JPH1047903A

JPH1047903A - 測長機

Info

Publication number: JPH1047903A
Application number: JP20175496A
Authority: JP
Inventors: Kunitoshi Nishimura; 国俊西村
Original assignee: Mitutoyo Corp; Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Current assignee: Mitutoyo Corp; Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Priority date: 1996-07-31
Filing date: 1996-07-31
Publication date: 1998-02-20

Abstract

(57)【要約】【課題】低測定圧化を実現して高精度の測定を行える測
長機を提供すること。【解決手段】フレーム１に軸方向移動自在にスピンドル
２を支持し、フレーム１の一部としてスピンドル２との
間に被測定物を挟持するためのアンビル３を設け、スピ
ンドル２とフレーム１との相対変位を検出機構５で検出
し、アンビル３との間で被測定物を挟持するための加圧
機構９を設け、測定に際して、スピンドル２により大き
な力で被測定物を保持しなくてもよくした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、直線方向の寸法を
高精度に測定する測定機、例えば、マイクロメータ等の
測長機に関する。

【０００２】

【背景技術】従来より、直線方向の寸法を高精度に測定
する測長機は種々の分野で利用されている。マイクロメ
ータをはじめとする測長機において、測定精度を向上さ
せるための基本的な方策は、測定力を常に一定に保つこ
とと、その測定力をなるべく小さくすることである。

【０００３】そのため、マイクロメータでは、従来よ
り、各種の技術が提案されている。例えば、特開昭57-1
73708号では、測定の際に、被測定物をアンビルとスピ
ンドルとの間に挟み、一定の測定圧を付与した時の表示
値を測定値として読みとっている。この装置は、スピン
ドルを手動作に応じて相対運動させるためのピニオンラ
ック機構と、スピンドルの相対移動量を検出する検出機
構と、スピンドルが被測定物に当接する測定圧が一定値
に達した時にスイッチング動作するスイッチとを備えた
構造である。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このような従来例で
は、スイッチによって測定圧を一定にすることができる
が、測定圧を低減するための工夫が盛り込まれていな
い。その理由は、単に、測定圧を低くすると、アンビル
とスピンドルとの間で被測定物を保持する力が低くなる
ため、被測定物とアンビルあるいはスピンドルとの位置
関係が不安定になり、必ずしも測定精度が上がらないか
らである。つまり、従来例では、測定力を常に一定に保
つことと、その測定力をなるべく小さくするという基本
方針は理解されても、同一機構において、低測定圧化と
定測定圧化とを同時に実現することは極めて困難であっ
た。

【０００５】本発明の目的は、低測定圧化を実現して高
精度の測定を行える測長機を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】そのため、本発明は測長
するための機構と被測定物を保持するための機構とを分
離して前記目的を達成しようとするものである。具体的
には、本発明の測長機は、フレームと、このフレームに
軸方向移動自在に支持されたスピンドルと、前記フレー
ムの一部であって前記スピンドルとの間に被測定物を挟
持するためのアンビルと、前記スピンドルと前記フレー
ムとの相対変位を検出する検出機構とを備えた測長機で
あって、前記アンビルとの間で被測定物を挟持するため
の加圧機構をその加圧力の中心が前記スピンドルの軸と
略一致するように設けたことを特徴とする。

【０００７】この構成の本発明では、測定にあたり、加
圧機構とアンビルとで被測定物を保持し、その後、スピ
ンドルを移動させる。スピンドルの先端部が被測定物に
当接した時に、そのスピンドルの先端とアンビルとの間
の寸法を検出機構で検出する。この検出した値を被測定
物の長さ寸法として適宜な表示手段で表示する。このよ
うに、本発明では、測定に際して、スピンドルにより大
きな力で被測定物を保持しなくてもよいので、低測定圧
化が図れ、測定精度を向上させることができる。しか
も、被測定物を加圧する加圧機構をその加圧力の中心が
前記スピンドルの軸と略一致するように設けたから、操
作性を損なうことがない。

【０００８】ここで、本発明においては、前記スピンド
ルは、被測定物に接触又は近接した際にトリガー信号を
発生するセンサを有する構造でもよい。この構造では、
スピンドルが被測定物に接触又は近接したことをセンサ
で確実に検知できるので、過剰な測定圧を被測定物に与
えることなく、測定精度を高いものにできる。

【０００９】しかも、前記センサは、先端に被測定物と
接触する接触部を有する振動子と、この振動子を共振さ
せるとともに振動子の振動の変化から前記接触部の被測
定物に対する接触を検出する圧電素子とを有するタッチ
センサとしてもよい。センサを前記構成のタッチセンサ
とすれば、振動子を被測定物に接触させることにより、
被測定物の材質や表面の反射率等、被測定物の条件に左
右されることなく、確実に被測定物の長さを測定するこ
とができる。

【００１０】また、前記加圧機構は、被測定物を前記ア
ンビル側に押圧するための押さえ部材と、この押さえ部
材と前記フレームとの間に介装され前記押さえ部材を前
記アンビル側に付勢する付勢部材とを備えた構造でもよ
い。この構造では、押さえ部材を付勢部材の付勢力によ
って被測定物に押圧するが、この付勢部材は押さえ部材
とフレームとの間に介装されているため、常に一定の力
で被測定部材は押さえ部材とアンビルとに挟持されるこ
とになる。従って、加圧機構の加圧力が一定になるた
め、この点からも測定精度を向上させることができる。

【００１１】しかも、前記フレームには前記押さえ部材
を前記付勢部材の付勢力に抗して所定位置に保持する操
作レバーが設けられた構造でもよい。この構造では、押
さえ部材とアンビルとの間で被測定物を挟持する操作が
容易に行える。

【００１２】また、前記加圧機構は、被測定物を前記ア
ンビル側に押圧するための押さえ部材と、この押さえ部
材と前記スピンドルの先端部との間に介装され前記押さ
え部材を前記アンビル側に付勢する付勢部材とを備えた
構造でもよい。この構造では、スピンドルに伴って押さ
え部材が被測定物に近接離隔することになるため、被測
定物への加圧操作並びに測定操作を一連の作業として容
易に行える。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。ここで、各実施形態中、同一又は同
様の構成要素は同一符号を付して説明を省略若しくは簡
略にする。本発明の第１の実施形態が図１及び図２に示
されている。図１は第１の実施形態にかかる測長機の斜
視図であり、図２は、その正面図である。

【００１４】これらの図において、第１の実施形態の測
長機は、Ｕ字型のフレーム１と、このフレーム１の一端
部に軸方向移動自在に支持されたスピンドル２と、フレ
ーム１の他端部に配置されスピンドル２との間に図示し
ない被測定物を挟持するためのアンビル３と、スピンド
ル２を進退させるスピンドル進退機構４と、スピンドル
２とフレーム１との相対変位を検出する検出機構５と、
アンビル３との間で被測定物を保持する保持機構６とを
備えたマイクロメータであり、保持機構６を除いては、
従来の機械的なマイクロメータと構造が同じである。

【００１５】スピンドル２は、略円柱状の部材であり、
一端がアンビル３に対向し、中央部から他端部にかけて
スピンドル進退機構４に収納されている。アンビル３は
フレーム１の一部を構成するものであり、略円盤状に形
成されている。スピンドル進退機構４は、フレーム１に
固定されたスリーブ７と、このスリーブ７の周方向に回
動可能に設けられスピンドル２に固定された略円筒状の
シンブル８とを備え、スピンドル２の外周に形成された
図示しない雄ねじ部と、スリーブの内周に形成された図
示しない雌ねじ部とが螺合し、シンブル８を回転させる
と、スピンドル２が進退する一般的な構造である。検出
機構５はスリーブ７の外周面に形成された目盛り７Ａ
と、シンブル８の外周面に形成された目盛り８Ａとから
構成される。

【００１６】保持機構６は、アンビル３との間で被測定
物を挟持するための加圧機構９と、この加圧機構９を操
作する操作レバー１０とを備えている。加圧機構９は、
被測定物をアンビル３側に押圧するための押さえ部材１
１と、この押さえ部材１１とフレーム１との間に介装さ
れ押さえ部材１１をアンビル３側に付勢する付勢部材１
２とを備えた構成である。

【００１７】押さえ部材１１は、その外径がアンビル３
の外径と略同じであり、その内径がスピンドル２の外径
より大きい扁平なリング状に形成されている。付勢部材
１２は、その一端が押さえ部材１１に固定され、その他
端がフレーム１に固定された予圧用のコイルばねであ
り、その軸芯は、スピンドル２の軸芯と一致している。
なお、第１の実施形態では、付勢部材１２をゴム等の弾
性部材から構成してもよい。この場合、弾性部材を筒状
に形成すれば、加圧力の中心をスピンドル２の軸と容易
に一致させることができる。

【００１８】操作レバー１０は、押さえ部材１１を付勢
部材１２の付勢力に抗して所定位置に保持するものであ
り、フレーム１にスピンドル２の軸方向に移動自在かつ
周方向に回動自在に支持された本体１０Ａと、この本体
１０Ａの一端部に略直角に折り曲げて形成され押さえ部
材１１の端面を保持可能とした保持部１０Ｂと、本体１
０Ａの他端部に略直角に折り曲げて形成され本体１０Ａ
及び保持部１０Ｂを回動操作するための摘み１０Ｃとが
一体に形成されたものである。

【００１９】この構成の第１の実施形態では、測定にあ
たり、スピンドル進退機構４によってスピンドル２を予
め後退させておき、保持部１０Ｂを押さえ部材１１に当
接させた状態で操作レバー１０の摘み１０Ｃをスピンド
ル進退機構４側に引っ張ってアンビル３と押さえ部材１
１との間の空間を広くする。その後、広くなった空間に
被測定物を挿入し、操作レバー１０の摘み１０Ｃを離
す。すると、加圧機構９を構成する付勢部材１２の付勢
力によって、操作レバー１０は軸方向に移動するととも
に、押さえ部材１１が所定の加圧力で被測定物を加圧
し、被測定物がアンビル３と押さえ部材１１との間で挟
持される。

【００２０】次に、操作レバー１０を９０度回動すると
（図１想像線参照）、操作レバー１０の保持部１０Ｂは
押さえ部材１１から離れ、被測定物は付勢部材１２の付
勢力のみでアンビル３に押しつけられる。その後、スピ
ンドル進退機構４のシンブル８を回転させると、スピン
ドル２は前進する。スピンドル２の先端部が押さえ部材
１１の内周空間を貫通して被測定物に当接した時に、そ
のスピンドル２の先端とアンビル３との間の寸法を検出
機構５を構成する目盛り７Ａ,８Ａで検出する。

【００２１】従って、第１の実施形態では、フレーム
１に軸方向移動自在にスピンドル２を支持し、フレーム
１の一部としてスピンドル２との間に被測定物を挟持す
るためのアンビル３を設け、スピンドル２とフレーム１
との相対変位を検出機構５で検出し、アンビル３との間
で被測定物を挟持するための加圧機構９を設けたから、
測定に際して、スピンドル２により大きな力で被測定物
を保持しなくてもよいので、低測定圧化が図れ、測定精
度を向上させることができる。しかも、被測定物を加圧
する加圧機構９をその加圧力の中心がスピンドル2の軸
と略一致するように設けたから、操作性を損なうことが
ない。

【００２２】また、加圧機構９は、被測定物をアンビ
ル３側に押圧するための押さえ部材１１と、この押さえ
部材１１とフレーム１との間に介装され押さえ部材１１
をアンビル３側に付勢する付勢部材１２とを備えた構成
としたから、常に一定の力で被測定部材は押さえ部材１
１とアンビル３とに挟持されることになる。そのため、
加圧機構９の加圧力が一定になるため、この点からも測
定精度を向上させることができる。

【００２３】しかも、フレーム１には押さえ部材１１
を付勢部材１２の付勢力に抗して所定位置に保持する操
作レバー１０が設けられているから、押さえ部材１１と
アンビル３との間で被測定物を挟持する操作が容易に行
える。さらに、押さえ部材１１は、その内径がスピン
ドル２の外径より大きい扁平なリング状に形成され、付
勢部材１２は、その軸芯がスピンドル２の軸芯と一致す
るコイルばねから構成したから、加圧機構９をスピンド
ル２に極めて近接させることができ、測定精度を向上さ
せることができる。特に、付勢部材１２をコイルばねか
ら構成すれば、被測定物の大きさにかかわらず、常に一
定の加圧力を確保できる。

【００２４】次に、本発明の第２の実施形態を図３に基
づいて説明する。第２の実施形態はアンビル及び加圧機
構の構成が第１の実施形態と相違するもので、他の構成
は第１の実施形態と同じである。全体構成を示す図３に
おいて、第２の実施形態の測長機は、略Ｕ字型に形成さ
れたフレーム２１と、このフレーム２１に支持された前
記スピンドル２と、フレーム２１の他端部においてスピ
ンドル２との間に図示しない被測定物を挟持するための
アンビル２３と、スピンドル２を進退させる前記スピン
ドル進退機構４と、スピンドル２とフレーム２１との相
対変位を検出する前記検出機構５と、アンビル２３との
間で被測定物を保持する保持機構２６とを備えたマイク
ロメータである。

【００２５】フレーム２１はスピンドル２を間に挟んで
突出部２１Ａが互いに反対側に形成されている。アンビ
ル２３はフレーム２１の一部を構成するものであり、平
面楕円形の板状に形成されている。保持機構２６は、ア
ンビル２３との間で被測定物を挟持するための加圧機構
２９と、この加圧機構２９を操作する前記操作レバー１
０とを備えている。加圧機構２９は、被測定物をアンビ
ル２３側に押圧するための押さえ部材３１と、この押さ
え部材３１をアンビル２３に対して近接離隔可能に突出
部２１Ａに支持する２本の支持ロッド３３と、押さえ部
材３１とフレーム２１との間に介装され押さえ部材３１
をアンビル２３側に付勢する付勢部材３２とを備えた構
成である。

【００２６】押さえ部材３１は、その輪郭形状がアンビ
ル２３と略同じであり、その内径がスピンドル２の外径
より大きい孔部を有する板状部材である。付勢部材３２
は、その一端が押さえ部材３１に固定され、その他端が
フレーム２１の突出部２１Ａに固定された予圧用のコイ
ルばねであり、その軸芯は、支持ロッド３３の軸芯と一
致している。なお、第２の実施形態では、付勢部材３２
をゴム等の弾性部材から構成してもよい。２本の支持ロ
ッド３３はスピンドル２を挟んで左右対称に配置されて
いる。従って、付勢部材３２の付勢力が働く中心はスピ
ンドル２の軸芯と一致する。

【００２７】従って、第２の実施形態では、第１の実施
形態のからと同様の作用効果を奏する他に、次の作
用効果を奏することができる。つまり、第２の実施形
態では加圧機構２９は、被測定物をアンビル２３側に
押圧するための押さえ部材３１と、この押さえ部材３１
をアンビル２３に対して近接離隔可能に突出部２１Ａに
支持する２本の支持ロッド３３と、押さえ部材３１とフ
レーム２１との間に介装され押さえ部材３１をアンビル
２３側に付勢する付勢部材３２とを備えた構成であるか
ら、アンビル２３及び押さえ部材３１を大きくすること
ができるため、大きな被測定物を十分に保持することが
できる。そのため、大きな被測定物でも、精度良く長さ
の測定が行える。

【００２８】次に、本発明の第３の実施形態を図４から
図７に基づいて説明する。第２の実施形態は、スピンド
ル、スピンドル進退機構、検出機構及び加圧機構の構成
が第１の実施形態と相違するもので、他の構成は第１の
実施形態と同じである。第３の実施形態を示す図４にお
いて、第３の実施形態の測長機は、略Ｕ字型に形成され
たフレーム４１と、このフレーム４１の一端部に軸方向
移動自在に支持されたスピンドル４２と、フレーム４１
の他端部において設けられた前記アンビル３と、スピン
ドル４２を進退させるスピンドル進退機構４４と、スピ
ンドル４２とフレーム４１との相対変位を検出する検出
機構４５と、アンビル３との間で被測定物を挟持するた
めの加圧機構４９とを備えたマイクロメータである。

【００２９】スピンドル４２は、略円筒状のスピンドル
本体５０と、このスピンドル本体５０の内部に配置され
被測定物に接触した際にトリガー信号を発生するセンサ
５１とを備え、このセンサ５１は振動子５２と、この振
動子５２の中間部に取り付けられたブロック５３と、こ
のブロック５３の両面（図４では片面のみ示す）に固定
された圧電素子５４とを備えたタッチセンサである。

【００３０】振動子５２は略円柱状に形成されており、
その一端に被測定物と接触する球状の接触部５２Ａし、
その他端にバランサ５２Ｂを有する。このバランサ５２
Ｂは共振時における振動の節が振動子５２の中心から外
れないように重量バランスをとるものである。圧電素子
５４は、振動子５２を共振させる加振用電極５４Ａと、
振動子５２の振動の変化から接触部５２Ａの被測定物に
対する接触を検出する検出用電極５４Ｂとに二分されて
おり、これらの電極５４Ａ,５４Ｂには特開平6-221806
号公報に記載された駆動回路及び検出回路等の電気回路
が接続されている。

【００３１】スピンドル進退機構４４はスピンドル４２
の中心部に固定された摘みであり、フレーム４１に形成
された案内溝４１Ａに沿ってスピンドル４２を軸方向に
進退させるものである。検出機構４５はスピンドル本体
５０の端部に固定されたメインスケール５５と、このメ
インスケール５５に対向配置されフレーム４１に固定さ
れたインデックススケール５６とを備え、これらのスケ
ール５５,５６の相対変位量を磁気的又は光学的な検出
手段により読みとる一般的な構成である。この変位量は
図示しない表示手段で表示される。

【００３２】加圧機構４９の構成が拡大して示された図
５において、スピンドル本体５０の先端部には雄ねじ部
５０Ａが形成されており、この雄ねじ部５０Ａには取付
用ナット５７が螺合されている。この取付用ナット５７
には円筒状に形成された付勢部材５８を介して押さえ部
材５９が設けられている。この押さえ部材５９は被定物
をアンビル３側に押圧するためのものであり、付勢部材
５８と同じ径を有し、かつ、同心上に配置された円筒状
部材である。

【００３３】付勢部材５８はゴム等の弾性部材から形成
され、押さえ部材５９が取付用ナット５７側に押された
際には、振動子５２の接触部５２Ａが押さえ部材５９か
ら露出するようにされている。なお、第３の実施形態で
は、図６（Ａ）に示される通り、付勢部材５８をベロー
ズとしてもよく、あるいは、図６（Ｂ）に示される通
り、付勢部材５８をコイルばねとしてもよい。要する
に、第３の実施形態では、押さえ部材５９とスピンドル
４２の先端部との間に介装され押さえ部材５９をアンビ
ル３側に付勢するものならば、その具体的な構成は問わ
ない。ここで、前記取付用ナット５７、付勢部材５８及
び押さえ部材５９から加圧機構４９が構成されている。
この加圧機構４９の加圧力を調整するには、取付用ナッ
ト５７のスピンドル本体５０の雄ねじ部５０Ａに対する
ねじ込み量を変更すればよい。

【００３４】次に、第３の実施形態における測定方法を
図７に基づいて説明する。まず、測定にあたり、スピン
ドル進退機構４４である摘みによってスピンドル４２を
予め後退させておき、アンビル３と押さえ部材５９との
間の空間を広くする。その後、図７（Ａ）に示される通
り、広くなった空間に被測定物Ｐを挿入し、さらに、図
７（Ｂ）に示される通り、スピンドル進退機構４４によ
ってスピンドル４２を前進させて押さえ部材５９を被測
定物Ｐに当接させる。

【００３５】さらに、図７（Ｃ）に示される通り、スピ
ンドル４２を被測定物Ｐに対して押し続けると、付勢部
材５８が弾性変形して押さえ部材５８が変位し、振動子
５２の接触部５２Ａが被測定物Ｐに当接する。すると、
センサ５１がトリガ信号を発信し、スピンドル４２の先
端とアンビル３との間の寸法を検出機構４５で検出す
る。

【００３６】従って、第３の実施形態では、第１の実施
形態のと同様の作用効果を奏する他に、次の作用効果
を奏することができる。つまり、第３の実施形態で
は、スピンドル４２は、被測定物Ｐに接触した際にトリ
ガー信号を発生するセンサ５１を有する構造としたか
ら、スピンドル４２が被測定物Ｐに接触したことを確実
に検知できるので、過剰な測定圧を被測定物Ｐに与える
ことなく、測定精度を高いものにできる。

【００３７】しかも、センサ５１は、先端に被測定物
Ｐと接触する接触部５２Ａを有する振動子５２と、この
振動子５２を共振させるとともに振動子５２の振動の変
化から接触部５２Ａの被測定物Ｐに対する接触を検出す
る圧電素子５４とを有するタッチセンサとしたから、被
測定物の材質や表面の反射率等、被測定物の条件に左右
されることなく、振動子５２を被測定物Ｐに接触させる
ことにより、確実に被測定物の長さを測定することがで
きる。

【００３８】また、加圧機構４９は、被測定物Ｐをア
ンビル３側に押圧するための押さえ部材５９と、この押
さえ部材５９とスピンドル４２の先端部との間に介装さ
れ押さえ部材５９をアンビル３側に付勢する付勢部材５
８とを備えたから、スピンドル４２に伴って押さえ部材
５９が被測定物Ｐに近接離隔することになるため、被測
定物Ｐへの加圧操作を容易に行える。

【００３９】しかも、加圧機構４９は、スピンドル本
体５０の雄ねじ部５０Ａに螺合される取付用ナット５７
を備えて構成し、この取付用ナット５７と押さえ部材５
９との間に付勢部材５８を介装したから、取付用ナット
５７のスピンドル本体５０の雄ねじ部５０Ａに対するね
じ込み量を調整するだけで、加圧機構４９の加圧力を調
整することができる。そのため、被測定物Ｐの固さに合
わせて加圧力を調整することができる。

【００４０】なお、本発明は前述の実施形態に限定され
るものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変
形、改良等は本発明に含まれるものである。例えば、前
記第３の実施形態では、スピンドル４２は、被測定物に
接触した際にトリガー信号を発生するタッチセンサ５１
を有する構造としたが、本発明で使用されるセンサはこ
の構造に限定されるものではない。

【００４１】例えば、図８に示される通り、センサ６１
は、棒状の弾性体６２に歪みゲージ６３を２枚貼付し、
弾性体６２の歪み量を歪みゲージ６３で検出する構造の
ものでもよい。ノイズ対策のため、歪みゲージ６３に近
接して増幅器やトリガ信号発生回路等の回路６４が設け
られている。スピンドル本体５０は、フレーム４１に対
して移動自在に取り付けられており、その端部に設けら
れたメインスケール５５と、このメインスケール５５に
対向配置されフレーム４１に固定されたインデックスス
ケール５６とから検出機構４５が構成されている。

【００４２】また、図９に示される通り、図８のセンサ
６１に代えて静電容量の変化を検知する近接センサ７１
を用いてもよい。この近接センサ７１は、複数の金属層
７２と不導体層７３とから構成される。さらに、被測定
物の材質や表面の反射率の左右されることがなければ、
図１０に示される通り、図８のセンサ６１に代えて被測
定物に近接した際にトリガー信号を発生する光センサ８
１を用いてもよい。この光センサ８１は被測定物に光を
発する発光素子８２と、被測定物から反射された光を受
光する受光素子８３とから構成される。なお、図８から
図１０ではアンビルの図示は省略されている。

【００４３】また、本発明の測長機は、マイクロメータ
に限定されるものではなく、フレーム１,２１,４１に軸
方向移動自在にスピンドル２,４２を支持し、フレーム
１,２１,４１の一部としてスピンドル２,４２との間に
被測定物を挟持するためのアンビル３,２３を設け、ス
ピンドル２,４２とフレーム１,２１,４１との相対変位
を検出機構５,４５で検出する構造であれば、いかなる
測長機も含まれる。

【００４４】

【発明の効果】このような本発明によれば、フレームに
軸方向移動自在にスピンドルを支持し、フレームの一部
としてスピンドルとの間に被測定物を挟持するためのア
ンビルを設け、スピンドルとフレームとの相対変位を検
出機構で検出し、アンビルとの間で被測定物を挟持する
ための加圧機構を設けたから、測定に際して、スピンド
ルにより大きな力で被測定物を保持しなくてもよいの
で、低測定圧化が図れ、測定精度を向上させることがで
きる。しかも、被測定物を加圧する加圧機構をその加圧
力の中心がスピンドルの軸と略一致するように設けたか
ら、操作性を損なうことがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態にかかる測長機を示す
斜視図である。

【図２】前記測長機の正面図である。

【図３】本発明の第２の実施形態にかかる測長機を示す
斜視図である。

【図４】本発明の第３の実施形態にかかる測長機を示す
一部を破断した斜視図である。

【図５】第３の実施形態にかかる測長機の加圧機構を示
す一部を破断した斜視図である。

【図６】第３の実施形態にかかる測長機の加圧機構の変
形例を示す断面図である。

【図７】第３の実施形態の操作手順を説明する図であ
る。

【図８】本発明の変形例を示す一部を破断した正面図で
ある。

【図９】本発明の異なる変形例を示す一部を破断した正
面図である。

【図１０】本発明のさらに異なる変形例を示す一部を破
断した正面図である。

【符号の説明】

１,21,41 フレーム２,42 スピンドル３,23 アンビル５,45 検出機構９,29,49 加圧機構 11,31,59 押さえ部材 12,32,58 付勢部材１０操作レバー 51,61,71,81 センサ５２振動子５２Ａ接触部５４圧電素子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】フレームと、このフレームに軸方向移動自
在に支持されたスピンドルと、前記フレームの一部であ
って前記スピンドルとの間に被測定物を挟持するための
アンビルと、前記スピンドルと前記フレームとの相対変
位を検出する検出機構とを備えた測長機であって、前記
アンビルとの間で被測定物を挟持するための加圧機構を
その加圧力の中心が前記スピンドルの軸と略一致するよ
うに設けたことを特徴とする測長機。
【請求項２】請求項１記載の測長機において、前記スピ
ンドルは、被測定物に接触又は近接した際にトリガー信
号を発生するセンサを有することを特徴とする測長機。
【請求項３】請求項２記載の測長機において、前記セン
サは、先端に被測定物と接触する接触部を有する振動子
と、この振動子を共振させるとともに振動子の振動の変
化から前記接触部の被測定物に対する接触を検出する圧
電素子とを有するタッチセンサであることを特徴とする
測長機。
【請求項４】請求項１記載の測長機において、前記加圧
機構は、被測定物を前記アンビル側に押圧するための押
さえ部材と、この押さえ部材と前記フレームとの間に介
装され前記押さえ部材を前記アンビル側に付勢する付勢
部材とを備えたことを特徴とする測長機。
【請求項５】請求項４記載の測長機において、前記フレ
ームには前記押さえ部材を前記付勢部材の付勢力に抗し
て所定位置に保持する操作レバーが設けられていること
を特徴とする測長機。
【請求項６】請求項２又は３に記載の測長機において、
前記加圧機構は、被測定物を前記アンビル側に押圧する
ための押さえ部材と、この押さえ部材と前記スピンドル
の先端部との間に介装され前記押さえ部材を前記アンビ
ル側に付勢する付勢部材とを備えたことを特徴とする測
長機。