JPH10252988A - スチ―ムトラップの作動状態評価方法 - Google Patents
スチ―ムトラップの作動状態評価方法Info
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- JPH10252988A JPH10252988A JP8197397A JP8197397A JPH10252988A JP H10252988 A JPH10252988 A JP H10252988A JP 8197397 A JP8197397 A JP 8197397A JP 8197397 A JP8197397 A JP 8197397A JP H10252988 A JPH10252988 A JP H10252988A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不
良と蒸気漏れを検出できるスチ―ムトラップの作動状態
評価方法を提供する。 【解決手段】 温度検出手段を内蔵したプロ―ブ１と、
評価回路としてのＣＰＵ６を有する装置本体２とを備
え、スチ―ムトラップの弁口の一次側検出温度と基準温
度に基づいてフンヅマリを検出し、スチ―ムトラップの
弁口の一次側検出温度とスチ―ムトラップの弁口の一次
側飽和温度に基づいて容量不足を検出し、スチ―ムトラ
ップの弁口の二次側検出温度とスチ―ムトラップの弁口
の二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する。
良と蒸気漏れを検出できるスチ―ムトラップの作動状態
評価方法を提供する。 【解決手段】 温度検出手段を内蔵したプロ―ブ１と、
評価回路としてのＣＰＵ６を有する装置本体２とを備
え、スチ―ムトラップの弁口の一次側検出温度と基準温
度に基づいてフンヅマリを検出し、スチ―ムトラップの
弁口の一次側検出温度とスチ―ムトラップの弁口の一次
側飽和温度に基づいて容量不足を検出し、スチ―ムトラ
ップの弁口の二次側検出温度とスチ―ムトラップの弁口
の二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、スチ―ムトラップ
の作動状態、すなわち正常に復水を排出しているか否か
を、スチ―ムトラップの温度を検出することにより評価
するスチ―ムトラップの作動状態評価方法に関する。
の作動状態、すなわち正常に復水を排出しているか否か
を、スチ―ムトラップの温度を検出することにより評価
するスチ―ムトラップの作動状態評価方法に関する。
【０００２】スチ―ムトラップは蒸気ラインや蒸気使用
機器に取り付けて、蒸気は漏らさず復水だけを自動的に
排出するもので、正常に作動しないと蒸気輸送や生産活
動に重大な支障となる。例えば、復水排出機能の不良を
生じている場合、すなわち発生復水量よりも排出容量の
小さなトラップを選定して容量不足となっていたり、復
水の排出機能が喪失してフンヅマリとなっているような
場合には、スチ―ムトラップの入口側配管に復水が滞留
し、ウォ―タ・ハンマが生じたり、蒸気使用機器の効率
が低下したり機器が破壊されたりする。また閉弁機能が
低下して蒸気を漏らすと、高価なエネルギ―が空費され
ることになる。
機器に取り付けて、蒸気は漏らさず復水だけを自動的に
排出するもので、正常に作動しないと蒸気輸送や生産活
動に重大な支障となる。例えば、復水排出機能の不良を
生じている場合、すなわち発生復水量よりも排出容量の
小さなトラップを選定して容量不足となっていたり、復
水の排出機能が喪失してフンヅマリとなっているような
場合には、スチ―ムトラップの入口側配管に復水が滞留
し、ウォ―タ・ハンマが生じたり、蒸気使用機器の効率
が低下したり機器が破壊されたりする。また閉弁機能が
低下して蒸気を漏らすと、高価なエネルギ―が空費され
ることになる。
【０００３】
【従来の技術】そこで、従来からスチ―ムトラップの作
動状態を評価することが行なわれてきており、その一つ
が特公平５−１４８３９号公報に示されている。ここに
開示された技術は、温度及び振動検出手段でスチ―ムト
ラップの温度と振動を検出してこの検出温度信号と検出
振動信号を評価回路に供給し、評価回路で検出温度から
復水排出機能の不良を検出すると共に検出振動から蒸気
漏れを検出するものである。スチ―ムトラップが容量不
足やフンズマリになると、正常に復水を排出している場
合に比べて温度が低下することに基づいて、復水排出機
能の不良を検出し、スチ―ムトラップが蒸気を漏らす
と、正常に復水を排出している場合に比べて振動が大き
くなることに基づいて、蒸気漏れを検出する。
動状態を評価することが行なわれてきており、その一つ
が特公平５−１４８３９号公報に示されている。ここに
開示された技術は、温度及び振動検出手段でスチ―ムト
ラップの温度と振動を検出してこの検出温度信号と検出
振動信号を評価回路に供給し、評価回路で検出温度から
復水排出機能の不良を検出すると共に検出振動から蒸気
漏れを検出するものである。スチ―ムトラップが容量不
足やフンズマリになると、正常に復水を排出している場
合に比べて温度が低下することに基づいて、復水排出機
能の不良を検出し、スチ―ムトラップが蒸気を漏らす
と、正常に復水を排出している場合に比べて振動が大き
くなることに基づいて、蒸気漏れを検出する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のスチ―ムト
ラップの作動状態評価方法では、温度と振動を検出して
それぞれの検出信号を評価しなければならないので、必
然的に複雑で高価にならざるを得ないという問題点があ
った。
ラップの作動状態評価方法では、温度と振動を検出して
それぞれの検出信号を評価しなければならないので、必
然的に複雑で高価にならざるを得ないという問題点があ
った。
【０００５】従って、本発明の技術的課題は、簡単にス
チ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出
できるスチ―ムトラップの作動状態評価方法を提供する
ことである。
チ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出
できるスチ―ムトラップの作動状態評価方法を提供する
