JPH1092178A - 半導体装置の信号発生回路 - Google Patents

半導体装置の信号発生回路

Info

Publication number
JPH1092178A
JPH1092178A JP9166344A JP16634497A JPH1092178A JP H1092178 A JPH1092178 A JP H1092178A JP 9166344 A JP9166344 A JP 9166344A JP 16634497 A JP16634497 A JP 16634497A JP H1092178 A JPH1092178 A JP H1092178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output line
control signal
output
logic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9166344A
Other languages
English (en)
Inventor
Keisan Ri
圭燦 李
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JPH1092178A publication Critical patent/JPH1092178A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置の信号発生回路を提供する。 【解決手段】 第1、第2制御信号CNT1、CNT2
に応答して第1出力ラインLANGを駆動する第1ドラ
イビング手段1と、第1制御信号の反転信号/CNT1
及び第2制御信号の反転信号/CNT2に応答して第2
出力ラインLAPGを駆動する第2ドライビング手段3
と、第1出力ラインと第2出力ラインとの間に接続さ
れ、第3制御信号CNT3に応答して第1及び第2出力
ラインを等化する等化手段5、所定の第1、第2及び第
3入力信号に応答して第1、第2制御信号とこれらの反
転信号とを発生する制御信号発生手段とを具備する。出
力ドライバから発生し得るDC電流及び出力負荷の充放
電電流を減少させることによって電力消耗を減らすこと
ができ、その出力信号がビットライン感知増幅器のイネ
ーブル信号として用いられるとビットライン感知増幅器
のセンシング初期の不明なセンシングが防げる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の信号発
生回路に係り、さらに詳細には半導体メモリ装置のビッ
トライン感知増幅器イネーブル信号の発生回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】DRAMにおいてビットライン感知増幅
器は、メモリセルをアクセスした後メモリセルとビット
ラインとの電荷共有によりビットラインに発生した小さ
な信号差を増幅するものであって、DRAM動作におい
て非常に重要な部分である。従って、前記ビットライン
感知増幅器をイネーブルするイネーブル信号も重要な信
号の一つである。
【0003】従来のビットライン感知増幅器イネーブル
信号の発生回路は単なるインバータの構造を有し、初期
の不明なセンシングを防ぐためにその出力信号の傾斜幅
を縮めたり、または二つのドライバ、即ちP型感知増幅
器のドライバ及びN型感知増幅器のドライバを時間をお
いてイネーブルする方法を用いる。
【0004】図1はDRAMでビットライン感知増幅器
を含むデータセンシング回路の回路図である。
【0005】図1を参照すれば、P型感知増幅器1及び
N型感知増幅器3が互いに隣接したメモリアレー5,7
のビットラインペアBL、/BL(ただし「/」はBL
の反転信号で、図面におけるオーバーバーと同じ。以下
同様)に接続される。さらに、PMOSドライバトラン
ジスタP3,P4及びNMOSドライバトランジスタN
3,N4が前記P型感知増幅器1及びN型感知増幅器3
にそれぞれ接続され、N型感知増幅器3をイネーブルす
るためのイネーブル信号LANGがNMOSドライバト
ランジスタN3,N4のゲートに入力され、P型感知増
幅器1をイネーブルするためのイネーブル信号LAPG
がPMOSドライバトランジスタP3,P4のゲートに
入力される。N5,N6,N7,N8はビットラインペ
アBL,/BLとP型感知増幅器1及びN型感知増幅器
3を分離するNMOS分離トランジスタで、PISOi
及びPISOjはNMOS分離トランジスタを制御する
制御信号である。
【0006】図2は従来のビットライン感知増幅器イネ
ーブル信号の発生回路の回路図である。
【0007】図2を参照すれば、N型感知増幅器に対す
る従来のイネーブル信号発生回路は、制御信号PNS及
びメモリセルブロック選択信号BLSijを入力するた
めのナンドゲートND1と、前記ナンドゲートND1の
出力をインバーティングしてイネーブル信号LANGを
出力するインバータI1とからなる。さらに、P型感知
増幅器に対するイネーブル信号発生回路は、制御信号P
PS及びメモリセルブロック選択信号BLSijを入力
するためのナンドゲートND2と、前記ナンドゲートN
D1の出力を反転するインバータI2と、前記インバー
タI2の出力を反転してイネーブル信号LAPGを出力
するインバータI3とよりなる。
【0008】さらに、抵抗R1がインバータI1のPM
OSトランジスタと電源電圧VCCとの間に接続され、
抵抗R2がインバータI3のNMOSトランジスタと接
地電圧VSSとの間に接続される。これはビットライン
感知増幅器イネーブル信号の出力信号LANG、LAP
Gの傾斜幅を縮めることによって、ビットライン感知増
幅器におけるセンシング初期の不明なセンシングを防止
するためである。
【0009】しかしながら、前述した従来のビットライ
ン感知増幅器イネーブル信号の発生回路は、DC電流の
消耗及びビットライン感知増幅器の不明な初期センシン
グをもたらす恐れがある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
はビットライン感知増幅器のセンシング初期に不明なセ
ンシングを防ぎ、出力ドライバから発生し得るDC電流
及び出力負荷の充放電電流を減らすことによって電力消
耗量を減らし得る信号発生回路を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに本発明による信号発生回路は、第1及び第2制御信
号に応答して第1出力ラインを駆動する第1ドライビン
グ手段と、前記第1制御信号の反転信号及び前記第2制
御信号の反転信号に応答して第2出力ラインを駆動する
第2ドライビング手段と、前記第1出力ラインと前記第
2出力ラインとの間に接続し、第3制御信号に応答して
第1及び第2出力ラインを等化する等化手段と、所定の
第1、第2及び第3入力信号に応答して前記第1、第2
及び第3制御信号とこれらの反転信号とを発生する制御
信号発生手段とを具備してなる。
【0012】好ましい実施例によれば、前記第1ドライ
ビング手段は、それぞれのゲートに前記第1及び第2制
御信号が接続され、電源電圧と接地電圧との間に直列に
接続されたPMOS及びNMOS駆動トランジスタを含
む。前記第2ドライビング手段は、それぞれのゲートに
前記第1制御信号の反転信号及び前記第2制御信号の反
転信号が接続され、電源電圧と接地電圧との間に直列に
接続されたPMOS及びNMOS駆動トランジスタを含
む。前記等化手段は、一端が前記第1出力ラインに接続
され他端が前記第2出力ラインに接続され、前記第3制
御信号に応じて制御されるトランスミッションゲートよ
りなる。
【0013】さらに、前記制御信号発生手段は、所定の
第1入力信号及び第2入力信号に応じてナンド動作を行
うことによって前記第1制御信号を出力する第1論理手
段と、前記第1制御信号を反転させる第1反転手段と、
所定の第3入力信号及び前記第2入力信号に応じてナン
ド動作を行うことによって前記第2制御信号を出力する
第2論理手段と、前記第2制御信号を反転させる第2反
転手段と、前記第1制御信号及び前記第3入力信号に応
じてナンド動作を行うことによって前記第3制御信号を
出力する第3論理手段と、前記第3制御信号を反転させ
