JPH10233670A - 座標入力装置 - Google Patents

座標入力装置

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JPH10233670A
JPH10233670A JP5226097A JP5226097A JPH10233670A JP H10233670 A JPH10233670 A JP H10233670A JP 5226097 A JP5226097 A JP 5226097A JP 5226097 A JP5226097 A JP 5226097A JP H10233670 A JPH10233670 A JP H10233670A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】製品の無調整化が可能で、指でタッチさせた場
合でもそのタッチ電極位置を正確に検出することができ
る座標入力装置を提供することにある。 【解決手段】所定の方向に配列された多数の電極をスキ
ャンして電極対応に得られる検出信号によりタッチされ
た電極位置を検出する座標入力装置において、検出信号
の所定の方向に沿っての変化が所定の基準レベルに対し
て上下に振れるピークを持つものであって、タッチされ
ていないときの所定の基準レベルを電極対応に検出信号
に基づき検出して記憶する基準レベル採取手段と、タッ
チされているときに電極対応の検出信号から基準レベル
採取手段により記憶された電極対応の基準レベルを電極
対応に減算した補正値を電極対応に算出して記憶する補
正値算出手段と、電極対応に算出された補正値を電極を
更新するごとに積算し、積算値を更新した電極に対応し
て記憶する積算処理手段と、この積算処理手段の積算値
の最大値に対応する電極をタッチされた電極位置として
検出するタッチ位置検出手段とを備えるものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、座標入力装置に
関し、詳しくは、格子状に配列された一対の電極を1対
のコンデンサとしてスキャンすることで、指でタッチし
た電極近傍の検出信号として所定の基準レベルに対して
上下に振れる2つのピークを持つタッチ検出信号を発生
させ、指のタッチ幅に対して正確にタッチ位置を検出す
ることができ、かつ、無調整で製品化が可能な格子状微
小ピッチ電極配列の座標入力装置に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータシステムで使用されるマウ
ス、トラックボール、クイックポインタに代わるポイン
ティングデバイスとして座標入力装置がある。この座標
入力装置は、X,Y電極が多数格子状に配列された静電
センサ部分を持ち、各一対の電極の容量差の検出により
タッチされた位置の検出を行う。タッチされた位置を検
出するために、通常、隣接する一対の電極を組として、
X電極あるいはY電極のスキャンを行う。そして、一対
の電極により形成される2つのコンデンサの容量の差を
それぞれの電荷電流の差として電荷電流検出回路で検出
することで、検出信号を得ている。
【0003】座標入力装置の静電センサ部分に配置され
るX,Y電極の幅を指のタッチ幅より細いストライブ電
極とすれば、タッチされている電極は、X,Y電極間の
電気力線が指により遮られることでその容量が低下す
る。そのために、タッチされている電極の前後での1対
の電極間の容量の差が変化する。この容量差は、タッチ
位置の手前側では+側で増加していき、やがて減少し
て、指のタッチ位置(タッチした指の中央部分)でやが
てゼロになり、タッチ位置から後になると−側で増加し
ていき、やがて減少して再びゼロになるような特性を持
つ検出信号になる。言い換えれば、電荷電流検出回路に
より得られる検出信号は、スキャン方向に沿っての変化
が所定の基準レベルに対して上下に振れる2つのピーク
を持つものになる(図5(a)参照)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような検出信号に
おいて、タッチされた電極位置を検出するのは、理論的
には、前後のピークの間のゼロクロス点を検出すればよ
い。しかし、静電センサ部に多数のX,Y電極が配列さ
れていることと、印加電圧に多少の変動があること、さ
らに静電センサ部分の電極間の容量が数ピコから十数ピ
コオーダであって、非常に小さい容量であることなどに
より、波形も変形し易く、S/N比が十分に採れず、し
かも、電荷電流を検出する関係で検出信号の基準レベル
が変動を受け易い。また、検出する電極間のピッチは、
数百μmオーダと微小であるために、指のタッチ幅との
関係で正確なタッチ電極位置を割出して検出することは
難しい。
【0005】そのために、この種の座標入力装置では、
基準レベルや回路の調整が必要になる。しかも、この種
の座標入力装置では、製品ごとにばらつきが発生し易
く、そのレベル調整も必要になる。このようなことから
製造工数が増加する問題がある。この発明の目的は、こ
のような従来技術の問題点を解決するものであって、製
品の無調整化が可能で、指でタッチさせた場合でもその
タッチ電極位置を正確に検出することができる座標入力
装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明の座標入力装置の特徴は、所定の方向
に配列された多数の電極をスキャンして電極対応に得ら
れる検出信号によりタッチされた電極位置を検出する座
標入力装置において、検出信号の所定の方向に沿っての
変化が所定の基準レベルに対して上下に振れる2つのピ
ークを持つものであって、タッチされていないときの所
定の基準レベルを電極対応に検出信号に基づき検出して
記憶する基準レベル採取手段と、タッチされているとき
に電極対応の検出信号から基準レベル採取手段により記
憶された電極対応の基準レベルを電極対応に減算した補
正値を電極対応に算出して記憶する補正値算出手段と、
電極対応に算出された補正値を電極を更新するごとに積
算し、積算値を更新した電極に対応して記憶する積算処
理手段と、この積算処理手段の積算値の最大値に対応す
る電極をタッチされた電極位置として検出するタッチ位
置検出手段とを備えるものである。
【0007】
【発明の実施の形態】このように、検出信号のスキャン
方向(所定の電極配列方向)に沿っての変化が所定の基
準レベルに対して上下に振れる2つのピークを持つ信号
に対して、タッチされていないときに検出信号の基準レ
ベルを電極対応に採取しておき、タッチされたときの検
出信号から基準レベルを減算することで、グランドレベ
ルに対して正負に振れるピークを持つ信号に変換する。
さらに、前記の積算処理手段で電極を更新しながら順次
積算していくことにより、ゼロクロス位置が積算値のピ
ークとなるデータを得る。これにより、電極幅より大き
な指幅でタッチしたとしても、この最大積算値の位置か
らタッチ位置を割出して検出することができる。このよ
うにすることで、製品ごとにダイナミックに基準レベル
の補正ができ、また、その静電センサ部の状態や電荷電
流検出回路の状態も含めて検出信号そのもののレベル補
正をその検出回路の検出信号に対して行うことができ
る。しかも、積算処理によりピーク値を検出することに
なるので、タッチ位置の検出精度を上げることができ、
かつ、タッチ位置の検出が容易であって、各製品におけ
る調整は不要になる。
【0008】
【実施例】図1は、この発明の一実施例の座標入力装置
のブロック図、図2は、静電型センサ部の構造の説明
図、図3は、その一対の電極についての検出状態の説明
図、図4は、検出動作のタイミングチャート、図5は、
その検出信号の説明図、図6は、検出信号についてのデ
ータ採取処理のフローチャート、そして、図7は、タッ
チ位置検出処理のフローチャートである。図1におい
て、10は、検出部であり、11は、その静電センサ
部、12はマルチプレクサ、13は、パルス駆動回路で
あって、X側ドライブ回路13aとY側ドライブ回路1
3bとからなる。14は接続切換回路、15は差電流発
生回路、16はスイッチ回路、17は積分回路、そして
18はコントロール回路である。なお、積分回路17
は、積分用のコンデンサCSとこれに並列に接続されて
このコンデンサに充電された電荷をリセットするための
スイッチ回路SWとからなる。
【0009】20は、検出信号判定部であって、アンプ
21と、サンプルホールド回路(S/H)22、A/D
変換回路(A/D)23、そして、データ処理装置24
とからなる。静電センサ部11は、平板状のものであっ
て、図2に示すように、X方向に所定の間隔で多数配列
されたストライプ電極X1,X2,…,XnとY方向に所
定の間隔で多数配列されたストライプ電極Y1,Y2,…
Ymとを有し、これら電極が誘電体樹脂のスペーサ(図
示せず)を介して所定間隔で積層されている。
【0010】各ストライプ電極X1,X2,…,Xnとス
トライプ電極Y1,Y2,…Ymとは、いずれか一方の隣
接する電極2本が順次一対のものとして選択されパルス
駆動回路13によりパルス駆動される。このとき、他方
の電極は、一定レベルの電圧が与えられている。ここで
選択される2本の電極は、選択されたときに、他方の電
極との関係において図3に示す2つのコンデンサCaと
Cbとに対応する。そして、一方のコンデンサの容量に
対して他方のコンデンサの容量の差が差電流発生回路1
5により電流値として出力される。
【0011】さて、図3において、マルチプレクサ12
は、ここでは、まず、図2における上側にあるY方向の
隣接電極2本を1本づつずらせて選択し、すべての2本
の電極が終了した時点でX方向の隣接電極2本を1本づ
つずらせて選択する。これは、電極Y1,Y2、電極Y
2,Y3、,…電極Yi-1,Yi,…電極Ym,Y1というよ
うに、Y方向の隣接する2本の電極である。ただし最後
の電極Ymについては最初の電極Y1の2本の電極にな
る。そして、次は、電極X1,X2、電極X2,X3、,…
電極Xi-1,Xi,…電極Xn,X1というように、X方向
の隣接する2本の電極である。ただし最後の電極Xnに
ついても最初の電極X1の2本の電極になる。これらが
マルチプレクサ12により順次選択されかつパルス駆動
回路13から駆動パルスが加えられる。なお、Y側の電
極が選択されているときには、Y側ドライブ回路13b
が駆動パルスを順次一対電極に加えてスキャンしてい
き、X側ドライブ回路13aは固定電圧を各電極に加え
る。また、X側の電極が選択されているときには、X側
ドライブ回路13aが駆動パルスを順次一対の電極に加
えてスキャンしていき、Y側ドライブ回路13bは固定
電圧を各電極に加える。いずれが駆動側となり、いずれ
が固定電圧を発生するかは、データ処理装置24からの
選択信号S3,S4により決定される。
【0012】そこで、最初は、選択信号S3,S4によ
り、電極Y1,Y2,…Ymがドライブ側にされて、例え
ば、HIGHレベル,Vcc等の電圧のパルスでドライブ
される。このとき、X側の電極X1,X2,…XnがLO
Wレベル,Vcc/2等の一定電圧に固定される。また、
X側の電極がドライブ側に選択されて、例えば、HIG
Hレベル,Vcc等の電圧のパルスでドライブされている
ときには、逆にY側の電極がLOWレベル,Vcc/2等
の一定電圧に固定される。また、マルチプレクサ12の
電極の選択とパルス駆動回路13の駆動パルスの発生
は、コントロール回路18からの制御信号に応じて行わ
れる。マルチプレクサ12により順次選択される1対の
隣接する2つの電極を中心に示した回路が図3である。
そして、コントロール回路18により制御されてマルチ
プレクサ12により選択された隣接する一対の2つのコ
ンデンサCa,Cbは、選択された一対のY電極とX電
極あるいは一対のX電極とY電極とにより形成されるコ
ンデンサである。図4は、その検出動作のタイミングチ
ャートである。
【0013】マルチプレクサ12により選択された隣接