ことである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の技術的課題を解決
するために、本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価
方法は、温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の一次
側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評価回路
に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準温度に
基づいて復水排出機能の不良を検出する第１の評価過程
と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の二次
側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上記評価
回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の二次側
の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路に供給
し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次側飽和
温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と二次側
飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第２の評価過程
と、を備えたことを特徴とするものである。
するために、本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価
方法は、温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の一次
側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評価回路
に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準温度に
基づいて復水排出機能の不良を検出する第１の評価過程
と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の二次
側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上記評価
回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の二次側
の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路に供給
し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次側飽和
温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と二次側
飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第２の評価過程
と、を備えたことを特徴とするものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明のスチ―ムトラップの作動
状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一次側検出
温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出
し、スチ―ムトラップの弁口の二次側検出温度とスチ―
ムトラップの弁口の二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れ
を検出する。スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度
は、蒸気漏れを生じている場合には正常に復水を排出し
ている場合に比べて高くなるので、二次側検出温度と二
次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出することができ
る。このように、振動を検出せずに簡単にスチ―ムトラ
ップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できる。
状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一次側検出
温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出
し、スチ―ムトラップの弁口の二次側検出温度とスチ―
ムトラップの弁口の二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れ
を検出する。スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度
は、蒸気漏れを生じている場合には正常に復水を排出し
ている場合に比べて高くなるので、二次側検出温度と二
次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出することができ
る。このように、振動を検出せずに簡単にスチ―ムトラ
ップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できる。
【０００８】
【実施例】上記の技術的手段の具体例を示す実施例を説
明する（図１と図２参照）。図２は、スチ―ムトラップ
の作動状態評価方法に使用する装置の概略構成を示すブ
ロック図であり、スチ―ムトラップ（図示せず）の温度
を検出する温度検出手段を内蔵したプロ―ブ１と、この
プロ―ブ１の検出温度信号を処理する装置本体２とから
成る。
明する（図１と図２参照）。図２は、スチ―ムトラップ
の作動状態評価方法に使用する装置の概略構成を示すブ
ロック図であり、スチ―ムトラップ（図示せず）の温度
を検出する温度検出手段を内蔵したプロ―ブ１と、この
プロ―ブ１の検出温度信号を処理する装置本体２とから
成る。
【０００９】この装置本体２は、プロ―ブ１から専用ケ
