JPH1048126A - 穀粒内の水分勾配測定方法 - Google Patents

穀粒内の水分勾配測定方法

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JPH1048126A
JPH1048126A JP20862896A JP20862896A JPH1048126A JP H1048126 A JPH1048126 A JP H1048126A JP 20862896 A JP20862896 A JP 20862896A JP 20862896 A JP20862896 A JP 20862896A JP H1048126 A JPH1048126 A JP H1048126A
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JP
Japan
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grain
drying
moisture
gradient
water
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Pending
Application number
JP20862896A
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English (en)
Inventor
Harumitsu Toki
治光 十亀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
Original Assignee
Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Publication date
Application filed by Iseki and Co Ltd, Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd filed Critical Iseki and Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 穀粒内の水分勾配を測定することにより穀粒
の乾燥状態を正確に把握する。 【解決手段】 電磁波により穀粒内の水分分布を測定
し、任意の測定ライン上の穀粒端E1 ,E2 と近似曲線
のボトム値Bとを結ぶ直線,により、穀粒内の水分
勾配θ1 ,θ2 を求める。この水分勾配により穀粒の乾
燥状態を正確に把握して乾燥制御を行えば、穀粒に胴割
れが生じることなく連続的に乾燥を行うことができ、乾
燥時間の短縮を図ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は穀粒内の水分勾配測
定方法に関するものであり、穀粒の中心部から表面にか
けての水分勾配を測定することにより穀粒の乾燥状態を
正確に把握し、穀粒乾燥機の乾燥制御に利用できる。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】籾や麦
などの穀粒は、収穫後に穀粒乾燥機にて一定の水分値に
至るまで乾燥させる。乾燥中の穀粒は中心部と表面では
水分値が同じではなく、穀粒の中心部から表面にかけて
の水分勾配が変化しながら乾燥が進行する。穀粒内の水
分勾配が大きい場合は、乾燥工程で乾燥むらによる胴割
れが発生することがある。従って、胴割れを防止するた
めに、低い温度で乾燥時間を長くしたり、或いは、乾燥
を時々休止する必要があった。
【0003】そこで、穀粒内の水分勾配を測定すること
により穀粒の乾燥状態を正確に把握し、穀粒の乾燥制御
の効率向上を図るために解決すべき技術的課題が生じて
くるのであり、本発明はこの課題を解決することを目的
とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために提案されたものであり、電磁波における水分
の吸収帯による吸収を利用して穀粒内の水分分布を測定
し、任意の測定ライン上の穀粒端と近似曲線のボトム値
とを結ぶ直線の傾斜により水分勾配を求める穀粒内の水
分勾配測定方法を提供するものである。
【0005】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従って詳述する。図1は水分勾配測定装置の構成を示
したものであり、切断した穀粒10の表面に電磁波を照
射してその反射光を二次元水分検出センサ11にて受光
する。二次元水分検出センサ11とレンズ12との間に
は、バンドパス・フィルタ13を介装してあり、電磁波
における水分の吸収帯(例えば波長1.45μmや1.95μm
など)のみを通過させて二次元水分検出センサ11で検
出するように構成されている。
【0006】図2は前記水分勾配測定装置で撮影した画
像を示し、環状に白く見えるのは籾殻部分であり、その
内側が穀粒端になる。そして、切断した穀粒10の表面
のラインL1 とラインL2 の2個所について、水分分布
を測定する。尚、測定ラインの取り方は任意である。
【0007】図3はラインL1 について測定された水分
分布を示し、図4はラインL2 について測定された水分
分布を示す。何れの場合も、左右両端の極端に輝度の高
い部分は籾殻部分であり、その内側に夫々の穀粒端
1 ,E2 が存在する。穀粒10内の水分値が高い場合
は前記電磁波(波長1.45μmや1.95μmなど)の吸収が
多いため輝度が低くなり、水分値が低い場合は前記電磁
波の反射が多くなって輝度が高くなる。
【0008】一般に、穀粒端E1 ,E2 近傍は乾燥が進
んで輝度が比較的高く、穀粒10の中心部近傍は輝度が
低くなっている。この水分分布のグラフを多項近似式を
用いて近似曲線で表すことにより、穀粒10内の水分勾
配を測定することができる。例えば、ラインL2 の近似
曲線を図5に示す。この近似曲線のボトム値Bと穀粒端
1 ,E2 を結ぶ直線,の傾斜(角度θ1 及び
θ2 )により、穀粒内部の水分勾配を求める。
【0009】尚、図示は省略するが、一粒の穀粒を粉砕
してシャーレに広げ、これを前記水分勾配測定装置で撮
影し、その画像に基づいて水分量の度数分布を測定した
結果と、前記穀粒の切断面から測定される水分勾配とは
一定の相関関係があり、水分量の度数分布から前記水分
勾配を求めることも可能である。
【0010】このようにして水分勾配を求めることによ
り、穀粒内の水分むらを正確に把握することができるた
め、穀粒乾燥機にて乾燥作業を行う場合に、従来のよう
に乾燥を時々休止することなく、連続的に乾燥作業を行
うことが可能になる。
【0011】図6は、穀粒乾燥機での乾燥領域(ドライ
ング領域)を通過する穀粒の速度制御のフロチャートで
あり、穀粒の平均水分量Maと水分勾配Mkを測定し、
乾燥目標の設定水分量と実測した平均水分量Maから基
準穀粒速度Vを求める。そして、水分勾配Mkから穀粒
速度補正係数αを求め、穀粒が補正された穀粒速度Vs
で乾燥領域を通過するようにロータリバルブの回転数を
制御する。
【0012】図7は、設定水分量と平均水分量の差に対
する基準穀粒速度Vの関係を示すグラフであり、前記差
がプラス側に偏るほど乾燥領域を通過する基準穀粒速度
Vを早くし、前記差がマイナス側に偏るほど乾燥領域を
通過する基準穀粒速度Vを遅くする。
【0013】また、図8に示すように、水分勾配が適性
である場合を 1.0として、水分勾配が大きくなるのに伴
い補正係数を大にして穀粒の通過速度を早くし、水分勾
配が小さくなるのに伴い補正係数を小にして穀粒の通過
速度を遅くする。
【0014】即ち、穀粒内の水分勾配が大きい場合は乾
燥むらにより胴割れが発生することがあるため、連続乾
燥作業中に乾燥領域を通過する穀粒の速度を早くして、
一回の乾燥工程での過剰乾燥を防止する。これに対し
て、穀粒内の水分勾配が小さい場合は胴割れの虞が少な
いため、乾燥領域を通過する穀粒の速度を遅くして、一
回の乾燥工程で十分な乾燥を行う。
【0015】一方、図9のフローチャートに示すよう
に、水分勾配が大きい場合は乾燥温度を低下させて過剰
乾燥を防止し、水分勾配が小さい場合は乾燥温度を上昇
させて十分な乾燥を行うように制御した場合も、穀粒の
乾燥むらによる胴割れを防止することができる。
【0016】このように、穀粒内の水分勾配から乾燥領
域を通過する穀粒の速度または乾燥温度を制御すれば、
穀粒に胴割れが生じることなく連続的に乾燥を行うこと
ができ、乾燥時間の短縮を図ることができる。
【0017】尚、本発明は、本発明の精神を逸脱しない
限り種々の改変を為すことができ、そして、本発明が該
改変されたものに及ぶことは当然である。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では電磁波
により穀粒内の水分分布を測定し、穀粒内の水分勾配を
求めることにより、穀粒の乾燥状態を正確に把握でき
る。従って、穀粒乾燥機にて穀粒を乾燥する際に、穀粒
内の水分勾配から乾燥領域を通過する穀粒の速度または
乾燥温度を制御すれば、穀粒の胴割れを防止しつつ連続
的に乾燥を行うことができ、乾燥時間が短縮されて穀粒
の乾燥制御の効率向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施の形態を示すものである。
【図1】水分勾配測定装置の構成を示す図。
【図2】水分勾配測定装置で撮影した画像を示す図。
【図3】ラインL1 について測定された水分分布の図。
【図4】ラインL2 について測定された水分分布の図。
【図5】ラインL2 の近似曲線を示す図。
【図6】穀粒の乾燥速度制御のフロチャート。
【図7】設定水分量と平均水分量の差に対する基準穀粒
速度の関係を示すグラフ。
【図8】水分勾配と穀粒速度補正係数の関係を示すグラ
フ。
【図9】水分勾配による乾燥速度制御のフロチャート。
【符号の説明】
10 穀粒 11 二次元水分検出センサ 12 レンズ 13 バンドパス・フィルタ E1 ,E2 穀粒端 B ボトム値

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電磁波における水分の吸収帯による吸収
    を利用して穀粒内の水分分布を測定し、任意の測定ライ
    ン上の穀粒端と近似曲線のボトム値とを結ぶ直線の傾斜
    により水分勾配を求めることを特徴とする穀粒内の水分
    勾配測定方法。
JP20862896A 1996-08-07 1996-08-07 穀粒内の水分勾配測定方法 Pending JPH1048126A (ja)

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JP20862896A JPH1048126A (ja) 1996-08-07 1996-08-07 穀粒内の水分勾配測定方法

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JP20862896A JPH1048126A (ja) 1996-08-07 1996-08-07 穀粒内の水分勾配測定方法

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JPH1048126A true JPH1048126A (ja) 1998-02-20

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ID=16559383

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JP20862896A Pending JPH1048126A (ja) 1996-08-07 1996-08-07 穀粒内の水分勾配測定方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004150877A (ja) * 2002-10-29 2004-05-27 Nisshin Flour Milling Inc 穀粒の特性計測方法およびその装置
JP2008032556A (ja) * 2006-07-28 2008-02-14 Takara Keiki Seisakusho:Kk 果菜類の非破壊品質評価装置及び非破壊品質評価方法
CN117783432A (zh) * 2023-12-14 2024-03-29 广东德恩农林发展有限公司 新鲜竹笋干燥程度的检测方法

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