JPS5877637A - 連続式穀粒精白度測定装置 - Google Patents
連続式穀粒精白度測定装置Info
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- JPS5877637A JPS5877637A JP17455281A JP17455281A JPS5877637A JP S5877637 A JPS5877637 A JP S5877637A JP 17455281 A JP17455281 A JP 17455281A JP 17455281 A JP17455281 A JP 17455281A JP S5877637 A JPS5877637 A JP S5877637A
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- JP
- Japan
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- sample
- shutter
- polishing degree
- feeder
- grain
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、穀粒、主として米粒の精白度を測定する装
置に関するものである。
置に関するものである。
一般に、米粒は精米機で搗精することにより、除糠され
、白くなるが、従来からその白さの度合いをもって搗精
率すなわち、精白度として表示していた。そして、従来
の０度測定装置では、鏡体よりなる積分球下部に試料皿
をおき、そこに測定する精米を載せ、積分球上部から精
米に熱線吸収フィルター、単色光フィルターを透過し、
集光レンズで集められた光を照射し、精米からの反射光
を積分球側部に設けた受光素子に集め、増幅器で増幅し
て反射光を測定し、０度とじていた。
、白くなるが、従来からその白さの度合いをもって搗精
率すなわち、精白度として表示していた。そして、従来
の０度測定装置では、鏡体よりなる積分球下部に試料皿
をおき、そこに測定する精米を載せ、積分球上部から精
米に熱線吸収フィルター、単色光フィルターを透過し、
集光レンズで集められた光を照射し、精米からの反射光
を積分球側部に設けた受光素子に集め、増幅器で増幅し
て反射光を測定し、０度とじていた。
ところで精米機には、研削式精米機と、摩擦式精米機が
あり、肉眼で観察すると、研削式精米機の搗精作用を増
加させた精白米に比較して摩擦式精米機の搗精作用を増
加させた精白米の方が透明感、つや感が優れている。す
なわち、研削式精米機では、研削ロールと米粒との摩擦
により搗精を行うため、搗精米は表面に研削ロールによ
る傷が多くついて粗面となっているのにたいして、摩擦
式精米機では、米粒の相互摩擦作用により搗精を行うた
め、搗精米の表面は、滑らかになっている。
あり、肉眼で観察すると、研削式精米機の搗精作用を増
加させた精白米に比較して摩擦式精米機の搗精作用を増
加させた精白米の方が透明感、つや感が優れている。す
なわち、研削式精米機では、研削ロールと米粒との摩擦
により搗精を行うため、搗精米は表面に研削ロールによ
る傷が多くついて粗面となっているのにたいして、摩擦
式精米機では、米粒の相互摩擦作用により搗精を行うた
め、搗精米の表面は、滑らかになっている。
従来の白度計は、試料からの反射光を測定して０度とす
るため、清かな表面より、粗い表面の方が光の乱反射が
多く、０度は高い値を示す傾向にあり、清らかな表面の
方は、反射する光に対して透過する光の量が多いので、
０度は低い値を示す傾向にあった。すなわち、反射光を
０度とする測定力では、表面が滑らかに搗精された精白
米の場合は、光の反射率に比して透過率が大となるため
、正確な値を測定することはできなかった。
るため、清かな表面より、粗い表面の方が光の乱反射が
多く、０度は高い値を示す傾向にあり、清らかな表面の
方は、反射する光に対して透過する光の量が多いので、
０度は低い値を示す傾向にあった。すなわち、反射光を
０度とする測定力では、表面が滑らかに搗精された精白
米の場合は、光の反射率に比して透過率が大となるため
、正確な値を測定することはできなかった。
これに対して、本発明者は、試料の反射光と透過光とを
測定することにより、正確な精白度を得る穀粒精白度測
定装置を提供した。
測定することにより、正確な精白度を得る穀粒精白度測
定装置を提供した。
しかし、この穀粒精白度測定装置は、静止状態の穀粒に
対してのみその精白度を測定するため、連続して流動す
る穀粒の精白度を刻々と測定することができない欠点が
