JPH1051199A - 電子部品の取付方向検査方法 - Google Patents
電子部品の取付方向検査方法Info
- Publication number
- JPH1051199A JPH1051199A JP8201853A JP20185396A JPH1051199A JP H1051199 A JPH1051199 A JP H1051199A JP 8201853 A JP8201853 A JP 8201853A JP 20185396 A JP20185396 A JP 20185396A JP H1051199 A JPH1051199 A JP H1051199A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- stored
- image memory
- electronic component
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 チップ部品等の電子部品に印刷されている基
準マーク（極性マーク）は、チップ部品によって極性マ
ークの色合いが薄いものや、印刷自体の形状が不明瞭な
ものがあるため、極性マークであるとの判別が困難であ
るといった問題があった。 【解決手段】 基準となる基準マークを有する電子部品
における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基
準画像メモリ３に記憶し、また、被検査電子部品の画像
を検査画像メモリ４に記憶し、この検査画像メモリに記
憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ
に記憶された前記２つの基準画像とを画像比較器５で比
較して、被検査電子部品の画像が前記２つの基準画像の
何れに近似しているかで基準マークの方向を判別するよ
うにした電子部品の取付方向検査方法である。
準マーク（極性マーク）は、チップ部品によって極性マ
ークの色合いが薄いものや、印刷自体の形状が不明瞭な
ものがあるため、極性マークであるとの判別が困難であ
るといった問題があった。 【解決手段】 基準となる基準マークを有する電子部品
における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基
準画像メモリ３に記憶し、また、被検査電子部品の画像
を検査画像メモリ４に記憶し、この検査画像メモリに記
憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ
に記憶された前記２つの基準画像とを画像比較器５で比
較して、被検査電子部品の画像が前記２つの基準画像の
何れに近似しているかで基準マークの方向を判別するよ
うにした電子部品の取付方向検査方法である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はプリント基板に実装
された取付方向を規定する基準マークが表示された電子
部品、例えば、極性マークが表示されたコンデンサ等の
チップ部品の極性が、予め設定した方向に半田付けされ
ているか否かを、画像処理によって検査する方法に関す
る。
された取付方向を規定する基準マークが表示された電子
部品、例えば、極性マークが表示されたコンデンサ等の
チップ部品の極性が、予め設定した方向に半田付けされ
ているか否かを、画像処理によって検査する方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より極性を有するチップ部品の極性
検査を行う方法として、基準となる正規な方向に半田付
けされたチップ部品の画像を画像メモリに記憶してお
き、被検査プリント基板に実装されているチップ部品の
画像を他の画像メモリに記憶し、前記基準画像と被検査
画像とを画像比較回路によって比較して、チップ部品に
抽出されている帯等の極性マークが両者で一致するか否
かを判定していた。
検査を行う方法として、基準となる正規な方向に半田付
けされたチップ部品の画像を画像メモリに記憶してお
き、被検査プリント基板に実装されているチップ部品の
画像を他の画像メモリに記憶し、前記基準画像と被検査
画像とを画像比較回路によって比較して、チップ部品に
抽出されている帯等の極性マークが両者で一致するか否
かを判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記したチ
ップ部品に印刷されている極性マークは、チップ部品に
よって極性マークの色合いが薄いもの〔図５(a) に示す
ように全体が黒色Ｃ（図中の黒）に対して青色（図中の
灰色）の極性マークＣ1 が印刷されたもの〕や、印刷自
体の形状が不明瞭なもの〔図５(b) に示すように数値と
幅広の横線Ｃに対して同じの濃度の極性マークＣ1 が印
刷された〕ものがあるため、極性マークであるとの判別
が困難で誤検出を生じ易いといった問題があった。
ップ部品に印刷されている極性マークは、チップ部品に
よって極性マークの色合いが薄いもの〔図５(a) に示す
ように全体が黒色Ｃ（図中の黒）に対して青色（図中の
灰色）の極性マークＣ1 が印刷されたもの〕や、印刷自
体の形状が不明瞭なもの〔図５(b) に示すように数値と
幅広の横線Ｃに対して同じの濃度の極性マークＣ1 が印
刷された〕ものがあるため、極性マークであるとの判別
が困難で誤検出を生じ易いといった問題があった。
【０００４】本発明は前記した問題点を解決せんとする
もので、その目的とするところは、電子部品における基
準マークの色合いが薄いものや、形状の不明瞭なものが
あっても、電子部品の取付方向を確実に検査することが
できる電子部品の取付方向検査方法を提供せんとするに
ある。
もので、その目的とするところは、電子部品における基
準マークの色合いが薄いものや、形状の不明瞭なものが
あっても、電子部品の取付方向を確実に検査することが
できる電子部品の取付方向検査方法を提供せんとするに
ある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の電子部品の取付
方向検査方法は前記した目的を達成せんとするもので、
その手段は、基準となる基準マークを有する電子部品に
おける前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基準
画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を検
査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶され
た被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリに記憶
された前記２つの基準画像とを比較器で比較して、被検
査電子部品の画像が前記２つの基準画像の何れに近似し
ているかで基準マークの方向を判別するようにしたこと
を特徴とする。
方向検査方法は前記した目的を達成せんとするもので、
その手段は、基準となる基準マークを有する電子部品に
おける前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基準
画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を検
査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶され
た被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリに記憶
された前記２つの基準画像とを比較器で比較して、被検
査電子部品の画像が前記２つの基準画像の何れに近似し
ているかで基準マークの方向を判別するようにしたこと
を特徴とする。
【０００６】また、基準となる基準マークを有する電子
部品における前記基準マークの方向が異なる２つの画像
を基準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画
像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記
憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ
内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較におい
て判別が困難な場合に、基準画像メモリ内の逆方向画像
との比較を行い、何れに近似しているかの判別を行うよ
うにしたことを特徴とする。
部品における前記基準マークの方向が異なる２つの画像
を基準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画
像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記
憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ
内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較におい
て判別が困難な場合に、基準画像メモリ内の逆方向画像
との比較を行い、何れに近似しているかの判別を行うよ
うにしたことを特徴とする。
【０００７】さらに、基準となる基準マークを有する電
子部品の画像を基準画像メモリに記憶し、被検査電子部
品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモ
リに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像
メモリに記憶された基準画像とを比較器で比較し、この
比較結果において近似していないと判別した場合に、前
記検査画像メモリに記憶されている画像を反転し、前記
基準画像メモリの基準画像とを前記比較器で比較し、前
記２つの比較において何れに近似しているかの判別を行
うようにしたことを特徴とする。
子部品の画像を基準画像メモリに記憶し、被検査電子部
品の画像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモ
リに記憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像
メモリに記憶された基準画像とを比較器で比較し、この
比較結果において近似していないと判別した場合に、前
記検査画像メモリに記憶されている画像を反転し、前記
基準画像メモリの基準画像とを前記比較器で比較し、前
記２つの比較において何れに近似しているかの判別を行
うようにしたことを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る電子部品の取
付方向検査方法をチップ部品の極性方向検査を行う場合
について説明する。図１は本発明の方法を実施するため
のブロック図であり、１は電子部品であるチップ部品Ｃ
を実装した被検査プリント基板ＰをＸ軸方向およびＹ軸
方向に移動して、前記チップ部品Ｃをテレビカメラ２の
真下に移動させるＸ−Ｙステージである。
付方向検査方法をチップ部品の極性方向検査を行う場合
について説明する。図１は本発明の方法を実施するため
のブロック図であり、１は電子部品であるチップ部品Ｃ
を実装した被検査プリント基板ＰをＸ軸方向およびＹ軸
方向に移動して、前記チップ部品Ｃをテレビカメラ２の
真下に移動させるＸ−Ｙステージである。
【０００９】３は前記テレビカメラ２でチップ部品Ｃの
基準マークである極性マークＣ1 が、正規の方向にプリ
ント基板Ｐに対して実装された状態の画像を記憶する基
準画像メモリにして、該基準画像メモリ３には前記記憶
された画像を演算して極性マークＣ1 を反転させた画像
も記憶されている。すなわち、極性マークＣ1 が正逆転
された２つの画像が記憶されている。
基準マークである極性マークＣ1 が、正規の方向にプリ
ント基板Ｐに対して実装された状態の画像を記憶する基
準画像メモリにして、該基準画像メモリ３には前記記憶
された画像を演算して極性マークＣ1 を反転させた画像
も記憶されている。すなわち、極性マークＣ1 が正逆転
された２つの画像が記憶されている。
【００１０】４は前記Ｘ−Ｙステージ１によって移動さ
れた被検査プリント基板Ｐに実装されたチップ部品Ｃ1
を前記テレビカメラ２によって取り込んだ画像を記憶す
る検査画像メモリ、５は前記検査画像メモリ４よりの画
像と、前記基準画像メモリ３内の正画像とを最初に比較
判定し、この判定の結果がＮＧである場合には、逆転画
像とをパターンマッチング手法によって比較判定する画
像比較器である。
れた被検査プリント基板Ｐに実装されたチップ部品Ｃ1
を前記テレビカメラ２によって取り込んだ画像を記憶す
る検査画像メモリ、５は前記検査画像メモリ４よりの画
像と、前記基準画像メモリ３内の正画像とを最初に比較
判定し、この判定の結果がＮＧである場合には、逆転画
像とをパターンマッチング手法によって比較判定する画
像比較器である。
【００１１】６は前記画像比較器５からの検査結果信号
が入力され、その結果によってチップ部品Ｃの極性マー
クＣ1 の方向が正しいか否かを記憶すると共に、図示し
ないディスプレイやプリンタ等に表示し、また、予め検
査順位が決定されているチップ部品Ｃを前記テレビカメ
ラ２の真下に移動させるための制御信号をＸ−Ｙステー
ジ制御部７に出力するＣＰＵである。
が入力され、その結果によってチップ部品Ｃの極性マー
クＣ1 の方向が正しいか否かを記憶すると共に、図示し
ないディスプレイやプリンタ等に表示し、また、予め検
査順位が決定されているチップ部品Ｃを前記テレビカメ
ラ２の真下に移動させるための制御信号をＸ−Ｙステー
ジ制御部７に出力するＣＰＵである。
【００１２】以下、前記した構成に基づいて動作を図２
のフローチャート図と図３のチップ部品Ｃの平面図と共
に説明する。先ず、基準画像メモリ３にテレビカメラ２
で一般的なチップ部品Ｃの極性マークＣ1 が、正規の方
向にプリント基板Ｐに対して実装されている画像を記憶
すると共に、前記記憶された画像を演算して極性マーク
Ｃ1 を反転させた画像も記憶する。
のフローチャート図と図３のチップ部品Ｃの平面図と共
に説明する。先ず、基準画像メモリ３にテレビカメラ２
で一般的なチップ部品Ｃの極性マークＣ1 が、正規の方
向にプリント基板Ｐに対して実装されている画像を記憶
すると共に、前記記憶された画像を演算して極性マーク
Ｃ1 を反転させた画像も記憶する。
【００１３】前記したように、チップ部品Ｃにおける正
逆２つの極性マークＣ1 の画像が基準画像メモリ３に記
憶された状態において、ＣＰＵ６よりの指令によってＸ
−Ｙステージ制御部７を介して被検査プリント基板Ｐが
移動して、被検査用のチップ部品Ｃ′がテレビカメラ２
の真下に移動させられる。従って、被検査用のチップ部
品Ｃ′の画像が検査画像メモリ４に記憶される（ステッ
プＳ１）。
逆２つの極性マークＣ1 の画像が基準画像メモリ３に記
憶された状態において、ＣＰＵ６よりの指令によってＸ
−Ｙステージ制御部７を介して被検査プリント基板Ｐが
移動して、被検査用のチップ部品Ｃ′がテレビカメラ２
の真下に移動させられる。従って、被検査用のチップ部
品Ｃ′の画像が検査画像メモリ４に記憶される（ステッ
プＳ１）。
【００１４】次いで、画像比較器５は基準画像メモリ３
内に記憶されている正規な方向に実装された状態の画像
と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が
終了したか否かを判断し（ステップＳ２）、前記比較が
終了したと判断すると、その比較結果を第１のメモリ内
に保存する（ステップＳ３）。
内に記憶されている正規な方向に実装された状態の画像
と、前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が
終了したか否かを判断し（ステップＳ２）、前記比較が
終了したと判断すると、その比較結果を第１のメモリ内
に保存する（ステップＳ３）。
【００１５】その後、画像比較器５は基準画像メモリ３
内に記憶されている逆向きに実装された状態の画像と、
前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が終了
したか否かを判断し（ステップＳ４）、前記比較が終了
したと判断すると、その比較結果を第２のメモリ内に保
存する（ステップＳ５）。
内に記憶されている逆向きに実装された状態の画像と、
前記検査画像メモリ４に記憶された画像との比較が終了
したか否かを判断し（ステップＳ４）、前記比較が終了
したと判断すると、その比較結果を第２のメモリ内に保
存する（ステップＳ５）。
【００１６】次いで、ステップＳ３で保存した比較デー
タがステップＳ５で保存した比較データより近似してい
るか否かを判断し、ステップＳ３の比較データの方がス
テップＳ５の比較データより近似していると判断すると
ＯＫの出力を送出し、また、逆の場合にはＮＧの出力を
送出する（ステップＳ６）。
タがステップＳ５で保存した比較データより近似してい
るか否かを判断し、ステップＳ３の比較データの方がス
テップＳ５の比較データより近似していると判断すると
ＯＫの出力を送出し、また、逆の場合にはＮＧの出力を
送出する（ステップＳ６）。
【００１７】なお、前記した検査方法にあっては、正逆
２つの基準画像と検査画像とを比較して、何れの比較結
果がより近似しているかの判断を行うものについて説明
したが、正方向の基準画像との比較を行い、その結果が
近似していないと判断した場合に逆方向の基準画像との
比較を行う方法もある。
２つの基準画像と検査画像とを比較して、何れの比較結
果がより近似しているかの判断を行うものについて説明
したが、正方向の基準画像との比較を行い、その結果が
近似していないと判断した場合に逆方向の基準画像との
比較を行う方法もある。
【００１８】以下、この方法について図４と共に説明す
る。なお、前記したフローチャート図におけるステップ
Ｓ１までは同じなので、それ以降の動作について説明す
る。画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されてい
る正規な方向に実装された状態の画像と、前記検査画像
メモリ４に記憶された画像とを比較する（ステップＳ
７）。そして、検査画像メモリ４に記憶された画像にお
ける極性マークＣ1 ′の印刷の濃度が濃くて明瞭に識別
でき、かつ、極性マークＣ1 ′の向きが正規の方向に実
装されている場合にはＯＫ信号をＣＰＵ６に出力する。
る。なお、前記したフローチャート図におけるステップ
Ｓ１までは同じなので、それ以降の動作について説明す
る。画像比較器５は基準画像メモリ３内に記憶されてい
る正規な方向に実装された状態の画像と、前記検査画像
メモリ４に記憶された画像とを比較する（ステップＳ
７）。そして、検査画像メモリ４に記憶された画像にお
ける極性マークＣ1 ′の印刷の濃度が濃くて明瞭に識別
でき、かつ、極性マークＣ1 ′の向きが正規の方向に実
装されている場合にはＯＫ信号をＣＰＵ６に出力する。
【００１９】また、前記ステップＳ７において、極性マ
ークＣ1 ′が明瞭に識別できず、あるいは、極性マーク
Ｃ1 ′が明瞭に識別できるが向きが逆向きに実装されて
いると判別した場合には、基準画像メモリ３内に記憶さ
れている逆向きの画像が画像比較器５に送出され、前記
検査画像メモリ４に記憶された画像と比較される（ステ
ップＳ８）。
ークＣ1 ′が明瞭に識別できず、あるいは、極性マーク
Ｃ1 ′が明瞭に識別できるが向きが逆向きに実装されて
いると判別した場合には、基準画像メモリ３内に記憶さ
れている逆向きの画像が画像比較器５に送出され、前記
検査画像メモリ４に記憶された画像と比較される（ステ
ップＳ８）。
【００２０】この比較において、極性マークＣ1 ′が明
確に判別されている場合には、実装されたチップ部品は
逆向きであるとしてＮＧ信号をＣＰＵに出力する。ま
た、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できないとしてステ
ップＳ８に移行した場合には、前記ステップＳ７におけ
る比較値と、今回のステップＳ８における比較値とが、
何れに近似しているかを判別し、正規な方向の画像と近
似していると判別した場合にはＯＫ信号をＣＰＵに出力
し、また、逆方向の画像と近似していると判別した場合
にはＮＧ信号をＣＰＵに出力する。
確に判別されている場合には、実装されたチップ部品は
逆向きであるとしてＮＧ信号をＣＰＵに出力する。ま
た、極性マークＣ1 ′が明瞭に識別できないとしてステ
ップＳ８に移行した場合には、前記ステップＳ７におけ
る比較値と、今回のステップＳ８における比較値とが、
何れに近似しているかを判別し、正規な方向の画像と近
似していると判別した場合にはＯＫ信号をＣＰＵに出力
し、また、逆方向の画像と近似していると判別した場合
にはＮＧ信号をＣＰＵに出力する。
【００２１】以上のように極性マークＣ1 ′が濃度が薄
い等の場合には、先ず、検査画像メモリ４よりの画像と
基準画像メモリ３における正規の方向に実装された画像
とを比較する第１の比較を行い、この比較においてＮＯ
と判断された場合に、逆方向の画像とを比較する第２の
比較を行い、前記第１の比較結果と第２の比較結果の何
れに近似しているかの判断を行い、第１の比較に近似し
ている場合にはＯＫ、第２の比較に近似している場合に
はＮＧを出力するようにしたものである。
い等の場合には、先ず、検査画像メモリ４よりの画像と
基準画像メモリ３における正規の方向に実装された画像
とを比較する第１の比較を行い、この比較においてＮＯ
と判断された場合に、逆方向の画像とを比較する第２の
比較を行い、前記第１の比較結果と第２の比較結果の何
れに近似しているかの判断を行い、第１の比較に近似し
ている場合にはＯＫ、第２の比較に近似している場合に
はＮＧを出力するようにしたものである。
【００２２】なお、前記した実施の形態にあっては、基
準画像メモリ３にチップ部品Ｃにおける極性マークＣ1
の正逆方向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と検
査画像メモリ４に記憶された検査画像とを比較したもの
について説明したが、基準画像メモリ３には１つのチッ
プ部品Ｃの画像のみを記憶し、この画像と検査画像メモ
リ４に記憶した画像との比較を行い、その結果が近似し
ていないと判定した場合に、図１の仮想線で示す画像反
転部８によって検査画像メモリ４よりの画像を反転し、
この反転した画像と基準画像との比較を行い、前記２回
の比較結果において何れに近似しているかによってチッ
プ部品Ｃが正常に実装されているか否かを判別するよう
にしてもよい。
準画像メモリ３にチップ部品Ｃにおける極性マークＣ1
の正逆方向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と検
査画像メモリ４に記憶された検査画像とを比較したもの
について説明したが、基準画像メモリ３には１つのチッ
プ部品Ｃの画像のみを記憶し、この画像と検査画像メモ
リ４に記憶した画像との比較を行い、その結果が近似し
ていないと判定した場合に、図１の仮想線で示す画像反
転部８によって検査画像メモリ４よりの画像を反転し、
この反転した画像と基準画像との比較を行い、前記２回
の比較結果において何れに近似しているかによってチッ
プ部品Ｃが正常に実装されているか否かを判別するよう
にしてもよい。
【００２３】また、前記した実施の形態はチップ部品に
おける極性マークの方向が正しいか否かを検査する方法
について説明したが、チップ部品のみならずＩＣ等のよ
うに取付方向が予め規定されている電子部品の取付方向
を検査するものにも応用できることは勿論である。
おける極性マークの方向が正しいか否かを検査する方法
について説明したが、チップ部品のみならずＩＣ等のよ
うに取付方向が予め規定されている電子部品の取付方向
を検査するものにも応用できることは勿論である。
【００２４】
【発明の効果】本発明は前記したように、被検査電子部
品の基準マークの濃度が薄い等の如く基準マークの向き
が判別しにくい場合に、基準画像メモリに正方向と逆方
向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と被検査電子
部品の画像とを比較し、あるいは、基準画像メモリには
１つの画像を記憶し、検査画像メモリで記憶した画像
と、この画像を反転した画像との比較を行い、何れの比
較結果が近似しているかで基準マークの方向を判別する
ようにしたので、基準マークの濃淡および基準マーク以
外の印刷があったとしても、確実に基準マークの方向を
検出することができる。
品の基準マークの濃度が薄い等の如く基準マークの向き
が判別しにくい場合に、基準画像メモリに正方向と逆方
向の２つの画像を記憶し、この２つの画像と被検査電子
部品の画像とを比較し、あるいは、基準画像メモリには
１つの画像を記憶し、検査画像メモリで記憶した画像
と、この画像を反転した画像との比較を行い、何れの比
較結果が近似しているかで基準マークの方向を判別する
ようにしたので、基準マークの濃淡および基準マーク以
外の印刷があったとしても、確実に基準マークの方向を
検出することができる。
【００２５】また、前記検査において、基準画像メモリ
内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較におい
てＮＧとなった場合に、逆方向画像との比較を行って前
記何れに近似しているかの判別を行うようにしたので、
一般的に正規の方向に実装されることが多い電子部品の
検査時間を短縮することが可能である等の効果を有する
ものである。
内の正方向画像との比較を第１に行い、この比較におい
てＮＧとなった場合に、逆方向画像との比較を行って前
記何れに近似しているかの判別を行うようにしたので、
一般的に正規の方向に実装されることが多い電子部品の
検査時間を短縮することが可能である等の効果を有する
ものである。
【図１】本発明に係る電子部品の取付方向検査方法を実
施するためのブロック図である。
施するためのブロック図である。
【図２】第１の動作を示すフローチャート図である。
【図３】比較器における比較状態を説明するためのチッ
プ部品の平面図である。
プ部品の平面図である。
【図４】第２の動作を示すフローチャート図である。
【図５】(a) は濃度差が小さい場合の、(b) は図柄上の
相違が小さい場合のチップ部品表面の状態を示す平面図
である。
相違が小さい場合のチップ部品表面の状態を示す平面図
である。
Ｐ プリント基板 Ｃ チップ部品（電子部品） Ｃ1 極性マーク（基準マーク） １ Ｘ−Ｙステージ ２ テレビカメラ ３ 基準画像メモリ ４ 検査画像メモリ ５ 画像比較器 ６ ＣＰＵ ７ Ｘ−Ｙステージ制御部 ８ 画像反転部
Claims (3)
- 【請求項１】 基準となる基準マークを有する電子部品
における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基
準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を
検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶さ
れた被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリに記
憶された前記２つの基準画像とを比較器で比較して、被
検査電子部品の画像が前記２つの基準画像の何れに近似
しているかで基準マークの方向を判別するようにしたこ
とを特徴とする電子部品の取付方向検査方法。 - 【請求項２】 基準となる基準マークを有する電子部品
における前記基準マークの方向が異なる２つの画像を基
準画像メモリに記憶し、また、被検査電子部品の画像を
検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記憶さ
れた被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ内の
正方向画像との比較を第１に行い、この比較において判
別が困難な場合に、基準画像メモリ内の逆方向画像との
比較を行い、何れに近似しているかの判別を行うように
したことを特徴とする電子部品の取付方向検査方法。 - 【請求項３】 基準となる基準マークを有する電子部品
の画像を基準画像メモリに記憶し、被検査電子部品の画
像を検査画像メモリに記憶し、この検査画像メモリに記
憶された被検査電子部品の画像と、前記基準画像メモリ
に記憶された基準画像とを比較器で比較し、この比較結
果において近似していないと判別した場合に、前記検査
画像メモリに記憶されている画像を反転し、前記基準画
像メモリの基準画像とを前記比較器で比較し、前記２つ
の比較において何れに近似しているかの判別を行うよう
にしたことを特徴とする電子部品の取付方向検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20185396A JP3771329B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 電子部品の取付方向検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20185396A JP3771329B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 電子部品の取付方向検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1051199A true JPH1051199A (ja) | 1998-02-20 |
| JP3771329B2 JP3771329B2 (ja) | 2006-04-26 |
Family
ID=16447976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20185396A Expired - Fee Related JP3771329B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 電子部品の取付方向検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3771329B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG101468A1 (en) * | 2000-12-20 | 2004-01-30 | Seagate Technology Llc | Automatic optical inspection of printed circuit board packages with polarity |
| WO2006079193A1 (en) * | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Sterner Automation Limited | System and method for guidance of assembly of electronic components |
| JP2008215955A (ja) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Asahi Breweries Ltd | 逆さ缶検出装置 |
-
1996
- 1996-07-31 JP JP20185396A patent/JP3771329B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG101468A1 (en) * | 2000-12-20 | 2004-01-30 | Seagate Technology Llc | Automatic optical inspection of printed circuit board packages with polarity |
| WO2006079193A1 (en) * | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Sterner Automation Limited | System and method for guidance of assembly of electronic components |
| US7250750B2 (en) | 2005-01-28 | 2007-07-31 | Apps Leonard D | System and method for testing and orientation of components for assembly |
| JP2008215955A (ja) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Asahi Breweries Ltd | 逆さ缶検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3771329B2 (ja) | 2006-04-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5253306A (en) | Method of matching patterns and apparatus therefor | |
| KR101022187B1 (ko) | 기판 검사 장치 | |
| JP3771329B2 (ja) | 電子部品の取付方向検査方法 | |
| KR100819803B1 (ko) | 솔더 페이스트 검사 방법 | |
| JPH1086322A (ja) | クリームハンダ印刷検査方法およびその装置 | |
| JPH05198999A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPH02251714A (ja) | 実装極性部品の極性検査方法および実装基板外観検査方法 | |
| US6603875B1 (en) | Pattern inspection method, pattern inspection apparatus, and recording medium which records pattern inspection program | |
| JPH095022A (ja) | 画像認識によるパターン位置出し方法及び装置 | |
| JPH10227622A (ja) | リードの検査方法及びリード検査装置 | |
| KR19980072951A (ko) | 인쇄회로기판의 크림 솔더 도포상태 오류 검사장치 및 방법 | |
| JPH04121646A (ja) | 電子部品極性検査装置 | |
| JP2701660B2 (ja) | 実装部品検査データ作成装置 | |
| JP2000249517A (ja) | 実装部品の部品間検査方法およびその装置 | |
| JPH04357444A (ja) | プリント基板の検査装置 | |
| KR19980014808A (ko) | 인쇄회로기판의 검사시스템 및 그 검사방법 | |
| JPH0618237A (ja) | クリーム半田印刷検査装置 | |
| JPH0328744A (ja) | プリント基板のパターン検査方法 | |
| JPH05259700A (ja) | 回路基板検査装置 | |
| JPS61278706A (ja) | パタ−ン外観検査装置のマスキング機構 | |
| JP3105352B2 (ja) | クリーム半田印刷検査装置 | |
| JPH1089933A (ja) | 基板の検査方法及び基板検査装置及びｌｓｉ実装基板の製造方法 | |
| JPS59102106A (ja) | 検査方式 | |
| JPH05113409A (ja) | 装着後部品位置検査装置 | |
| JPH05113410A (ja) | クリーム半田印刷検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051027 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051108 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051222 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060131 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060209 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110217 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120217 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120217 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140217 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |