。本発明によると第1の露
光済基板Wと第2の露光済基板Wとは、1つの収納部3
2a(No.27)を隔てて収納されているので、第1
の基板搬送ロボット31と第2の基板搬送ロボット33
とが干渉する不都合が生じることを防止できる。
【0047】上記のようにバッファ部32に対して第
1,第2の基板搬送ロボット31,33のいずれか一方
が基板Wを収納している際に、他方がその近辺の基板W
を取り出すことになっても、又はその逆であっても、そ
の基板を取り出すことができるので基板搬送が停滞する
ようなことが防止でき、無駄な待ち時間が生じることを
防止できる。したがって、基板処理装置のスループット
を向上させることができる。
【0048】また、上述したようにバッファ部32を、
送りバッファFBと戻りバッファBBとの2つのグルー
プに割り当てたので、第1,第2の基板搬送ロボット3
1,33の移動制御を比較的容易にできるとともに、例
えば、装置に何らの支障が生じて停止した場合であって
も、見た目には何ら区別のできない露光前基板Wと露光
済基板Wとを容易に識別することができる。したがっ
て、これらの基板が混在する不都合を防止することがで
き、正常な他の装置で処理を継続させることが可能であ
る。
【0049】さらに、バッファ部32には、連続して基
板Wを収納しないので、例えば、経時変化により第1,
第2の基板搬送ロボット31,33の高さ調整の精度が
低下し、目的とする収納部32aと異なる部分に進入し
たとしても、収納されている基板Wを破損することを未
然に防止できる。
【0050】なお、上記の実施例では、1段隔てて収納
部32aに基板Wを収納するようにしたが、少なくとも
1段の収納部32aを隔ててれば同様の効果を得ること
ができるので、例えば、2段隔ててあるいはそれ以上を
隔てて収納部32aを使用するようにしてもよい。
【0051】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の方法発明によれば、少なくとも1つの収納部
を隔てて順に基板を収納することにより、基板の収納時
であってもその近辺の基板を取り出すことができるの
で、基板搬送に無駄な待ち時間が生じることを防止でき
る。したがって、処理ユニットと露光ユニットとの間で
効率よく基板を搬送することができ、スループットを向
上させることができる。
【0052】また、請求項2に記載の装置発明によれ
ば、請求項1に記載の方法発明を好適に実施することが
できる。また、第1/第2の基板搬送手段の基板搬送時
における位置精度が低下してきたとしても、目標である
収納部に隣接する収納部には基板が収納されていないの
で、そのような状況になっても基板を破損するような不
都合を防止できる。
【0053】また、請求項3に記載の装置発明によれ
ば、基板の状態ごとに収納部をグループ分けしたので、
移動制御が容易にできるとともに、装置の故障停止時に
見た目には区別できないバッファ部の基板を露光前基板
と露光済基板とに容易に分離できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板搬送装置を備えた基板処理装
置の概略構成を示す平面図である。
【図2】基板搬送装置の概略構成を示す斜視図である。
【図3】基板処理装置を露光ユニット側からみた図であ
る。
【図4】基板搬送装置によるバッファ部への収納手順の
説明に供する図である。
【図5】制御系の概略構成を示すブロック図である。
【図6】バッファ部の収納割り当てを説明する図であ
る。
【図7】実施例における送りバッファへの収納順序を説
明する図である。
【図8】実施例における戻りバッファへの収納順序を説
明する図である。
【符号の説明】
W … 基板 C … キャリア 1 … インデクサ 2 … 処理ユニット 21 … 第1の装置配置部 22 … 第2の装置配置部 23 … 基板搬送ロボット BU … ベークユニット EEW … エッジ露光部 3 … IFユニット(基板搬送装置) 31 … 第1の基板搬送ロボット(第1の基板搬送手
