JPH1019740A - 分光分析装置におけるサンプル充填装置 - Google Patents
分光分析装置におけるサンプル充填装置Info
- Publication number
- JPH1019740A JPH1019740A JP8191480A JP19148096A JPH1019740A JP H1019740 A JPH1019740 A JP H1019740A JP 8191480 A JP8191480 A JP 8191480A JP 19148096 A JP19148096 A JP 19148096A JP H1019740 A JPH1019740 A JP H1019740A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- case
- hopper
- measurement
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構造を用いることで、試料ケース内へ
の試料の供給を自動化して作業を簡略化し、また、容易
に試料ケース内の試料の密度を均一にすることによっ
て、これまで密度の不均一によって生じていた測定誤差
を、極力少なくすることができる分光分析装置における
サンプル充填装置を提供する。 【構成】 ホッパの内側に、開閉シャッタを下部に備え
た試料投入口を設け、前記ホッパに連通した試料ケース
下部には、試料ケース内の試料を一定量ずつ排出する排
出バルブを設ける。また前記試料投入口のシャッタに
は、駆動装置によって開閉するカットゲートシャッタを
用い、そして前記試料ケース内に光が入射してこないよ
うに前記ホッパと該試料投入口との上端部を接合し、そ
して前記排出バルブには、バルブの回転軸を中心として
複数の羽根を放射状に取り付けて、羽根間に試料を収容
する空室を形成したバルブを使用する。
の試料の供給を自動化して作業を簡略化し、また、容易
に試料ケース内の試料の密度を均一にすることによっ
て、これまで密度の不均一によって生じていた測定誤差
を、極力少なくすることができる分光分析装置における
サンプル充填装置を提供する。 【構成】 ホッパの内側に、開閉シャッタを下部に備え
た試料投入口を設け、前記ホッパに連通した試料ケース
下部には、試料ケース内の試料を一定量ずつ排出する排
出バルブを設ける。また前記試料投入口のシャッタに
は、駆動装置によって開閉するカットゲートシャッタを
用い、そして前記試料ケース内に光が入射してこないよ
うに前記ホッパと該試料投入口との上端部を接合し、そ
して前記排出バルブには、バルブの回転軸を中心として
複数の羽根を放射状に取り付けて、羽根間に試料を収容
する空室を形成したバルブを使用する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、分光計を用いて、穀粒
等の成分、品質分析を行う分光分析装置に係り、特に、
分光分析装置におけるサンプル充填装置に関する。
等の成分、品質分析を行う分光分析装置に係り、特に、
分光分析装置におけるサンプル充填装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の分光分析装置を用いて、
穀粒等の成分、品質分析を行うためのサンプル充填装置
には、試料を試料容器に詰め込んだ後、これを分光分析
装置の測定位置にセットして測定を行うものがあるが、
これには、測定者が試料を試料容器に詰める作業を行わ
ねばならず、手間がかかった。また、測定者によって試
料の詰め方に個人差があるので、測定結果に誤差が生じ
ることがあった。
穀粒等の成分、品質分析を行うためのサンプル充填装置
には、試料を試料容器に詰め込んだ後、これを分光分析
装置の測定位置にセットして測定を行うものがあるが、
これには、測定者が試料を試料容器に詰める作業を行わ
ねばならず、手間がかかった。また、測定者によって試
料の詰め方に個人差があるので、測定結果に誤差が生じ
ることがあった。
【０００３】図５に示すように上記の問題点を解決する
目的で、試料容器３２内における試料の密度の不均一に
よる測定誤差を少なくするために、光源３１から放射さ
れた光を試料容器３２の試料に集光させ、その試料に対
して断続的に複数段階にわたって光軸を垂直方向に移動
させ、その断続的移動中の各静止段階において光学的測
定値を検出し、それら複数段階における複数個の測定値
の平均値をもって試料に対する測定値として採用するも
の（特開平８−４３２９９）が発明されたが、これに
は、試料容器３２内の試料の密度が不均一のまま複数段
階にわたって測定を行うので、検出された複数の測定値
に大きな誤差を生じる。よってこの装置は、誤差の大き
い複数の測定値を平均して測定結果を検出するので、精
度の良い測定結果を検出できるものとはいえなかった。
目的で、試料容器３２内における試料の密度の不均一に
よる測定誤差を少なくするために、光源３１から放射さ
れた光を試料容器３２の試料に集光させ、その試料に対
して断続的に複数段階にわたって光軸を垂直方向に移動
させ、その断続的移動中の各静止段階において光学的測
定値を検出し、それら複数段階における複数個の測定値
の平均値をもって試料に対する測定値として採用するも
の（特開平８−４３２９９）が発明されたが、これに
は、試料容器３２内の試料の密度が不均一のまま複数段
階にわたって測定を行うので、検出された複数の測定値
に大きな誤差を生じる。よってこの装置は、誤差の大き
い複数の測定値を平均して測定結果を検出するので、精
度の良い測定結果を検出できるものとはいえなかった。
