JPH1056055A - 堆積リングの回り止め装置 - Google Patents
堆積リングの回り止め装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板支持体に対して堆積リングの回転を制限
する装置を提供すること。 【解決手段】 堆積リング102が基板支持体100に
回転可能に取付けられている。本装置の第1実施形態で
は、回り止めピン114が、静電チャック等の基板支持
体100を取り囲む堆積リング102に取付けられる。
回り止めブラケット118が一端部120で基板支持体
100に取付けられる。他端部122は回り止めピン1
14に取付けられる。このように、堆積リング102
は、堆積リング102と基板支持体100の熱膨張にな
じむため多少の自由度を持っているが、回り止めピン1
14とブラケット118の相互作用により、堆積リング
102が基板支持体100に固着する点までは回転しな
いようになる。
する装置を提供すること。 【解決手段】 堆積リング102が基板支持体100に
回転可能に取付けられている。本装置の第1実施形態で
は、回り止めピン114が、静電チャック等の基板支持
体100を取り囲む堆積リング102に取付けられる。
回り止めブラケット118が一端部120で基板支持体
100に取付けられる。他端部122は回り止めピン1
14に取付けられる。このように、堆積リング102
は、堆積リング102と基板支持体100の熱膨張にな
じむため多少の自由度を持っているが、回り止めピン1
14とブラケット118の相互作用により、堆積リング
102が基板支持体100に固着する点までは回転しな
いようになる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェハ処理
装置において用いられる堆積リングに関する。より詳細
に述べると、本発明は、堆積リングに取り囲まれる(ci
rcumscribed)基板支持チャックに対する堆積リングの
回転を制限するための装置に関する。
装置において用いられる堆積リングに関する。より詳細
に述べると、本発明は、堆積リングに取り囲まれる(ci
rcumscribed)基板支持チャックに対する堆積リングの
回転を制限するための装置に関する。
【0002】
【従来の技術】堆積処理においては、ターゲット、ガス
流入マニホールド及びそれに類するものとようなソース
からの核種(species)が、チャンバの壁やハードウェア
等、チャンバの露出した内面に堆積することがある。そ
のような核種を遮断するように設計されたシールドが利
用可能である。そのようなシールドの一部は堆積リング
(ウェイストリング(waste ring)としても知られてい
る)であり、静電チャックのような基板支持体をほぼ取
り囲み、基板支持体の縁への堆積を防ぐように設計され
ている。基板支持体には、半径方向に延びた周フランジ
が含まれ、半導体ウェハ等の加工物を支持するように設
計された基板支持面の縁部に近接した堆積リングを支持
していることが典型的である。
流入マニホールド及びそれに類するものとようなソース
からの核種(species)が、チャンバの壁やハードウェア
等、チャンバの露出した内面に堆積することがある。そ
のような核種を遮断するように設計されたシールドが利
用可能である。そのようなシールドの一部は堆積リング
(ウェイストリング(waste ring)としても知られてい
る)であり、静電チャックのような基板支持体をほぼ取
り囲み、基板支持体の縁への堆積を防ぐように設計され
ている。基板支持体には、半径方向に延びた周フランジ
が含まれ、半導体ウェハ等の加工物を支持するように設
計された基板支持面の縁部に近接した堆積リングを支持
していることが典型的である。
【0003】典型的には、基板支持体は、平面からの形
状では(in plan form)全体としてほぼ円形であるが、
縁部の一カ所が平ら(flat)である。このような平らな縁
部と円形は、典型的な半導体ウェハの形状に一致する。
そのような平らな縁部は処理中のウェハの方向合わせを
容易に行うために用いられる。堆積リングが基板支持体
を取り囲むことができるように、堆積リングもまた、そ
の内周部に平らな部分を含み、堆積リングの形状寸法が