―ブル３を介して供給される上記検出温度信号を信号増
幅器４で増幅し、これをＡ／Ｄ変換器５でディジタル化
した信号が入力される評価回路としてのＣＰＵ６を有し
ている。
―ブル３を介して供給される上記検出温度信号を信号増
幅器４で増幅し、これをＡ／Ｄ変換器５でディジタル化
した信号が入力される評価回路としてのＣＰＵ６を有し
ている。
【００１０】このＣＰＵ６は、Ａ／Ｄ変換器５から入力
された温度信号と、操作部７から入力された圧力信号
を、記憶部８に記憶された処理プログラムに従って処理
し、これによって、スチ―ムトラップの作動状態を評価
する。そして、この評価結果を表示部９に表示する。な
お、操作部７は、上記の圧力信号を入力したり、ＣＰＵ
６に対して動作指令を与えるために例えば押しボタン
（キ―）で構成される。また表示部９は、上記の評価結
果を表示したり、ＣＰＵ６の表示指令に応じて上記動作
指令を表示するために例えば液晶パネルで構成される。
された温度信号と、操作部７から入力された圧力信号
を、記憶部８に記憶された処理プログラムに従って処理
し、これによって、スチ―ムトラップの作動状態を評価
する。そして、この評価結果を表示部９に表示する。な
お、操作部７は、上記の圧力信号を入力したり、ＣＰＵ
６に対して動作指令を与えるために例えば押しボタン
（キ―）で構成される。また表示部９は、上記の評価結
果を表示したり、ＣＰＵ６の表示指令に応じて上記動作
指令を表示するために例えば液晶パネルで構成される。
【００１１】次に、上記のＣＰＵ６の動作について、図
１のフロ―チャ―トを参照して説明する。プロ―ブ１を
スチ―ムトラップの近傍の一次側配管（図示せず）ある
いはスチ―ムトラップの弁口の一次側部分に押し当て、
スチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出する（ス
テップＳ１）。この検出された一次側検出温度信号が信
号増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を介してＣＰＵ６に供給さ
れる。そして操作部７からスチ―ムトラップの弁口の一
次側の圧力を入力する（ステップＳ２）。この入力され
た一次側圧力がＣＰＵ６に供給される。
１のフロ―チャ―トを参照して説明する。プロ―ブ１を
スチ―ムトラップの近傍の一次側配管（図示せず）ある
いはスチ―ムトラップの弁口の一次側部分に押し当て、
スチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出する（ス
テップＳ１）。この検出された一次側検出温度信号が信
号増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を介してＣＰＵ６に供給さ
れる。そして操作部７からスチ―ムトラップの弁口の一
次側の圧力を入力する（ステップＳ２）。この入力され
た一次側圧力がＣＰＵ６に供給される。
【００１２】ＣＰＵ６は、供給された一次側圧力を一次
側飽和温度に換算し（ステップＳ３）、供給された一次
側検出温度Ｔｉが基準温度、例えば４０度Ｃ以上である
か否か判断する（ステップＳ４）。このステップＳ４の
答がＮｏであると、フンヅマリと評価する（ステップＳ
５）。このステップＳ４の答がＹｅｓであると、供給さ
れた一次側検出温度Ｔｉが、例えば換算された一次側飽
和温度Ｓｔｉに０．６を乗じた値以上であるか否か判断
する（ステップＳ６）。このステップＳ６の答がＮｏで
あると、容量不足と評価する（ステップＳ７）。
側飽和温度に換算し（ステップＳ３）、供給された一次
側検出温度Ｔｉが基準温度、例えば４０度Ｃ以上である
か否か判断する（ステップＳ４）。このステップＳ４の
答がＮｏであると、フンヅマリと評価する（ステップＳ
５）。このステップＳ４の答がＹｅｓであると、供給さ
れた一次側検出温度Ｔｉが、例えば換算された一次側飽
和温度Ｓｔｉに０．６を乗じた値以上であるか否か判断
する（ステップＳ６）。このステップＳ６の答がＮｏで
あると、容量不足と評価する（ステップＳ７）。
【００１３】このステップＳ６の答がＹｅｓであると、
プロ―ブ１をスチ―ムトラップの近傍の二次側配管ある
いはスチ―ムトラップの弁口の二次側部分に押し当て、
スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出する（ス
テップＳ８）。この検出された二次側検出温度信号が信
号増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を介してＣＰＵ６に供給さ
れる。そして操作部７からスチ―ムトラップの弁口の二
次側の圧力を入力する（ステップＳ９）。この入力され
た二次側圧力がＣＰＵ６に供給される。
プロ―ブ１をスチ―ムトラップの近傍の二次側配管ある
いはスチ―ムトラップの弁口の二次側部分に押し当て、
スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出する（ス
テップＳ８）。この検出された二次側検出温度信号が信
号増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を介してＣＰＵ６に供給さ
れる。そして操作部７からスチ―ムトラップの弁口の二
次側の圧力を入力する（ステップＳ９）。この入力され
た二次側圧力がＣＰＵ６に供給される。
【００１４】ＣＰＵ６は、この供給された二次側圧力を
二次側飽和温度に換算し（ステップＳ１０）、供給され
た二次側検出温度Ｔｏが、例えば換算された二次側飽和
温度Ｓｔｏに０．６を乗じた値以上であるか否か判断す
る（ステップＳ１１）。このステップＳ１１の答がＮｏ
であると、蒸気漏れと評価する（ステップＳ１２）。こ
のステップＳ１１の答がＹｅｓであると、正常と評価す
る（ステップＳ１３）。
二次側飽和温度に換算し（ステップＳ１０）、供給され
た二次側検出温度Ｔｏが、例えば換算された二次側飽和
温度Ｓｔｏに０．６を乗じた値以上であるか否か判断す
る（ステップＳ１１）。このステップＳ１１の答がＮｏ
であると、蒸気漏れと評価する（ステップＳ１２）。こ
のステップＳ１１の答がＹｅｓであると、正常と評価す
る（ステップＳ１３）。
【００１５】
【発明の効果】上記のように、本発明のスチ―ムトラッ
プの作動状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一
次側の温度とスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を
検出することにより簡単にスチ―ムトラップの復水排出
機能の不良と蒸気漏れを検出できるという優れた効果を
生じる。
プの作動状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一
次側の温度とスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を
検出することにより簡単にスチ―ムトラップの復水排出
機能の不良と蒸気漏れを検出できるという優れた効果を
生じる。
【図１】本発明によるスチ―ムトラップの作動状態評価
方法の一実施例に用いるＣＰＵのプログラムを示すフロ
―チャ―トである。
方法の一実施例に用いるＣＰＵのプログラムを示すフロ
―チャ―トである。
【図２】本発明によるスチ―ムトラップの作動状態評価
方法の一実施例に使用する装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。
方法の一実施例に使用する装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。
１ プロ―ブ（温度検出手段） ２ 装置本体 ４ 信号増幅器 ５ Ａ／Ｄ変換器 ６ ＣＰＵ（評価回路） ７ 操作部 ８ 記憶部 ９ 表示部
Claims (1)
- 【請求項１】 温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口
の一次側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評
価回路に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準
温度に基づいて復水排出機能の不良を検出する第１の評
価過程と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口
の二次側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上
記評価回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の
二次側の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路
に供給し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次
側飽和温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と
二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第２の評
価過程と、を備えたことを特徴とするスチ―ムトラップ
の作動状態評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08197397A JP3924037B2 (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | スチ―ムトラップの作動状態評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08197397A JP3924037B2 (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | スチ―ムトラップの作動状態評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10252988A true JPH10252988A (ja) | 1998-09-22 |
| JP3924037B2 JP3924037B2 (ja) | 2007-06-06 |
Family
ID=13761443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08197397A Expired - Fee Related JP3924037B2 (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | スチ―ムトラップの作動状態評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3924037B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002071092A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-08 | Tlv Co Ltd | 蒸気トラップ診断装置、及び、蒸気トラップ診断方法 |
| JP2008144995A (ja) * | 2006-12-07 | 2008-06-26 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | プラントリーク検出システム |
-
1997
- 1997-03-14 JP JP08197397A patent/JP3924037B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002071092A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-08 | Tlv Co Ltd | 蒸気トラップ診断装置、及び、蒸気トラップ診断方法 |
| JP2008144995A (ja) * | 2006-12-07 | 2008-06-26 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | プラントリーク検出システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3924037B2 (ja) | 2007-06-06 |
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