【０００４】また、試料容器への試料の充填を自動化す
るために、透明部材で形成された試料容器の上部にろう
と状のホッパを設け、該ホッパ下部にスライド式シャッ
タを設けて該試料容器への試料の供給を行うようにした
サンプル充填装置は、試料容器への試料の供給を止める
ためにシャッタを閉じていくと、シャッタがスライド式
のため試料を挟んでしまい、シャッタが完全に閉じない
状態になるということがあった。
るために、透明部材で形成された試料容器の上部にろう
と状のホッパを設け、該ホッパ下部にスライド式シャッ
タを設けて該試料容器への試料の供給を行うようにした
サンプル充填装置は、試料容器への試料の供給を止める
ためにシャッタを閉じていくと、シャッタがスライド式
のため試料を挟んでしまい、シャッタが完全に閉じない
状態になるということがあった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】以上のことから、本発
明は、簡単な構造を用いることで、試料ケース内への試
料の供給を自動化して作業を簡略化し、また、容易に試
料ケース内の試料の密度を均一にすることによって、こ
れまで密度の不均一によって生じていた測定誤差を、極
力少なくすることができる分光分析装置におけるサンプ
ル充填装置を提供することを技術的課題とする。
明は、簡単な構造を用いることで、試料ケース内への試
料の供給を自動化して作業を簡略化し、また、容易に試
料ケース内の試料の密度を均一にすることによって、こ
れまで密度の不均一によって生じていた測定誤差を、極
力少なくすることができる分光分析装置におけるサンプ
ル充填装置を提供することを技術的課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記問題点を解決するた
め、本発明は、ホッパの内側に、開閉シャッタを下部に
備えた試料投入口を設け、前記ホッパに連通した試料ケ
ース下部には、試料ケース内の試料を一定量ずつ排出す
る排出バルブを設ける、という技術的手段を講じた。
め、本発明は、ホッパの内側に、開閉シャッタを下部に
備えた試料投入口を設け、前記ホッパに連通した試料ケ
ース下部には、試料ケース内の試料を一定量ずつ排出す
る排出バルブを設ける、という技術的手段を講じた。
【０００７】また、前記試料投入口のシャッタには、駆
動装置によって開閉するカットゲートシャッタを用いる
とともに、前記試料ケース内に光が入射してこないよう
に前記ホッパと該試料投入口との上端部を接合し、そし
て、前記排出バルブには、バルブの回転軸を中心として
複数の羽根を放射状に取り付けて、羽根間に試料を収容
する空室を形成したバルブを使用することにより、前記
手段がより効果的になる。
動装置によって開閉するカットゲートシャッタを用いる
とともに、前記試料ケース内に光が入射してこないよう
に前記ホッパと該試料投入口との上端部を接合し、そし
て、前記排出バルブには、バルブの回転軸を中心として
複数の羽根を放射状に取り付けて、羽根間に試料を収容
する空室を形成したバルブを使用することにより、前記
手段がより効果的になる。
【０００８】
【作用】ホッパに試料を投入し終えると、試料投入口の
シャッタが一定時間開き、試料がホッパに連通した試料
ケース内に充填される。このとき、シャッタは、駆動装
置によって開閉するカットゲートシャッタを用いている
ので、万一途中でシャッタを閉じても試料のかみ込みに
よるシャッタの中途停止はありえない。ところで、前記
ホッパと試料投入口との上端部を接合することで、前記
試料ケース内を遮光して測定部に余計な光が入射するの
を防いで測定誤差が生じないようにしている。また、試
料ケースの下層部と上層部とでは、試料の堆積高さの違
いから、最下層部の密度が高く、上層部は比較的密度が
低くなり平均的に安定しているという現象が生じる。ま
た、測定を正確に行うためには複数箇所における測定が
必要であるが、前記のように上下層で密度が異なれば、
それだけで誤差が発生する要因にもなる。これらのこと
は、試験を行った結果わかった。
シャッタが一定時間開き、試料がホッパに連通した試料
ケース内に充填される。このとき、シャッタは、駆動装
置によって開閉するカットゲートシャッタを用いている
ので、万一途中でシャッタを閉じても試料のかみ込みに
よるシャッタの中途停止はありえない。ところで、前記
ホッパと試料投入口との上端部を接合することで、前記
試料ケース内を遮光して測定部に余計な光が入射するの
を防いで測定誤差が生じないようにしている。また、試
料ケースの下層部と上層部とでは、試料の堆積高さの違
いから、最下層部の密度が高く、上層部は比較的密度が
低くなり平均的に安定しているという現象が生じる。ま
た、測定を正確に行うためには複数箇所における測定が
必要であるが、前記のように上下層で密度が異なれば、
それだけで誤差が発生する要因にもなる。これらのこと
は、試験を行った結果わかった。
【０００９】さて、試料ケースに試料を投入し終える
か、あるいは、一定時間後にシャッタが閉じ、前記試料
ケース下部に設けた排出バルブが回転を開始して、試料
ケース最下層部分の試料を排出する。このように、最下
層にある比較的密度の高い部分の試料を先に排出するこ
とにより、比較的密度が低く安定している層が下りてく
るので、試料ケース内の試料の密度を均一にすることが
できる。そして排出バルブが停止すると、光源から照射
される拡散光をレンズによって集束し、その集束した光
が校正フィルタを通過して校正される。そして、試料ケ
ース側面にはめ込まれ、透明部材で形成された照射窓に
校正された光を照射し、照射窓部分に位置する試料間を