実質的に基板支持体の平面図形状に一致するようになっ
ている。
状では(in plan form)全体としてほぼ円形であるが、
縁部の一カ所が平ら(flat)である。このような平らな縁
部と円形は、典型的な半導体ウェハの形状に一致する。
そのような平らな縁部は処理中のウェハの方向合わせを
容易に行うために用いられる。堆積リングが基板支持体
を取り囲むことができるように、堆積リングもまた、そ
の内周部に平らな部分を含み、堆積リングの形状寸法が
実質的に基板支持体の平面図形状に一致するようになっ
ている。
【0004】堆積リングの内周部は、チャックの外周よ
りわずかに大きい。そのような寸法差は、リング(典型
的にはステンレス鋼製)と基板支持体(典型的にはセラ
ミック製又は誘電体製)を構成する種々の材料が、半導
体ウェハ処理装置内で発生する極端な温度に応じて、自
由に膨張収縮できるようにするために必要である。
りわずかに大きい。そのような寸法差は、リング(典型
的にはステンレス鋼製)と基板支持体(典型的にはセラ
ミック製又は誘電体製)を構成する種々の材料が、半導
体ウェハ処理装置内で発生する極端な温度に応じて、自
由に膨張収縮できるようにするために必要である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】堆積リングは熱サイク
ル中、基板支持体の周りを滑る。すなわち、堆積リング
は基板支持体の周りを回転する。典型的には、この回転
は、室温において0.35度〜1.5度である。しかし
ながら、400℃では3度を超すことがある。結果とし
て、堆積リング内周部の平らな部分が、基板支持体の平
らな縁部と円形縁部の交点において、基板支持体の縁部
に接触する。処理装置内の温度が下がるにつれて、堆積
リングは、基板支持体の収縮速度より速い収縮速度で収
縮する。堆積リングが過度に回転した位置にあるときに
温度が下がると、リングには、リングと支持体との周上
接点において、かなり大きな内側に向いた力(圧縮力)
が発生する。結果として、リングは「固着状態」にな
り、基板支持体から容易に取外しができない。そのよう
な圧縮力は、基板支持体に永久的損傷を与える。
ル中、基板支持体の周りを滑る。すなわち、堆積リング
は基板支持体の周りを回転する。典型的には、この回転
は、室温において0.35度〜1.5度である。しかし
ながら、400℃では3度を超すことがある。結果とし
て、堆積リング内周部の平らな部分が、基板支持体の平
らな縁部と円形縁部の交点において、基板支持体の縁部
に接触する。処理装置内の温度が下がるにつれて、堆積
リングは、基板支持体の収縮速度より速い収縮速度で収
縮する。堆積リングが過度に回転した位置にあるときに
温度が下がると、リングには、リングと支持体との周上
接点において、かなり大きな内側に向いた力(圧縮力)
が発生する。結果として、リングは「固着状態」にな
り、基板支持体から容易に取外しができない。そのよう
な圧縮力は、基板支持体に永久的損傷を与える。
【0006】従って、リングにより取り囲まれる基板支
持体に対して堆積リングの回転を制限する装置が、この
技術分野において必要である。
持体に対して堆積リングの回転を制限する装置が、この
技術分野において必要である。
【0007】
【課題を解決するための手段】従来の技術に関する不具
合は、基板支持体に対する堆積リングの回転を制限する
ための装置によってされる。詳細に述べると、堆積リン
グが基板支持体に回転可能に取付けられている。
合は、基板支持体に対する堆積リングの回転を制限する
ための装置によってされる。詳細に述べると、堆積リン
グが基板支持体に回転可能に取付けられている。
【0008】本発明の第1実施形態においては、静電チ
ャックのような基板支持体を取り囲む堆積リングに、回
り止めピンが取付けられている。回り止めブラケット
が、基板支持体の一端部に取付けられており、他端部は
回り止めピンに結合されている。このようにして、堆積
リングは、堆積リングと基板支持体の熱膨張になじむよ
うに、ある程度の自由度をもっているが、回り止めピン
と回り止めブラケットの相互作用によって、堆積リング
が基板支持体に固着する点まで回動することを堆積リン
グが防止する。
ャックのような基板支持体を取り囲む堆積リングに、回
り止めピンが取付けられている。回り止めブラケット
が、基板支持体の一端部に取付けられており、他端部は
回り止めピンに結合されている。このようにして、堆積
リングは、堆積リングと基板支持体の熱膨張になじむよ
うに、ある程度の自由度をもっているが、回り止めピン
と回り止めブラケットの相互作用によって、堆積リング
が基板支持体に固着する点まで回動することを堆積リン
グが防止する。
【0009】本発明の他の実施形態においては、回り止
めピン又は突起部が、堆積リングの下面に形成されてい
る。これに適合する凹部が、基板支持体から半径方向へ
延び、堆積リングを支持する周フランジ上に形成されて
いる。ピン及び凹部が協働して堆積リングにより得られ
ることのできる回転量を制限する。しかし、前述の実施
形態と同様に、リングと基板支持体は、半導体ウェハ処
理装置の熱サイクルに伴って、自由に膨張・収縮するこ
とができる。
めピン又は突起部が、堆積リングの下面に形成されてい
る。これに適合する凹部が、基板支持体から半径方向へ
延び、堆積リングを支持する周フランジ上に形成されて
いる。ピン及び凹部が協働して堆積リングにより得られ
ることのできる回転量を制限する。しかし、前述の実施
形態と同様に、リングと基板支持体は、半導体ウェハ処
理装置の熱サイクルに伴って、自由に膨張・収縮するこ
とができる。
【0010】本発明のいずれかの実施形態を用いること
により、堆積リングとチャックとの間の回転は、高温に
おいても実質的に制限される。このようにして、堆積リ
ングが基板支持体に固着することはあり得ない。
により、堆積リングとチャックとの間の回転は、高温に
おいても実質的に制限される。このようにして、堆積リ
ングが基板支持体に固着することはあり得ない。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の教示内容は、添付図面に
と共に以下の詳細な説明を考慮すれば容易に理解される
であろう。
と共に以下の詳細な説明を考慮すれば容易に理解される
であろう。
【0012】なお、理解を容易にするため、できれば、
同一の参照符号を用いて各図に共通な同一要素を示すこ
ととする。
同一の参照符号を用いて各図に共通な同一要素を示すこ
ととする。
【0013】図1は、(ウェイストリングとしても知ら
れている)堆積リング102で取り囲まれた基板支持体
100の平面図であって、支持体100に対する堆積リ
ング102の回転を制限するための装置50が備えられ
ている。図2は、図1の装置の2−2線に沿う縦断面図
である。本発明を最もよく理解するため、読者は図1と
図2の両方を参照されたい。
れている)堆積リング102で取り囲まれた基板支持体
100の平面図であって、支持体100に対する堆積リ
ング102の回転を制限するための装置50が備えられ
ている。図2は、図1の装置の2−2線に沿う縦断面図
である。本発明を最もよく理解するため、読者は図1と
図2の両方を参照されたい。
【0014】詳細に述べると、支持体100は実質的に
円形であるが、平らな部分104を備えている。リング
と支持体との位置合わせを達成させるため、堆積リング
102にも同様の平らな部分106が備えられている。
基板支持体は、加工物すなわち基板を基板支持体表面上
に保持するための静電チャック(詳細に図示せず)のよ
うなチャック装置108上に支持されることが基本的で
ある。基板処理用途によっては、チャック装置が、基板
支持体加熱アセンブリ(図示せず)も備えてもよい。
円形であるが、平らな部分104を備えている。リング
と支持体との位置合わせを達成させるため、堆積リング
102にも同様の平らな部分106が備えられている。
基板支持体は、加工物すなわち基板を基板支持体表面上
に保持するための静電チャック(詳細に図示せず)のよ
うなチャック装置108上に支持されることが基本的で
ある。基板処理用途によっては、チャック装置が、基板
支持体加熱アセンブリ(図示せず)も備えてもよい。
【0015】支持体100は、支持体全体を囲んで支持
体から半径方向へ延びるフランジ110を備えている。
このフランジ110は堆積リング102の下面112を
支持する。この下面には、回り止めピン114が取付け
られている。このピン114は、リングの下面にあるね
じ孔116と、ピン114の一端部上にある適合ねじと
によって取付けられている。ピンは、リング118から
約2.54cm(1インチ)延びている。ピンの取付け
位置は本発明にとって重要ではない。ピンの特定の取付
け位置については設計上の選択があり、本発明を用いる
基板支持装置と装置のジオメトリによって決まる。重要
なことは、基板搬送ロボットアセンブリが基板支持体へ
接近することを妨げる位置に、ピンが配置されないこと
である。
体から半径方向へ延びるフランジ110を備えている。
このフランジ110は堆積リング102の下面112を
支持する。この下面には、回り止めピン114が取付け
られている。このピン114は、リングの下面にあるね
じ孔116と、ピン114の一端部上にある適合ねじと
によって取付けられている。ピンは、リング118から
約2.54cm(1インチ)延びている。ピンの取付け
位置は本発明にとって重要ではない。ピンの特定の取付
け位置については設計上の選択があり、本発明を用いる
基板支持装置と装置のジオメトリによって決まる。重要
なことは、基板搬送ロボットアセンブリが基板支持体へ
接近することを妨げる位置に、ピンが配置されないこと
である。
【0016】更に、支持体に対するリングの回転を制限
するための装置50には、回り止めブラケット118が
備えられている。このブラケット118には、支持体1
00に取付けられた一端部120と、回り止めピン11
4の他端部124に結合された他端部122とがある。
ブラケット118の一端部120には、一対の取り付け
部132,134が備えられ、相互接続部分136によ
って相互接続されている。このブラケットは、例えば、
支持台130の両側に2本ずつ合計4本のねじ128に
よって、支持体100に取付けられている。これらねじ
は、取り付け部132,134内のそれぞれの溝部13
8,140を貫通している。
するための装置50には、回り止めブラケット118が
備えられている。このブラケット118には、支持体1
00に取付けられた一端部120と、回り止めピン11
4の他端部124に結合された他端部122とがある。
ブラケット118の一端部120には、一対の取り付け
部132,134が備えられ、相互接続部分136によ
って相互接続されている。このブラケットは、例えば、
支持台130の両側に2本ずつ合計4本のねじ128に
よって、支持体100に取付けられている。これらねじ
は、取り付け部132,134内のそれぞれの溝部13
8,140を貫通している。
【0017】更に、ブラケット118には接続部分14
4があり、ブラケットの一端部120を他端部122に
接続している。ブラケットの断面は実質的にS字形であ
り、接続部分の頂部から延びた他端部122と接続部分
の底部から延びた一端部120とを有している。ブラケ
ットの特定の形状は、基板支持アセンブリの詳細な設計
によって画成される。例えば、基板リフトピンを案内す
るためのリフトフープ(lift hoop)が設けられている場
合には、ブラケットの形状がフープを避けるようにしな
ければならない。従って、図示されるブラケットの特定
のジオメトリは、ブラケットの設計を例示するものであ
ると考えるべきであり、本発明の特定の制限と考えるべ
きではない。多くの他のブラケットのジオメトリが利用
可能であり、それらはすべて、本発明の範囲内にあると
考えられる。
4があり、ブラケットの一端部120を他端部122に
接続している。ブラケットの断面は実質的にS字形であ
り、接続部分の頂部から延びた他端部122と接続部分
の底部から延びた一端部120とを有している。ブラケ
ットの特定の形状は、基板支持アセンブリの詳細な設計
によって画成される。例えば、基板リフトピンを案内す
るためのリフトフープ(lift hoop)が設けられている場
合には、ブラケットの形状がフープを避けるようにしな
ければならない。従って、図示されるブラケットの特定
のジオメトリは、ブラケットの設計を例示するものであ
ると考えるべきであり、本発明の特定の制限と考えるべ
きではない。多くの他のブラケットのジオメトリが利用
可能であり、それらはすべて、本発明の範囲内にあると
考えられる。
【0018】他端部122の末端部142は、回り止め
ピン114の他端部124と結合するように適合されて
いる。このような適合部は、ピンの直径(例えば約0.
19インチ)に嵌合(interfit)するブラケット118
に合わせて、Y字形端部又は二又端部(forked end)にな
っている。或いは、ブラケット端部142には溝部が含
まれ回転可能にピンと結合することができる。
ピン114の他端部124と結合するように適合されて
いる。このような適合部は、ピンの直径(例えば約0.
19インチ)に嵌合(interfit)するブラケット118
に合わせて、Y字形端部又は二又端部(forked end)にな
っている。或いは、ブラケット端部142には溝部が含
まれ回転可能にピンと結合することができる。
【0019】本発明の本実施形態では、支持基板に対す
る堆積リングの回転を実質的に制限するための効果的な
回り止め装置が提供される。回り止めブラケットとピン
とが組合わされて、堆積リングの一点を基板支持体に対
して回転可能に取付ける。このような配置構成は、リン
グの回転を効果的に制限するが、装置の熱サイクル中、
リング及び支持体の膨張や収縮を実質的に妨げない。
る堆積リングの回転を実質的に制限するための効果的な
回り止め装置が提供される。回り止めブラケットとピン
とが組合わされて、堆積リングの一点を基板支持体に対
して回転可能に取付ける。このような配置構成は、リン
グの回転を効果的に制限するが、装置の熱サイクル中、
リング及び支持体の膨張や収縮を実質的に妨げない。
【0020】図3は、本発明の他の実施形態の縦断面図
である。本実施形態においては、堆積リング304の下
面302にピン又は突起部300が形成されている。半
径方向へ延びる、基板支持体308の周フランジ306
は、例えば半径方向を向いた溝のような凹部310を備
えている。この溝部がピン300に結合するように、溝
部の寸法及び位置が決められている。このように、ピン
及び溝部の組合せにより、堆積リング304と支持体3
08の間に、回転可能取付け点が形成される。或いは、
溝部を堆積リングの下面に設け、ピンをフランジに設け
ることができる。さらに、本発明の本実施形態では、す
なわち、リングと支持体に設けられたピンと溝部が結合
し、又は、それらが逆になって結合し、支持体に対する
リングの回転の程度が制限されているが、リング及び支
持体の熱膨張や収縮に実質的に干渉しない。
である。本実施形態においては、堆積リング304の下
面302にピン又は突起部300が形成されている。半
径方向へ延びる、基板支持体308の周フランジ306
は、例えば半径方向を向いた溝のような凹部310を備
えている。この溝部がピン300に結合するように、溝
部の寸法及び位置が決められている。このように、ピン
及び溝部の組合せにより、堆積リング304と支持体3
08の間に、回転可能取付け点が形成される。或いは、
溝部を堆積リングの下面に設け、ピンをフランジに設け
ることができる。さらに、本発明の本実施形態では、す
なわち、リングと支持体に設けられたピンと溝部が結合
し、又は、それらが逆になって結合し、支持体に対する
リングの回転の程度が制限されているが、リング及び支
持体の熱膨張や収縮に実質的に干渉しない。
【0021】もちろん、支持体内の溝部又はブラケット
と結合される回り止めピンの数を増やすことができる。
従って、本発明は、1以上の回り止めピンと結合される
同程度の数のブラケット又は溝部が含まれているものと
理解されるべきである。
と結合される回り止めピンの数を増やすことができる。
従って、本発明は、1以上の回り止めピンと結合される
同程度の数のブラケット又は溝部が含まれているものと
理解されるべきである。
【0022】更に、本発明は、平たい部分を持たない基
板支持体及び堆積リングとの使用に対しても有用であ
る。そのようなリングと支持体を、図1に破線150で
示す。この態様では、回り止め装置50は、支持体に対
する堆積リングの回転を制限し、その結果、基板整列ピ
ン152が熱サイクル中に比較的静止状態にあるが、基
板整列ピン152がなければ、熱サイクル中にリングの
回転が生じるであろう。
板支持体及び堆積リングとの使用に対しても有用であ
る。そのようなリングと支持体を、図1に破線150で
示す。この態様では、回り止め装置50は、支持体に対
する堆積リングの回転を制限し、その結果、基板整列ピ
ン152が熱サイクル中に比較的静止状態にあるが、基
板整列ピン152がなければ、熱サイクル中にリングの
回転が生じるであろう。
【0023】回り止め装置50用のピンとブラケットの
実施形態、又はピンと溝部の実施形態においては、支持
体からの堆積リングを容易に取り外すことができ、すな
わち、リングはボルトやねじで支持体に固定されていな
いが、支持体へリングを取付けるための他の手段が有用
になっている。例えば、フランジ内のねじ孔とこれに適
合する孔とを用い、ねじやボルトリングを介して支持体
に取付けることができる。熱サイクル中の運動が自由に
なることを確保するため、リング内の孔の直径を取付け
ねじの直径より大きくするか、孔部が溝部になっていて
もよい。
実施形態、又はピンと溝部の実施形態においては、支持
体からの堆積リングを容易に取り外すことができ、すな
わち、リングはボルトやねじで支持体に固定されていな
いが、支持体へリングを取付けるための他の手段が有用
になっている。例えば、フランジ内のねじ孔とこれに適
合する孔とを用い、ねじやボルトリングを介して支持体
に取付けることができる。熱サイクル中の運動が自由に
なることを確保するため、リング内の孔の直径を取付け
ねじの直径より大きくするか、孔部が溝部になっていて
もよい。
【0024】以上、本明細書において、本発明の教示を
取り入れた種々の実施形態を詳細に示し且つ説明した
が、当業者は同じくこれら教示内容を取り入れた多くの
他の変形実施形態を容易に発明することができる。
取り入れた種々の実施形態を詳細に示し且つ説明した
が、当業者は同じくこれら教示内容を取り入れた多くの
他の変形実施形態を容易に発明することができる。
【図1】基板支持体に対する堆積リングの回転を制限す
るための装置の平面図である。
るための装置の平面図である。
【図2】図2は、図1の装置の2−2線に沿った縦断面
図である。
図である。
【図3】図3は、本発明の他の実施形態の縦断面図であ
る。
る。
50…装置、100…支持体、102…リング、10
4,106…平らな部分、108…チャック装置、11
0…フランジ、112…下面、114…ピン、116…
孔、118…ブラケット、120…一端部、122,1
24…他端部、128…ねじ、130…支持台、13
2,134…取り付け部分、136…相互接続部分、1
38,140…溝部、142…末端部、144…接続部
分、150…波線、152…基板整列ピン、300…ピ
ン、302…下面、304…堆積リング、306…フラ
ンジ、308…基板支持体、310…凹部。
4,106…平らな部分、108…チャック装置、11
0…フランジ、112…下面、114…ピン、116…
孔、118…ブラケット、120…一端部、122,1
24…他端部、128…ねじ、130…支持台、13
2,134…取り付け部分、136…相互接続部分、1
38,140…溝部、142…末端部、144…接続部
分、150…波線、152…基板整列ピン、300…ピ
ン、302…下面、304…堆積リング、306…フラ
ンジ、308…基板支持体、310…凹部。
Claims (12)
- 【請求項1】 堆積リングによって取り囲まれる基板支
持体に対して、前記堆積リングの回転を制限するための
装置であって、 前記堆積リングに取付けられたピンと、 前記基板支持体に取付けられ、且つ、前記結合点提供手
段に結合されたブラケットと、を備えることを特徴とす
る装置。 - 【請求項2】 前記ブラケットが、一端部で前記基板支
持体に取付けられ、且つ、他端部には、前記結合点提供
手段と嵌合する二又部分を有することを特徴とする請求
項1に記載の装置。 - 【請求項3】 堆積リングによって取り囲まれる基板支
持体に対して、前記堆積リングの回転を制限する装置で
あって、 前記堆積リングに取付けられたピンと、 前記基板支持体内に形成され、前記ピンと結合する凹部
と、を備えることを特徴とする装置。 - 【請求項4】 前記凹部が溝部であることを特徴とする
請求項3に記載の装置。 - 【請求項5】 前記溝部が径方向に向いた溝部であり、 前記堆積リングを支持する前記基板支持体の、径方向に
延びる周フランジ上に設けられていることを特徴とする
請求項4に記載の装置。 - 【請求項6】 堆積リングによって取り囲まれる基板支
持体に対して、前記堆積リングの回転を制限する装置で
あって、 前記堆積リングに取付けられ、前記堆積リングに結合点
を提供するための手段と、 前記基板支持体に取付けられると共に前記結合点提供手
段に結合され、前記堆積リング上の一点を前記基板支持
体に回転可能に取り付けるための手段と、を備えること
を特徴とする装置。 - 【請求項7】 前記結合点提供手段がピンであることを
特徴とする請求項6に記載の装置。 - 【請求項8】 前記回転可能に取付けるための手段が、
前記基板支持体に取付けられるとともに前記結合点提供
手段に結合されたブラケットを備えることを特徴とする
請求項6に記載の装置。 - 【請求項9】 前記ブラケットが、一端部において前記
基板支持体に取付けられ、他端部においては、前記結合
点提供手段と嵌合する二又部分を有していることを特徴
とする請求項8に記載の装置。 - 【請求項10】 前記回転可能に取付けるための手段
が、前記基板支持体内に形成され、前記ピンに結合され
る凹部を備えることを特徴とする請求項7に記載の装
置。 - 【請求項11】 前記凹部が溝部であることを特徴とす
る請求項10に記載の装置。 - 【請求項12】 前記溝部が径方向に向いた溝部であ
り、 前記堆積リングを支持する前記基板支持体の、径方向に
延びる周フランジ上に設けられていることを特徴とする
請求項10に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/639,839 US5863340A (en) | 1996-05-08 | 1996-05-08 | Deposition ring anti-rotation apparatus |
US08/639839 | 1996-05-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1056055A true JPH1056055A (ja) | 1998-02-24 |
Family
ID=24565767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9118098A Withdrawn JPH1056055A (ja) | 1996-05-08 | 1997-05-08 | 堆積リングの回り止め装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5863340A (ja) |
EP (1) | EP0807960A1 (ja) |
JP (1) | JPH1056055A (ja) |
KR (1) | KR970077093A (ja) |
TW (1) | TW366550B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001274104A (ja) * | 1999-12-10 | 2001-10-05 | Applied Materials Inc | 自己整列の非接触シャドーリング処理キット |
JP2007321244A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Applied Materials Inc | 基板処理チャンバのためのリングアセンブリ |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001525997A (ja) * | 1997-05-20 | 2001-12-11 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
US5942042A (en) * | 1997-05-23 | 1999-08-24 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for improved power coupling through a workpiece in a semiconductor wafer processing system |
DE59812627D1 (de) * | 1997-12-23 | 2005-04-07 | Unaxis Balzers Ag | Haltevorrichtung |
TW461923B (en) * | 1998-02-17 | 2001-11-01 | Sharp Kk | Movable sputtering film forming apparatus |
US6375748B1 (en) * | 1999-09-01 | 2002-04-23 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for preventing edge deposition |
US6650135B1 (en) | 2000-06-29 | 2003-11-18 | Motorola, Inc. | Measurement chuck having piezoelectric elements and method |
US6313567B1 (en) | 2000-04-10 | 2001-11-06 | Motorola, Inc. | Lithography chuck having piezoelectric elements, and method |
US6733829B2 (en) * | 2002-03-19 | 2004-05-11 | Lsi Logic Corporation | Anti-binding deposition ring |
US20040083976A1 (en) * | 2002-09-25 | 2004-05-06 | Silterra Malaysia Sdn. Bhd. | Modified deposition ring to eliminate backside and wafer edge coating |
US7097744B2 (en) * | 2003-06-12 | 2006-08-29 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for controlling darkspace gap in a chamber |
KR100829923B1 (ko) * | 2006-08-30 | 2008-05-16 | 세메스 주식회사 | 스핀헤드 및 이를 이용하는 기판처리방법 |
US9421617B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-08-23 | Tel Nexx, Inc. | Substrate holder |
US9117856B2 (en) | 2011-07-06 | 2015-08-25 | Tel Nexx, Inc. | Substrate loader and unloader having an air bearing support |
CN104576492B (zh) * | 2013-10-24 | 2017-11-07 | 无锡华润上华科技有限公司 | 工夹具 |
CN104810317B (zh) * | 2014-01-23 | 2017-10-27 | 无锡华润上华科技有限公司 | 晶圆深槽腐蚀方法 |
CN105931981A (zh) * | 2016-06-22 | 2016-09-07 | 陈铭鸿 | 一种工夹具 |
USD888903S1 (en) | 2018-12-17 | 2020-06-30 | Applied Materials, Inc. | Deposition ring for physical vapor deposition chamber |
US11961723B2 (en) | 2018-12-17 | 2024-04-16 | Applied Materials, Inc. | Process kit having tall deposition ring for PVD chamber |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4189230A (en) * | 1977-10-26 | 1980-02-19 | Fujitsu Limited | Wafer holder with spring-loaded wafer-holding means |
US4724621A (en) * | 1986-04-17 | 1988-02-16 | Varian Associates, Inc. | Wafer processing chuck using slanted clamping pins |
US4788994A (en) * | 1986-08-13 | 1988-12-06 | Dainippon Screen Mfg. Co. | Wafer holding mechanism |
US5228501A (en) * | 1986-12-19 | 1993-07-20 | Applied Materials, Inc. | Physical vapor deposition clamping mechanism and heater/cooler |
US5040484A (en) * | 1987-05-04 | 1991-08-20 | Varian Associates, Inc. | Apparatus for retaining wafers |
US4817556A (en) * | 1987-05-04 | 1989-04-04 | Varian Associates, Inc. | Apparatus for retaining wafers |
JPH02268427A (ja) * | 1989-04-11 | 1990-11-02 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置 |
US5620525A (en) * | 1990-07-16 | 1997-04-15 | Novellus Systems, Inc. | Apparatus for supporting a substrate and introducing gas flow doximate to an edge of the substrate |
US5238499A (en) * | 1990-07-16 | 1993-08-24 | Novellus Systems, Inc. | Gas-based substrate protection during processing |
US5304248A (en) * | 1990-12-05 | 1994-04-19 | Applied Materials, Inc. | Passive shield for CVD wafer processing which provides frontside edge exclusion and prevents backside depositions |
CH684602A5 (de) * | 1991-11-06 | 1994-10-31 | Balzers Hochvakuum | Halterahmen zum Festhalten von einem scheibenartigen Substrat. |
US5643366A (en) * | 1994-01-31 | 1997-07-01 | Applied Materials, Inc. | Wafer handling within a vacuum chamber using vacuum |
JP3553204B2 (ja) * | 1995-04-28 | 2004-08-11 | アネルバ株式会社 | Cvd装置 |
US5632873A (en) * | 1995-05-22 | 1997-05-27 | Stevens; Joseph J. | Two piece anti-stick clamp ring |
US5584936A (en) * | 1995-12-14 | 1996-12-17 | Cvd, Incorporated | Susceptor for semiconductor wafer processing |
-
1996
- 1996-05-08 US US08/639,839 patent/US5863340A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-15 TW TW085105763A patent/TW366550B/zh active
-
1997
- 1997-04-28 EP EP97106999A patent/EP0807960A1/en not_active Withdrawn
- 1997-05-07 KR KR1019970017370A patent/KR970077093A/ko not_active Application Discontinuation
- 1997-05-08 JP JP9118098A patent/JPH1056055A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001274104A (ja) * | 1999-12-10 | 2001-10-05 | Applied Materials Inc | 自己整列の非接触シャドーリング処理キット |
JP2007321244A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Applied Materials Inc | 基板処理チャンバのためのリングアセンブリ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970077093A (ko) | 1997-12-12 |
US5863340A (en) | 1999-01-26 |
EP0807960A1 (en) | 1997-11-19 |
TW366550B (en) | 1999-08-11 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040803 |