JPH10239281A - 継目無管の磁気探傷装置及びその方法 - Google Patents
継目無管の磁気探傷装置及びその方法Info
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- JPH10239281A JPH10239281A JP4069497A JP4069497A JPH10239281A JP H10239281 A JPH10239281 A JP H10239281A JP 4069497 A JP4069497 A JP 4069497A JP 4069497 A JP4069497 A JP 4069497A JP H10239281 A JPH10239281 A JP H10239281A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥検出信号から継目無管の周方向における
肉厚変動に起因する雑音成分を除去してＳ／Ｎ比を向上
させる。 【解決手段】 検査対象の継目無管１１が軸方向に走行
する貫通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して
所定の隙間を有して回転する回転ヘッド１２と、この回
転ヘッドの内周面に取付けられ、走行状態の継目無管に
直流磁界を発生させる磁化器１４ａ，１４ｂと、回転ヘ
ッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一周方向位置
でかつ軸方向に互いに離間した位置に取付けられ、継目
無管に存在する欠陥を検出する一対の磁気センサ１５
ａ，１５ｂと、一対の磁気センサから出力される一対の
検出信号の差信号を求め、この差信号を継目無管に対す
る欠陥検出信号とする減算回路２０とを備えている。
肉厚変動に起因する雑音成分を除去してＳ／Ｎ比を向上
させる。 【解決手段】 検査対象の継目無管１１が軸方向に走行
する貫通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して
所定の隙間を有して回転する回転ヘッド１２と、この回
転ヘッドの内周面に取付けられ、走行状態の継目無管に
直流磁界を発生させる磁化器１４ａ，１４ｂと、回転ヘ
ッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一周方向位置
でかつ軸方向に互いに離間した位置に取付けられ、継目
無管に存在する欠陥を検出する一対の磁気センサ１５
ａ，１５ｂと、一対の磁気センサから出力される一対の
検出信号の差信号を求め、この差信号を継目無管に対す
る欠陥検出信号とする減算回路２０とを備えている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、回転ヘッドに取付
けられた磁化器で走行中の継目無管を直流励磁して、同
じく回転ヘッドに取付けられた磁気センサで継目無管に
存在する欠陥を検出する継目無管の磁気探傷装置及び継
目無管の磁気探傷方法に関する。
けられた磁化器で走行中の継目無管を直流励磁して、同
じく回転ヘッドに取付けられた磁気センサで継目無管に
存在する欠陥を検出する継目無管の磁気探傷装置及び継
目無管の磁気探傷方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】圧延機で製造される周方向に継ぎ目の無
い継目無管の表面や内部に存在する欠陥を精度良くかつ
高速に探傷する技術として、従来から回転式の磁気探傷
手法が実用化されている。
い継目無管の表面や内部に存在する欠陥を精度良くかつ
高速に探傷する技術として、従来から回転式の磁気探傷
手法が実用化されている。
【０００３】この回転式の磁気探傷手法においては、図
９に示すように、図示しない搬送機構によって軸方向に
走行されている検査対象としての継目無管１の搬送路に
沿って、一定の回転速度で回転駆動される回転ヘッド２
を配設して、この回転ヘッド２の貫通孔に継目無管１を
貫通させている。そして、回転ヘッド２の貫通孔の内周
面に、継目無管１を直径方向を挟むように磁極３ａ，３
ｂを取付け、この磁極３ａ，３ｂを用いて継目無管１の
周方向に磁界を発生させ、この磁界の磁束方向に対して
９０゜ずれて同じく内周面に取付けた磁気センサ４を用
いて継目無管１の表面又は内部に存在する欠陥を漏洩磁
束法を用いて検出する。
９に示すように、図示しない搬送機構によって軸方向に
走行されている検査対象としての継目無管１の搬送路に
沿って、一定の回転速度で回転駆動される回転ヘッド２
を配設して、この回転ヘッド２の貫通孔に継目無管１を
貫通させている。そして、回転ヘッド２の貫通孔の内周
面に、継目無管１を直径方向を挟むように磁極３ａ，３
ｂを取付け、この磁極３ａ，３ｂを用いて継目無管１の
周方向に磁界を発生させ、この磁界の磁束方向に対して
９０゜ずれて同じく内周面に取付けた磁気センサ４を用
いて継目無管１の表面又は内部に存在する欠陥を漏洩磁
束法を用いて検出する。
【０００４】そして、検査対象としての継目無管１の全
面及び全長を探傷するため継目無管１を軸方向に一定速
度で矢印方向に直進すると共に、回転ヘッド２を矢印方
向に高速回転させる、このような回転式の磁気探傷手法
において継目無管１に対する磁化の方法は２つある。一
つは交流磁化である。この方式の揚合、磁束の表皮効果
により検査対象の継目無管１における外面側の欠陥検出
能は高いが、内面側は探傷できないため、別途、内面側
を探傷するための探傷装置が必要となる。
面及び全長を探傷するため継目無管１を軸方向に一定速
度で矢印方向に直進すると共に、回転ヘッド２を矢印方
向に高速回転させる、このような回転式の磁気探傷手法
において継目無管１に対する磁化の方法は２つある。一
つは交流磁化である。この方式の揚合、磁束の表皮効果
により検査対象の継目無管１における外面側の欠陥検出
能は高いが、内面側は探傷できないため、別途、内面側
を探傷するための探傷装置が必要となる。
【０００５】もうーつは直流磁化である。この方式の場
合、欠陥検出能は交流磁化方式に比ぺて劣っているが外
面から内面まで内部の欠陥の含めて探傷できる特徴を有
する。なお、回転式の磁気探傷手法でかつ直流磁化方式
