JPH1022090A - 電子部品処理装置における静電気対策方法 - Google Patents
電子部品処理装置における静電気対策方法Info
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- JPH1022090A JPH1022090A JP17370696A JP17370696A JPH1022090A JP H1022090 A JPH1022090 A JP H1022090A JP 17370696 A JP17370696 A JP 17370696A JP 17370696 A JP17370696 A JP 17370696A JP H1022090 A JPH1022090 A JP H1022090A
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- electronic components
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Abstract
(57)【要約】
【課題】チップ部品等の電子部品に静電気の発生しない
電子部品処理装置の静電気対策方法を提供する。 【解決手段】電子部品を供給する供給装置と、供給装置
により供給された電子部品を整列分離する分離装置と、
分離装置により整列分離された電子部品を搬送する搬送
装置と、搬送装置により搬送された電子部品を検査する
検査用装置と、検査用装置により検査された電子部品を
仕分けする分類装置と、からなる電子部品処理装置にお
いて、電子部品処理装置を密閉するカバーと、湿度セン
サと、湿度制御装置と、湿度発生装置と、が備えられ、
湿度センサにより電子部品処理装置内の湿度を検出して
湿度制御装置より湿度発生装置作動制御し、電子部品処
理装置内の湿度を所定の湿度に保持することにより、静
電気発生を防止することを特徴とするもの。
電子部品処理装置の静電気対策方法を提供する。 【解決手段】電子部品を供給する供給装置と、供給装置
により供給された電子部品を整列分離する分離装置と、
分離装置により整列分離された電子部品を搬送する搬送
装置と、搬送装置により搬送された電子部品を検査する
検査用装置と、検査用装置により検査された電子部品を
仕分けする分類装置と、からなる電子部品処理装置にお
いて、電子部品処理装置を密閉するカバーと、湿度セン
サと、湿度制御装置と、湿度発生装置と、が備えられ、
湿度センサにより電子部品処理装置内の湿度を検出して
湿度制御装置より湿度発生装置作動制御し、電子部品処
理装置内の湿度を所定の湿度に保持することにより、静
電気発生を防止することを特徴とするもの。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の処理装
置における静電気対策方法に関する。
置における静電気対策方法に関する。
【0002】
【従来の技術】最近、ICの登場と共にコンピュータを
始めとする電子機器装置の小型化が急速に進み、これら
の装置に使用される部品も小型化が要求されので、最も
小型化されたチップ型電子部品が広く使用されるように
なってきた。これらのチップ型電子部品が使用される電
子機器の製造工程においては、コンピュータを使用した
チップマウンタと呼ばれる部品装着機により、チップ型
電子部品が自動的に基板にマウントされるように設計さ
れているので、チップ型電子部品はチップマウンタの供
給装置に自動供給可能なように、専用のカートリッジに
収納されたものや、テーピング処理されたものの需要が
多くなってきた。そのためカートリッジ収納やテーピン
グ処理の前に、バラバラの状態で製造されたチップ部品
を1個づつ検査して収納する電子部品処理装置が必要と
されるようになってきた。
始めとする電子機器装置の小型化が急速に進み、これら
の装置に使用される部品も小型化が要求されので、最も
小型化されたチップ型電子部品が広く使用されるように
なってきた。これらのチップ型電子部品が使用される電
子機器の製造工程においては、コンピュータを使用した
チップマウンタと呼ばれる部品装着機により、チップ型
電子部品が自動的に基板にマウントされるように設計さ
れているので、チップ型電子部品はチップマウンタの供
給装置に自動供給可能なように、専用のカートリッジに
収納されたものや、テーピング処理されたものの需要が
多くなってきた。そのためカートリッジ収納やテーピン
