JPH1055287A - Ｍｐｕ搭載プリント板用試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＭＰＵを含めプリント板の全てのバスやその
他の機能全体の試験ができるようにし、かつ最終的な障
害箇所を容易に判別することができるＭＰＵ搭載プリン
ト板用試験装置を提供する。 【解決手段】 テストプログラムを記憶しプリント板２
に装着するテスト用ＲＯＭ１２と、テスト制御プログラ
ムを実行することでプリント板２の試験の実行を行うパ
ソコン１４と、プリント板２の拡張スロット２４に接続
するブリッジカード１３及びパソコン１４の入出力Ｉ／
Ｏカードであるテスト制御カード３０を両端に有するケ
ーブル１６と、を有し、テスト制御カード３０は、制御
信号ライン２３ｂ，２６ｂの制御信号を操作してＭＰＵ
２２にテストプログラムを１ＢＵＳサイクルずつ実行さ
せ、障害が発生したときにはそのバスサイクルにストッ
プさせることで各バス信号ラインの状態を保持し、その
障害箇所の内容を表示させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、マイクロプロセ
ッサ（ＭＰＵ）を搭載したプリント板の試験装置、特に
プリント板の拡張スロットを接続してプリント板に搭載
された構成全体の試験を行い、障害が発生したときには
その障害発生箇所を特定するＭＰＵ搭載プリント板用試
験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近の半導体技術の進歩に伴い、各種機
能を備えたＭＰＵが開発され、各種のＭＰＵを搭載した
プリント板が、各種の電子装置に用いられるようになっ
てきた。ＭＰＵには８ビット、１６ビット、３２ビッ
ト、６４ビット等多品種があり、物理的な形状も様々で
ある。プリント板にＭＰＵを実装する方法としては、搭
載ソケットを用いてＭＰＵを搭載する方法の他に、ＭＰ
Ｕを直接プリント板に半田付けして固定させる方法など
がある。近年では、ＭＰＵの機能やスピードの向上が著
しく、また、バスも多層化し複雑になってきたのに伴
い、各信号のダイナミックな波形を観測して、最終的な
障害箇所（不良のコンポーネントや障害ポイント）を特
定することが難しくなってきている。しかし、このよう
な多種多様に渡るＭＰＵそれぞれに対しても障害試験を
的確に行うためのデバッグツールを提供する必要があ
る。

【０００３】例えば、特開平３−２９２５３９号公報に
は、試験対象となるプリント板上のＭＰＵを挿入ソケッ
トから取り外し、そこにデバッグツールを接続して障害
箇所を特定する障害試験方式が開示されている。図９
は、この特開平３−２９２５３９号公報に示された従来
のＭＰＵ搭載のプリント板試験方式を説明するための図
である。プリント板２は、ＲＯＭ２１と、ＲＯＭ２１等
の内容を実行するＭＰＵ２２と、搭載した各要素を接続
するローカルバス２３と、拡張スロット２４と、ローカ
ルバス２３と拡張スロット２４とを接続するバスインタ
フェース２５と、Ｉ／Ｏポート２７と、ＲＡＭ２８とを
有している。デバッグツール装置１は、被試験のプリン
ト板２のＭＰＵ２２の搭載ソケットにケーブル３を用い
て接続し、ＭＰＵ２２の機能をシミュレートすることに
よりプリント板２の試験を行う。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ようにＭＰＵの実装方法は、挿入ソケットを用いるタイ
プばかりであるとは限らないため、従来のようにＭＰＵ
をプリント板から取り外して試験を行うような方法だ
と、ＭＰＵを取り外すことができないタイプのプリント
板に対しては試験を行うことができないので汎用的でな
い。

【０００５】また、試験の際にはＭＰＵを取り外してし
まうため、ＭＰＵ自身並びに拡張スロットやＭＰＵの制
御部分を含めたＭＰＵ制御の試験を行うことができな
い。また、従来の試験装置は、ＭＰＵを実装するための
搭載ソケットに接続して試験を行うため、ローカルバス
の試験を行うことはできるが、バスインタフェース、拡
張スロット、システムバスの各信号ラインが全く試験さ
れない。このように、従来の装置においては、プリント
板全体における試験を行うことができないため、従来の
装置を用いた試験において全ての試験項目がパスしたと
しても、プリント板が提供する機能の動作が保証できな
いなどの問題が生じてしまう。