透過した光を受光装置で受光して測定値を検出する。
か、あるいは、一定時間後にシャッタが閉じ、前記試料
ケース下部に設けた排出バルブが回転を開始して、試料
ケース最下層部分の試料を排出する。このように、最下
層にある比較的密度の高い部分の試料を先に排出するこ
とにより、比較的密度が低く安定している層が下りてく
るので、試料ケース内の試料の密度を均一にすることが
できる。そして排出バルブが停止すると、光源から照射
される拡散光をレンズによって集束し、その集束した光
が校正フィルタを通過して校正される。そして、試料ケ
ース側面にはめ込まれ、透明部材で形成された照射窓に
校正された光を照射し、照射窓部分に位置する試料間を
透過した光を受光装置で受光して測定値を検出する。
【００１０】１回目の測定が終了すると、排出バルブが
ある角度（たとえば９０度）回転し、排出バルブにたま
っている試料を排出する。このとき前記排出バルブは、
バルブの回転軸を中心として複数の羽根を放射状に取り
付けて、羽根間に試料を収容する空室を形成しているの
で、該空室には一定量の試料が常に充填されている。し
たがって、前記排出バルブはいつでも一定量の試料を排
出することができる。このような定量の排出作業によっ
て、測定部位に位置していた試料が落下していき試料ケ
ース上層の試料が徐々に落下してくる。このような定量
の排出作業が終了すると、前回と同様に試料の測定を行
う。これらの作業を数回繰り返した後、得られた数個の
測定値を平均して測定結果を検出するとともに、試料ケ
ース内の全ての試料を排出して測定作業を終了する。
ある角度（たとえば９０度）回転し、排出バルブにたま
っている試料を排出する。このとき前記排出バルブは、
バルブの回転軸を中心として複数の羽根を放射状に取り
付けて、羽根間に試料を収容する空室を形成しているの
で、該空室には一定量の試料が常に充填されている。し
たがって、前記排出バルブはいつでも一定量の試料を排
出することができる。このような定量の排出作業によっ
て、測定部位に位置していた試料が落下していき試料ケ
ース上層の試料が徐々に落下してくる。このような定量
の排出作業が終了すると、前回と同様に試料の測定を行
う。これらの作業を数回繰り返した後、得られた数個の
測定値を平均して測定結果を検出するとともに、試料ケ
ース内の全ての試料を排出して測定作業を終了する。
【００１１】
【実施例】図１において、符号１は、ホッパ２に試料を
投入し、該ホッパ２に連通した試料ケース７に試料を落
下させて充填し、該試料ケース７に所要の波長の光を照
射して、試料を透過した透過光または反射光を測定する
分光分析装置であり、その構成は、該分光分析装置１の
上部に供給部４１を設け、該供給部４１の下部に測定部
４２を設け、該測定部４２を挟んで平行方向一方に受光
部４３と他方に光源部４４とを設け、測定部４２の下部
には排出部４５を設けたものである。
投入し、該ホッパ２に連通した試料ケース７に試料を落
下させて充填し、該試料ケース７に所要の波長の光を照
射して、試料を透過した透過光または反射光を測定する
分光分析装置であり、その構成は、該分光分析装置１の
上部に供給部４１を設け、該供給部４１の下部に測定部
４２を設け、該測定部４２を挟んで平行方向一方に受光
部４３と他方に光源部４４とを設け、測定部４２の下部
には排出部４５を設けたものである。
【００１２】次に、各構成部の説明をする。図２及び図
３に示す前記供給部４１は、ホッパ２、試料投入口３、
カットゲートシャッタ５、そして防音材６から構成され
ている。該ホッパ２はじょうご形状をしていて、その内
側には測定する試料を投入する試料投入口３を設けてい
る。該試料投入口３の下部には駆動装置たとえばソレノ
イド４によって開閉するカットゲートシャッタ５を設
け、更に、該カットゲートシャッタ５の開閉時に生じる
金属音を防止する防音材６を前記試料投入口３の斜面外
側に設ける。また、前記ホッパ２と試料投入口３とは、
その上端部を接合している。また図２に示す破線は、該
カットゲートシャッタ５が開いている状態を示してい
る。
３に示す前記供給部４１は、ホッパ２、試料投入口３、
カットゲートシャッタ５、そして防音材６から構成され
ている。該ホッパ２はじょうご形状をしていて、その内
側には測定する試料を投入する試料投入口３を設けてい
る。該試料投入口３の下部には駆動装置たとえばソレノ
イド４によって開閉するカットゲートシャッタ５を設
け、更に、該カットゲートシャッタ５の開閉時に生じる
金属音を防止する防音材６を前記試料投入口３の斜面外
側に設ける。また、前記ホッパ２と試料投入口３とは、
その上端部を接合している。また図２に示す破線は、該
カットゲートシャッタ５が開いている状態を示してい
る。
【００１３】図１及び図４に示す前記測定部４２は、試
料ケース７、照射窓８、そしてセンサ９から構成されて
いる。試料ケース７の上部は前記ホッパ２の下部と連通
していて、該試料ケース７の形状は円形もしくは楕円形
横断面または矩形または正方形横断面をしている。そし
て、前記試料ケース７の側面中央部には、透明部材例え
ばガラスで形成されている照射窓８が対向するようには
め込まれている。また、前記試料ケース７側面の上部と
下部とには、試料の詰まり具合を検知するセンサ９がそ
れぞれ設けてある。
料ケース７、照射窓８、そしてセンサ９から構成されて
いる。試料ケース７の上部は前記ホッパ２の下部と連通
していて、該試料ケース７の形状は円形もしくは楕円形
横断面または矩形または正方形横断面をしている。そし
て、前記試料ケース７の側面中央部には、透明部材例え
ばガラスで形成されている照射窓８が対向するようには