を採用した漏洩磁束探傷装置の技術は特開平８−６８７
７８号公報にその一部が開示されている。
合、欠陥検出能は交流磁化方式に比ぺて劣っているが外
面から内面まで内部の欠陥の含めて探傷できる特徴を有
する。なお、回転式の磁気探傷手法でかつ直流磁化方式
を採用した漏洩磁束探傷装置の技術は特開平８−６８７
７８号公報にその一部が開示されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た直流磁化方式を採用した回転式の磁気探傷手法におい
てもまだ次のような課題があった。すなわち、外径が小
さい継目無管１の場合は、磁気センサから出力される欠
陥検出信号に高いレベルの雑音が混入して、Ｓ／Ｎ比が
低下して、欠陥検出能が低下する問題があった。
た直流磁化方式を採用した回転式の磁気探傷手法におい
てもまだ次のような課題があった。すなわち、外径が小
さい継目無管１の場合は、磁気センサから出力される欠
陥検出信号に高いレベルの雑音が混入して、Ｓ／Ｎ比が
低下して、欠陥検出能が低下する問題があった。
【０００７】発明者等はこの原因を追求した結果、この
原因は継目無管１の周方向における細かな肉厚変動に起
因するものであることを見い出した。特に検査対象が継
目無管１の場合、一般に外径が例えば６０〜７０ｍｍ以
下の小さい継目無管１は圧延機で製造されるので、圧延
の影響により継目無管１の肉厚が周方向の位置によって
微妙に変動している。
原因は継目無管１の周方向における細かな肉厚変動に起
因するものであることを見い出した。特に検査対象が継
目無管１の場合、一般に外径が例えば６０〜７０ｍｍ以
下の小さい継目無管１は圧延機で製造されるので、圧延
の影響により継目無管１の肉厚が周方向の位置によって
微妙に変動している。
【０００８】直流磁化の場合、磁束が継目無管１の肉厚
全部を貫くため、肉厚の変化も漏洩磁束の強度変化とな
る。この周方向の肉厚変動のうち、緩やかに変化する影
響は、磁気センサで検出された欠陥検出信号においては
ベースレベルの緩やかな変化となる。したがって、これ
はハイパスフィルタにより除去することが可能である。
全部を貫くため、肉厚の変化も漏洩磁束の強度変化とな
る。この周方向の肉厚変動のうち、緩やかに変化する影
響は、磁気センサで検出された欠陥検出信号においては
ベースレベルの緩やかな変化となる。したがって、これ
はハイパスフィルタにより除去することが可能である。
【０００９】一方、肉厚が細かく変化する影響は、磁気
センサで検出された欠陥検出信号においては信号レベル
の急激な変化となる。したがって、この急激な変化は欠
陥に起因する信号レベルの変化と周波数領域において区
別できないので、フィルタで除去することができずに、
雑音として残る。特に、小径サイズほど周方向の肉厚の
細かな変動が大きいため、検出された欠陥検出信号のＳ
／Ｎが大きく変動する。
センサで検出された欠陥検出信号においては信号レベル
の急激な変化となる。したがって、この急激な変化は欠
陥に起因する信号レベルの変化と周波数領域において区
別できないので、フィルタで除去することができずに、
雑音として残る。特に、小径サイズほど周方向の肉厚の
細かな変動が大きいため、検出された欠陥検出信号のＳ
／Ｎが大きく変動する。
【００１０】結果として、回転方式を採用した直流磁化
による継目無管の磁気探傷手法においては、検査対象の
継目無管における肉厚変動に起因する雑音が支配的であ
る。また、大きな雑音が現れる周方向位置は一定の周方
向範囲に集中し、かつ管の軸方向に連続的な雑音とな
る。
による継目無管の磁気探傷手法においては、検査対象の
継目無管における肉厚変動に起因する雑音が支配的であ
る。また、大きな雑音が現れる周方向位置は一定の周方
向範囲に集中し、かつ管の軸方向に連続的な雑音とな
る。
【００１１】このように、従来の継目無管の磁気探傷手
法においては、周方向の肉厚変動に起因する雑音が大き
く、欠陥検出能が低下する懸念がある。本発明はこのよ
うな事情に鑑みてなされたものであり、継目無管におけ
る同一周方向位置の各検出信号の差分をとることによっ
て、継目無管の周方向における肉厚変動に起因する雑音
成分を低減し、継目無管における欠陥の検出能を大幅に
向上できる継目無管の磁気探傷装置及び継目無管の磁気
探傷方法を提供することを目的とする。
法においては、周方向の肉厚変動に起因する雑音が大き
く、欠陥検出能が低下する懸念がある。本発明はこのよ
うな事情に鑑みてなされたものであり、継目無管におけ
る同一周方向位置の各検出信号の差分をとることによっ
て、継目無管の周方向における肉厚変動に起因する雑音
成分を低減し、継目無管における欠陥の検出能を大幅に
向上できる継目無管の磁気探傷装置及び継目無管の磁気
探傷方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に、請求項１の継目無管の磁気探傷装置においては、検
査対象の継目無管が軸方向に走行する貫通孔が形成さ
れ、この継目無管の外周面に対して所定の隙間を有して
回転する回転ヘッドと、この回転ヘッドの内周面に取付
けられ、走行状態の継目無管に直流磁界を発生させる磁
化器と、回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの
同一周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に取
付けられ、継目無管に存在する欠陥を検出する一対の磁
気センサと、この一対の磁気センサから出力される一対
の検出信号の差信号を求め、この差信号を継目無管に対
する欠陥検出信号とする減算回路とを備えている。
に、請求項１の継目無管の磁気探傷装置においては、検
査対象の継目無管が軸方向に走行する貫通孔が形成さ
れ、この継目無管の外周面に対して所定の隙間を有して
回転する回転ヘッドと、この回転ヘッドの内周面に取付
けられ、走行状態の継目無管に直流磁界を発生させる磁
化器と、回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの
同一周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に取