あった。
対してのみその精白度を測定するため、連続して流動す
る穀粒の精白度を刻々と測定することができない欠点が
あった。
そこでこの発明は、上記欠点を解消し、精白度を試料の
反射光だけで測定するのではなく、透過光も測定し、両
者を合わせて精白度とすることにより、より正確な精白
度を得るとともに流動する穀粒の精白度を刻々と連続し
て測定することができる穀粒精白度測定装置を提供する
ことを目的とするものである。
反射光だけで測定するのではなく、透過光も測定し、両
者を合わせて精白度とすることにより、より正確な精白
度を得るとともに流動する穀粒の精白度を刻々と連続し
て測定することができる穀粒精白度測定装置を提供する
ことを目的とするものである。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳述する。
第１図の１は、内面を鏡とした積分球であり、右側には
検出部チャンバー２が、その反対側には、集光レンズ３
が設けられており、該集光レンズ３の左方には、光源ラ
ンプ４．熱線吸収フィルター５、単色光フィルター６が
設けられ、光源ランプ４、熱線吸収フィルター５．単色
光フィルター６及び集光レンズ３により光源装置が形成
されている。７は入光シャッターである。
検出部チャンバー２が、その反対側には、集光レンズ３
が設けられており、該集光レンズ３の左方には、光源ラ
ンプ４．熱線吸収フィルター５、単色光フィルター６が
設けられ、光源ランプ４、熱線吸収フィルター５．単色
光フィルター６及び集光レンズ３により光源装置が形成
されている。７は入光シャッターである。
前記検出部チャンバー２の光源装置の反対側には試料か
らの透過光を捕える透過光測定装置となる透過光受光素
子８を設けて、該透過光受光素子８を増幅器９に接続す
る。
らの透過光を捕える透過光測定装置となる透過光受光素
子８を設けて、該透過光受光素子８を増幅器９に接続す
る。
また、前記光源装置と透過光受光素子８とを結ぶ線を横
切る方向である積分球１の下部には、試料からの反射光
を捕える反射光測定装置となる反射光受光素子８′を設
け、該反射光受光素子８′を増幅器９′に接続する。
切る方向である積分球１の下部には、試料からの反射光
を捕える反射光測定装置となる反射光受光素子８′を設
け、該反射光受光素子８′を増幅器９′に接続する。
そして、前記画壇幅器９．９′は各々アナログデジタル
書換装置（以下Ａ−Ｄ変換装置と略す。）１０．１０’
を介して演算装Ｗ１１１に接続し、さらに精白度デジ
タル表示計１２に連結する。図中、１３は増幅Ｉ！９′
に接続された反射度デジタル表示計、１４は増幅器９に
接続された透過度デジタル表示計、１５は定電圧装置で
ある。
書換装置（以下Ａ−Ｄ変換装置と略す。）１０．１０’
を介して演算装Ｗ１１１に接続し、さらに精白度デジ
タル表示計１２に連結する。図中、１３は増幅Ｉ！９′
に接続された反射度デジタル表示計、１４は増幅器９に
接続された透過度デジタル表示計、１５は定電圧装置で
ある。
また、１６は、反射光受光素子暗電流の測定値を記憶す
る記憶回路、１７は、標柱２０に設けた基準白板の０度
が基準０度となるよう増幅器９′の増幅率を変化させ一
致させる比較回路である。
る記憶回路、１７は、標柱２０に設けた基準白板の０度
が基準０度となるよう増幅器９′の増幅率を変化させ一
致させる比較回路である。
なお、暗電流を取り除く減算回路は前記演算装置１１に
含まれる。
含まれる。
第２図及び第３図に示すように、試料が流れる前記検出
部チャンバー２の積分球１例の面及びその反対面は石英
ガラス１８で構成され、検出部チャンバー２の他の一側
面には開口部を設け、該開口部から試料流路内に、先端
にクリーナー１９を取りつけた標柱２０を出入自在に挿
入する。２１は、標柱２０の出入を案内するガイドであ
る。
部チャンバー２の積分球１例の面及びその反対面は石英
ガラス１８で構成され、検出部チャンバー２の他の一側
面には開口部を設け、該開口部から試料流路内に、先端
にクリーナー１９を取りつけた標柱２０を出入自在に挿
入する。２１は、標柱２０の出入を案内するガイドであ
る。
前記標柱２０の一側面には、精白度を測定する場合、基
準となる０度を設定するための基準白板２２が取りつけ
てあり゛、該標柱２０はクリーナー駆動モータ２３によ
り、試料流路に対して直角方向に出入する。２４．２５
は、リミットスイッチであり、標柱２０はその側面に設
けた基準白板２２が透過光受光素子８の前面に達するま
で挿入されるとリミットスイッチ２４の接片に当たり、
クリーナー駆動モータ２３を停止させ、クリーナー駆動