め込まれている。また、前記試料ケース７側面の上部と
下部とには、試料の詰まり具合を検知するセンサ９がそ
れぞれ設けてある。
【００１４】同じく図１及び図４に示す前記受光部４３
は、試料間を透過して前記照射窓８Ｂを介して受光部４
３に入射してくる透過光を受光し測定を行う受光装置２
１から構成されている。該受光装置２１は、前記試料ケ
ース７中央側面にはめ込まれた前記照射窓８Ｂを囲むよ
うして試料ケース７の外側に設けられている。
は、試料間を透過して前記照射窓８Ｂを介して受光部４
３に入射してくる透過光を受光し測定を行う受光装置２
１から構成されている。該受光装置２１は、前記試料ケ
ース７中央側面にはめ込まれた前記照射窓８Ｂを囲むよ
うして試料ケース７の外側に設けられている。
【００１５】図１に示す前記光源部４４は、筒体部４
６、フィルタ部４７、そして光源体４８によって構成さ
れている。前記筒体部４６は、筒体１０と拡散レンズ２
０とで形成されている。筒体１０は、照射窓８Ａを囲む
ように前記試料ケース７に接続して、該照射窓８Ａへの
光路を形成し、更に、該光路は照射窓８Ａに対して光が
垂直に入射するように設けられている。また、拡散レン
ズ２０は、フィルタを通過した所要の波長の集束光を、
前記照射窓８Ａ全体に照射するために前記光路上に設け
られている。
６、フィルタ部４７、そして光源体４８によって構成さ
れている。前記筒体部４６は、筒体１０と拡散レンズ２
０とで形成されている。筒体１０は、照射窓８Ａを囲む
ように前記試料ケース７に接続して、該照射窓８Ａへの
光路を形成し、更に、該光路は照射窓８Ａに対して光が
垂直に入射するように設けられている。また、拡散レン
ズ２０は、フィルタを通過した所要の波長の集束光を、
前記照射窓８Ａ全体に照射するために前記光路上に設け
られている。
【００１６】前記フィルタ部４７は、複数のフィルタを
その円周に備えた円板１６Ａ、Ｂと、これらの円板１６
Ａ、Ｂを駆動させるモータ１７Ａ、Ｂとで形成されてい
る。円板１６Ａには、円板の円周方向に複数のＮＤフィ
ルタ１４を、同様に円板１６Ｂには、複数のバンドパス
フィルタ１５がそれぞれ備えられている。前記ＮＤフィ
ルタ１４は、光学系と光検出回路の校正のために利用さ
れるとともに、検出器へ強い光がそのまま入射しないよ
うに作用するものである。また、バンドパスフィルタ１
５は、所要の波長だけを透過させるものである。また、
前記円板１６Ａ、Ｂの中心には、円板１６Ａ、Ｂを駆動
させるモータ１７Ａ、Ｂの軸１８Ａ、Ｂが直結してあ
る。また、該モータ１７Ａ、Ｂにエンコーダ１９Ａ、Ｂ
を設けて、モータ１７Ａ、Ｂの回転を制御することで前
記円板１６Ａ、Ｂに備えた複数のフィルタの切り換えを
行う。そして、２種類の前記フィルタが、集光レンズ１
３で集束された光の光路上に位置し、かつ、前記筒体部
４６と光源体４８との間となるように前記フィルタ部４
７を配置する。
その円周に備えた円板１６Ａ、Ｂと、これらの円板１６
Ａ、Ｂを駆動させるモータ１７Ａ、Ｂとで形成されてい
る。円板１６Ａには、円板の円周方向に複数のＮＤフィ
ルタ１４を、同様に円板１６Ｂには、複数のバンドパス
フィルタ１５がそれぞれ備えられている。前記ＮＤフィ
ルタ１４は、光学系と光検出回路の校正のために利用さ
れるとともに、検出器へ強い光がそのまま入射しないよ
うに作用するものである。また、バンドパスフィルタ１
５は、所要の波長だけを透過させるものである。また、
前記円板１６Ａ、Ｂの中心には、円板１６Ａ、Ｂを駆動
させるモータ１７Ａ、Ｂの軸１８Ａ、Ｂが直結してあ
る。また、該モータ１７Ａ、Ｂにエンコーダ１９Ａ、Ｂ
を設けて、モータ１７Ａ、Ｂの回転を制御することで前
記円板１６Ａ、Ｂに備えた複数のフィルタの切り換えを
行う。そして、２種類の前記フィルタが、集光レンズ１
３で集束された光の光路上に位置し、かつ、前記筒体部
４６と光源体４８との間となるように前記フィルタ部４
７を配置する。
【００１７】前記光源体４８は、ハロゲンランプ１１、
冷却フィン１２、そして集光レンズ１３で形成されてい
る。光源としてのハロゲンランプ１１を前記試料ケース
７に向けて設け、該ハロゲンランプ１１の周囲には、ハ
ロゲンランプ１１から発生する熱を拡散する冷却フィン
１２を設け、また、ハロゲンランプ１１から照射される
光を集束するための集光レンズ１３を該ハロゲンランプ
１１と円板１６との間の光路に設けている。
冷却フィン１２、そして集光レンズ１３で形成されてい
る。光源としてのハロゲンランプ１１を前記試料ケース
７に向けて設け、該ハロゲンランプ１１の周囲には、ハ
ロゲンランプ１１から発生する熱を拡散する冷却フィン
１２を設け、また、ハロゲンランプ１１から照射される
光を集束するための集光レンズ１３を該ハロゲンランプ
１１と円板１６との間の光路に設けている。
【００１８】図１及び図４に示す前記排出部４５は、排
出バルブ２５、そして集穀ボックス２６から構成されて
いる。該排出バルブ２５は、駆動装置（図示せず）の回
転軸２２を中心に放射状に取り付けた複数の羽根２３に
よって空室２４を形成するロータリーバルブによって形
成されている。また、前記排出バルブ２５は前記試料ケ
ース７下部に回転自在に設られ、その下方には、排出バ
ルブ２５から排出された試料を貯める集穀ボックス２６
が設けられている。
出バルブ２５、そして集穀ボックス２６から構成されて
いる。該排出バルブ２５は、駆動装置（図示せず）の回
転軸２２を中心に放射状に取り付けた複数の羽根２３に
よって空室２４を形成するロータリーバルブによって形
成されている。また、前記排出バルブ２５は前記試料ケ
ース７下部に回転自在に設られ、その下方には、排出バ