る第3反転手段とを含む。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明の好ましい実施例を詳細に説明する。
【0015】図3は本発明の実施例による信号発生回路
を示す。図3を参照すれば、本発明の実施例による信号
発生回路は、第1及び第2制御信号CNT1,CNT2
に応答して第1出力ラインLANGを駆動する第1ドラ
イビング手段1と、前記第1制御信号の反転信号/CN
T1及び前記第2制御信号の反転信号/CNT2に応答
して第2出力ラインLAPGを駆動する第2ドライビン
グ手段3と、前記第1出力ラインLANG及び前記第2
出力ラインLAPGとの間に接続され、第3制御信号及
びその反転信号CNT3、/CNT3に応答して前記第
1及び第2出力ラインLANG,LAPGを等化する等
化手段5とを具備する。
【0016】ここで、前記第1ドライビング手段1は、
それぞれのゲートに前記第1及び第2制御信号CNT
1,CNT2が接続され電源電圧VCCと接地電圧VS
Sとの間に直列に接続された第1PMOS及び第1NM
OS駆動トランジスタP5,N9よりなる。前記第2ド
ラビング手段3は、それぞれのゲートに前記第1制御信
号の反転信号/CNT1及び前記第2制御信号の/反転
信号CNT2が接続され電源電圧VCCと接地電圧VS
Sとの間に直列に接続された第2PMOS及び第2NM
OS駆動トランジスタP6,N10よりなる。前記等化
手段5は、一端は前記第1出力ラインLANGに、他端
は前記第2出力ラインLAPGに接続され、前記第3制
御信号及びその反転信号CNT3,/CNT3に応じて
制御されるトランスミッションゲートTMよりなる。さ
らに、前記第1出力ラインLANGに出力される信号は
図1のN型感知増幅器3をイネーブルするためのイネー
ブル信号として用いられ、前記第2出力ラインLAPG
に出力される信号はP型感知増幅器1をイネーブルする
ためのイネーブル信号として用いられる。
【0017】図4は図3の信号発生回路の制御信号を発
生する制御信号発生手段の回路図である。
【0018】図4を参照すれば、前記制御信号発生手段
は、所定の第1入力信号PSD及び第2入力信号BLS
ijに応じてナンド動作を行うことによって前記第1制
御信号CNT1を出力する第1論理手段のナンドゲート
ND3と、前記第1制御信号CNT1を反転させる第1
反転手段I4と、所定の第3入力信号PS及び前記第2
入力信号BLSijに応じてナンド動作を行うことによ
って前記第2制御信号CNT2を出力する第2論理手段
のナンドゲートND4と、前記第2制御信号CNT2を
反転させる第2反転手段I5と、前記第1制御信号CN
T1及び前記第3入力信号PSに応じてナンド動作を行
うことによって前記第3制御信号CNT3を出力する第
3論理手段のナンドゲートND5と、前記第3制御信号
CNT3を反転させる反転手段16とを含む。
【0019】図5は図3及び図4の動作タイミング図で
あり、図5を参照して図3及び図4の詳細な動作を調べ
てみる。
【0020】まず、初期に第3入力信号PSが論理“ロ
ー”と入力され第1入力信号PSDが論理“ロー”と入
力されると、第1、第2及び第3制御信号CNT1、C
NT2、CNT3がいずれも論理“ハイ”となる。これ
によって、第1ドライビング手段1の第1PMOS駆動
トランジスタP5と第2ドライビング手段3の第2NM
OS駆動トランジスタN10がターンオフされ、第1ド
ライビング手段1の第1NMOS駆動トランジスタN9
と第2ドライビング手段3の第2PMOS駆動トランジ
スタP6がターンオンされ、等化手段のトランスミッシ
ョンゲートTMはターンオフされる。従って、初期に第
1出力ラインLANGに出力される信号は論理“ロー”
となり、第2出力ラインLAPGに出力される信号は論
理“ハイ”となる。
【0021】次いで、第2入力信号BLSijが論理
“ハイ”にイネーブルされ第3に入力信号PSが論理
“ハイ”にイネーブルされると、第2制御信号CNT2
が論理“ロー”となり、また第1制御信号CNT1は論
理“ハイ”を保ち、第3制御信号CNT3が論理“ロ
ー”となる。これによって、第1NMOS駆動トランジ
スタN9と第2PMOS駆動トランジスタP6がターン
オフされ、等化手段のトランスミッションゲートTMは
ターンオンされる。この際、第1PMOS駆動トランジ
スタP5と第2NMOS駆動トランジスタN10は、第
1制御信号CNT1が論理“ハイ”を保つので、ターン
オフされた状態を保ち続ける。即ち、前記第1PMOS
駆動トランジスタP5及び第1NMOS駆動トランジス
タN9がターンオフされる区間と、前記第2PMOS駆
動トランジスタP6及び第2NMOS駆動トランジスタ
N10がターンオフされる区間と、前記等化手段のトラ
ンスミッションゲートTMがターンオンされる区間とが
同時に存在する。
【0022】従って、初期に論理“ロー”であった第1
出力ラインLANGの信号と論理“ハイ”であった第2
出力ラインLAPGの信号が電荷共有されながら前記第
1及び第2出力ラインLANG,LAPGの信号が(1
/2)VCCに等化する。これによって、図1のビット
ライン感知増幅器1,3が初期センシングを行う。
【0023】所定時間t1の後に第1入力信号PSDが
論理“ハイ”にイネーブルされると、第1制御信号CN
T1は論理“ロー”、第3制御信号CNT3は論理“ハ
イ”となる。これによって、第1PMOS駆動トランジ
スタP5と第2NMOS駆動トランジスタN10がター
ンオンされトランスミッションゲートTMがターンオフ
される。従って、第1出力ラインLANGの信号が論理
“ハイ”、即ちVCCレベルに移動し、第2出力ライン
LAPGの信号が論理“ロー”即ち、VSSレベルに移
動する。これによって、図1のP型感知増幅器1のPM
OSドライバトランジスタP3,P4とN型感知増幅器
3のNMOSドライバトランジスタN3,N4が十分に
ターンオンされる。
【0024】その後、第1入力信号PSDが先に論理
“ロー”となれば、第3入力信号PSが論理“ロー”と
なるまでの所定の時間t2では前述したt1における動
作と同一に動作し、よって電荷共有が発生する上で第1
出力ラインLANGの信号と第2出力ラインLAPGの
信号が(1/2)VCCに等化する。
【0025】前記所定の時間t2の後に第3入力信号P
Sが論理“ロー”となれば、第1、第2及び第3制御信
号CNT1,CNT2,CNT3がいずれも論理“ハ
イ”となる。これによって、第1PMOS駆動トランジ
スタP5と第2NMOS駆動トランジスタN10がター
ンオフされ第1NMOS駆動トランジスタN9と第2P
MOS駆動トランジスタP6がターンオンされ、またト
ランスミッションゲートTMはターンオフされる。従っ
て、初期状態と同様に第1出力ラインLANGの信号は
論理“ロー”となり第2出力ラインLAPGの信号は論
理“ハイ”となることで図1のビットライン感知増幅器
1,3のセンシング動作が終わる。したがって、第3入
力信号PSと第1入力信号PSDとの時間差t1,t2
によって第1PMOS駆動トランジスタP5と第1NM
OS駆動トランジスタN9、又は第2PMOS駆動トラ
ンジスタP6と第2NMOS駆動トランジスタN10が
同時にターンオンされなく、DC電流が発生しない。
【0026】
【発明の効果】従って、本発明による信号発生回路は、
出力ドライバから発生し得るDC電流及び出力負荷の充
放電電流を減少させることによって電力消耗量が減り、
その出力信号がビットライン感知増幅器のイネーブル信
号として用いられるとビットライン感知増幅器における
センシング初期の不明なセンシングが防げる。
【0027】さらに、本発明は前記実施例に限定され
ず、本発明の技術的な思想内で当業者によって多様な変
形が可能なのは明白である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 DRAMにおいてビットライン感知増幅器を
含む一般のデータセンシング回路の回路図である。
【図2】 従来のビットライン感知増幅器イネーブル信
号の発生回路の回路図である。
【図3】 本発明の実施例によるビットライン感知増幅
器イネーブル信号の発生回路の回路図である。
【図4】 図3の信号発生回路の制御信号発生手段の回
路図である。
【図5】 図3及び図4の動作タイミング図である。
【符号の説明】
1 P型感知増幅器、3 N型感知増幅器、5,7 メ
モリセルアレー

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1及び第2制御信号に応答して第1出
    力ラインを駆動する第1ドライビング手段と、 前記第1制御信号の反転信号及び前記第2制御信号の反
    転信号に応答して第2出力ラインを駆動する第2ドライ
    ビング手段と、 前記第1出力ラインと前記第2出力ラインとの間に接続
    し、第3制御信号に応答して前記第1及び第2出力ライ
    ンを等化させる等化手段と、 所定の第1、第2及び第3入力信号に応答して前記第
    1、第2及び第3制御信号とこれらの反転信号とを発生
    する制御信号発生手段とを具備することを特徴とする半
    導体装置の信号発生回路。
  2. 【請求項2】 前記第1ドライビング手段は、それぞれ
    のゲートに前記第1及び第2制御信号が接続され電源電
    圧と接地電圧との間に直列に接続されたPMOS及びN
    MOS駆動トランジスタを含むことを特徴とする請求項
    1に記載の半導体装置の信号発生回路。
  3. 【請求項3】 前記第2ドライビング手段は、それぞれ
    のゲートに前記第1制御信号の反転信号及び前記第2制
    御信号の反転信号が接続され電源電圧と接地電圧との間
    に直列に接続されたPMOS及びNMOS駆動トランジ
    スタを含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体装
    置の信号発生回路。
  4. 【請求項4】 前記等化手段は、一端が前記第1出力ラ
    インに接続され他端が前記第2出力ラインに接続され、
    前記第3制御信号に応じて制御されるトランスミッショ
    ンゲートよりなることを特徴とする請求項1に記載の半
    導体装置の信号発生回路。
  5. 【請求項5】 前記制御信号発生手段は、所定の第1入
    力信号及び第2入力信号に応じてナンド動作を行うこと
    によって前記第1制御信号を出力する第1論理手段と、
    前記第1制御信号を反転させる第1反転手段と、所定の
    第3入力信号及び前記第2入力信号に応じてナンド動作
    を行うことによって前記第2制御信号を出力する第2論
    理手段と、前記第2制御信号を反転させる第2反転手段
    と、前記第1制御信号及び前記第3入力信号に応じてナ
    ンド動作を行うことによって前記第3制御信号を出力す
    る第3論理手段と、前記第3制御信号を反転させる第3
    反転手段とを含むことを特徴とする請求項1に記載の半
    導体装置の信号発生回路。
  6. 【請求項6】 前記第1入力信号は前記第3入力信号が
    論理“ハイ”にイネーブルされてから所定の時間の後に
    論理“ハイ”にイネーブルされ、前記第3入力信号が論
    理“ロー”にディスエーブルされる前の所定時間の前に
    論理“ロー”にディスエーブルされるように入力される
    ことを特徴とする請求項5に記載の半導体装置の信号発
    生回路。
  7. 【請求項7】 第1出力ラインを駆動するために電源電
    圧と接地電圧との間に直列に連結され、接続点に前記第
    1出力ラインが連結される第1PMOS駆動トランジス
    タ及び第1NMOS駆動トランジスタと、 第2出力ラインを駆動するために電源電圧と接地電圧と
    の間に直列に連結され、接続点に前記第2出力ラインが
    連結される第2PMOS駆動トランジスタ及び第2NM
    OS駆動トランジスタと、 前記第1出力ライン及び第2出力ラインを等化するため
    に前記第1出力ラインと第2出力ラインとの間に接続さ
    れる等化手段とを具備し、 前記第1PMOS駆動トランジスタ及び第1NMOS駆
    動トランジスタがターンオフされる区間と、前記第2P
    MOS駆動トランジスタ及び第2NMOS駆動トランジ
    スタがターンオフされる区間と、前記等化手段がターン
    オンされる区間とが同時に存在することを特徴とする半
    導体装置の信号発生回路。
JP9166344A 1996-08-30 1997-06-23 半導体装置の信号発生回路 Pending JPH1092178A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960037221A KR100207497B1 (ko) 1996-08-30 1996-08-30 반도체장치의 신호 발생회로
KR1996-P-037221 1996-08-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1092178A true JPH1092178A (ja) 1998-04-10

Family

ID=19471995

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9166344A Pending JPH1092178A (ja) 1996-08-30 1997-06-23 半導体装置の信号発生回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5770957A (ja)
JP (1) JPH1092178A (ja)
KR (1) KR100207497B1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100240883B1 (ko) * 1997-02-06 2000-01-15 윤종용 Cmos sram 장치
KR100763071B1 (ko) * 2001-06-26 2007-10-04 주식회사 하이닉스반도체 펄스 발생 회로
JP2007124084A (ja) * 2005-10-26 2007-05-17 Sanyo Electric Co Ltd 3値パルス発生回路

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4003035A (en) * 1975-07-03 1977-01-11 Motorola, Inc. Complementary field effect transistor sense amplifier for one transistor per bit ram cell
KR950010567B1 (ko) * 1992-10-30 1995-09-19 삼성전자주식회사 반도체장치의 출력단회로
JPH0757466A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Toshiba Corp 半導体集積回路
JP2630289B2 (ja) * 1995-01-23 1997-07-16 日本電気株式会社 センス増幅器
US5506524A (en) * 1995-03-01 1996-04-09 Lin; Jyhfong Low-voltage low-power dynamic folded sense amplifier
KR0177776B1 (ko) * 1995-08-23 1999-04-15 김광호 고집적 반도체 메모리 장치의 데이타 센싱회로
US5646905A (en) * 1996-04-30 1997-07-08 Sun Microsystems, Inc. Self-clocking sense amplifier optimized for input signals close to VDD

Also Published As

Publication number Publication date
KR100207497B1 (ko) 1999-07-15
KR19980017441A (ko) 1998-06-05
US5770957A (en) 1998-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3903674B2 (ja) 半導体メモリ装置
JP3825188B2 (ja) 半導体装置及びプリチャージ方法
US7158430B2 (en) Bit line sense amplifier control circuit
JPH07182860A (ja) 半導体メモリ装置のワード線駆動回路
US7161860B2 (en) Local input/output line precharge circuit of semiconductor memory device
JP3778381B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPH1166858A (ja) 半導体記憶装置
US6320806B1 (en) Input/output line precharge circuit and semiconductor memory device adopting the same
JP2003151276A (ja) データラインが安定したプリチャ−ジ電圧を有する半導体メモリ装置
KR100318321B1 (ko) 반도체 메모리의 비트 라인 균등화 신호 제어회로
KR20190133461A (ko) 센싱 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치
KR100195633B1 (ko) 출력하한값에 대한 리미트기능을 갖는 증폭회로 및 상보형 증폭 회로
JPH09106680A (ja) 半導体メモリ装置
EP1045396B1 (en) Semiconductor memory device
JPH1092178A (ja) 半導体装置の信号発生回路
JPH11260064A (ja) センスアンプ
JP2001052480A (ja) 半導体メモリ装置
JPH113588A (ja) 半導体記憶装置
JP2001319476A (ja) 半導体メモリ
KR100338336B1 (ko) 반도체 기억 장치 및 그 제어 방법
KR100203142B1 (ko) 디램
KR100363040B1 (ko) 저소비 전력을 가지는 반도체 기억 장치
US6252431B1 (en) Shared PMOS sense amplifier
KR100291747B1 (ko) 프리차지 등화 회로
KR100192570B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 비트라인 프리차아지 회로

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051020

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051028

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060127

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060721