JP3924037B2 - スチ―ムトラップの作動状態評価方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、スチ―ムトラップの作動状態、すなわち正常に復水を排出しているか否かを、スチ―ムトラップの温度を検出することにより評価するスチ―ムトラップの作動状態評価方法に関する。
【0002】
スチ―ムトラップは蒸気ラインや蒸気使用機器に取り付けて、蒸気は漏らさず復水だけを自動的に排出するもので、正常に作動しないと蒸気輸送や生産活動に重大な支障となる。例えば、復水排出機能の不良を生じている場合、すなわち発生復水量よりも排出容量の小さなトラップを選定して容量不足となっていたり、復水の排出機能が喪失してフンヅマリとなっているような場合には、スチ―ムトラップの入口側配管に復水が滞留し、ウォ―タ・ハンマが生じたり、蒸気使用機器の効率が低下したり機器が破壊されたりする。また閉弁機能が低下して蒸気を漏らすと、高価なエネルギ―が空費されることになる。
【0003】
【従来の技術】
そこで、従来からスチ―ムトラップの作動状態を評価することが行なわれてきており、その一つが特公平5−14839号公報に示されている。ここに開示された技術は、温度及び振動検出手段でスチ―ムトラップの温度と振動を検出してこの検出温度信号と検出振動信号を評価回路に供給し、評価回路で検出温度から復水排出機能の不良を検出すると共に検出振動から蒸気漏れを検出するものである。スチ―ムトラップが容量不足やフンズマリになると、正常に復水を排出している場合に比べて温度が低下することに基づいて、復水排出機能の不良を検出し、スチ―ムトラップが蒸気を漏らすと、正常に復水を排出している場合に比べて振動が大きくなることに基づいて、蒸気漏れを検出する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来のスチ―ムトラップの作動状態評価方法では、温度と振動を検出してそれぞれの検出信号を評価しなければならないので、必然的に複雑で高価にならざるを得ないという問題点があった。
【0005】
従って、本発明の技術的課題は、簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できるスチ―ムトラップの作動状態評価方法を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記の技術的課題を解決するために、本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価方法は、温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評価回路に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出する第1の評価過程と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上記評価回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の二次側の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路に供給し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次側飽和温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第2の評価過程と、を備えたことを特徴とするものである。
【0007】
【発明の実施の形態】
本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一次側検出温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出し、スチ―ムトラップの弁口の二次側検出温度とスチ―ムトラップの弁口の二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する。スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度は、蒸気漏れを生じている場合には正常に復水を排出している場合に比べて高くなるので、二次側検出温度と二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出することができる。このように、振動を検出せずに簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できる。
【0008】
【実施例】
上記の技術的手段の具体例を示す実施例を説明する(図1と図2参照)。
図2は、スチ―ムトラップの作動状態評価方法に使用する装置の概略構成を示すブロック図であり、スチ―ムトラップ(図示せず)の温度を検出する温度検出手段を内蔵したプロ―ブ1と、このプロ―ブ1の検出温度信号を処理する装置本体2とから成る。
【0009】
この装置本体2は、プロ―ブ1から専用ケ―ブル3を介して供給される上記検出温度信号を信号増幅器4で増幅し、これをA/D変換器5でディジタル化した信号が入力される評価回路としてのCPU6を有している。
【0010】
このCPU6は、A/D変換器5から入力された温度信号と、操作部7から入力された圧力信号を、記憶部8に記憶された処理プログラムに従って処理し、これによって、スチ―ムトラップの作動状態を評価する。そして、この評価結果を表示部9に表示する。なお、操作部7は、上記の圧力信号を入力したり、CPU6に対して動作指令を与えるために例えば押しボタン(キ―)で構成される。また表示部9は、上記の評価結果を表示したり、CPU6の表示指令に応じて上記動作指令を表示するために例えば液晶パネルで構成される。
【0011】
次に、上記のCPU6の動作について、図1のフロ―チャ―トを参照して説明する。プロ―ブ1をスチ―ムトラップの近傍の一次側配管(図示せず)あるいはスチ―ムトラップの弁口の一次側部分に押し当て、スチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出する(ステップS1)。この検出された一次側検出温度信号が信号増幅器4、A/D変換器5を介してCPU6に供給される。そして操作部7からスチ―ムトラップの弁口の一次側の圧力を入力する(ステップS2)。この入力された一次側圧力がCPU6に供給される。
【0012】
CPU6は、供給された一次側圧力を一次側飽和温度に換算し(ステップS3)、供給された一次側検出温度Tiが基準温度、例えば40度C以上であるか否か判断する(ステップS4)。このステップS4の答がNoであると、フンヅマリと評価する(ステップS5)。このステップS4の答がYesであると、供給された一次側検出温度Tiが、例えば換算された一次側飽和温度Stiに0.6を乗じた値以上であるか否か判断する(ステップS6)。このステップS6の答がNoであると、容量不足と評価する(ステップS7)。
【0013】
このステップS6の答がYesであると、プロ―ブ1をスチ―ムトラップの近傍の二次側配管あるいはスチ―ムトラップの弁口の二次側部分に押し当て、スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出する(ステップS8)。この検出された二次側検出温度信号が信号増幅器4、A/D変換器5を介してCPU6に供給される。そして操作部7からスチ―ムトラップの弁口の二次側の圧力を入力する(ステップS9)。この入力された二次側圧力がCPU6に供給される。
【0014】
CPU6は、この供給された二次側圧力を二次側飽和温度に換算し(ステップS10)、供給された二次側検出温度Toが、例えば換算された二次側飽和温度Stoに0.6を乗じた値以上であるか否か判断する(ステップS11)。このステップS11の答がNoであると、蒸気漏れと評価する(ステップS12)。このステップS11の答がYesであると、正常と評価する(ステップS13)。
【0015】
【発明の効果】
上記のように、本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一次側の温度とスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出することにより簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できるという優れた効果を生じる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるスチ―ムトラップの作動状態評価方法の一実施例に用いるCPUのプログラムを示すフロ―チャ―トである。
【図2】本発明によるスチ―ムトラップの作動状態評価方法の一実施例に使用する装置の概略構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 プロ―ブ(温度検出手段)
2 装置本体
4 信号増幅器
5 A/D変換器
6 CPU(評価回路)
7 操作部
8 記憶部
9 表示部
Claims (1)
- 温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評価回路に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出する第1の評価過程と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上記評価回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の二次側の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路に供給し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次側飽和温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第2の評価過程と、を備えたことを特徴とするスチ―ムトラップの作動状態評価方法。
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- 1997-03-14 JP JP08197397A patent/JP3924037B2/ja not_active Expired - Fee Related
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