段) 32 … バッファ部 32a … 収納部 FB … 送りバッファ BB … 戻りバッファ 33 … 第2の基板搬送ロボット(第2の基板搬送手
段) 4 … 露光ユニット 6a … インデクサ制御部 6b … 処理ユニット制御部 6c … IFユニット制御部(制御手段) 6d … 露光ユニットユニット制御部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光処理前後の各種の基板処理を行うた
    めの処理ユニットと、露光処理を行うための露光ユニッ
    トとの間で基板の受け渡しを行うために、基板を一時的
    に収納しておく複数個の収納部を備えているバッファ部
    と前記処理ユニットとの間で基板を搬送する第1の基板
    搬送手段と、前記バッファ部と前記露光ユニットとの間
    で基板を搬送する第2の基板搬送手段とを用いる基板搬
    送方法において、 前記バッファ部に基板を収納する際には、先に収納した
    基板の収納部から少なくとも1つの収納部を隔てて収納
    するようにしたことを特徴とする基板搬送方法。
  2. 【請求項2】 露光処理前後の各種の基板処理を行うた
    めの処理ユニットと、露光処理を行うための露光ユニッ
    トとの間で基板の受け渡しを行うための基板搬送装置に
    おいて、 複数枚の基板を一時的に収納しておくために複数個の収
    納部を備えているバッファ部と、 前記処理ユニットとの間で基板の受け渡しを行うととも
    に、前記バッファ部の所定の収納部との間で基板の収納
    /取り出しを行う第1の基板搬送手段と、 前記露光ユニットとの間で基板の受け渡しを行うととも
    に、前記バッファ部の所定の収納部との間で基板の収納
    /取り出しを行う第2の基板搬送手段と、 前記バッファ部に対して基板を収納する際には、先に収
    納した基板の収納部から少なくとも1つの収納部を隔て
    て収納するように前記第1/第2の基板搬送手段を制御
    する制御手段と、 を備えていることを特徴とする基板搬送装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の基板搬送装置におい
    て、前記バッファ部に形成されている複数個の収納部を
    送りバッファと戻りバッファの2つのグループに分割
    し、前記制御手段は、前記処理ユニットからの基板を収
    納するために送りバッファを用い、前記露光ユニットか
    らの基板を収納するために戻りバッファを用いるように
    したことを特徴とする基板搬送装置。
JP26952397A 1997-10-02 1997-10-02 基板搬送方法及びその装置 Expired - Fee Related JP3988805B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26952397A JP3988805B2 (ja) 1997-10-02 1997-10-02 基板搬送方法及びその装置
KR1019980033973A KR100276638B1 (ko) 1997-10-02 1998-08-21 기판반송장치 및 방법
US09/151,183 US6253118B1 (en) 1997-10-02 1998-09-10 Substrate transport method and apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26952397A JP3988805B2 (ja) 1997-10-02 1997-10-02 基板搬送方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11111800A true JPH11111800A (ja) 1999-04-23
JP3988805B2 JP3988805B2 (ja) 2007-10-10

Family

ID=17473585

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26952397A Expired - Fee Related JP3988805B2 (ja) 1997-10-02 1997-10-02 基板搬送方法及びその装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6253118B1 (ja)
JP (1) JP3988805B2 (ja)
KR (1) KR100276638B1 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077976A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Tokyo Electron Ltd 処理システム
KR100786403B1 (ko) * 2005-01-07 2007-12-17 동경 엘렉트론 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 처리 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
JP2009170904A (ja) * 2008-01-11 2009-07-30 Samsung Electronics Co Ltd フォトスピナー装置およびその制御方法
KR100919084B1 (ko) * 2002-01-31 2009-09-28 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판처리장치 및 기판반송방법
JP2009283980A (ja) * 2009-08-27 2009-12-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2014103412A (ja) * 2014-01-17 2014-06-05 Sokudo Co Ltd 基板処理方法および基板処理装置
US9032977B2 (en) 2009-03-18 2015-05-19 Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. Substrate processing method
JP2015111685A (ja) * 2014-12-24 2015-06-18 株式会社Screenセミコンダクターソリューションズ 基板処理方法および基板処理装置
JP2016103024A (ja) * 2015-12-03 2016-06-02 株式会社Screenセミコンダクターソリューションズ 基板処理方法および基板処理装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6720186B1 (en) * 1998-04-03 2004-04-13 Symyx Technologies, Inc. Method of research for creating and testing novel catalysts, reactions and polymers
US5985214A (en) * 1997-05-16 1999-11-16 Aurora Biosciences Corporation Systems and methods for rapidly identifying useful chemicals in liquid samples
US7101510B2 (en) * 1999-02-16 2006-09-05 Applera Corporation Matrix storage and dispensing system
US6757577B1 (en) * 2000-08-08 2004-06-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. System and method for managing work-in-process (WIP) workload within a fabrication facility
JP3756402B2 (ja) * 2000-12-08 2006-03-15 富士写真フイルム株式会社 基板搬送装置及び方法
KR100795112B1 (ko) * 2001-02-05 2008-01-17 후지필름 가부시키가이샤 포지티브 레지스트 조성물
US6726429B2 (en) 2002-02-19 2004-04-27 Vertical Solutions, Inc. Local store for a wafer processing station
JP4096359B2 (ja) * 2003-03-10 2008-06-04 セイコーエプソン株式会社 製造対象物の製造装置
JP2004297040A (ja) * 2003-03-12 2004-10-21 Seiko Epson Corp 移載装置、搬送装置及び移載方法
CA2636887C (en) * 2003-10-27 2012-03-13 Baker Hughes Incorporated Tubing retrievable safety valve and method
KR101025067B1 (ko) * 2003-12-13 2011-03-25 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시패널의 제조장치
US7798764B2 (en) 2005-12-22 2010-09-21 Applied Materials, Inc. Substrate processing sequence in a cartesian robot cluster tool
US20060130767A1 (en) 2004-12-22 2006-06-22 Applied Materials, Inc. Purged vacuum chuck with proximity pins
US7651306B2 (en) 2004-12-22 2010-01-26 Applied Materials, Inc. Cartesian robot cluster tool architecture
US7699021B2 (en) 2004-12-22 2010-04-20 Sokudo Co., Ltd. Cluster tool substrate throughput optimization
US7819079B2 (en) 2004-12-22 2010-10-26 Applied Materials, Inc. Cartesian cluster tool configuration for lithography type processes
KR101074388B1 (ko) * 2004-12-22 2011-10-17 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 제조 장비
JP4293150B2 (ja) * 2005-03-29 2009-07-08 セイコーエプソン株式会社 基板移載装置、基板移載方法、および電気光学装置の製造方法
JP4523513B2 (ja) * 2005-08-05 2010-08-11 東京エレクトロン株式会社 基板受け渡し装置、基板受け渡し方法及び記憶媒体
WO2007130434A2 (en) * 2006-05-02 2007-11-15 Applera Corporation Variable volume dispenser and method
US7694688B2 (en) 2007-01-05 2010-04-13 Applied Materials, Inc. Wet clean system design
US7950407B2 (en) * 2007-02-07 2011-05-31 Applied Materials, Inc. Apparatus for rapid filling of a processing volume
US7976263B2 (en) * 2007-09-22 2011-07-12 David Barker Integrated wafer transfer mechanism
DE102010019776B4 (de) * 2010-05-07 2015-07-02 Thermo Electron Led Gmbh Klimaschrank mit mehreren Ein- und Ausgabestationen