付けられ、継目無管に存在する欠陥を検出する一対の磁
気センサと、この一対の磁気センサから出力される一対
の検出信号の差信号を求め、この差信号を継目無管に対
する欠陥検出信号とする減算回路とを備えている。
【００１３】また、請求項２の継目無管の磁気探傷方法
においては、検査対象の継目無管が軸方向に走行する貫
通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定の
隙間を有して回転する回転ヘッドの内周面に走行状態の
継目無管に直流磁界を発生させる磁化器を取付け、か
つ、回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に、継目
無管に存在する欠陥を検出する一対の磁気センサを取付
けている。そして、この一対の磁気センサから出力され
る一対の検出信号の差信号を継目無管に対する欠陥検出
信号としている。
においては、検査対象の継目無管が軸方向に走行する貫
通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定の
隙間を有して回転する回転ヘッドの内周面に走行状態の
継目無管に直流磁界を発生させる磁化器を取付け、か
つ、回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に、継目
無管に存在する欠陥を検出する一対の磁気センサを取付
けている。そして、この一対の磁気センサから出力され
る一対の検出信号の差信号を継目無管に対する欠陥検出
信号としている。
【００１４】このように構成された請求項１，２の発明
においては、検査対象の継目無管における同一周方向位
置で、かつ異なる軸方向位置における２か所位置に存在
する欠陥の各検出信号が得られる。そして各検出信号の
差信号が得られる。
においては、検査対象の継目無管における同一周方向位
置で、かつ異なる軸方向位置における２か所位置に存在
する欠陥の各検出信号が得られる。そして各検出信号の
差信号が得られる。
【００１５】検査対象の継目無管は圧延機で製造される
ために、継目無管の肉厚は周方向に細かく変化するが、
圧延方向である軸方向にはさほど変化しない。したがっ
て、軸方向位置が異なり同一周方向位置における二つの
検出信号の差分を取ることにより、各検出信号に含まれ
る周方向における肉厚変動に起因する信号レベル変動を
相殺して抑制することができる。
ために、継目無管の肉厚は周方向に細かく変化するが、
圧延方向である軸方向にはさほど変化しない。したがっ
て、軸方向位置が異なり同一周方向位置における二つの
検出信号の差分を取ることにより、各検出信号に含まれ
る周方向における肉厚変動に起因する信号レベル変動を
相殺して抑制することができる。
【００１６】一方、欠陥は軸方向にランダムに発生する
ので、たとえ軸方向に異なった位置に設置された磁気セ
ンサの検出信号の差分をとったとしても、この欠陥に起
因する欠陥信号は相殺されない。したがって、この差の
信号を継目無管に対する新たな欠陥検出信号とすること
によって、継目無管に存在する欠陥を精度よく検出でき
る。
ので、たとえ軸方向に異なった位置に設置された磁気セ
ンサの検出信号の差分をとったとしても、この欠陥に起
因する欠陥信号は相殺されない。したがって、この差の
信号を継目無管に対する新たな欠陥検出信号とすること
によって、継目無管に存在する欠陥を精度よく検出でき
る。
【００１７】請求項３の継目無管の磁気探傷装置におい
ては、検査対象の継目無管が軸方向に走行する貫通孔が
形成され、この継目無管の外周面に対して所定の隙間を
有して回転する回転ヘッドと、この回転ヘッドの内周面
に取付けられ、走行状態の継目無管に直流磁界を発生さ
せる磁化器と、回転ヘッドの内周面に取付けられ、継目
無管に存在する欠陥を検出する磁気センサと、回転ヘッ
ドの回転位置を検出する回転位置検出手段と、磁気セン
サから出力される検出信号を回転位置検出手段の検出信
号を用いて所定回転数を経過するまで記憶保持する記憶
手段と、この記憶手段から出力された所定回転数前の検
出信号と磁気センサから出力される現在の検出信号との
差信号を求め、この差信号を継目無管に対する欠陥検出
信号とする減算回路とを備えている。
ては、検査対象の継目無管が軸方向に走行する貫通孔が
形成され、この継目無管の外周面に対して所定の隙間を
有して回転する回転ヘッドと、この回転ヘッドの内周面
に取付けられ、走行状態の継目無管に直流磁界を発生さ
せる磁化器と、回転ヘッドの内周面に取付けられ、継目
無管に存在する欠陥を検出する磁気センサと、回転ヘッ
ドの回転位置を検出する回転位置検出手段と、磁気セン
サから出力される検出信号を回転位置検出手段の検出信
号を用いて所定回転数を経過するまで記憶保持する記憶
手段と、この記憶手段から出力された所定回転数前の検
出信号と磁気センサから出力される現在の検出信号との
差信号を求め、この差信号を継目無管に対する欠陥検出
信号とする減算回路とを備えている。
【００１８】また、請求項４の継目無管の磁気探傷方法
においては、検査対象の継目無管が軸方向に走行する貫
通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定の
隙間を有して回転する回転ヘッドの内周面に走行状態の
継目無管に直流磁界を発生させる磁化器を取付け、か
つ、回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に、継目
無管に存在する欠陥を検出する磁気センサを取付けてい
る。そして、磁気センサから出力される現在の検出信号
と磁気センサから出力される所定回転数前の検出信号と
の差信号を継目無管に対する欠陥検出信号としている。
においては、検査対象の継目無管が軸方向に走行する貫
通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定の
隙間を有して回転する回転ヘッドの内周面に走行状態の
継目無管に直流磁界を発生させる磁化器を取付け、か
つ、回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に、継目