【０００６】また、プリント板上における各信号の状態
（波形）は、常にダイナミックに変化するわけである
が、従来の装置においては、ＭＰＵを１ＢＵＳサイクル
ずつのステップで動作させることはできないため、試験
中に障害が検出されても、障害発生時における信号の状
態を見たいと思ったときには次のＢＵＳサイクルに移っ
てしまい、その結果、信号の状態から最終的な不良箇所
（コンポーネントや障害ポイント）を特定することが極
めて困難であった。従って、各バス信号を直観的に解り
やすいスタティック（Ｓｔａｔｉｃ）なレベル状態（Ｈ
ｉｇｈ／Ｌｏｗ）にして試験することができる装置が必
要とされる。

【０００７】本発明は以上のような問題を解決するため
になされたものであり、その目的は、ＭＰＵを含めプリ
ント板の全てのバスやその他の機能全体の試験ができる
ようにし、かつ最終的な障害箇所を容易に判別すること
ができるＭＰＵ搭載プリント板用試験装置を提供するこ
とにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】以上のような目的を達成
するために、本発明におけるＭＰＵ搭載プリント板用試
験装置は、ＲＯＭと、前記ＲＯＭの内容を実行するマイ
クロプロセッサ（ＭＰＵ）と、外部機器を接続する外部
機器接続手段とをシステムバスにより接続して搭載する
プリント板の試験を行う装置において、前記外部機器接
続手段に接続するプリント板接続手段と、試験用のテス
トプログラムが記憶されたテスト用ＲＯＭと、前記ＭＰ
Ｕの試験用の制御プログラムを実行する試験実行手段
と、前記制御プログラムに従い前記ＭＰＵの動作制御を
前記プリント板接続手段を介して行う試験制御手段とを
有し、前記ＭＰＵに前記テストプログラムを実行させる
ことにより前記プリント板の試験を前記外部機器接続手
段を介して行うことを特徴とする。

【０００９】また、前記ＲＯＭがＲＯＭ取付手段により
着脱可能に設けられている場合、前記テスト用ＲＯＭを
前記ＲＯＭ取付手段に取り付けることを特徴とする。

【００１０】このように、プリント板に搭載されたある
いはＲＯＭ取付手段に取り付けられたテスト用ＲＯＭが
記憶するテストプログラムをマイクロプロセッサ（ＭＰ
Ｕ）に実行させた結果を外部機器接続手段を介して得る
ようにして障害を検知するので、ＭＰＵを搭載したまま
プリント板全体の試験を行うことができる。

【００１１】また、前記試験制御手段は、前記システム
バスに含まれる制御用の信号ラインの状態を操作して前
記ＭＰＵを１ＢＵＳサイクルずつ実行させることを特徴
とする。このように、外部機器接続手段を介して例えば
ＭＰＵのＲＥＡＤＹ信号やその他の制御入力端子信号を
制御しながらテストプログラムを１ＢＵＳサイクルずつ
ステップで実行させることで、各ステップ実行時におけ
るシステムバスの信号の状態を検出することができる。

【００１２】更に、検出した前記システムバスの信号の
状態を表示するバス状態表示手段を有し、前記バス状態
表示手段は、試験により異常を検出したとき、前記シス
テムバスの状態を保持させると同時に障害箇所を表示す
ることを特徴とする。このように、障害発生時に前記シ
ステムバスの状態を保持させると同時に障害箇所を表示
することにより障害に関わりのある部分を直観的で解り
やすく観測することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
好適な実施の形態について説明する。なお、従来例と同
じ構成要素には同じ符号を付ける。

【００１４】実施の形態１．図１は、本発明に係る試験
装置の一実施の形態を示した全体構成図である。図１に
示したように、本実施の形態における試験装置１０は、
主要部をなすパーソナルコンピュータ（以下、「パソコ
ン」という）１４と、パソコン１４をプリント板２に接
続するケーブル１６と、テスト用ＲＯＭ１２とで構成さ
れる。ケーブル１６の両端には、被テストプリント板２
の外部機器接続手段である拡張スロット２４に装着する
ブリッジカード１３と、パソコン１４のスロット（図示
せず）に挿入するテスト制御カード３０と、が設けられ
ている。テスト制御カード３０は、パソコン１４の入出
力（Ｉ／Ｏ）カードとして、後述のテスト制御プログラ
ムによる制御に従いＭＰＵ２２の動作制御を行う試験制
御手段である。ブリッジカード１３は、パソコン１４に
装着したテスト制御カード３０と被テストプリント板２
のバスインタフェース２５との間で信号及び情報の授受
を可能とする。ブリッジカード１３は、図２に示したよ
うに、各種形状のバス標準（例：ＩＳＡ、ＰＣＩなど）
のスロットや、コネクタに対応する配線板である。以上
の構成によりプリント板接続手段を構成する。

【００１５】また、試験装置の主要部であるパソコン１
４は、記録媒体例えばフロッピィディスク１９に記録さ
れたテスト制御プログラムをシステム立上げ後、主記憶
（図示せず）に読み込んで使用することで試験実行手段
として動作する。図１では矢印Ａでテスト制御プログラ
ムの読込みをイメージ的に示している。また、パソコン
１４は、後述する試験により検出したシステムバスのデ
ータ、アドレス、コントロール信号ライン２６ａの状態
を表示するバス状態表示手段でもある。パソコン１４
は、一般的な機種でよい。読出専用メモリのテスト用Ｒ
ＯＭ１２は、テストプログラムを記憶しており、被テス
トプリント板２中のＲＯＭ取付手段であるＢＩＯＳ−Ｒ
ＯＭソケット２１０に装着して用いられる。

【００１６】一方、プリント板２は、従来とほぼ同じ構
成であるが、本実施の形態におけるＲＯＭは、着脱可能
であり、上記のテスト用ＲＯＭ１２をＢＩＯＳ−ＲＯＭ
ソケット２１０に挿入することができる構成となってい
る。また、従来例においては説明していないが、従来の
装置と同様に、ローカルバスは、データ、アドレス、コ
ントロール信号ライン２３ａと、ＭＰＵ２２に対するＲ
ＥＡＤＹその他各種制御信号を送受する制御信号ライン
２３ｂとを有しており、外部機器接続手段である拡張ス
ロット２４とバスインタフェース２５との間に設けたシ
ステムバスは、データ、アドレス、コントロール信号ラ
イン２６ａと、Ｉ／ＯＲＥＡＤＹその他各種制御信号を
送受する制御信号ライン２６ｂとを有している。

【００１７】図３は、本実施の形態におけるテスト制御
カード３０の構成例を示した図であり、プリント板２の
試験のためにバス試験用回路とメモリーその他の機能試
験用回路とを示している。このうち、バス試験用回路
は、次のような回路により構成される。

【００１８】パルス発生器１０１は、被試験対象のプリ
ント板２のＭＰＵ２２を制御するためのＩ／ＯＲＥＡＤ
Ｙ信号その他の制御信号をプリント板２の制御信号ライ
ン２６ｂに出力するための回路である。アドレス＆コン
トロール信号ラッチ部１０２及びデータ信号ラッチ部１
０３は、ＭＰＵ２２が動作するバスサイクル毎のアドレ
ス＆コントロール信号またはデータ信号それぞれのバス
ライン状態をラッチするための回路である。Ｉ／Ｏポー
ト部１０４は、ＭＰＵ２２にＩ／Ｏポート２７を介して
アクセスさせて試験を行うための回路であり、データ転
送用のテストデータパターンを内蔵する。