モータ２３を逆転させて標柱２０を後退させ、標柱先端
が前記開口部まで後退すると、リミットスイッチ２５の
接片に当たってモータ２３の作動が止まる。
準となる０度を設定するための基準白板２２が取りつけ
てあり゛、該標柱２０はクリーナー駆動モータ２３によ
り、試料流路に対して直角方向に出入する。２４．２５
は、リミットスイッチであり、標柱２０はその側面に設
けた基準白板２２が透過光受光素子８の前面に達するま
で挿入されるとリミットスイッチ２４の接片に当たり、
クリーナー駆動モータ２３を停止させ、クリーナー駆動
モータ２３を逆転させて標柱２０を後退させ、標柱先端
が前記開口部まで後退すると、リミットスイッチ２５の
接片に当たってモータ２３の作動が止まる。
前記検出部チャンバー２の上下口には、投入シャッター
２６及び排出シャッター２７をシャッター駆動モータ（
図示せず）により、開閉自在に設ける。
２６及び排出シャッター２７をシャッター駆動モータ（
図示せず）により、開閉自在に設ける。
投入シャッター２６の上部には試料投入タンク２８空振
動フイーダ２９を流れて選別された整粒を投入する試料
落下口３０を設ける。前記試料投入タンク２８には試料
が測定必要量投入されるとそれを感知し、クリーナー駆
動モータ２３を作動させるレベル計である静電容量近接
スイッチ３１を設ける。また、振動フィーダ２９には該
振動フィーダ２９を振動させるバイブレータ−３２が接
続されており、該バイブレータ−３２はシャッター駆動
モータに連結し、投入シャッター２６が開かれると同時
に動作するように構成する。３３は、振動フィーダ２９
に設けられている選別金網、３４は、未熟米１削氷等の
不良試料落下口である。
動フイーダ２９を流れて選別された整粒を投入する試料
落下口３０を設ける。前記試料投入タンク２８には試料
が測定必要量投入されるとそれを感知し、クリーナー駆
動モータ２３を作動させるレベル計である静電容量近接
スイッチ３１を設ける。また、振動フィーダ２９には該
振動フィーダ２９を振動させるバイブレータ−３２が接
続されており、該バイブレータ−３２はシャッター駆動
モータに連結し、投入シャッター２６が開かれると同時
に動作するように構成する。３３は、振動フィーダ２９
に設けられている選別金網、３４は、未熟米１削氷等の
不良試料落下口である。
排出シャッター２７の下部には測定が終了した試料を排
出する排出路３５及び受箱３６を設ける。
出する排出路３５及び受箱３６を設ける。
次に本発明の作用に就いて説明する。
投入タンク２８に試料をいれて、測定必要量に達すると
、静電容量近接スイッチ３１よりなるレベル計が感知し
、クリーナー駆動モータ２３が動作し、検出部チャンバ
ー２方向にクリーナー１９を押し込む。これにより、検
出部チャンバー２の石英ガラス１８面はクリーナー１９
で磨かれ付着物が落される。標柱２０が検出部チャンバ
ー２へ挿入され、標柱２０の側面に設けた基準白板２２
が透過光受光素子８の前面に達するとリミッ］へスイッ
チ２４によりクリーナー駆動モータ２３が停止する。
、静電容量近接スイッチ３１よりなるレベル計が感知し
、クリーナー駆動モータ２３が動作し、検出部チャンバ
ー２方向にクリーナー１９を押し込む。これにより、検
出部チャンバー２の石英ガラス１８面はクリーナー１９
で磨かれ付着物が落される。標柱２０が検出部チャンバ
ー２へ挿入され、標柱２０の側面に設けた基準白板２２
が透過光受光素子８の前面に達するとリミッ］へスイッ
チ２４によりクリーナー駆動モータ２３が停止する。
数秒後、光をいれない状態で反射光受光素子暗電流を測
定する。暗電流値は記憶回路１６に記憶される。次にシ
ャッタ駆動モータを動作し、入光シャッタ７を開き光を
、標柱２ｏの基準白板２２へ入射させる。比較回路１７
にて基準白板２２の白さの度合いが基準白皮として設定
されるように増幅器の増幅率をサーボ機構により、変化
させ一致させる。次に暗電流値を演算装置１１の減算回
路にて取り除き、基準白皮を調整する。
定する。暗電流値は記憶回路１６に記憶される。次にシ
ャッタ駆動モータを動作し、入光シャッタ７を開き光を
、標柱２ｏの基準白板２２へ入射させる。比較回路１７
にて基準白板２２の白さの度合いが基準白皮として設定
されるように増幅器の増幅率をサーボ機構により、変化
させ一致させる。次に暗電流値を演算装置１１の減算回
路にて取り除き、基準白皮を調整する。
このように、基準白皮を設定したうぇで次に試料の精白
度を計測する。
度を計測する。
まず、クリーナー駆動モータ２３を逆転させ、クリーナ
ー１９をチャンバー２から引抜いてリミットスイッチ２
