JPH10293943A - アンチモンスルフィド含有部分反射層を有する2層光学データ蓄積媒体 - Google Patents
アンチモンスルフィド含有部分反射層を有する2層光学データ蓄積媒体Info
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Abstract
ボ情報/フォーマット情報を、前記媒体の2つの異なる
層に蓄積することができる光学データ蓄積媒体、および
それを用いた光学データ蓄積システムの提供。 【解決手段】 (1)1つの主要表面内にピットパターン1
5を有する透明基板14、(2)前記基板に隣接しかつアンチ
モンスルフィドを含有する部分反射層16、(3)透明スペ
ーサー層18、および(4)高反射層20を順に含む光学デー
タ蓄積媒体12。
Description
する。特に、本発明は、2層以上の情報蓄積層を用いる
光学媒体の領域に関する。
体のためのデータ蓄積分野には、明らかに終わることの
ない要求がある。コンパクトディスクやビデオディスク
のような予めデータを記録した光学ディスクの分野にお
いて、大きな蓄積容量は、通常、ディスクの単位面積当
たりの蓄積密度を高めることによって達成される。しか
しながら、光学記録システムにおいて達成できる最大デ
ータ蓄積密度は、光学システムが解像できる最小フィー
チャーによって制限されている。汎用の遠方界画像形成
システムでは、最も小さな解像可能なフィーチャーサイ
ズは、回折効果により、利用できる光源(通常、固体半
導体レーザー)の波長付近に限定される。すなわち、デ
ィスク蓄積容量を高める一つの方法は、半導体レーザー
の波長を短くすることである。しかしながら、半導体レ
ーザーから得られる波長は着実に短くなっているが、固
体状態の技術や材料における制限のために、その短波長
化は顕著ではない。
技術は多数提案されている。これらは、(1)より高効率
のデータコード化機構(例えば、パルス幅変調)、(2)
光学的および/または磁気的な超解像度、(3)一定の各
速度での領域化記録、(4)部分応答/最大見込み検出の
ような優れたデータチャンネル検出方法、および(5)デ
ィスクの溝と島領域の両方での記録を包含する。
も、ディスクの単位面積当たりの蓄積密度を高めること
に関係しているが、光学ディスクの容量を増やす別法
は、別個に記録または再生できるディスク上の更なる蓄
積層を用いることである。従って、この場合のアプロー
チは、ディスクのアドレス可能な領域を増やすことであ
る。このアプローチは、媒体や記録システムの複雑さを
ほんの少し高めるだけで媒体の蓄積容量を実質上増加し
得るため、魅力的である。
の)蓄積層がディスクの片方に装備した光学ビームによ
って読み出しおよび/または書き込みされる場合、ディ
スクの蓄積層の1つは、光学ビームで読み出しおよび/
または書き込みできるように十分に反射的でなければな
らないが、前記ビームが最初の蓄積層を通過して次の蓄
積層へ届くほど十分な透明性を有していなければならな
い。しかしながら、そのようなディスクは、構成するの
が困難であることが分かっている。
部分反射層と高反射層を有する光学データ蓄積媒体であ
って、データ・サーボ情報/フォーマット情報を、前記
媒体の2つの異なる層に蓄積できるものを示唆する。本
発明の一態様において、前記媒体は、透明基板、部分反
射層、透明スペーサー層および高反射層を順に積層した
積層物を包含する。前記基板は、その主要表面の1つに
ピットパターンを有する。部分反射層は、基板のピット
パターン面と隣接していてよい。部分反射層は、Sb2
S3〔アンチモン(III)スルフィド〕、またはSb2S
5〔アンチモン(V)スルフィド〕のようなアンチモンスル
フィドを含有する。部分反射層は、基本的にアンチモン
スルフィドを含有している。アンチモンスルフィドは、
真空昇華による蒸着またはスパッタリングを含む様々な
方法で堆積されてよい。。
分反射層、透明スペーサー層および高反射層を順に含
む、2層の、予めデータが記録された光学データ蓄積デ
ィスクを包含する。第1データピットパターンは、ディ
スクの片面に設けられる。部分反射層は、第1データピ
ットパターンと隣接し、かつアンチモンスルフィドを含
有する。
点を有している。1つ目の観点において、前記媒体は、
2つ以上の情報層それぞれに集光できるドライブによっ
て読み出し可能な、データ・サーボ情報/フォーマット
情報の2つ以上の層を保持するように設計される。この
観点では、前記媒体と共に使用する光学データ蓄積シス
テムが、上述のような光学データ蓄積媒体、ビームが基
板を通過して媒体に入射するように配置された集光レー
ザー、前記ビームが部分反射層または高反射層のいずれ
かに集光できるように前記ビームの集光位置を調節する
手段、および前記媒体から出た反射されたレーザービー
ムを検知するための光検知器を包含する。この面では、
部分反射層の好ましい厚さは、約27〜80nm、特に約30〜
40nmまたは65〜75nmの範囲である。
媒体が、2つの異なるドライブにおいて共用できるよう
に設計されるディスクである。高反射層のピットパター
ンが780nmレーザー光を装備したCD−ROM(コンパ
クトディスク読み出し専用メモリー)ドライブで読み出
しできるように、ディスク全体が、通常1.2mmの厚さを
有する。ディスクは、部分反射層内のピットパターンが
650nmレーザーを有するDVD−ROM(デジタル多機
能ディスク)ドライブで読み出し可能できるように、通
常約0.6mmの厚さの基板も有している。これは、予めデ
ータを記録したディスクの販売人が、CD−ROMまた
はDVD−ROMドライブのいずれかを所有する消費者
によって読み出しできるディスクを販売することを要求
している(当然、CD−ROM版の情報は、CD−RO
MフォーマットがDVD−ROMフォーマットほどの蓄
積容量を見込まないことから、あまり苦労して製造する
ことが要求されない。)。
しくは約128〜140nmの厚さを有する。高反射層の反射率
R1は、780nm光に対し、好ましくは0.7以上であり、部
分反射層の反射率R2は、650nm光に対して好ましくは0.
2以上である。
10を図1に示す。光学データ蓄積媒体12は、透明基板1
4、データピットパターン15上の部分反射薄膜層16、透
明スペーサー層18、および第2ピットパターン19上のま
たはそれと隣接する高反射薄膜層20を含む。場合により
保護層を、高反射層20上に設けてよい。ここで、「ピッ
トパターン」とは、情報(すなわち、データ、サーボま
たはトラッキング情報、フォーマット情報等)を蓄積で
きるピットもしくは溝のパターンを意味する。光学レー
ザー30は、図1に示すように、前記媒体12に向かって光
学ビームを発光する。薄膜層16または20で反射される光
学ビームからの光は、検知器32で感知される。検知器
は、薄膜層上の特定のスポットにおけるピットの存在ま
たは不存在に基づく光強度の変調を感知する。場合によ
り、両面2層ディスクは、2つの円盤状の媒体12を、各
媒体の高反射層が接着層で分離されるように、裏側同士
を結合することにより形成され得る。
15または19)のいずれかを独立して読み込むことについ
ての可能性は、通常の光学ディスク読み出し装置の比較
的限定された焦点深度に基づく。通常の光学レコーダー
/プレーヤーにおいて、回折限定されたレーザー放射線
スポットを媒体のデータ蓄積層上に形成するのに用いら
れるレンズは、解像度を向上させかつ蓄積容量を増加さ
せるように、適度な大きさの開口数(0.4〜0.6)を有す
る。そのようなレンズは、約2μmの焦点深度(すなわ
ち、集光されたスポット径がほぼ回折限定されたままで
ある焦点変化範囲)を示し、大きな焦点変化では、照光
スポットの寸法が急速に増大する。したがって、部分反
射薄膜層16が適当な透過性を示し、かつ2つのデータピ
ットパターン(15と19)間の距離が光学システムの焦点
深度と比べて大きいならば、他のデータピットパターン
からの容認できる低い「クロストーク」と共に、いずれ
かのデータピットパターン上にレーザー30を集光するこ
とができる。すなわち、レーザー30からの光は、層16お
よび20で反射して検知器32に戻ってくるが、レーザーが
集光される層のみが、反射された光強度を強く変調する
ことにより、データが読み出される。
よび19は、反射層16もしくは20の一つに先ず集光し、次
にデータを前記の全層において再生した後、他の反射層
上の焦点に焦点位置を切り替えることにより、大抵容易
に再生され得る。別法として、焦点位置を1回以上切り
替えて、データピットパターン15および19のうち一つに
含まれるデータを完全に再生することが望ましいことも
ある。いずれの場合にも、透明層18で分離された2つの
データピットパターンの使用は、光学記録媒体10のデー
タ蓄積容量を、効果的に2倍にする。
十分忠実に成形するのを助ける、光学ディスク基板に適
したポリマー材料(例えば、ポリカーボネートまたはア
モルファスポリオレフィン)であってよい。あるいは、
例えばガラスまたはポリメチレンメタクリレートのよう
な平坦な基板を使用して、データピットパターン19のデ
ータについて記載するように、感光性ポリマー複製によ
りデータピットパターン15を形成することもできる。
囲の実数成分nと10-4以下、好ましくは10-5以下の虚数
成分Kを含む複屈折率を有する、光硬化性ポリマーのよ
うなポリマーであってよい。透明スペーサー層18は、レ
ーザー30を、最小限のクロストークで各データピットパ
ターン15および19のいずれかに集光できるほど十分に厚
くなければならない。これは、約5〜100μm、特に約3
0〜50μmの範囲内の厚さであると解釈される。
られるレーザー波長において高い反射率を示す金属層で
あってよい。従来使用されている半導体レーザー光源
は、約600〜850nmの範囲の波長を放射する。アルミニウ
ム、金、銀、銅、およびそれらの合金は、この波長範囲
において適した高反射率を示し得る。高反射層20は、好
ましくは少なくとも70%、特に少なくとも80%以上(例
えば、85%または95%)の反射率を有する。
コストを最小限にするために、各データピットパターン
15および19からの平均読み出し信号レベルは、ほぼ等し
いことが望ましい。したがって、検知器32で測定され
る、層16および20からの見掛けの反射率も、ほぼ等しく
なければならない。
は20のいずれかの層の平坦な領域上のスポットに集光さ
れると、普通、光学読み出し装置の光検知器で感知され
得る、透明基板14に入射する光学出力の分率をいう。読
み出し装置は、レーザー、適切に設計された光学路、お
よび光検知器から構成されると考えられる。透明基板14
と最も接近している光学路内の光学要素は、高い開口数
(>0.4)の対物レンズであるとも考えれる。ここで、
「内部表面反射率」または「内部界面反射率」とは、前
記媒体構造内の界面(例えば、透明基板14と部分反射層
16との間の界面、あるいはスペーサー層18と高反射層20
との間の界面)に入射して反射される光学出力の分率を
いう。
るために、高反射層20は、スペーサー層18と高反射層20
との間の内部界面で入射光の約85〜95%を反射すると考
える。さらに、スペーサー層18の複屈折率の実数成分n
は1.5であり、基板14は複屈折率の実数成分nが1.57の
ポリカーボネートであり、かつ大気−基板界面での反射
は、読み出し信号に寄与しないものとする。部分反射層
16が、本質的に吸収を示さない(前述で使用した材料と
は別の)理想的な材料であると考えれば、基板14と部分
反射層との間の内部界面で観られるような約0.35の反射
率は、層16および20からの見掛け反射率の差をもたらす
ことが分かる。
チモンスルフィド、特にSb2S3およびSb2S5である
ことを見い出した。Sb2S3の複屈折率の実数成分
(n)を、2つの異なる方法で堆積したSb2S3のフィ
ルムを用いて測定した。無線周波数(RF)マグネトロ
ン・スパッタリングで堆積したSb2S3(図2中、○で
示す。)は、400nmで約3.8から、650nmで約3.4、800nm
で約3.2まで変化する実数成分(n)を有していた。複
屈折率の虚数成分(K)(図3中、○で示す。)は、以
下の通り変化した:400nmで1.3、500nmで0.7、600nmで
0.3、650nmで0.2、725nmで0.1、および800nmで0.05。
中、△で示す。)は、400nmで約3.4から、650nmで約3.
2、800nmで約2.9まで変化する複屈折率の実数成分
(n)を有していた。虚数成分(K)(図3中、△で示
す。)は、以下の通り変化した:400nmで1.0、500nmで
0.5、600nmで0.2、650nmで0.15、700nmで0.05、および8
00nmで約0.01。
リングしたアモルファスシリコンカーバイド(a-SiC)
の複屈折率の実数(n)および虚数成分(K)は、米国
特許第5,540,960号公報に開示されている。a-SiCの実数
成分(n)(図2中、□で示す。)は、400nmで約3.0か
ら、650nmで約2.9、および800nmで約2.8まで変化する。
虚数成分(K)(図3中、□で示す。)は、以下の通り
変化した:400nmで約0.5、500nmで0.4、600nmで0.3、65
0nm、700nmおよび800nmで約0.2。
蒸着(△)により堆積したSb2S3は、400〜800nmのど
の波長においても、実数成分(n)がa-SiC(□)より
高く、スパッタリングしたSb2S3が、最も高い実数成
分(n)を示した。スパッタリングにより堆積したSb
2S3(○)は、650nm以長の波長において、a-SiC(□)
よりも低い虚数成分(K)を有していた。蒸着により堆
積したSb2S3(△)は、580nm以長の波長において、a
-SiCよりも低い虚数成分(K)を有していた。
において、複屈折率は高い(>3.0)実数成分(n)を
有していた。図3に示すように、Sb2S3の複屈折率
も、600〜800nmの波長範囲で非常に低い虚数成分を有し
ていた。低いKは、高反射層20の読み出しをほとんどし
損なわずに部分反射層16を通過する光の透過率を2倍に
するのに必要である。高い実数成分(n)と低い虚数成
分(K)の組み合わせは、Sb2S3を、部分反射層16に
とって理想的な材料にする。
I)スルフィドフィルムは、以下の用にして調製した:
スパッタリングフィルムは、材料が半導体であるため、
無線周波数(RF)磁気スパッタリングにより調製し
た。アンチモン(III)スルフィドの伝導率は、DCマ
グネトロン・スパッタリングするには低すぎた。スパッ
タリング前の真空系の基本圧は、3×10-7Torr以下であ
った。スパッタリングガスはアルゴン(Ar)で、スパ
ッタリング圧は2mTorrであった。スパッタリングするタ
ーゲットと基板の間の距離は8cmであった。促進スパッ
ター出力は25ワットに設定した。堆積速度は10nm/分以
下であった。速度は、材料をDCまぐねトロン・スパッ
タリングでスパッタリングすると非常に高くなることが
ある。これは、ターゲットが少量の導電性不純物(例え
ば、ホウ素または炭素)でドープされると、起こり得
る。スパッタリングしたフィルムの複屈折率の虚数部
(K)は、ドープしていないものよりも高くてよいが、
ここに開示した本出願ではまだ十分に小さくてよい。基
板はスライドガラスであった。
ベルジャー真空コーターにおける発生源材料の真空昇華
によって調製した。コーティング中のコーターの圧力
は、2×10-4Torr以下であった。アンチモン(III)ス
ルフィドを、タンタルワイヤーバスケットによりパイレ
ックス製の耐熱性るつぼの中に入れた。平均堆積速度は
6nm/分であった。基板はスライドガラスであった。出
願人は、アンチモン(V)スルフィドの堆積フィルムも
示している。Sb2S3とSb2S5はいずれも、同様の光
学特性を有しているが、後者(Sb2S5)は、より高い
速度で昇華すると考えられる。
を用いて行ったものであるが、Sb2S5のような他の化
学量論量物質も同様の特性を有する。部分反射層16は、
厚み範囲に亙って比較的一定の反射率を示しことが非常
に望ましく、それによって、難無く、フィルム厚と製造
中の均質性を制御する。厚みの変化につれて、反射率が
徐々に変化する部分反射層を有することに加えて、層16
および20からの見掛けの反射率がほぼ等しいことも望ま
れ、かつ部分反射層の厚さの同じ範囲では両方の特徴が
生じることが大抵望まれる。明言し難いが、層16および
20からの見掛けの反射率はいずれも、実質上等しく、か
つ層16の厚さ変化に対して感受性がない媒体構造を有す
ることが、大抵望まれる。この状況は、図4に示す光学
モデルに基づくコンピューター計算によるグラフに模式
的に示されている。前記モデルは、ポリカーボネート基
板14、真空蒸着したSb2S3の部分反射層16、透明ポリ
マースペーサー18、および反射率が約85%のAlCrの
高反射層20を順に含む光学的な積層物に基づいている。
Sb2S3部分反射層の厚さを0〜100nmまで変化させ、
また、反射率(R)は、両方の反射層(Sb2S3および
AlCr)について示した。
0nmでの見掛けの反射率を白丸で示し、高反射層20(A
lCr)の見掛けの反射率を黒丸で示す。図4に示すよ
うに、2つの層の見掛けの反射率は、Sb2S3の約27か
ら80nmまでの厚さ範囲に亙って0.12未満づつ変化してお
り、反射率平均は31%±6%(0.31±0.06)である。2
つの反射率は、Sb2S3の30〜40nmの厚さ範囲におい
て、反射率平均31%±3%(0.31±0.03)で、および65
〜75nmの厚さ範囲でも、反射率平均29%±3%(0.29±
0.03)でより接近して平衡している。電気的ノイズ制限
した光学ドライブにおいて、高いR値は、より高い光学
変調(信号)、すなわち、検出されるデータパターンで
のより高い信号−ノイズ比に関する。
る。ディスク状の光学データ蓄積媒体52は、円盤形状の
透明基板54、第1データピットパターン55上の部分反射
薄膜層56、透明スペーサー層58、および第2データピッ
トパターン59上の高反射薄膜層60を含む。層54〜60は、
以下に述べる点を除いて、図1中の層14〜20とそれぞれ
合致する。上記態様の好ましい変更において、基板54
は、約0.6mmの普通の厚さを有し、ディスク全体52は約
1.2mmの普通の厚さを有する。ディスク52は、2つの別
のデータ蓄積システムで使用するために設計されてい
る。一方の系(「第1」システム)は、比較的長波長
(例えば、λ=780nm)のレーザー70を用いる。このシ
ステムでは、レーザー70からのビームは、基板54、部分
反射層56およびスペーサー層58を通過し、第2データピ
ットパターン59上に集光される。レーザー70からのビー
ムは、高反射層60で反射されて、スペーサー層58、部分
反射層56および基板54を介して戻り、検知器80で感知さ
れる。検知器は、第2ピットパターン59上における特定
のスポットでのピットの存在または不存在に基づく光強
度の変調を感知する。通常、レーザー70および検知器80
は、同一のディスクドライブの部品であり、従って検知
器80は、レーザー70と共に作動するように設計されると
解されるべきである。
ム(「第2」システム)は、比較的短波長(例えば、65
0nm)のレーザー74を特徴とする。このシステムでは、
レーザー74からのビームが基板54を通過して、第1デー
タピットパターン上に集光される。レーザー74からのビ
ームは、部分反射層56で反射されて、基板54を介して戻
り、検知器84で感知される。通常、レーザー74と検知器
84は、同一のディスクドライブの部品であり、従って検
知器84は、レーザー74と共に作動するように設計される
と解されるべきである。
由により望ましい。1つのディスク52が、その上に2つ
の密度の情報層(パターン55および59)を有し得る。第
2ピットパターン59は、1つ目のフォーマット、例え
ば、コンパクトディスク読み出し専用メモリー(CD−
ROM)に用いるような低(または中程度の)密度のフ
ォーマットを有し得る。ディスク52は、(CD−ROM
仕様書と調和して)厚さ1.2mmであり、高反射層60と隣
接する第2ピットパターン59は、(CD−ROM仕様書
と調和して)780nmレーザーによって読み出し可能であ
る。
層(パターン55)も有し得るが、これは、異なるフォー
マット密度で記録される。第1ピットパターン55は、別
のフォーマット、例えば、DVD−ROM(デジタル多
機能ディスク)で使用されるような高密度フォーマット
を有し得る。基板54は、(DVD−ROM仕様書と調和
して)厚さ0.6mmであり、部分反射層56と隣接する第1
ピットパターン55は、(DVD−ROM仕様書と調和し
て)650nmレーザーを用いて読み出し可能である。
同一ソフトウエアーの2つのバージョンを保持すること
ができる。すなわち、より短くて単純な方のバージョン
をCD−ROMドライブで読み出しする第2ピットパタ
ーン中に、およびより長くて精巧なバージョンをDVD
−ROMで読み出しする第1ピットパターン中に保持で
きる。従って、ソフトウエアー開発者は、CD−ROM
またはDVD−ROMのいずれかを所有する者によって
購入され得る1枚のディスクを販売することができる。
このことは、予め状法規録されたディスク産業が、CD
−ROMドライブからDVD−ROMドライブへ変換し
始める時に、大変な利点となり得る。
を承認することは、それを設計することと同じではな
い。そのようなディスクは、DVD−ROM仕様書を満
足するように、部分反射層56では650nmで0.2(20%)以
上の反射率を、また、CD−ROM仕様書を満足するよ
うに、高反射層60では780nmで0.7(70%)以上の反射率
をそれぞれ有していなければならない。出願人は、アン
チモンスルフィドがこの基準を満たすことを見い出し
た。
で模擬したものと同じ光学積層物において、780nmでの
高反射層60の反射率(白丸)および650nmでの部分反射
層56の反射率(黒丸)を模擬したコンピューター計算に
よるグラフである。780nmでの高反射層60の反射率が70
%以上であり、650nmでの部分反射層56の反射率が20%
以上である厚さが重要であると考えられる。これは、12
8nmと140nmの間の厚さのSb2S3で観うけられる。
リング)を実に簡易にし、それによって、両方のSb2
S3の吸収係数が通常のレーザー波長において非常に低
い場合でも、特に読み出しレーザービームの下でのフィ
ルム熱安定性が得られる、その比較的高い融点(550
℃)により、部分反射層に望ましい材料でもある。文献
によれば、Sb2S3は、安全なマッチを製造する場合に
主な構成要素として使用されている。Sb2S3は、おそ
らく、その比較的低い融点とより高い蒸気圧のために、
もう一つの部分反射性材料であるシリコンカーバード
(SiC)よりもスパッターするのに少ない出力で足り
る。昇華したフィルムは、分離しているため、僅かに化
学量論量的であり得る。
ションで使用したが、アンチモンスルフィドの他の化学
量論的な物質も、同様の物理的性質を有する。本発明
は、Sb2S3〜Sb2S5までの範囲のアンチモンスルフ
ィドの化学量論量に適合すると考えられる。Sb2S
5は、その堆積速度から判断すると、その相対物である
Sb2S3よりも高い蒸気圧を有するであると考えられ
る。昇華したSb2S5フィルムは、重要なスペクトル領
域(600〜800nm)において、より低い吸収を有すると考
えられる。
め情報を記録した媒体に限定されないことを認識してい
るであろう。例えば、第2データピットパターン19およ
び59は、ドライブにトラッキング情報を与える溝または
ピットが形成されたパターンと置き換えることができ
る。高反射薄膜層20および60のために高反射性記録可能
な材料を使用するのであれば、媒体12および52はそれぞ
れ、予め記録された情報を第1データピットパターン15
および55中に含むと同時に、ユーザーによって、データ
を層20および60内に記録することもできる。従って、こ
の場合、媒体12および52はいずれも、予め記録されたデ
ータの層と、ユーザー記録可能な情報の層とを有する。
射層と高反射層を有し、データ・サーボ情報/フォーマ
ット情報を、前記媒体の2つの異なる層に蓄積できる。
また、本発明の光学データ蓄積媒体であって、データ・
サーボ情報/フォーマット情報を、前記媒体の2つの異
なる層に蓄積することができる。また、本発明の光学デ
ータ蓄積媒体は、2つの異なるドライブ(CD−ROM
またはDVD−ROMドライブ)で共用できる。
す模式的な断面図である。
の複屈折率の実数成分(n)のグラフである。
の情報屈折率の虚数成分(K)のグラフである。
としての、2つの反射層からの反射率を模擬したコンピ
ューター計算によるグラフである。
合された光学データ蓄積ディスクを示す模式的な断面図
である。
よび780nmそれぞれにおける部分および高い反射層の反
射率を模擬したコンピューター計算によるグラフであ
る。
タ蓄積媒体、14、54…透明基板、15、55…第1
データピットパターン、16、56…部分反射層、1
8、58…透明スペーサー層、19、59…第2データ
ピットパターン、20、60…高反射層、30…集光レ
ーザー、32…光検知器、70…比較的長波長のレーザ
ー、74…比較的短波長のレーザー、80、84…検知
器。
Claims (3)
- 【請求項1】 (1)1つの主要表面内にピットパターン1
5を有する透明基板14、 (2)前記基板に隣接しかつアンチモンスルフィドを含有
する部分反射層16、 (3)透明スペーサー層18、および (4)高反射層20を順に含む光学データ蓄積媒体12。 - 【請求項2】 前記媒体がディスクであって、前記ピッ
トパターンが第1データピットパターン15であり、さら
にスペーサー層18と高反射層20の間に第2データピット
パターン19も含む請求項1記載の光学データ蓄積媒体。 - 【請求項3】 (i)請求項1または2記載の光学データ
蓄積媒体、 (ii)発光されるビームが基板を通過して前記媒体に入射
するように配置された集光レーザー30、 (iii)前記ビームが部分反射層または高反射層のいずれ
かに集光できるように前記ビームの集光位置を調節する
手段、および (iv)前記媒体から出た反射されたレーザービームを検知
するように配置された光検知器32を含む光学データ蓄積
システム10。
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