JPH1049877A - 対物レンズ姿勢調整方法及び対物レンズ傾き検出装置並びに対物レンズ姿勢調整装置 - Google Patents
対物レンズ姿勢調整方法及び対物レンズ傾き検出装置並びに対物レンズ姿勢調整装置Info
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Abstract
においても、その対物レンズの傾きを調整あるいは検出
することのできる対物レンズ傾き調整方法及び対物レン
ズ傾き検出装置並びに対物レンズ姿勢調整装置を提供す
る。 【解決手段】 対物レンズ4によりレーザ光を模擬ディ
スク10上に集光し、CCDカメラ13で模擬ディスク
10上に結像したスポットを撮像する。画像処理装置2
1により、そのスポットを画像処理して、スポットの0
次光の中心とそれ以外の領域の中心を求める。調整ネジ
6,8によりそれらの中心が一致するように調整する。
Description
載される対物レンズ傾き調整方法及び対物レンズ傾き検
出装置並びに対物レンズ姿勢調整装置に関し、特に、対
物レンズとして樹脂レンズ等の光学的精度の悪いレンズ
を用いた場合においても、正確に傾きを調整あるいは検
出することができる対物レンズ傾き調整方法及び対物レ
ンズ傾き検出装置並びに対物レンズ姿勢調整装置に関す
る。
気ディスク装置等(以下、光ディスク装置で代表する)
に組み込まれ、光ディスクや光磁気ディスク(以下、光
ディスクで代表する)に対して情報の記録または再生を
行うもである。この光ピックアップの組立行程か組み付
け行程に必ず光ピックアップのアクチュエータの傾きを
調整する姿勢調整の行程が存在する。これはアクチュエ
ータに組み込まれている対物レンズの傾きを光ディスク
と平行になるように調整して、(もしくは、レザー光を
光ディスクに対して垂直に当たるように調整)光ディス
ク上のスポットを良好にすることが目的である。
4,5のような像になる。図4aは傾きのない(姿勢ズ
レのない)場合のスポット画像である。レーザ自体は1
つのビームでしかないが、実際はこのような周囲にリン
グの存在する画像になる。また、同図のb,cはそれぞ
れ、スポットの中心を通る断面の光強度を示す。ただ
し、図と実際の画像とは輝度反転している。即ち、図で
黒部分がレーザにより光っている部分であり、図で白い
部分が輝度のない(輝度の低い)暗い部分を示してい
る。
ンズ)の傾きが無い場合(図4参照)のスポットの光強
度の分布は、スポットの中心から同心円状に広がってい
く。すなわち、スポットの中心を通る断面の輝度分布は
対称となる。逆に、傾いている場合(図5a,b,c参
照)は、輝度分布は方向によって違い、スポットの中心
を通る断面の輝度分布も非対称になる。よって、この非
対称な輝度分布を対称になるように傾きを調整すれば、
姿勢調整が行える。
通常の輝度分布と傾いたディスクを180度回転させた
場合の輝度分布との差をとり、これを0にするように調
整することで、高精度調整を行う手法が開示されてい
る。
の形状を観測するのではなく、レンズの周辺にある平行
部にレーザを当て、これの反射を読みとり角度の調整を
行う手法もある。
以前はガラスであったが、現在は樹脂による成型品に置
き換わってきている。これは、樹脂レンズ自体の価格が
ガラスレンズの価格に比べ非常に安いこと、樹脂レンズ
はガラスレンズに比べ、その重量が軽いため、対物レン
ズを動作させるアクチュエータの可動部の構造全体の強
度や制御用の電力を下げられること等の特徴があるため
である。また、これらの違いにより、ピックアップ全体
で見た場合にも構造面で小型軽量になること、小型軽量
化のために周辺もコストダウンできること、さらに、制
御面でも、対物レンズが軽いためにアクチュエータの反
応速度が上がることや、トータルの消費電力の低下によ
り電池などで連続使用できる時間が長くなることなど、
樹脂レンズを用いることのメリットが非常に多い。
度も含めて)は以前のガラスレンズに比べるとかなり悪
く、そのため、ディスクに結像するスポットの形状等も
数段悪い。たとえば、スポットの形状は図6a,b,c
のようになる。この図は、傾きのない場合のスポットを
表しているが、1次光等の形状がきれいなドーナツ状で
はなく、細い部分やとぎれかかった部分が存在する。
輝度分布は対称にはならないため、断面の輝度分布を単
に比較しても傾きは検出できない。よって、以前のよう
な1次元の輝度分布の計測では、傾き計測も、調整も全
く行えない場合がある。
の直径で高々1μmしかないため、このようなスポット
計測のための画像の拡大率は非常に大きく、わずかな振
動でも観測されるスポットの位置は大幅に変化する。よ
って、調整のためにどうしても必要なドライバ等を除
き、基本的に、動作させなければならない部分は排除し
て、振動の発生源をなくし、かつ、共震の可能性のある
不要な構造物もなくし、極力振動しないようにすること
が必要がある。この点からも、反射部を稼働させる必要
のある特開平6−52553号公報に記載の方式は不利
である。
に入力したスポット画像は違った位置に存在することに
なる。これは、単に中心が移動するだけでなく、計測系
のレンズの特性(計測側の光学系の収差等が原因)によ
り、位置の違いがあるとわずかながら輝度ムラが変化す
ることもある。このため、一断面の輝度分布は撮影時間
の違いにより変化することになる。よって、装置全体の
振動を極限までおさえた機構と振動の停止待ちを十分に
行わない限り、複数の画像を入力して断面の比較する処
理では、正確な計測は行えない。
では、暫定的な手法であるが、樹脂レンズの周辺部にレ
ーザを当て、これの反射光をオートコリメータ(反射し
たレーザ光による傾きの計測手段)で計測し、対物レン
ズの傾きを調整している。
精度は理想的ではなく、これらの手法で調整した場合の
光軸の傾きのばらつきは大きく、ある程度の調整は可能
であるが、確率的に規格内の性能を得られないピックを
生産することになる。成形精度は向上しているものの、
この精度の向上以上の速度で、ますます高密度化、高精
度化が要求されるようになっている光ディスク関連製品
の製造においては、このような手法ではもはや対応不可
能になってきた。
ンズやこれと同等のきれいなスポットの得られる高精度
な対物レンズがあったとしても、輝度の分布を計測する
位置が予め決められている装置等では、画像内の決めら
れた位置に1μmのスポットを機械的に完全に位置合わ
せした状態で計測しないと傾きを計測できない。そのた
め、このような位置合わせはには長い時間が必要であ
り、そのため計測速度が遅いことになる。また、たとえ
時間をかけたとしても、振動が発生しやすい生産現場で
は、計測,調整が行えない場合がある。実際の現場でこ
のようなガラスレンズのアクチュエータの姿勢調整を行
う場合は、振動の少ない特殊な場所で、時間をかけて行
っていた。しかも、熟練者のみにしかできない作業であ
った。
ンズ傾き調整方法は、光記録媒体にレーザ光を集光する
光ピックアップに搭載された対物レンズの姿勢調整方法
であって、対物レンズにより、レーザ光を模擬ディスク
上に集光し、模擬ディスク上に結像したレーザ光のスポ
ットを観測して、スポットの0次光の面積中心位置と、
スポットの0次光以外の領域の面積中心位置とを一致さ
せるように、対物レンズの姿勢を調整するものである。
は、光記録媒体にレーザ光を集光する光ピックアップに
搭載された対物レンズの姿勢調整方法であって、対物レ
ンズにより、レーザ光を模擬ディスク上に集光し、模擬
ディスク上に結像したレーザ光のスポットを観測して、
スポットの0次光の輝度分布の中心と、スポットの0次
光以外の領域の輝度分布の中心とを一致させるように、
対物レンズの姿勢を調整するものである。
は、光記録媒体にレーザ光を集光する光ピックアップに
搭載された対物レンズの傾きを検出する対物レンズ傾き
検出装置において、対物レンズにより、模擬ディスク上
に集光されたスポットを観測する観測手段と、模擬ディ
スク上に結像したレーザ光のスポットを観測して、スポ
ットの0次光の面積中心位置と、スポットの0次光以外
の領域の面積中心位置を計算する演算手段と、演算手段
により演算された0次光の中心位置と、0次光以外の領
域の中心位置を比較する比較手段と、を備えてなるもの
である。
は、光記録媒体にレーザ光を集光する光ピックアップに
搭載された対物レンズの傾きを検出する対物レンズ傾き
検出装置において、対物レンズにより、模擬ディスク上
に集光されたスポットを観測する観測手段と、模擬ディ
スク上に結像したレーザ光のスポットを観測して、スポ
ットの0次光の輝度分布の中心と、スポットの0次光以
外の領域の輝度分布の中心を計算する演算手段と、演算
手段により演算された0次光の輝度分布の中心と、0次
光以外の領域の輝度分布の中心を比較する比較手段と、
を備えてなるものである。
は、請求項3または請求項4に記載の対物レンズ傾き検
出装置において、スポットの特定部分にマスクを施し、
演算手段にマスクの施されていない部分のみを用いた演
算を行わせしめるマスク手段を有してなるものである。
は、請求項3乃至請求項5のいずれかに記載の対物レン
ズ傾き検出装置を用いて、光記録媒体にレーザ光を集光
する光ピックアップに搭載された対物レンズの姿勢調整
装置であって、比較手段の比較結果に基づき、対物レン
ズの傾きを調整する調整手段を有してなるものである。
状は、悪いとしても、姿勢の調整された状態では完全に
再生,記録に対応できる程度の精度はある。よって、ス
ポット画像全体としては、0次光を中心したほぼ一様の
分布をする画像となる。従って、完全に調整された場合
でも0次光,1次光,2次光・・・n次光のそれぞれの
一部が欠落しているような場合においても、画像全体の
中心は、ほぼ同じ位置(0次光の中心)にある。これ
は、欠落する部分があったとしても、欠落部分の面積
は、0次光,1次光,2次光・・・n次光のそれぞれ全
体の面積に比べると十分小さいためである。
いた場合では、1ラインだけで輝度分布を取る場合で
は、取る位置や角度を少し変化させただけで全く異なっ
た分布になる場合があり、計測した結果が正しいかどう
かがわからない。しかし、各中心位置は、0次光の中心
と、1次光,2次光・・・n次光のそれぞれの中心座標
は違った位置になるが、どの方向に傾けた場合でも、そ
の傾きに合った方向にほぼ正確に各中心が移動する。
クチュエータの傾きを正確に検出する。また、0次光の
中心座標と0次光以外の光の中心座標が一致するように
角度を調整して、対物レンズの傾き(アクチュエータの
傾き)を精密調整する。
れているノイズが小さい場合はよいが、大きい場合はそ
のノイズのために、誤った検出する可能性が考えられ
る。しかし、0次光,1次光,2次光・・・n次光のそ
れぞれの大きさは一定であるため、0次光の中心から一
定距離の部分の画像をマスクすることで、本来輝度が0
に近いはずの、リング間の暗部のノイズの影響をなくし
た検出や、輝度の比較的大きい1次光のみや、2次光の
みの画像にして高輝度部のみを対象とした、安定した計
測をすることも可能である。以上のような手法により、
ノイズのある画像しか得られない場合にも、安定した検
出が可能となる。
・n次光の面積の中心を求めるのではなく、画像のエネ
ルギー分布から全体のエネルギー中心を求め、これと0
次光の中心と比較する。これにより、近似的な傾き量の
計測が可能になり、高速な自動調整が行えるようにな
る。
合には、計測精度が落ちる可能性もあるが、暗部である
はずの部分を除いた計測等を行えば、ノイズにも強い計
測が可能となる。
を、図面に基づいて詳細に説明する。図1は、実施の形
態1の傾き検出装置の構成を示す図である。ピックアッ
プ1内の半導体レーザ2によって発生させられたレーザ
光は、ミラー5で90度方向を変え、真上に向かう。そ
して、その後レーザー光はアクチュエータ3に取り付け
られた対物レンズ4により顕微鏡11に取り付けられた
模擬ディスク10に集光する。
ク10のレーザ光が集光される位置に合わせられてい
る。また、この模擬ディスク10は一部のレーザ光を透
過するようになっており、透過したレーザ光は、顕微鏡
11の光学フィルタ12で十分減光され、CCDカメラ
13で撮影される。
光ディスクの記録、再生装置で使用される場合には、ト
ラッキング方向及び、フォーカス方向にそれぞれサーボ
がかかり、常時特定のトラックにレーザのフォーカスが
合うようになっている。よって、ピックアップ側と模擬
ディスク10間のフォーカスを合わせるには、このうち
のフォーカスのサーボ機能のみを用いればよく、これに
よりレーザのフォーカスは常時模擬ディスク10の表面
に合うようにできる。但し、フォーカスを合わせる手法
はどのような手段でもよく、例えば、ピックアップの上
下位置を調整する事などでも可能であり、本発明を限定
するものではない。
に照射される角度は、対物レンズ4の角度により調整さ
れ、一般的に、対物レンズ4と模擬ディスク10が平行
になるように調整された場合が最も高性能となる。本実
施の形態において、対物レンズ4は、アクチュエータ3
に取り付けられたものであるため、アクチュエータ3と
ピックアップ1の取り付け角度の調整により、対物レン
ズ4と模擬ディスク10の角度の調整が行われる。すな
わち、調整ネジ6と調整ネジ8の両方をそれぞれ調整ド
ライバ7と調整ドライバ9により調整することにより調
整される。また、この2つのネジで調整されるレンズの
角度の変化の方向は全く別であり、特に以降の実施の形
態では説明を明瞭にするため、2者のネジの回転で調整
されるレンズの姿勢の方向は直交しているものとして扱
う。
が平行になるように)調整された場合のディスク面のレ
ーザースポットの形状を表している。中央部の円がレー
ザによる基本的なスポットであり、最も輝度が高く0次
光と呼ばれる。それに対して、0次光から同心円状に広
がっているドーナツ状の像は、0次光に一番近いものか
ら順に、1次光,2次光,3次光・・・と呼ばれる。こ
れらの画像は、半径の最も小さい1次光の輝度が最も高
く、2次光,3次光と外側になるにつれて、輝度が下が
るが、これらの間隔はほぼ等間隔になっている。ただ
し、実際顕微鏡等で観測できるものは、2次光か3次光
程度まであり、4次光以上の画像は輝度が非常に小さ
く、ほとんど観測できない。よって、以降のスポット画
像は2次光までを対象とし、それ以上は図示しない。
あり、これに対して、レンズが傾いた場合の画像が同図
bである。このような傾いた場合の画像と理想的な場合
の画像差は、0次光にはあまりなく、1次光以降の画像
に顕著に現れる。このように姿勢が傾くにつれて1次光
以降の画像の輝度分が均等ではなく、ある方向が強くな
り、また反対の方向が弱くなる。
ット画像であり、この画像の中心を通る断面の輝度分布
をそれぞれb,cが示している。また、図5は傾いた場
合のスポット画像aと輝度分布b,cを示す図である。
このように、傾くにつれて、輝度分布の左右、もしくは
上下が変化するため、この差を見れば、傾いている方向
が判定できる。即ち、上下のバランスが均等で無い場合
は、上下方向に姿勢が傾いており、左右のバランスが均
等で無い場合は、左右方向に姿勢が傾いていること示し
ている。
姿勢が正常で全体としてのバランスがとれた状態であ
り、1次光,0次光の輝度バランスがほぼ均等である場
合においても、一部に欠落等やノイズが合ると、1断面
の輝度分布は対称にはならない。よって、1断面の輝度
分布によりその方向の傾きを検出する手法では、レンズ
が非常に高精度なもので、どの方向にも非対称なひずみ
を全く存在しないようなものでない限り、姿勢が完全に
調整された状態でも傾いていると判定されたり、逆に、
傾いた状態を正常と判定されることが起こり得る。
は、明らかに図4,図6の状態は姿勢はほぼ傾いていな
い場合の画像であり、図5の状態は明らかに間違った姿
勢である。すなわち、1断面による判定ではなく、人間
の目で行うように、画像全体からレンズの姿勢を判定す
れば、この例のような多少のひずみやノイズの存在で、
傾き検出の大幅に間違った判定することはなくなること
になる。これより、画像全体の判定を行えるならば、ノ
イズ等の影響はほとんど無視して姿勢について考えるこ
とができることがわかる。なお、当然ではあるが、ノイ
ズやひずみがないほど、つまり、レンズが高精度になれ
ばなるほど判定精度は増す。本実施の形態では、この点
に鑑みて姿勢の傾きの検出を行う。
を基に姿勢の傾きの検出を行うための手法を説明するも
のである。図7は姿勢の正常な状態、つまり、傾きのな
い状態でのスポット画像とその画像を処理した画像(図
1における画像モニタディスプレイ20の画像)を示
し、図8は悪い姿勢の場合、つまり、傾いた状態でのス
ポット画像とその画像を処理した画像を示している。図
9は姿勢の正常であるが、ひずみなどの存在する状態、
つまり、傾きはないが、以前の手段では明らかに傾いて
いると判断されてしまうスポット画像とその画像を処理
した画像を示している。3つの図のaはそれぞれの階調
情報のあるスポット画像(カメラからの画像)を示して
いる。
たように他の光より極めて高い輝度をもっている。その
ため、それぞれの画像をある輝度以下の部分を0にする
ことで、0次光の部分のみの画像にすることができる。
例えば、ある輝度値以上の部分を最高輝度MAXに(一
般的な最高輝度は255等ではあるが、一般性をもたせ
るため、輝度MAXと表現する。)、それ以外の部分を
0で示すならばそれぞれの図のaの画像はそれぞれの図
のbのように変換される。このような処理を一般的に2
値化といい、本実施の形態では、図1の画像処理装置2
1を用いて行っている。なお、以降このような処理を単
に2値化と表記する。さらに、bの画像の中心座標を+
で示したのがcである。この中心座標は、図7,8,9
全ての場合でほぼ同じ位置になる。また、このような2
値化された図形の中心計算も2値化同様に画像処理装置
21で容易に、かつ高速に処理できる。また、ホストコ
ンピュータ22は画像処理装置21の制御に用いている
が、画像処理装置21によっては、必要であるものとな
いものが存在する。
2値化した場合には、ぞれぞれのdのようになり、0次
光から2次光までの外形が鮮明に検出されている。更
に、これの中心座標を+で表したものがそれぞれの図の
eである。
すべて0次光の中央に位置している。また、図7のeも
同じく+の位置が0次光の中央に位置する、そして、図
8のeの+の位置は0次光の中心からずれた位置にあ
る。このような結果から、姿勢がずれた場合は、0次光
の2値化画像の中心と、全体の2値化画像の中心が異な
った位置になることがわかる。
ほぼ中心にあり、図7のeの場合とほぼ同じ結果となる
ことがわかる。従って、多少対物レンズ4にひずみがあ
り、1次光や2次光に欠けが発生するようなことがあっ
ても、0次光の2値化画像の中心と、全体の2値化画像
の中心を合わせることにより、以前のように完全に間違
った判断をすることなく、傾きがない(姿勢が正常であ
る)ことを正確に判定できる。そのため、以降の説明で
使用するスポット画像は、細かなひずみのための欠けな
どは特に記載しないで説明を行う。
では0次光から2次光まで)の2値化画像の中心位置の
比較を行い、2つの中心がほぼ一致すればOK、一致し
なければNGとすることで、図1のピックアップ1のア
クチュエータ3の傾き(即ち、対物レンズ4の傾き)検
出が容易に、かつ正確に行えるようになる。このとき、
角度を傾けるほど、計測される中心間の距離は大きくな
るため、図1のモニタ20により人が判定を行うこと以
外に、画像処理装置21の計算した中心座標を元にコン
ピュータやシーケンサで判定することも可能である。よ
って、判定の完全自動化も可能である。これには、2つ
の中心間の距離が一定の値以下であれば、OK、それ以
外はNGとするだけでよい。
るから、画像がどの位置にあっても判定が行える。この
ため、スポットの位置合わせのための時間,精度,コス
トを下げることができる。また、1シャッター時間で一
度画像を取り込み、それに対して上記の処理をすればよ
いため、取り込んだ後はスポットの状態はどうなっても
よい。例えば、画像がドリフトしていたり、多少振動が
あっても正常に傾き判定が行える。そのため、振動除去
のための機構なども少なくてすみ、振動により位置合わ
せが行いにくくなることも比較的少なくなる。従って、
装置全体の各部の強度などを下げることができ、装置全
体のコストダウン効果もある。
測される中心間の距離は大きくなるものの、その傾きと
距離の関係は非線形な場合が多いため(全体の輝度、し
きい値、対物レンズの精度等により微妙に変化する)傾
き量の概要は推定できるが、絶対量の正確な計測は困難
である。
装置を利用したアクチュエータ姿勢調整装置の説明を行
う。図10は、実施の形態1で用いた図1の調整ドライ
バ7,9を人間が回せるようにしただけのものである。
調整は作業者である人が画像モニタディスプレイ20に
映し出される、姿勢情報を示す画像を見ながら、調整ド
ライバ7,9を回し、調整を行う。
し出される画像の例を示している。図11のc,eは図
8のc,eと同じ画像である。図11のf,gのうちの
一方が20の画像モニタディスプレイ20に表示され
る。図11のfは同図のc,eの2つの中心位置を示す
+マークを同一画面に表示しており、図11のgの画面
ではさらに2値化画像と重ね合わせて表示している(入
力画像(原画像)でも可能)。
は、カメラの取り付け位置や回転角度、ネジ取り付け位
置等で変わるが、ここでは、調整ネジ6を締めること
で、全体画像の中心が右にずれ、調整ネジ8を締めるこ
とで、全体画像の中心が上にずれる関係にあるものとす
る。この場合の作業者の行うべき事は、全体の2値化画
像の中心が、0次光の(2値化画像の)中心に対して、
「下の方にあれば、調整ネジ8を締め、右の方にあれ
ば、調整ネジ6をゆるめる。」といった単純な作業であ
り、それぞれ図11のhやiのように、両方の中心位置
が一致するようになるまで行えばよい。
度等はどうなっていようとも、調整ネジ6,8を回した
場合に変化する全体の2値化画像の中心方向は一様であ
る。このため、調整ネジ6,8を回すことで、全体の2
値化画像の中心が斜め方向に変化する場合や、2つの中
心のどちらが0次光の中心かわからないような場合でさ
えも、一般的な現在の労働者なら、適当にネジを回し中
心が一致するように調整を行うことが可能である。
であり、c,eは図11のc,eと同じ画像を示してい
る。図12のfは図12のc,eで+表示されている中
心座標を表示すればよく、画像処理装置が算出する値で
ある。この場合の値は、ある程度大きな面積を持った画
像の中心座標であるため、一般的にサブピクセルの精度
をもつ。図11では+の印を重ねるように調整するもの
であるが、画像上の調整精度が1ピクセルであることか
らすれば、数値そのままを小数点以下まで表示して、一
致するように調整することでより高精度な調整を行うこ
とができる。図12では、このことを利用して調整を行
う。図12のfの調整後はhになり、2つの中心座標は
一致し、差は0となる。図12のg,iは処理画像も同
時に表示した場合で、調整のイメージがつかみやすい。
また、図11や図12の場合でも、中心位置を示す+表
示を実際よりも何倍か大きくずれた位置に表示すること
で、そのぶん調整精度を上げることができる。
り、容易に、正確に、レンズ等のひずみにも強い、安価
な、安定した、姿勢(傾き)の調整が行える装置を実現で
きる。
測される中心間の距離は大きくなるものの、その傾きと
距離の関係は非線形な場合が多く、条件により大きく変
化するため(全体の輝度,しきい値,レンズの精度等に
より微妙に変化する)計測量から調整量を計算すること
を正確には行ないにくい。よって、この値を元にした、
フィードバック系による自動調整は可能であるが、複雑
でかつ時間のかかるものとなる。
き検出装置の説明を行う。図13,図14のaは何らか
の原因で、画像内にノイズのある場合のスポット画像を
示している。このaの画像を、低いしきい値で全体を2
値化した画像がbである。このようなノイズが発生する
と、検出の誤差の原因となる。
対的な位置は決まっており、1次光と2次光の間等の暗
い部分(以降暗部と表現)には、ほとんど輝度の高い部
分は存在しない。つまり、この0次光の中心からある一
定の距離の範囲には本来輝度は0に近い状態である。0
次光は他の輝度に比べて非常に強いため、高いしきい値
で2値化するだけで容易に0次光の位置は検出できる。
したがって、暗部となる部分も容易に計算できる。一
方、画像処理装置には、マスク機能等が一般的に備わっ
ており、一定のマスクパターンと画像から、その画像の
特定領域のみの画像に変換することができる。
f,gはそれぞれスポット画像の「0〜2次光すべ
て」,「0次光」,「1次光」,「2次光」,「1次光
と2次光」のみにするためのマスクである。これを、ス
ポット画像を重ね合わせ、低い輝度値で2値化すれば、
それぞれ、h,i,j,k,lになる。これらは、それ
ぞれ「0〜2次光すべて」,「0次光」,「1次光」,
「2次光」,「1次光と2次光」を2値化により分離し
た画像である。このとき、元の画像に存在したノイズは
無い。つまり、マスクにより、輝度の存在するはずの無
い場所にあるノイズの除去が可能であることを示してい
る。
をマスクすることで得られた画像の中心を示すものであ
り、aは図13,14のaからノイズをなくした画像を
示しており、h,i,j,k,lのそれぞれは「0〜2
次光すべて」,「0次光」,「1次光」,「2次光」,
「1次光と2次光」を2値化したものと、その中心座標
を示している。図15に示すように、図13の全ての場
合でその中心は0次光の中心と一致するが、図16に示
すように、図14の場合には、0次光だけの画像の中心
と他の画像の中心は全て別の位置にある。しかも、その
ずれる方向は全て一致する。すなわち、傾きの検出は、
実施の形態1の0次光を含む全ての画像の2値化画像の
中心を求めるだけでなく、1次光以降の画像をそれぞれ
完全に含む画像であれば、それを2値化して中心を求
め、これと0次光中心の位置比較を行うことで可能であ
ることを示している。
が存在する場合は、0次光と1次光のみで傾きの判定を
行うように、マスクを行えば、2次光部分に発生するノ
イズに関わらず、傾き判定ができる。
等を用いることで、特定領域に存在するノイズの影響を
受けず、傾きの判定が行える装置が実現できる。
中心画像や座標情報を本実施の形態の傾き検出装置と入
れ替えることで、実施の形態2の装置よりノイズに強い
姿勢調整装置を実現することができる。
物レンズの傾き検出装置の説明を行う。図17,図18
は本実施の形態の傾き検出装置により傾き角度を計測で
きることを説明する図である。aはスポット画像そのも
のであり、bは高輝度のしきい値で2値化し、中心を求
めたものである。cは2値化せず階調情報のままで中心
を求めたものであり、cの画像と0次光の中心を併記し
たものがdである。
されている。 n:画素の番号 p:全画素数 Mxa:全体の重心のX座標 Mxa:全体の重心のX座標 f(n):画素nの輝度 x(n):画素nのX座標 y(n):画素nのY座標 上記式の計算により、輝度を含めた画像の中心座標を得
ることができる。
な中心の計算が高速にできるため次のような計算でも同
様の事ができる。
されている。 k:輝度 Mxa:全体の重心のX座標 Mxa:全体の重心のX座標 m(k):輝度kの部分の面積 mx(k) :輝度kの部分の中心のX座標 my(k) :輝度kの部分の中心のY座標 fmax:最大輝度 上記式の計算によっても、輝度を含めた画像の中心座標
を得ることができる。
た場合はスポットは0次光を中心に全方向に同じように
広がるから、0次光の2値化中心と同じ位置になる。姿
勢が傾いた場合は、実施の形態1や実施の形態3と同じ
方向に、その中心は変化することは明らかである。よっ
て、これにより計算された中心座標を+等の記号や、数
値で表示すれば、実施の形態1,3と同様に傾きを検出
することができる。
心座標は、レーザによるスポット画像のエネルギー中心
を示している。そして、0次光の2値化中心の座標との
差は下記式により求まる。
る。 Dx:中心間のX座標の差 Dy:中心間のY座標の差 Mxa:全体の重心のX座標 Mxa:全体の重心のY座標 Mx0:0次光中心のX座標 Mx0:0次光中心のY座標 姿勢が調整された状態では、明らかにDx,Dyともに0
になる。
のである。このDx,Dyは図19のb,cに示すような
関係があることが非常に重要である(これらの図の
Taq,Rsqはアクチュエータの傾き角度を示してい
る)。つまり、アクチュエータの傾き角度とDx,Dyが
ほぼリニアに変化することが重要である。この関係は、
輝度やフォーカスが多少変化しても大きく変わることは
ない。この図19の場合には、計測された中心間の距離
のX成分Y成分のそれぞれに一定の定数を掛け合わせた
ものがTaq,Rsqとなる。また,非線形となる部分に関
しても、適当な2次関数を当てはめれば近似可能であ
る。
ギー分布での中心を求めた中心間の距離の算出と、傾き
角度の関係は安定しているため、角度の計測に用いるこ
とが可能となる。
した対物レンズ傾き検出装置を利用したアクチュエータ
の自動姿勢調整装置の説明を行う。実施の形態4では、
調整ネジ6の回転角とTsqが、調整ネジ8の回転角とR
sqがそれぞれ関係しており、回転角と傾きは比例関係に
ある。結局、計測された中心間の距離のX成分Y成分の
それぞれに、一定の値を掛け合わせたものを調整ネジ
6,8の回転角として調整を行えば、姿勢を調整するこ
とになる。
動調整装置を自動化したものである。31は調整ドライ
バ7を回転させる調整モ−タ、32は調整ドライバ9を
回転させる調整モ−タ、33は調整モ−タ31を回転さ
せるモータコントローラ、34は調整モ−タ32を回転
させるモータコントローラである。画像処理装置21と
ホストコンピュータ22で中心間の距離が求められ、ホ
ストコンピュータ22でモ−タの回転量を計算し、その
情報を、モータコントローラ33,34に送り、調整を
行う。機構的にガタがある場合などの問題により、1回
の調整では完全な調整が行えないことが多いため、さら
に計測、調整を繰り返せば高精度な調整が可能となる。
でき、その角度から調整回転角度を容易に求めることが
できるため、姿勢の調整を容易にかつ高速に行うことが
できる。
した傾き検出装置に実施の形態3のマスクを使用した場
合について説明する。図21,図22のaは何らかの原
因で、画像内にノイズのある場合のスポット画像を示し
ている。このaの画像を、低いしきい値で全体を2値化
した画像がbである。図21,図22のc,d,e,
f,mはそれぞれスポット画像の「0〜2次光すべ
て」,「0次光」,「1次光」,「2次光」,「0次光
と1次光」のみにするためのマスクである。これを、ス
ポット画像を重ね合わせ、低い輝度値で2値化すれば、
それぞれ、h,i,j,k,nになる。これらは、それ
ぞれ「0〜2次光すべて」,「0次光」,「1次光」,
「2次光」,「0次光と1次光」を2値化により分離し
た画像である。このとき、元の画像に存在したノイズは
無い。つまり、マスクにより、輝度の存在するはずの無
い場所にあるノイズの除去が可能であることを示してい
る。
さいため、この部分を除いた計算を行っても、含んだ場
合とほとんど変わらない。したがって、ノイズも含め
て、暗部を除いた部分のみで処理を行えば、暗部に存在
するノイズの影響をなくすことができる。
る場合では、それぞれのマスクを用いた場合の、計測結
果と角度の関係を明確にする必要はある。この関係は、
図19の関係に近い形である。
出部を本実施の形態のアクチュエータの傾き計測装置に
置き換えることによっても、ノイズの影響を無くした調
整が可能となる。
レンズ傾き検出装置,対物レンズ姿勢調整装置によれ
ば、樹脂レンズのような光学的精度の低い対物レンズを
用いた場合においても、正確に傾きの方向が判定でき
る。
範囲の部分の中心位置の差を検出するものであるため、
位置合わせ等の機械的な調整精度を落とすことができ、
装置のコストダウンが可能となる。さらに、位置合わせ
を正確に行わなくても、中心座標の差を取れるような位
置にさえスポットを追い込めばよいことから、計測、調
整に必要な時間が短くてすみ、装置の高速化が可能とな
る。
で約1μmという小さなものであるため、計測系の光学
的な倍率は大きい。したがって、少しの振動があって
も、計測画面内のスポットの位置が変化するが、本発明
では、1画面内での座標の差を検出するため、全体的な
位置が多少位置が変化しても計測精度は落ちない。この
ため、振動対策にかかる費用の低下、スペースの低下、
他の生産機器との接続性の向上を図ることができる。
ため、小さなノイズでは測定精度に影響しない。
るいは調整を行えば、対物レンズの傾きが比較的小さい
場合に、レンズの傾きと中心座標間の距離がほぼ比例関
係となり、近似的な傾きの計測が可能となる。このよう
に、傾き量を計測できることより、調整すべき角度がわ
かり、傾きの全自動の調整が可能となる。
はなく、画像全体もしくは大きな面積をもつ部分から求
めているため、その精度はサブピクセルレベルとなる。
したがって、座標の検出は安定かつ非常に高精度であ
る。
ことができるため装置の簡略化を図ることができる。
調整装置の構成を示す図である。
を示す図である。
図である。
図である。
布を示す図である。
を示す図である。
を示す図である。
スポットの画像を示す図である。
動の傾き調整装置の構成を示す図である。
を説明する図である。
の他の例を説明する図である。
を施した例を示す図である。
を施した例を示す図である。
である。
である。
る図である(傾きの無い姿勢)。
る図である(傾きのある姿勢)。
心位置のずれの関係を示す図である。
示す図である。
を説明する図である(傾きの無い姿勢)。
を説明する図である(傾きのある姿勢)。
調整装置の構成を示す図である。
中間調画像である。
ィスプレイ上に表示した中間調画像である。
に表示した中間調画像及び輝度分布を示す図である。
に表示した中間調画像及び輝度分布を示す図である。
プレイ上に表示した中間調画像及び輝度分布を示す図で
ある。
スプレイ上に表示した中間調画像である。
スプレイ上に表示した中間調画像である。
スポットのディスプレイ上に表示した中間調画像であ
る。
動の傾き調整装置の構成を示す図である。
を説明する、ディスプレイ上に表示した中間調画像であ
る。
の他の例を説明する、ディスプレイ上に表示した中間調
画像である。
を施した例を示す、ディスプレイ上に表示した中間調画
像である。
を施した例を示す、ディスプレイ上に表示した中間調画
像である。
ディスプレイ上に表示した中間調画像である。
ディスプレイ上に表示した中間調画像である。
る、ディスプレイ上に表示した中間調画像である(傾き
の無い姿勢)。
る、ディスプレイ上に表示した中間調画像である(傾き
のある姿勢)。
心位置のずれの関係を示す、ディスプレイ上に表示した
中間調画像である。
示す図である。
を説明する、ディスプレイ上に表示した中間調画像であ
る(傾きの無い姿勢)。
を説明する、ディスプレイ上に表示した中間調画像であ
る(傾きのある姿勢)。
Claims (6)
- 【請求項1】 光記録媒体にレーザ光を集光する光ピッ
クアップに搭載された対物レンズの姿勢調整方法であっ
て、 前記対物レンズにより、前記レーザ光を模擬ディスク上
に集光し、 前記模擬ディスク上に結像した前記レーザ光のスポット
を観測して、該スポットの0次光の面積中心位置と、前
記スポットの0次光以外の領域の面積中心位置とを一致
させるように、前記対物レンズの姿勢を調整することを
特徴とする対物レンズ姿勢調整方法。 - 【請求項2】 光記録媒体にレーザ光を集光する光ピッ
クアップに搭載された対物レンズの姿勢調整方法であっ
て、 前記対物レンズにより、前記レーザ光を模擬ディスク上
に集光し、 前記模擬ディスク上に結像した前記レーザ光のスポット
を観測して、該スポットの0次光の輝度分布の中心と、
前記スポットの0次光以外の領域の輝度分布の中心とを
一致させるように、前記対物レンズの姿勢を調整するこ
とを特徴とする対物レンズ姿勢調整方法。 - 【請求項3】 光記録媒体にレーザ光を集光する光ピッ
クアップに搭載された対物レンズの傾きを検出する対物
レンズ傾き検出装置において、 前記対物レンズにより、模擬ディスク上に集光されたス
ポットを観測する観測手段と、 前記模擬ディスク上に結像した前記レーザ光のスポット
を観測して、該スポットの0次光の中心位置と、前記ス
ポットの0次光以外の領域の中心位置を計算する演算手
段と、 該演算手段により演算された0次光の面積中心位置と、
0次光以外の領域の面積中心位置を比較する比較手段
と、を備えてなることを特徴とする対物レンズ傾き検出
装置。 - 【請求項4】 光記録媒体にレーザ光を集光する光ピッ
クアップに搭載された対物レンズの傾きを検出する対物
レンズ傾き検出装置において、 前記対物レンズにより、模擬ディスク上に集光されたス
ポットを観測する観測手段と、 前記模擬ディスク上に結像した前記レーザ光のスポット
を観測して、該スポットの0次光の輝度分布の中心と、
前記スポットの0次光以外の領域の輝度分布の中心を計
算する演算手段と、 該演算手段により演算された0次光の輝度分布の中心
と、0次光以外の領域の輝度分布の中心を比較する比較
手段と、を備えてなることを特徴とする対物レンズ傾き
検出装置。 - 【請求項5】 請求項3または請求項4に記載の対物レ
ンズ傾き検出装置において、 前記スポットの特定部分にマスクを施し、前記演算手段
に前記マスクの施されていない部分のみを用いた演算を
行わせしめるマスク手段を有してなることを特徴とする
対物レンズ傾き検出装置。 - 【請求項6】 請求項3乃至請求項5のいずれかに記載
の対物レンズ傾き検出装置を用いて、光記録媒体にレー
ザ光を集光する光ピックアップに搭載された対物レンズ
の姿勢調整装置であって、 前記比較手段の比較結果に基づき、前記対物レンズの傾
きを調整する調整手段を有してなることを特徴とする対
物レンズ姿勢調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP20145096A JP3795143B2 (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | 対物レンズ姿勢調整方法及び対物レンズ傾き検出装置並びに対物レンズ姿勢調整装置 |
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- 1996-07-31 JP JP20145096A patent/JP3795143B2/ja not_active Expired - Fee Related
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