JPH10248013A - 画像形成装置および画像読取システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 安価な画像読取装置で位置誤差を簡単な演算
処理で検出し、高精度で読み取ることができる画像形成
装置を提供する。 【解決手段】 原稿をコンタクトガラス上に給送し、原
稿上の画像を読み取って画像を形成する画像形成装置に
おいて、画像を形成する際に、画像を形成する転写紙１
０の外周の画像形成しない部分（画像処理用印字エリア
１０ｂ）に、画像処理用の斜線ＬＮのパターンを形成す
る。このように画像形成装置の出力時にパターンも同時
に印字すると、あらかじめパターンが印刷された特殊な
紙や印字物などを用意する必要がなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、読み取ったビット
マップ形式の画像データの位置誤差を測定して画像デー
タの画素の位置誤差を補正する画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この種の画像読取装置として例えば日本
機械学会第７１期通常総会講演会講演論文集（ＩＶ）で
発表された「高精細画像入力装置の開発」（従来例１）
が知られている。ここでは、副走査方向に並べて配置さ
れた等ピッチラインのテストチャートを読み取った画
像、すなわち、副走査方向のライン間隔で離散化された
画像データに対して補間演算を行い、演算された結果か
ら、等ピッチラインの黒線、白線の中心位置を求め、テ
ストチャートの基準ピッチとの差を読み取ることで、装
置の振動などに起因する画像データの読み取り位置誤差
を検出するようになっている。

【０００３】他の従来例として特開平６−２９７７５８
号公報「走査線ピッチ計測方法」（従来例２）がある。
この公知例は、等ピッチパターンのデータを書き込んだ
ハードコピーのパターンを読み取ってハードコピー装置
の書き込みの走査線のピッチむらを計測するようになっ
ている。

【０００４】光学的リニアスケールとして、例えばオー
ム社から出版された「サーボセンサの基礎と応用」（大
島康次郎、秋山勇治共著）〔昭和６３年２月２０日発
行〕（従来例３）も知られている。この従来例では、リ
ニアスケールの一例としてポジションスケールを例に挙
げている。例に挙げられたリニアスケールは、全く等し
いピッチの明暗の格子をもった２枚１組のメインスケー
ルとインデックススケールとからなるガラススケール
と、そのスケールを照明するＬＥＤからなる光源と、ス
ケールを透過した光を検知するフォトダイオードから構
成される。通常はインデックスケールが固定され、メイ
ンスケールが移動するがその移動に連れてフォトダイオ
ードの出力が変化する。出力は２枚のガラスの透過部が
一致したとき最大となり、透過部とクロム蒸着された不
透明部が重なったときには、出力は理想状態では０とな
る。したがって、その出力波形は理想的には三角波とな
るが、実際には明暗の格子ピッチが８μｍと小さいた
め、光の回折の影響やクロム烝着面での反射の影響があ
り、近似正弦波の形で出力される。この出力波形の山の
間隔がスケールのピッチに相当するので、山の数を数え
ることにより移動量を知ることができる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来例
１では、等ピッチラインのパターンのエッジと読み取り
のサンプリングのタイミングとの位置関係との相違によ
り同じ形状のパターンを読み取って得られるデータがそ
れぞれ異なってしまうモアレという現象がある。読み取
ったデータはこのモアレによって必ずしもパターンのエ
ッジの位置と対応しないので、位置誤差の測定精度を劣
化させる。モアレの影響は、等ピッチラインパターンを
精細にして読み取り装置の分解能に近づけると非常に顕
著になり、条件によっては位置誤差の測定ができなくな
るほどになる。したがってこの方式では、読み取り装置
の分解能に近い、あるいはそれ以下の位置誤差を高精度
で測定することはできない。

【０００６】また、等ピッチラインのパターンを使うの
で、モアレの影響を無視しても、高い周波数成分の位置
誤差を測定するためにパターンのピッチを精細にする
と、結像光学系のＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒ
ａｎｓｆｅｒ Ｒａｔｉｏ）の限界によって得られた画
像の濃淡の信号の差が小さくなり、測定精度が劣化せざ
るを得ない。

【０００７】さらに、パターンの精細化では、測定の周
波数帯域を高い方向に広げ、精度を上げることができな
いのでサンプリングしたデータを補間する処理を行って
いる。より良い補間を行うには、より多くの周辺データ
を使ったり、複雑な演算処理が必要になり、処理時間が
長くなる。さらに補間はあくまでも補間であり、真のデ
ータとのずれが生じることは避けられず、測定精度を劣
化させる要因になる。また、光電変換装置の中の特定の
１つの受光素子が副走査方向に走査することによって得
られる画像データを使用しているので、受光素子そのも
のが持つノイズが測定そのものの精度に影響を与えて、
精度を劣化させる。

【０００８】従来例２では、計測時には光電変換装置で
パターンを読み込んだデータを使うので、計測に当たっ
てはハードコピーの読み取り時の走査むらはないという
条件で読み取ってハードコピーのピッチむらを計測して
いる。その他、特に説明しないが、前述の従来例１と同
様のモアレの問題を有する。

【０００９】従来例３では、上述のようなリニアスケー
ルにおいては、光源（ＬＥＤ）の発する光をコリメート
レンズで平行光線にしてメインスケールとインデックス
スケールの重なりを通過してくる光を受光素子で検出す
るようにしているので、微細かつ高精度のメインスケー
ル、インデックススケール、および精密なコリメートが
必要になる。その結果、当然コストも高くなってしま
う。

【００１０】一方、一般に、例えばＲ、Ｇ、Ｂの複数の
イメージセンサが副走査方向に離間し、且つ平行に配列
されたライン走査型画像読取装置では、各センサにより
読み取られる原稿の同一位置の画像データには時間的な
ずれがあり、したがって、原稿の同一位置の画像データ
が各センサから得られるように補正を行わないとカラー
画像の読み取りにおいては色ずれが発生し、色を正しく
読み取ることができない。このずれは各センサの間隔と
読み取り走査速度に応じて決定され、また、走査速度に
むらがあると色ずれの原因となる。