グ処理の前に、バラバラの状態で製造されたチップ部品
を1個づつ検査して収納する電子部品処理装置が必要と
されるようになってきた。
【0003】このチップ型電子部品の電子部品処理装置
の従来例を図5に示す。図において、電子部品処理装置
100は、ホッパー101、分離装置102、搬送装置
103、検査装置104、分類装置105より構成され
ている。 ホッパー101はチップ型電子部品の供給装
置で、チップ型電子部品はこのホッパー101中にまと
めて投入される。するとチップ型電子部品はホッパー1
01の下部に形成されている投入口101aより、パー
ツフィーダーと呼ばれるチップ型電子部品を整列分離す
る分離装置102へ落ち込んで行く。分離装置102は
超音波振動をチップ型電子部品に与えることにより整列
分離するもので、整列分離したチップ型電子部品は分離
装置102の外周に取り付けられた搬送装置103に送
り込まれる。搬送装置103に送り込まれたチップ型電
子部品は1個づつ搬送され、検査装置104のスロット
の中に送り込まれて検査される。検査の終了したチップ
型電子部品は自動的に分類装置105により仕分けされ
て、図示しない収納箱に収納され、この収納箱でテーピ
ング工程等の次工程へ送られる。
の従来例を図5に示す。図において、電子部品処理装置
100は、ホッパー101、分離装置102、搬送装置
103、検査装置104、分類装置105より構成され
ている。 ホッパー101はチップ型電子部品の供給装
置で、チップ型電子部品はこのホッパー101中にまと
めて投入される。するとチップ型電子部品はホッパー1
01の下部に形成されている投入口101aより、パー
ツフィーダーと呼ばれるチップ型電子部品を整列分離す
る分離装置102へ落ち込んで行く。分離装置102は
超音波振動をチップ型電子部品に与えることにより整列
分離するもので、整列分離したチップ型電子部品は分離
装置102の外周に取り付けられた搬送装置103に送
り込まれる。搬送装置103に送り込まれたチップ型電
子部品は1個づつ搬送され、検査装置104のスロット
の中に送り込まれて検査される。検査の終了したチップ
型電子部品は自動的に分類装置105により仕分けされ
て、図示しない収納箱に収納され、この収納箱でテーピ
ング工程等の次工程へ送られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の電子部品の処理装置にあっては、湿度の低い冬
期等においては、絶縁性の高いチップ部品が移動するこ
とによって摩擦による静電気が発生して、絶縁性の高い
チップ部品の表面に帯電するので、静電気の作用により
供給装置、分離装置、テーピング装置などにチップ部品
が付着してしまい、動かなくなるので、分離作業や搬送
作業、挿入作業等ができなくなるという問題が発生し
た。また、この静電気によりICやトランジスタ等の半
導体部品は、静電破壊が発生する可能性があり、重大な
問題になる恐れもあった。この対策として、予め静電気
を除去したチップ部品を投入する方法もあったが、供給
作業、分離作業、搬送作業、挿入作業の途中で静電気が
発生してしまい、結局効果のある対策ができなかったも
のである。
た従来の電子部品の処理装置にあっては、湿度の低い冬
期等においては、絶縁性の高いチップ部品が移動するこ
とによって摩擦による静電気が発生して、絶縁性の高い
チップ部品の表面に帯電するので、静電気の作用により
供給装置、分離装置、テーピング装置などにチップ部品
が付着してしまい、動かなくなるので、分離作業や搬送
作業、挿入作業等ができなくなるという問題が発生し
た。また、この静電気によりICやトランジスタ等の半
導体部品は、静電破壊が発生する可能性があり、重大な
問題になる恐れもあった。この対策として、予め静電気
を除去したチップ部品を投入する方法もあったが、供給
作業、分離作業、搬送作業、挿入作業の途中で静電気が
発生してしまい、結局効果のある対策ができなかったも
のである。
【0005】本発明は、前述の問題点を解決すべく創案
されたもので、チップ部品等の電子部品に静電気の発生
しない電子部品の処理装置の静電気対策方法を提供する
ものである。
されたもので、チップ部品等の電子部品に静電気の発生
しない電子部品の処理装置の静電気対策方法を提供する
ものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、電子部品を供給する供給装置と、該供給
装置により供給された電子部品を整列分離する分離装置
と、該分離装置により整列分離された電子部品を搬送す
る搬送装置と、該搬送装置により搬送された電子部品を
検査する検査用装置と、該検査用装置により検査された
電子部品を仕分けする分類装置からなる電子部品処理装
置において、前記電子部品処理装置を密閉するカバー
と、前記電子部品処理装置内に設置された湿度センサ
と、該湿度センサに接続された湿度制御装置と、一定温
度下で前記湿度制御装置により制御される湿度発生装置
と、が備えられ、前記電子部品処理装置内に設置された
湿度センサにより前記電子部品処理装置内の湿度を検出
して湿度制御装置に検出信号を送り、該検出信号に基づ
き前記湿度制御装置は電子部品処理装置内の湿度が所定
の湿度となるように前記湿度発生装置を作動制御し、前
記電子部品処理装置を所定の湿度に保持することによ
り、電子部品及び機械移載での静電気発生の防止するこ
とを特徴とするものである。
め、本発明は、電子部品を供給する供給装置と、該供給
装置により供給された電子部品を整列分離する分離装置
と、該分離装置により整列分離された電子部品を搬送す
る搬送装置と、該搬送装置により搬送された電子部品を
検査する検査用装置と、該検査用装置により検査された
電子部品を仕分けする分類装置からなる電子部品処理装
置において、前記電子部品処理装置を密閉するカバー
と、前記電子部品処理装置内に設置された湿度センサ
と、該湿度センサに接続された湿度制御装置と、一定温
度下で前記湿度制御装置により制御される湿度発生装置
と、が備えられ、前記電子部品処理装置内に設置された
湿度センサにより前記電子部品処理装置内の湿度を検出
して湿度制御装置に検出信号を送り、該検出信号に基づ
き前記湿度制御装置は電子部品処理装置内の湿度が所定
の湿度となるように前記湿度発生装置を作動制御し、前
記電子部品処理装置を所定の湿度に保持することによ
り、電子部品及び機械移載での静電気発生の防止するこ
とを特徴とするものである。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
基づいて説明する。図1は、本発明の電子部品処理装置
における静電気対策方法を示す模式図、図2は、図1の
静電気対策を施した電子部品処理装置の全体図、図3
は、図2の処理装置本体の配置を示す平面図、図4は、
図2の電子部品処理装置のカバーを開けた状態の側面図
である。
基づいて説明する。図1は、本発明の電子部品処理装置
における静電気対策方法を示す模式図、図2は、図1の
静電気対策を施した電子部品処理装置の全体図、図3
は、図2の処理装置本体の配置を示す平面図、図4は、
図2の電子部品処理装置のカバーを開けた状態の側面図
である。
【0008】本発明による電子部品処理装置Aは、図
1、2に示すように、処理装置本体1と、この処理装置
本体1を密閉するカバー部2と、電子部品処理装置A内
の湿度を制御する湿度制御部3とから構成されている。
まず処理装置本体1は、図3に示すように、チップ型電
子部品の供給装置10と、チップ型電子部品を整列分離
する分離装置20と、チップ型電子部品を搬送する搬送
装置30と、チップ型電子部品を検査する検査装置40
と、チップ型電子部品を仕分けする分類装置50とから
構成されている。
1、2に示すように、処理装置本体1と、この処理装置
本体1を密閉するカバー部2と、電子部品処理装置A内
の湿度を制御する湿度制御部3とから構成されている。
まず処理装置本体1は、図3に示すように、チップ型電
子部品の供給装置10と、チップ型電子部品を整列分離
する分離装置20と、チップ型電子部品を搬送する搬送
装置30と、チップ型電子部品を検査する検査装置40
と、チップ型電子部品を仕分けする分類装置50とから
構成されている。
【0009】処理装置本体1の供給装置10は、チップ
型電子部品の製造工程にて製造されたバラバラ状態のチ
ップ型電子部品を、ストックして順次分離装置20に供
給するものである。この供給装置10は、円形のロート
状に形成されたホッパー11の下面に、チップ型電子部
品の供給口12が傾斜して取り付けられており、チップ
型電子部品は自然落下で、順次分離装置20に供給され
るようになっている。
型電子部品の製造工程にて製造されたバラバラ状態のチ
ップ型電子部品を、ストックして順次分離装置20に供
給するものである。この供給装置10は、円形のロート
状に形成されたホッパー11の下面に、チップ型電子部
品の供給口12が傾斜して取り付けられており、チップ
型電子部品は自然落下で、順次分離装置20に供給され
るようになっている。
【0010】分離装置20は、供給装置10よりまとめ
て供給されたチップ型電子部品を1個づつに分離して整
列させるもので、内部の超音波振動発生器21より、上
部のホッパー22に振動を与えると、ホッパー22内の
チップ型電子部品が振動しながら整列していく性質を利
用したものである。この分離装置20の円周状のホッパ
ー22の出口23には搬送装置30が取り付けられてお
り、この整列したチップ型電子部品を1個づつ搬送する
ようになっている。
て供給されたチップ型電子部品を1個づつに分離して整
列させるもので、内部の超音波振動発生器21より、上
部のホッパー22に振動を与えると、ホッパー22内の
チップ型電子部品が振動しながら整列していく性質を利
用したものである。この分離装置20の円周状のホッパ
ー22の出口23には搬送装置30が取り付けられてお
り、この整列したチップ型電子部品を1個づつ搬送する
ようになっている。
【0011】搬送装置30は、チップ型電子部品を1個
づつ搬送するために、ベルト式のリニアフィーダ31に
よりチップ型電子部品を両側から挟み込んで移動するも
のである。この搬送装置30の途中には、チップ型電子
部品の通過状態をチェックするためのセンサ32、33
が2ケ所に取り付けてあり、この2ケ所のセンサによ
り、チップ型電子部品が搬送装置30内に溜まり過ぎる
と、自動的に分離装置20からの供給を止めるようにし
てある。従って搬送装置30から検査装置40へは一定
のペースでチップ型電子部品を送り込んでいる。
づつ搬送するために、ベルト式のリニアフィーダ31に
よりチップ型電子部品を両側から挟み込んで移動するも
のである。この搬送装置30の途中には、チップ型電子
部品の通過状態をチェックするためのセンサ32、33
が2ケ所に取り付けてあり、この2ケ所のセンサによ
り、チップ型電子部品が搬送装置30内に溜まり過ぎる
と、自動的に分離装置20からの供給を止めるようにし
てある。従って搬送装置30から検査装置40へは一定
のペースでチップ型電子部品を送り込んでいる。
【0012】検査装置40は、搬送装置30で送り込ま
れたチップ型電子部品を1個づつ検査するもので、その
ため円盤状の回転板41の円周に、チップ型電子部品を
収納するスロット42が形成され、回転板41が回転し
て、分類装置50にチップ型電子部品を送り出すまでの
間に、電気的特性や機械的特性を検査するようになって
いる。
れたチップ型電子部品を1個づつ検査するもので、その
ため円盤状の回転板41の円周に、チップ型電子部品を
収納するスロット42が形成され、回転板41が回転し
て、分類装置50にチップ型電子部品を送り出すまでの
間に、電気的特性や機械的特性を検査するようになって
いる。
【0013】分類装置50は、検査の終了したチップ型
電子部品を仕分けして収納箱51に収納するもので、そ
のため、24極の分類用ロータ52を備えており、最大
20種類チップ型電子部品を仕分けできるようになって
いる。分類用ロータ52の各極52aと収納箱51の各
箱51aには、図示しないシュータが取り付けられ、各
極52aからそれぞれ専用の箱51aにチップ型電子部
品が落下するようにしている。また、チップ型電子部品
が確実に落下しているかどうかを確認するため、分類用
ロータ52の下部に図示しない落下確認センサが取り付
けられている。
電子部品を仕分けして収納箱51に収納するもので、そ
のため、24極の分類用ロータ52を備えており、最大
20種類チップ型電子部品を仕分けできるようになって
いる。分類用ロータ52の各極52aと収納箱51の各
箱51aには、図示しないシュータが取り付けられ、各
極52aからそれぞれ専用の箱51aにチップ型電子部
品が落下するようにしている。また、チップ型電子部品
が確実に落下しているかどうかを確認するため、分類用
ロータ52の下部に図示しない落下確認センサが取り付
けられている。
【0014】上記のように構成された処理装置本体1の
周囲にはケース4が取り付けられて密閉されており、ケ
ースの下面には移動用の車輪8と、固定用のスタンド9
が取り付けられている。これは、処理装置本体1を使用
場所まで車輪8で移動し、使用場所では固定用のスタン
ド9を伸ばして処理装置本体1を固定して使用するもの
である。
周囲にはケース4が取り付けられて密閉されており、ケ
ースの下面には移動用の車輪8と、固定用のスタンド9
が取り付けられている。これは、処理装置本体1を使用
場所まで車輪8で移動し、使用場所では固定用のスタン
ド9を伸ばして処理装置本体1を固定して使用するもの
である。
【0015】また、前記処理装置本体1の上部には、こ
の処理装置本体1を密閉するためカバー部2が取り付け
られている。カバー部2は、中央部2aが内部を透視で
きるようにアクリル等のプラスチックで形成され、周辺
部2bは補強のため金属で形成されている。また、この
カバー部2は処理装置本体1を操作するため、図4に示
すように、開閉できる構造にしてあり、開閉のための把
手2cが取り付けられている。
の処理装置本体1を密閉するためカバー部2が取り付け
られている。カバー部2は、中央部2aが内部を透視で
きるようにアクリル等のプラスチックで形成され、周辺
部2bは補強のため金属で形成されている。また、この
カバー部2は処理装置本体1を操作するため、図4に示
すように、開閉できる構造にしてあり、開閉のための把
手2cが取り付けられている。
【0016】電子部品処理装置Aの湿度制御を行う湿度
制御部3は、湿度センサ5、湿度制御装置6、加湿装置
7とから構成されている。湿度センサ5はセラミック、
アルマイト、セレン薄膜、炭素膜、塩化リチウム等の材
料から形成されたもので、湿度センサ5の表面に水分が
付着すると、電気抵抗が下がる性質を利用している。こ
の湿度センサ5は電子部品処理装置A内に取り付けら
れ、湿度制御装置6に接続されている。
制御部3は、湿度センサ5、湿度制御装置6、加湿装置
7とから構成されている。湿度センサ5はセラミック、
アルマイト、セレン薄膜、炭素膜、塩化リチウム等の材
料から形成されたもので、湿度センサ5の表面に水分が
付着すると、電気抵抗が下がる性質を利用している。こ
の湿度センサ5は電子部品処理装置A内に取り付けら
れ、湿度制御装置6に接続されている。
【0017】湿度制御装置6は湿度センサ5に接続され
たブリツジ回路により、湿度センサ5の抵抗変化を電圧
の検出信号に変換し、この検出信号を予め設定してある
電圧値と比較して、出力信号を発生する比較回路を備え
ている。この比較回路により、湿度センサ5からの入力
電圧が設定電圧より高い場合は出力電圧を発生せず、湿
度センサ5からの入力電圧が設定電圧より低くなった場
合にのみ、出力電圧を発生するように構成されている。
たブリツジ回路により、湿度センサ5の抵抗変化を電圧
の検出信号に変換し、この検出信号を予め設定してある
電圧値と比較して、出力信号を発生する比較回路を備え
ている。この比較回路により、湿度センサ5からの入力
電圧が設定電圧より高い場合は出力電圧を発生せず、湿
度センサ5からの入力電圧が設定電圧より低くなった場
合にのみ、出力電圧を発生するように構成されている。
【0018】加湿装置7は、図示しない水槽と、水槽を
加熱するヒータを備えられた蒸気発生器7aで、湿度制
御装置6から出力電圧が発生するとヒータに電流が流れ
ヒータが加熱する。するとヒータに加熱された水槽から
水蒸気が発生し、加湿装置7のノズル7bより電子部品
処理装置A内に拡散して、電子部品処理装置Aを加湿す
るように構成されている。
加熱するヒータを備えられた蒸気発生器7aで、湿度制
御装置6から出力電圧が発生するとヒータに電流が流れ
ヒータが加熱する。するとヒータに加熱された水槽から
水蒸気が発生し、加湿装置7のノズル7bより電子部品
処理装置A内に拡散して、電子部品処理装置Aを加湿す
るように構成されている。
【0019】上記のように構成された電子部品処理装置
Aは、まず、湿度センサ5で処理装置A内の湿度を検出
し、その値を湿度制御装置6に送る。湿度制御装置6で
はその湿度の値を電圧値で読み取り、予め設定してある
比較回路の設定値に対して高いか、低いかを比較回路で
判断して、低い場合に加湿装置7の出力を起動する出力
電圧を発生する。すると加湿装置7が動作して、加湿装
置7のノズル7bより蒸気が発生し、処理装置A内の湿
度が上がる。所定の湿度に達すると、湿度センサ5で読
み取った値は制御装置6で設定した電圧値より高くなる
ので、制御装置6からの出力電圧が無くなるので、加湿
装置7のヒータの加熱が停止して蒸気発生は止まる。こ
の湿度制御部3の働きにより処理装置A内の湿度は、常
に静電気の発生しない適切な湿度にしておくことができ
るので、電子部品の摩擦によって生ずる静電気も直ぐ放
電してしまい、電子部品には帯電しなくなる。
Aは、まず、湿度センサ5で処理装置A内の湿度を検出
し、その値を湿度制御装置6に送る。湿度制御装置6で
はその湿度の値を電圧値で読み取り、予め設定してある
比較回路の設定値に対して高いか、低いかを比較回路で
判断して、低い場合に加湿装置7の出力を起動する出力
電圧を発生する。すると加湿装置7が動作して、加湿装
置7のノズル7bより蒸気が発生し、処理装置A内の湿
度が上がる。所定の湿度に達すると、湿度センサ5で読
み取った値は制御装置6で設定した電圧値より高くなる
ので、制御装置6からの出力電圧が無くなるので、加湿
装置7のヒータの加熱が停止して蒸気発生は止まる。こ
の湿度制御部3の働きにより処理装置A内の湿度は、常
に静電気の発生しない適切な湿度にしておくことができ
るので、電子部品の摩擦によって生ずる静電気も直ぐ放
電してしまい、電子部品には帯電しなくなる。
【0020】
【発明の効果】以上に述べたように本発明は、電子部品
を供給する供給装置と、該供給装置により供給された電
子部品を整列分離する分離装置と、該分離装置により整
列分離された電子部品を搬送する搬送装置と、該搬送装
置により搬送された電子部品を検査する検査用装置と、
該検査用装置により検査された電子部品を仕分けする分
類装置からなる電子部品処理装置において、前記電子部
品処理装置を密閉するカバーと、前記電子部品処理装置
内に設置された湿度センサと、該湿度センサに接続され
た湿度制御装置と、該湿度制御装置により制御される湿
度発生装置と、が備えられ、前記電子部品処理装置内に
設置された湿度センサにより前記電子部品処理装置内の
湿度を検出して湿度制御装置に検出信号を送り、該検出
信号に基づき前記湿度制御装置は電子部品処理装置内の
湿度が所定の湿度となるように前記湿度発生装置を作動
制御し、前記電子部品処理装置が所定の湿度に保持され
ることにより、静電気発生を防止することができるの
で、電子部品が処理装置内の供給装置、分離装置、搬送
装置、分類装置等に付着することがなくなり、電子部品
の処理作業をスムーズに行うことができる。また、静電
気が発生がなくなり、半導体部品が静電破壊するという
恐れも解消できる。
を供給する供給装置と、該供給装置により供給された電
子部品を整列分離する分離装置と、該分離装置により整
列分離された電子部品を搬送する搬送装置と、該搬送装
置により搬送された電子部品を検査する検査用装置と、
該検査用装置により検査された電子部品を仕分けする分
類装置からなる電子部品処理装置において、前記電子部
品処理装置を密閉するカバーと、前記電子部品処理装置
内に設置された湿度センサと、該湿度センサに接続され
た湿度制御装置と、該湿度制御装置により制御される湿
度発生装置と、が備えられ、前記電子部品処理装置内に
設置された湿度センサにより前記電子部品処理装置内の
湿度を検出して湿度制御装置に検出信号を送り、該検出
信号に基づき前記湿度制御装置は電子部品処理装置内の
湿度が所定の湿度となるように前記湿度発生装置を作動
制御し、前記電子部品処理装置が所定の湿度に保持され
ることにより、静電気発生を防止することができるの
で、電子部品が処理装置内の供給装置、分離装置、搬送
装置、分類装置等に付着することがなくなり、電子部品
の処理作業をスムーズに行うことができる。また、静電
気が発生がなくなり、半導体部品が静電破壊するという
恐れも解消できる。
【図1】図1は、本発明の電子部品処理装置における静
電気対策方法を示す模式図である。
電気対策方法を示す模式図である。
【図2】図1の静電気対策を施した電子部品処理装置の
全体図である。
全体図である。
【図3】図2の電子部品処理装置の各装置の配置を示す
平面図である。
平面図である。
【図4】図2の電子部品処理装置のカバーを開けた状態
の側面図である。
の側面図である。
【図5】従来の電子部品処理装置の構成を示す平面図で
ある。
ある。
A 電子部品の処理装置 1 処理装置本体 2 カバー部 3 湿度制御部 4 ケース 5 湿度センサ 6 湿度制御装置 7 加湿装置 8 車輪 9 スタンド 10 供給装置 20 分離装置 30 搬送装置 40 検査装置 50 分類装置
Claims (1)
- 【請求項1】 電子部品を供給する供給装置と、該供給
装置により供給された電子部品を整列分離する分離装置
と、該分離装置により整列分離された電子部品を搬送す
る搬送装置と、該搬送装置により搬送された電子部品を
検査する検査用装置と、該検査用装置により検査された
電子部品を仕分けする分類装置からなる電子部品処理装
置において、 前記電子部品処理装置を密閉するカバーと、前記電子部
品処理装置内に設置された湿度センサと、該湿度センサ
に接続された湿度制御装置と、該湿度制御装置により制
御される湿度発生装置と、が備えられ、 前記電子部品処理装置内に設置された湿度センサにより
前記電子部品処理装置内の湿度を検出して湿度制御装置
に検出信号を送り、該検出信号に基づき前記湿度制御装
置は電子部品処理装置内の湿度が所定の湿度となるよう
に前記湿度発生装置を作動制御し、前記電子部品処理装
置を所定の湿度に保持することを特徴とする電子部品処
理装置における静電気対策方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17370696A JPH1022090A (ja) | 1996-07-03 | 1996-07-03 | 電子部品処理装置における静電気対策方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17370696A JPH1022090A (ja) | 1996-07-03 | 1996-07-03 | 電子部品処理装置における静電気対策方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1022090A true JPH1022090A (ja) | 1998-01-23 |
Family
ID=15965630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17370696A Pending JPH1022090A (ja) | 1996-07-03 | 1996-07-03 | 電子部品処理装置における静電気対策方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1022090A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016506018A (ja) * | 2012-11-28 | 2016-02-25 | イーエスディー テクノロジー コンサルティング アンド ライセンシング シーオー.,エルティーディー | 空気流コントローラおよび静電荷低減システム |
KR101961820B1 (ko) * | 2017-11-10 | 2019-03-25 | 주식회사 미르기술 | 비전검사장비 유지보수 예측 시스템 |
WO2020110871A1 (ja) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | 株式会社金星 | ガス搬送式微粉体定量供給方法およびシステム |
-
1996
- 1996-07-03 JP JP17370696A patent/JPH1022090A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016506018A (ja) * | 2012-11-28 | 2016-02-25 | イーエスディー テクノロジー コンサルティング アンド ライセンシング シーオー.,エルティーディー | 空気流コントローラおよび静電荷低減システム |
KR101961820B1 (ko) * | 2017-11-10 | 2019-03-25 | 주식회사 미르기술 | 비전검사장비 유지보수 예측 시스템 |
WO2020110871A1 (ja) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | 株式会社金星 | ガス搬送式微粉体定量供給方法およびシステム |
US11554925B2 (en) | 2018-11-26 | 2023-01-17 | Kinboshi Inc. | Method and system for gas transfer type fine powder quantitative feeding |
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