【００１９】一方、メモリーその他の機能試験用回路
は、次のような回路により構成される。

【００２０】テスト開始制御部１０５は、ＭＰＵ２２に
次の動作（試験）をさせるためのテスト開始指令をラッ
チするための回路である。テスト結果ラッチ部１０６
は、ＭＰＵ２２がテスト用ＲＯＭ１２の内容を実行し、
メモリーその他の機能を試験した結果をラッチするため
の回路である。エンド状態ラッチ部１０７は、プリント
板２に搭載したメモリーの試験を６４ＫＢ単位で行うと
き、６４ＫＢのＥＮＤステータスをラッチするための回
路である。エラー状態ラッチ部１０８は、プリント板２
にて試験中に障害が発生したアドレス、データ、その他
の制御信号をラッチするための回路である。Ｓデコーダ
１０９は、本試験装置が各回路をアクセス制御するため
のデコーダ回路である。Ｓデコーダ１０９は、出力する
制御信号１１０によりパルス発生器１０１を制御し、出
力する“ＲＥＳＥＴ”信号１１１及び“ＲＥＳＥＴ”信
号１１３によりテスト結果ラッチ部１０６及びメモリテ
スト時のエンド状態ラッチ部１０７をそれぞれリセット
出力する‘ＣＳ’信号１１５，‘ＣＳ’信号１１６，
‘ＣＳ’信号１１７，‘ＣＳ’信号１１８，‘ＣＳ’信
号１１９，‘ＣＳ’信号１２０によりアドレス＆コント
ロール信号ラッチ部１０２、データ信号ラッチ部１０
３、Ｉ／Ｏポート部１０４、テスト開始制御部１０５、
テスト結果ラッチ部１０６、エンド状態ラッチ部１０
７、エラー状態ラッチ部１０８をそれぞれセレクトす
る。Ｐデコーダ１１４は、ＭＰＵ２２が各回路をアクセ
ス制御するためのデコーダ回路である。Ｐデコーダ１１
４は、出力する“ＲＥＳＥＴ”信号１１２によりテスト
開始制御部１０５をリセットし、出力する‘ＣＳ’信号
１２１，‘ＣＳ’信号１２２，‘ＣＳ’信号１２３，
‘ＣＳ’信号１２４，‘ＣＳ’信号１２５によりＩ／Ｏ
ポート部１０４、テスト開始制御部１０５、テスト結果
ラッチ部１０６、エンド状態ラッチ部１０７、エラー状
態ラッチ部１０８をセレクトする。

【００２１】以上の構成を有する本実施の形態において
特徴的なことは、拡張スロット２４を介してプリント板
２の各構成要素及びプリント板２全体の試験を行うこと
である。

【００２２】次に、本実施の形態において被試験対象プ
リント板全体に対する試験を、図１に示したような構成
のプリント板２に対して行う場合について、ソフトウェ
アとハードウェア両面からバス試験とメモリーその他機
能試験の１つであるメモリー試験とに分けて説明する。

【００２３】バス試験 バス試験制御モジュールを含めたパソコン１４で動作す
るテスト制御プログラムの処理を、図４に示したフロー
チャートを用いて説明する。

【００２４】まず、パソコン１４と被試験対象となるプ
リント板２とをケーブル１６により接続して試験を開始
する。パソコン１４において、電源を入れテスト制御プ
ログラムが立ち上がり、初期画面を表示し（ステップ１
０１）、テスト制御カード３０を初期化して（ステップ
１０２）、制御信号ライン２６ｂに含まれるＩ／ＯＲＥ
ＡＤＹ信号をＬｏｗにし、テスト制御プログラムに設定
した障害がすでにあったかどうかを示すフラグをクリア
し（ステップ１０３）、試験項目の選択を待つ（ステッ
プ１０４）。本実施の形態においては、初期画面上から
バス試験またはメモリーその他の試験項目を選択して実
行できるが、ここではバス試験を選択する。試験項目が
選択されると、選択された項目の試験が始まる。

【００２５】バス試験を選択すると、被試験対象となる
プリント板２において電源を入れる。ＭＰＵ２２は、リ
セットされ、かつ上記Ｉ／ＯＲＥＡＤＹ信号がＬｏｗに
されたままであるため、無条件にバスサイクルを１つ動
作したところでストップする。このときのプリント板２
のローカルバスのデータ、アドレス、コントロール信号
ライン２３ａ及びシステムバスのデータ、アドレス、コ
ントロール信号ライン２６ａの各信号は、波形ではなく
物理的なレベル状態（Ｈｉｇｈ／Ｌｏｗ）でそのまま保
持されている。

