JPH11103158A - プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造 - Google Patents

プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造

Info

Publication number
JPH11103158A
JPH11103158A JP26206897A JP26206897A JPH11103158A JP H11103158 A JPH11103158 A JP H11103158A JP 26206897 A JP26206897 A JP 26206897A JP 26206897 A JP26206897 A JP 26206897A JP H11103158 A JPH11103158 A JP H11103158A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
printed wiring
wiring board
circuit pattern
bare chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26206897A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Takasugi
宏 高杉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP26206897A priority Critical patent/JPH11103158A/ja
Publication of JPH11103158A publication Critical patent/JPH11103158A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8119Arrangement of the bump connectors prior to mounting
    • H01L2224/81191Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フリップチップ実装構造において極度な温度
変化があっても、半導体ベアチップの導電性突起とプリ
ント配線板の回路パターンとの電気的接続状態を良好に
する。 【解決手段】 プリント配線板3上の半導体ベアチップ
を実装する領域にチップ固定用樹脂8を供給し、この上
から前記ベアチップ1の導電性突起2と回路パターン4
の接続位置が合致するよう接触させつつ前記ベアチップ
1をプリント配線板3に対して加圧して押付け、半導体
ベアチップ1の導電性突起2により回路パターン4を介
して少なくともプリント配線板3の基材6の圧縮状態を
維持した状態で前記チップ固定用樹脂8を硬化させ、両
者を接着固定する。導電性突起2と回路パターン4と
は、基材6の弾性力により電気的接続状態が保持されつ
つ滑動可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板に
対して半導体ベアチップを実装する方法およびフリップ
チップ実装構造に関する。
【0002】
【従来の技術】フリップチップ実装は、半導体ベアチッ
プ(以下、ベアチップという)の各電極パッド部上に導
電性の突起を設け、この導電性の突起をプリント配線板
上の各回路パターンと電気的に接続するようにして実装
するものである。
【0003】この際、前記導電性の突起と回路パターン
との間の電気的接続を確実にするため、導電性の突起と
回路パターンのそれぞれの間に銀粒子含有のペースト状
導電性接着剤を介在させて両者を固着したり、あるいは
導電性の突起と回路パターンの間に(例えばエポキシ接
着フィルム中に直径数μm程度の導電性微粒子を均一に
分散してある)異方性導電材を保持した後の加熱加圧に
より前記突起とパターンとの間に前記微粒子を介在させ
て固着していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記に
おけるフリップチップ実装においては、ベアチップの導
電性突起とプリント配線板上の回路パターンとが一体的
に固定されているので、この実装部品に対して極度な温
度の上昇と下降を繰り返す温度サイクルを作用させたと
きには、ベアチップとプリント配線板との熱膨張係数の
違いから両者間にストレスが発生する。そして、このス
トレスがベアチップ上の導電性突起と回路パターンとの
間の電気的接続部に集中することによって、両者間の電
気的接続状態が破壊するという不具合があった。
【0005】本発明は、フリップチップ実装構造におい
て、温度サイクル等の温度変化があっても半導体ベアチ
ップの導電性突起部とプリント配線板上の回路パターン
との電気的接続状態が破壊することのないフリップチッ
プ実装方法および実装構造を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
フリップチップ実装方法は、弾性を有する基材を用いた
プリント配線板に対して、電極パッド部に導電性の突起
を設けた半導体ベアチップを実装するフリップチップ実
装方法であって,プリント配線板の基材上に柔軟性また
は弾力性を有する第1接着剤層を介して回路パターンを
