JPH10308676A - インターリーブ装置およびデインターリーブ装置 - Google Patents

インターリーブ装置およびデインターリーブ装置

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JPH10308676A
JPH10308676A JP11978997A JP11978997A JPH10308676A JP H10308676 A JPH10308676 A JP H10308676A JP 11978997 A JP11978997 A JP 11978997A JP 11978997 A JP11978997 A JP 11978997A JP H10308676 A JPH10308676 A JP H10308676A
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JP11978997A
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Masami Aizawa
雅己 相沢
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 RAMを使用してRamseyインターリー
ブ装置およびデインターリーブ装置を実現し、回路規模
および消費電力を削減する。 【解決手段】 書込みアドレスレジスタ1は、列アドレ
スレジスタ1aおよび行アドレスレジスタ1bからな
り、加算器3は、行アドレスレジスタ1bにn2を法と
してn1づつ加算する。読出しアドレスレジスタ5は加
算器7により1づつ加算される。書込みアドレスレジス
タ1または読出しアドレスレジスタ5はアドレスセレク
タ9により選択されてRAM11のアドレスとなる。バ
イパスセレクタ13は、入力端子15のデータまたはR
AM11の読出しデータのいずれかを選択してデータ出
力端子17に出力し、インターリーブされたデータ列を
出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はデータ列の順序を入
れ換えるインターリーブ装置およびこの逆入れ換えを行
うデインターリーブ装置に係り、特にRamseyイン
ターリーブに好適なインターリーブ装置およびデインタ
ーリーブ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、伝送または記録再生におけるデ
ィジタル信号の誤りは、ランダム(平均的)に生じると
は限らず、バースト的(局所的)に生じる傾向がある。
このバースト的な誤りが生じた場合、その部分で誤りが
訂正能力を超え、訂正不能な誤りが残ってしまう。しか
し信号の並べ替えによって誤りが広い範囲に分散されれ
ば、全ての誤りが誤り訂正能力の範囲内となることが期
待できる。
【0003】このように、信号(データ、シンボル)を
並べ替えてバースト誤りを分散させ、平均的な誤りに変
換することにより、効率よく誤り訂正符号の能力を引き
出す技術は、インターリーブ方式と呼ばれ、フレーム構
造の中で並べ替えが完結するブロックインターリーブ方
式、フレーム構造に関わらず連続的に並べ替えを行う畳
み込みインターリーブ方式などがある。
【0004】John L.Ramsey は、文献"Realization of
Optimun Interleavers"IEEE TR.onINFO.vol.IT-16 No.
3,MAY 1970の中でいくつかのインターリーブ方式を提案
している。このインターリーブ方式は、畳み込みインタ
ーリーブ方式の一種であり、以下Ramseyインター
リーブと呼ぶこととする。上記文献中のインターリーブ
回路を図9(a)に、デインターリーブ回路を図9
(b)にそれぞれ示す。
【0005】Ramseyインターリーブは、タップ間
ステージ数(n1)とタップ数(n2+1)とで特徴づ
けられ、図9(a),(b)は、n1=2、n2=3の
場合を示している。
【0006】図9(a)のインターリーブ回路は、n1
=2ビットづつのシフトレジスタがそれぞれタップとな
る論理和回路を挟んで、n2=3個縦続接続された構成
となっており、合計n1×n2=6段のシフトレジスタ
が設けられている。
【0007】入力シンボルを1つづつ分配する4接点の
スイッチは、それぞれ各タップの論理和回路の入力に接
続された4個の接点を備え、クロック毎に接点の位置が
0,1,2,3,0,1,…と循環するようになってい
る。
【0008】また、上記6段のシフトレジスタの最前段
には、”0”(または入力シンボル無し)が入力される
とともに、各段はクロック毎に左から右へシフトする。
【0009】さて、このRamseyに、入力シンボル
列0,1,2,…,が与えられたとき、まず最初のシン
ボル0は、スイッチ接点0からタップ0に供給され、同
じクロック期間で直ちに出力される(t0)。
【0010】次いで、シンボル1が入力されるとき(t
1)、スイッチ接点1が閉じているので、タップ1の論
理和回路を介して右から2段目のシフトレジスタの入力
となり、次のクロック(t2)でこのシフトレジスタに
シンボル1がセットされる。このシンボル1が出力端子
から出力されるのは、もう1段シフト後のクロック(t
3)となる。t1、t2のクロックの期間は、レジスタ
の初期状態に依存する定義されないシンボルXが出力さ
れる。
【0011】またクロック(t2)では、シンボル2が
スイッチ接点2を介してタップ2の論理和回路を介して
シフトレジスタの右から4段目の入力となり、このシフ
トレジスタにクロック(t3)でシンボル2がセットさ
れる。
【0012】次いで、クロック(t3)では、シンボル
3がスイッチ接点3を介してシフトレジスタの右から6
段目の入力となり、このシフトレジスタにクロック(t
4)でシンボル3がセットされる。
【0013】次いで、クロック(t4)では、シンボル
4がスイッチ接点0を介して出力端子に現れる。以下、
図10に示すように、インターリーブした出力シンボル
列、0,X,X,1,4,X,2,5,8,3,6,
9,…,が得られる。
【0014】このRamseyインターリーブにおい
て、n1とn2とが互いに素な関係にあれば、各タップ
の論理和回路におけるシンボルの衝突はなく、常に一方
の入力のみからシンボルが供給されることとなり、最も
右にシフトされてきたときには、常にシンボルが格納さ
れた状態となり、出力される。
【0015】図9(b)のRamseyデインターリー
ブ回路は、6段のシフトレジスタと、この両端を含む2
段毎のタップから選択的に出力する4接点を備えたスイ
ッチからなり、図9(a)のインターリーブ回路により
インターリーブされたシンボル列を復元するものであ
る。
【0016】なお、実際の回路構成では、図9(a)に
おいては、スイッチと論理和回路の代わりに各タップに
2ウェイのセレクタを設け、図9(b)においてはスイ
ッチに代えてセレクタを設ける構成となる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のRamseyインターリーブ回路またはRamse
yデインターリーブ回路は、シフトレジスタとセレクタ
から構成されていたために、回路規模が大きく、消費電
力が大きいという問題点があった。
【0018】また、インターリーブによる遅延のうち半
分づつをインターリーブとデインターリーブで分けるこ
とが可能であるが、従来の構成ではシフトレジスタの上
段の方が使用効率が悪く、実際に保持すべき情報量の約
2倍の記憶容量を必要とするという問題点があった。
【0019】以上の問題点に鑑み、本発明の目的は、従
来より記憶容量を約1/2に削減したRamseyイン
ターリーブ装置およびデインターリーブ装置を提供する
ことである。
【0020】また本発明の目的は、1ビット当たりのチ
ップ専有面積の小さいRAMを使用してRamseyイ
ンターリーブ装置およびデインターリーブ装置を実現
し、回路規模および消費電力を削減することである。
【0021】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は次の構成を有する。
【0022】すなわち、本願第1発明は、読出しアドレ
スを発生する読出しアドレス発生回路と、書込みアドレ
スを発生する書込みアドレス発生回路と、前記読出しア
ドレスまたは前記書込みアドレスのいずれか一方を選択
して出力するアドレスセレクタと、前記選択されたアド
レスでアドレスされるとともに入力データを記憶するこ
とができるRAMと、前記入力データまたは前記RAM
から読出されたデータのいずれか一方を選択して出力す
るバイパスセレクタと、を備えたことを要旨とするイン
ターリーブ装置である。
【0023】また、この第1発明において、入力データ
列に対して、タップ間ステージ数n1 、タップ数[n2
+1]のRamseyインターリーブを実行する際に、
前記書込みアドレス発生回路は、行アドレス発生回路と
列アドレス発生回路とを備え、前記行アドレス発生回路
は、インターリーブ対象のデータ列の先頭で初期化され
るとともに、n2 を法としてn1 づつ加算することによ
り、順次行アドレスを生成し、前記読出しアドレス発生
回路は、アドレスを1づつ増加させたアドレスを生成す
ることができる。
【0024】また、本願第2発明は、読出しアドレスを
発生する読出しアドレス発生回路と、書込みアドレスを
発生する書込みアドレス発生回路と、前記読出しアドレ
スまたは前記書込みアドレスのいずれか一方を選択して
出力するアドレスセレクタと、前記選択されたアドレス
でアドレスされるとともに入力データを記憶することが
できるRAMと、前記入力データまたは前記RAMから
読出されたデータのいずれか一方を選択して出力するバ
イパスセレクタと、を備えたことを要旨とするデインタ
ーリーブ装置である。
【0025】また、この第2発明において、タップ間ス
テージ数n1 、タップ数[n2 +1]のRamseyイ
ンターリーブを施されたデータ列に対してデインターリ
ーブを実行する際に、前記読出しアドレス発生回路は、
行アドレス発生回路と列アドレス発生回路とを備え、前
記行アドレス発生回路は、インターリーブ対象のデータ
列の先頭で初期化されるとともに、n2 を法としてn1
づつ加算することにより、順次行アドレスを生成し、前
記書込みアドレス発生回路は、アドレスを1づつ増加さ
せたアドレスを生成することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】次に図面を参照して、本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図1および図2は、それぞ
れ本発明に係るインターリーブ装置およびデインターリ
ーブ装置の第一の実施形態の構成を示すブロック回路図
であり、図1のインターリーブ装置によってインターリ
ーブされたシンボル列を図2のデインターリーブ装置が
復元するものである。
【0027】図1によれば、インターリーブ装置は、列
アドレスレジスタ1aおよび行アドレスレジスタ1bか
らなる書込みアドレスレジスタ1と、行アドレスレジス
タ1bの内容にn2を法としてn1づつ加算する加算器
3と、読出しアドレスレジスタ5と、読出しアドレスレ
ジスタ5の内容に1づつ加算する加算器7と、書込みア
ドレスレジスタ1または読出しアドレスレジスタ5のい
ずれか一方を選択して出力するアドレスセレクタ9と、
アドレスセレクタ9によりアドレスされるとともにデー
タ入力端子15から与えられる入力データを記憶するこ
とが可能なRAM(ランダム・アクセス・メモリ)11
と、入力データまたはRAM11から読み出された読出
しデータのいずれか一方を選択してデータ出力端子17
に出力するバイパスセレクタ13とを備えて構成されて
いる。
【0028】図2によれば、デインターリーブ装置は、
書込みアドレスレジスタ1と、書込みアドレスレジスタ
1の内容に1づつ加算する加算器7と、列アドレスレジ
スタ5aおよび行アドレスレジスタ5bからなる読出し
アドレスレジスタ5と、行アドレスレジスタ5bの内容
にn2を法としてn1づつ加算する加算器3と、書込み
アドレスレジスタ1または読出しアドレスレジスタ5の
いずれか一方を選択して出力するアドレスセレクタ9
と、アドレスセレクタ9によりアドレスされるとともに
データ入力端子15から与えられる入力データを記憶す
ることが可能なRAM(ランダム・アクセス・メモリ)
11と、入力データまたはRAM11から読み出された
読出しデータのいずれか一方を選択してデータ出力端子
17に出力するバイパスセレクタ13とを備えて構成さ
れている。
【0029】なお、図1および図2間で共通の構成要素
には、同じ符号を付与してあり、インターリーブ装置と
デインターリーブ装置とを共通のハードウェアとして構
成することもできる。
【0030】次いで、図8(a)に示した従来のRam
seyインターリーブを図1に示した装置により実現す
る方法について説明する。
【0031】入力データのうち、図8(a)のタップ0
に加えられる入力データは、バイパスセレクタ13を介
してクロック遅延無く出力される。その他の入力データ
は、RAM11の書込みアドレスをn1づつ加算しなが
らRAM11に記憶させるとともに、1づつ加算される
読出しアドレスにより読み出される。
【0032】ここで、入力データが1つ与えられる期間
Tをその前半T1と後半T2とに分割し(T=T1+T
2)、例えば前半の期間でアドレスセレクタ9は書込み
アドレスを選択してRAM11に書込みを行い、後半の
期間でアドレスセレクタ9は読出しアドレスを選択して
読出しを行う。読出しアドレスおよび書込みアドレス
は、ともに[n2×n1]を法とする演算(モディロ演
算)により0から(n2×n1)−1の範囲に折り返し
た値を使用することにより、従来のシフトレジスタに代
えてRAMを使用することができる。
【0033】この場合、従来のシフトレジスタの各ビッ
トを構成するフリップフロップ(以下、FFと略す)に
比べて、1ビット当たりの回路規模およびチップ専有面
積の小さいRAMを利用することで回路規模の削減、消
費電力の減少が可能となる。
【0034】しかしながら、図1および図2の構成だけ
では、RAMのサイズがインターリーブ遅延に対して十
分小さな値であるとは言えない。この方式では、FFま
たはRAMのうち、シフトレジスタの上段側の殆どは、
入力データに基づく値が設定されない状態で動作してお
り、全体を見渡しても、各レジスタのうち値が設定され
ているのは高々半分である。これはインターリーブによ
る遅延のうち、インターリーブ/デインターリーブで遅
延バッファを半分づつに分割して受け持つことが可能で
あるとの観点から見れば、この構成からさらに1/2に
記憶容量を削減することが考えられる。
【0035】そこで、G.David Forney"Burst-Correctin
g Code for the Classic Bursty Channel" IEEE Tran.C
OMM.-19,No5,Oct 1971 で提案された畳み込みインター
リーブのような形式に変換することにより、上記の回路
規模削減が期待できる。
【0036】図3(a)および(b)は、それぞれ本発
明に係るインターリーブ回路およびデインターリーブ回
路の第2の実施形態を示す回路構成図であり、従来の図
8に記載のRamseyインターリーブ・デインターリ
ーブを上記畳み込みインターリーブ形式で実現したもの
である。なお、本実施の形態では、説明の簡単化のため
に、入力データ列および出力データ列は、ビット列とす
るが、適当な並列化によりキャラクタ単位、バイト単
位、ワード単位のシンボル列のインターリーブに適用で
きることは明らかである。
【0037】図3(a)によれば、Ramseyインタ
ーリーブ回路は、それぞれ4つの選択ポシションを有す
るスイッチ21、31と、FF23、25、27、29
とで構成されている。
【0038】図3(a)において、入力側に設けられた
スイッチ21は、入力ビット列を1ビットづつ順次0〜
3の各接点に振り分ける動作を行う。出力側に設けられ
たスイッチ31は、順次0〜3の各接点から出力ビット
を1ビットづつ取り出す動作を行う。
【0039】スイッチ21の接点0とスイッチ31の接
点0との間は、導線で接続され、遅延無く伝送される。
スイッチ21の接点1とスイッチ31の接点3との間に
はFF23が配置され、スイッチ21の接点2とスイッ
チ31の接点2との間にはFF25が配置されている。
また、スイッチ21の接点3とスイッチ31の接点1と
の間にはFF27、29が直列に接続されて配置されて
いる。
【0040】各FFは、入力が与えられたビットタイム
の次のビットタイムでこの入力が出力に現れるものであ
る。このインターリーブ回路に、入力ビット列、b0,
b1,b2,b3,…,が入力されたとき、その動作シ
ーケンスを図4(a)〜(h)および図5(a)〜
(h)に示す。これらの図は、入出力データ、それぞれ
のスイッチの選択位置の変遷、および各FFの内部状態
の変遷を各クロック毎に順次示したものである。
【0041】まず、図4(a)は、b0が入力された状
態を示し、スイッチ21、31は共に接点0を選択して
いるので、直ちに出力にb0が現れている。次いで、図
4(b)は、b1が入力された状態を示し、スイッチ2
1、31はそれぞれ接点1を選択しているので、入力b
1はFF23の入力となり、出力には不定の値(X)が
出力される。
【0042】次いで、図4(c)は、b2が入力された
状態を示し、スイッチ21、31はそれぞれ接点2を選
択しているので、入力b2はFF25の入力となり、出
力には不定の値(X)が出力される。次いで、図4
(d)は、b3が入力された状態を示し、スイッチ2
1、31はそれぞれ接点3を選択しているので、入力b
3はFF27の入力となり、出力にはFF23の値であ
るb1が出力される。
【0043】以下、順次入力がb4,b5,b6,b
7,b8,…と入力され、出力には、b4,X,b2,
b5,b8,…が得られ、図9に示した従来のRams
eyインターリーブと同様にインターリーブされた出力
ビット列が得られることが判る。
【0044】この図3(a)に示したインターリーブ動
作の逆動作を行うデインターリーブ回路が図3(b)で
ある。同図によれば、Ramseyデインターリーブ回
路は、それぞれ4つの選択ポシションを有するスイッチ
41、51と、FF43、45、47、49とで構成さ
れている。
【0045】図3(b)において、入力側に設けられた
スイッチ41は、入力ビット列を1ビットづつ順次0〜
3の各接点に振り分ける動作を行う。出力側に設けられ
たスイッチ51は、順次0〜3の各接点から出力ビット
を1ビットづつ取り出す動作を行う。
【0046】スイッチ41の接点0とスイッチ51の接
点2との間にはFF43、45が直列に接続されて配置
されている。スイッチ41の接点1とスイッチ51の接
点1との間は、導線で接続され、遅延無く伝送される。
スイッチ41の接点2とスイッチ51の接点0との間に
はFF47が配置され、またスイッチ41の接点3とス
イッチ51の接点3との間にはFF49が配置されてい
る。
【0047】各FFは、入力が与えられたビットタイム
の次のビットタイムでこの入力が出力に現れるものであ
る。このデインターリーブ回路に、インターリーブされ
た入力ビット列、b0,X,X,b1,b4,X,b
2,b5,b8,…,が入力されたとき、その動作シー
ケンスを図6(a)〜(h)および図7(a)〜(h)
に示す。これらの図に示された動作は、図4、図5に類
似した動作なので詳細な説明は省略するが、最初の6ク
ロック間は不定値が出力されることを除いて、これ以降
デインターリーブされたビット列、b0,b1,b2,
b3,…,が出力として得られる。
【0048】以上説明したように、本実施の形態におい
ては、従来のRamseyインターリーブ・デインター
リーブがn1=2,n2=3のとき、FFを6(n1×
n2)ビット使用していたのに比べて、図3(a),
(b)に示したように、4ビットのFFで実現すること
ができる。
【0049】これを一般化すれば、従来のRamsey
インターリーブ回路/デインターリーブ回路では、FF
ビット数をn1×n2必要としたのに比べて、本実施の
形態では、そのビット使用量は、近似的に(n1×n
2)/2となり、実際の回路における削減比は約1/2
となり、回路規模の削減効果は実施形態で説明したより
も大きくなる。
【0050】次に、上記の第2実施形態を一般に拡大し
た第3実施形態を説明する。図8は、第3実施形態であ
るタップ間ステージ数n1 、タップ数[n2 +1]のR
amseyインターリーブを行うforneyタイプ類
似のインターリーブ装置の構成を示すブロック回路図で
ある。図8において、インターリーブ装置は、入力側の
スイッチ61と、出力側のスイッチ63と、およそn1
×n2/2個のFF65とを備えて構成されている。
【0051】スイッチ61、63はそれぞれn2個の接
点を備えているが、その切換制御は、後述するように個
別に行われる。スイッチ61、63間には、[n2+
1]本の伝送路が設けられ、それぞれ上から0,1,
2,…,n2行目のと呼ぶこととする。この行番号は、
入力側スイッチ61の接点番号と一致している。
【0052】スイッチ61の接点0と、スイッチ63の
接点0とは、導線で接続されて、0行目の伝送路を形成
している。1行目以降の伝送路には、それぞれ1個から
n2個のFF65が挿入されている。各伝送路毎のFF
65の個数は、その伝送路が第i行目とすると、(n1
×i+1)/n2個のFF65が挿入されている。
【0053】入力シンボル列が与えられる入力側のスイ
ッチ61は、順次接点0から1づつ接点番号を増加させ
ながらn2まで選択し、次いで接点0に戻る循環を行
う。
【0054】出力シンボル列を取り出す出力側のスイッ
チ63による選択は、最初に0行目を選択した後、順次
n1%n2+1,(2×n1)%n2+1,(3×n
1)%n2+1,(4×n1)%n2+1,…,で表さ
れる行の出力を選択して取り出す。ここで記号「%n
2」は、n2を法とする演算(モディロ演算)を示す。
【0055】各行のFF65または複数のFFによるシ
フトレジスタは、当該行がスイッチ61から入力シンボ
ルが与えられた次のクロック期間でその内容を取り込む
とともに、右に1桁シフトするものである。
【0056】これにより、出力側のスイッチ63には、
Ramseyインターリーブされたシンボル列が得られ
る。この構成で使用したFF数は、厳密には、n1,n
2がとる値によって僅かに異なるが、十分大きいn1,
n2に対しては,n1×n2/2となり、従来技術によ
るRamseyインターリーブ回路の1/2の回路規模
となり、大幅に回路規模の縮小が行える。
【0057】同様に、デインターリーブ装置もFF使用
数は、n1×n2/2となり、従来技術の1/2の回路
規模となり、大幅に回路規模の縮小が行える。
【0058】以上の説明からも明らかなように、FFを
使用する代わりにRAMを使用しても実現が可能であ
る。その場合、列、行をそのままアドレスに振り分けて
しまうと、RAM部分の三角形の下半分しか使用され
ず、無駄となってしまう。この無駄を削除するために
は、三角形を高さから半分のところで横に切断し、一方
の切片を回して他方の切片接合し、無駄のないメモリ領
域とすることができる。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、R
amseyインターリーブ装置およびデインターリーブ
装置の回路規模を削減し、その消費電力を減少させると
いう効果を奏する。
【0060】また本発明によれば、RAMを使用してR
amseyインターリーブ装置およびデインターリーブ
装置を実現し、その回路規模を削減し、その消費電力を
減少させるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るRamseyインターリーブ装置
の第1の実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図2】本発明に係るRamseyデインターリーブ装
置の第1の実施形態の構成を示すブロック回路図であ
る。
【図3】本発明に係るRamseyインターリーブ装置
(a)およびデインターリーブ装置(b)の第2の実施
形態の構成を示す回路図である。
【図4】図3(a)のインターリーブ装置の動作シーケ
ンスを示す図である。
【図5】図3(a)のインターリーブ装置の動作シーケ
ンスを示す図である。
【図6】図3(b)のデインターリーブ装置の動作シー
ケンスを示す図である。
【図7】図3(b)のデインターリーブ装置の動作シー
ケンスを示す図である。
【図8】本発明に係るRamseyインターリーブ装置
の第3の実施形態の構成を示す回路図である。
【図9】従来のRamseyインターリーブ回路(a)
およびデインターリーブ回路(b)の構成を示す回路図
である。
【図10】Ramseyインターリーブの概念を示す図
である。
【符号の説明】
1…書込みアドレスレジスタ、1a…列アドレスレジス
タ、1b…行アドレスレジスタ、3…n1加算器、5…
読出しアドレスレジスタ、7…1加算器、9…アドレス
セレクタ、11…RAM、13…バイパスセレクタ、1
5…入力端子、17…出力端子。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 読出しアドレスを発生する読出しアドレ
    ス発生回路と、 書込みアドレスを発生する書込みアドレス発生回路と、 前記読出しアドレスまたは前記書込みアドレスのいずれ
    か一方を選択して出力するアドレスセレクタと、 前記選択されたアドレスでアドレスされるとともに入力
    データを記憶することができるRAMと、 前記入力データまたは前記RAMから読出されたデータ
    のいずれか一方を選択して出力するバイパスセレクタ
    と、 を備えたことを特徴とするインターリーブ装置。
  2. 【請求項2】 入力データ列に対して、タップ間ステー
    ジ数n1 、タップ数[n2 +1]のRamseyインタ
    ーリーブを実行する請求項1記載のインターリーブ装置
    であって、 前記書込みアドレス発生回路は、行アドレス発生回路と
    列アドレス発生回路とを備え、 前記行アドレス発生回路は、インターリーブ対象のデー
    タ列の先頭で初期化されるとともに、n2 を法としてn
    1 づつ加算することにより、順次行アドレスを生成し、 前記読出しアドレス発生回路は、アドレスを1づつ増加
    させたアドレスを生成することを特徴とするインターリ
    ーブ装置。
  3. 【請求項3】 読出しアドレスを発生する読出しアドレ
    ス発生回路と、 書込みアドレスを発生する書込みアドレス発生回路と、 前記読出しアドレスまたは前記書込みアドレスのいずれ
    か一方を選択して出力するアドレスセレクタと、 前記選択されたアドレスでアドレスされるとともに入力
    データを記憶することができるRAMと、 前記入力データまたは前記RAMから読出されたデータ
    のいずれか一方を選択して出力するバイパスセレクタ
    と、 を備えたことを特徴とするデインターリーブ装置。
  4. 【請求項4】 タップ間ステージ数n1 、タップ数[n
    2 +1]のRamseyインターリーブを施されたデー
    タ列に対してデインターリーブを実行する請求項3記載
    のデインターリーブ装置であって、 前記読出しアドレス発生回路は、行アドレス発生回路と
    列アドレス発生回路とを備え、 前記行アドレス発生回路は、インターリーブ対象のデー
    タ列の先頭で初期化されるとともに、n2 を法としてn
    1 づつ加算することにより、順次行アドレスを生成し、 前記書込みアドレス発生回路は、アドレスを1づつ増加
    させたアドレスを生成することを特徴とするデインター
    リーブ装置。
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