ルブ２５から排出された試料を貯める集穀ボックス２６
が設けられている。
【００１９】なお、本実施例では卓上用の分光分析装置
を示しているが、卓上で使用するだけでなく、試料の粒
径などを測定する分析装置などの後工程に検査器として
取り付けることもできる。
を示しているが、卓上で使用するだけでなく、試料の粒
径などを測定する分析装置などの後工程に検査器として
取り付けることもできる。
【００２０】以下、上記構成における作用について説明
する。
する。
【００２１】試料投入口３に試料を投入する。投入終了
後、一定時間カットゲートシャッタ５が開き、ホッパ２
に連通した試料ケース７に試料が充填される。このとき
該カットゲートシャッタ５が完全に開ききる直前に防音
材６に当たるため、不快な金属音が生じることがない。
後、一定時間カットゲートシャッタ５が開き、ホッパ２
に連通した試料ケース７に試料が充填される。このとき
該カットゲートシャッタ５が完全に開ききる直前に防音
材６に当たるため、不快な金属音が生じることがない。
【００２２】さて、前記試料ケース７に試料を投入し終
えるか、あるいは一定時間後に、前記カットゲートシャ
ッタ５が閉まって排出バルブ２５がたとえば１３５度程
度（羽根２３間によって形成された空室２４の３個分の
角度）回転する。このときも、前記カットゲートシャッ
タ５が完全に閉まる直前に前記防音材６に当たるため、
不快な金属音は生じない。この前記排出バルブ２５の回
転によって、試料の堆積高さの違いから生じていた前記
試料ケース７内の最下層にある比較的密度の高い試料を
集穀ボックス２６内に先に排出して、該試料ケース７内
の上層と下層とで生じていた試料の密度の差をなくして
試料ケース７内の密度を均一にする（図４参照）。ま
た、前記試料ケース７側面の上部と下部とに設けた２個
のセンサ９が、試料ケース７内に測定を行うだけの十分
な試料があるかどうかを検知して、どちらか１つでも検
知しないときは、たとえばエラーメッセージとして試料
を追加するように注意するメッセージをパネル（図示せ
ず）に表示する。そして、エラーメッセージが表示され
なければ、前記試料ケース７内に測定する試料の量が十
分あるということなので測定作業が開始される。
えるか、あるいは一定時間後に、前記カットゲートシャ
ッタ５が閉まって排出バルブ２５がたとえば１３５度程
度（羽根２３間によって形成された空室２４の３個分の
角度）回転する。このときも、前記カットゲートシャッ
タ５が完全に閉まる直前に前記防音材６に当たるため、
不快な金属音は生じない。この前記排出バルブ２５の回
転によって、試料の堆積高さの違いから生じていた前記
試料ケース７内の最下層にある比較的密度の高い試料を
集穀ボックス２６内に先に排出して、該試料ケース７内
の上層と下層とで生じていた試料の密度の差をなくして
試料ケース７内の密度を均一にする（図４参照）。ま
た、前記試料ケース７側面の上部と下部とに設けた２個
のセンサ９が、試料ケース７内に測定を行うだけの十分
な試料があるかどうかを検知して、どちらか１つでも検
知しないときは、たとえばエラーメッセージとして試料
を追加するように注意するメッセージをパネル（図示せ
ず）に表示する。そして、エラーメッセージが表示され
なければ、前記試料ケース７内に測定する試料の量が十
分あるということなので測定作業が開始される。
【００２３】測定作業は、ハロゲンランプ１１から照射
された拡散光が集光レンズ１３によって一定の幅を持つ
光に集束され、その集束された光が、ＮＤフィルタ１４
とバンドパスフィルタ１５とを通過することで所要の波
長の光だけになる。その集束された所要の波長の光が、
拡散レンズ２０によって照射窓８Ａ全体に照射するよう
に拡散される。該照射窓８Ａから前記試料ケース７内に
入射してきた光は試料間を透過し、その透過した光は照
射窓８Ｂを通過して受光装置２１に入射して測定を行
う。このとき、前記試料投入口３とホッパ２との上端部
を接合しているので、前記受光装置２１には、前記ハロ
ゲンランプ１１から照射された光以外のものが入射する
ことはない。
された拡散光が集光レンズ１３によって一定の幅を持つ
光に集束され、その集束された光が、ＮＤフィルタ１４
とバンドパスフィルタ１５とを通過することで所要の波
長の光だけになる。その集束された所要の波長の光が、
拡散レンズ２０によって照射窓８Ａ全体に照射するよう
に拡散される。該照射窓８Ａから前記試料ケース７内に
入射してきた光は試料間を透過し、その透過した光は照
射窓８Ｂを通過して受光装置２１に入射して測定を行
う。このとき、前記試料投入口３とホッパ２との上端部
を接合しているので、前記受光装置２１には、前記ハロ
ゲンランプ１１から照射された光以外のものが入射する
ことはない。
【００２４】１回目の測定が終了すると、測定を行った
照射窓８付近の試料をできるだけ多くの未測定の試料に
入れ換えるために、前記排出バルブ２５を回転させて少
量の試料を集穀ボックス２６内に排出する。このとき、
該排出バルブ２５が９０度回転することによって、前記
照射窓８付近に位置していた多くの試料が前記試料ケー
ス７の下部に落下するので、該照射窓８部分には未測定
の該試料ケース７上層の試料が徐々に落下してくる。こ
のとき前記排出バルブ２５は、その回転軸２２を中心と
して複数の羽根２３を放射状に取り付けて、該羽根２３
間に試料を収容する空室２４を形成することによって、
該空室２４には一定量の試料が常に充填されている。し
たがって、前記排出バルブ２５はいつでも一定量の試料
を排出することができる。そして、このような定量の排
出が終了すると、前回と同様に試料の測定を行う。試料