するY方向の2つの電極に駆動パルスPが入力される
と、共通に接続されたコンデンサCa,Cbの一端N
(最初はX側の電極)に駆動パルスP(図4(a)参
照)が加えられる。選択されたコンデンサCa,Cbの
他端Na,Nb(最初はY側の電極)は、マルチプレク
サ12,接続切換回路14を介して差電流発生回路15
に入力される。差電流発生回路15は、Gmアンプ(ト
ランス・コンダクタンス・アンプ)で構成され、その+
位相端子と−位相端子とにコンデンサCa,Cbの他端
Na,Nbに発生する電圧信号を受ける。そして、その
出力には、これら入力信号の電位差に応じた電流が差電
流値として出力される。
【0014】スイッチ回路16は、一定期間の間ONに
されるスイッチであって、コントロール回路18から制
御信号を受ける。このスイッチ回路16がONになって
いる間、差電流発生回路15の出力は、積分回路17の
コンデンサCSに送出され、その出力電流により充電さ
れる。なお、この出力電流は、2つのコンデンサの容量
差により発生する電荷電流の差に対応した電流値になっ
ている。ここで、接続切換回路14は、コントロール回
路18からの制御信号S1(図4(b)参照)を受け
て、その立上がりで実線で示す接続を行い、立下がりで
点線で示す接続を行う。実線で示す接続では、第1の入
力I1と第1の出力O1とを接続するとともに第2の入力
I2と第2の出力O2とをそれぞれ接続する。また、点線
で示す接続では、逆に第1の入力I1と第2の出力O2と
を接続し、第2の入力I2と第1の出力O1とを接続す
る。
【0015】駆動パルスPと制御信号S1との関係は、
それぞれのパルス幅は同じであって、制御信号S1の位
相が駆動パルスPよりも進んでいる。そこで、駆動パル
スPの立上がる手前で制御信号S1が立上がり、駆動パ
ルスPの立下がる手前で制御信号S1が立下がる。その
結果、駆動パルスPが立上がったときには、接続切換回
路14は実線状態で接続され、駆動パルスPが立下がっ
たときには、接続切換回路14は点線状態で接続され
る。なお、駆動パルスPのパルス幅は、コンデンサC
a,Cbの充電が完了する期間よりも長い期間tに設定
され、その周期Tは、さらにこれの2倍以上(2t<
T)になっている。
【0016】このとき、コンデンサCa,Cbの他端N
a,Nbには、駆動パルスPの立上がり、立下がりに対
応して図4(c)に示すような電圧信号が過渡現象とし
て発生する。この過渡現象により発生する電圧信号が差
電流発生回路15の+位相端子と−位相端子にそれぞれ
加えられる。このとき端子間に加わる差電圧として波形
は、接続切換回路14により駆動パルスPが立上がりと
立下がりとで同じ極性(同じ位相)の波形になる。そこ
で、差電流発生回路15の出力には、図4(d)に示す
電流信号が出力される。その結果、積分回路17のコン
デンサCSには、駆動パルスPの立上がりと立下がりと
で発生する電流により1駆動パルスにつき、2回充電さ
れ、その電荷が蓄積される。
【0017】図1におけるスイッチ回路16は、ここで
は、コントロール回路18により駆動パルスPの16個
分の期間の間ONになる。したがって、積分回路17の
コンデンサCSには、ほぼ32回分のパルス電流が加え
られ、これにより充電が行われる。この充電によるコン
デンサCSの端子電圧値が検出信号判定部20のアンプ
21により増幅されて、サンプルホールド回路(S/
H)22に加えられる。ここで、コントロール回路18
からのサンプリング信号SPによりサンプリングされ、
そのサンプリング値が(A/D)23に入力されて、デ
ジタル値に変換され、それがA/D23からデータ処理
装置24に入力される。なお、スイッチ回路16のON
期間に対応する前記の駆動パルスの数は、さらに多くて
もよく、例えば、30個程度の範囲のうちから適切な個
数に対応する期間とすることができる。
【0018】ところで、コンデンサCSの端子(アンプ
21の(+)入力)は、アンプ21の(−)入力と同様
に所定の電圧、ここでは、Vcc/2のバイアス端子に接
続されているとする。そこで、スイッチSWがONした
ときには、コンデンサCSは、前記のバイアス電圧Vcc
/2にプリセットされる。そして、検出側のコンデンサ
Ca,Cbの容量がCa>Cbのときには、差電流発生
回路15の電流出力が吐出しとなるので、コンデンサC
Sは、バイアス電圧Vcc/2よりも高い電圧まで充電さ
れる。一方、コンデンサの容量がCa<Cbのときに
は、差電流発生回路15の電流出力がシンクとなるの
で、コンデンサCSは、その電荷が放電されてバイアス
電圧Vcc/2よりも低い電圧になる。そして、コンデン
サの容量がCa=Cbのときには、差電流発生回路15
に電流出力が発生しないので、コンデンサCSの充電電
圧は、バイアス電圧Vcc/2に等しくなる。
【0019】さて、先に従来技術で説明したように、い
ずれかの電極を指でタッチすると、指が導体として作用
し、電気力線が導体(指)によって遮断されることで、
タッチされた電極の容量が小さくなる。そこで、図3の
コンデンサCaをある電極とし、コンデンサCbをこれ
に隣接する次の電極とすると、タッチされた電極を中心
としてその手前近傍での一対の電極(XまたはY電極)
と他方の電極(YまたはX電極)による構成されるコン
デンサの容量については、Ca>Cbとなり、その後ろ
近傍での一対の電極と他方の電極により構成されるコン
デンサの容量については、Ca<Cbとなる。そして、
指がタッチしている中心付近では、Ca=Cbとなる。
なお、静電センサ部11が指でタッチされていない電極
もCa=Cbとなる。この場合、タッチする指の幅が電
極の幅よりも大きいので、タッチした前後の多数の電極
が影響を受けて、結果として図5(a)に示すような検
出信号Dが得られ、その基準レベルの電圧Vcc/2でク
ロスする点TP(タッチ位置)を検出する処理がMPU
24aにより行われる。
【0020】その結果、アンプ21の出力電圧は、図5
(a)に示すような、電圧Vcc/2を基準電圧として上