無管に存在する欠陥を検出する磁気センサを取付けてい
る。そして、磁気センサから出力される現在の検出信号
と磁気センサから出力される所定回転数前の検出信号と
の差信号を継目無管に対する欠陥検出信号としている。
【００１９】このように構成された請求項３，４の発明
においては、磁気センサから出力される現在の検出信号
と磁気センサから出力される所定回転数前の検出信号と
の差信号を継目無管に対する欠陥検出信号としている。
すなわち、同一周方向位置で軸方向位置が異なる２か所
の検出信号の差信号が得られるので、請求項１，２と同
様の作用効果が得られる。
においては、磁気センサから出力される現在の検出信号
と磁気センサから出力される所定回転数前の検出信号と
の差信号を継目無管に対する欠陥検出信号としている。
すなわち、同一周方向位置で軸方向位置が異なる２か所
の検出信号の差信号が得られるので、請求項１，２と同
様の作用効果が得られる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下本発明の各実施形態を図面を
用いて説明する。 （第１実施形態）図１は本発明の磁気探傷方法が採用さ
れた継目無管の磁気探傷装置の概略構成図である。
用いて説明する。 （第１実施形態）図１は本発明の磁気探傷方法が採用さ
れた継目無管の磁気探傷装置の概略構成図である。
【００２１】搬送ローラ１０ａ，１０ｂで矢印で示す軸
方向に一定速度Ｖ（ｍｍ／ｓ）で走行されている検査対
象としての継目無管１１の搬送路に沿って、一定の回転
速度Ｒ（ｒｐｍ）で回転駆動される円筒状の回転ヘッド
１２が配設されている。この回転ヘッド１２の貫通孔１
３に継目無管１１を貫通させいる。そして、回転ヘッド
１２の貫通孔１３の内周面に、継目無管１１を直径方向
を挟むように磁化器を構成する磁極１４ａ，１４ｂが取
付けられている。この磁極１４ａ，１４ｂは継目無管１
１の周方向に直流磁界を発生させる。
方向に一定速度Ｖ（ｍｍ／ｓ）で走行されている検査対
象としての継目無管１１の搬送路に沿って、一定の回転
速度Ｒ（ｒｐｍ）で回転駆動される円筒状の回転ヘッド
１２が配設されている。この回転ヘッド１２の貫通孔１
３に継目無管１１を貫通させいる。そして、回転ヘッド
１２の貫通孔１３の内周面に、継目無管１１を直径方向
を挟むように磁化器を構成する磁極１４ａ，１４ｂが取
付けられている。この磁極１４ａ，１４ｂは継目無管１
１の周方向に直流磁界を発生させる。
【００２２】この磁界の磁束方向に対して９０゜ずれて
同じく内周面に一対の磁気センサ１５ａ．１５ｂが取付
けられている。この磁気センサ１５ａ，１５ｂは、回転
ヘッド１２の内周面の同一周方向位置でかつ異なる軸方
向位置に取付けられている。磁気センサ１５ａ，１５ｂ
の軸方向の離間距離Ｌは、継目無管１１を矢印方向に走
行させる状態において、両方の磁気センサ１５ａ，１５
ｂが同一欠陥を同時に検出しない程度に設定されてい
る。
同じく内周面に一対の磁気センサ１５ａ．１５ｂが取付
けられている。この磁気センサ１５ａ，１５ｂは、回転
ヘッド１２の内周面の同一周方向位置でかつ異なる軸方
向位置に取付けられている。磁気センサ１５ａ，１５ｂ
の軸方向の離間距離Ｌは、継目無管１１を矢印方向に走
行させる状態において、両方の磁気センサ１５ａ，１５
ｂが同一欠陥を同時に検出しない程度に設定されてい
る。
【００２３】図２は磁気探傷装置の回路構成図である。
励磁回路１６は各磁極１４ａ，１４ｂの各コイルに直流
励磁電流を供給して磁極１４ａ，１４ｂを直流励磁す
る。各磁気センサ１５ａ，１５ｂから出力された各検出
信号ａ，ｂはそれぞれ増幅器１７ａ，１７ｂで信号増幅
された後、フィルタ１８ａ，１８ｂで通過周波数が帯域
制限される。フィルタ１８ａ，１８ｂで通過周波数が帯
域制限された後の各検出信号は例えば全波整流回路から
なる絶対値回路１９ａ，１９ｂで全波整流された後、次
の減算回路２０へ入力される。減算回路２０は絶対値回
路１９ａ，１９ｂで全波整流された各検出信号ａ1 ，ｂ
1 の差分を算出して、新たな欠陥検出信号ｄとして次の
評価部２１へ送出する。評価部２１は、入力した欠陥検
出信号ｄの信号レベルが予め設定されたしきい値を越え
ると、欠陥警告を出力する。
励磁回路１６は各磁極１４ａ，１４ｂの各コイルに直流
励磁電流を供給して磁極１４ａ，１４ｂを直流励磁す
る。各磁気センサ１５ａ，１５ｂから出力された各検出
信号ａ，ｂはそれぞれ増幅器１７ａ，１７ｂで信号増幅
された後、フィルタ１８ａ，１８ｂで通過周波数が帯域
制限される。フィルタ１８ａ，１８ｂで通過周波数が帯
域制限された後の各検出信号は例えば全波整流回路から
なる絶対値回路１９ａ，１９ｂで全波整流された後、次
の減算回路２０へ入力される。減算回路２０は絶対値回
路１９ａ，１９ｂで全波整流された各検出信号ａ1 ，ｂ
1 の差分を算出して、新たな欠陥検出信号ｄとして次の
評価部２１へ送出する。評価部２１は、入力した欠陥検
出信号ｄの信号レベルが予め設定されたしきい値を越え
ると、欠陥警告を出力する。
【００２４】本実施形態装置においては、磁気センサ１
５ａ，１５ｂの相互間距離Ｌは４ｃｍに設定している。
また、磁気センサ１５ａ，１５ｂはホール素子を用いて
いるが、他の方式の磁気センサを用いてもよい。
５ａ，１５ｂの相互間距離Ｌは４ｃｍに設定している。
また、磁気センサ１５ａ，１５ｂはホール素子を用いて
いるが、他の方式の磁気センサを用いてもよい。
【００２５】また、フィルタ１８ａ，１８ｂは、バンド
パスフィルタで構成されており、継目無管１１における
肉厚の大きな変動に起因した低周波成分と、外来電気雑
音を除去する。そして、フィルタ１８ａ，１８ｂの通過
周波数範囲は、磁気センサ１５ａ，１５ｂが欠陥部を横
切る時間、すなわち、検査対象としての継目無管１１の
外径と磁気センサ１５ａ，１５ｂが取付けられた回転ヘ
ッド１２の回転速度Ｒ（ｒｐｍ）と欠陥の大きさで決ま
り、個別の磁気センサ１５ａ，１５ｂの各検出信号ａ，
ｂにおいて最もＳ／Ｎ比が高くなるように実験的に定め
る。
パスフィルタで構成されており、継目無管１１における
肉厚の大きな変動に起因した低周波成分と、外来電気雑
音を除去する。そして、フィルタ１８ａ，１８ｂの通過
周波数範囲は、磁気センサ１５ａ，１５ｂが欠陥部を横
切る時間、すなわち、検査対象としての継目無管１１の
外径と磁気センサ１５ａ，１５ｂが取付けられた回転ヘ
ッド１２の回転速度Ｒ（ｒｐｍ）と欠陥の大きさで決ま
り、個別の磁気センサ１５ａ，１５ｂの各検出信号ａ，
ｂにおいて最もＳ／Ｎ比が高くなるように実験的に定め
る。
【００２６】本実施形態装置においては、継目無管１１
の外径φ＝６０．３ｍｍ、回転ヘッド１２の回転速度Ｒ
＝１ＯＯＯｒｐｍの各条件において、ノッチ状欠陥を最
もＳ／Ｎ比が高く検出できる範囲として、この通過周波
数帯域を２００〜６００Ｈｚに設定した。
の外径φ＝６０．３ｍｍ、回転ヘッド１２の回転速度Ｒ
＝１ＯＯＯｒｐｍの各条件において、ノッチ状欠陥を最
もＳ／Ｎ比が高く検出できる範囲として、この通過周波
数帯域を２００〜６００Ｈｚに設定した。
【００２７】なお、継目無管１１の肉厚は約６ｍｍであ
り、ノッチ状欠陥の深さは０．３ｍｍ、欠陥の長さは１
２．５ｍｍのものを用いた。減算器２０はオペアンプ等
の差動増幅器を用いて容易に実現できる。
り、ノッチ状欠陥の深さは０．３ｍｍ、欠陥の長さは１
２．５ｍｍのものを用いた。減算器２０はオペアンプ等
の差動増幅器を用いて容易に実現できる。
【００２８】なお、図２に示す増幅器から評価部２１の
各回路構成はアナログ回路のみならずデジタル回路でも
実現できる。次に、図１及び図２に示す構成の第１実施
形態装置を用いて継目無管１１の探傷を実施した結果を
説明する。
各回路構成はアナログ回路のみならずデジタル回路でも
実現できる。次に、図１及び図２に示す構成の第１実施
形態装置を用いて継目無管１１の探傷を実施した結果を
説明する。
【００２９】継目無管１１の搬送速度Ｖを１６６ｍｍ／
ｓとした。回転ヘッド１２の回転速度Ｒは１ＯＯＯｒｐ
ｍであるので、磁気センサ１５ａ，１５ｂが継目無管１
１の外周面を１回転すると、継目無管１１は軸方向に１
０ｍｍ進む。
ｓとした。回転ヘッド１２の回転速度Ｒは１ＯＯＯｒｐ
ｍであるので、磁気センサ１５ａ，１５ｂが継目無管１
１の外周面を１回転すると、継目無管１１は軸方向に１
０ｍｍ進む。
【００３０】図３（ａ）は減算回路２０に入力される前
方の磁気センサ１５ａの全波整流後の検出信号ａ1 の波
形図であり、図３（ｂ）は減算回路２０に入力される後
方の磁気センサ１５ｂの全波整流後の検出信号ｂ1 の波
形図である。図示するように、各検出信号ａ1 ，ｂ1 に
含まれる欠陥信号２２は、継目無管１１の周方向の微細
な肉厚変動に起因する雑音に埋もれてしまい、Ｓ／Ｎ比
は低い。
方の磁気センサ１５ａの全波整流後の検出信号ａ1 の波
形図であり、図３（ｂ）は減算回路２０に入力される後
方の磁気センサ１５ｂの全波整流後の検出信号ｂ1 の波
形図である。図示するように、各検出信号ａ1 ，ｂ1 に
含まれる欠陥信号２２は、継目無管１１の周方向の微細
な肉厚変動に起因する雑音に埋もれてしまい、Ｓ／Ｎ比
は低い。
【００３１】図４は減算回路２０から出力される欠陥検
出信号ｄの波形図である。図示するように、各検出信号
ａ1 ，ｂ1 に含まれていた肉厚変動に起因する雑音は互
いに相殺されて低減される。その結果、各検出信号ａ
1 ，ｂ1 に含まれる欠陥信号２２のみが大きく現れる。
よって、欠陥検出信号ｄ全体のＳ／Ｎ比が大幅に向上す
る。
出信号ｄの波形図である。図示するように、各検出信号
ａ1 ，ｂ1 に含まれていた肉厚変動に起因する雑音は互
いに相殺されて低減される。その結果、各検出信号ａ
1 ，ｂ1 に含まれる欠陥信号２２のみが大きく現れる。
よって、欠陥検出信号ｄ全体のＳ／Ｎ比が大幅に向上す
る。
【００３２】（第２実施形態）図５は本発明の第２実施
形態の継目無管の磁気探傷方法が適用された磁気探傷装
置の回路構成図である。図２に示す第１実施形態装置と
同一部分には同一符号が付してある。したがって、重複
する部分の詳細説明を省略する。
形態の継目無管の磁気探傷方法が適用された磁気探傷装
置の回路構成図である。図２に示す第１実施形態装置と
同一部分には同一符号が付してある。したがって、重複
する部分の詳細説明を省略する。
【００３３】この第２実施形態装置においては、回転ヘ
ッド１２の内周面には磁極１４ａ，１４ｂで発生された
直流磁界の磁束方向に対して９０゜ずれた位置に一つの
磁気センサ１５ｃが取付けられている。
ッド１２の内周面には磁極１４ａ，１４ｂで発生された
直流磁界の磁束方向に対して９０゜ずれた位置に一つの
磁気センサ１５ｃが取付けられている。
【００３４】磁気センサ１５ｃから出力された検出信号
ｃは増幅器１７ｃで信号増幅された後、フィルタ１８ｃ
で通過周波数が帯域制限される。フィルタ１８ｃで通過
周波数が帯域制限された後の検出信号は絶対値回路１９
ｃで全波整流された後、次の減算回路２０ｃへ入力され
る。絶対値回路１９ｃから出力された検出信号ｃ1 は減
算回路２０ｃへ入力されるとともに遅延回路２５へも入
力される。
ｃは増幅器１７ｃで信号増幅された後、フィルタ１８ｃ
で通過周波数が帯域制限される。フィルタ１８ｃで通過
周波数が帯域制限された後の検出信号は絶対値回路１９
ｃで全波整流された後、次の減算回路２０ｃへ入力され
る。絶対値回路１９ｃから出力された検出信号ｃ1 は減
算回路２０ｃへ入力されるとともに遅延回路２５へも入
力される。
【００３５】また、回転ヘッド１２の回転位置を検出す
るセンサ２３が設けられている。具体的には、例えば回
転ヘッド１２の周方向の磁気センサ１５ｃの取付位置に
相当する位置に突起を形成して、この突起を小型の磁気
センサで検出して、検出信号を出力する。なお、このセ
ンサ２３は上記小型の磁気センサの他に、磁石の通過を
用いる方法、光の遮蔽を用いる方法等が実用化されてい
る。センサ２３から出力された検出信号は回転パルス発
生部２４へ入力される。回転パルス発生部２４は検出信
号の入力に同期してパルス信号ｐを遅延回路２４へ送出
する。
るセンサ２３が設けられている。具体的には、例えば回
転ヘッド１２の周方向の磁気センサ１５ｃの取付位置に
相当する位置に突起を形成して、この突起を小型の磁気
センサで検出して、検出信号を出力する。なお、このセ
ンサ２３は上記小型の磁気センサの他に、磁石の通過を
用いる方法、光の遮蔽を用いる方法等が実用化されてい
る。センサ２３から出力された検出信号は回転パルス発
生部２４へ入力される。回転パルス発生部２４は検出信
号の入力に同期してパルス信号ｐを遅延回路２４へ送出
する。
【００３６】遅延回路２４は図６に示すように構成され
ている。磁気センサ１５ｃの全波整検出信号ｃ1 はＡ／
Ｄ変換器２５ａでデジタルの検出信号に変換されて、複
数の領域を有する記憶部２５ｂへ印加される。回転パル
ス発生部２４から入力されたパルス信号ｐはカウンタ２
５ｃへ入力される。カウンタ２５ｃはパルス信号ｐのパ
ルス数を計数して、計数値が予め定められた回転ヘッド
１２の所定回転数ＮS に対応する上限数値に達すると、
アドレス指定部２５ｄへカウントアップ信号ｐ1 へ送出
する。
ている。磁気センサ１５ｃの全波整検出信号ｃ1 はＡ／
Ｄ変換器２５ａでデジタルの検出信号に変換されて、複
数の領域を有する記憶部２５ｂへ印加される。回転パル
ス発生部２４から入力されたパルス信号ｐはカウンタ２
５ｃへ入力される。カウンタ２５ｃはパルス信号ｐのパ
ルス数を計数して、計数値が予め定められた回転ヘッド
１２の所定回転数ＮS に対応する上限数値に達すると、
アドレス指定部２５ｄへカウントアップ信号ｐ1 へ送出
する。
【００３７】アドレス指定部２５ｄは、カウントアップ
信号ｐ1 が入力されると、図７のタイムチャートに示す
ように、書込アドレスＡＤ1 を記憶部２５ｂの先頭の領
域のアドレスから順番に指定していく。したがって、デ
ジタルの検出信号の各データは記憶部２５ｂの各領域に
順番に書込まれていく。そして、新たなカウントアップ
信号ｐ1 が入力されると、再度書込アドレスＡＤ1 を記
憶部２５ｂの先頭の領域のアドレスから順番に指定して
いくが、図７のタイムチャートに示すように、新たなデ
ータを記憶する直前に、該当領域を読出アドレスＡＤ2
て指定して、該当領域に記憶しているデータを読出し
て、順次Ｄ／Ａ変換器２５ｅでアナログ値に変換して、
アナログの検出信号ｃ2 として出力する。
信号ｐ1 が入力されると、図７のタイムチャートに示す
ように、書込アドレスＡＤ1 を記憶部２５ｂの先頭の領
域のアドレスから順番に指定していく。したがって、デ
ジタルの検出信号の各データは記憶部２５ｂの各領域に
順番に書込まれていく。そして、新たなカウントアップ
信号ｐ1 が入力されると、再度書込アドレスＡＤ1 を記
憶部２５ｂの先頭の領域のアドレスから順番に指定して
いくが、図７のタイムチャートに示すように、新たなデ
ータを記憶する直前に、該当領域を読出アドレスＡＤ2
て指定して、該当領域に記憶しているデータを読出し
て、順次Ｄ／Ａ変換器２５ｅでアナログ値に変換して、
アナログの検出信号ｃ2 として出力する。
【００３８】この動作を繰返すことにより、カウンタ２
５ｃに設定されている上限数値を適宜設定することによ
って、回転ヘッド１２の任意の回転数前の検出信号ｃ2
を得ることができる。
５ｃに設定されている上限数値を適宜設定することによ
って、回転ヘッド１２の任意の回転数前の検出信号ｃ2
を得ることができる。
【００３９】遅延回路２５から出力された回転ヘッド１
２の所定回転数ＮS 前の磁気センサ１５ｃの検出信号ｃ
2 は次の減算回路２０ｃへ入力される。減算回路２０ｃ
は絶対値回路１８ｃから出力された現在時点の検出信号
ｃ1 と遅延回路２５から出力された所定回転数ＮS 前の
検出信号ｃ2 との差分を算出して、新たな欠陥検出信号
ｄ1 として次の評価部２１ｃへ送出する。評価部２１ｃ
は、入力した欠陥検出信号ｄ1 の信号レベルが予め設定
されたしきい値を越えると、欠陥警告を出力する。
２の所定回転数ＮS 前の磁気センサ１５ｃの検出信号ｃ
2 は次の減算回路２０ｃへ入力される。減算回路２０ｃ
は絶対値回路１８ｃから出力された現在時点の検出信号
ｃ1 と遅延回路２５から出力された所定回転数ＮS 前の
検出信号ｃ2 との差分を算出して、新たな欠陥検出信号
ｄ1 として次の評価部２１ｃへ送出する。評価部２１ｃ
は、入力した欠陥検出信号ｄ1 の信号レベルが予め設定
されたしきい値を越えると、欠陥警告を出力する。
【００４０】このように構成された第２の実施形態の磁
気探傷装置においては、回転ヘッド１２の内周面に取付
けられ１個の磁気センサ１５ｃから出力される現在の検
出信号ｃ1 と同一磁気センサ１５ｃから出力される所定
回転数ＮS 前の検出信号ｃ2との差信号を継目無管１１
に対する欠陥検出信号ｄ1 としている。すなわち、継目
無管１１における同一周方向位置で軸方向位置が異なる
２か所の検出信号の差信号が得られるので、図２に示す
第１実施形態の磁気探傷装置の場合と同様に、各検出信
号ｃ1 ，ｃ2 に含まれる継目無管１１の径方向の微細な
肉厚変動に起因する雑音成分は互いに相殺されて、欠陥
検出信号ｄ1 において、欠陥信号２２と雑音との比を示
すＳ／Ｎ比を大幅に向上できる。
気探傷装置においては、回転ヘッド１２の内周面に取付
けられ１個の磁気センサ１５ｃから出力される現在の検
出信号ｃ1 と同一磁気センサ１５ｃから出力される所定
回転数ＮS 前の検出信号ｃ2との差信号を継目無管１１
に対する欠陥検出信号ｄ1 としている。すなわち、継目
無管１１における同一周方向位置で軸方向位置が異なる
２か所の検出信号の差信号が得られるので、図２に示す
第１実施形態の磁気探傷装置の場合と同様に、各検出信
号ｃ1 ，ｃ2 に含まれる継目無管１１の径方向の微細な
肉厚変動に起因する雑音成分は互いに相殺されて、欠陥
検出信号ｄ1 において、欠陥信号２２と雑音との比を示
すＳ／Ｎ比を大幅に向上できる。
【００４１】その結果、継目無管１１の表面又は内部に
存在する欠陥の検出精度が大幅に向上する。次に、図５
に示す第２実施形態装置を用いて継目無管１１の探傷を
実施した結果を説明する。
存在する欠陥の検出精度が大幅に向上する。次に、図５
に示す第２実施形態装置を用いて継目無管１１の探傷を
実施した結果を説明する。
【００４２】探傷に採用した継目無管１１の搬送速度
Ｖ、磁気センサ１５ｃが取付けられた回転ヘッド１２の
回転数Ｒは第１実施形態装置の場合と同様である。すな
わち磁気センサ１５ｃが継目無管１１の外周面を１回転
すると継目無管１１は１０ｍｍ進む。また、遅延回路２
５においては、検出信号ｃ1 を３回転分（ＮS ＝３）遅
延させている。
Ｖ、磁気センサ１５ｃが取付けられた回転ヘッド１２の
回転数Ｒは第１実施形態装置の場合と同様である。すな
わち磁気センサ１５ｃが継目無管１１の外周面を１回転
すると継目無管１１は１０ｍｍ進む。また、遅延回路２
５においては、検出信号ｃ1 を３回転分（ＮS ＝３）遅
延させている。
【００４３】図８は第２実施形態装置を用いて継目無管
１１の探傷を実施した測定結果を示す図である。すなわ
ち、図８（ａ）は現在時点における検出信号ｃ1 の波形
図であり、図８（ｂ）は減算回路２０ｃから出力された
欠陥検出信号ｄ1 の波形図である。
１１の探傷を実施した測定結果を示す図である。すなわ
ち、図８（ａ）は現在時点における検出信号ｃ1 の波形
図であり、図８（ｂ）は減算回路２０ｃから出力された
欠陥検出信号ｄ1 の波形図である。
【００４４】図示するように、検出信号ｃ1 に含まれて
いた肉厚変動に起因する雑音は３回転分前の検出信号ｃ
2 とで互いに相殺されて低減される。その結果、欠陥検
出信号ｄ1 全体のＳ／Ｎ比が大幅に向上する。
いた肉厚変動に起因する雑音は３回転分前の検出信号ｃ
2 とで互いに相殺されて低減される。その結果、欠陥検
出信号ｄ1 全体のＳ／Ｎ比が大幅に向上する。
【００４５】なお、上述した第１，第２の実施形態装置
において、各検出信号の差分を演算する２つの検出信号
間の距離は以下のようにして決定される。欠陥が検出さ
れるための条件は、２つの検出信号のどちらか一方に明
瞭に欠陥信号２２が現れる場合である。すなわち、２つ
の検出信号間に欠陥の始点または終点が挟まれればよ
い。このためには、２つの検出信号問の距離は大きい方
がよい。
において、各検出信号の差分を演算する２つの検出信号
間の距離は以下のようにして決定される。欠陥が検出さ
れるための条件は、２つの検出信号のどちらか一方に明
瞭に欠陥信号２２が現れる場合である。すなわち、２つ
の検出信号間に欠陥の始点または終点が挟まれればよ
い。このためには、２つの検出信号問の距離は大きい方
がよい。
【００４６】一方、継目無管１１の周方向の肉厚変動に
起因する雑音は、継目無管１１の管軸方向に離れれば離
れるほどその連続性はなくなっていく。そのため、差分
を取ることによる雑音の低減効果を得るためには、２つ
の検出信号間の距離は小さい方がよい。したがって、検
出したい欠陥の大きさと、肉厚変動に起因する雑音の管
軸方向の連続性から、２つの検出信号間の最適な距離が
適宜決められる。
起因する雑音は、継目無管１１の管軸方向に離れれば離
れるほどその連続性はなくなっていく。そのため、差分
を取ることによる雑音の低減効果を得るためには、２つ
の検出信号間の距離は小さい方がよい。したがって、検
出したい欠陥の大きさと、肉厚変動に起因する雑音の管
軸方向の連続性から、２つの検出信号間の最適な距離が
適宜決められる。
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように本発明の継目無管の
磁気探傷装置及びその方法においては、検査対象の継目
無管における同一周方向位置における複数の検出信号相
互間の差分をとることによって、継目無管の周方向にお
ける肉厚変動に起因する雑音成分を両検出信号相互間で
互いに相殺でき、継目無管における欠陥の検出能を大幅
に向上できる。さらに、高い欠陥検出能を有した状態
で、継目無管の外面から内面までをーつの探傷装置で探
傷でき、欠陥検査システム全体の製造費を節減できる。
磁気探傷装置及びその方法においては、検査対象の継目
無管における同一周方向位置における複数の検出信号相
互間の差分をとることによって、継目無管の周方向にお
ける肉厚変動に起因する雑音成分を両検出信号相互間で
互いに相殺でき、継目無管における欠陥の検出能を大幅
に向上できる。さらに、高い欠陥検出能を有した状態
で、継目無管の外面から内面までをーつの探傷装置で探
傷でき、欠陥検査システム全体の製造費を節減できる。
【図１】 本発明の第１実施形態に係る継目無管の磁気
探傷装置の概略構成図
探傷装置の概略構成図
【図２】 同第１実施形態装置の回路構成図
【図３】 同第１実施形態装置における各検出信号を示
す波形図
す波形図
【図４】 同第１実施形態装置における最終の欠陥検出
信号を示す波形図
信号を示す波形図
【図５】 本発明の第２実施形態に係る継目無管の磁気
探傷装置を示す回路構成図
探傷装置を示す回路構成図
【図６】 同第２実施形態装置における遅延回路を示す
ブロック図
ブロック図
【図７】 同第２実施形態装置における遅延回路の動作
を示すタイムチャート
を示すタイムチャート
【図８】 同第２実施形態装置における検出信号及び最
終の欠陥検出信号を示す波形図
終の欠陥検出信号を示す波形図
【図９】 従来の磁気探傷装置の概略構成図
１１…継目無管 １２…回転ヘッド １４ａ，１４ｂ…磁極 １５ａ，１５ｂ，１５ｃ…磁気センサ １６…励磁回路 １７ａ，１７ｂ，１７ｃ…増幅器 １８ａ，１８ｂ，１８ｃ…フィルタ １９ａ，１９ｂ，１９ｃ…絶対値回路 ２０，２０ｃ…減算回路 ２１，２１ｃ…評価部 ２４…回転パルス発生部 ２５ａ…遅延回路
Claims (4)
- 【請求項１】 検査対象の継目無管が軸方向に走行する
貫通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定
の隙間を有して回転する回転ヘッドと、 この回転ヘッドの内周面に取付けられ、前記走行状態の
継目無管に直流磁界を発生させる磁化器と、 前記回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に取付け
られ、前記継目無管に存在する欠陥を検出する一対の磁
気センサと、 この一対の磁気センサから出力される一対の検出信号の
差信号を求め、この差信号を前記継目無管に対する欠陥
検出信号とする減算回路とを備えた継目無管の磁気探傷
装置。 - 【請求項２】 検査対象の継目無管が軸方向に走行する
貫通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定
の隙間を有して回転する回転ヘッドの内周面に前記走行
状態の継目無管に直流磁界を発生させる磁化器を取付
け、 前記回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に、前記
継目無管に存在する欠陥を検出する一対の磁気センサを
取付け、 この一対の磁気センサから出力される一対の検出信号の
差信号を前記継目無管に対する欠陥検出信号とすること
を特徴とする継目無管の磁気探傷方法。 - 【請求項３】 検査対象の継目無管が軸方向に走行する
貫通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定
の隙間を有して回転する回転ヘッドと、 この回転ヘッドの内周面に取付けられ、前記走行状態の
継目無管に直流磁界を発生させる磁化器と、 前記回転ヘッドの内周面に取付けられ、前記継目無管に
存在する欠陥を検出する磁気センサと、 前記回転ヘッドの回転位置を検出する回転位置検出手段
と、 前記磁気センサから出力される検出信号を、前記回転位
置検出手段の検出信号を用いて所定回転数を経過するま
で記憶保持する記憶手段と、 この記憶手段から出力された所定回転数前の検出信号と
前記磁気センサから出力される現在の検出信号との差信
号を求め、この差信号を前記継目無管に対する欠陥検出
信号とする減算回路とを備えた継目無管の磁気探傷装
置。 - 【請求項４】 検査対象の継目無管が軸方向に走行する
貫通孔が形成され、この継目無管の外周面に対して所定
の隙間を有して回転する回転ヘッドの内周面に前記走行
状態の継目無管に直流磁界を発生させる磁化器を取付
け、 前記回転ヘッドの内周面におけるこの回転ヘッドの同一
周方向位置でかつ軸方向に互いに離間した位置に、前記
継目無管に存在する欠陥を検出する磁気センサを取付
け、 この磁気センサから出力される現在の検出信号と前記磁
気センサから出力される所定回転数前の検出信号との差
信号を前記継目無管に対する欠陥検出信号とすることを
特徴とする継目無管の磁気探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04069497A JP3309755B2 (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 継目無管の磁気探傷装置及びその方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04069497A JP3309755B2 (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 継目無管の磁気探傷装置及びその方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10239281A true JPH10239281A (ja) | 1998-09-11 |
| JP3309755B2 JP3309755B2 (ja) | 2002-07-29 |
Family
ID=12587673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04069497A Expired - Fee Related JP3309755B2 (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 継目無管の磁気探傷装置及びその方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3309755B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101068148B1 (ko) | 2010-04-02 | 2011-09-27 | 전남대학교산학협력단 | 피검체의 원주방향 결함위치를 검출할 수 있는 자기 변형 센서 |
| JP2015179028A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 大阪瓦斯株式会社 | 欠陥深さ推定方法、及び欠陥深さ推定装置 |
| RU198713U1 (ru) * | 2020-01-09 | 2020-07-23 | Акционерное общество "Виматек" (АО "Виматек") | Устройство для неразрушающего контроля труб |
| CN115946097A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-04-11 | 武汉科技大学 | 一种金属管道质量管外检测机器人 |
-
1997
- 1997-02-25 JP JP04069497A patent/JP3309755B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101068148B1 (ko) | 2010-04-02 | 2011-09-27 | 전남대학교산학협력단 | 피검체의 원주방향 결함위치를 검출할 수 있는 자기 변형 센서 |
| JP2015179028A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 大阪瓦斯株式会社 | 欠陥深さ推定方法、及び欠陥深さ推定装置 |
| RU198713U1 (ru) * | 2020-01-09 | 2020-07-23 | Акционерное общество "Виматек" (АО "Виматек") | Устройство для неразрушающего контроля труб |
| CN115946097A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-04-11 | 武汉科技大学 | 一种金属管道质量管外检测机器人 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3309755B2 (ja) | 2002-07-29 |
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