JPH10319365A - 液晶素子の製造方法 - Google Patents

液晶素子の製造方法

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JPH10319365A
JPH10319365A JP12900397A JP12900397A JPH10319365A JP H10319365 A JPH10319365 A JP H10319365A JP 12900397 A JP12900397 A JP 12900397A JP 12900397 A JP12900397 A JP 12900397A JP H10319365 A JPH10319365 A JP H10319365A
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liquid crystal
layer
crystal element
pressing
substrate
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JP12900397A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Tokunaga
博之 徳永
Ihachirou Gofuku
伊八郎 五福
Hidemasa Mizutani
英正 水谷
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Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】表示欠陥の無い液晶素子を歩留り良く製造す
る。 【解決手段】図1に示す液晶素子1を製造するに当た
り、ガラス基板2の表面に透明電極6を形成し、この透
明電極6を覆うようにパッシベーション膜7を形成す
る。その後、このパッシベーション膜7の表面を、表面
粗さ100Å以下のプレス部材を40kg/cm2 の押圧力
にて押圧し、平坦化を行う。これにより、パッシベーシ
ョン膜7の表面にゴミの付着等に伴う突起が形成されて
しまった場合でも、該突起をプレス部材によって押し潰
すことができる。このため、液晶素子1を図1のように
組み立てて電極6,9間に電圧を印加した場合でも、シ
ョートの発生を防止でき、表示欠陥の発生を防止でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータの端
末ディスプレイ、ワードプロセッサ、タイプライター、
テレビ受像機、ビデオカメラのビューファインダー、プ
ロジェクタのライトバルブ、液晶プリンターのライトバ
ルブ等に用いられる液晶素子の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】強誘電性を示す液晶(以下、“強誘電性
液晶”とする)の屈折率異方性を利用して偏光素子との
組み合わせにより透過光線を制御する型の液晶素子が、
クラーク(Clark)ぉよびラガーウオル(Lage
rwall)により提案されている(特開昭56−10
7216号公報、米国特許第4367924号明細書
等)。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域におい
て、カイラルスメクチックC相(SmC*)またはH相
(SmH*)を有し、この状態において、加えられる電
界に応答して第1の光学的安定状態と第2の光学的安定
状態のいずれかを取り、かつ電界の印加のないときはそ
の状態を維持する性質(すなわち、双安定性メモリー
性)を有し、その上、自発分極により反転スイッチング
を行うため、非常に速い応答速度を示す。更に視覚特性
も優れていることから、特に、高速、高精細、大画面の
表示素子あるいはライトバルブとして適していると考え
られる。
【0003】また、最近では、チャンダニ、竹添らによ
って、反強誘電性を示す液晶(以下、“反強誘電性液
晶”とする)を利用した液晶素子も提案されている(J
apanese Journal of Applie
d Physics 第27巻、1988年L729
頁)。この反強誘電性液晶は、強誘電性液晶と同様に、
液晶分子の屈折率異方性と自発分極を利用して液晶素子
を構成するものである。また、この反強誘電性液晶は、
一般に特定の温度域において、カイラルスメクチックC
A相(SmCA*)を有し、この状態において無電界時
には平均的な光学安定状態はスメクチック層法線方向に
なるが、電界印加によって平均的な光学安定状態が層法
線方向から傾き、結局3つの安定状態を有するものであ
る。そして、この反強誘電性液晶を利用した液晶素子
は、上述のように自発分極を利用してスイッチングを行
うものであることから、非常に速い応答速度を示し、高
速の表示素子、あるいはライトバルブとして期待されて
いる。
【0004】ところで、このようなカイラルスメクチッ
ク相を呈する液晶(強誘電性液晶、及び反強誘電性液
晶)を利用した液晶素子においては、例えば“強誘電性
液晶の構造と物性(コロナ社、福田敦夫、竹添秀男著、
1990年)に記載されているように、カイラルスメク
チック液晶が2種類のシェブロン構造を呈するためにジ
グザグ状の配向欠陥が発生し、コントラストが著しく低
下してしまうという問題があった。
【0005】そこで、このような配向欠陥を防止するこ
とによりコントラストを良好に保つ液晶素子が、特開昭
61−20930号公報等に開示されている。この液晶
素子は、所定距離離間した位置に配置された一対の透明
基板を備えており、これら一対の基板間には液晶が挟持
されている。そして、一方の透明基板には、液晶分子に
対して一軸配向特性を有する配向制御膜が形成されてお
り、他方の透明基板には、液晶分子に対して非一軸配向
特性を有するような特性や種類等の異なる配向制御膜
(以下、“パッシベーション膜”とする)が形成されて
いる。この液晶素子によれば、液晶の配向を一軸配向処
理された基板側から高秩序に制御することができ、良好
な液晶配向状態を得やすい。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したパ
ッシベーション膜にゴミが含まれていたり、パッシベー
ション膜の表面にゴミが付着していたりした場合、或
は、パッシベーション膜の表面に、膜形成時の異常成長
や重合による突起が発生している場合には、液晶素子を
駆動する際に局部的にショートが発生し、表示欠陥が発
生してしまうという問題があった。
【0007】また、このような液晶素子においては、見
かけ上、配向状態は良好であるものの、スイッチングに
非対称な特性が出たり、または、液晶の良好な双安定性
が阻害されることがあり、いわゆるスイッチングのメモ
リ性が低減される場合があった。
【0008】この点を解決すべく特開昭62−2359
28号公報、特開昭63−228230号公報等では上
下の表面の極性を調整してはいるが、液晶の挙動を総合
的に安定化させるためには更なる改善が必要とされる。
【0009】特にスイッチング特性の対称性は、駆動マ
ージンを広げる為にも重要であり、しかも長時間の駆動
が続いてもスイッチング特性の対称性を保たなくてはな
らない。
【0010】このほか、特に強誘電性液晶あるいは反強
誘電性液晶を用いた液晶素子では、特に中間調表示を行
う上で、液晶自身が有する自発分極により誘起される反
電場効果が重大な問題となっている。即ち、自発分極に
対応して偏在する内部イオンが電界を形成すると考えら
れる原因により所望の中間調を不安定にし、また、外部
から与える印加電圧に対して光学応答においてヒステリ
シスを生ずる場合がある。これは、「黒状態」または
「白状態」を表示している際の液晶分子の自発分極の向
きに対してそれぞれ、各々の状態を安定化させる向きに
イオンの偏在が起き、この偏在の極性の違いにより、短
い間のリセット(「黒消去」)後に与える電圧Vwを等
しく印加した場合に於ても、前状態(「白」か「黒」)
で液晶部分に印加される電圧が異なるために起こると考
えられている。
【0011】上記のような反電場効果による極端に不都
合な現象としては、例えば「黒状態」をリセット方向と
して、「白状態」を書き込もうとしても、所望の電圧レ
ベルにおいては、「白状態」がラッチできないものとな
り、「黒状態」に振り戻されしまうといういわゆるスイ
ッチング不良が起きてしまう。この現象は特に中間調を
画素レベルでは必要としない液晶素子においても致命的
な欠陥となってしまう。
【0012】上記のような反電場効果への対策として、
例えば特開昭63−121020号公報などにおいて、
配向制御膜を低インピーダンス化すること、いわゆる反
電場によるスイッチング不良に対処する方法が開示され
ている。また、特開平2−153321号公報において
は、配向制御膜を低インピーダンス化するための有機導
電性膜の例が多種類にわたり開示されている。更に特開
昭64−49023号公報においては、低インピーダン
ス化したショート防止のパッシベーションに薄膜の配向
層を形成することが開示されているが、充分な解決がな
されていないのが現状である。
【0013】このように、カイラルスメクチック液晶を
用いた液晶素子の電気光学特性は、配向状態の制御や自
発分極Psに起因して発生する反電場に関して、また前
放置状態に起因して生じる閾値変化、光学応答不安定な
どについて、改善すべき課題を抱えており、この点にお
いては反強誘電性液晶を利用した液晶素子においても同
様の問題がある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は上記事情を考慮
してなされたものであり、一の基板に電極を形成する工
程と、該一の基板に前記電極を覆うように第1の層を形
成する工程と、他の基板に電極を形成する工程と、該他
の基板に前記電極を覆うように第2の層を形成する工程
と、これら第1の層及び第2の層が微小距離離間した状
態で相対向するように前記2枚の基板を貼り合わせる工
程と、これら2枚の基板の間に液晶を注入する工程と、
からなる液晶素子の製造方法において、前記一の基板に
前記第1の層を形成した後に、表面が平滑なプレス部材
によって前記第1の層の表面を押圧するプレス工程を実
施し、該第1の層の表面を平坦にする、ことを特徴とす
る。
【0015】この場合、前記プレス部材の表面粗さを1
00Å以下にすると良い。また、前記プレス工程の後
に、前記第1の層の表面を洗浄する洗浄工程を実施して
も良い。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図1乃至図6を参照して、
本発明の実施の形態について説明する。
【0017】本実施の形態において製造される液晶素子
1は、図1に示すように一対の基板2,3を備えてお
り、一の基板2には、電極6と該電極6を覆う第1の層
7とが形成されている。また、他の基板3には、電極9
と該電極9を覆う第2の層10とが形成されている。そ
して、これら一対の基板2,3は、第1の層7及び第2
の層10が微小距離離間した状態で相対向するように貼
り合わされており、これら一対の基板2,3の間隙には
液晶5が挟持されている。
【0018】なお、これら一対の基板2,3の間隙は、
枠状に塗布したシール材によって密閉状態にすれば良
く、粒径が1〜3μmの微粒子からなるスペーサ11に
よってその距離を規定すれば良い。
【0019】この場合、第1の層7を、液晶分子に対し
て非一軸配向特性を有するパッシベーション膜とし、第
2の層10を、液晶分子に対して一軸配向特性を有する
配向制御膜とすると良い(以下、このように一方の基板
のみが液晶分子に対して一軸配向特性を有する構成を
“非対称構成”とする)。
【0020】なお、本明細書における“一軸配向特性”
とは、液晶分子の一軸配向状態(例えば一軸水平配向状
態)を意味し、“非一軸配向特性”とは、一軸配向状態
を除く液晶分子のあらゆる配向状態(例えば、垂直配向
状態、ランダム配向状態)を意味する。
【0021】ところで、上述の基板2,3には、液晶素
子を製造する段階において加えられる温度(プロセス温
度)に耐え得る耐熱性を有する材料のものを用いれば良
く、また、光を透過する性質の材料を用いても良い。例
えば、ガラスや耐熱性樹脂等が好ましい。
【0022】電極6,9としては、ITO(インジウム
ティン オキサイド)などの透明導電体が好ましい。
【0023】第2の層10として配向制御膜を形成する
場合、一軸配向処理を施すことによって一軸配向特性を
発現するものでも、そのような処理を施さなくとも一軸
配向特性を有しているものでも良い。具体的には、ポリ
イミド膜やナイロン膜等の有機膜や、一酸化珪素、二酸
化珪素等の無機膜を用いれば良く、その厚さは、30〜
200Åの程度が好ましい。
【0024】また、第1の層7としては、 導電性の微粒子を含む焼成シリカ膜 非一軸延伸性の材料で、二次元架橋有機ポリマー、
又は液晶材料より分子長の短い有機分子膜 結晶粒が液晶分子より小さい多結晶無機膜又は非晶
質無機膜、等を用いれば良い。そして、上記の導電性
の微粒子としては、粒径が500〜2000ÅのSnO
2 が好ましく、第1の層7の厚さは1000〜6000
Åが好ましい。また、この第1の層7は、体積抵抗率は
1E+4〜1E+8Ωcm程度であれば良く、ブレーク
ダウン電圧は8V以上が好ましい。
【0025】液晶5としては、強誘電性を示す液晶、反
強誘電性を示す液晶、又は、強誘電性及び反強誘電性を
示す液晶を用いれば良い。このうち、強誘電性を示す液
晶(以下、“強誘電性液晶”とする)としては、相転移
系列として、高温側から低温側に向かって等方相→Sm
A→SmC*→結晶相となる材料であって、自発分極が
30nC/cm2 (約30℃の温度中)でチルト角が約
24度のものが好ましい。
【0026】次に、液晶素子の製造方法の一実施の形態
について、図2を参照して説明する。
【0027】液晶素子1を製造するに際しては、一方の
基板2に電極6を形成する(図2(b) 参照)。この電極
6を形成するには、蒸着法やスパッター法によってIT
Oを基板2の表面に成膜し、その後、所定形状にパター
ニングすれば良い。
【0028】次に、この電極6を覆うように、基板2に
第1の層7を形成する(図2(d) 参照)。この第1の層
7を形成する方法としては、スピンコート法やスパッタ
リング法その他の薄膜形成技術を利用でき、形成した第
1の層7は焼成すれば良い。
【0029】このように一の基板2に第1の層7を形成
した後に、プレス機を用いてプレス工程を実施する。具
体的には、表面が平滑なプレス部材を用いて第1の層7
の表面を押圧し、ゴミや異常成長に伴う突起7aを押し
潰してその表面を平坦化する。
【0030】この場合、プレス部材の表面粗さを100
Å以下とし、プレス部材の押圧力を40kg/cm2 以上、
好ましくは50kg/cm2 以上、より好ましくは60kg/
cm2以上にすれば良い。また、このプレス部材として
は、金属製又はセラミック製で剛性に富む材料を用いれ
ば良い。さらに、プレス部材としては、図3に示すよう
な平坦部分を有する板状の部材20,20を用いても良
く、図4に示すようなローラー30を用いても良い。そ
して、ローラー30を用いた平坦化を行う場合、ローラ
ー30を所定位置にて回転させておいて基板2の方を移
動させても、反対に、基板2を停止させておいてローラ
ー30の方を移動させても良い。
【0031】また、突起7aが局部的にしか生じないよ
うな場合には、測定器によって突起7aが発生している
箇所を検出すると共に、小型のプレス機及びプレス部材
を使用して突起7aの発生箇所のみを押圧するようにし
てもよい。この場合のプレス部材としては、図5に示す
ような平坦部分を有する板状の部材50や、図6に示す
ようなローラー60を挙げることができる。
【0032】さらに、このようなプレス工程を終了した
後は洗浄工程を実施し、第1の層7の表面を洗浄すると
良い。この洗浄工程は、第1の層7の表面をブラシにて
擦ることにより行っても良く、第1の層7の表面を超音
波を利用して洗浄することにより行っても良い。上述し
たプレス工程において残渣が生じたり、第1の層7の表
面に新たにゴミが付着したりする場合もあるが、この洗
浄工程によってそれらを除去できる。
【0033】一方、他の基板3には、上述と同様の方法
によって電極9を形成する(図2(a) 参照)。
【0034】次に、この電極9を覆うように、基板3に
第2の層10を形成する(図2(c)参照)。なお、この
第2の層10を形成する方法としては、所定の溶液を直
接塗布する方法や、蒸着方法や、スピンコート法や、ス
パッタリング方法や、その他の薄膜形成技術を利用で
き、形成した第2の層10は焼成すれば良い。また、こ
の第2の層10に一軸配向特性を付与する場合には、形
成した層にラビング処理等の一軸配向処理を施したり、
シリコン(Si)の酸化膜や窒化膜を斜方蒸着すると良
い。
【0035】次に、第1の層7及び第2の層10が微小
距離離間した状態で相対向するように2枚の基板2,3
を貼り合わせる。そして、これら2枚の基板2,3の間
に液晶5を注入する。
【0036】本実施の形態によれば、第1の層7の表面
に突起7aが生じても(図2(d) 参照)、上述のような
プレス工程を実施して突起7aを押し潰し、第1の層7
の表面を平坦にできる。したがって、製造した液晶素子
1を駆動する際に電圧を印加してもショートの発生を防
止でき、表示欠陥の発生を防止できる。また、このよう
に表示欠陥が無く品質が良好な液晶素子を製造すること
ができるため、製造歩留りを向上できる。
【0037】さらに、上述のように洗浄工程を実施した
場合には、プレス工程にて生じた残渣等を除去でき、シ
ョートの発生をより確実に防止して、製造歩留りをより
一層向上できる。
【0038】また、第1の層7が導電性を有するもので
あることから、反電場による反転不良を補正するための
電荷を供給でき、反電場の存在故に生じる閾値のずれ
や、光学不安定性などを大きく改善できる。
【0039】さらに、液晶素子1を、一方の基板3のみ
に一軸配向特性を付与した非対称構成とした場合には、
液晶(特に強誘電性あるいは反強誘電性液晶)の特にS
mAでの温度領域における配向が、一方の基板3におけ
る一軸配向処理が施された表面からの一軸分子成長とし
て行われ、SmC*相において良好な配向状態を得るこ
とができる。特に、上述したコレステリック相を呈さな
い液晶を用いた場合には、降温下でI(等方相)→Sm
Aの相転移の際に良好に配向制御を行うことにより、均
一な配向状態を実現できる。
【0040】
【実施例】以下、本発明を具体的な実施例に沿って更に
詳細に説明する。 (実施例1)本実施例にて製造した液晶素子1は、図1
に示すように、所定距離だけ離間した位置に配置される
一対の基板2,3を備えている。そして、一方の基板2
の表面には透明電極6やパッシベーション膜(第1の
層)7が形成されており、液晶分子に対して非一軸配向
特性を有するようになっている。また、他方の基板3の
表面には透明電極9や配向制御膜(第2の層)10が形
成されており、配向制御膜10には、液晶5を一軸配向
させるべく処理がなされている。さらに、これらの基板
2,3の間には液晶5が挟持されている。
【0041】なお、基板2,3には、耐熱性に富むガラ
ス基板を用い、その大きさを100mm×100mmとし
た。また、電極6,9は、厚さが2000ÅのITOに
よって構成すると共に、幅が100μmのストライプ形
状のものを20μmの間隙を開けて多数配置して構成し
た。さらに、パッシベーション膜7には、厚さが150
0Åで、アンチモンドープのSnO2 超微粒子(粒径1
000Å)をシリカに分散させたものを用いた。また、
配向制御膜10には、厚さが50Åのポリイミド膜を用
いた。さらに、液晶5には、3M社製のパーフルオロエ
ーテルタイプの強誘電性液晶を用いた。
【0042】次に、液晶素子1の製造方法について説明
する。
【0043】まず、一般的なDCスパッタ装置とITO
のターゲットとを用い、基板2,3の表面にITO膜を
スパッタリング形成した。なお、このスパッタリングに
おいては、スパッタ装置のパワーを0.8W/cm2
し、スパッタガスにはArとO2 の混合ガス(Ar:1
00SCCM,O2 :10SCCM)を用い、放電時間
を4分間とし、基板温度を150℃として、ITO膜の
膜厚が2000Åになるようにした。そして、このIT
O膜を、通常の湿式エッチング法によって上述した形状
にパターニングし、電極6,9を作成した。
【0044】次に、一方の基板3の表面には、ポリアミ
ック酸(東レ社製、LP−64;0.7wt%)を、2
700rpm,20秒の条件でスピンコートし、これを
200℃の温度で60分間焼成して、厚さ50Åの配向
制御膜(ポリイミド膜)10を形成した。その後、この
配向制御膜10に、回転数1000rpm、押し込み量
0.4mm、送りスピード5mm/sec、片方向3回
のラビング処理を施した。
【0045】また、他方の基板2の表面には、溶液(ア
ンチモンドープのSnO2 超微粒子(粒径1000Å)
をシリカに分散させた溶液)を、1500rpm,20
秒の条件でスピンコートし、これを200℃で60分間
焼成して、厚さ1500Åのパッシベーション膜7を形
成した。
【0046】次に、プレス機を用いてプレス工程を実施
した(図3参照)。なお、本実施例においては、プレス
機のプレス部材20は、基板2と同等の面積の平坦部分
を有する板状の部材とし、表面粗度が100Å以下のモ
リブデン鋼とし、押圧力を60kg/cm2 とした。そし
て、2枚のプレス部材20,20の間に基板2を挟んで
押圧し、パッシベーション膜7の表面を平坦にした。
【0047】その後、洗浄工程、すなわち、イソプロパ
ノールを用いた超音波洗浄を実施して、パッシベーショ
ン膜7の表面を洗浄した。この洗浄工程を実施すること
により、上述したプレス工程において残渣が生じても、
該残渣を除去でき、液晶素子1を駆動する際におけるシ
ョートの発生を防止できる。
【0048】次に、基板3の配向制御膜10表面には、
2.2μm径のSiO2 微粒子を含有させた溶液をスピ
ンコート法によって塗布し、これを加熱して、SiO2
微粒子を配向制御膜10の表面に分散固着させた。さら
に、トレパール粒子(粒径約5μmの接着粒子)を含有
させた溶液をスピンコート法によって塗布し、同じく加
熱してトレパール粒子を分散固着させた。
【0049】また、印刷機を用いて、基板3の所望の位
置にシール材を塗布し、これを90℃で5分間プリベー
クした。
【0050】さらに、基板2と基板3とを、プレス機を
用いて50gf/cm2 の圧力で圧着し、110℃、9
0分間の加熱を行ない、シール材を硬化させ、これら2
枚の基板2,3を貼り合わせた。
【0051】このあと上記作業でできあがった空素子
を、通常のロードロック式の真空室内に入れ、1E−5
Torrまで真空引きしたあと、95℃に加熱した液晶
貯留槽に注入口をつけるように浸し、液晶5を空素子内
に注入した。
【0052】なお、本実施例の効果を確かめるために、
プレス工程及び洗浄工程のみを省略して上述と同様の方
法で別の液晶素子を作成した(以下、プレス工程を施し
た液晶素子を“平坦化処理済み素子”とし、プレス工程
を施さない液晶素子を“平坦化処理なし素子”とす
る)。
【0053】次に、上述の方法で作成した液晶素子につ
いて1画素の特性を調べた。
【0054】図7は、液晶素子の特性を調べる様子を説
明するための模式図であるが、1画素の特性を調べるに
際しては、この図に示すように、一方の基板2(正確に
は、その電極6)を接地し、他方の基板3(正確には、
その電極9)側に信号電圧を印加した。
【0055】そして、書き込み信号電圧を変化させた場
合、該電圧と光透過率との関係(V―T特性)は図8に
示すようになった。
【0056】ここで、同図に示す矢印の行きと帰りの違
いはヒステリシスと呼ばれる量で、理想的には「0」と
なることが望ましいが、実用上は駆動電圧の5%以下程
度であれば良い。また、実線U1と破線U2は黒リセッ
卜時に液晶分子の自発分極がどちらを向いているかを示
し、例えばPsが負の場合、非一軸配向側を向くときが
U1、一軸配向側を向くときがU2である。このU1の
黒リセットとU2の黒リセットの立ち上がり電圧閾値の
差、又はU1の白リセットとU2の白リセットの立ち上
がり電圧閾値の差が、理想的にはやはり「0」となるこ
とが望ましく、このとき対称性が得られたという。これ
に対し閾値ずれ量(閾値の差)が非対称性とも呼ばれ、
その値は実用的にはプラスマイナス1V程度以下であれ
ば双安定ポテンシャルが極端に乱されることがなく、書
き込み不良や焼きつきなどの経時変化が抑制される。
【0057】本発明者が調べたところによると、平坦化
処理の有無にかかわらず、ヒステリシスは0.8V、非
対称性は0.3〜0.4Vに、実用的な範囲内で低く抑
えられていることが分かった。また、作成した液晶素子
1を駆動すると、平坦化処理の有無にかかわらず、残像
は見えず、速い応答性が得られることを確認した。
【0058】一方、一軸配向性は、平坦化処理済み素子
の方が平坦化処理無し素子よりも多少劣る場合もあり、
微細な領域に限っていえば、平坦化処理無し素子の方が
高いコントラストを得られる部分もあった。しかし、素
子全体では平坦化処理済み素子の方がムラがないため、
平坦化処理無し素子よりも平均的に高いコントラスト、
さらには駆動条件に対するマージンもあった。
【0059】また、平坦化処理無し素子では、ショート
の発生に伴うライン欠陥が15%程度発生していたが、
平坦化処理済み素子では、そのような欠陥は発見されな
かった。 (実施例2)基板2,3は実施例1と同様のものを用
い、電極6,9の厚さ並びに形状は、実施例1と同一と
した。また、配向制御膜10には、厚さが50Åのナイ
ロン膜を用いた。さらに、パッシベーション膜7には、
厚さが4000ÅのAlドープされたZnO膜を用い
た。またさらに、液晶5には、3M社製のパーフルオロ
アルキルタイプの強誘電性液晶を用いた。
【0060】液晶素子1の製造に際しては、まず、実施
例1と同様の装置及び同様の条件で、基板2,3の表面
にITO膜をスパッタリングし、このITO膜をパター
ニングして、電極6,9を作成した。
【0061】次に、一方の基板3の表面には、所定の溶
液(ナイロン66を蟻酸で0.2wt%に希釈した溶
液)を、3000rpm,20秒の条件でスピンコート
し、これを180℃で60分間焼成して、厚さ50Åの
配向制御膜(ナイロン膜)10を形成した。その後、こ
の配向制御膜10に、回転数1000rpm、押し込み
量0.3mm、送りスピード5mm/sec、片方向3
回のラビング処理を施した。
【0062】さらに、他方の基板2の表面には、通常の
RFスパッタ装置と、ZnO(95.5%)にAl2
3 (0.5%)を混ぜたターゲットとを用いて、Alド
ープされたZnO膜よりなるパッシベーション膜7を4
000Åの厚さに形成した。なお、パワーを5W/cm
2 とし、基板加熱温度を200℃とした。また、スパッ
タガスにはArとO2 の混合ガス(Ar:90SCC
M,O2 :10SCCM)を用い、圧力を3mTorr
とし、放電時間を8分間とした。
【0063】次に、プレス工程を実施した。本工程にお
いては、図4に示すように、ローラーからなるプレス部
材30,30を用い、ローラーを押圧させながら転がす
ことによりパッシベーション膜7の表面を平坦にした。
なお、プレス部材30には、表面粗度が100Å以下の
モリブデン鋼を使用し、押圧力を40kg/cm2 とした。
【0064】その後、実施例1と同様に、超音波洗浄に
よる洗浄工程を実施し、パッシベーション膜7の表面を
洗浄した。
【0065】さらに、実施例1と同様の方法で、SiO
2 微粒子の分散固着、及びシール材の塗布等を行った後
に、2枚の基板2,3を貼り合わせ、液晶注入を行っ
た。
【0066】本実施例によっても、上記実施例1と同様
の効果が得られた。 (実施例3)基板2,3、並びに電極6,9の厚さ及び
形状は、実施例1及び実施例2と同一とした。また、配
向制御膜10には、実施例1と同様のポリイミド膜を用
い、パッシベーション膜7には、実施例2と同様のAl
ドープされたZnO膜を用いた。さらに、液晶5には、
3M社製のパーフルオロアルキルタイプの強誘電性液晶
を用いた。
【0067】液晶素子1の製造に際しては、まず、上述
した各実施例と同様の装置及び同様の条件で、基板2,
3の表面にITO膜をスパッタリングし、このITO膜
をパターニングして、電極6,9を作成した。
【0068】また、一方の基板3の表面には、実施例1
と同様の方法でポリイミドからなる配向制御膜10を形
成し、他方の基板2の表面には、実施例2と同様の方法
で、AlドープされたZnO膜を形成した。
【0069】次に、測定器を使って、パッシベーション
膜7表面の微細な突起7aを検出し、その後、プレス工
程を実施した。なお、測定器には、レーザー光を出射す
ると共にその反射光によって突起の有無を検知するタイ
プのもの(トプコン製WM−3)を使用した。また、プ
レス工程においては、図5に示すように、小型プレス機
を用いて、突起7aを検出した箇所を部分的にプレスす
ることとした。なお、この小型プレス機のプレス部材5
0には、表面粗度が100Å以下のモリブデン鋼を使用
し、押圧力を60kg/cm2 とした。
【0070】その後、パッシベーション膜の表面をナイ
ロンブラシで擦る洗浄工程を実施し、パッシベーション
膜7の表面を洗浄した。
【0071】さらに、上記実施例と同様の方法で、Si
2 微粒子の分散固着、及びシール材の塗布等を行った
後に、2枚の基板2,3を貼り合わせ、液晶注入を行っ
た。
【0072】本実施例によっても、上記実施例1と同様
の効果が得られた。 (実施例4)基板2,3、並びに電極6,9の厚さ及び
形状は、上記実施例と同一とした。また、配向制御膜1
0にはナイロン66を用い、パッシベーション膜7に
は、実施例1と同様、アンチモンドープのSnO2 超微
粒子(粒径1000Å)をシリカに分散させたものを用
いた。さらに、液晶5には、3M社製のパーフルオロア
ルキルタイプの強誘電性液晶を用いた。
【0073】液晶素子1の製造に際しては、まず、上述
した各実施例と同様の装置及び同様の条件で、基板2,
3の表面にITO膜をスパッタリングし、このITO膜
をパターニングして、電極6,9を作成した。
【0074】また、一方の基板3の表面には、実施例2
と同様の方法でナイロン66からなる配向制御膜10を
形成し、他方の基板2の表面には、実施例1と同様の方
法でパッシベーション膜7を形成した。
【0075】次に、実施例1にて用いたプレス機によっ
てプレス工程を実施し、パッシベーション膜7の平坦化
を行った。なお、この場合の押圧力は50kg/cm2 とし
た。その後、パッシベーション膜7の表面にナイロンブ
ラシを擦り付けて洗浄工程を実施した。
【0076】さらに、上記実施例と同様の方法で、Si
2 微粒子の分散固着、及びシール材の塗布等を行った
後に、2枚の基板2,3を貼り合わせ、液晶注入を行っ
た。
【0077】本実施例によっても、上記実施例1と同様
の効果が得られた。 (実施例5)基板2,3、並びに電極6,9の厚さ及び
形状は、上記実施例と同一とした。また、配向制御膜1
0には実施例1と同様のポリイミド膜を用い、パッシベ
ーション膜7には、実施例2と同様、Alドープされた
ZnO膜を用いた。さらに、液晶5には、3M社製のパ
ーフルオロアルキルタイプの強誘電性液晶を用いた。
【0078】液晶素子1の製造に際しては、まず、上述
した各実施例と同様の装置及び同様の条件で、基板2,
3の表面にITO膜をスパッタリングし、このITO膜
をパターニングして、電極6,9を作成した。
【0079】また、一方の基板3の表面には、実施例1
と同様の方法で配向制御膜10を形成し、他方の基板2
の表面には、実施例2と同様の方法でパッシベーション
膜7を形成した。
【0080】次に、実施例3で用いた測定器を使って、
パッシベーション膜7表面の微細な突起7aを検出し、
その後、プレス工程を実施した。このプレス工程におい
ては、図6に示す小型ローラープレス機を用いて、突起
7aを検出した箇所を部分的にプレスすることとした。
なお、このプレス機のローラー(プレス部材)60に
は、表面粗度が100Å以下のモリブデン鋼を用い、押
圧力を60kg/cm2 とした。
【0081】その後、実施例1と同様、イソプロパノー
ルを用いた超音波洗浄による洗浄工程を実施し、パッシ
ベーション膜7の表面を洗浄した。
【0082】さらに、上記実施例と同様の方法で、Si
2 微粒子の分散固着、及びシール材の塗布等を行った
後に、2枚の基板2,3を貼り合わせ、液晶注入を行っ
た。
【0083】本実施例によっても、上記実施例1と同様
の効果が得られた。
【0084】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第1の層の表面を平坦にできる。したがって、製造した
液晶素子を駆動するに当たり、両基板にそれぞれ形成し
た電極に電圧を印加しても、ショートの発生を防止で
き、表示欠陥の発生を防止できる。また、本発明によれ
ば、表示欠陥の無い液晶素子を製造でき、製造歩留りを
向上できる。特に、プレス工程にて使用するプレス部材
の表面粗さを100Å以下とし、該プレス部材の押圧力
を、40kg/cm2 以上、好ましくは50kg/cm2 以上、
より好ましくは60kg/cm2 以上とすることにより、上
述の効果を確実に達成できる。
【0085】一方、プレス工程の後に、第1の層の表面
を洗浄する洗浄工程を実施した場合には、前記プレス工
程において残渣が生じてもその残渣を除去できる。した
がって、該残渣に伴うショートの発生並びに表示欠陥の
発生を防止できる。
【0086】また一方、前記第1の層を、液晶分子に対
して非一軸配向特性を有するパッシベーション膜とし、
前記第2の層を、液晶分子に対して一軸配向特性を有す
る配向制御膜とした場合には、該配向制御膜側からの液
晶の一軸分子成長を可能とし、液晶の配向状態を良好に
できる。
【0087】一方、前記第1の層の体積抵抗率を1E+
4〜1E+8Ωcmとした場合には、反電場による反転
不良を補正するための電荷を供給でき、反電場の存在故
に生じる閾値のずれや、光学不安定性などを大きく改善
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】液晶素子の具体的構造を示す断面図。
【図2】本発明に係る液晶素子の製造方法を説明するた
めの模式図。
【図3】プレス機の一例を示す図。
【図4】プレス機の一例を示す図。
【図5】プレス機の一例を示す図。
【図6】プレス機の一例を示す図。
【図7】液晶素子の特性を調べる様子を説明するための
模式図。
【図8】液晶素子におけるヒステリシス及びスイッチン
グの非対称性を説明するための図。
【符号の説明】
1 液晶素子 2 基板 3 基板 5 液晶 7 パッシベーション膜(第1の層) 10 配向制御膜(第2の層)

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一の基板に電極を形成する工程と、該一
    の基板に前記電極を覆うように第1の層を形成する工程
    と、他の基板に電極を形成する工程と、該他の基板に前
    記電極を覆うように第2の層を形成する工程と、これら
    第1の層及び第2の層が微小距離離間した状態で相対向
    するように前記2枚の基板を貼り合わせる工程と、これ
    ら2枚の基板の間に液晶を注入する工程と、からなる液
    晶素子の製造方法において、 前記一の基板に前記第1の層を形成した後に、表面が平
    滑なプレス部材によって前記第1の層の表面を押圧する
    プレス工程を実施し、該第1の層の表面を平坦にする、 ことを特徴とする液晶素子の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記プレス部材の表面粗さが100Å以
    下である、 ことを特徴とする請求項1に記載の液晶素子の製造方
    法。
  3. 【請求項3】 前記プレス部材を、40kg/cm2 以上の
    圧力で前記第1の層に押圧する、ことを特徴とする請求
    項1又は2に記載の液晶素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記プレス部材を、50kg/cm2 以上の
    圧力で前記第1の層に押圧する、 ことを特徴とする請求項3に記載の液晶素子の製造方
    法。
  5. 【請求項5】 前記プレス部材を、60kg/cm2 以上の
    圧力で前記第1の層に押圧する、ことを特徴とする請求
    項4に記載の液晶素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記プレス部材が、金属製又はセラミッ
    ク製である、 ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載
    の液晶素子の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記プレス部材が、平坦部分を有する板
    状の部材であって、 該平坦部分によって前記第1の層の表面を押圧すること
    により該第1の層の表面を平坦にする、 ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載
    の液晶素子の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記プレス部材がローラーであって、 該ローラーによって前記第1の層の表面を押圧すること
    により該第1の層の表面を平坦にする、 ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載
    の液晶素子の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記プレス工程の後に、前記第1の層の
    表面を洗浄する洗浄工程を実施する、 ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載
    の液晶素子の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記洗浄工程を、前記第1の層の表面
    をブラシにて擦ることにより行う、 ことを特徴とする請求項9に記載の液晶素子の製造方
    法。
  11. 【請求項11】 前記洗浄工程を、前記第1の層の表面
    を超音波を利用して洗浄することにより行う、 ことを特徴とする請求項9に記載の液晶素子の製造方
    法。
  12. 【請求項12】 前記第1の層が、液晶分子に対して非
    一軸配向特性を有するパッシベーション膜であり、 前記第2の層が、液晶分子に対して一軸配向特性を有す
    る配向制御膜である、ことを特徴とする請求項1乃至1
    1のいずれか1項に記載の液晶素子の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記第1の層の体積抵抗率が1E+4
    〜1E+8Ωcmである、 ことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記
    載の液晶素子の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記液晶が、強誘電性を示す液晶であ
    る、 ことを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記
    載の液晶素子の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記液晶が、反強誘電性を示す液晶で
    ある、 ことを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記
    載の液晶素子の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記液晶が、強誘電性及び反強誘電性
    を示す液晶である、 ことを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記
    載の液晶素子の製造方法。
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