【００１１】上記不具合を避けるために、例えば特開平
６−２２１５９号公報には読み取りキャリッジを駆動す
るモータの回転に伴って発生するパルスの間隔の期間
中、マイクロプロセッサが内部クロックを計数すること
によりモータの駆動速度を求めて実際の走査速度とし、
この走査速度に基づいて複数のセンサ間の位置ずれを補
正する方法が提案されている。この方法では、副走査方
向の下流のセンサに対して上流のセンサのデータが合わ
せられ、センサ間の位置ずれが補正される。

【００１２】補正の内容は、複数のセンサ間の位置ずれ
の補正を目的とし、上流のセンサのデータの遅延量と、
１ラインに満たない遅延に対してはその前後のデータの
重み付け平均を取っている。ここで行われている補正
は、最も下流のセンサに対して上流のセンサのデータを
合わせるという補正で、センサ間のずれによる色ズレを
防止するようにしている。

【００１３】この従来技術においては、副走査方向の走
査速度の検出を駆動モータの回転から検出しているが、
平面の上に置かれた原稿を走査して読み取る形式の読取
装置では、モータの回転運動を直線運動に変換する機構
が必要であり、それゆえ当該機構に起因する速度むらの
発生を完全に除去することはできない。また、モータの
回転むらとキャリッジの移動速度むらは必ずしも一致す
るものではないので、走査速度を正確に検出することが
できず、その結果、前記従来技術における速度データは
ライン間の位置ズレを補正するデータとして必ずしもふ
さわしくない場合もある。

【００１４】さらに、上記従来の読取装置では、下流の
センサに対して上流のセンサのデータを合わせるので、
勿論、最下流のセンサから得られるデータに対して補正
する必要はない。ここで、補正を行わない最下流のセン
サから得られるデータに着目すると、読み取り走査速度
が変動した場合には一定速度で走査して読み取る場合に
比べると原稿上の読み取り位置がずれることになり、結
果として速度変動に伴う画像の伸び縮みが起きるという
問題点がある。

【００１５】すなわち、上記従来の読取装置では、この
伸び縮みが生じるデータに対して上流のセンサのデータ
を補正しているので、結果として色ずれは防止できてい
ることになるが、カラー画像全体としては走査速度の変
動に伴う画像の伸び縮みを防止することができず、本来
の画素との位置ずれは残ることになる。また、この従来
の読取装置では、複数のラインセンサの間隔が変化しな
いものとして補正基準としているので、１つのセンサの
みを有する読取装置には適用することができない。

【００１６】一方、高画質化が進んでいる昨今、読み取
り装置も６００ＤＰＩは当然の読み取り密度となってき
ている。しかし、高画質化が進むにつれ、ジターや画素
ずれなどの異常画像に対する評価がシビアになってきて
いる。そのため、読み取り装置の送り機構はますます高
精度化傾向にあり、当然、読み取り装置は高価にならざ
るを得ない。

【００１７】本発明はこのような背景に鑑みてなされた
もので、第１の目的は、安価な画像読取装置で位置誤差
を簡単な演算処理で検出し、高精度で読み取ることを可
能とする画像形成装置を提供することにある。

【００１８】第２の目的は、前記画像形成装置によって
形成された転写媒体の画像を使用して、原稿の搬送速度
ムラとキャリッジの速度ムラによる画像の伸び縮みのな
い原稿に忠実な画像データを得ることができる安価な画
像読取システムを提供することにある。

【００１９】

【課題を解決するための手段】前記第１の目的を達成す
るために、第１の手段は、原稿をコンタクトガラス上に
給送し、原稿上の画像を読み取って画像を形成する画像
形成装置において、画像を形成する際に、画像を形成す
る転写媒体の外周の非画像形成部分に画像処理用のパタ
ーンを形成することを特徴としている。

【００２０】このように画像形成装置の出力時にパター
ンも同時に印字すると、あらかじめパターンが印刷され
た特殊な紙や印字物などを用意する必要がなくなる。ま
た、普通紙が使用できるので、安価に提供することが可
能になる。

【００２１】前記第１の目的を達成するために、第２の
手段は、第１の手段における画像処理用のパターンを、
主走査方向または副走査方向に対して一定の傾きの線を
等ピッチで並べて形成された複数の斜線から構成したこ
とを特徴としている。

【００２２】このように一定の傾きを持ったパターンを
印字すると、その画像を読み取ったときに画像処理が容
易になる。

【００２３】前記第１の目的を達成するため、第３の手
段は、第１の手段における非画像形成部分を転写媒体の
外周から１インチの範囲内の領域に設定したことを特徴
としている。

【００２４】前記第２の目的を達成するため、第４の手
段は、画像形成装置と画像読取装置とから画像形成シス
テムを構成し、画像形成装置は第１ないし第３の手段の
いずれかの画像形成装置からなり、画像読取装置は、前
記画像形成装置によって画像を転写する転写媒体に形成
され、あらかじめ主走査方向または副走査方向に対して
一定の傾きを有する線を等ピッチで並べて構成された画
像処理用のパターンを光学的に読み取って電気信号に変
換する手段と、この変換する手段によって電気信号に変
換された前記斜線パターンの画像データにウィンドウを
設定してウィンドウ内の画像データの重心を計算する手
段と、この重心を計算する手段に計算された重心の値に
応じてウィンドウを移動させる手段と、前記重心を計算
する手段によって計算された重心の値から画素の位置誤
差を測定する手段とを備え、前記画像読取装置は、前記
画像形成装置によって形成された画像処理用のパターン
をあらかじめ設定された一定の時間間隔で線順次に走査
して読み取って画素の位置誤差を測定することを特徴と
している。

【００２５】前記第２の目的を達成するため、第５の手
段は、第４の手段における画像読取装置に、測定された
画素の位置誤差から画素位置を補正する手段をさらに設
けたことを特徴としている。

【００２６】これにより画像形成装置側にジターなどが
発生しても、読取時に発生したジターを画像処理するこ
とができ、データとしてジターの修正が可能となる。

【００２７】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施の形態について説明する。

【００２８】１．画像読取装置の概略構成 図１に本発明の実施形態に係るＡＤＦを備えた画像読取
装置の概略を示す。同図において、コンタクトガラス１
は筐体２により支持され、ブック原稿などの原稿を固定
して読み取る場合には、原稿を読み取り面を下にしてコ
ンタクトガラス１上に載置する。コンタクトガラス１上
の原稿は照明ランプ１８とリフレクタ１９の反射光によ
って照明され、読み取り面の反射光が第１ミラー３、一
体に構成された第２ミラー２０および第３ミラー２１に
より順次反射され、次いでレンズ２２によって光電変換
装置上のライン状に並べられた光電変換素子（ＣＣＤ）
２３の受光面に結像され、光学的に読み取った画像を電
気信号に変換する。第１ミラー３、照明ランプ１８、第
２ミラー２０および第３ミラー２１は図示しない走行体
駆動モータを駆動源として図示Ａ方向に移動するように
構成されている。なお、第１ミラー３および照明ランプ
１８は図示しない第１キャリッジに取り付けられてお
り、同じく図示しない駆動装置によって原稿を線順次に
読み取るため、原稿面との距離を一定に保った状態で移
動する。第２ミラー２０と第３ミラー２１は、図示しな
い第２キャリッジに取り付けられ、第１キャリッジの１
／２の速度で第１キャリッジと同様に移動する。このよ
うな構成で原稿を走査することによってコンタクトガラ
ス２１上の所定の範囲の画像を線順次で読み取る。

【００２９】自動給紙される原稿を読み取る場合には、
原稿トレイ１２に載置された原稿Ｐは、通常の読み取り
動作では、ピックアップローラ１３、レジストローラ対
３１，３２、搬送ドラム１５および搬送ローラ４によっ
て読み取り位置Ｂを経て、排紙ガイド２４から排紙ロー
ラ対２５に送り込まれ、排紙トレイ２６上に排出され
る。原稿は読み取り位置Ｂを通過する際に、読み取り位
置近傍に移動している照明ランプ１８とリフレクタ１９
の反射光によって照明され、原稿に照射された照明光の
反射光が第１ミラー３、第２ミラー２０および第３ミラ
ー２１で走査される。その後、反射光はレンズ２２によ
って集光されて光電変換素子（ＣＣＤ）２３に照射さ
れ、当該光電変換素子２３によって光電変換される。

【００３０】なお、図１においては、コンタクトガラス
１、筐体２、照明ランプ１８、リフレクタ１９、第１ミ
ラー３、第２ミラー２０、第３ミラー２１、光電変換素
子（ＣＣＤ）２３および走行体駆動モータによってスキ
ャナ（画像読取装置本体）１００が構成され、原稿トレ
イ１２、ピックアップローラ１３、レジストローラ対３
１，３２、搬送ドラム１５、排紙ガイド２４、排紙ロー
ラ対２５および排紙トレイ２６によって自動原稿給送装
置（ＡＤＦ）２００が構成されている。

【００３１】図２は、図１に示した画像読取装置本体の
平面図で、コンタクトガラス１、筐体２、シェーディン
グ補正の基準データを光電変換部に与えるための基準濃
度板９の配置の状態を示していている。ここで、基準濃
度板９が鎖線で示してあるのは、光電変換装置２３で読
み取れるように読取装置の外面には出ていないことを示
すためである。

【００３２】２．画像形成装置 図３は画像形成装置の概念的構成を示すブロック図であ
る。この画像形成装置は、図１のような画像読取装置１
００と、公知の電子写真方式の画像形成装置３００とか
らなり、画像形成装置３００には画像処理部３０１と、
転写媒体である転写紙に画像を形成するためのパターン
を記憶したパターン記憶部３０２と、パターン記憶部３
０２からパターンを引き出して画像処理する画像処理部
３０１からの画像データに基づいて画像を形成する画像
形成部３０３とが設けられ、画像読取装置１００で読み
取り、画像処理部３０１で処理された画像にパターン記
憶部３０２に記憶されている画像が図４および図５に示
すように転写紙１０の画像形成領域（画像印字エリア）
１０ａの外側の領域（画像処理用印字エリア）１０ｂに
形成され、印字画像４００として出力される。

【００３３】このパターンは図４に示すように斜線ＬＮ
のパターンでもよいし、図５に示す用に格子ＬＰのパタ
ーンでもよい。一般には斜線ＬＮのパターンよりも格子
ＬＰのパターンの方が違和感なく受け入れられる。な
お、ここでは、この２つのパターンを図示しているが、
その他、いろいろなパターンでも斜線パターンが入って
いればよい。斜線ＬＮのフォーマットは、この実施形態
では、パターン記憶部３０２に格納されているが、ホス
トコンピュータ上で合成することも可能であり、ホスト
コンピュータ上で合成すれば、簡単に利用することがで
きる。

【００３４】また、プリンタの操作部から、もしくはコ
マンドなどによってフォーマットの有無を指示できるよ
うにしておけば、必要なときのみフォーマットの印刷が
可能になる。

【００３５】現在プリントアウトされる画像の用紙（転
写紙）の外周１／６ないし１／４は印字されていない。
これは用紙の先端は定着巻き付きジャム防止のため、あ
るいはレジスト調整のためである。そこで、この印字さ
れていない画像エリア１０ｂを前述のパターン印字に使
用すれば、簡単にこのパターンを得ることができる。な
お、用紙の先端は黒べたでなければ、定着巻き付きジャ
ムは発生しにくいので、図４または図５に示したような
パターンを形成しても問題はない。また、図４および図
５では、用紙の外周から１インチの範囲内に斜線パター
ンＬＮもしくは格子パターン（２つの方向の異なる斜線
パターンの複合パターン）ＬＰが印字された転写紙１０
の状態を示している。これらのパターンの斜線ＬＮのピ
ッチＰは、この実施形態ではインチ基準で形成されてい
る。図４に示すように転写紙１０の外周の全てにパター
ンが印字されているが場合には、転写紙１０の送り方向
に対して縦送りでも横送りでもよいことになる。

【００３６】例えば斜線ＬＮのパターンのピッチが０．
５インチであれば、３００ＤＰＩで読み込むときには、
斜線ＬＮ間のＤＰＩは１５０ドットの読み込みとなる。
１インチなら３００ドットとなり、画像の伸びや縮みを
補正する目安となる。その他のＤＰＩでも同様である。

【００３７】３．システム構成 図６に本発明の実施形態に係る画像読取装置に組み込ま
れる位置誤差測定装置のシステム構成を示す。なお、こ
の位置誤差測定装置は画像読取装置への付加機能として
組み込まれ、リアルタイムで画素の位置誤差を測定する
ものである。

【００３８】すなわち、位置誤差測定装置は、光電変換
部１０１と、Ａ／Ｄ変換部１０２と、シェーディング補
正部１０３と、斜線判別部１０４と、位置誤差測定部１
０５と、位置誤差補正部１０６と、制御部１０７とから
構成されている。光電変換部１０１は、この実施形態で
はラインＣＣＤからなり、読み取った画像が電気信号に
変換される。電気信号に変換された画像はＡ／Ｄ変換部
１０２でデジタルの多値の画像データに変換される。変
換されたデータは照明の不均一さ、レンズの周辺光量の
低下、光電変換部１０１の画素間の感度の違いなどをシ
ェーディング補正部１０３で補正され、補正されたデー
タは斜線判別部１０４に入力される。斜線判別部１０４
では、画像データの斜線パターン部分ＬＮを判別し、そ
の判別結果を制御部１０７に出力する。また、画像デー
タは位置誤差測定部１０５に入力され、測定結果の誤差
信号を位置誤差補正部１０６に出力する。位置誤差補正
部１０６では、画像データと位置誤差データである誤差
信号から位置誤差を補正した画像データを生成し、ビデ
オ信号として出力する。なお、各部（１０１〜１０６）
は制御部１０７によってそれぞれタイミングの制御、動
作条件の設定などがなされ、相互に関連して動作するよ
うになっている。

【００３９】４．測定原理 引き続き、位置誤差測定部１０５における読取誤差の測
定原理について説明する。

【００４０】まず、位置誤差を測定する処理は以下のよ
うになる。

【００４１】図７の矢印で示す主走査方向は、ラインＣ
ＣＤ２３が線順次で同時に読み取る１ラインの画素の並
びと、この並列データを直列データに変換したときの時
間軸上の順序を示している。また、矢印で示す副走査方
向は、主走査方向の１ラインを読み取る範囲を順次移動
させながら読み取る方向を示している。

【００４２】図７において主走査方向と副走査方向の各
平行な線により囲まれた４角形領域を画素とすると、こ
の画素により構成される平面は、原稿の画像を電気信号
に変換した場合に原稿画像の写像がそのまま並んでいる
という形で捉えることができる。なお、これはビットマ
ップということもある。このデータはラインＣＣＤ２３
からリアルタイムで出力される時には主走査方向、副走
査方向が時間的な順序を有するが、メモリに取り込んだ
状態ではそれぞれの画素を任意にアクセスすることがで
きるので、主走査方向、副走査方向、時間の順序にとら
われないで扱うことができる。

【００４３】図７はまた、主走査方向、副走査方向の画
素サイズが等しい場合において、副走査方向の走査速度
が変動しないときの４５°の斜線ＬＮの読み取りデータ
ａと、走査速度が変動するときの読み取りデータｂをビ
ットマップに対応させて示している。すなわち、読み取
りデータａは副走査方向の読み取りタイミングを制御す
るクロックに対応する所定の一定速度で走査したときを
示し、ビットマップとしても４５°の斜線像である。

【００４４】これに対し、読み取りデータｂは走査速度
の変動に応じて傾きが異なる。副走査方向の区間Ａ−Ｂ
は走査速度が「０」のときを示し、この場合には副走査
方向の読み取りタイミングを制御するクロックによりビ
ットマップのアドレスが進んでも読み取り位置が変わら
ないので、副走査方向に平行な線となる。また、区間Ｂ
−Ｃは走査速度が所定速度の１／２のときを示し、この
場合にはビットマップのアドレスが進んでもその半分し
か進まない位置の画像を読み取るのでその読み取り画像
の角度は約２６．５７°（tan θ＝０．５）である。区
間Ｃ−Ｄは所定速度で走査しているときを示し、４５°
の角度が得られる。Ｄ以降の区間は走査速度が所定速度
の２倍の場合を示し、その角度は約６３．４°である。

【００４５】したがって、走査速度が変動すると像の傾
きが異なることを測定原理として、言い換えれば斜線の
主走査方向への移動量が副走査方向に移動速度に対応す
ることを測定原理として、副走査方向の走査速度のむら
と、ミラー、レンズ、光電変換部（ＣＣＤ）の振動など
に起因するビットマップ画像の画素の位置誤差を測定す
ることができる。

【００４６】なお、図７では正方形の画素を示したが、
画素が正方形ではなく、例えば主走査方向の分解能が４
００ｄｐｉ、副走査方向の分解能が６００ｄｐｉのよう
な画素にも適用することができる。また、４５°以外の
斜線を用いても同様に、斜線画像の主走査方向への移動
量が副走査方向の読み取り速度に依存するという関係が
成立するので、画素の位置誤差を計測することができ
る。

【００４７】５．斜線パターン判別処理 次に、斜線判別部における斜線パターン判別処理につい
て説明する。図８は図７と同様にビットマップに斜線が
有る場合を示し、図９はその場合の８ビッ（０〜２５
５）の読み取り値を示している。なお、０＝白、２５５
＝黒であり、主走査方向の座標をＸｎ、副走査方向の座
標をＹｍとしている。また、図１０は主走査方向３画素
×副走査方向３画素の斜線パターン検知用ウィンドウを
示し、図１０（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ主走査方向に１
画素ずつシフトしたウィンドウを示している。

【００４８】ここで、図１０（ａ）に示すウィンドウ
（Ｘ２〜Ｘ４、Ｙ１〜３）内の中心画素の挟む対角方
向、すなわち中心画素を含む左上斜め方向の３つの画素
値の和Ｐａと右下斜め方向の３つの画素値の和Ｑａを計
算すると、 Ｐａ＝（Ｘ２，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ２，Ｙ２） ＝３＋１＋１＝５ Ｑａ＝（Ｘ４，Ｙ２）＋（Ｘ３，Ｙ３）＋（Ｘ４，Ｙ３） ＝３＋４＋８＝１５ となる。

【００４９】同様に、図１０（ｂ）〜（ｅ）について求
めると、 Ｐｂ＝（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ２） ＝１＋４＋２＝７ Ｑｂ＝（Ｘ５，Ｙ２）＋（Ｘ４，Ｙ３）＋（Ｘ５，Ｙ３） ＝１３＋８＋２０１＝２２２ Ｐｃ＝（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ２） ＝４＋２＋３＝９ Ｑｃ＝（Ｘ６，Ｙ２）＋（Ｘ５，Ｙ３）＋（Ｘ６，Ｙ３） ＝２１６＋２０１＋２５０＝６６７ Ｐｄ＝（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ２） ＝２＋１８＋１３＝３３ Ｑｄ＝（Ｘ７，Ｙ２）＋（Ｘ６，Ｙ３）＋（Ｘ７，Ｙ３） ＝２４８＋２５０＋２５２＝７５０ Ｐｅ＝（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ７，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ２） ＝１８＋２２０＋２１６＝４５４ Ｑｅ＝（Ｘ８，Ｙ２）＋（Ｘ７，Ｙ３）＋（Ｘ８，Ｙ３） ＝２５０＋２５２＋２４９＝７５１ となる。

【００５０】次に、中心画素と右下斜め方向の３画素
（中心画素を含む）の差Ｒを求めると、 Ｒａ＝１５−５＝１０ Ｒｂ＝２２２−７＝２１５ Ｒｃ＝６６７−９＝６５８ Ｒｄ＝７５０−３３＝７１７ Ｒｅ＝７５１−４５４＝２９７ となる。

【００５１】この差Ｒの値が大きい場合に３×３画素の
ウィンドウ内に斜線パターンが有ることを示す。したが
って、例えばＲの値が５００以上の場合に斜線パターン
が有ると判断すれば図１０（ｃ），（ｄ）に示すウィン
ドウ内に斜線パターンが有ると判断することができる。

【００５２】次に、図１１を参照して他の斜線パターン
判別処理を説明する。図１１（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ
図１０（ａ）〜（ｅ）に示すウィンドウ内の各値を閾値
＝１２８で２値化した場合を示し、同様に各ウィンドウ
内の中心画素を含む左上斜め方向の３つの画素値の和Ｐ
ａ〜Ｐｅと右下斜め方向の３つの画素値の和Ｑａ〜Ｑｅ
を計算すると、 Ｐａ＝（Ｘ２，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ２，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑａ＝（Ｘ４，Ｙ２）＋（Ｘ３，Ｙ３）＋（Ｘ４，Ｙ３） ＝０＋０＋０＝０ Ｐｂ＝（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｂ＝（Ｘ５，Ｙ２）＋（Ｘ４，Ｙ３）＋（Ｘ５，Ｙ３） ＝０＋０＋１＝１ Ｐｃ＝（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｃ＝（Ｘ６，Ｙ２）＋（Ｘ５，Ｙ３）＋（Ｘ６，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ Ｐｄ＝（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｄ＝（Ｘ７，Ｙ２）＋（Ｘ６，Ｙ３）＋（Ｘ７，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ Ｐｅ＝（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ７，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ２） ＝０＋１＋１＝２ Ｑｅ＝（Ｘ８，Ｙ２）＋（Ｘ７，Ｙ３）＋（Ｘ８，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ となる。

【００５３】次に、中心画素と右下斜め方向３画素（中
心画素を含む）の差Ｒａ〜Ｒｅを求めると、 Ｒａ＝０−０＝０ Ｒｂ＝１−０＝１ Ｒｃ＝３−０＝３ Ｒｄ＝３−０＝３ Ｒｅ＝３−２＝１ となる。

【００５４】したがって、この場合にも同様にこの差Ｒ
の値が大きい場合に３×３画素のウィンドウ内に斜線パ
ターンが有ることを示し、例えばＲａ〜Ｒｅの値が２以
上の場合に斜線パターンが有ると判断すれば図１１
（ｃ）, （ｄ）に示すウィンドウ内に斜線パターンが有
ると判断することができる。また、このように画素値を
２値化することにより、加算演算を簡単にすることがで
きる。

【００５５】図１２（ａ）〜（ｄ）は斜線パターン検出
用のマッチングパターンを示し、図中の白領域は
「０」、黒領域は「１」を表している。先ず、画像デー
タを図１０に示すように２値化し、その２値化データと
図１２（ａ）〜（ｄ）に示すマッチングパターンを比較
し、合致した場合に斜線パターンがあると判断する。こ
の例では、図１１（ｃ）と図１２（ｂ）、及び図１１
（ｄ）と図１２（ａ）が合致しており、このウィンドウ
内に斜線パターンがあると判断される。

【００５６】なお、上記実施形態では、ウィンドウの大
きさを３×３としたが、もちろんウィンドウサイズが異
なる場合にも同様な判断方法により斜線パターンを検知
することができる。但し、一般にウィンドウサイズが大
きい程、判別精度は上がるが、その分処理時間が長くな
り、また回路規模も大きくなる。

【００５７】６．位置誤差の測定処理 次に、位置誤差測定部における位置誤差の測定処理につ
いて説明する。図１３は図７に示すビットマップにおけ
る複数個の斜線（図では３本の斜線Ｋ1 〜Ｋ3）を示
し、また、この複数個の斜線を用いて位置誤差を測定す
るための１０×３のサイズのウィンドウＷを示してい
る。先ず、ウィンドウＷ内のデータ位置を求めるために
主走査方向の重心を演算し、以下、斜線Ｋ２に対するＷ
1 →Ｗ2 →Ｗ3 のようにウィンドウＷを斜め左下４５°
の方向に１画素ずつシフトする。そして、斜線Ｋ２の最
後のウィンドウＷn に到達すると、ウィンドウＷを主走
査方向のみに移動させて次の斜線Ｋ３のウィンドウＷn+
1 に移動させる。

【００５８】ここで、重心の主走査方向の位置は、４５
°の斜線の場合、画素の位置が何らかの誤差要因により
移動することがなければ、図のようにウィンドウＷをシ
フトさせると主走査方向に１画素ずつ移動する筈であ
る。また、画素の移動量が１画素分でない場合には、何
らかの原因により画素の位置が変動したことになり、し
たがって、位置誤差を求めることができる。位置誤差の
主要な要因が副走査方向の走査速度のむらによることが
分かっている場合には、位置誤差のデータから速度むら
にデータを変換することは容易である。

【００５９】ここで、ＣＣＤ固有のノイズを始めとして
様々なノイズが画像データに含まれているが、重心を求
めるために周辺の画素のデータを含む多数の画素のデー
タを用いているので、重心を求める過程でノイズの影響
を軽減してＳ／Ｎ比が高い測定が可能となる。この場
合、通常、ウィンドウの画素の数が多い程、Ｓ／Ｎ比が
高くなる。ウィンドウの形状は、主走査方向の重心を求
めるので主走査方向に大きいほうが望ましく、副走査方
向のサイズは１ラインでも測定可能である。

【００６０】７．重心の測定処理 次に、重心の測定処理は、図１４のフローチャートに示
す手順で行われる。この処理は、原稿の走査開始と同時
にスタートし、先ず、主走査方向、副走査方向の各座標
値Ｘ、Ｙがイニシャライズ（Ｘ＝０，Ｙ＝０）される
（ステップＳ１）。この座標値Ｘ、Ｙは斜線判別用の例
えば３×３のウィンドウ内のある画素位置例えば中心画
素の座標となる。次に、１本の斜線に対する測定回数を
示す変数ｉがイニシャライズ（ｉ＝０）される（ステッ
プＳ２）。

【００６１】次に位置誤差測定部１０５により斜線判別
用の３×３のウィンドウ内に斜線パターンが存在するか
否かが判断され（ステップＳ３）、無い場合にはその３
×３のウィンドウを主走査方向に１画素分シフト（Ｘ＝
Ｘ＋１）する（ステップＳ４）。なお、このシフト量は
ウィンドウの大きさ、斜線の太さに応じて決められ、１
画素以上でもよい。ステップＳ３において斜線パターン
が存在する場合には、重心測定用の例えば１０×３のウ
ィンドウＷ1 を設定し、そのウィンドウＷ1 内の重心を
求める（ステップＳ５）。このとき、ウィンドウＷ1 の
大きさ、斜線の太さに応じて、斜線と判別された画素の
位置から主走査方向に整数画素分だけシフトし、斜線の
部分がウィンドウＷ1 の中心付近になるようにウィンド
ウＷ1 を設定してもよい。

【００６２】重心の測定を終了すると、重心のズレを計
算し（ステップＳ６）、次いで主走査方向に−１画素
分、副走査方向に＋１画素分シフトしたウィンドウＷ2
を設定し、また、測定回数用のカウント値ｉを１つイン
クリメントする（ステップＳ７）。なお、この実施形態
では、ウィンドウＷを１画素ずつ移動させているが、画
素の位置誤差を起こす原因となる振動などの周波数帯域
が低い場合には、２画素以上ずつ移動させてもよく、こ
の方法により測定に要する時間を短縮することができ
る。

【００６３】次いで、予め設定された同一ラインの測定
回数ｎに対してｉ＝ｎとならない場合にはステップＳ８
からステップＳ５に戻り、他方、ｉ＝ｎとなった場合す
なわちウィンドウＷn に達した場合には次の斜線のウィ
ンドウＷn+1 に移動させる（ステップＳ８→Ｓ９）。そ
の方法としては、斜線の主走査方向の間隔に相当する画
素分より整数画素ｍだけ、ウィンドウ座標を主走査方向
にシフトした後、測定カウント値ｉをクリアし（ステッ
プＳ２）、斜線判別処理（ステップＳ３）に戻る。以下
同様に、１本の斜線に対してウィンドウＷn+1 、Ｗn+2
、Ｗn+3 〜のように移動させて位置誤差を測定する。

【００６４】このように複数の斜線を用いて位置誤差を
測定することにより、読取装置の読み取り範囲が縦長で
あっても、副走査領域の全域に渡って位置誤差を測定す
ることができる。更に、主走査方向の狭い幅だけ測定す
るので、主走査方向の中央部、手前、奥側のように分け
て測定することもできる。また、高い分解能で位置誤差
を測定する場合にも、斜線のパターンを細くする必要は
全くなく、システムのＭＴＦの制約を受けずに幅が広い
パターンを用いることができる。

【００６５】更に、幅が広いパターンを用いた場合、幅
に応じてウィンドウも大きくなるので結果として測定精
度を向上させることができる。したがって、斜線の幅は
処理速度、リアルタイム処理を行う場合にはバッファの
サイズ、回路規模の経済性などとのバランスを考慮して
設定すればよい。また、幅が広いパターンを用いてその
片側のエッジを検出することにより位置誤差を測定する
ことができる。更に、例えば副走査方向の読み取りタイ
ミングに関係なく白黒パターンを副走査方向に配列する
とモアレの発生が問題となるが、本実施形態では副走査
方向の読み取りタイミングと斜線の関係は常に同じであ
るのでモアレの発生が問題とならず、その結果、高精度
で位置誤差を測定することができる。

【００６６】８．ウィンドウデータと重心の計算 次に、ウィンドウのデータと重心の計算について詳細に
説明する。

【００６７】図１５はウィンドウデータと斜線パターン
の各画素の読み取り値の関係を示し、読み取り値は８ビ
ットであって１０進（０〜２５５）で示されている。主
走査方向の重心を求めるには、副走査方向の各列（３ラ
イン分）の和を求め、図に示すようにこれを左側からＸ
０〜Ｘ９として、それぞれ１８、５０、２０２、４２
７、５９０、５６２、３４５、１５０、３７、１４を求
める。そして、各画素の主走査方向の中心座標を左から
順に０〜９とし、主走査方向の重心位置をＲｍとする
と、重心位置Ｒｍの回りのモーメントは０になるので、 Ｘ０（Ｒｍ−０）＋Ｘ１（Ｒｍ−１）・・・＋Ｘ９（Ｒ
ｍ−９）＝０ が成り立ち、数値を代入して計算するとＲｍ＝４．３６
２が得られる。

【００６８】重心を求める理由は、補間などの前処理を
必要とせず、演算を簡素化、高速化することができるか
らである。また、画像位置を求める場合、各列毎のデー
タの和の並びから補間により所定の分解能のデータ列を
得て、そのデータからピーク値が存在する位置を求める
方法を用いることができる。

【００６９】９．チャートの重心の計算 次に、複数本の斜線から成るチャートの重心を計算する
場合について説明する。図１３に示すように複数本から
成る斜線の重心を計算する場合、同一線上の線では問題
とならないが、違う線にウィンドウが移動したときには
移動前と移動後では斜線の主走査方向の間隔が丁度、整
数画素数でない限り重心の値が異なるので、補正しなけ
ればならない。一例として図１３に示す斜線Ｋ２のウィ
ンドウＷn の重心の値Ｒn が４．６５となり、次の斜線
Ｋ３に移動した場合のウィンドウＷn+1 の重心の値Ｒn+
1 が４．３８、ウィンドウＷn+2 の重心の値Ｒn+2 が
４．４０、ウィンドウＷn+3 の重心の値Ｒn+3 が４．４
１となった場合、ウィンドウが移動したラインにおける
重心の差ΔＲを計算すると、 ΔＲ＝Ｒn −Ｒn+1 ＝４．６５−４．３８＝０．２７ となる。

【００７０】この値ΔＲを斜線Ｋ３の重心の値に加算
し、この加算結果を重心の値として位置誤差を求める。
この場合、ウィンドウＷn+2 の重心の値Ｒn+2 、ウィン
ドウＷn+3 の重心の値Ｒn+3 は、 Ｒn+2 ＝Ｒn+2 ＋ΔＲ＝４．４０＋０．２７＝４．６７ Ｒn+3 ＝Ｒn+3 ＋ΔＲ＝４．４１＋０．２７＝４．６８ となる。したがって、このように複数本の斜線からなる
チャートを使用しても、連続して高精度で位置誤差を測
定することができる。ただし、斜線Ｋ２のウィンドウＷ
n から斜線Ｋ３のウィンドウＷn+1 に移動する場合、斜
線Ｋ２、Ｋ３は主走査方向に同時に存在しなければなら
ない。

【００７１】図１６は斜線の配置関係を示し、長さＬ1
の複数の斜線が主走査方向に対して角度θで配置され、
主走査方向の斜線の始点と終点の位置が同一の場合、主
走査方向の斜線間隔をＬ2 とすると、 Ｌ2 ＜Ｌ1 ×cos θ ・・・（１） の関係が成り立つように斜線を配置すれば、斜線は主走
査方向には重なるので、ウィンドウを主走査方向に移動
して次の斜線の重心を連続して測定することができる。
ここで、斜線の長さＬ1 と斜線の始点、終点の主走査方
向の位置は式（１）の大小関係が大きいほど精度を必要
としなくなる。

【００７２】１０．位置誤差補正処理 位置誤差補正部１０６における読み取りデータの補正は
次のようにして行われる。

【００７３】すなわち、この実施形態では３次関数コン
ボリューションを利用して補正を行う。図１７に３次関
数コンボリューションを利用した補正のモデル図を、図
１８に補正の処理手順を示すフローチャートを示す。図
から分かるように速度ムラがない場合の副走査方向の画
素位置は、画素列Ｐで示すように等間隔となる。しか
し、速度ムラがある場合には、画素列Ｑで示すようにそ
の間隔はばらついて正しい位置から外れてくる。図は本
来Ｐn の位置になければならない画素が実際には画素Ｑ
n の位置にあることを示している。

【００７４】ここで、ｎライン目のある走査方向のデー
タＰn の画像データ（濃度データ）を画素列Ｑの画像デ
ータと位置データとから重み関数である３次関数コンボ
リューションを使用して作成する例について説明する。

【００７５】３次関数コンボリューションを利用する場
合、理想的なｎライン目（Ｐn ）の位置から２画素分以
内（ｒ0 ）のデータを位置誤差データから検出する（ス
テップ１７１，１７２）。この場合は、Ｑn 、Ｑn+1 、
Ｑn+2 、Ｑn+3 、Ｑn+4 のデータが対象となる。ここで
２画素分以内としているのは、ｒ0 以上のデータは補正
係数を０として取り扱うのでそれ以上のデータは必要が
ないためである。そして、各データのＰn からの距離ｒ
によって各データＱにおける補間関数ｈ（r ）を求め
る。これが補正係数となる（ステップ１７３）。ここ
で、補間関数ｈ（r）はｓｉｎｘ／ｘの区分的３次多項
式近似で中心からの距離ｒによって以下の式、すなわ
ち、 ｈ（r ）＝１−２｜ｒ｜² ＋｜ｒ｜³ ・・・（２） ただし、０≦｜ｒ｜＜１ ｈ（r ）＝４−８｜ｒ｜＋５｜ｒ｜² −｜ｒ｜³ ・・・（３） ただし、１≦｜ｒ｜＜２ ｈ（r ）＝０ ・・・（４） ただし、２≦｜ｒ｜ で表わされる。そして、この補間関数ｈ（r ）のもと
で、補正係数を対応するＱのデータに掛けて、Ｐn を求
める。また、濃度ムラを補正するために各補正係数の合
計が１になるように分母に補正係数の合計をとる。すな
わち、 Ｐn ＝｛Ｑn ・ｈ(r1)＋Ｑn+1 ・ｈ(r2)＋Ｑn+2 ・ｈ(r3) ＋Ｑn+3 ・ｈ(r4)＋Ｑn+4 ・ｈ(r5)｝／｛ｈ(r1) ＋ｈ(r2)＋ｈ(r3)＋ｈ(r4)＋ｈ(r5)｝ ・・・（５） となる（ステップ１７４）。

【００７６】この制御をｎライン目の各主走査方向のデ
ータにおいて終了したら、ｎ＋１ライン目へのラインを
シフトしていき、最終ラインまで繰り返し行う（ステッ
プ１７５）。このとき式（５）において補間係数ｈ（r
）と分母の補間係数の和の計算とその逆数の計算は、
対応する主走査方向の画像データの補正の前に１回実行
すればよい。このように制御することによって前述のよ
うにして測定した位置誤差データに基づいて、読み取っ
た画像データから正しい位置で読み取った場合の画像デ
ータを作成することができ、これによって位置誤差を補
正することが可能になる。

【００７７】このようにして補正した前後の状態を図１
９に示す。通常の読取装置はキャリッジが走査を開始し
てから一定速度になった後に画像の読み取りを開始する
が、図１９（ａ）では位置誤差を大きく見せるためにキ
ャリッジが走査を開始した直後から画像の読み取りを始
めたものを図示している。このとき、４５度の斜線も同
時に読み込んでおり、この斜線パターン部分の画像から
前述の方式で位置誤差を求め、その位置誤差データと読
み取った画像データとから位置誤差を補正した画像が図
１９（ｂ）に示すものである。このようにして補正する
ことによってたとえ位置誤差を非常に大きく読み取って
しまったとしても、原稿に忠実な画像を再現できること
がわかる。

【００７８】

【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、原稿をコンタクトガラス上に給送し、原稿上
の画像を読み取って画像を形成する画像形成装置におい
て、画像を形成する際に、画像を形成する転写媒体の外
周の非画像形成部分に、画像処理用のパターンを形成す
るので、位置誤差補正用のパターンが印刷された特別な
用紙やスケールなどを別途用意する必要がなく、簡便に
位置誤差補正用のパターンを用意することができ、しか
も、特別な用紙でなく、普通紙でよいので、安価であ
る。また、この画像処理用のパターンを画像読取装置で
読み取って補正することによって安価な画像読取装置で
も高精度の画像補正が行える。

【００７９】請求項２記載の発明によれば、パターンの
傾きが一定であり、かつ等間隔であるでの、そのパター
ンを読み取った後の画像処理が容易になる。

【００８０】請求項３記載の発明によれば、非画像形成
部分が用紙の外周から１インチの範囲内に設定されてい
るので、ユーザはあらかじめ用紙の外周に位置誤差補正
用のパターンが形成されることを予測することができ
る。

【００８１】請求項４記載の発明によれば、画像形成装
置によって転写媒体に形成された斜線パターンを光学的
に読み取って電気信号に変換し、変換されたする手段に
よ斜線パターンの画像データにウィンドウを設定して、
ウィンドウ内の画像データの重心を計算し、計算された
重心の値に応じてウィンドウを移動させ、重心を計算す
る手段によって計算された重心の値から画素の位置誤差
を測定するので、安価なシステムで画素の位置誤差の測
定が可能となり、原稿の搬送速度ムラとキャリッジの速
度ムラによる画像の伸び縮みのない原稿に忠実な画像デ
ータを得ることができる。

【００８２】請求項５記載の発明によれば、測定した画
素の位置誤差から画素位置を補正するので、補正された
画素位置に基づいて原稿の搬送速度ムラとキャリッジの
速度ムラによる画像の伸び縮みのない原稿に忠実な画像
データを得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係るＡＤＦを備えた画像
読取装置の概略構成図である。

【図２】図１における画像読取装置本体の平面図であ
る。

【図３】本発明の一実施形態に係る画像形成装置の概略
構成を示すブロック図である。

【図４】画像形成装置によって形成された斜線パターン
の一例を示す平面図である。

【図５】画像形成装置によって形成された斜線のパター
ンの他の例（格子パターン）を示す平面図である。

【図６】本発明の実施形態に係る画像読取装置に付設さ
れる位置誤差測定装置のシステム構成を示すブロック図
である。

【図７】走査速度の変動に応じた斜線パターンの読み取
りデータを示す説明図である。

【図８】斜線パターンを拡大して示す説明図である。

【図９】図８の斜線パターンの読み取り値を示す説明図
である。

【図１０】斜線判定用ウィンドウを示す説明図である。

【図１１】他の斜線判定用ウィンドウを示す説明図であ
る。

【図１２】斜線判定用マッチングパターンを示す説明図
である。

【図１３】重心測定用ウィンドウを示す説明図である。

【図１４】画像読取装置における重心の測定処理を説明
するためのフローチャートである。

【図１５】重心測定用ウィンドウにおける読み取り値及
び重心測定方法を示す説明図である。

【図１６】パターンの長さ及び角度を示す説明図であ
る。

【図１７】３次関数コンボリューションによる補正処理
を説明するための図である。

【図１８】３次関数コンボリューションによる補正処理
の処理手順を示すフローチャートである。

【図１９】３次関数コンボリューションによる補正処理
における補正前と補正後の画像の状態を示す図である。

【符号の説明】

１ コンタクトガラス ２ 筐体 ３，２０，２１ ミラー １０ 転写紙（用紙） １０ａ 画像印字エリア １０ｂ 画像処理用印字エリア ２２ レンズ ２３ 光電変換素子（ラインＣＣＤ） ４０ 搬送ローラ ４１ 搬送ベルト １００ ＡＤＦ（自動原稿給送装置） １０１ 光電変換部 １０２ Ａ／Ｄ変換部 １０３ シェーディング補正部 １０４ 斜線判別部 １０５ 位置誤差測定部 １０６ 位置誤差補正部 １０７ 制御部 ２００ スキャナ ３００ 画像形成装置 ３０１ 画像処理部 ３０２ パターン記憶部 ３０３ 画像形成部 Ｐ 原稿 ＬＮ 斜線 ＬＰ 格子

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 原稿をコンタクトガラス上に給送し、原
   稿上の画像を読み取って画像を形成する画像形成装置に
   おいて、 画像を形成する際に、画像を形成する転写媒体の外周の
   非画像形成部分に画像処理用のパターンを形成すること
   を特徴とする画像形成装置。
2. 【請求項２】 前記画像処理用のパターンが主走査方向
   または副走査方向に対して一定の傾きを有する線を等ピ
   ッチで並べて形成された複数の斜線からなることを特徴
   とする請求項１記載の画像形成装置。
3. 【請求項３】 前記非画像形成部分が転写媒体の外周か
   ら１インチの範囲内の領域に設定されていることを特徴
   とする画像形成装置。
4. 【請求項４】 請求項１ないし３のいずれか１項に記載
   の画像形成装置と、 この画像形成装置によって画像を転写する転写媒体に形
   成され、あらかじめ主走査方向または副走査方向に対し
   て一定の傾きを有する線を等ピッチで並べて構成された
   画像処理用のパターンを光学的に読み取って電気信号に
   変換する手段、この変換する手段によって電気信号に変
   換された前記斜線パターンの画像データにウィンドウを
   設定してウィンドウ内の画像データの重心を計算する手
   段、この重心を計算する手段に計算された重心の値に応
   じてウィンドウを移動させる手段、および前記重心を計
   算する手段によって計算された重心の値から画素の位置
   誤差を測定する手段を有する画像読取装置とを備え、 前記画像形成装置によって形成された画像処理用のパタ
   ーンをあらかじめ設定された一定の時間間隔で線順次に
   走査して読み取って画素の位置誤差を測定することを特
   徴とする画像読取システム。
5. 【請求項５】 前記画像読取装置が、測定された画素の
   位置誤差から画素位置を補正する手段をさらに備えてい
   ることを特徴とする請求項４記載の画像読取システム。