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5200051A (en) * 1988-11-14 1993-04-06 I-Stat Corporation Wholly microfabricated biosensors and process for the manufacture and use thereof
US5400263A (en) * 1992-04-06 1995-03-21 Hewlett-Packard Company Apparatus and method for specifying the flow of test execution and the binning for a testing system
US5413321A (en) * 1993-01-12 1995-05-09 International Business Machines Corporation System and method for operating a document assembly system
JPH0817894A (ja) * 1994-06-27 1996-01-19 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板表面処理装置
JPH08225117A (ja) * 1994-12-22 1996-09-03 Honda Motor Co Ltd 自動倉庫における入庫制御方法及び入庫制御装置
EP0735573B1 (de) * 1995-03-28 2004-09-08 BROOKS Automation GmbH Be- und Entladestation für Halbleiterbearbeitungsanlagen
KR100310249B1 (ko) * 1995-08-05 2001-12-17 엔도 마코토 기판처리장치
US5788868A (en) * 1995-09-04 1998-08-04 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate transfer method and interface apparatus
JP3552178B2 (ja) * 1995-09-27 2004-08-11 大日本スクリーン製造株式会社 基板収納カセット、インターフェイス機構および基板処理装置
US5953234A (en) * 1996-03-12 1999-09-14 Woodson Incorporated Automated storage facility including a storage and retrieval system and a floor inventory management system
JP3493910B2 (ja) * 1996-08-23 2004-02-03 株式会社日立製作所 自動化処理システム
US6082950A (en) * 1996-11-18 2000-07-04 Applied Materials, Inc. Front end wafer staging with wafer cassette turntables and on-the-fly wafer center finding
JP3579228B2 (ja) * 1997-01-24 2004-10-20 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
US6011998A (en) * 1997-05-09 2000-01-04 Lichti; Wayne High speed picking system
US5985214A (en) * 1997-05-16 1999-11-16 Aurora Biosciences Corporation Systems and methods for rapidly identifying useful chemicals in liquid samples
US6038490A (en) * 1998-01-29 2000-03-14 International Business Machines Corporation Automated data storage library dual picker interference avoidance
US6079927A (en) * 1998-04-22 2000-06-27 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Automated wafer buffer for use with wafer processing equipment

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077976A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Tokyo Electron Ltd 処理システム
KR100919084B1 (ko) * 2002-01-31 2009-09-28 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판처리장치 및 기판반송방법
KR100786403B1 (ko) * 2005-01-07 2007-12-17 동경 엘렉트론 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 처리 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
JP2009170904A (ja) * 2008-01-11 2009-07-30 Samsung Electronics Co Ltd フォトスピナー装置およびその制御方法
US9032977B2 (en) 2009-03-18 2015-05-19 Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. Substrate processing method
JP2009283980A (ja) * 2009-08-27 2009-12-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2014103412A (ja) * 2014-01-17 2014-06-05 Sokudo Co Ltd 基板処理方法および基板処理装置
JP2015111685A (ja) * 2014-12-24 2015-06-18 株式会社Screenセミコンダクターソリューションズ 基板処理方法および基板処理装置
JP2016103024A (ja) * 2015-12-03 2016-06-02 株式会社Screenセミコンダクターソリューションズ 基板処理方法および基板処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR100276638B1 (ko) 2001-01-15
JP3988805B2 (ja) 2007-10-10
KR19990036602A (ko) 1999-05-25
US6253118B1 (en) 2001-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11111800A (ja) 基板搬送方法及びその装置
US7549811B2 (en) Substrate treating apparatus
JP3579228B2 (ja) 基板処理装置
KR100252711B1 (ko) 기판 이송방법 및 인터페이스장치
JP2003324139A (ja) 基板処理装置
JP4079861B2 (ja) 基板処理装置
JP2006024684A (ja) 基板の回収方法及び基板処理装置
JP4080405B2 (ja) 基板処理装置
JP3734295B2 (ja) 基板搬送装置
JP4322086B2 (ja) 基板処理装置およびその方法
JP3734294B2 (ja) 基板搬送装置
JP2003218018A (ja) 処理装置
JP2013069874A (ja) 基板処理システム、基板搬送方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
JPH07171478A (ja) 基板処理装置
JPH10214872A (ja) 基板処理装置
JP2001274221A (ja) 板状体の搬送装置および搬送方法、ならびに処理装置
JP4255791B2 (ja) 基板処理装置
JP4606159B2 (ja) 基板処理装置、基板処理方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JPH09330971A (ja) 基板処理装置
JPH1012528A (ja) 基板処理システム
JP2001168167A (ja) 処理システム及び処理方法
JP4262037B2 (ja) 基板処理装置
JP2010192559A (ja) 基板処理システム
JPH11135596A (ja) 基板処理装置および中間受け渡し装置
JP2013069873A (ja) 基板処理システム、基板搬送方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050307

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050419

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050607

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050809

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050929

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20051027

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20051118

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070619

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070710

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100727

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100727

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100727

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110727

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110727

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120727

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120727

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120727

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130727

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees