JPH10334410A - 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents

薄膜磁気ヘッド及びその製造方法

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JPH10334410A
JPH10334410A JP9139790A JP13979097A JPH10334410A JP H10334410 A JPH10334410 A JP H10334410A JP 9139790 A JP9139790 A JP 9139790A JP 13979097 A JP13979097 A JP 13979097A JP H10334410 A JPH10334410 A JP H10334410A
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film
magnetic
pole portion
track width
insulating film
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Satoshi Uejima
聡史 上島
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TDK Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 書き込みポールのトラック幅を、高精度の微
小値に設定する。 【解決手段】 下部ポール部212は下部ヨーク部21
1の上に突出して付着されている。上部ポール部222
はギャップ膜23の上に付着され、トラック幅W21が
下部ポール部212のトラック幅W11と等しくなって
いる。下部ポール部212、上部ポール部222及びギ
ャップ膜23は、非磁性絶縁膜26によって埋められて
いる。非磁性絶縁膜26は、平坦化された上面が上部ポ
ール部222の表面と同一平面を形成している。上部ヨ
ーク部221は、先端部が上部ポール部222のトラッ
ク幅W21よりも広いトラック幅W22を有して上部ポ
ール部222の上に積層され、トラック幅方向の両端が
非磁性絶縁膜26の上面に付着されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜磁気ヘッド及びそ
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータの記憶装置を構成する磁気
ディスク装置に用いられる薄膜磁気ヘッドとして、薄膜
書き込み素子と、MR読み取り素子とを有する複合型の
ものが主に用いられるようになっている。
【0003】MR読み取り素子は、磁気ディスクとの間
の相対速度に依存せず、高い分解能が得られる。MR読
み取り素子は、第1シールド膜と、第2シールド膜と、
MR素子とを含んでいる。第1シールド膜及び第2シー
ルド膜は、適当な非磁性絶縁物を介して、互いに間隔を
隔てて配置され、MR素子は第1シールド膜及び第2シ
ールド膜の間に配置されている。
【0004】書き込み素子としては、誘導型電磁変換素
子が用いられ、MR読み取り素子の上に積層される。書
き込み素子となる誘導型薄膜磁気変換素子は、MR読み
取り素子に対する第2シールド膜を兼ねている下部磁性
膜、上部ヨーク部、ギャップ膜及び有機樹脂で構成され
た絶縁膜によって支持されたコイル膜等を有している。
【0005】下部磁性膜及び上部ヨーク部の先端部は微
小厚みのギャップ膜を隔てて対向する下部ポール部及び
上部ポール部となっており、下部ポール部及び上部ポー
ル部において書き込みを行なう。
【0006】下部磁性膜及び上部磁性膜は、そのヨーク
部が下部ポール部及び上部ポール部とは反対側にあるバ
ックギャップ部において、磁気回路を完成するように互
いに結合されている。コイル膜はヨーク部の結合部のま
わりを渦巻状にまわるように形成されている。
【0007】この種の薄膜磁気ヘッドを用いて、高記録
密度に対応するためには、磁気ディスクの単位面積当た
りに記憶されるデータ量(面密度)を高めなければなら
ない。面密度は、書き込み素子の能力によって左右され
る。面密度は、書き込み素子において、ポール間のギャ
ップ長を小さくすることによって高めることができる。
但し、ギャップ長の短縮は、ポール間の磁束強度の減少
を招くので、おのずと限界がある。
【0008】記録の面密度を高めるもう一つの手段は、
磁気ディスクに記録できるデータトラック数を増やすこ
とである。磁気ディスクに記録できるトラック数は、通
常、TPI(track per inch)として表現される。書き
込み素子のTPI能力は、データ.トラックの幅を決め
るヘッド寸法を小さくすることによって高めることがで
きる。このヘッド寸法は、通常、ヘッドのトラック幅と
称されている。
【0009】上述した従来の薄膜磁気ヘッドの問題点の
一つは、書き込み素子において、下部磁性膜が、MR読
み取り素子の第2シールド膜として兼用されているた
め、下部ポール部のトラック幅を狭くすることができ
ず、このため、記録中にかなり大きなサイドフリンジン
グ磁界が生じることである。この磁界は、トラック幅を
小さくした上部ポール部から、トラック幅が縮小されて
いない下部磁性膜への磁束の漏れによって生じる。サイ
ドフリンジング磁界は達成可能な最小トラック幅を制限
し、トラック密度の向上に限界を生じさせる。また、書
き込まれたトラック.データをMR素子で読み取るとき
のオフトラック性能を劣化させる。
【0010】特開平7ー262519号公報及び特開平
7ー225917号公報は、イオン.ビーム.ミリング
により、下部ポール部のトラック幅を、上部ポール部の
トラック幅に合わせる手段を開示している。しかし、イ
オン.ミリング処理中に生じた粒子が上部ポール部また
は下部ポールの側壁に再付着する等の現象を生じる。こ
のようにして再付着によって生成された部分は、書き込
みポールのトラック幅を高精度の微小値に設定するため
の障害となる。また、再付着によって生成された部分は
磁気的特性が劣化しているのが普通であるから、磁気特
性の改善の観点から、再付着は好ましくない。
【0011】また、この種の複合薄膜磁気ヘッドにおい
て、コイル膜を支持する絶縁膜は高く盛り上がってい
る。このため、上部ヨーク部を形成するためのフォトリ
ソグラフィ工程において、フォトレジストを付着させた
場合、フォトレジストが段差部に厚く付着する。従っ
て、段差部の下側に形成される上部ポール部のパターン
を、膜厚の厚いフォトレジストを通してパターンニング
しなければならず、アスペクト比(レジストの高さと幅
の比)が著しく高くなる。このため、トラック幅の狭小
化に適していない。
【0012】特開平6ー28626号公報は、第1の磁
気ヨーク層(下部ヨーク部)を形成した後、フォトレジ
スト層を付着させ、フォトレジスト層に、下部ポール
部、ギャップ膜及び上部ポール部でなる磁極端アセンブ
リをパータン形成するための開口部を設ける。次に、開
口部に磁極端アセンブリを形成した後、磁極端アセンブ
リの前部に位置するフォトレジスト層を除去する。次
に、フォトレジスト層をハードベーキングして、平坦化
された絶縁層を形成する。この後、従来方法によりコイ
ル構造や絶縁膜等を構成し、更に第2の磁気ヨーク層
(上部ヨーク部)を形成する。この従来技術の問題点の
一つは、流動性等のために平坦化しにくいフォトレジス
ト層を、平坦化膜として利用していること、及び、第2
の磁気ヨーク層(上部ヨーク部)のトラック方向幅が、
磁極端アセンブリよりも狭い幅になってしまうことであ
る。
【0013】上記従来技術は、更に、第1の磁気ヨーク
層(下部ヨーク部)を形成した後、フォトレジスト層を
付着させ、フォトレジスト層に、下部ポール部、ギャッ
プ膜及び上部ポール部でなる磁極端アセンブリをパータ
ン形成するための開口部を設け、開口部内に磁極端アセ
ンブリを形成した後、コイル構造や絶縁膜等を構成し、
更に第2の磁気ヨーク層(上部ヨーク部)を形成する。
この場合の問題点は、開口部内において、上部ヨーク部
を磁極端アセンブリに付着させなければならないので、
トラック幅が狭小化された場合に、磁極端アセンブリに
対する上部ヨーク部の付着に問題を生じ易いことであ
る。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、書き
込みポールのトラック幅を、ドライエッチングプロセス
を経ることなく、高精度の微小値に設定し得る薄膜磁気
ヘッドを提供することである。
【0015】本発明のもう一つの課題は、トラック幅の
狭い上部ポール部及び下部ポール部を高精度で容易に位
置合わせできる構造を持つ薄膜磁気ヘッドを提供するこ
とである。
【0016】本発明の更にもう一つの課題は、上述した
薄膜磁気ヘッドを得るのに適した製造方法を提供するこ
とである。
【0017】
【課題を解決するための手段】上述した課題解決のた
め、本発明に係る薄膜磁気ヘッドにおいて、書き込み素
子は、下部磁性膜と、上部磁性膜と、ギャップ膜と、絶
縁膜によって支持されたコイル膜とを含んでいる。下部
磁性膜は、下部ヨーク部と、下部ポール部とを含み、下
部ポール部が下部ヨーク部の上に付着されている。
【0018】上部磁性膜は、上部ポール部と、上部ヨー
ク部とを含んでいる。上部ポール部は、下部ポール部の
上に付着されたギャップ膜の上に付着され、トラック幅
が下部ポール部のトラック幅と実質的に等しくなってい
る。
【0019】下部ポール部、上部ポール部及びギャップ
膜は、周りが非磁性絶縁膜によって埋められている。非
磁性絶縁膜は、上面が平坦化され、平坦化された上面が
上部ポール部の表面と実質的に同一平面を形成してい
る。
【0020】上部ヨーク部は、先端部が上部ポール部の
トラック幅よりも広いトラック幅を有して上部ポール部
の上に積層され、トラック幅方向の両端が非磁性絶縁膜
の上面に付着されている。コイル膜を支持した絶縁膜
は、非磁性絶縁膜の上面上に形成されている。
【0021】書き込み素子の上部ポール部は、下部ポー
ル部と対向し、かつ、ギャップ膜によって分離され、ト
ラック幅が下部ポール部のトラック幅と実質的に等しく
なっている。このため、サイドフリンジング磁界の発生
を抑え、トラック密度を高め、高密度記録を達成するこ
とができる。
【0022】上部ヨーク部は、先端部が上部ポール部の
トラック幅よりも広いトラック幅を有して上部ポール部
の上に積層されているから、上部ポール部のトラック幅
を狭小化しても、書き込み能力を損なうことがない。
【0023】更に、上部ヨーク部を、上部ポール部と同
時に形成するのではなく、上部ポール部の上に積層する
構造であるから、上部ポール部を、下部ポール部及びギ
ャップ膜と同一のトラック幅を有するように形成した
後、上部ヨーク部を形成することができる。この構造
は、製造工程上、多くの利点をもたらす。具体的には、
第2シールド膜の上にフレームを形成した後、フレーム
によって画定された内外のパターンに、磁性膜、非磁性
膜及び磁性膜の積層膜を付着させ、次に、外側パターン
に付着した積層膜を除去し、内側パターンに付着した積
層膜を残して、第2シールド膜を下部ヨーク部とし、そ
の上に付着された磁性膜を下部ポール部とし、その上に
積層された非磁性膜をギャップ膜とし、その上に積層さ
れた磁性膜を上部ポール部とする積層膜を形成する工程
を採用することができる。この製造工程によれば、上記
フレームを、積層過程の低段差の段階で形成できるた
め、下部ポール部及び上部ポール部のトラック幅を、フ
ォトリソグラフィ工程によって定まる高精度の微小値に
設定することができる。
【0024】下部ポール部、ギャップ膜及び上部ポール
部の位置合わせは、同一のフォトリソグラフィ工程によ
り形成される同一のフレームよって実行されるから、下
部ポール部及び上部ポール部を、高精度で容易に位置合
わせすることができる。
【0025】下部ポール部、上部ポール部及びギャップ
膜は、周りが非磁性絶縁膜によって埋められている。非
磁性絶縁膜は、上面が平坦化され、平坦化された上面が
上部ポール部の表面と実質的に同一平面を形成してい
る。この構造の利点の一つは、上部ヨーク部を、非磁性
絶縁膜の上面に凹部等を設けることなく、上部ポール部
の表面に、上部ヨーク部を直接に結合できることであ
る。このため、上部ポール部のトラック幅が狭小化され
た場合でも、上部ポール部に対して、上部ヨーク部を確
実、かつ、容易に付着させることができる。しかも、上
部ヨーク部は、先端部が上部ポール部のトラック幅より
も広いトラック幅を有しているから、上部ポール部のト
ラック幅を狭小化しても、書き込み能力を損なうことが
ない。また、上部ヨーク部はトラック幅方向の両端が非
磁性絶縁膜の上面に付着されているから、上部ポール部
のトラック幅を狭小化しても、充分な付着面積及び付着
強度を確保できる。
【0026】もう一つの利点は、非磁性絶縁膜の平坦化
により、コイル膜を形成するための平坦なベースが得ら
れることである。即ち、平坦化された非磁性絶縁膜の上
にコイル膜及びその支持絶縁膜を形成することができ
る。従って、コイル膜形成工程を、平坦化された非磁性
絶縁膜の上で実行できるから、段差のある領域にコイル
膜を形成する場合に発生し易いコイル膜の断線、短絡等
を回避することができる。
【0027】非磁性絶縁膜の形成及び平坦化は、ポール
部を形成した後、フレームを除去し、第2シールド膜及
び積層膜を覆う非磁性絶縁膜を成膜し、成膜された非磁
性絶縁膜の表面を平坦化して、上部ポール部の表面を露
出させることによって実行できる。
【0028】次の工程では、平坦化された非磁性絶縁膜
の上にコイル膜及びその支持絶縁膜を形成する。コイル
膜形成工程は、平坦化された非磁性絶縁膜の上で実行さ
れるから、段差のある領域にコイル膜を形成する場合に
発生し易いコイル膜の断線、短絡等を回避することがで
きる。
【0029】コイル膜を支持する絶縁膜を形成した後、
上部ヨーク部を形成する。上部ヨーク部を形成する段階
では、書き込み特性を決定する下部ポール部及び上部ポ
ール部は、既に形成されているから、上部ヨーク部の形
成工程により、トラック幅が変動することがない。
【0030】本発明に係る薄膜磁気ヘッドは、通常は、
MR読み取り素子を含んでいる。MR読み取り素子は、
第1シールド膜と、第2シールド膜と、MR素子とを含
み、第1シールド膜及び第2シールド膜が互いに間隔を
隔てて配置され、MR素子が第1シールド膜及び第2シ
ールド膜の間に配置されている。
【0031】書き込み素子は、MR読み取り素子の上に
積層される。この場合、第2シールド膜は、書き込み素
子の下部ヨーク部として兼用される。下部ポール部は下
部ヨーク部の上に突出して設けられているから、第2シ
ールド膜の幅を、MR読み取り素子を保護するのに必要
な寸法に保ったままで、下部ポール部のトラック幅を狭
小化することができる。
【0032】本発明の他の目的、構成及び利点について
は、実施例である添付図面を参照して、更に詳しく説明
する。
【0033】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る薄膜磁気ヘッ
ドの断面図、図2は図1の2−2線に沿った断面図、図
3は図1及び図2に示した薄膜磁気ヘッドのポール部の
拡大斜視図である。図において、寸法は誇張されてい
る。この実施例は、書き込み素子2と、MR読み取り素
子3とを合わせ持つ複合型の薄膜磁気ヘッドを示してい
る。書き込み素子2及びMR読み取り素子3は、スライ
ダとして用いられる基体1の上に付着されて、読み書き
部分が基体1の空気ベアリング面10に位置している。
矢印aは回転する磁気記録媒体と組み合わせた場合の空
気の流れ方向を示している。
【0034】書き込み素子2は、誘導型薄膜磁気変換素
子であり、MR読み取り素子3の上に積層されている。
書き込み素子2は、下部磁性膜21と、上部磁性膜22
と、ギャップ膜23と、ノボラック樹脂等の有機樹脂で
構成された絶縁膜25によって支持されたコイル膜24
とを含んでいる。下部磁性膜21は、下部ヨーク部21
1と、下部ポール部212とを含み、下部ポール部21
2が下部ヨーク部211の上に突出して付着されてい
る。ギャップ膜23はAu、CuまたはNiP等の導電
性非磁性材料によって構成できる。
【0035】上部磁性膜22は、上部ポール部222
と、上部ヨーク部221とを含んでいる。上部ポール部
222は、下部ポール部212の上に付着されたギャッ
プ膜23の上に付着され、トラック幅W21が下部ポー
ル部212のトラック幅W11と実質的に等しくなって
いる。
【0036】下部ポール部212、上部ポール部222
及びギャップ膜23は、周りが非磁性絶縁膜26によっ
て埋められている。非磁性絶縁膜26は、上面が平坦化
され、平坦化された上面が上部ポール部222の表面と
実質的に同一平面を形成している。非磁性絶縁膜26と
しては、Al2O3、SiO2等が用いられる。参照符号27は
全体を覆う保護膜であり、Al2O3、SiO2等で構成されて
いる。
【0037】上部ヨーク部221は、先端部が上部ポー
ル部222のトラック幅W21よりも広いトラック幅W
22を有して上部ポール部222の上に積層され、トラ
ック幅方向の両端が非磁性絶縁膜26の上面に付着され
ている。コイル膜24を支持した絶縁膜25は、非磁性
絶縁膜26の上面上に形成されている。
【0038】下部磁性膜21及び上部磁性膜22は、そ
のヨーク部211、221が下部ポール部212及び上
部ポール部222とは反対側にある後方の結合部223
において、磁気回路を完成するように互いに結合されて
いる。絶縁膜25の上に、結合部223のまわりを渦巻
状にまわるように、コイル膜24を形成してある。コイ
ル膜24の巻数および層数は任意である。
【0039】MR読み取り素子3は、第1シールド膜3
1と、第2シールド膜32と、MR素子33と、リード
導体膜35とを含む。第1シールド膜31及び第2シー
ルド膜32は互いに間隔を隔てて配置されており、MR
素子33及びリード導体膜35は第1シールド膜31及
び第2シールド膜32の間に配置されている。第2シー
ルド膜32は書き込み素子2の下部ヨーク部211を構
成している。第1シールド膜31及び第2シールド膜3
2の間には無機絶縁膜34があり、MR素子33及びリ
ード導体膜35は無機絶縁膜34の内部に配置されてい
る。
【0040】上述したように、書き込み素子2の上部ポ
ール部222は、下部ポール部212と対向し、かつ、
ギャップ膜23によって分離され、トラック幅W21が
下部ポール部212のトラック幅W11と実質的に等し
くなっている。このため、サイドフリンジング磁界の発
生を抑え、トラック密度を高め、高密度記録を達成する
ことができる。
【0041】上部ヨーク部221は、先端部が上部ポー
ル部222のトラック幅W21よりも広いトラック幅W
22を有して上部ポール部222の上に積層されている
から、上部ポール部222のトラック幅W21を狭小化
しても、書き込み能力を損なうことがない。
【0042】更に、上部ヨーク部221を、上部ポール
部222と同時に形成するのではなく、上部ポール部2
22の上に積層する構造であるから、上部ポール部22
2を、下部ポール部212及びギャップ膜23と同一の
トラック幅(W21=W11)を有するように形成した
後、上部ヨーク部221を形成することができる。この
構造は、後で説明するように、製造工程上、多くの利点
をもたらす。
【0043】下部ポール部212、上部ポール部222
及びギャップ膜23は、周りが非磁性絶縁膜26によっ
て埋められている。非磁性絶縁膜26は、上面が平坦化
され、平坦化された上面が上部ポール部222の表面と
実質的に同一平面を形成している。この構造の利点の一
つは、上部ヨーク部221を、非磁性絶縁膜26の上面
に凹部等を設けることなく、上部ポール部222の表面
に、上部ヨーク部221を直接に結合できることであ
る。このため、上部ポール部222のトラック幅が狭小
化された場合でも、上部ポール部に対して、上部ヨーク
部221を確実、かつ、容易に付着させることができ
る。しかも、上部ヨーク部221は、先端部が上部ポー
ル部222のトラック幅W21よりも広いトラック幅W
22を有しているから、上部ポール部222のトラック
幅W21を狭小化しても、書き込み能力を損なうことが
ない。また、上部ヨーク部221はトラック幅方向の両
端が非磁性絶縁膜26の上面に付着されているから、上
部ポール部222のトラック幅W21を狭小化しても、
充分な付着面積及び付着強度を確保できる。
【0044】もう一つの利点は、非磁性絶縁膜26の平
坦化により、コイル膜24を形成するための平坦なベー
スが得られることである。即ち、平坦化された非磁性絶
縁膜26の上にコイル膜24及びその支持絶縁膜25を
形成することができる。従って、コイル膜形成工程を、
平坦化された非磁性絶縁膜26の上で実行できるから、
段差のある領域にコイル膜24を形成する場合に発生し
易いコイル膜24の断線、短絡等を回避することができ
る。
【0045】書き込み素子2は、MR読み取り素子3の
上に積層される。この場合、第2シールド膜32は、書
き込み素子2の下部ヨーク部211として兼用される。
下部ポール部212は下部ヨーク部211の上に突出し
て設けられているから、第2シールド膜32の幅を、M
R読み取り素子3を保護するのに必要な寸法に保ったま
まで、下部ポール部212のトラック幅W11を狭小化
することができる。
【0046】本発明において、書き込み素子2を構成す
る誘導型薄膜磁気変換素子としては、これまで提案さ
れ、またはこれから提案されることのある各種のタイプ
のものが使用できる。MR読み取り素子3としては、パ
ーマロイ膜等の磁気異方性磁気抵抗効果膜を利用したも
の、スピンバルブ膜や、トンネル接合効果膜等で代表さ
れる巨大磁気抵抗効果を利用したもの等、これまで提案
され、またはこれから提案されることのある各種のタイ
プのものが使用できる。書き込み素子2及びMR読み取
り素子3は、スライダ上に搭載される。スライダは、一
本以上のレールを有するタイプの他、レールを持たない
ものであっても用いることができる。
【0047】次に図4〜図19を参照して、本発明に係
る薄膜磁気ヘッドの製造方法について説明する。製造工
程はウエハ上で実行されるが、図示では、ウエハ上に形
成された多数の磁気ヘッド要素の一つのみを取り出して
示してある。
【0048】図4は本発明に係る製造方法の一つのステ
ップを示す断面図、図5は図4の5−5線に沿った拡大
断面図である。図4及び図5に示す工程では、基体1の
上に、既に、MR読み取り素子3が形成されている。M
R読み取り素子3の第2シールド膜32は無機絶縁膜3
4の表面に形成されている。
【0049】次に、図6及び図7に示すように、第2シ
ールド膜32の上に、フレーム4を形成する。フレーム
4はフォトリソグラフィ工程によって形成されたもの
で、ポール部のパターンを画定する内側パターン41を
有する。内側パターン41の幅W31はポール部のトラ
ック幅W11、W21(図2、図3参照)を画定する。
【0050】次に、図8及び図9に示すように、フレー
ム4によって画定された内側パターン41及び外側パタ
ーンに、第1の磁性膜51、非磁性膜52及び第2の磁
性膜53の積層膜61、62を付着させる。これらは、
フレームメッキ法によって形成できる。
【0051】次に、図10及び図11に示すように、内
側パターン41に付着した積層膜61を残して、外側パ
ターンに付着した積層膜62を除去する。内側パターン
41に付着した積層膜61のうち、第2シールド膜32
の上に付着された第1の磁性膜51が下部ポール部21
2となり、その上に積層された非磁性膜52がギャップ
膜23となり、その上に積層された第2の磁性膜53が
上部ポール部222となる。この製造工程によれば、フ
レーム4を、積層過程の低段差の段階で形成できるた
め、下部ポール部212及び上部ポール部222のトラ
ック幅W11、W21を、フォトリソグラフィ工程によ
って定まる高精度の微小値に設定することができる。
【0052】しかも、下部ポール部212、ギャップ膜
23及び上部ポール部222は、形成されたフレーム4
により、同時に画定されるため、高精度で容易に位置合
わせすることができる。
【0053】次に、図12及び図13に示すように、フ
レーム4を除去する。フレーム4は有機溶剤またはレジ
ストリムーバー液によって除去できる。
【0054】次に、図14及び図15に示すように、下
部ヨーク部211及び積層膜61を覆う非磁性絶縁膜2
6を成膜する。非磁性絶縁膜26は、スパッタリング等
によって形成できる。
【0055】次に、図16及び図17に示すように、非
磁性絶縁膜26の表面を平坦化して、上部ポール部22
2の表面を露出させる。この平坦化工程は、研磨法また
はイオンビームミリング等によって実行できる。
【0056】次に、図18及び図19に示すように、平
坦化された非磁性絶縁膜26の上にコイル膜24及びそ
の支持絶縁膜25を形成した後、上部ヨーク部221を
形成する。このとき、非磁性絶縁膜26は、上面が平坦
化され、平坦化された上面が上部ポール部222の表面
と実質的に同一平面を形成しているから、非磁性絶縁膜
26の上面に凹部等を設けることなく、上部ポール部2
22の表面に、上部ヨーク部221を直接に結合でき
る。このため、上部ポール部222のトラック幅が狭小
化された場合でも、上部ポール部222に対して、上部
ヨーク部221を確実、かつ、容易に付着させることが
できる。
【0057】上部ヨーク部221は、先端部が上部ポー
ル部222のトラック幅W21よりも広いトラック幅W
22を有するように付着される。この構造によれば、上
部ポール部222のトラック幅を狭小化しても、書き込
み能力を損なうことがない。また、上部ヨーク部221
はトラック幅方向の両端が非磁性絶縁膜26の上面に付
着されているから、上部ポール部222のトラック幅W
21を狭小化しても、充分な付着面積及び付着強度を確
保できる。しかも、上部ヨーク部221を形成する段階
では、書き込み特性を決定するポール部(212、2
3、222)は、既に形成されているから、上部ヨーク
部221の形成工程により、トラック幅が変動すること
がない。
【0058】更に、非磁性絶縁膜26の平坦化により、
コイル膜24を形成するための平坦なベースが得られ
る。即ち、平坦化された非磁性絶縁膜26の上にコイル
膜24及びその支持絶縁膜25を形成することができ
る。従って、コイル膜形成工程を、平坦化された非磁性
絶縁膜26の上で実行できるから、段差のある領域にコ
イル膜24を形成する場合に発生し易いコイル膜24の
断線、短絡等を回避することができる。
【0059】以上、好適な具体的実施例を参照して本発
明を詳説したが、本発明の本質及び範囲から離れること
なく、その形態と細部において、種々の変形がなされ得
ることは、当業者にとって明らかである。
【0060】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果が得られる。 (a)書き込みポールのトラック幅を、ドライ.エッチ
ング.プロセスを経ることなく、高精度の微小値に設定
し得る薄膜磁気ヘッドを提供することができる。 (b)上部ポール部及び下部ポール部を高精度で容易に
位置合わせできる構造を持つ薄膜磁気ヘッドを提供する
ことができる。 (c)上述した薄膜磁気ヘッドを得るのに適した製造方
法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの断面図である。
【図2】図1の2ー2線に沿った断面図である。
【図3】図1及び図2に示した薄膜磁気ヘッドのポール
部の拡大斜視図である。
【図4】本発明に係る製造方法の一つの工程を示す断面
図である。
【図5】図4の5ー5線に沿った拡大断面図である。
【図6】図4及び図5に示したステップの後のステップ
を示す断面図である。
【図7】図6の7ー7線に沿った拡大断面図である。
【図8】図6及び図7に示したステップの後のステップ
を示す断面図である。
【図9】図8の9ー9線に沿った拡大断面図である。
【図10】図8及び図9に示したステップの後のステッ
プを示す断面図である。
【図11】図10の11ー11線に沿った拡大断面図で
ある。
【図12】図10及び図11に示したステップの後のス
テップを示す断面図である。
【図13】図12の13ー13線に沿った拡大断面図で
ある。
【図14】図12及び図13に示したステップの後のス
テップを示す断面図である。
【図15】図14の15ー15線に沿った拡大断面図で
ある。
【図16】図14及び図15に示したステップの後のス
テップを示す断面図である。
【図17】図16の17ー17線に沿った拡大断面図で
ある。
【図18】図16及び図17に示したステップの後のス
テップを示す断面図である。
【図19】図18の19ー19線に沿った拡大断面図で
ある。
【符号の説明】
1 基体 10 空気ベアリング面 2 書き込み素子 21 下部磁性膜 211 下部ヨーク部 212 下部ポール部 22 上部磁性膜 221 上部ヨーク部 222 上部ポール部 23 ギャップ膜 24 コイル膜 25 絶縁膜 26 非磁性絶縁膜 3 MR読み取り素子

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 書き込み素子を有する薄膜磁気ヘッドで
    あって、 前記書き込み素子は、下部磁性膜と、上部磁性膜と、ギ
    ャップ膜と、絶縁膜によって支持されたコイル膜とを含
    んでおり、 前記下部磁性膜は、下部ヨーク部と、下部ポール部とを
    含み、前記下部ポール部が前記下部ヨーク部の上に突出
    して付着されており、 前記上部磁性膜は、上部ポール部と、上部ヨーク部とを
    含んでおり、 前記上部ポール部は、前記下部ポール部の上に付着され
    た前記ギャップ膜の上に付着され、トラック幅が前記下
    部ポール部のトラック幅と実質的に等しくなっており、 前記下部ポール部、前記上部ポール部及び前記ギャップ
    膜は、周りが非磁性絶縁膜によって埋められており、 前記非磁性絶縁膜は、上面が平坦化され、平坦化された
    前記上面が前記上部ポール部の表面と実質的に同一平面
    を形成しており、 前記上部ヨーク部は、先端部が前記上部ポール部のトラ
    ック幅よりも広いトラック幅を有して前記上部ポール部
    の上に積層され、トラック幅方向の両端が前記非磁性絶
    縁膜の前記上面に付着されており、 前記コイル膜を支持した前記絶縁膜は、前記非磁性絶縁
    膜の前記上面上に形成されている薄膜磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載された薄膜磁気ヘッドで
    あって、 更に、MR読み取り素子を含んでおり、 前記MR読み取り素子は、第1シールド膜と、第2シー
    ルド膜と、MR素子とを含み、前記MR素子が前記第1
    シールド膜及び前記第2シールド膜の間に配置され、前
    記第2シールド膜が前記書き込み素子の前記下部ヨーク
    部を構成する薄膜磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 書き込み素子を形成する薄膜磁気ヘッド
    製造方法であって、 予め設けられた下部ヨーク部の上にフレームを形成した
    後、前記フレームによって画定された内外のパターン
    に、磁性膜、非磁性膜及び磁性膜を順次積層して付着さ
    せ、 前記フレームによって画定されている外側パターンに付
    着した積層膜を除去し、内側パターンに付着した積層膜
    を残して、前記下部ヨーク部の上に付着された磁性膜を
    下部ポール部とし、その上に積層された前記非磁性膜を
    ギャップ膜とし、その上に積層された前記磁性膜を上部
    ポール部とする積層膜を形成し、 前記フレームを除去した後、前記下部ヨーク部及び前記
    積層膜を覆う非磁性絶縁膜を成膜し、成膜された前記非
    磁性絶縁膜の表面を平坦化して、前記上部ポール部の表
    面を露出させ、 平坦化された前記非磁性絶縁膜の上にコイル膜及びその
    支持絶縁膜を形成した後、上部ヨーク部を形成する薄膜
    磁気ヘッドの製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載された薄膜磁気ヘッド製
    造方法であって、 前記書き込み素子の形成前に、MR読み取り素子が形成
    されており、 前記MR読み取り素子は、第1シールド膜と、第2シー
    ルド膜と、MR素子とを含み、前記第1シールド膜及び
    前記第2シールド膜が互いに間隔を隔てて配置され、前
    記MR素子が前記第1シールド膜及び前記第2シールド
    膜の間に配置されており、 前記第2シールド膜は、前記下部ヨーク部を構成する薄
    膜磁気ヘッドの製造方法。
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