の測定を例えば３回行った後、その３個の測定値を平均
して測定結果を検出するとともに、前記試料ケース７内
の試料を全て前記集穀ボックス２６に排出して１つの試
料の測定作業を終了する。
照射窓８付近の試料をできるだけ多くの未測定の試料に
入れ換えるために、前記排出バルブ２５を回転させて少
量の試料を集穀ボックス２６内に排出する。このとき、
該排出バルブ２５が９０度回転することによって、前記
照射窓８付近に位置していた多くの試料が前記試料ケー
ス７の下部に落下するので、該照射窓８部分には未測定
の該試料ケース７上層の試料が徐々に落下してくる。こ
のとき前記排出バルブ２５は、その回転軸２２を中心と
して複数の羽根２３を放射状に取り付けて、該羽根２３
間に試料を収容する空室２４を形成することによって、
該空室２４には一定量の試料が常に充填されている。し
たがって、前記排出バルブ２５はいつでも一定量の試料
を排出することができる。そして、このような定量の排
出が終了すると、前回と同様に試料の測定を行う。試料
の測定を例えば３回行った後、その３個の測定値を平均
して測定結果を検出するとともに、前記試料ケース７内
の試料を全て前記集穀ボックス２６に排出して１つの試
料の測定作業を終了する。
【００２５】
【発明の効果】ホッパの内側に、開閉シャッタを下部に
備えた試料投入口を設けたことによって、試料ケースへ
の試料の供給を自動化して作業を簡略化し、また、試料
ケース下部に試料ケース内の試料を一定量ずつ排出する
排出バルブを設けて、比較的密度の高い試料ケース最下
層の試料を排出バルブで排出することで、試料ケースの
上層と下層とで異なっていた試料の密度を均一にするこ
とができ、これまで密度の不均一によって生じていた測
定誤差が極力小さくなり、精度の高い測定結果を得るこ
とができる。
備えた試料投入口を設けたことによって、試料ケースへ
の試料の供給を自動化して作業を簡略化し、また、試料
ケース下部に試料ケース内の試料を一定量ずつ排出する
排出バルブを設けて、比較的密度の高い試料ケース最下
層の試料を排出バルブで排出することで、試料ケースの
上層と下層とで異なっていた試料の密度を均一にするこ
とができ、これまで密度の不均一によって生じていた測
定誤差が極力小さくなり、精度の高い測定結果を得るこ
とができる。
【００２６】そして、試料投入口の下部に設けたシャッ
タに駆動装置によって開閉するカットゲートシャッタを
用いることで、試料を何度でも同じ詰め方で試料ケース
に供給することができるので、これまで測定者によって
生じていた充填ムラがなくなり、また、試料のかみ込み
によるシャッタの停止もなくなりスムーズな測定ができ
る。そして、ホッパと試料投入口とを接合することで、
試料ケース内の遮光性が増すので外部の光が該試料ケー
ス内に入射することによって生じる測定誤差がより小さ
くする。
タに駆動装置によって開閉するカットゲートシャッタを
用いることで、試料を何度でも同じ詰め方で試料ケース
に供給することができるので、これまで測定者によって
生じていた充填ムラがなくなり、また、試料のかみ込み
によるシャッタの停止もなくなりスムーズな測定ができ
る。そして、ホッパと試料投入口とを接合することで、
試料ケース内の遮光性が増すので外部の光が該試料ケー
ス内に入射することによって生じる測定誤差がより小さ
くする。
【００２７】また、回転軸を中心に放射状に取り付けた
複数の羽根によって形成される空室を設けた排出バルブ
を使用することによって、容易に一定量の試料を排出す
ることができる。
複数の羽根によって形成される空室を設けた排出バルブ
を使用することによって、容易に一定量の試料を排出す
ることができる。
【図１】本発明実施例を示す断面図である。
【図２】図１におけるシャッタの開閉状態を示した拡大
断面図である。
断面図である。
【図３】図２の矢印の方向から見たシャッタの拡大図で
ある。
ある。
【図４】試料ケースから試料を排出している状態を示す
拡大断面図である。
拡大断面図である。
【図５】従来の実施例を示す断面図である。
１ 分光分析装置 ２ ホッパ ３ 試料投入口 ４ ソレノイド ５ カットゲートシャッタ ６ 防音材 ７ 試料ケース ８ 照射窓 ８Ａ 照射窓 ８Ｂ 照射窓 ９ センサ １０ 筒体 １１ ハロゲンランプ １２ 冷却フィン １３ 集光レンズ １４ ＮＤフィルタ １５ バンドパスフィルタ １６Ａ 円板 １６Ｂ 円板 １７Ａ モータ １７Ｂ モータ １８Ａ 軸 １８Ｂ 軸 １９Ａ エンコーダ １９Ｂ エンコーダ ２０ 拡散レンズ ２１ 受光装置 ２２ 回転軸 ２３ 羽根 ２４ 空室 ２５ 排出バルブ ２６ 集穀ボックス ３１ 光源 ３２ 試料容器 ４１ 供給部 ４２ 測定部 ４３ 受光部 ４４ 光源部 ４５ 排出部 ４６ 筒体部 ４７ フィルタ部 ４８ 光源体
Claims (4)
- 【請求項１】 ホッパに試料を投入し、該ホッパに連通
した試料ケースに試料を落下させて充填し、該試料ケー
スに所要の波長の光を照射して、試料を透過した透過光
または反射光を測定する分光分析装置において、前記ホ
ッパの内側に、開閉シャッタを下部に備えた試料投入口
を設け、前記試料ケース下部には、試料ケース内の試料
を一定量ずつ排出する排出バルブを設けたことを特徴と
する分光分析装置におけるサンプル充填装置。 - 【請求項２】 前記試料投入口のシャッタは、駆動装置
によって開閉するカットゲートシャッタであることを特
徴とする請求項１記載の分光分析装置におけるサンプル
充填装置。 - 【請求項３】 前記ホッパと該試料投入口とは試料ケー
スを遮光するようその上端部を接合したことを特徴とす