下に振れる2つのピークを持つ波形の検出信号Dにな
る。なお、横軸は、電極のスキャン方向であり、順次電
極番号が配列される。そして、この波形信号Dにおい
て、指のタッチ幅の中央付近に対応するタッチ位置がV
cc/2にクロスする点TPになり、これに対応する電極
番号の位置が指のタッチ位置になる。サンプルホールド
回路(S/H)22は、検出信号Dに対してスキャンす
る電極対応に複数点でサンプリングしてA/D23に送
出する。その結果、検出信号Dがデジタル値に変換され
てデータ処理装置24に送出される。なお、スキャン
は、先に説明したように、一対の電極についてのもので
あるが、ここでは、その前側の電極に対応する検出信号
として図5(a)に示す検出信号Dを扱う。したがっ
て、以後の説明では、一対の電極とはせずに、単に1つ
の電極の検出信号として説明する。なお、これは、一対
の電極のままで管理し、扱ってもよく、また、一対の後
側の電極に対応する検出信号として扱っても差し支えな
い。
【0021】さて、先に発明が解決しようとする課題に
おいて述べたように、検出信号Dは、静電センサ部11
との関係において、Vcc/2の基準電圧レベルがシフト
する上に、製品ごとにばらつきがあって、その都度変化
する。そのために、図(b)に示すようなオフセットO
fを生じ、これが一定したものではない。そのため、指
がタッチされていない状態のときのグランドGNDレベ
ルからのみて変動するVcc/2の基準レベルを各電極対
応に採取する。データ処理装置24には、そのためにデ
ータ採取プログラム25が設けられている。
【0022】そのときどきの検出信号におけるグランド
GNDレベルからみたVcc/2の基準レベル分を検出信
号のレベルから減算して補正すると、検出信号Dは、図
(c)に示すような波形になる。そこで、この補正した
サンプリング値を順次加算していく。このとき、図
(c)において正側のピークのレベルと負側のピークの
レベルとが理想的には等しい場合、ゼロクロス点まで
は、加算による積算値が増加し、それ以降は、積算値が
減少してやがてゼロになる。すなわち、積算値VSは、
図(d)のような波形になる。なお、検出信号Dの波形
が多少変形したとしても積算した最大値の位置のずれは
少ない。そこで、このような積算処理のプログラムとし
て基準レベルシフト・積算プログラム27をデータ処理
装置24に設ける。さらに、X、Yの電極幅が微細で積
算処理の結果得られる最大値の位置が必ずしも適合しな
い場合には、最大値とその両側の等距離にある3点の電
極位置を採り、この3点の位置と積算値とから重心を求
めて、この重心の位置に最も近い位置の電極をタッチ位
置の電極の位置(座標)として割出す。このような重心
位置算出のプログラムとして重心位置算出プログラム2
8をデータ処理装置24は特別に有している。
【0023】次にこのようなプログラムを有するデータ
処理装置24について説明する。図1において、データ
処理装置24は、MPU24aと、各種の処理プログラ
ムを記憶したメモリ24b、バッファメモリ24c、I
/Oインタフェース24d等から構成されている。そし
て、メモリ24bには、データ採取プログラム25とタ
ッチ位置検出プログラム26、基準レベル補正・積算プ
ログラム27、重心位置算出プログラム28、そして駆
動周波数選択プログラム29等が格納されていて、さら
に基準レベル補正データ領域30が設けられている。な
お、データ採取プログラム25は、上記を含めて他のプ
ログラムが実行されていないときに実行される。そし
て、まず、指が静電センサ部11にタッチされている否
かの判定をする。そして、指がタッチされているときに
はタッチ位置検出プログラム26をコールして実行し、
指がタッチされていないときにはオフセットキャンセル
処理のためにそのときのデータをVcc/2の基準レベル
のデータとして採取する。また、これは、駆動周波数選
択プログラム29を必要に応じてコールしてスキャンす
る際の各電極に加える駆動パルスの周波数を変更する
(後述)。タッチ位置検出プログラム26は、指がタッ
チされているときに実行され、基準レベル補正・積算プ
ログラム27、重心位置算出プログラム28を順次コー
ルしてMPU24aに実行させ、タッチ電極の位置を検
出する。
【0024】以下、これらプログラムの処理について図
6,図7を参照して説明する。図6は、データ採取プロ
グラム25の処理の流れである。電源ONスタートによ
り、X側の電極スキャンの後にY側の電極スキャンを行
う、XY電極のスキャンを開始(ステップ101)し、
X側、Y側の各電極ごとの検出信号の電圧レベルLをデ
ータとして取得して各電極に対応してバッファメモリ2
4cに記憶する(ステップ102)。
【0025】このステップ101とステップ102にお
けるデータ処理装置24の検出信号を採取する処理を先
に説明する。データ処理装置24のMPU24aは、最
初に制御信号SSを発生して、制御信号S2をコントロー
ル回路18から受けるとデータ採取プログラム24を実
行して、サンプルホールド信号SHとA/D変換信号SA
とを送出して、サンプルホールドしたアンプ21の出力
電圧値をA/D変換し、そのデータをバッファメモリ2
4cに記憶する。そして、I/Oインタフェース24d
を介してコントロール回路18に測定開始の制御信号S
Sを送出する。また、この制御信号SSによりサンプルホ
ールド回路22のホールド値もリセットされる。
【0026】なお、データ処理装置24は、最初にY側
をドライブ回路にする選択信号S3を発生させてコント
ロール回路18にY方向の電極の選択制御をさせ、次に
X側をドライブ回路にする選択信号S4を発生させてコ
ントロール回路18にX方向の電極の選択制御をさせ、
Y,X方向の電極選択がすべて終了するまで制御信号S
2を受けごとに、同様なデータをA/D23から受けて
採取してバッファメモリ24cに記憶し、測定開始の制
御信号SSを送出する。そして、Y方向とX方向のすべ
ての電極の測定が終了にした時点で測定終了信号SEを
コントロール回路18に送出してその動作を停止させ
る。
【0027】コントロール回路18は、データ処理装置
24から測定開始の制御信号SSを受けるごとに、スイ
ッチ回路SWをONにして、次にコンデンサCSをバイ
アス電圧(例えばVcc/2)にプリセットする。そして
マルチプレクサ12を駆動して次の一対の電極を選択す
る制御信号を送出し、スイッチ回路17をONにする。
そして、接続切換回路14には制御信号S1を送出し、
パルス駆動回路13を駆動する。コントロール回路18
は、パルス駆動回路13から駆動パルスPを受けて(図
S3参照)、その数をカウントする。駆動パルスPの数
が16個カウントされるとスイッチ回路17をOFFに
してデータ処理装置24に測定終了を示す制御信号S2
を送出する。
【0028】これにより、コントロール回路18は、デ
ータ処理装置24から最初の測定開始の制御信号SSを
受けてから、この信号を受けるたびに、電極Y1,Y2、
電極Y2,Y3、,…電極Yi-1,Yi,…電極Ym,Y1
と、Y方向の隣接する2本の電極選択して、次にX方向
へと移り、電極X1,X2、電極X2,X3、,…電極Xi-
1,Xi,…電極Xn,X1と、X方向の隣接する2本の電
極を順次選択する制御をする。また、選択された各一対
の電極については、駆動パルスPの数が16個計測され
たときに制御信号S2を送出し、次の電極に切り換える
制御信号S5をマルチプレクサ12に送出する。
【0029】次に、MPU24aは、測定終了信号SE
をコントロール回路18に送出した後に、図6に示すス
テップ103の処理へと移る。さて、図6のステップ1
03においては、各電極の検出信号の電圧レベルLをバ
ッファメモリ24cにおいてまずは最初の電極分のもの
から読出して(ステップ103)、電圧レベルLがVcc
/2−Vα<=L<=Vcc/2+Vαか否かを判定する
(ステップ104)。ここでの判定でYESとなると、
X側、Y側の全電極終了か否かの判定をして(ステップ
105)、ここで、NOのときには、ステップ103へ
と戻り、次の電極について検出信号の電圧レベルLを読
出して、同様な判定を行う。このような循環処理を繰り
返して、ステップ105の判定においてYESとなり、
全電極について検出信号の電圧レベルLがステップ10
4の判定における範囲内にあるときには、静電センサ部
11に指がタッチされていないことになる。言い換えれ
ば、図5(a)に示すような信号が発生していないもの
と判定する。ここで、±Vαは、図5(a)に示すよう
なレベルの信号Dがあるか否かを判定する基準範囲を示
す電圧である。なお、この範囲を決める電圧は、上限を
+Vαとし、下限−Vα’としてこれらを異なる電圧値
にしてもよい。
【0030】静電センサ部11に指がタッチされていな
いときには、次に、各電極ごとの採取データをオフセッ
トキャンセル処理のためのVcc/2の基準レベルの補正
データとしてメモリ24bの基準レベル補正データ領域
30のX側,Y側の各電極領域にそれぞれのデータを転
送して記憶する(ステップ106)。そして、ステップ
101へと戻る。このようにして、指がタッチされてい
ないときには、常時、X側,Y側のそれぞれの最新の基
準レベルの補正データがX、Yの各電極対応に基準レベ
ル補正データ領域30に記憶される。一方、先のステッ
プ104の判定において、NOとなると、X側,Y側の
いずれかの電極位置において図5(a)に示すようなレ
ベルの信号が存在することになる。そこで、タッチ位置
検出プログラム26がコールされて、MPU24aによ
り実行され、タッチ位置検出処理が行われる(ステップ
107)。そして、このタッチ位置の検出が終了する
と、再びステップ101へと戻る。
【0031】図7は、ステップ107におけるタッチ位
置検出処理の手順の説明図である。これは、まず、基準
レベル補正処理を行う。まず、初期設定として、これ
は、検出対象をY側の電極に設定して(ステップ11
1)、基準レベル補正・積算プログラム27をコールし
てMPU24aが実行し、バッファメモリ24cに採取
されている現在の各電極(最初はY側で次にX側とな
る。)についての検出信号の電圧値Lについて、各電極
対応にすでに記憶されている基準レベル補正データ領域
30の補正データ(タッチされていないときの各電極に
ついてのVcc/2の基準レベル)を読出して、検出信号
の電圧値Lから補正データの電圧値を減算する処理を各
電極対応に行ってメモリ24bの作業領域(RAM)に
記憶する(ステップ112)。これにより基準レベルの
各電極のオフセットをなくし、かつ、基準レベルをグラ
ンドレベルへと落とす。これをアナログ値として説明す
ると、図5(c)に示すような波形信号となり、これに
ついてのデータが各電極対応に得られる。
【0032】次に、各電極の検出信号の電圧値Lを電極
更新ごとに順次最初の電極から現在選択されている更新
電極までの電圧値Lを積算して更新した電極に対応して
最初から更新した電極までの積算値VSを記憶し、これ
を最終電極まで積算して作業領域に記憶する(ステップ
113)。これをアナログ値として説明すると、図5
(d)に示すような波形の信号となる。次に、重心位置
算出プログラム28をコールしてMPU24aが実行
し、まず、作業領域の積算値VSのデータに対して最大
値Mを検出するととも、その電極を検出する(ステップ
114)。そして、最大値Mの電極位置から等距離で隣
接する2つの電極位置の積算値P1,P2のデータを検出
する(ステップ115)。最後に積算値における最大値
と両側の2点の合計3点の積算値と電極位置とから重心
電極位置を算出して、これに最も近い実際の電極位置を
現在スキャンした側のタッチ電極とし、それを現在設定
されている検出側(初期ではY側)のタッチ電極位置と
してメモリ24bに記憶する(ステップ116)。この
タッチ電極位置が前記の図5(a)におけるタッチ位置
TPに対応する。
【0033】次に、検出対象がX側か否かの判定をし
(ステップ117)、X側でないときには、NOとなっ
て、検出対象をX側電極に設定して(ステップ11
8)、ステップ112へと戻り、X側の電極について前
記と同様な処理によりタッチ位置TPの電極を得る。そ
して、ステップ117の判定において検出対象がX側で
あるとの判定を受けたときに、X側,Y側のタッチ位置
電極についてのデータを出力して(ステップ119)、
図6のステップ101へと戻る。このようにして、Ca
>CbからCa=Cb、そしてCa=CbからCa<Cb
へと変わる変化点がY方向の電極番号とX方向の電極番
号でそれぞれに与えられ、タッチ位置として検出され
る。
【0034】ところで、差電流発生回路15は、ここで
は、Gmアンプの例を挙げているが、これは、積分用コ
ンデンサを充放電する電流出力アンプであればよい。特
に、図4に(c),(d)に示す波形(検出信号)を電
圧波形として先に説明しているが、電流波形もこれと同
じ形態を採る。したがって、検出信号を電流信号とすれ
ば、差電流発生回路15として電流増幅アンプを使用す
ることが可能である。また、S/N比を向上させた電流
出力アンプとしてカレントミラーを用いた微小電流検出
回路として特願平7−289218号,「微小電流検出
回路およびこれを利用した座標入力装置」を本出願人等
は出願済みである。この出願の実施例において検出回路
10として示す微小微小電流検出回路をそのまま前記の
差電流発生回路15に置換えて使用することで、S/N
比が高い検出動作をさせることができる。
【0035】最後に、駆動周波数選択プログラム29に
ついて説明すると、これは、データの採取を開始する前
にデータ採取プログラム25によりコールされて電極駆
動パルスの周波数を選択する。周波数の選択は、パルス
駆動回路13に設けられた分周回路(図示せず)の分周
率を選択することで駆動パルスの周波数を変更する。選
択される周波数の具体例としては、105kHz,13
3kHz,167kHz,200kHzのうちの1つで
ある。このような選択を行うのは、タッチ位置が検出さ
れない場合あるいはX、Yのいずれかのタッチ位置が不
確定であった場合などに行う。その理由は、コンピュー
タなどでは、スイッチング電源が使用され、これが特定
の周波数でスイッチングされることでパルスノイズを発
生する。また、MPU等の動作のためのクロック発生回
路が数十〜数百MHzオーダの信号を発生する。このよ
うなパルスがノイズとなり、静電センサ部11に乗っ
て、検出信号を変化させ、あるいは誤検出が発生する。
これを防止するために位置検出が十分にできないとき
に、別の駆動周波数の信号を選択することで切換えて、
最適な検出信号Dを発生させて位置検出を行うものであ
る。
【0036】ところで、説明の都合上、以上のタッチ位
置検出の処理では、一対の電極について前又は後の電極
番号で管理するものとして説明しているが、一対の電極
を1対の電極として番号順に管理してもよいことはもち
ろんである。このような場合には、前記一対の前の電極
や後の電極と相違する番号で一対の電極対応にデータを
管理することができることももちろんである。
【0037】以上説明してきたが、実施例では、タッチ
電極の位置を重心処理により重心を求めて決定している
が、これは、電極ピッチの細かさの程度により行えばよ
く、単に、最大積算値の位置に対応する電極をタッチ位
置の電極としてもよいことはもちろんである。また、実
施例において、駆動パルスを複数個発生させて、積分す
ることで検出電流値に対応する電圧値を得る回路を挙げ
ているが、この発明においては、必ずしも駆動パルスを
複数個用いて、その期間分の積分値を得る必要はない。
また、実施例では、Y方向とX方向とに多数の電極が配
列された座標入力装置を中心に説明しているが、この発
明は、図5に示す検出信号Dの波形で理解できるよう
に、このような波形の検出信号において、基準レベルと
のクロス点をタッチ位置とするような座標入力装置にも
適用できることはもちろんである。
【0038】
【発明の効果】以上のとおり、この発明にあっては、検
出信号のスキャン方向(所定の電極配列方向)に沿って
の変化が所定の基準レベルに対して上下に振れる2つの
ピークを持つ信号に対して、タッチされていないときに
検出信号の基準レベルを電極対応に採取しておき、タッ
チされたときの検出信号から基準レベルを減算すること
で、グランドレベルに対して正負に振れるピークを持つ
信号に変換するようにし、さらに、前記の積算処理手段
で電極を更新しながら順次積算していくことにより、ゼ
ロクロス位置が積算値のピークとなるデータを得るよう
にしているので、電極幅より大きな指幅でタッチしたと
しても、この最大積算値の位置からタッチ位置を割出し
て検出することができる。このように積算処理によりピ
ーク値を検出するので、タッチ位置の検出精度を上げる
ことができ、かつ、タッチ位置の検出が容易であって、
各製品における調整は不要になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、この発明の一実施例の座標入力装置の
ブロック図である。
【図2】図2は、静電型センサ部の構造の説明図であ
る。
【図3】図3は、その一対の電極についての検出状態の
説明図である。
【図4】図4は、検出動作のタイミングチャートであ
る。
【図5】図5は、その検出信号の説明図であって、
(a)〜(c)は、検出信号の波形の変化の説明図であ
り、(d)は、その積算値の説明図である。
【図6】図6は、検出信号についてのデータ採取処理の
フローチャートである。
【図7】図7は、タッチ位置検出処理のフローチャート
である。
【符号の説明】
10…検出部、11…静電センサ部、12…マルチプレ
クサ、13…パルス駆動回路、14…接続切換回路、1
5…差電流発生回路、16…スイッチ回路、17…積分
回路、18…コントロール回路、20…検出信号判定
部、21…アンプ、22…サンプルホールド回路、23
…A/D変換回路(A/D)、24…データ処理装置、
24a…MPU、24b…メモリ、25…データ採取プ
ログラム、26…タッチ位置検出プログラム、27…基
準レベル補正・積算プログラム、28…重心位置算出プ
ログラム、29…駆動周波数選択プログラム、30…基
準レベル補正データ領域。
【手続補正書】
【提出日】平成9年11月7日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0010
【補正方法】変更
【補正内容】
【0010】各ストライプ電極X1,X2,…,Xnとス
トライプ電極Y1,Y2,…Ymとは、いずれか一方の隣
接する電極2本が順次一対のものとして選択され他方の
電極を介してパルス駆動回路13によりパルス駆動され
る。このとき、選択される側の一方の電極は、一定レベ
ルの電圧が与えられている。そして他方の電極はすべて
が同時に駆動される。ここで選択される一方の2本の電
極は、選択されたときに、他方の電極との関係において
図3に示す2つのコンデンサCaとCbとに対応する。
そして、一方のコンデンサの容量に対して他方のコンデ
ンサの容量の差が差電流発生回路15により電流値とし
て出力される。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】さて、図3において、マルチプレクサ12
は、ここでは、まず、図2における上側にあるY方向の
隣接電極2本を1本づつずらせて選択し、すべての2本
の電極が終了した時点でX方向の隣接電極2本を1本づ
つずらせて選択する。これは、電極Y1,Y2、電極Y
2,Y3、,…電極Yi-1,Yi,…電極Ym,Y1というよ
うに、Y方向の隣接する2本の電極である。ただし最後
の電極Ymについては最初の電極Y1の2本の電極にな
る。そして、次は、電極X1,X2、電極X2,X3、,…
電極Xi-1,Xi,…電極Xn,X1というように、X方向
の隣接する2本の電極である。ただし最後の電極Xnに
ついても最初の電極X1の2本の電極になる。これらが
マルチプレクサ12により順次選択されかつパルス駆動
回路13から駆動パルスが加えられる。なお、Y側の電
極が選択されているときには、X側ドライブ回路13a
が駆動パルスを発生してX電極に加えてこれに応じてY
電極側の一対電極が順次スキャンされていきく。このと
きY側ドライブ回路13bは一定電圧を各Y電極に加え
ている。また、X側の電極が選択されているときには、
前記とは逆にY側ドライブ回路13bが駆動パルスを発
生してY電極に加えてX電極側の一対の電極がスキャン
されていく。このとき、X側ドライブ回路13aは一定
電圧を各X電極に加えている。いずれが駆動側となり、
いずれが一定電圧を設定されるかは、データ処理装置2
4からの選択信号S3,S4により決定される。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】そこで、最初は、選択信号S3,S4によ
り、電極Y1,Y2,…Ymがドライブ側にされて、例え
ば、HIGHレベル,Vcc等の電圧のパルスでドライブ
される。このとき、X側の電極X1,X2,…XnがLO
Wレベル,Vcc/2等の一定電圧に設定され、X側の各
電極が順次スキャンされる。また、X側の電極がドライ
ブ側に選択されて、例えば、HIGHレベル,Vcc等の
電圧のパルスでドライブされているときには、逆にY側
の電極がLOWレベル,Vcc/2等の一定電圧に設定さ
れ、Y側の各電極が順次スキャンされる。また、マルチ
プレクサ12の電極選択とパルス駆動回路13の駆動
パルスの発生は、コントロール回路18からの制御信号
に応じて行われる。マルチプレクサ12により順次選択
される一対の隣接する2つの電極を中心に示した回路が
図3である。そして、コントロール回路18により制御
されてマルチプレクサ12により選択された隣接する一
対の2つのコンデンサCa,Cbは、選択された一対の
Y電極とX電極、あるいは一対のX電極とY電極と
により形成されるコンデンサである。図4は、その検出
動作のタイミングチャートである。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】マルチプレクサ12により隣接するY方向
の2つの電極が選択されると、共通に接続されたコンデ
ンサCa,Cbの一端N(最初はX側の電極)に駆動パ
ルスP(図4(a)参照)が加えられる。選択されたコ
ンデンサCa,Cbの他端Na,Nb(最初はY側の電
極)は、マルチプレクサ12,接続切換回路14を介し
て差電流発生回路15に入力される。差電流発生回路1
5は、Gmアンプ(トランス・コンダクタンス・アン
プ)で構成され、その+位相端子と−位相端子とにコン
デンサCa,Cbの他端Na,Nbに発生する電圧信号
それぞれが受ける。そして、その出力には、これら入
力信号の電位差に応じた電流が差電流値、すなわち、2
つのコンデンサの容量差より発生する電流値(それぞれ
の電荷電流の差に対応する電流値)として出力される。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0016
【補正方法】変更
【補正内容】
【0016】このとき、コンデンサCa,Cbの他端N
a,Nbには、駆動パルスPの立上がり、立下がりに対
応して図4(c)に示すような電圧信号が過渡現象とし
て発生する。この過渡現象により発生する電圧信号が差
電流発生回路15の+位相端子と−位相端子にそれぞれ
加えられる。このとき端子間に加わる差電圧としての
形は、接続切換回路14により駆動パルスPが立上がり
と立下がりとで同じ極性(同じ位相)の波形になる。そ
こで、差電流発生回路15の出力には、図4(d)に示
す電流信号が出力される。その結果、積分回路17のコ
ンデンサCSには、駆動パルスPの立上がりと立下がり
とで発生する電流により1駆動パルスにつき、2回充電
され、その電荷が蓄積される。なお、図4(d)は、C
a>Cbの場合であるが、Ca<Cbの場合には、図4
(d)に示す電流信号は、逆極性になる。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】次に、各電極の検出信号の補正した電圧値
L(補正値)を電極更新ごとに順次最初の電極から現在
選択されている更新電極までの電圧値L(補正値)を積
算して更新した電極に対応して最初から更新した電極ま
での積算値VSを記憶し、これを最終電極まで積算して
作業領域に記憶する(ステップ113)。これをアナロ
グ値として説明すると、図5(d)に示すような波形の
信号となる。次に、重心位置算出プログラム28をコー
ルしてMPU24aが実行し、まず、作業領域の積算値
VSのデータに対して最大値Mを検出するととも、その
電極を検出する(ステップ114)。そして、最大値M
の電極位置から等距離で隣接する2つの電極位置の積算
値P1,P2のデータを検出する(ステップ115)。最
後に積算値における最大値と両側の2点の合計3点の積
算値と電極位置とから重心電極位置を算出して、これに
最も近い実際の電極位置を現在スキャンした側のタッチ
電極とし、それを現在設定されている検出側(初期では
Y側)のタッチ電極位置としてメモリ24bに記憶する
(ステップ116)。このタッチ電極位置が前記の図5
(a)におけるタッチ位置TPに対応する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石垣 元治 京都市右京区西院溝崎町21番地 ローム株 式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の方向に配列された多数の電極をスキ
    ャンして電極対応に得られる検出信号によりタッチされ
    た電極位置を検出する座標入力装置において、前記検出
    信号の前記所定の方向に沿っての変化が所定の基準レベ
    ルに対して上下に振れる2つのピークを持つものであっ
    て、タッチされていないときの前記所定の基準レベルを
    前記電極対応に前記検出信号に基づき検出して記憶する
    基準レベル採取手段と、タッチされているときに前記電
    極対応の前記検出信号から前記基準レベル採取手段によ
    り記憶された前記電極対応の前記基準レベルを前記電極
    対応に減算した補正値を前記電極対応に算出して記憶す
    る補正値算出手段と、前記電極対応に算出された補正値
    を前記電極を更新するごとに積算し、積算値を更新した
    電極に対応して記憶する積算処理手段と、この積算処理
    手段の積算値の最大値に対応する電極をタッチされた電
    極位置として検出するタッチ位置検出手段とを備える座
    標入力装置。
  2. 【請求項2】前記スキャンは、隣接する一対電極を単位
    として行われ、前記検出信号は、前記一対電極対応に得
    られるものであり、前記一対の電極の前側あるいは後側
    の電極のものとしてあるいは一対の電極に対応するもの
    として前記検出信号が管理される請求項1記載の座標入
    力装置。
  3. 【請求項3】格子状にX方向に配列された多数のX電極
    とY方向に格子状に配列された多数のY電極をそれぞれ
    に隣接する一対の電極を単位としてスキャンして前記X
    電極および前記Y電極の各一対の電極対応に得られる検
    出信号によりタッチされた電極位置を検出する座標入力
    装置において、前記検出信号のスキャン方向に沿っての
    変化が所定の基準レベルに対して上下に振れる2つのピ
    ークを持つものであって、前記各一対の電極対応の前記
    検出信号のレベルをそれぞれ所定の基準レベルと比較す
    ることによりタッチされているか否かを判定する判定手
    段と、この判定手段の判定結果に応じてタッチされてい
    ないときの前記所定の基準レベルを前記検出信号に基づ
    き前記各一対の電極対応あるいは一対のうちのいずれか
    の電極対応に検出して記憶する基準レベル採取手段と、
    前記判定手段の判定結果に応じてタッチされているとき
    に前記各一対の電極対応の前記検出信号から前記基準レ
    ベル採取手段により記憶されたこの検出信号に対応する
    前記基準レベルを減算した補正値を前記各一対の電極対
    応あるいは一対のうちのいずれかの電極対応に算出して
    記憶する補正値算出手段と、前記各一対の電極対応ある
    いは一対のうちのいずれかの電極対応に算出された補正
    値を前記X電極と前記Y電極のそれぞれにおいて電極を
    1つ更新するごとに積算し、積算値を更新した前記各一
    対の電極対応あるいは一対のうちのいずれかの電極対応
    に記憶する積算処理手段と、この積算処理手段の積算値
    の最大値に対応する前記各一対の電極対応あるいは一対
    のうちのいずれかの電極を前記X電極と前記Y電極のそ
    れぞれにおいてタッチされた電極位置として検出するタ
    ッチ位置検出手段とを備える座標入力装置。
  4. 【請求項4】さらに、プロセッサとメモリとを備え、前
    記判定手段と前記基準レベル採取手段と前記補正値算出
    手段と前記積算処理手段と前記タッチ位置検出手段と
    は、前記メモリに記憶されたそれぞれに対応するプログ
    ラムを前記プロセッサが実行することで実現され、前記
    判定手段に対応するプログラム以外のプログラムを前記
    プロセッサが実行していないときに前記判定手段のプロ
    グラムが実行され、前記タッチ位置検出手段は、最大値
    に対応する前記各一対の電極の少なくとも一方の位置を
    基準に前後に等距離の2つの一対の電極における補正値
    を採り、これら2つの補正値と前記最大値とにより決定
    される重心の位置に最も近い電極位置をタッチ位置とす
    る請求項3記載の座標入力装置。
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