JPH11103036A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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JPH11103036A
JPH11103036A JP9263036A JP26303697A JPH11103036A JP H11103036 A JPH11103036 A JP H11103036A JP 9263036 A JP9263036 A JP 9263036A JP 26303697 A JP26303697 A JP 26303697A JP H11103036 A JPH11103036 A JP H11103036A
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JP
Japan
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light
film
receiving sensor
interlayer film
solid
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JP9263036A
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Inventor
Takashi Fukusho
孝 福所
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Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 集光効率を高めて感度向上を図るとともに、
遮光膜に起因する不都合を解消した固体撮像素子の提供
が望まれている。 【解決手段】 基体2の表層部に設けられて光電変換を
なす受光センサ部3と、受光センサ部3から読み出され
た信号電荷を転送する電荷転送部5と、基体2上の、電
荷転送部5の略直上位置に絶縁膜7を介して設けられた
転送電極8とが備えられた固体撮像素子1である。受光
センサ部3上に、入射光を受光センサ部3に集光する層
内レンズ13が設けられている。転送電極8の側壁面に
これを覆って第1の層間膜9が設けられ、これを覆って
この第1の層間膜9より屈折率が大である第2の層間膜
10が設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、受光センサ部への
集光効率を高め、感度特性の向上を図った固体撮像素子
に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、固体撮像素子においてはその小型
化や画素の高密度化が一層進み、これに伴って受光エリ
アが縮小され、感度低下やスミアの増加などの特性劣化
を招いている。感度低下の対策としては、例えばオンチ
ップレンズや層内レンズを設け、受光センサ部での集光
効率を高めるといったことが提案され、実施されてい
る。また、スミア対策としては、通常はアルミニウム等
の金属からなる遮光膜で転送電極を覆い、さらにこの遮
光膜を受光センサ部の直上にまで張り出して形成すると
いったことがなされている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例えば
層内レンズを高屈折率材で作製した固体撮像素子では、
遮光膜が層内レンズの下方に配設されるため、遮光膜の
膜厚分受光センサ部の開口部分が狭められ、また遮光膜
の張り出し部分によってさらに受光センサ部の開口部分
が狭められることから、この遮光膜によって入射光の一
部が全反射してしまい、感度が低下してしまう。また、
遮光膜が例えばアルミニウムから形成されている場合、
このアルミニウムのグレインによって受光センサ部間で
その開口形状や大きさが微妙に異なってしまうため、乱
反射成分も含めて受光センサ部間で微少な感度ムラが生
じてしまう。
【0004】また、遮光膜の加工後に、転送電極や遮光
膜によって形成された凹凸をなくすべく平坦化膜をリフ
ロー処理によって形成するが、このリフロー処理の際の
熱処理により、遮光膜を形成する金属が受光センサ部に
拡散することによって画像欠陥が生じたり、金属の結晶
化によって透過光成分の特性悪化が起こるといったおそ
れがある。さらに、遮光膜と転送電極との間に形成され
る絶縁膜は一般に薄いことから、カップリング容量が増
加してしまい、クロック波形の伝搬遅延が増してレジス
タ部の取り扱い電荷量が減少してしまう。
【0005】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、集光効率を高めて感度向
上を図るとともに、遮光膜に起因する不都合を解消した
固体撮像素子を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の固体撮像素子で
は、基体の表層部に設けられて光電変換をなす受光セン
サ部と、該受光センサ部から読み出された信号電荷を転
送する電荷転送部と、前記基体上の、前記電荷転送部の
略直上位置に絶縁膜を介して設けられた転送電極とを備
え、前記受光センサ部上に、入射光を受光センサ部に集
光する層内レンズを設け、前記転送電極の側壁面に該側
壁面を覆って第1の層間膜を設け、該第1の層間膜を覆
ってこの第1の層間膜より屈折率が大である第2の層間
膜を設けたことを前記課題の解決手段とした。
【0007】この固体撮像素子によれば、転送電極の側
壁面に該側壁面を覆って第1の層間膜を設け、該第1の
層間膜を覆ってこの第1の層間膜より屈折率が大である
第2の層間膜を設けたことから、受光センサ部に対して
斜めに入射し、層内レンズによって集光しきれずに転送
電極の側壁面に入射する光が、第1の層間膜表面と第2
の層間膜との間の界面で反射して受光センサ部上に入射
するようになる。また、このように第1の層間膜と第2
の層間膜とを積層したことにより、層内レンズを透過し
転送電極の側壁面に入射した光が受光センサ部の外に洩
れるのを防止したことから、該転送電極に近接してこれ
を覆った状態に遮光膜を配する必要がなくなる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の固体撮像素子を詳
しく説明する。図1は本発明の固体撮像素子の一実施形
態例を示す図であり、図1において符号1は固体撮像素
子、2はシリコン基板(基体)である。シリコン基板2
には、図1に示すようにその表層部に光電変換をなす受
光部(図示略)が形成され、さらにこの受光部の上にホ
ール蓄積部(図示略)が形成されている。そして、これ
ら受光部とホール蓄積部とから、HAD(Holl Accumul
ation Diode )構造の受光センサ部3が形成されてい
る。
【0009】この受光センサ部3の一方の側には、読み
出しゲート4を介して電荷転送部5が形成され、他方の
側にはチャネルストップ6を介して別の電荷転送部5が
形成されている。そして、このような構成により受光セ
ンサ部3で光電変換されて得られた信号電荷は、読み出
しゲート4を介して電荷転送部5に読み出され、さらに
該電荷転送部5にて転送されるようになっている。ま
た、シリコン基板2の表面部には、熱酸化法やCVD法
等によって形成されたSiO2 からなる絶縁膜7が設け
られている。なお、この絶縁膜7についてはSiO2
からなる単層膜でなく、SiO2 膜−SiN膜−SiO
2 膜の三層からなるいわゆるONO構造の積層膜として
もよい。
【0010】絶縁膜7の上には、前記電荷転送部5の略
直上位置に第1ポリシリコンからなる転送電極8が形成
されており、さらに転送電極8とは一部が重なり合う状
態で、第2ポリシリコンからなる別の転送電極(図示
略)が形成されている。これら転送電極8の表面上、す
なわちその上面および側面上には、該転送電極8を覆っ
てSiO2 からなる第1の層間膜9が形成されており、
またこの第1の層間膜9上には、これを覆い、さらに転
送電極8、8間に臨む受光センサ部3上の絶縁膜7を覆
って第2の層間膜10が形成されている。
【0011】第1の層間膜9は、熱酸化法や減圧CVD
法によって厚さ100nm程度に形成された酸化ケイ素
(SiO2 )からなるものであり、その屈折率が1.4
5のものである。一方、第2の層間膜10は、減圧CV
D法によって厚さ10〜50nm程度に形成された窒化
ケイ素(Si3 4 )からなるものであり、その屈折率
が2.0のものである。そして、これら第1の層間膜9
と第2の層間膜10とは、特に転送電極8の側壁面上に
おいて、後述するようにその屈折率差によってその界面
で全反射する反射膜として機能するものとなっている。
また、第2の層間膜10は、転送電極8、8間に臨む受
光センサ部3上において、反射防止膜としても機能する
ものとなっている。
【0012】このような第1、第2の層間膜9、10の
上には、該第1、第2の層間膜9、10および転送電極
8を覆ってBPSG(屈折率;1.45)からなるリフ
ロー膜11が形成されている。このリフロー膜11は、
転送電極8等を覆うことによって該転送電極8、8間の
受光センサ部3上に凹部11aを形成したものであり、
凹部11aは、リフロー膜11がリフロー処理されるこ
とによって層内レンズ形成のための所定の曲率に調整加
工されたものである。
【0013】このリフロー膜11上には、その凹部11
aを埋め込んだ状態に層内レンズ材12が成膜され、こ
れによって該層内レンズ材12とリフロー膜11との間
に層内レンズ13が形成されている。層内レンズ材12
は、本例ではバイアス高密度プラズマCVD法による窒
化ケイ素(以下、P−SiNと記す)からなっている。
そして、このP−SiNは屈折率が2.0であり、した
がってリフロー膜11との間に屈折率差があることか
ら、これら層内レンズ材12とリフロー膜11との界面
で図1中矢印Aで示すように入射光が受光センサ部3側
に屈折するようになっており、これによって層内レンズ
13がその機能を発揮するようになっている。なお、層
内レンズ材12は、その表面が公知のレジストエッチバ
ック法、あるいはCMP法(化学機械研磨法)によって
平坦化されている。
【0014】この平坦化された層内レンズ材12上に
は、前記転送電極8の直上位置に遮光膜14が形成され
ている。この遮光膜14は、アルミニウムやアルミニウ
ム合金などから形成されたものであり、受光センサ部3
の直上部分のほぼ全域を外側に臨ませた状態で、すなわ
ち受光センサ部3の直上に矩形の開口部15を有した状
態で形成されたものである。
【0015】この遮光膜14および開口部15内に臨む
層内レンズ材12の上には、これらを覆ってパッシベー
ション膜16が形成されている。また、パッシベーショ
ン膜16の上には樹脂等からなるカラーフィルタ層17
が形成され、さらにその上には凸状の透明樹脂等からな
るオンチップレンズ18が形成されている。ここで、カ
ラーフィルタ層17およびオンチップレンズ18は、共
に屈折率が1.5〜1.6程度の材料によって形成され
たものである。
【0016】このような固体撮像素子1を作製するに際
し、第1の層間膜9を形成するには、転送電極8上に熱
酸化法あるいは減圧CVD法等によって酸化ケイ素(S
iO 2 )膜を形成し、第1の層間膜9を得る。なお、こ
の第1の層間膜9の形成にあたっては、特に転送電極
8、8間に臨む受光センサ部3の直上に成膜された部分
をエッチング等によって除去してもよく、あるいは絶縁
膜としてそのまま残してもよい。第2の層間膜10につ
いては、減圧CVD法等によって窒化ケイ素(Si3
4 )膜を形成し、これにより第1の層間膜9を覆うとと
もに、転送電極8、8間に臨む受光センサ部3上の絶縁
膜7を覆う。
【0017】また、層内レンズ13の形成については、
リフロー膜11の材料としてBPSGをCVD法等によ
って堆積し、さらに予め設定した条件でリフロー処理
(熱処理)することにより、その凹部11aの曲率を所
望する層内レンズ13の形状となるように形成する。な
お、このようなリフロー処理の条件を設定するにあたっ
ては、予めシミュレーション等によって最適な層内レン
ズ13の形状を決定しておき、さらに実験やシミュレー
ション等によってこの最適な層内レンズ形状を得るため
の条件を求めるようにする。
【0018】層内レンズ13の最適な形状については、
第1の層間膜9と第2の層間膜10との界面で入射光を
全反射させるべく、入射光の入射角を後述する所定の角
度以上に調整するような形状とされる。続いて、得られ
たリフロー膜11の凹部11aを埋め込んだ状態に層内
レンズ材12を堆積・成膜し、さらにその表面をレジス
トエッチバック法あるいはCMP法(化学機械研磨法)
により平坦化して層内レンズ15を得る。
【0019】このようにして層内レンズ13を形成した
ら、アルミニウム等の遮光膜材料をスパッタ法等によっ
て成膜し、さらにこれを公知のリソグラフィー技術、エ
ッチング技術によってパターニングし、遮光膜14を形
成する。なお、この遮光膜14については、固体撮像素
子1の周辺回路における配線と同一の層として形成する
ことも可能である。続いてP−SiN膜等からなるパッ
シベーション膜16を形成し、さらに染色法やカラーレ
ジスト塗布によってカラーフィルタ層17を形成し、そ
の後、オンチップレンズ18を形成する。ここで、オン
チップレンズ18の形成については、熱溶融性透明樹脂
や常温無加熱でCVD可能な高密度SiNを堆積させ、
さらにその上部にレジストを設けた後、このレジストを
熱リフロー処理して所望の曲率を有する凸レンズ形状に
し、さらにこれをマスクにして前記堆積層をエッチング
し、レジストを除去してオンチップレンズ18を得ると
いったエッチバック転写等が用いられる。
【0020】このようにして得られた固体撮像素子1に
よれば、オンチップレンズ18で集光され、さらにカラ
ーフィルタ層17、パッシベーション膜16を透過して
層内レンズ13に入射し、再度集光(屈折)された光が
受光センサ部3直上の第2の層間膜10、絶縁膜7を透
過し受光センサ部3に到り、ここで光電変換がなされ
る。また、図1中矢印Aで示したごとく、転送電極8の
側壁面に対して斜めに入射し、第2の層間膜10と第1
の層間膜9との界面に到る光も、該界面で反射して受光
センサ部3上に入射するようになっている。
【0021】すなわち、この例では、オンチップレンズ
18の曲率および層内レンズ13の曲率やこれらレンズ
18、13の屈折率、さらにはカラーフィルタ層17、
パッシベーション膜16の屈折率が、層内レンズ材12
を透過してリフロー膜11に入射した光の、前記第2の
層間膜10と第1の層間膜9との界面への入射角θ1
すなわち該入射光と前記界面との法線Lとのなす角θ1
が、46.5°より大きい角度となるように予め調整さ
れている。
【0022】そして、このようにθ1 が46.5°より
大きい角度となるように調整されており、また、第2の
層間膜10の屈折率n1 が2.0、第1の層間膜9の屈
折率n2 が1.45であることから、以下の式に示され
るスネルの法則により、前述したように透明膜12を透
過してこれと層間絶縁膜11との界面に到った光が、全
て全反射して受光センサ部3に入射するのである。 n1 ・sinθ1 =n2 ・sinθ2 (スネルの法
則)
【0023】つまり、図2に示すスネルの法則の説明図
において、屈折角θ2 が90°を越えると光が全反射に
なるとすれば、θ2 に90°を代入し、さらにn1
2.0、n2 =1.45とすることにより、2.0×s
inθ1 =1.45×sin90°となり、sin90
°=1であることから、sinθ1 =1.45/2.0
となり、これから全反射するための臨界的な角度である
θ1 =46.5°が求まるのである。
【0024】よって、前述したごとく層内レンズ13を
透過してリフロー膜11に入射した光の、前記界面に対
する角度θ1 が前記の臨界的な角度である46.5°よ
り大きい角度となることにより、リフロー膜11を透過
して転送電極8の側壁部に到った光が、第2の層間膜1
0と第1の層間膜9との界面で全て全反射し、受光セン
サ部3に入射するようになる。また、層内レンズ13に
ついては、その形状、すなわち前述した最適な形状が、
第1の層間膜9と第2の層間膜10との界面で入射光を
全反射させるべく、該層内レンズ13で屈折した光が前
記界面に対して46.5°より大きい角度となるように
形成されているのである。
【0025】したがって、この固体撮像素子1にあって
は、層内レンズ13に入射した光を全て受光センサ部3
に入射させることができることにより、集光効率を高め
て感度特性を格段に向上することができる。また、オン
チップレンズ18を設けたことによって入射光を層内レ
ンズ13に集光することができ、さらに転送電極8の上
面側に入射するような光はこれを遮光膜14で遮り、ス
ミア等が生じるのを防ぐことができる。また、第2の層
間膜10を、転送電極8、8間に臨む受光センサ部3上
の絶縁膜7を覆って形成しているので、この第2の層間
膜10が反射防止膜として機能し、これにより受光セン
サ部3の直上に入射する光を反射させることなく受光セ
ンサ部3に導くことができ、これにより感度を一層高め
ることができる。
【0026】また、遮光膜14を転送電極8の近傍に形
成することなく、層内レンズ13の上側に設けたことか
ら、遮光膜14によって受光センサ部3上の開口部分が
狭められることなく、したがって遮光膜14に起因する
感度低下を防止することができる。また、従来の金属か
らなる遮光膜の表面での乱反射に比べ、窒化ケイ素から
なる第2の層間膜10と酸化ケイ素からなる第1の層間
膜9との界面での全反射の方が均一に反射がなされるこ
とから、光量差が画素間でばらつくことによる感度ムラ
を抑えることができる。
【0027】なお、前記実施形態例では遮光膜14を設
けたが、オンチップレンズ18や層内レンズ13等によ
り固体撮像素子に入射した光を確実に転送電極8、8の
側壁間(正確には、該側壁部における第2層間膜10、
10間)に入射させることができる場合には、この遮光
膜14を設けなくてもよい。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように本発明の固体撮像素
子は、転送電極の側壁面に該側壁面を覆って第1の層間
膜を設け、該第1の層間膜を覆ってこの第1の層間膜よ
り屈折率が大である第2の層間膜を設けたものであるか
ら、受光センサ部に対して斜めに入射し、層内レンズに
よって集光しきれずに転送電極の側壁面に入射する光
を、第1の層間膜表面と第2の層間膜との間の界面で反
射して受光センサ部上に入射させることができ、これに
より感度の向上を図ることができる。また、このように
第1の層間膜と第2の層間膜とを積層したことにより、
層内レンズを透過し転送電極の側壁面に入射した光が受
光センサ部の外に洩れるのを防止したことから、該転送
電極に近接してこれを覆った状態に遮光膜を配する必要
がなくなり、これにより遮光膜に起因する不都合を解消
することができる。
【0029】すなわち、遮光膜を例えば層内レンズより
上側に配設することにより、実質的な受光センサ部の開
口を拡げることができ、これにより感度特性を向上する
ことができる。また、遮光膜を転送電極に近接してこれ
を覆った状態に配する必要がないことから、従来のごと
く遮光膜加工後にリフロー処理となる高温熱処理を行う
必要がなく、したがって遮光膜材料となる金属が受光セ
ンサ部に拡散することによる画像欠陥を防ぐことができ
る。また、金属の結晶化による透過光成分の特性悪化が
起こるといったことも防ぐことができ、これによりOP
B(光学的黒)透過によるクランプミスやスミア特性を
改善することができる。また、遮光膜を転送電極に近接
してこれを覆った状態に配する必要がなく、したがって
遮光膜と転送電極との間を拡げることができるため、カ
ップリング容量を減少してクロック波形の伝搬遅延を減
少することができ、これによりレジスタ部の取り扱い電
荷量を多く確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の固体撮像素子の一実施形態例の概略構
成を示す要部側断面図である。
【図2】スネルの法則の説明図である。
【符号の説明】
1…固体撮像素子、2…シリコン基板(基体)、3…受
光センサ部、5…電荷転送部、7…絶縁膜、8…転送電
極、9…第1の層間膜、10…第2の層間膜、13…層
内レンズ、14…遮光膜、18…オンチップレンズ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体の表層部に設けられて光電変換をな
    す受光センサ部と、該受光センサ部から読み出された信
    号電荷を転送する電荷転送部と、前記基体上の、前記電
    荷転送部の略直上位置に絶縁膜を介して設けられた転送
    電極とが備えられてなり、 前記受光センサ部上に、入射光を受光センサ部に集光す
    る層内レンズが設けられ、 前記転送電極の側壁面に該側壁面を覆って第1の層間膜
    が設けられ、該第1の層間膜を覆ってこの第1の層間膜
    より屈折率が大である第2の層間膜が設けられたことを
    特徴とする固体撮像素子。
  2. 【請求項2】 前記層内レンズの直上部に、入射光を層
    内レンズに集光するオンチップレンズが設けられたこと
    を特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。
  3. 【請求項3】 前記層内レンズの上側でかつオンチップ
    レンズの下側における、前記転送電極の直上位置に、遮
    光膜が設けられてなることを特徴とする請求項2記載の
    固体撮像素子。
  4. 【請求項4】 前記第2の層間膜が、受光センサ部の直
    上を覆って形成されてなることを特徴とする請求項1記
    載の固体撮像素子。
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