【００２６】試験装置１０は、アドレス＆コントロール
信号ラッチ部１０２とデータ信号ラッチ部１０３により
前記のシステムバスのデータ、アドレス、コントロール
信号ライン２６ａの物理的なレベル状態を得ると、当該
バスサイクルのシステムバスのデータ、アドレス、コン
トロール信号ライン２６ａの各ライン信号の期待値と比
較する（ステップ１０５）。なお、期待値とは、予め正
常のプリント板にてテスト用ＲＯＭ１２のバステストモ
ジュールが実行される時、各バスサイクルにおいて実測
した前記各ライン信号の物理的な状態（Ｈｉｇｈ／Ｌｏ
ｗ）をデータベースとして、テスト制御プログラムに内
蔵している。バステストモジュールについては後述す
る。比較した結果が期待値と一致しなかった場合は、プ
リント板２内のバスに障害があったことを意味してい
る。この場合、パルス発生器１０１によるパルス発生を
停止させ、ＭＰＵ２２をその障害が発生したバスサイク
ルにストップさせたまま、上記フラグに“１”をセット
し（ステップ１１０）、障害処置ルーチンに入り、障害
箇所を表示し、Ｅｒｒｏｒカウントアップする（ステッ
プ１１１）。

【００２７】一方、ステップ１０５において、期待値と
一致した場合は、続けてフラグがすでに“１”になって
いるかをチェックする（ステップ１０７）。“１”の場
合は、Ｐａｓｓカウントアップした後（ステップ１１
１）、再びアドレス＆コントロール信号ラッチ部１０２
とデータ信号ラッチ部１０３から前記各ライン信号の物
理的なレベル状態をシステムバスのデータ、アドレス、
コントロール信号ライン２６ａを経由で得て、ステップ
１０５に示した比較処理を繰り返す（ステップ１０
５）。

【００２８】このように、バスの試験中に障害が１回で
も発生すれば、前述のようにＭＰＵ２２をその障害があ
ったバスサイクルにストップさせることで前記各ライン
信号の状態を保持し、期待値と比較する無限ループに入
りＥｒｒｏｒ／Ｐａｓｓカウントアップする。そして、
その障害箇所をパソコン１４の画面で表示させる。これ
により、障害が間欠障害か固定的障害かの切り分けが容
易に可能となる。なお、この無限ループは、外部から終
了操作を行うことにより抜け出すことになる。この時、
各バス信号ラインの状態は、波形ではなくＳｔａｔｉｃ
なレベル状態（Ｈｉｇｈ／Ｌｏｗ）である。

【００２９】一方、障害が発生しなかった場合（フラグ
が“１”でない場合）は、パルス発生器１０１にパルス
を１発ずつ発生させて、ＭＰＵ２２に１ＢＵＳサイクル
ずつのステップで、図５に示したテスト用ＲＯＭ１２に
記憶されたバス及びメモリその他の機能テストモジュー
ルを実行させる（ステップ１０８）。なお、図６は、テ
スト用ＲＯＭ１２のアドレス空間マップの例を示してお
り、以降の説明におけるアドレス等は、この図に基づい
ている。

【００３０】まず、一番目の命令（ｊｍｐ Ｆ０００：
８０００）１２１０を実行させることにより（ステップ
２０１）、バステストモジュール１２４０（アドレス０
Ｆ８０００Ｈ番地より）の実行を開始させる。バステス
トモジュール１２４の実行により、予め各種テストデー
タパターンが書き込まれているテスト用ＲＯＭ１２の各
領域１２２０，１２５０をリードさせる（ステップ２０
２）。次に、それぞれを異なるＲＡＭ２８のアドレス番
地に書き込む（ステップ２０３）。

【００３１】次に、Ｉ／Ｏポート部１０４に内蔵された
各種テストデータパターンをリードさせ（ステップ２０
４）、各種テストデータパターンをプリント板２の各Ｉ
／Ｏポート２７及びこのテスト制御カード３０のＩ／Ｏ
ポート部１０４にライトさせる（ステップ２０５）。こ
のようにして、Ｉ／Ｏポート２７を含めたバスの試験を
行うことができる。

【００３２】そして、図４において、テスト用ＲＯＭ１
２のバステストモジュール１２４０の終了かを判断し
（ステップ１０９）、“Ｎ”の場合は“当バスサイクル
ＰＡＳＳ”を表示し（ステップ１１２）、ステップ１０
５に戻り、上記処理を繰り返す。“Ｙ”の場合はバス試
験を終了する（ステップ１１３）。このようにして、Ｍ
ＰＵ２２の各動作機能を含め、プリント板２の各バス
（ローカルバス２３、システムバス２６）を全面的に試
験することができる。

【００３３】以上のように、本実施の形態において障害
を検出した場合は、ただエラーメッセージを表示するだ
けでなく、前記各バスラインをＳｔａｔｉｃなレベル状
態（Ｈｉｇｈ／Ｌｏｗ）に保持することができる。この
ため、オシロスコープ等によってバス信号を観測するに
あたっては、最適でやさしい信号観測の環境が提供さ
れ、最終的な障害箇所が容易に確認することができる。

【００３４】メモリー試験 次に、パソコン１４により実行されるテスト制御プログ
ラムに含まれるメモリー試験制御モジュールのフローチ
ャートを示した図７及びテスト用ＲＯＭ１２に含まれて
いるテストプログラムのフローチャートを示した図８に
基づいてメモリー試験について説明する。

【００３５】まず、試験装置１０において、システムバ
スのＩ／ＯＲＥＡＤＹその他各種制御信号ライン２６ｂ
に含まれるＩ／ＯＲＥＡＤＹ信号をＦｒｅｅにし（ステ
ップ３０１）、テスト結果ラッチ部１０６とエンド状態
ラッチ部１０７をリセットする（ステップ３０２）。次
に、障害がすでにあったかを示す上記フラグをクリアし
（ステップ３０３）、動作の同期をとるために、一定の
タイムディレイを保った後（ステップ３０４）、テスト
開始制御部１０５にテスト開始指令を出力する（ステッ
プ３０５）。そして、ＭＰＵ２２のテスト用ＲＯＭ１２
のメモリーその他の機能テストモジュール１２３０のメ
モリーテストモジュール部分を実行させることでメモリ
ー試験を開始すると同時にパソコン１４に６４ＫＢ単位
での実行の度にメモリー試験中メッセージを表示する
（ステップ３０６）。

【００３６】テスト用ＲＯＭ１２に記憶されているメモ
リーテストモジュールでは、図８に示したようにテスト
開始制御部１０５をリセットし（ステップ２０６）、テ
スト開始指令を待つ（ステップ２０７，２０８）。上記
ステップ３０５によるテスト開始指令の出力によりテス
ト開始指令を受け取ると、各種テストデータパターンを
用いてライド／リードコンペア処理パリティチェックを
行うことによりメモリー全領域について６４ＫＢ単位に
試験を行う（ステップ２０９，２１０）。

【００３７】ここで、メモリー試験中のコンペアとパリ
ティチェックエラーなどの障害の有無を判別する（ステ
ップ２１１）。障害が発生していない場合は、更に１ブ
ロック（６４ＫＢ）の終わりであるかを判断する（ステ
ップ２１２）。終わりでなければ、ステップ２０９に戻
り上記試験を繰り返し、終わりであれば、次の６４ＫＢ
の試験に入るため、ステップ２０７に戻る（ステップ２
１３）。

【００３８】ステップ２１１において、障害が発生した
場合は、テスト結果ラッチ部１０６にその旨をセットし
て（ステップ２１４）、次のテスト開始指令を待つ（ス
テップ２１５，２１６）。テスト開始指令を確認後、障
害が発生したメモリーアドレスに対して繰り返し試験を
行う（ステップ２１７，２１８，２１９）。一方、フロ
ッピィディスク１９に記録されたテスト制御プログラム
のメモリー試験制御モジュールでは、テスト結果ラッチ
部１０６からテストの結果を表すステータスを読み取る
（ステップ３０７）。その後、テスト結果ラッチ部１０
６をリセットし（ステップ３０８）、障害があったかど
うか（ステップ３０９）、また、フラグをチェックする
ことで障害が以前に発生していたかどうかを判断する
（ステップ３１０）。ステップ３０９において障害があ
ったと判断した場合は、フラグに“１”をセットし（ス
テップ３１６）、障害処理ルーチンに入る。ステップ３
１０において障害が以前に発生していた場合も、同様に
障害処理ルーチンに入り、障害が発生したことを通知す
るために表示画面の状態を変え、エラー状態ラッチ部１
０８からアドレス、データ、パリティチェック情報を読
み取り表示する。そして、Ｐａｓｓ／Ｅｒｒｏｒカウン
トアップし（ステップ３１７）、テスト開始制御部１０
５にテスト開始指令を出力し（ステップ３１８）、上記
のステップ３０７からの処理を繰り返す。

【００３９】一方、ステップ３０９，３１０において障
害がなかった場合は、試験するメモリー領域の終わりで
あるかどうか判断し（ステップ３１１）、終わりであれ
ばメモリー試験を終了する（ステップ３１９）。また、
メモリー領域の終わりでなければ、エンド状態ラッチ部
１０７の内容を読み取り（ステップ３１２）、６４ＫＢ
の終わりであるかを判断し（ステップ３１３）、終わり
でなければ（‘Ｎ’の場合）、テスト結果ラッチ部１０
６からテストの結果を読み取る処理（ステップ３０７）
から繰り返す。６４ＫＢ単位の終わりであれば（‘Ｙ’
の場合）、エンド状態ラッチ部１０７をリセットし（ス
テップ３１４）、次の６４ＫＢの試験中である旨を表示
し（ステップ３１５）、テスト開始指令出力処理（ステ
ップ３０５）から繰り返す。

【００４０】このように、メモリー試験中に障害が１回
でも発生すれば、その障害が起こったアドレス、デー
タ、パリティチェック情報を表示しながら、そのアドレ
スのみ無限ループで試験を行うことができる。

【００４１】以上のように、本実施の形態によれば、拡
張スロット２４に接続して被検査対象のプリント板２の
障害試験を行うので、ＭＰＵ２２を取り外す必要がな
い。従って、搭載ソケット等着脱可能にＭＰＵが実装さ
れていない場合でもプリント板２の試験を行うことがで
きるので汎用的である。また、ＭＰＵ２２を搭載したま
ま試験を行えるので、ＭＰＵ２２を含めたプリント板２
全体に対して試験を行うことができるので、プリント板
が提供する全機能の動作を保証することができる。

【００４２】また、ＭＰＵ２２に１ＢＵＳサイクルずつ
のステップで動作させることができるので、各ステップ
実行時におけるローカルバスの信号の状態を検出するこ
とができる。また、この内容を表示画面に表示すること
で障害箇所を容易に確認することができる。

【００４３】また、本実施の形態における試験は、パソ
コン１４と、テスト制御カード３０を有するケーブル１
６と、フロッピィディスク１９に記録されたテスト制御
プログラムと、テスト用ＲＯＭ１２を必要とするが、ケ
ーブル１６にパソコン１４との接続部を兼用した試験制
御手段としてのテスト制御カード３０を設け、また、試
験実行機能をテスト制御プログラムというソフトウェア
で実現するようにしたので、パソコン１４は汎用的な機
種でよく、ケーブル１６さえ用意すれば、特別な試験装
置を製造する必要がない。

【００４４】

【発明の効果】本発明によれば、プリント板接続手段を
用いることにより試験対象であるプリント板の持つ外部
機器接続手段を利用してプリント板に容易に接続するこ
とができ、外部機器接続手段を介して被検査対象のプリ
ント板の障害試験を行うので、ＭＰＵを取り外す必要が
ない。従って、搭載ソケット等着脱可能にＭＰＵが実装
されていない場合でもプリント板の試験を行うことがで
き汎用的である。また、ＭＰＵを搭載したまま制御プロ
グラム及びテストプログラムに基づいて試験を行えるの
で、ＭＰＵを含めたプリント板全体に対して試験を行う
ことが可能となる。これにより、プリント板が提供する
全機能の動作を保証することができる。

【００４５】また、例えばシステムバスのＲＥＡＤＹ信
号やその他の制御入力端子信号を制御して、テストプロ
グラムを１ＢＵＳサイクルずつのステップで実行させる
ことができるため、障害が発生したときのそのバスサイ
クルにおけるＳｔａｔｉｃなレベル状態（Ｈｉｇｈ／Ｌ
ｏｗ）のまま保持することが可能となり、障害の発生箇
所を容易に特定することができる。

【００４６】また、バス状態表示手段を設けたことによ
りその障害箇所を表示することができるので、障害に関
わりのある部分を直観的で解りやすく観測することが可
能となり、障害箇所を容易に確認することが可能とな
る。また、プリント板のメモリーその他の機能を試験す
るにあたっては、障害が１回でも発生すれば、その障害
の情報を表示しながら、障害の発生した箇所のみ無限ル
ープで試験を行えば、障害箇所の確認のみならずヒート
ランテストなどを容易に行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係る試験装置の一実施の形態を示し
た全体構成図である。

【図２】 本実施の形態におけるブリッジカードの概念
図である。

【図３】 本実施の形態におけるテスト制御カードの構
成例を示した図である。

【図４】 本実施の形態におけるテスト制御プログラム
に含まれているバス試験制御モジュールの処理を示した
フローチャートである。

【図５】 本実施の形態におけるテスト用ＲＯＭに記憶
されたバステスト用のテストモジュールの処理を示した
フローチャートである。

【図６】 本実施の形態におけるテスト用ＲＯＭのアド
レス空間マップの例を示した図である。

【図７】 本実施の形態におけるテスト制御プログラム
に含まれているメモリー試験制御モジュールの処理を示
したフローチャートである。

【図８】 本実施の形態におけるテスト用ＲＯＭに記憶
されたメモリーテスト用のテストモジュールの処理を示
したフローチャートである。

【図９】 従来のＭＰＵ搭載のプリント板試験方式を説
明するために用いる図である。

【符号の説明】

２ プリント板、１０ 試験装置、１２ テスト用ＲＯ
Ｍ、１３ ブリッジカード、１４ パソコン、１６ ケ
ーブル、１９ フロッピィディスク、２１ ＲＯＭ、２
２ ＭＰＵ、２３ ローカルバス、２３ａ ローカルバ
スのデータ、アドレス、コントロール信号ライン、２３
ｂ ローカルバスのＭＰＵに対するＲＥＡＤＹその他各
種制御信号ライン、２４ 拡張スロット、２５ バスイ
ンタフェース、２６ａ システムバスのデータ、アドレ
ス、コントロール信号ライン、２６ｂ システムバスの
Ｉ／ＯＲＥＡＤＹその他各種制御信号ライン、２７ Ｉ
／Ｏポート、２８ ＲＡＭ、３０ テスト制御カード、
１０１ パルス発生器、１０２ アドレス＆コントロー
ル信号ラッチ部、１０３ データ信号ラッチ部、１０４
Ｉ／Ｏポート部、１０５ テスト開始制御部、１０６
テスト結果ラッチ部、１０７ エンド状態ラッチ部、
１０８ エラー状態ラッチ部、１０９ Ｓデコーダ、１
１０ 制御信号、１１１，１１２，１１３ “ＲＥＳＥ
Ｔ”信号、１１４ Ｐデコーダ、１１５，１１６，１１
７，１１８，１１９，１２０，１２１，１２２，１２
３，１２４，１２５ ‘ＣＳ’信号、２１０ ＢＩＯＳ
−ＲＯＭソケット。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＲＯＭと、 前記ＲＯＭの内容を実行するマイクロプロセッサ（ＭＰ
   Ｕ）と、 外部機器を接続する外部機器接続手段と、 をシステムバスにより接続して搭載するプリント板の試
   験を行う装置において、 前記外部機器接続手段に接続するプリント板接続手段
   と、 試験用のテストプログラムが記憶されたテスト用ＲＯＭ
   と、 前記ＭＰＵの試験用の制御プログラムを実行する試験実
   行手段と、 前記制御プログラムに従い前記ＭＰＵの動作制御を前記
   プリント板接続手段を介して行う試験制御手段と、 を有し、前記ＭＰＵに前記テストプログラムを実行させ
   ることにより前記プリント板の試験を前記外部機器接続
   手段を介して行うことを特徴とするＭＰＵ搭載プリント
   板用試験装置。
2. 【請求項２】 前記ＲＯＭがＲＯＭ取付手段により着脱
   可能に設けられている場合、前記テスト用ＲＯＭを前記
   ＲＯＭ取付手段に取り付けることを特徴とする請求項１
   記載のＭＰＵ搭載プリント板用試験装置。
3. 【請求項３】 前記試験制御手段は、前記システムバス
   に含まれる制御用の信号ラインの状態を操作して前記Ｍ
   ＰＵを１ＢＵＳサイクルずつ実行させることを特徴とす
   る請求項１記載のＭＰＵ搭載プリント板用試験装置。
4. 【請求項４】 検出した前記システムバスの信号の状態
   を表示するバス状態表示手段を有し、 前記バス状態表示手段は、試験により異常を検出したと
   き、前記システムバスの状態を保持させると同時に障害
   箇所を表示することを特徴とする請求項１乃至３いずれ
   かに記載のＭＰＵ搭載プリント板用試験装置。