５により、前記クリーナー駆動モータ２３を停止させる
。シャッター駆動モータ（図示せず）により投入シャッ
タ２６が開かれると同時にバイブレータ３２が動作し、
投入タンク２８から投下された試料が振動フィーダ２９
を流れ始める。このとき、試料は、選別金網３３上を通
過するため、未熟米や削氷等の不良試料は金網３３より
こぼれ落ち、整流だけが試料落下口３０に運び込まれる
。整粒は（検出部チャンバー２へ高密度で蓄積し、やが
て検出部チャンバー２からオーバーフローすると、投入
シャッター２６が閉じられ同時にバイブレータ３２が停
止する。
ー１９をチャンバー２から引抜いてリミットスイッチ２
５により、前記クリーナー駆動モータ２３を停止させる
。シャッター駆動モータ（図示せず）により投入シャッ
タ２６が開かれると同時にバイブレータ３２が動作し、
投入タンク２８から投下された試料が振動フィーダ２９
を流れ始める。このとき、試料は、選別金網３３上を通
過するため、未熟米や削氷等の不良試料は金網３３より
こぼれ落ち、整流だけが試料落下口３０に運び込まれる
。整粒は（検出部チャンバー２へ高密度で蓄積し、やが
て検出部チャンバー２からオーバーフローすると、投入
シャッター２６が閉じられ同時にバイブレータ３２が停
止する。
バイブレータが停止してから数秒後、反射光受光素子８
′と透過光受光素子８によって精米の反射率、透過率が
測定され、演算装置１１にて計算され、精白度デジタル
表示計１２で精白度が表示される。精白度は、次の式に
より表される。
′と透過光受光素子８によって精米の反射率、透過率が
測定され、演算装置１１にて計算され、精白度デジタル
表示計１２で精白度が表示される。精白度は、次の式に
より表される。
精白度−反射量子Ｋ・透過量、なお、Ｋは透過度をそ自
噴の単位に換算するための係数（実験的に求めた数値を
用いる）である。
噴の単位に換算するための係数（実験的に求めた数値を
用いる）である。
試料の精白度の測定が終了すると、シャッター駆動モー
タにより、排出シャッター２７が開き、検出部チャンバ
ー２の中の試料は排出される。継いで排出シャッター２
７と入光シャッタ、−７が閉じ、シャッター駆動モータ
が停止し、１サイクルの動作が終了する。
タにより、排出シャッター２７が開き、検出部チャンバ
ー２の中の試料は排出される。継いで排出シャッター２
７と入光シャッタ、−７が閉じ、シャッター駆動モータ
が停止し、１サイクルの動作が終了する。
このとき、試料投入タンク２８内の試料が必要レベルに
達しているとレベル計の静電容量近接スイッチ３１が感
知し、ふたたび上記サイクルが繰り返される。
達しているとレベル計の静電容量近接スイッチ３１が感
知し、ふたたび上記サイクルが繰り返される。
排出された試料は、器内に設けられた受箱３６似はいる
。また、投入用タンク２８及び振動フィーダ２９に残っ
た試料は排出用スイッチ（図示せず）を押し下げること
により、排出される。
。また、投入用タンク２８及び振動フィーダ２９に残っ
た試料は排出用スイッチ（図示せず）を押し下げること
により、排出される。
以上に述べたように、本発明によると精白度が光の反射
量と透過度の和として表されるから、表面が滑らかに搗
精された精白米の場合もその精白度をより正確に測定す
ることができ、しかも、流動する穀粒の精白度を刻々と
測定することができる。
量と透過度の和として表されるから、表面が滑らかに搗
精された精白米の場合もその精白度をより正確に測定す
ることができ、しかも、流動する穀粒の精白度を刻々と
測定することができる。
また、投入タンクにレベル計を設け、このレベル計とフ
ィーダ、投入シャッタ及び排出シャッターを関連させた
ため、精米機等から投入タンクへ排出される穀類の排出
を停止することなく、連続して自動的にその精白度を測
定することができる。
ィーダ、投入シャッタ及び排出シャッターを関連させた
ため、精米機等から投入タンクへ排出される穀類の排出
を停止することなく、連続して自動的にその精白度を測
定することができる。
第１図及び第２図は、本発明の実施例を示す説明図、第
３図は第２図の要部断面図である。 １・・・積分球、２・・・試料流路（検出部チャンバー
）、２０・・・標柱、２６・・・投入シャッター、２７
・・・排出シャッター、２８・・・投入タンク、２９・
・・振動フィーダ、３０・・・試料落下口、３１・・・
静電容量近接スイッチ、３２・・・バイブレータ、３５
・・・試料排出路、３６・・・受箱。 特許出願人 株式会社 佐 竹 製 作 所 代 理 人 第１図
３図は第２図の要部断面図である。 １・・・積分球、２・・・試料流路（検出部チャンバー
）、２０・・・標柱、２６・・・投入シャッター、２７
・・・排出シャッター、２８・・・投入タンク、２９・
・・振動フィーダ、３０・・・試料落下口、３１・・・
静電容量近接スイッチ、３２・・・バイブレータ、３５
・・・試料排出路、３６・・・受箱。 特許出願人 株式会社 佐 竹 製 作 所 代 理 人 第１図
Claims (1)
- 積分球を挾んで光源装置の反対側に試料流路を介して透
過光測定装置を設けると共に該積分球の他部に反射光測
定装置を設け、該試料流路の上方には、投入シャッター
を介して、フィーダの試料落下口を臨ませ、フィーダの
上方には、レベル計を設けた投入タンクを位置させると
ともに、′前記試料流路の下方には、排出シャッターを
設け、前記レベル計、フィーダ、シャッター及び排出シ
ャッターを関連させたことを特徴とする連続式穀粒精白
度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17455281A JPS5877637A (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 連続式穀粒精白度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17455281A JPS5877637A (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 連続式穀粒精白度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5877637A true JPS5877637A (ja) | 1983-05-11 |
| JPS6322540B2 JPS6322540B2 (ja) | 1988-05-12 |
Family
ID=15980546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17455281A Granted JPS5877637A (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 連続式穀粒精白度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5877637A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01142441A (ja) * | 1987-11-28 | 1989-06-05 | Satake Eng Co Ltd | 米粒精白度測定装置 |
| US5256886A (en) * | 1991-04-30 | 1993-10-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for optically detecting contamination in particles of low optical-loss material |
| JPH1019740A (ja) * | 1996-07-01 | 1998-01-23 | Satake Eng Co Ltd | 分光分析装置におけるサンプル充填装置 |
-
1981
- 1981-11-02 JP JP17455281A patent/JPS5877637A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01142441A (ja) * | 1987-11-28 | 1989-06-05 | Satake Eng Co Ltd | 米粒精白度測定装置 |
| US5256886A (en) * | 1991-04-30 | 1993-10-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for optically detecting contamination in particles of low optical-loss material |
| JPH1019740A (ja) * | 1996-07-01 | 1998-01-23 | Satake Eng Co Ltd | 分光分析装置におけるサンプル充填装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6322540B2 (ja) | 1988-05-12 |
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