る請求項１記載の分光分析装置におけるサンプル充填装
置。 - 【請求項４】 前記排出バルブは、バルブの回転軸を中
心として複数の羽根を放射状に取り付けて、羽根間に試
料を収容する空室を形成したことを特徴とする請求項１
記載の分光分析装置におけるサンプル充填装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19148096A JP3379340B2 (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 分光分析装置における試料充填装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19148096A JP3379340B2 (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 分光分析装置における試料充填装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1019740A true JPH1019740A (ja) | 1998-01-23 |
| JP3379340B2 JP3379340B2 (ja) | 2003-02-24 |
Family
ID=16275352
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19148096A Expired - Lifetime JP3379340B2 (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 分光分析装置における試料充填装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3379340B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114088929A (zh) * | 2021-10-27 | 2022-02-25 | 中铁三局集团有限公司 | 一种混凝土耐久性测试装置 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5877637A (ja) * | 1981-11-02 | 1983-05-11 | Satake Eng Co Ltd | 連続式穀粒精白度測定装置 |
| JPH01150835A (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-13 | Kanto Kasei Kogyo Kk | 配合飼料の試料採取方法 |
| JPH03269347A (ja) * | 1990-03-15 | 1991-11-29 | Seals Instr Ltd | 電気分光定量分析装置 |
| JPH06207856A (ja) * | 1992-10-09 | 1994-07-26 | Nippon Alum Co Ltd | 粉粒体色調検査装置 |
| JPH07140134A (ja) * | 1994-05-09 | 1995-06-02 | Satake Eng Co Ltd | 米の成分含有率測定装置 |
| JPH0843299A (ja) * | 1994-07-28 | 1996-02-16 | Ket Kagaku Kenkyusho:Kk | 成分分析計の光学的測定装置 |
| JPH1030984A (ja) * | 1996-07-12 | 1998-02-03 | Satake Eng Co Ltd | 分光分析装置 |
-
1996
- 1996-07-01 JP JP19148096A patent/JP3379340B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5877637A (ja) * | 1981-11-02 | 1983-05-11 | Satake Eng Co Ltd | 連続式穀粒精白度測定装置 |
| JPH01150835A (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-13 | Kanto Kasei Kogyo Kk | 配合飼料の試料採取方法 |
| JPH03269347A (ja) * | 1990-03-15 | 1991-11-29 | Seals Instr Ltd | 電気分光定量分析装置 |
| JPH06207856A (ja) * | 1992-10-09 | 1994-07-26 | Nippon Alum Co Ltd | 粉粒体色調検査装置 |
| JPH07140134A (ja) * | 1994-05-09 | 1995-06-02 | Satake Eng Co Ltd | 米の成分含有率測定装置 |
| JPH0843299A (ja) * | 1994-07-28 | 1996-02-16 | Ket Kagaku Kenkyusho:Kk | 成分分析計の光学的測定装置 |
| JPH1030984A (ja) * | 1996-07-12 | 1998-02-03 | Satake Eng Co Ltd | 分光分析装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114088929A (zh) * | 2021-10-27 | 2022-02-25 | 中铁三局集团有限公司 | 一种混凝土耐久性测试装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3379340B2 (ja) | 2003-02-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7634053B2 (en) | Fluorescent X-ray analysis apparatus | |
| JPH09178658A (ja) | 近赤外線透過スペクトル計測装置および錠剤の近赤外線透過測定用器具 | |
| JP2000199743A (ja) | 対象物内部品質測定装置 | |
| US4696024A (en) | Method and apparatus for detecting flaws in single crystal test samples | |
| US5978442A (en) | Fluorescent x-ray spectroscopes | |
| FR2704067A1 (fr) | Procédé et dispositif d'étalonnage en énergie d'un ensemble de détection électronique des rayonnements bêta et/ou photons X et gamma à distribution compton émis par un aérosol radioactif. | |
| JPH1019740A (ja) | 分光分析装置におけるサンプル充填装置 | |
| JPH0252980B2 (ja) | ||
| GB2453633A (en) | An x-ray diffraction measuring system incorporating a debye-scherrer optical system | |
| JP4677217B2 (ja) | サンプル検査方法、サンプル検査装置、マイクロエレクトロニックデバイス製造用クラスタツール、マイクロエレクトロニックデバイス製造用装置 | |
| JP2008051822A (ja) | 化学分析装置 | |
| EP0766083A2 (en) | X-ray fluorescence inspection apparatus and method | |
| CA2098465A1 (en) | Sample evaluation by dust measuring | |
| US5120965A (en) | Apparatus and method for inverse photoemission | |
| JP3012450B2 (ja) | 分光分析装置 | |
| JP2003149157A (ja) | 化学分析装置 | |
| JPS58143254A (ja) | 物質同定装置 | |
| JPS6082835A (ja) | 自動光熱分光測定装置 | |
| KR20040039294A (ko) | 작은 입자를 조사하여 입자의 품질을 분석하기 위한 방법및 장치 | |
| JP3949850B2 (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| GB2121168A (en) | X-ray device | |
| JP5088940B2 (ja) | 農産物の内部品質測定装置 | |
| JP2001133420A (ja) | 全反射蛍光ｘ線分析方法および装置 | |
| JP3116805B2 (ja) | Ｘ線回折装置 | |
| RU2322659C2 (ru) | Установка для автоматического радиоизотопного определения плотности топливных таблеток и их разбраковки |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081213 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081213 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091213 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091213 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091213 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101213 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101213 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111213 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111213 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121213 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121213 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131213 Year of fee payment: 11 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |