JPH10507003A - 寸法測定システム - Google Patents
寸法測定システムInfo
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- JPH10507003A JPH10507003A JP8536701A JP53670196A JPH10507003A JP H10507003 A JPH10507003 A JP H10507003A JP 8536701 A JP8536701 A JP 8536701A JP 53670196 A JP53670196 A JP 53670196A JP H10507003 A JPH10507003 A JP H10507003A
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Abstract
(57)【要約】
本発明は、運転しているコンベア上を移動している物体を収容するために必要とされるボックスの最小の寸法を決定する寸法測定システムを提供する。寸法測定システムは、反射鏡を備えたホイールによって移動される走査ビームを発生する光源から構成されている。その視野が運動している走査ビームを追跡するライン走査カメラは、走査ビームのイメージを受取り、走査された物体の3次元ボックス構造を計算するために処理された信号を出力する。
Description
【発明の詳細な説明】
寸法測定システム
発明の分野
本発明は、物体の寸法を決定する装置に関する。特に、それは物体を収容する
ために必要とされる最小の寸法のボックスを決定する寸法測定装置に関する。特
に、本発明は運転しているコンベア上の物体の寸法を正確に決定するパッケージ
分類および取扱い用の自動寸法測定システムに関する。
従来技術の概要
輸送業界において、コストを削減し、取扱われるパッケージ量を増加するため
に、自動パッケージ処理が強く要望されている。これは、バーコードラベル付け
による自動パッケージ識別と、ラベルを識別してパッケージの経路を定めるスキ
ャナによる自動分類によって行われる。典型的にパッケージ分類は、パッケージ
の寸法に基づいて行われる。輸送業では、送料はパッケージの寸法、重量および
送り先と直接関連している。したがって、正しいパッケージ寸法の効率的な決定
は、スループットおよび料金計算の両方にとって特に重要である。
パッケージの3次元表現を行う自動システムを提供するためにある改良が為さ
れてきてはいるが、既知のシステムは複雑で高価である。パッケージ寸法を得る
ためのいくつかの既知のシステムが存在する。米国特許第5,193,120号
明細書に記載されている1つのシステムは、測定されるべき物体上にコリメード
された光のラインを投射する光源を使用する。ビデオカメラを使用する映像シス
テムは、物体のプロフィールが視覚化されることができるように構成された光に
関して角度を付けて物体を見る。ビデオ信号は、物体の3次元表現量を光のライ
ンに基づいて計算するように処理される。
物体の高さを決定する装置は、米国特許第4,929,843号明細書に記載
されている。このシステムは、コンベア表面を横切ってラスター走査されるレー
ザビームを使用して光の線条を生成する。限定された視野を有するテレビジョン
カメラは、光の線条の見掛け上の位置を物体の高さに基づいて移動させる角度で
物体を見る。
既知のシステムは、物体の高さを獲得し、または3次元表現を実施するために
使用されることができるが、両システムは物体領域をある角度で見て、濾波およ
び処理が為されなければならない大きいアナログ信号を生成する。効率を高め、
かつ寸法測定システムのコストを削減するために、物品がコンベアで運ばれてい
るときにその物品を正確かつ高速に表現する安価で自動化された手段を有するこ
とが望ましい。この目的は、処理される視覚データ量を減少することによって達
成されることができる。
発明の要約
本発明は、移動しているコンベア上を走行している物体を収容するために必要
とされる最小の寸法のボックスを決定する寸法測定システムを提供する。寸法測
定システムは、反射鏡を備えたホイールによって移動される走査ビームを発生す
る光源から構成されている。その視野もまた反射鏡を備えたホイールによって移
動されるライン走査カメラが、走査ビームのイメージを受取り、走査された物体
の3次元ボックス構造を計算するために処理される直列アナログ波形を出力する
。複雑な曲線を有する物体にはさらに処理することが必要とされる。
本発明の目的は、運転しているコンベアベルト上の3次元物体を走査して、こ
の物体を収容することのできるボックスを計算する寸法測定システムを提供する
ことである。
このシステムの他の目的および利点は、ここに記載の好ましい実施形態の詳細
な説明から当業者に明らかになるであろう。
図面の簡単な説明
図1は、コンベアの上方に位置された寸法測定システムの斜視図である。
図2は、図1のライン2−2に沿った断面図である。
図3は、図1のライン3−3に沿って見た図である。
図4は、図1のライン4−4に沿って見た図である。
図5は、オフセット距離が測定され方法、および物体の高さが計算される方法
を示した説明図である。
図6は、システムのブロック図である。
図7は、収容工程のフローチャートである。
図8Aは、収容工程において第1の4個の点がどのようにして決定されるかを
示す。
図8Bは、収容工程において第2の4個の点がどのようにして決定されるかを
示す。
図8Cは、収容工程においてボックス構造がどのようにしてボックス形状に形
成されるかを示す。
図8Dは、試験物体フェーズを示す。
図9は、寸法測定システムの別の実施形態の斜視図である。
図10は、寸法測定システムの第2の別の実施形態の斜視図である。
好ましい実施形態の説明
以下、図面を参照して好ましい実施形態を説明する。各図面を通して同じ符号
は同じ素子を表している。
図1において、本発明による寸法測定システム15が示されている。寸法測定シ
ステム15は、物体14を運ぶコンベア部分12の上方に位置されている。寸法測定シ
ステム15は、本体10およびパラボラ反射面26から構成されている。寸法測定シス
テムは、物体14を運ぶコンベア部分12の上方のスタンド16に取付けられている。
本体10は、通常の手段によってシート状金属または鋳造プラスチックから形成さ
れたハウジング18に収容されている。寸法測定システム15に含まれた素子を示す
ためにハウジング18は一部分しか示されていない。
寸法測定システム15は、ハウジング18に取付けられたレーザダイオードおよび
レンズ装置20から構成されている。レーザ装置20はコヒーレントなコリメートさ
れたビーム21を生成し、このビームが六面のマルチファセット反射鏡を備えたホ
イール22に導かれる。反射鏡を備えたホイール22はモータ24によって駆動され、
回転している反射鏡ホイール22からビーム21が反射されるにつれて、このビーム
21が移動する。これは、図に21a,21bおよび21cで表されている一連の連続ビ
ームを生成する。一連のビーム21a,21bおよび21cは高品質のパラボラ反射面
26に導かれ、この反射面26がこれら一連のビーム21a,21bおよび21cを反射し
、
進行方向に対して垂直なコンベアベルト表面13の走査画像を生成する。
図4に図示されているように、パラボラ反射面26は、反射鏡ホイール22から平
行なビーム21a′,21b′および21c′を生成し、コンベアベルト13にそれらを
導くために使用される。反射鏡ホイール22は、パラボラ反射面26の焦点に位置さ
れている。レーザビーム21が反射鏡ホイール22からベルト13に直接移動される場
合には、走査ビームが点光源から放射し、隣接している物体からの影を互いに投
じる。走査ビームを上方からの平行なものにすることによって、影は生じない。
好ましい実施形態において、レーザダイオード/レンズ装置は、6.24mm
の焦点距離を有する非球面ガラスレンズを備えた三菱35mW、690nmのレ
ーザダイオードである。図1を再度参照すると、モータ24およびモータ制御回路
25は、モータドリフトを最小にするように設計されている。好ましい実施形態に
おいて、モータ速度は一定して533rpmである。
CCD(電荷結合素子)ライン走査カメラ30は、ハウジング18に取付けられて
おり、反射鏡ホイール22に向けられている。カメラ30は、ライン視野42を有して
いる。反射鏡ホイール22が回転するにしたがって、ライン視野42は一連の走査ビ
ーム21a,21bおよび21cと共に対応した位置(42a,42bおよび42cで示され
ている)に向けられる。カメラ30は、ハウジング18に取付けられた論理プロセッ
サ35に直列アナログ信号を出力する。
レーザ装置20、カメラ30、反射鏡ホイール22およびパラボラ反射面26の幾何学
的配置は、図2乃至4に詳細に示されている。レーザ装置20およびカメラ30は、
反射鏡ホイール22の軸に平行な平面上に取付けられる。図3に示されているよう
に、レーザ装置20およびカメラ30は互いに角度θだけオフセットされており、こ
の角度はほぼ5°である。θは、レーザビーム21の中心とカメラ30の視野42の中
心軸44との間の角度を測定することによって規定される。
図2および4に示されているように、反射鏡ホイール22はパラボラ反射面26を
横切ってレーザビーム21を掃引し、この掃引されたビーム21はほぼ90°にわた
ってパラボラ反射面26を照射する。パラボラ反射面26は、レーザビーム21を反射
して一連の平行なビーム21a′,21b′および21c′を発生させる。
カメラの視野42は、レーザビーム21と同じ平面において整列され、反射鏡ホイ
ール22に導かれる。図2に示されているように、視野42の中心軸44はコンベア表
面に対して垂直になるようにパラボラ反射面26によって反射される。パラボラ反
射面26による反射後の平行なレーザビーム21′の角度は、カメラの視野42の中心
軸44からθのままである。
所定の点における物体14の高さは、角度θを使用して三角測量で測定される。
コンベアの上方におけるレーザビーム21′と垂直なカメラの視野42との間のオフ
セット角θは、レーザビームがコンベア表面と垂直に交差する交差点40aとレー
ザビーム21が物体14を照射した時の映像点40bとの間に水平オフセットdを生成
する。図5に示されているように、オフセットdはカメラ30の線形視野42によっ
て捕捉される。交差点40aと映像点40bとが同じ場合、すなわち物体が存在しな
い場合、イメージはCCD線形アレイの一方の端部d0に位置するように方向付
けられる。物体が走査ビーム21の下方を移動していくにしたがって、映像点40b
はコンベアベルト上のそのディスクリートな点での物体の高さに基づいてCCD
アレイの他方の端部に向かって移動される。以下、d0からの距離であるオフセ
ットdの計算をさらに詳細に示す。
カメラ30の出力は、図6に示されているA/D(アナログデジタル)変換器32
の入力に供給される。A/D出力は、レーザスポットの位置に対応した2進デジ
タルパルスである。
好ましい実施形態において、ライン走査カメラ30は、ダルサ(Dalsa)モデルC
L−C3である。レンズは170mmの焦点距離を有する。被写界深度が36イ
ンチを越える状態に焦点を維持するために、CCDアレイはレンズを通った中間
平面に関する角度で傾斜されている。傾斜角度は、シャインプフルーグ条件を使
用して決定される。角度は、レンズの焦点距離と物体の平面角度とに依存してい
る。物体の平面角度はレンズに向かって投射される。レンズの中間平面は、物体
平面の延長線と交差するように延長される。同様に、イメージ平面のラインは、
同じ点で交差するように延長される。3つのラインが交差するために、イメージ
平面は角度を付けられなければならない。3つの延長線の交差する角度がシャイ
ンプフルーグ角度である。角度的な関係は、コンベア上の物体と、反射された光
路と、レンズおよびCCDアレイとの間の空間的な関係および方向によって得ら
れる。したがって、CCDアレイは、物体サンプル点がCCDアレイの活性領域
上に結像されるように少しオフセットされなければならない。シャインプフルー
グ条件の使用は、被写界深度全体に対する小さい反射レーザスポットサイズを可
能にする。
CCDアレイは512個の画素を含んでいる。最大走査高は36インチであり
、それは1画素当り0.07インチの解像度が得られる。カメラ30は、画素を積
分し、その積分後にクロックアウトするのに28乃至55マイクロ秒を必要とす
る。28マイクロ秒は信号をクロックアウトする最小時間である。
カメラ制御回路は、画素クロックおよびサイクルクロックから構成されている
。サイクルクロックは、積分時間を制御し、画素クロックは画素がクロックアウ
トされる速度を制御する。サイクルクロックは、走査ゼロ(コンベアベルト端)
からスタートしてコンベアベルト面を横切って移動する(0.25インチの増分
で)につれて、240のパルスを生じる(1走査ごとに)ように走査と同期され
る。直列データ流の入力を可能にするように、画素クロックがA/D変換器と同
期される。
図6には、寸法測定システム15のブロック図が示されている。平行な光を出力
し、かつ反射光を受取るために必要な素子については上述されている。
カメラ30が反射光を受取った後、CCD感光画素は、露光の強度に比例した電
荷を累積する。出力は、電圧が反射光の強度に比例するアナログ波形である。レ
ーザースポットは、ガウス分布によりモデル化されることができる。それはその
後プロセッサ35に入力される。
プロセッサ35は、カメラ30からアナログ信号を受取ってデジタル信号を出力す
るA/D変換器32から構成されている。変換器は、カメラ30からのアナログ波形
をデジタル化するために固定レベルの比較回路を使用する。A/D処理の第1段
階では、入来した信号が濾波されて望ましくない雑音を除去され、増幅される。
次の段階は、可変利得を与えられる。最後の段階において、2進出力パルスを生
成するA/D変換が行われる。
論理回路板34は、A/D変換器32から2進信号を受取る。この信号は、カメラ
30におけるCCDアレイによって検出された反射イメージ点に対応した単一パル
スである。スキャナから出力されたLVAL(カメラがその画素をクロックアウ
トしていることを示す信号)が高く設定された場合、その前縁はレーザースポッ
トパルスまでの距離を測定する開始点として使用される。2個の12ビット、6
0MHzのカウンタがLVAL信号の立上りエッジでスタートする。第1のカウ
ンタは、レーザービームイメージ点40bを示すレーザースポットパルスの前縁で
停止され、メモリに記憶され、また第2のカウンタは信号の立下りエッジで停止
され、メモリに記憶される。プロセッサ35はエッジ値の間の差を計算し、これが
レーザービームイメージ点40bの中心を表す。この数は、レーザービームイメー
ジ点40bがコンベア交差点40aから離れている距離dに変換される。この距離d
および角度θを使用して、ボックスの高さが計算される。
高さhは簡単な三角方程式:
h=d/tanθ (式 1)
を使用して論理回路板34によって計算される。
この関係は、1つの工程で距離へのカウンタの変換によりグループ化されるこ
とができる。各点に対してこれを行うことによって、中心カウントが高さに直接
変換されることができる。検索表を生成することによって、処理時に装置の間で
生じたどのような変化でも較正されることができる。
距離dが測定されるたびに、高さhがそのディスクリートな点で計算される。
ビームイメージ点は、好ましくは0.25インチのインターバルでコンベア12を
横切って走査が進行しているときに、その測定が行われる。これによって、1走
査画像ごとに240個のディスクリートなサンプルイメージ点が生成される。タ
コメータ37がコンベアベルト速度を測定し、走査周波数に基づいて走査間の距離
が計算される。
各サンプルイメージ点は、x,y,z成分からなる。x成分は、タコメータパ
ルスをカウントすることによって得られたディスクリートな0.0625インチ
の増分での距離である。y成分は、コンベアの走査ゼロの側部からのディスクリ
ートな0.25インチの増分での距離である。z成分は、レーザー・カメラの相
互作用によって測定された時のベルトからパラボラ反射面への0.0625イン
チの増分での物体の高さhである。
図7のフロー図に示されているように、データは、獲得される(ステップ50)
と、ボックスの構造を限定するために処理される。走査が終了した後、240個
のサンプル点からのデータがソフトウェア中の予備プロセッサ機能に供給される
(ステップ51)。予備プロセッサの目的は、カメラからの生の高さデータを0.
07インチの増分に変換し、較正された収差をデータから除去することである。
例えば、サンプルイメージ点の数5が平均より常に2カウント大きい場合、サン
プル5に含まれているデータは2カウントだけ低下される。
予備プロセッサがデータを正規化してしまうと、それはラン・レングスエンコ
ーダモジュールに供給される(ステップ52)。ラン・レングスエンコーダは、2
40個のディスクリートな高さサンプルを取って、全体的な走査画像を多数のラ
インセグメントに変換する。ラインセグメントは、同一走査線上に存在する類似
したゼロでない高さを有する隣接したサンプルイメージ点のグループから構成さ
れている。各ラインセグメントは、コンベアベルト上のその開始位置、長さおよ
び高さによって限定される。ラインセグメントはもはやディスクリートなもので
はなく、それらの成分はそれらを形成しているディスクリートな点の平均である
。フロー図に示されているように、データが得られ、予備処理されると、ライン
セグメントは収集フェーズに送られる。データ収集フェーズ中、入来したライン
セグメントは前に採取されたラインセグメントに対するそれらの位置にしたがっ
て特定のボックス構造に割当てられる。
収集フェーズ(ステップ53)中、個々のラインセグメントは、1以上の物体の
情報を含んでいてもよい。第2の物体のデータが前に採取されたデータ中の傾向
により明らかである場合、ラインセグメントは2つのラインセグメントに分割さ
れ、正常に割当てられる。ラインセグメントが分割されることができない場合、
それは最も近く整合するボックス構造に通常割当てられ、したがってこのボック
ス構造が1以上の物体の情報を含むものとなり、後で分割フェーズ(ステップ54
)および検査物体フェーズ(ステップ64)がこの余分な情報を取除かなければな
らない。
特定のデータ収集期間中、ボックス構造がラインセグメントを1つも受取らず
、現在の走査線中に物体が存在しないことを示した場合、そのボックス構造は分
割
フェーズに送られる。
分割フェーズ(ステップ54)中、ソフトウェアはボックス構造によって限定さ
れたイメージの外側エッジを検査する。分割モジュールがボックス構造に含まれ
ているラインセグメントの勾配の急激な変化を認識した場合、モジュールはこの
ボックス構造を多数のボックス構造に解体する。これらの各ボックス構造は、勾
配が誤って解釈された元のボックス構造を再構成するためのタグ情報を含んでい
る。このデータは全てデータ減少ユニットに送られる。
データ減少ユニットフェーズ(ステップ56)中、較正されたボックス構造イメ
ージのエッジに接しない全てのラインセグメントは削除される。これは、終点が
前または次の走査ラインセグメントの終点に接しない、またはそれを越えない任
意のラインセグメントを削除することによって達成される。これは、収容フェー
ズ中の処理時間を短縮する。
収容フェーズ(ステップ58)は、イメージ化された物体を最小のボックス構造
内に収容する。物体を収容するために、第1の辺の角度方向が決定されなければ
ならず、その後、内部面積が最小化され、かつラインセグメントを全て含むよう
に2つの直交する辺と、対向した平行な辺とが計算される。第1の辺の角度方向
を決定するために、ボックス構造を含むラインセグメントデータから点が限定さ
れる。
図8Aに示されているように、T点は、ボックス構造における第1のラインセ
グメントの始点であり、最小の[x]値を有する。B点は最後のラインセグメン
トの終点である。R点は走査ゼロの点に最も近いラインセグメントの始点であり
、すなわち最小の[y]値を有する。L点は、走査ゼロの点から最も遠いライン
セグメントの終点であり、すなわち最大の[y]値を有する。
これらの4点TR,RB,BLおよびLTが決定された後、ラインセグメント
が計算される。基準として、ボックス構造の中心が最大および最小のxおよびy
値の間の中間点として選択される。
は、それらがボックス構造を限定する個々のラインセグメントを全て収容するま
で中心から接線方向に移動される。計算された接線の各ラインがボックス構造の
ラインセグメントに接する最後のサンプル点は、4個の新しい点;TR,RB,
BLおよびLTを限定する。
収容フェーズの最終部分は、それ自身の角度方向をそれぞれ有する16個のラ
インの、8個の点による限定を伴う。第1のエリアは、隣接する点;TとTR、
TRとR、RとRB等のそれぞれの間に1つづつ限定される8個のラインから成
る。第2の8個のラインは、1つおきの点;TRとRB、RBとBL、BLとL
T等や、TとR、RとB、BとL等の間に1つづつ限定される。
計算された各ラインは、コンベアの幅および走行する長さに関する角度を限定
する。例えば、図8Cに示されている点BLとLによって限定されるラインに関
して、決定されたラインであって、それがサンプル点に接するまでボックス構造
の外側から内に向かって移動されたラインBL−Lに平行な、誇張されたライン
Aが計算される。ラインAに平行なラインBが計算され、Aに対向する辺から内
に向かって移動される。ラインA,Bに垂直な2個の付加的なラインCおよびD
が計算され、ボックス構造をボックス形状に形成するように内に向かって移動さ
れる。この操作は、上述のように計算された16個のラインのそれぞれに対して
行われる。ボックス構造を収容する計算された最小面積は、次のフェーズに出力
される。
エッジ点の全ておよびボックスを限定するライン内の面積に基づいてボックス
構造の面積を計算することによって検査が行われる。2つの面積がほぼ等しい(
ステップ59)場合、ボックスは終了され、そうでなければボックスは再処理フェ
ーズに送られる。
再処理フェーズ(ステップ60)中、隣接したセグメントに類似していない(ス
テップ62)無関係のラインセグメントは、それらが隣接したデータと整合するま
で調節される。ボックス構造は収容フェーズに戻される。ボックス構造が前に再
処理フェーズを経ている場合、それは検査物体フェーズに送られる。
検査物体フェーズ(ステップ64)はデータを試験し、走査された物体のシルエ
ット画像を再生する。図8Dに示されているように、このフェーズに到達したボ
ックス構造は、不規則的に成形された物体、別の物体に接している物体、或は標
準的なプロセスが正確にそれらを収容することができないやり方で配置された物
体のものである。このフェーズのプロセスによって、タイヤや、別個の物体が接
した状態で複雑な構造をなしているものが適切に収容されることが可能になる。
この方法の検査物体フェーズは、ボックス構造の輪郭を生成し、これら輪郭を
試験してコーナーを探す。凹んだコーナー、およびボックス構造中に入りこんで
いるコーナーが認識される。コーナーはボックスの辺を形成するように結ばれ、
マッチした凹んだコーナーは、それらが満足する多数のボックス構造に分割され
るように結ばれる。新しい個々のボックス構造は、可能な限り小さい方形内に収
容される。
プロセスの最終的なステップは、ボックスデータが表示され、周辺装置に送信
される終了フェーズである(ステップ66)。
当業者は、収容プロセスが、既知のパラメータが存在する特定の適用に調節さ
れることが可能であることを認識するであろう。例えば、長方形のボックス形状
の物体だけが走査されることが分かっている場合、エッジ点の全てに基づいたボ
ックス構造の面積は、ラインが規定するボックスの面積にほぼ等しくなければな
らないため、ステップ59で行われた比較は高度な等しさに関する近似計算に基づ
いて行われることができる。さらに、走査されている全ての品物が均一の高さを
有していることが分かっているが、異なる品物が著しく異なった高さを有してい
る場合、ステップ54の分離フェーズは、同じ走査のセット内において発生する2
個のボックス構造の存在を決定する1つの方法としてラインセグメントの高さの
均一性における変化を探すように構成されてもよい。
ソフトウェアはまた反射鏡ホイールファセットにおけるオフセットと、反射鏡
ホイールとコンベアの表面との間の不均一な距離のために生じる測定された高さ
における変化とを補正する。図4に示されているように、走査ビーム長21aは、
走査ビーム長21bより大きい。この長さの差は、ソフトウェア中にプログラムさ
れた簡単な三角関数に従う。
論理回路板34上のメモリは、関連データおよび頻繁に使用されるプログラムコ
ードの一部分を記憶するように十分に大きい。好ましい実施形態において、4個
の256K×32SRAMモジュールが搭載されている。ソフトウェアを実行す
る好ましいプロセッサは、テキサス・インスツルメンツTMS320C30 C
MOSデジタル信号処理集積回路である。
エラーカウントは、サンプルが多数の転移のために除去されなければならなか
った回数を記録するように保持される。測定の品質もまた記録される。1から9
9までのスケールは、寸法が正確である信頼レベルを示す。寸法に関して疑念が
ある場合、それは低い数を割当てられる。この数は、寸法が請求書の作成に使用
される程十分に正確であるか否かを決定するためのしきい値として使用されるこ
とができる。
好ましい実施形態はパラボラ反射面26を使用しているが、別の実施形態は図9
に示されているようにレーザービームをコリメートするために透過ホログラム12
6を使用することが可能である。フレネルレンズはまた、互いにほぼ平行である
ように走査における個々のレーザービームをコリメートして、屈折させるために
使用されることができる。
平行な走査を近似するための2個のフラット反射鏡でパラボラ反射面26を置換
することもできる。走査画像は3つの部分に分割される。中央部分は、反射鏡ホ
イールからコンベアの中央部分に対する直接走査である。中央部分の幅は限定さ
れているため、影付けは最小化される。他の2つの走査部分がコンベアの外側部
分をカバーする。2個のフラット反射鏡は、回転している反射鏡ホイールの上方
で傾斜している。ほぼ平行な走査では、光が反射鏡に向かって上方に進行し、そ
の後コンベアのほうへ下方に反射される。フラット反射鏡は、パラボラの外側領
域を近似しており、中心部分が反射鏡ホイールからの直接走査画像によって置換
される。この装置において、付加的な反射鏡および分割された走査のために発生
した距離および角度変化を補正するために、ソフトウェアはさらに複雑になるこ
とが要求される。
平行な走査を近似するためにマルチファセットパラボラ面によってパラボラ面
26を置換することもできる。走査はディスクリートな部分に分割される。光は反
射鏡セグメントに向かって上方に進行し、その後ほぼ平行な走査でコンベアへ下
方に反射される。反射鏡ファセットは、真のパラボラ面を近似している。この装
置において、付加的な反射鏡のために生じた距離および角度変化を補正するため
に、ソフトウェアはさらに複雑になることが要求される。この別の実施形態にお
いて、走査ごとに479個のサンプルが獲得される。
走査中1以上の物体が存在する可能性がない場合には、反射面は不要である。
図10に示されているように、本体10が正確さを全く損なわずに単独で使用され
てもよい。システムの下方における物体が一度に1個である場合には、影付けは
生じ得ない。この状況において、平行な走査は不要であり、そのままの角走査が
好ましい実施形態となる。外部光学系は不要であり、システムのコストおよび寸
法を減少することができる。
好ましい実施形態において、ライン走査カメラを使用しているが、別の実施形
態ではPSD(位置感応性検出器)を使用することができる。PSDは、反射さ
れたレーザースポットが検出される箇所に関する電流を出力する。出力電流は、
係数となる輝度情報なしに位置を示すため、出力の処理が簡単化される。
本発明は好ましい実施形態との関連で説明されているが、当業者は、以下の請
求の範囲に大要を示された本発明の技術的範囲内にある他の変形を認識するであ
ろう。
【手続補正書】特許法第184条の8
【提出日】1997年5月1日
【補正内容】
明細書
寸法測定システム
発明の分野
本発明は、物体の寸法を決定する装置に関する。特に、それは物体を収容する
ために必要とされる最小の寸法のボックスを決定する寸法測定装置に関する。特
に、本発明は運転しているコンベア上の物体の寸法を正確に決定するパッケージ
分類および取扱い用の自動寸法測定システムに関する。
従来技術の概要
輸送業界において、コストを削減し、取扱われるパッケージ量を増加するため
に、自動パッケージ処理が強く要望されている。これは、バーコードラベル付け
による自動パッケージ識別と、ラベルを識別してパッケージの経路を定めるスキ
ャナによる自動分類によって行われる。典型的にパッケージ分類は、パッケージ
の寸法に基づいて行われる。輸送業では、送料はパッケージの寸法、重量および
送り先と直接関連している。したがって、正しいパッケージ寸法の効率的な決定
は、スループットおよび料金計算の両方にとって特に重要である。
パッケージの3次元表現を行う自動システムを提供するためにある改良が為さ
れてきてはいるが、既知のシステムは複雑で高価である。パッケージ寸法を得る
ためのいくつかの既知のシステムが存在する。米国特許第5,193,120号
明細書に記載されている1つのシステムは、測定されるべき物体上にコリメード
された光のラインを投射する光源を使用する。ビデオカメラを使用する映像シス
テムは、物体のプロフィールが視覚化されることができるように構成された光に
関して角度を付けて物体を見る。ビデオ信号は、物体の3次元表現量を光のライ
ンに基づいて計算するように処理される。
国際公開番号WO 94/27166に記載されている別のシステムは、ファ
ン状の形態において反射され、反射鏡を使用して平坦な表面に導かれるレーザー
ビームを使用している。レーザービームは高周波で発振され、元のビームと物体
の表面から反射された光との間の位相差から物体の高さが求められる。このシス
テムは、光ビームが物体までの距離を往復するために要する時間を計算する。可
動式往復台に取付けられたシステムは、物体の上を通過して、何回かの高さ測定
後に、物体の大きさを決定する。
米国特許第4,758,093号明細書には、ホログラフ走査機構を使用する
3次元測定システムが記載されている。プロジェクタ対カメラおよび相対角度に
基づいた三角測量が表面座標を計算する基礎をなす。
物体の高さを決定する装置は、米国特許第4,929,843号明細書に記載
されている。このシステムは、コンベア表面を横切ってラスター走査されるレー
ザビームを使用して光の線条を生成する。限定された視野を有するテレビジョン
カメラは、光の線条の見掛け上の位置を物体の高さに基づいて移動させる角度で
物体を見る。
既知のシステムは、物体の高さを獲得し、または3次元表現を実施するために
使用されることができるが、両システムは物体領域をある角度で見て、濾波およ
び処理が為されなければならない大きいアナログ信号を生成する。効率を高め、
かつ寸法測定システムのコストを削減するために、物品がコンベアで運ばれてい
るときにその物品を正確かつ高速に表現する安価で自動化された手段を有するこ
とが望ましい。この目的は、処理される視覚データ量を減少することによって達
成されることができる。
発明の要約
本発明は、移動しているコンベア上を走行している物体を収容するために必要
とされる最小の寸法のボックスを決定する寸法測定システムを提供する。寸法測
定システムは、反射鏡を備えたホイールによって移動される走査ビームを発生す
る光源から構成されている。その視野もまた反射鏡を備えたホイールによって移
動されるライン走査カメラが、走査ビームのイメージを受取り、走査された物体
の3次元ボックス構造を計算するために処理される直列アナログ波形を出力する
。複雑な曲線を有する物体にはさらに処理することが必要とされる。
本発明の目的は、運転しているコンベアベルト上の3次元物体を走査して、こ
の物体を収容することのできるボックスを計算する寸法測定システムを提供する
ことである。
このシステムの他の目的および利点は、ここに記載の好ましい実施形態の詳細
な説明から当業者に明らかになるであろう。
図面の簡単な説明
図1は、コンベアの上方に位置された寸法測定システムの斜視図である。
図2は、図1のライン2−2に沿った断面図である。
図3は、図1のライン3−3に沿って見た図である。
図4は、図1のライン4−4に沿って見た図である。
図5は、オフセット距離が測定され方法、および物体の高さが計算される方法
を示した説明図である。
図6は、システムのブロック図である。
ール22に導かれる。図2に示されているように、視野42の中心軸44はコンベア表
面に対して垂直になるようにパラボラ反射面26によって反射される。パラボラ反
射面26による反射後の平行なレーザビーム21′の角度は、カメラの視野42の中心
軸44からθのままである。
所定の点における物体14の高さは、角度θを使用して三角測量で測定される。
コンベアの上方におけるレーザビーム21′と垂直なカメラの視野42との間のオフ
セット角θは、レーザビームがコンベア表面と垂直に交差する交差点40aとレー
ザビーム21が物体14を照射した時の映像点40bとの間に水平オフセットdを生成
する。図5に示されているように、オフセットdはカメラ30の線形視野42によっ
て捕捉される。交差点40aと映像点40bとが同じ場合、すなわち物体が存在しな
い場合、イメージはCCD線形アレイの一方の端部d0に位置するように方向付
けられる。物体が走査ビーム21の下方を移動していくにしたがって、映像点40b
はコンベアベルト上のそのディスクリートな点での物体の高さに基づいてCCD
アレイの他方の端部に向かって移動される。以下、d0からの距離であるオフセッ
トdの計算をさらに詳細に示す。
カメラ30の出力は、図6に示されているA/D(アナログデジタル)変換器32
の入力に供給される。A/D出力は、レーザスポットの位置に対応した2進デジ
タルパルスである。
好ましい実施形態において、ライン走査カメラ30は、ダルサ(Dalsa)モデルC
L−C3である。レンズは、170mmの焦点距離を有する。被写界深度が91
4.4mm(36インチ)を越える状態に焦点を維持するために、CCDアレイ
はレンズを通った中間平面に関する角度で傾斜されている。傾斜角度は、シャイ
ンプフルーグ条件を使用して決定される。角度は、レンズの焦点距離と物体の平
面角度とに依存している。物体の平面角度はレンズに向かって投射される。レン
ズの中間平面は、物体平面の延長線と交差するように延長される。同様に、イメ
ージ平面のラインは、同じ点で交差するように延長される。3つのラインが交差
するために、イメージ平面は角度を付けられなければならない。3つの延長線の
交差する角度がシャインプフルーグ角度である。角度的な関係は、コンベア上の
物体と、反射された光路と、レンズおよびCCDアレイとの間の空間的な関
係および方向によって得られる。したがって、CCDアレイは、物体サンプル点
がCCDアレイの活性領域上に結像されるように少しオフセットされなければな
らない。シャインプフルーグ条件の使用は、被写界深度全体に対する小さい反射
レーザスポットサイズを可能にする。
CCDアレイは512個の画素を含んでいる。最大走査高は914.4mm(
36インチ)であり、それは1画素当り1.778mm(0.07インチ)の解
像度が得られる。カメラ30は、画素を積分し、その積分後にクロックアウトする
のに28乃至55マイクロ秒を必要とする。28マイクロ秒は信号をクロックア
ウトする最小時間である。
カメラ制御回路は、画素クロックおよびサイクルクロックから構成されている
。サイクルクロックは、積分時間を制御し、画素クロックは画素がクロックアウ
トされる速度を制御する。サイクルクロックは、走査ゼロ(コンベアベルト端)
からスタートしてコンベアベルト面を横切って移動する(6.35mm(0.2
5インチ)の増分で)につれて、240のパルスを生じる(1走査ごとに)よう
に走査と同期される。直列データ流の入力を可能にするように、画素クロックが
A/D変換器と同期される。
図6には、寸法測定システム15のブロック図が示されている。平行な光を出力
し、かつ反射光を受取るために必要な素子については上述されている。
カメラ30が反射光を受取った後、CCD感光画素は、露光の強度に比例した電
荷を累積する。出力は、電圧が反射光の強度に比例するアナログ波形である。レ
ーザースポットは、ガウス分布によりモデル化されることができる。それはその
後プロセッサ35に入力される。
プロセッサ35は、カメラ30からアナログ信号を受取ってデジタル信号を出力す
るA/D変換器32から構成されている。変換器は、カメラ30からのアナログ波形
をデジタル化するために固定レベルの比較回路を使用する。A/D処理の第1段
階では、入来した信号が濾波されて望ましくない雑音を除去され、増幅される。
次の段階は、可変利得を与えられる。最後の段階において、2進出力パルスを生
成するA/D変換が行われる。
論理回路板34は、A/D変換器32から2進信号を受取る。この信号は、カメラ
30におけるCCDアレイによって検出された反射イメージ点に対応した単一パル
【手続補正書】特許法第184条の8
【提出日】1997年7月30日
【補正内容】
図7のフロー図に示されているように、データは、獲得される(ステップ50)
と、ボックスの構造を限定するために処理される。走査が終了した後、240個
のサンプル点からのデータがソフトウェア中の予備プロセッサ機能に供給される
(ステップ51)。予備プロセッサの目的は、カメラからの生の高さデータを0.
07インチの増分に変換し、較正された収差をデータから除去することである。
例えば、サンプルイメージ点の数5が平均より常に2カウント大きい場合、サン
プル5に含まれているデータは2カウントだけ低下される。
予備プロセッサがデータを正規化してしまうと、それはラン・レングスエンコ
ーダモジュールに供給される(ステップ52)。ラン・レングスエンコーダは、2
40個のディスクリートな高さサンプルを取って、全体的な走査画像を多数のラ
インセグメントに変換する。ラインセグメントは、同一走査線上に存在する類似
したゼロでない高さを有する隣接したサンプルイメージ点のグループから構成さ
れている。各ラインセグメントは、コンベアベルト上のその開始位置、長さおよ
び高さによって限定される。ラインセグメントはもはやディスクリートなもので
はなく、それらの成分はそれらを形成しているディスクリートな点の平均である
。フロー図に示されているように、データが得られ、予備処理された後に、ライ
ンセグメントは収集フェーズに送られる。データ収集フェーズ中、入来したライ
ンセグメントは前に採取されたラインセグメントに対するそれらの位置にしたが
って特定のボックス構造に割当てられる。
収集フェーズ(ステップ53)中、個々のラインセグメントは、1以上の物体の
情報を含んでいてもよい。第2の物体のデータが前に採取されたデータ中の傾向
により明らかである場合、ラインセグメントは2つのラインセグメントに分割さ
れ、正常に割当てられる。ラインセグメントが分割されることができない場合、
それは最も近く整合するボックス構造に通常割当てられ、したがってこのボック
ス構造が1以上の物体の情報を含むものとなり、後で分割フェーズ(ステップ54
)および検査物体フェーズ(ステップ64)がこの余分な情報を取除かなければな
らない。
特定のデータ収集期間中、ボックス構造がラインセグメントを1つも受取らず
、現在の走査線中に物体が存在しないことを示した場合、そのボックス構造は分
割
フェーズに送られる。
分割フェーズ(ステップ54)中、ソフトウェアはボックス構造によって限定さ
れたイメージの外側エッジを検査する。分割モジュールがボックス構造に含まれ
ているラインセグメントの勾配の急激な変化を認識した場合、モジュールはこの
ボックス構造を多数のボックス構造に解体する。これらの各ボックス構造は、勾
配が誤って解釈された場合に元のボックス構造を再構成するためのタグ情報を含
んでいる。このデータは全てデータ減少ユニットに送られる。
データ減少ユニットフェーズ(ステップ56)中、較正されたボックス構造イメ
ージのエッジに接しない全てのラインセグメントは削除される。これは、終点が
前または次の走査ラインセグメントの終点に接しない、またはそれを越えない任
意のラインセグメントを削除することによって達成される。これは、収容フェー
ズ中の処理時間を短縮する。
収容フェーズ(ステップ58)は、イメージ化された物体を最小のボックス構造
内に収容する。物体を収容するために、第1の辺の角度方向が決定されなければ
ならず、その後、内部面積が最小化され、かつラインセグメントを全て含むよう
に2つの直交する辺と、対向した平行な辺とが計算される。第1の辺の角度方向
を決定するために、ボックス構造を含むラインセグメントデータから点が限定さ
れる。
図8Aに示されているように、T点は、ボックス構造における第1のラインセ
グメントの始点であり、最小の[x]値を有する。B点は最後のラインセグメン
トの終点である。R点は走査ゼロの点に最も近いラインセグメントの始点であり
、すなわち最小の[y]値を有する。L点は、走査ゼロの点から最も遠いライン
セグメントの終点であり、すなわち最大の[y]値を有する。
これらの4点T,R,BおよびLが決定された後、ラインセグメントが計算さ
れる。基準として、ボックス構造の中心が最大および最小のxおよびy値の間の
中間点として選択される。
は、それらがボックス構造を限定する個々のラインセグメントを全て収容するま
で中心から接線方向に移動される。計算された接線の各ラインがボックス構造の
ラインセグメントに接する最後のサンプル点は、4個の新しい点;TR,RB,
BLおよびLTを限定する。
収容フェーズの最終部分は、それ自身の角度方向をそれぞれ有する16個のラ
インの、8個の点による限定を伴う。第1のエリアは、TとTR、TRとR、R
とRB等の隣接する点のそれぞれの間で限定される8個のラインから成る。第2
の8個のラインは、TRとRB、RBとBL、BLとLT等や、TとR、RとB
、BとL等の1つおきの点の間で限定される。
計算された各ラインは、コンベアの幅および走行する長さに関する角度を限定
する。例えば、図8Cに示されている点BLとLによって限定されるラインに関
して、ラインBL−Lに平行な誇張されたラインAが計算され、それはサンプル
点に接するまでボックス構造の外側から内に向かって移動される。ラインAに平
行なラインBが計算され、Aに対向する辺から内に向かって移動される。ライン
A,Bに垂直な2個の付加的なラインCおよびDが計算され、ボックス構造をボ
ックス形状に形成するように内に向かって移動される。この操作は、上述のよう
に計算された16個のラインのそれぞれに対して行われる。ボックス構造を収容
する計算された最小面積は、次のフェーズに出力される。
エッジ点の全ておよびボックスを限定するライン内の面積に基づいてボックス
構造の面積を計算することによって検査が行われる。2つの面積がほぼ等しい(
ステップ59)場合、ボックスは終了され、そうでなければボックスは再処理フェ
ーズに送られる。
再処理フェーズ(ステップ60)中、隣接したセグメントに類似していない(ス
テップ62)無関係のラインセグメントは、それらが隣接したデータと整合するま
で調節される。ボックス構造は収容フェーズに戻される。ボックス構造が前に再
処理フェーズを経ている場合、それは検査物体フェーズに送られる。
検査物体フェーズ(ステップ64)はデータを試験し、走査された物体のシルエ
ット画像を再生する。図8Dに示されているように、このフェーズに到達したボ
ックス構造は、不規則的に成形された物体、別の物体に接している物体、或は標
準的なプロセスが正確にそれらを収容することができないやり方で配置された物
体のものである。このフェーズのプロセスによって、タイヤや、別個の物体が接
した状態で複雑な構造をなしているものが適切に収容されることが可能になる。
この方法の検査物体フェーズ(ステップ64)は、ボックス構造の輪郭を生成し
、これら輪郭を試験してコーナーを探す。凹んだコーナー、およびボックス構造
中に入りこんでいるコーナーが認識される。コーナーはボックスの辺を形成する
ように結ばれ、マッチした凹んだコーナーは、それらが満足する多数のボックス
構造に分割されるように結ばれる。新しい個々のボックス構造は、可能な限り小
さい方形内に収容される。
プロセスの最終的なステップは、ボックスデータが表示され、周辺装置に送信
される終了フェーズである(ステップ66)。
当業者は、収容プロセスが、既知のパラメータが存在する特定の適用に調節さ
れることが可能であることを認識するであろう。例えば、長方形のボックス形状
の物体だけが走査されることが分かっている場合、エッジ点の全てに基づいたボ
ックス構造の面積は、ラインが規定するボックスの面積にほぼ等しくなければな
らないため、ステップ59で行われた比較は高度な等しさに関する近似計算に基づ
いて行われることができる。さらに、走査されている全ての品物が均一の高さを
有していることが分かっているが、異なる品物が著しく異なった高さを有してい
る場合、ステップ54の分離フェーズは、同じ走査のセット内において発生する2
個のボックス構造の存在を決定する1つの方法としてラインセグメントの高さの
均一性における変化を探すように構成されてもよい。
ソフトウェアはまた反射鏡ホイールファセットにおけるオフセットと、反射鏡
ホイールとコンベアの表面との間の不均一な距離のために生じる測定された高さ
における変化とを補正する。図4に示されているように、走査ビーム長21aは、
走査ビーム長21bより大きい。この長さの差は、ソフトウェア中にプログラムさ
れた簡単な三角関数に従う。
論理回路板34上のメモリは、関連データおよび頻繁に使用されるプログラムコ
ードの一部分を記憶するように十分に大きい。好ましい実施形態において、4個
の256K×32SRAMモジュールが搭載されている。ソフトウェアを実行す
る好ましいプロセッサは、テキサス・インスツルメンツTMS320C30 C
MOSデジタル信号処理集積回路である。
エラーカウントは、サンプルが多数の転移のために除去されなければならなか
った回数を記録するように保持される。測定の品質もまた記録される。1から9
9までのスケールは、寸法が正確である信頼レベルを示す。寸法に関して疑念が
ある場合、それは低い数を割当てられる。この数は、寸法が請求書の作成に使用
される程十分に正確であるか否かを決定するためのしきい値として使用されるこ
とができる。
好ましい実施形態はパラボラ反射面26を使用しているが、別の実施形態は図9
に示されているようにレーザービームをコリメートするために透過ホログラム12
6を使用することが可能である。フレネルレンズはまた、互いにほぼ平行である
ように走査における個々のレーザービームをコリメートして、屈折させるために
使用されることができる。
平行な走査を近似するための2個のフラット反射鏡でパラボラ反射面26を置換
することもできる。走査画像は3つの部分に分割される。中央部分は、反射鏡ホ
イールからコンベアの中央部分に対する直接走査である。中央部分の幅は限定さ
れているため、影付けは最小化される。他の2つの走査部分がコンベアの外側部
分をカバーする。2個のフラット反射鏡は、回転している反射鏡ホイールの上方
で傾斜している。ほぼ平行な走査では、光が反射鏡に向かって上方に進行し、そ
の後コンベアのほうへ下方に反射される。フラット反射鏡は、パラボラの外側領
域を近似しており、中心部分が反射鏡ホイールからの直接走査画像によって置換
される。この装置において、付加的な反射鏡および分割された走査のために発生
した距離および角度変化を補正するために、ソフトウェアはさらに複雑になるこ
とが要求される。
平行な走査を近似するためにマルチファセットパラボラ面によってパラボラ面
26を置換することもできる。走査はディスクリートな部分に分割される。光は反
射鏡セグメントに向かって上方に進行し、その後ほぼ平行な走査でコンベアへ下
方に反射される。反射鏡ファセットは、真のパラボラ面を近似している。この装
置において、付加的な反射鏡のために生じた距離および角度変化を補正するため
に、ソフトウェアはさらに複雑になることが要求される。この別の実施形態にお
いて、走査ごとに479個のサンプルが獲得される。
走査中1以上の物体が存在する可能性がない場合には、反射面は不要である。
図10に示されているように、本体10が正確さを全く損なわずに単独で使用され
てもよい。システムの下方における物体が一時に1個である場合には、影付けは
生じ得ない。この状況において、平行な走査は不要であり、そのままの角走査が
好ましい実施形態となる。外部光学系は不要であり、システムのコストおよび寸
法を減少することができる。
好ましい実施形態において、ライン走査カメラを使用しているが、別の実施形
態ではPSD(位置感応性検出器)を使用することができる。PSDは、反射さ
れたレーザースポットが検出される箇所に関する電流を出力する。出力電流は、
係数となる輝度情報なしに位置を示すため、出力の処理が簡単化される。
本発明は好ましい実施形態との関連で説明されているが、当業者は、以下の請
求の範囲に大要を示された本発明の技術的範囲内にある他の変形を認識するであ
ろう。
請求の範囲
1.走査ビーム21が物体14を繰り返し交差するように、コンベア12を通って延在
する平面に関して角度θをなしている走査ビーム21をコンベア12を横切って移動
させる手段22を有している、運転しているコンベア12上で移動している物体14の
1以上の寸法を決定する装置15において、
前記平面に平行であり、かつビーム21と対応して移動するライン視野42を有し
ており、その反射されたイメージ42a,42b,42cを受取る検出手段と、
反射されたイメージ42a,42b,42cに基づいて物体14に対する複数のイメー
ジ点40bの高さhを計算する計算手段35とを具備していることを特徴とする寸法
決定装置15。
2.検出手段は、各イメージ点40bにおけるコンベア12に関する物体14の高さh
を表す信号を出力するライン走査カメラ30である請求項1記載の装置15。
3.さらに、信号を受信し、各イメージ点40bにおける高さhの値を計算し、そ
れによって高さデータを生成し、複数のイメージ点40bからのデータを記憶し、
この高さデータに基づいて物体14の3次元寸法の測定値を決定するプロセッサ35
を具備していることを特徴とする請求項2記載の装置15。
4.前記ライン走査カメラ30は、大きい被写界深度にわたって焦点を維持するた
めにシャインプフルーグ条件を使用し、
前記ライン走査カメラ30はレンズおよび検出器アレイを有し、
前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して、および選択された地点で限定
されたイメージ平面に関して固定した角度関係で取付けられ、
前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された地点を通過した物体14がコ
ンベア12に関して304.8mm(12インチ)以上の被写界深度にわたって焦
点を結ぶような前記角度関係を有している請求項2記載の装置15。
5.レンズおよび検出器アレイの配置は、結果的にコンベア12に関する被写界深
度を914.4mm(36インチ)以上にしている請求項4記載の装置15。
6.検出手段は、各イメージ点40bにおけるコンベア12に関する物体14の高さh
を表す電流を出力する位置感応性検出器である請求項1記載の装置15。
7.さらに、出力電流を受取り、各イメージ点40bにおける高さhの値を計算し
、
それによって高さデータを生成して、複数のイメージ点40bからのデータを記憶
し、この高さデータに基づいて物体14の3次元寸法の測定値を決定するプロセッ
サ35を具備していることを特徴とする請求項6記載の装置15。
8.位置感応性検出器は、大きい被写界深度にわたって焦点を維持するためにシ
ャインプフルーグ条件を使用し、
前記位置感応性検出器はレンズおよび検出器アレイを有し、
前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して、および前記選択された地点で
限定されたイメージ平面に関して固定した角度関係で取付けられ、
前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された地点を通過した物体14がコ
ンベア12に関して304.8mm(12インチ)以上の被写界深度で焦点を結ぶ
ような前記角度関係を有している請求項6記載の装置15。
9.レンズおよび検出器アレイの配置は、結果的にコンベア12に関する被写界深
度を914.4mm(36インチ)以上にしている請求項8記載の装置15。
10.選択された地点でコンベア12を横切って移動するビーム21a,21b,21c
を導く手段と、
移動するビーム21a,21b,21cの通路中にあり、角度走査からの光を実質的
に平行な移動ビーム21a′,21b′,21c′に変換する手段26とをさらに具備し
ていることを特徴とする請求項1記載の装置15。
11.前記平面に平行であり、かつ反射されたイメージ42a,42b,42cがコン
ベア12で生じた場合には、検出手段が基準位置d0で反射されたイメージ42a,4
2b,42cを受取るように整列されたライン視野42を導く手段を具備しており、
前記検出手段が、移動するビーム21a,21b,21cに沿った複数のイメージ点
40bを検出し、イメージ点40bに対応した信号を出力し、
信号を受信するプロセッサ35は、各イメージ点40bが基準位置d0からオフセ
ットされた距離dと、各イメージ点40bにおける物体の高さhとを計算し、複数
のイメージ点40bからのデータを記憶し、この高さデータに基づいて物体14の3
次元測定値を決定することを特徴とする請求項1記載の装置15。
12.各イメージ点40bにおける物体14の高さhは、公式:
h=d/(tan θ)
を使用して計算される請求項11記載の装置15。
13.前記導く手段および前記変換手段は、パラボラ表面26である請求項10ま
たは11記載の装置15。
14.前記導入手段および前記変換手段は、フレネルレンズであることを特徴と
する請求項10または11記載の装置15。
15.前記導く手段および前記変換手段は、ホログラフレンズ126である請求項
10または11記載の装置15。
16.前記導く手段および前記変換手段は、マルチファセットパラボラ表面であ
る請求項10または11記載の装置15。
17.前記検出手段は、各イメージ点40bにおけるコンベア12に関する物体14の
高さhを表す信号を出力するライン走査カメラ30である請求項11記載の装置15
。
18.前記ライン走査カメラ30は、大きい被写界深度にわたって焦点を維持する
ためにシャインプフルーグ条件を使用し、
前記ライン走査カメラ30はレンズおよび検出器アレイを有し、
前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して固定した関係で取付けられ、
前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された地点を通過した物体14がコ
ンベア12に関して304.8mm(12インチ)以上の被写界深度で焦点を結ぶ
ように選択された配置を有している請求項17記載の装置15。
19.検出手段は、各イメージ点40bにおける物体のコンベア12に関する物体14
の高さhを表す電流を出力する位置感応性検出器である請求項11記載の装置15
。
20.位置感応性検出器は、大きい被写界深度にわたって焦点を維持するために
シャインプフルーグ条件を使用し、
前記位置感応性検出器はレンズおよび検出器アレイを有し、
前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して固定した関係で取付けられ、
前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された地点を通過した物体14がコ
ンベア12に関して304.8mm(12インチ)以上の被写界深度で焦点を結ぶ
ように選択された配置を有している請求項15記載の装置15。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE,
DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L
U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF
,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,
SN,TD,TG),AP(KE,LS,MW,SD,S
Z,UG),UA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD
,RU,TJ,TM),AL,AM,AT,AU,AZ
,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,CZ,
DE,DK,EE,ES,FI,GB,GE,HU,I
S,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LK,LR
,LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK,MN,
MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,S
D,SE,SG,SI,SK,TJ,TM,TR,TT
,UA,UG,US,UZ,VN
(72)発明者 ロメイン、 ジョン・イー
アメリカ合衆国、ペンシルバニア州
18017、ベスレヘム、ロード・ブライオ
ン・ドライブ 3245
(72)発明者 マーティン、 デイビッド・エル
アメリカ合衆国、ニュージャージー州
08628、ウエスト・トレントン、センティ
ック・ドライブ 611
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.選択された位置を通ってコンベア上で移動している物体とビームが交差する ように、前記位置でコンベアを横切って反復的に移動する走査ビームを発生する 手段と、 移動しているビームと対応して移動するライン視野を有しており、ビームがコ ンベアを横切って移動するとき、この視野が複数の点で走査ビームの反射された イメージを受取る検出手段と、 受取られた反射イメージに基づいて各イメージ点におけるコンベアに関する物 体の高さを計算する手段とを具備していることを特徴とする運転しているコンベ ア上で移動している物体の寸法を決定する装置。 2.検出手段は、各イメージ点におけるコンベアに関する高さを表した信号を出 力するライン走査カメラである請求項1記載の装置。 3.さらに、信号を受信し、各イメージ点における高さの値を計算し、それによ って高さデータを生成して、複数のイメージ点からのデータを記憶し、そのデー タを比較して、前記選択された位置を通過した物体の3次元測定を行うプロセッ サを具備している請求項2記載の装置。 4.前記ライン走査カメラは、大きい被写界深度にわたって焦点を維持するため にシャインプフルーグ条件を使用し、 前記ライン走査カメラはレンズおよび検出器アレイを有し、 前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して固定した関係で取付けられ、 前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された位置を通過した物体がコン ベアに関して12インチ以上の被写界深度で焦点を結ぶように選択された配置を 有している請求項2記載の装置。 5.レンズおよび検出器アレイの配置は、結果的にコンベアに関する被写界深度 を36インチ以上にしている請求項4記載の装置。 6.検出手段は、各イメージ点における物体のコンベアに関する高さを表す電流 を出力する位置感応性検出器である請求項1記載の装置。 7.さらに、出力電流を受取り、各イメージ点における高さを計算し、それによ って高さデータを生成して、複数のイメージ点からのデータを記憶し、そのデー タを比較して、前記選択された位置を通過した3次元物体を生成するプロセッサ を具備している請求項6記載の装置。 8.位置感応性検出器は、大きい被写界深度で焦点を維持するためにシャインプ フルーグ条件を使用し、 前記位置感応性検出器はレンズおよび検出器アレイを有し、 前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して固定した関係で取付けられ、 前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された位置を通過した物体がコン ベアに関して12インチ以上の被写界深度で焦点を結ぶように選択された配置を 有している請求項6記載の装置。 9.レンズおよび検出器アレイの配置は、結果的にコンベアに関する被写界深度 を36インチ以上にする請求項8記載の装置。 10.移動ビームを生成するように反射鏡ホイールに導かれる光ビームを発生す る光源と、 選択された位置およびコンベア表面に関する予め定められた角度でコンベアを 横切って前記移動ビームを導く手段と、 角度走査から実質的に平行な走査に光を変換する移動している光ビームの通路 中の手段と、 ライン視野を有する検出手段と、 ライン視野が移動している光ビームと交差している状態で、前記予め定められ た角度からオフセットされたコンベア表面に対する角度方向で移動している光ビ ームにライン視野を導く手段とを具備しており、 前記検出手段が、信号を出力する移動ビームに沿った複数のイメージ点でイメ ージを受取り、信号を受信するプロセッサがビーム交差点のオフセット距離とイ メージ点における物体の高さを計算し、点の軌跡からのデータを記憶し、一連の 移動する走査からのデータを比較して、物体の3次元測定を行うことを特徴とす る運転しているコンベア上の移動している物体の寸法を決定する装置。 11.物体の高さデータhは、公式: h=d/(tan θ) を使用して計算され、ここでθは固定角であり、dは前記コンベア位置を通過し ている物体が存在しない時のイメージ点からのライン視野内のオフセット距離で ある請求項10記載の装置。 12.前記導く手段および前記変換手段は、選択された配置で取付けられたパラ ボラ表面である請求項10記載の装置。 13.前記導く手段および前記変換手段は、選択された配置で取付けられたフレ ネルレンズである請求項10記載の装置。 14.前記導く手段および前記変換手段は、選択された配置で取付けられたホロ グラフィックレンズである請求項10記載の装置。 15.前記導く手段および前記変換手段は、選択された配置で取付けられたマル チファセットパラボラ表面である請求項10記載の装置。 16.前記検出手段は、各イメージ点におけるコンベアに関する高さを表す信号 を出力するライン走査カメラである請求項10記載の装置。 17.前記ライン走査カメラは、大きい被写界深度で焦点を維持するためにシャ インプフルーグ条件を使用し、 前記ライン走査カメラはレンズおよび検出器アレイを有し、 前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して固定した関係で取付けられ、 前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された位置を通過した物体がコン ベアに関して12インチ以上の被写界深度で焦点を結ぶように選択された配置を 有している請求項16記載の装置。 18.検出手段は、各イメージ点における物体のコンベアに関する高さを表す電 流を出力する位置感応性検出器である請求項10記載の装置。 19.位置感応性検出器は、大きい被写界深度で焦点を維持するためにシャイン プフルーグ条件を使用し、 前記位置感応性検出器はレンズおよび検出器アレイを有し、 前記レンズおよび検出器アレイは互いに関して固定した関係で取付けられ、 前記レンズおよび検出器アレイは、前記選択された位置を通過した物体がコン ベアに関して12インチ以上の被写界深度で焦点を結ぶように選択された配置を 有している請求項18記載の装置。
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