設け、前記プリント配線板上の前記半導体ベアチップを
実装する領域に絶縁性のチップ固定用樹脂を供給し、こ
の固定用樹脂の上から前記半導体ベアチップを、前記導
電性の突起と回路パターンの接続位置が合致し接触する
ように載せ、この半導体ベアチップをプリント配線板に
対して加圧して押し付け、このベアチップの導電性の突
起により回路パターンを変形させながら回路パターンを
介して少なくとも前記基材の圧縮状態を維持した状態で
プリント配線板と半導体ベアチップとを前記チップ固定
用樹脂の硬化により接着固定することを特徴とするもの
である。
【0007】本発明の請求項2に係るフリップチップ実
装方法は、弾性を有する基材を用いたプリント配線板に
対して、電極パッド部に導電性の突起を設けた半導体ベ
アチップを実装するフリップチップ実装方法であって,
プリント配線板の基材上に柔軟性または弾力性を有する
第1接着剤層を介して回路パターンを設け、前記プリン
ト配線板上の前記半導体ベアチップを実装する領域に絶
縁性のチップ固定用樹脂を供給し、この固定用樹脂の上
から前記半導体ベアチップを、前記導電性の突起と回路
パターンの接続位置が合致し接触するように載せ、この
半導体ベアチップをプリント配線板に対して加圧して押
し付け、このベアチップの導電性の突起により回路パタ
ーンを導電性の突起に沿って変形させながら回路パター
ンを介して少なくとも前記基材の圧縮状態を維持した状
態でプリント配線板と半導体ベアチップとを前記チップ
固定用樹脂の硬化により接着固定することを特徴とする
ものである。
【0008】請求項1または請求項2のフリップチップ
実装方法によれば、半導体ベアチップの導電性の突起に
より圧縮された基材が、回路パターンを半導体ベアチッ
プの前記突起に押付けるような作用をしつつ接触状態を
維持して前記突起を滑動可能にするので、半導体ベアチ
ップとプリント配線板との熱膨張係数に違いがあっても
両者の電気的接続部にストレスの集中を発生させない。
【0009】また本発明の請求項3に係るフリップチッ
プ実装方法は、前記請求項1または2の方法において、
回路パターンの上に可撓性、柔軟性、弾力性を有する第
2接着剤層を介してカバーレイフィルムを設けるととも
に、このフィルム及び第2接着剤層には前記回路パター
ンの上に実装する半導体ベアチップの大きさよりも大き
い領域の開口部を形成し、この開口部にチップ固定用樹
脂を供給することを特徴とするものである。
【0010】請求項3のフリップチップ実装方法によれ
ば、開口部に供給したチップ固定用樹脂により半導体ベ
アチップの導電性突起側下面の全域が固定されるので、
半導体ベアーチップの前記下面とプリント配線板との接
着面積が安定し、該樹脂の硬化収縮による引張り力が確
保されるとともに、基材による回路パターンを突起に押
付ける作用が各位置で均等になる。
【0011】本発明の請求項4に係るフリップチップ実
装構造は、弾性を有する基材を用いたプリント配線板に
対して、電極パット部に導電性の突起を設けた半導体ベ
アチップを実装するフリップチップ実装構造であって、
前記基材上に柔軟性または弾力性を有する第1接着剤層
を介して回路パターンを設けたプリント配線板と、前記
プリント配線板上の前記半導体ベアチップを実装する領
域に供給された絶縁性のチップ固定用樹脂と、前記ベア
チップの突起により変形した回路パターンを介して前記
プリント配線板の基材の押圧状態を維持した状態で前記
チップ固定用樹脂の硬化によりプリント配線板に固定し
た半導体ベアチップとを有することを特徴とするもので
ある。
【0012】本発明の請求項5に係るフリップチップ実
装構造は、弾性を有する基材を用いたプリント配線板に
対して、電極パット部に導電性の突起を設けた半導体ベ
アチップを実装するフリップチップ実装構造であって、
前記基材上に柔軟性または弾力性を有する第1接着剤層
を介して回路パターンを設けたプリント配線板と、前記
プリント配線板上の前記半導体ベアチップを実装する領
域に供給された絶縁性のチップ固定用樹脂と、前記ベア
チップの突起により回路パターンを導電性の突起に沿っ
て変形させながら回路パターンを介して前記プリント配
線板の基材の押圧状態を維持した状態で前記チップ固定
用樹脂の硬化によりプリント配線板に固定した半導体ベ
アチップとを有することを特徴とするものである。
【0013】請求項4または5のフリップチップ実装構
造によれば、基材の押圧による反力で回路パターンが常
に突起に押付けられた状態で両者の接触が維持されてい
るから、両者間で接触状態を維持しつつ相対的な滑りが
可能になり、前述のストレス集中を発生させない。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態の概念を図1
乃至図3に基いて説明する。図1において、半導体ベア
チップ(以下、ベアチップという)1の各電極パッド部
上には一定高さの導電性の突起2が形成されている。こ
のベアチップ1を実装するプリント配線板3の上面に
は、前記ベアチップ1の各電極パッド部に対応する回路
パターン4が形成されている。この回路パターン4は、
柔軟性または弾力性、および接着形状保持力を有する第
1接着剤層を構成する接着剤5を介して、弾性体として
の基材6上に形成されている。
【0015】ベアチップ1の実装を行う前に、回路パタ
ーン4上のベアチップ載置部には図2に示すようにベア
チップ1の外周輪郭よりも大きい範囲で予め熱硬化型の
チップ固定用樹脂層7を未硬化の状態で設けておく。こ
のチップ固定用樹脂層7を構成する樹脂8は絶縁性であ
る。次いで、ベアチップ1を、各突起2と各回路パター
ン4とを位置決めした状態でチップ固定用樹脂層7の上
から押して(矢印方向)加圧する。
【0016】図3はベアチップ1を実装して加圧した状
態であり、回路パターン4は導電性の突起2により変形
し、チップ固定用樹脂8は突起2と回路パターン4との
間から押出される。この時突起により、回路パターン4
とともに接着剤5を介して、或いは接着剤5を押出した
回路パターン4を介して(押出した状態は不図示)、基
材6は圧縮されることになる。この基材6の圧縮に伴う
反力により、回路パターン4はベアチップ1上の導電性
の突起2に押付けられることになる。この押付けられた
状態のままで熱硬化型のチップ固定用樹脂8を加熱硬化
して、ベアチップ1の実装を完了させる。
【0017】この完了に伴うチップ固定用樹脂8の収縮
により、ベアチップ1とプリント配線板3の間には引張
り力が作用して導電性の突起2と回路パターン4との間
の接合力が付与されると共に、圧縮された弾性体として
機能する基材6により回路パターン4が常に導電性の突
起2に押付けられた状態となっている。
【0018】よって回路パターン4と突起2との接触を
維持した状態のフリップチツプ実装構造では、第1接着
剤層の変形によって回路パターン4と突起2との間で相
対的な滑動が可能となり、温度サイクルが作用してもス
トレスの集中が無くて安定した電気的接続が可能とな
る。また、ベアチップ1を回路パターン4に加圧する
際、回路パターンは導電性の突起より変形するが、この
変形によって回路パターン4上に生成されやすい酸化膜
を破壊できるので電気的接続を良好にすることができ
る。
【0019】(実施の形態1)図4は両面フレキシブル
プリント配線板9の断面図を示す。基材10はポリイミ
ド(PI)からなる層で、厚さが約25μm、弾性率約
350kg/mm2 の弾性体である。この基材10の両
面には、それぞれ熱可塑性で、柔軟性、接着形状保持力
を付与した第1接着剤層を構成するエポキシ樹脂11
a、11b(厚さ約18μm、弾性率約160Kg/m
2 )が形成され、この各エポキシ樹脂11a、11b
の上にフリップチップ実装用の銅箔(厚さ約30μm、
弾性率約600Kg/mm2 )からなる回路パターン1
2a、12bがそれぞれ接着固定されている。そして表
裏両面の回路パターン12a、12bの上には絶縁性確
保や強度向上の目的から、可撓性、柔軟性、弾力性を有
しそれぞれ第2接着剤層を構成するエポキシ樹脂13
a、13bを介してカバーレイフィルム14a、14b
が接着されている。
【0020】前記表面側のカバーレイフィルム14a、
およびエポキシ樹脂13aは、ベアーチップ実装用に、
チップ15の外周側面長さよりも各辺にて0.5mm程
度大きい領域で開口した開口部16を形成している。こ
の開口部位領域の全域に、熱硬化型で且つ導電性を付与
する物質を含まないチップ固定用樹脂とするエポキシ樹
脂17をチップ固定用樹脂層として約0.2mmの厚さ
で塗布する。
【0021】次いで、その上から電極パッド部に導電性
の突起(Auバンプ、高さ約40μm、基端側径約90
μm、先端側径約60μm)を形成したベアチップ15
を載置し、ベアチップ15上から不図示の加圧手段にて
導電性の突起1個あたり30g程度で加圧しつつ、開口
部位のエポキシ樹脂17を約180℃に加熱する。この
加圧した状態が図5である。熱可塑性を付与したエポキ
シ樹脂11aは加圧により変形する回路パターン12a
の銅箔により押出され、ポリイミド層の基材10は回路
パターン12aの銅箔を介して突起18により押圧され
て圧縮力を受けた状態となる。この時、回路パターン1
2aの銅箔は突起の先端に沿って変形し、突起18の変
形も生じた状態となる。
【0022】すなわち、回路パターン12aとしての銅
箔は、基材10の弾性(反発力)によりベアチップ15
の突起18を押圧する状態となる。前記したベアチップ
15を載せる前にプリント配線板9上に供給した熱硬化
型のエポキシ樹脂17は、導電性を付与する物質を含ま
ないエポキシ樹脂なので、回路パターン12aの銅箔と
導電性の突起18との電気的接続が接続抵抗10mΩ以
下のレベルで確保できる。この加圧した状態を維持し加
熱してエポキシ樹脂17を完全硬化させれば、プリント
配線板9上にベアチップ15を実装した完成品を得る事
ができる。
【0023】完成した実装構造では、前述のように弾性
体であるポリイミド層は、導電性の突起18と回路パタ
ーン12aの銅箔が接触している部分では圧縮された状
態であり、その反力が作用している。またその部分以外
では、エポキシ樹脂17の硬化に伴う収縮作用により引
張り力が作用していてベアチップ15がプリント配線板
15から剥離しようとする剥離力に対抗している。この
力のバランスが取れた状態で、回路パターン12aの銅
箔と導電性の突起18は常に押付けられた接続状態とな
っている。このような接続状態では、実装部品のベアチ
ップ15とプリント配線板9との熱膨張係数に違いがあ
っても、ベアチップ15の突起18は回路パターン12
a上で接触状態を維持しつつ滑動することになる。
【0024】よって従来のように使用環境の温度変化に
伴って生じたベアチップの突起と回路パターンとを一体
剛性的に接続した接続部分に、ストレスが集中して接続
部の破壊を生ずるといった不具合が無くなる。
【0025】また、ベアチップ15を回路パターン12
aに加圧する際、回路パターン12aは導電性の突起1
8に沿って変形するが、この変形によって回路パターン
12a上の酸化膜が破壊できたり、突起18との密着性
が良くなって接触面積が広がるので、接続部の信頼性を
高めることができる。
【0026】(実施の形態2)図6は、実施の形態2を
説明するための、両面フレキシブルプリント配線板20
にベアチップを実装し加圧した状態の断面図を示す。
【0027】実施の形態2は、実施の形態1における第
1接着剤層を構成するエポキシ樹脂の特性が異なり、こ
の実施の形態2の第1接着剤層として用いるエポキシ樹
脂は接着形状保持力および弾力性(弾性率は基材とほぼ
同程度)を有する。その他の構成は、実施の形態1と同
じであるので、同構成には同符号を用いて詳細な説明は
省略する。
【0028】すなわち図6において、フレキシブルプリ
ント配線板20の開口部16に塗布したチップ固定用樹
脂としてのエポキシ樹脂17の上からベアチップ15を
加圧しつつ、エポキシ樹脂を約180℃に加熱する。第
1接着剤層を構成するエポキシ樹脂11aとポリイミド
層からなる基材10とは、突起18により変形し、そし
て突起18に沿った状態となった回路パターン12aの
銅箔を介してベアチップ15の突起18により押圧され
て圧縮力を受けた状態となる。この時、突起18の変形
も生じた状態となる。よって、回路パターン12aとし
ての銅箔は、基材10及び第1接着剤層のエポキシ樹脂
11aの弾性(反発力)によりベアチップ15の突起1
8を押圧する状態となる。
【0029】この加圧した状態を維持しつつ加熱により
エポキシ樹脂17を完全硬化させれば、プリント配線板
20上にベアチップ15を実装した完成品を得る事がで
きる。 完成した実装構造では、前述のように弾性体で
ある第1接着剤層とポリイミド層は、導電性の突起18
と回路パターン12aの銅箔が接触している部分では圧
縮された状態であり、その反力が作用している。またそ
の部分以外では、エポキシ樹脂17の硬化に伴う収縮作
用により引張り力が作用していてベアチップ15がプリ
ント配線板20から剥離しようとする剥離力に対抗して
いる。この力のバランスが取れた状態で、回路パターン
12aの銅箔と導電性の突起18は常に押付けられた接
続状態となっている。このような接続状態では、実装部
品のベアチップ15とプリント配線板20との熱膨張係
数に違いがあっても、ベアチップ15の突起18は回路
パターン12a上で接触状態を維持しつつ滑動すること
になる。
【0030】よって従来のように使用環境の温度変化に
伴って生じたベアチップの突起と回路パターンとを一体
剛性的に接続した接続部分に、ストレスが集中して接続
部の破壊を生ずるといった不具合が無くなる。
【0031】また、実施の形態1と同様、回路パターン
12aは導電性の突起18に沿って変形するが、この変
形によって回路パターン12a上の酸化膜が破壊できた
り、突起18との密着性が良くなって接触面積が広がる
ので、接続部の信頼性を高めることができる なお前記実施の形態1および2では、弾性を有する基材
10としてポリイミド樹脂を用いて説明したが、これに
限らずポリエステル(PET)を材料として用いる事も
できる。
【0032】また前記実施の形態1および2では、チッ
プ固定用樹脂として熱硬化型エポキシ樹脂17を用いた
が、これに限らず紫外線硬化型のエポキシ樹脂であって
もよい。
【0033】また前記実施の形態1および2では、ベア
チップ15の加圧により、弾性体としての基材10を変
形する程度までに加圧力を高めて実施してもよいもので
ある。
【0034】
【発明の効果】請求項1または2のフリップチップ実装
方法によれば、半導体ベアチップとプリント配線板との
熱膨張係数に違いがあっても、ベアチップの突起と回路
パターンが接触状態を維持しつつ滑動自在になるので、
従来のようなストレス集中による電気的接続状態の破壊
がなくなり、よって両者間の電気的接続状態を良好にす
るフリップチップ実装構造を得る事ができる。
【0035】請求項3のフリップチップ実装方法によれ
ば、開口部に供給したチップ固定用樹脂によりベアチッ
プの突起側下面の全域が固定されるので、ベアーチップ
の前記下面とプリント配線板との接着面積が安定し該樹
脂の硬化収縮による引張り力が確保されるとともに、基
材による回路パターンを突起に押付ける作用が各位置で
均等になり、さらに両者間の電気的接続状態を良好にす
るフリップチップ実装構造を得る事ができる。
【0036】請求項4または5のフリップチップ実装構
造によれば、ベアチップの突起と回路パターンが接触状
態を維持しつつ滑動自在な構造となるので両者間に従来
のようなストレス集中が生じなくなり、常に電気的接続
状態を良好にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体ベアチップとプリント配線板との関係を
説明する断面図である。
【図2】プリント配線板上にチップ固定用樹脂層を形成
した状態を示す斜視図である。
【図3】プリント配線板に半導体ベアチップを実装した
状態を説明する断面図である。
【図4】実施の形態1に係るプリント配線板の断面図で
ある。
【図5】実施の形態1に係るプリント配線板に半導体ベ
アチップを実装した状態を説明する断面図である。
【図6】実施の形態2に係るプリント配線板に半導体ベ
アチップを実装した状態を説明する断面図である。
【符号の説明】
1 半導体ベアチップ 2 導電性の突起 3 プリント配線板 4 回路パターン 5 接着剤(第1接着剤層) 6 基材 8 チップ固定用樹脂 10 基材 12a 回路パターン 14a カバーレイフィルム 16 開口部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 弾性を有する基材を用いたプリント配線
    板に対して電極パッド部に導電性の突起を設けた半導体
    ベアチップを実装するフリップチップ実装方法であっ
    て、プリント配線板の基材上に柔軟性または弾力性を有
    する第1接着剤層を介して回路パターンを設け、前記プ
    リント配線板上の前記半導体ベアチップを実装する領域
    に絶縁性のチップ固定用樹脂を供給し、この固定用樹脂
    の上から前記半導体ベアチップを前記導電性の突起と回
    路パターンの接続位置が合致し接触するように載せ、こ
    の半導体ベアチップをプリント配線板に対して加圧して
    押し付け、この半導体ベアチップの導電性の突起により
    回路パターンを変形させながら回路パターンを介して少
    なくとも前記基材の圧縮状態を維持した状態でプリント
    配線板と半導体ベアチップとを前記チップ固定用樹脂の
    硬化により接着固定することを特徴とするプリント配線
    板へのフリップチップ実装方法。
  2. 【請求項2】 弾性を有する基材を用いたプリント配線
    板に対して電極パッド部に導電性の突起を設けた半導体
    ベアチップを実装するフリップチップ実装方法であっ
    て、プリント配線板の基材上に柔軟性または弾力性を有
    する第1接着剤層を介して回路パターンを設け、前記プ
    リント配線板上の前記半導体ベアチップを実装する領域
    に絶縁性のチップ固定用樹脂を供給し、この固定用樹脂
    の上から前記半導体ベアチップを前記導電性の突起と回
    路パターンの接続位置が合致し接触するように載せ、こ
    の半導体ベアチップをプリント配線板に対して加圧して
    押し付け、この半導体ベアチップの導電性の突起により
    回路パターンを導電性の突起に沿って変形させながら回
    路パターンを介して少なくとも前記基材の圧縮状態を維
    持した状態でプリント配線板と半導体ベアチップとを前
    記チップ固定用樹脂の硬化により接着固定することを特
    徴とするプリント配線板へのフリップチップ実装方法。
  3. 【請求項3】 前記回路パターンの上に可撓性、柔軟
    性、弾力性を有する第2接着剤層を介してカバーレイフ
    ィルムを設けるとともに、このフィルム及び第2接着剤
    層には前記回路パターンの上に実装する半導体ベアチッ
    プの大きさよりも大きい領域の開口部を形成し、この開
    口部に前記チップ固定用樹脂を供給することを特徴とす
    る請求項1または2記載のプリント配線板へのフリップ
    チップ実装方法。
  4. 【請求項4】 導電性を有する基材を用いたプリント配
    線板に対して、電極パット部に導電性の突起を設けた半
    導体ベアチップを実装するフリップチップ実装構造であ
    って、前記基材上に柔軟性または弾力性を有する第1接
    着剤層を介して回路パターンを設けたプリント配線板
    と、前記プリント配線板上の前記半導体ベアチップを実
    装する領域に供給された絶縁性のチップ固定用樹脂と、
    前記ベアチップの突起により変形した回路パターンを介
    して前記プリント配線板の基材の押圧状態を維持した状
    態で前記チップ固定用樹脂の硬化によりプリント配線板
    に固定した半導体ベアチップとを有することを特徴とす
    るプリント配線板へのフリップチップ実装構造。
  5. 【請求項5】 導電性を有する基材を用いたプリント配
    線板に対して、電極パット部に導電性の突起を設けた半
    導体ベアチップを実装するフリップチップ実装構造であ
    って、前記基材上に柔軟性または弾力性を有する第1接
    着剤層を介して回路パターンを設けたプリント配線板
    と、前記プリント配線板上の前記半導体ベアチップを実
    装する領域に供給された絶縁性のチップ固定用樹脂と、
    前記ベアチップの突起により回路パターンを導電性の突
    起に沿って変形しながら回路パターンを介して前記プリ
    ント配線板の基材の押圧状態を維持した状態で前記チッ
    プ固定用樹脂の硬化によりプリント配線板に固定した半
    導体ベアチップとを有することを特徴とするプリント配
    線板へのフリップチップ実装構造。
JP26206897A 1997-09-26 1997-09-26 プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造 Pending JPH11103158A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26206897A JPH11103158A (ja) 1997-09-26 1997-09-26 プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26206897A JPH11103158A (ja) 1997-09-26 1997-09-26 プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11103158A true JPH11103158A (ja) 1999-04-13

Family

ID=17370590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26206897A Pending JPH11103158A (ja) 1997-09-26 1997-09-26 プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11103158A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007027305A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Shindo Denshi Kogyo Kk 半導体装置、およびその製造方法
JP2007043086A (ja) * 2005-06-29 2007-02-15 Dainippon Printing Co Ltd Icタグ、icタグの製造方法、およびicタグの製造装置、並びに、インターポーザ、インターポーザの製造方法、およびインターポーザの製造装置
US7276784B2 (en) 2004-10-13 2007-10-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device and a method of assembling a semiconductor device
US7326681B2 (en) 2000-06-28 2008-02-05 Glycofi, Inc. Methods for producing modified glycoproteins
JP2009212437A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Seiko Epson Corp 半導体モジュールの製造方法
US7935513B2 (en) 2000-06-28 2011-05-03 Glycofi, Inc. Combinatorial DNA library for producing modified N-glycans in lower eukaryotes
US8445227B2 (en) 2000-06-28 2013-05-21 Merck Sharp & Dohme N-acetylglucosaminyltransferase III expression in lower eukaryotes
US8697394B2 (en) 2000-06-28 2014-04-15 Glycofi, Inc. Production of modified glycoproteins having multiple antennary structures
US8986949B2 (en) 2003-02-20 2015-03-24 Glycofi, Inc. Endomannosidases in the modification of glycoproteins in eukaryotes

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7935513B2 (en) 2000-06-28 2011-05-03 Glycofi, Inc. Combinatorial DNA library for producing modified N-glycans in lower eukaryotes
US8883483B2 (en) 2000-06-28 2014-11-11 Glycofi, Inc. Combinatorial DNA library for producing modified N-glycans in lower eukaryotes
US7326681B2 (en) 2000-06-28 2008-02-05 Glycofi, Inc. Methods for producing modified glycoproteins
US7923430B2 (en) 2000-06-28 2011-04-12 Glycofi, Inc. Methods for producing modified glycoproteins
US7981660B2 (en) 2000-06-28 2011-07-19 Glycofi, Inc. Methods for producing modified glycoproteins
US8697394B2 (en) 2000-06-28 2014-04-15 Glycofi, Inc. Production of modified glycoproteins having multiple antennary structures
US8445227B2 (en) 2000-06-28 2013-05-21 Merck Sharp & Dohme N-acetylglucosaminyltransferase III expression in lower eukaryotes
US8211691B2 (en) 2000-06-28 2012-07-03 Glycofi, Inc. Methods for producing modified glycoproteins
US8877462B2 (en) 2000-06-28 2014-11-04 Glycofi, Inc. Combinatorial DNA library for producing modified N-glycans in lower eukaryotes
US8986949B2 (en) 2003-02-20 2015-03-24 Glycofi, Inc. Endomannosidases in the modification of glycoproteins in eukaryotes
US7276784B2 (en) 2004-10-13 2007-10-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device and a method of assembling a semiconductor device
JP2007043086A (ja) * 2005-06-29 2007-02-15 Dainippon Printing Co Ltd Icタグ、icタグの製造方法、およびicタグの製造装置、並びに、インターポーザ、インターポーザの製造方法、およびインターポーザの製造装置
JP2007027305A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Shindo Denshi Kogyo Kk 半導体装置、およびその製造方法
JP2009212437A (ja) * 2008-03-06 2009-09-17 Seiko Epson Corp 半導体モジュールの製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001024034A5 (ja)
KR100563890B1 (ko) 전기적 접속 장치 및 전기적 접속 방법
JPH11103158A (ja) プリント配線板へのフリップチップ実装方法および実装構造
JPH11345302A (ja) Icチップの実装方法、icモジュール、インレットおよびicカード
US6559523B2 (en) Device for attaching a semiconductor chip to a chip carrier
JP2978390B2 (ja) フレキシブルプリント基板と配線基板との接続体の製造方法
JP3052300B2 (ja) 配線基板及び加圧ツール
WO2006051885A1 (ja) インターポーザの接合方法及び、このインターポーザの接合方法を利用して作製した電子部品
US6008072A (en) Tape automated bonding method
JP3743716B2 (ja) フレキシブル配線基板及び半導体素子の実装方法
JPH0574512A (ja) 電気接続用コネクタ
US20100123258A1 (en) Low Temperature Board Level Assembly Using Anisotropically Conductive Materials
US6194780B1 (en) Tape automated bonding method and bonded structure
JP3646056B2 (ja) フリップチップ実装方法
JP3319269B2 (ja) 電子部品接合方法
JPH0951018A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2823667B2 (ja) 半導体素子の実装方法
JP2002170850A (ja) 電子部品実装構造体とその製造方法
JP3829649B2 (ja) フリップチップ実装方法
JP4040734B2 (ja) 異方導電性接着剤およびこれを用いた電子部品の実装方法
JP2000174066A (ja) 半導体装置の実装方法
JP2004062634A (ja) 非接触通信媒体の接合方法および非接触通信媒体
JP2003152017A (ja) 導電端子の接合方法及び情報通信媒体
JPH10256306A (ja) 回路板の製造法
JP3745524B2 (ja) 異方導電性接着シートおよびこれを用いた電子部品の実装方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040922

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070306

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070710