JPH10192273A - 放射線撮影装置および放射線撮影方法 - Google Patents
放射線撮影装置および放射線撮影方法Info
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- JPH10192273A JPH10192273A JP9006388A JP638897A JPH10192273A JP H10192273 A JPH10192273 A JP H10192273A JP 9006388 A JP9006388 A JP 9006388A JP 638897 A JP638897 A JP 638897A JP H10192273 A JPH10192273 A JP H10192273A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｘ線画像に生ずる鉛箔の影像の影響が大き
い。 【解決手段】 被写体ＳにＸ線照射する照射手段１１
と、被写体ＳのＸ線画像を撮影する撮影手段１３と、被
写体Ｓの散乱Ｘ線を除去するグリッド１８と、グリッド
１８を動かす移動グリッド手段１２と、被写体Ｓの体厚
を計測する被写体厚計測手段１４と、得られた被写体厚
情報に基づきＸ線照射時間を決定する照射時間決定手段
１５と、得られた照射時間に基づいて照射手段１１を制
御する照射制御手段１６と、該照射時間に基づいて移動
グリッド手段１２を制御する移動グリッド制御手段１７
と、を有する装置。Ｘ線を照射する被写体の体厚を計測
し、得られた被写体厚情報に基づいてＸ線照射時間を決
定し、このＸ線照射時間に基づいて、Ｘ線照射手段１１
の制御を行うとともに移動グリッド手段１２の制御を行
う方法。
い。 【解決手段】 被写体ＳにＸ線照射する照射手段１１
と、被写体ＳのＸ線画像を撮影する撮影手段１３と、被
写体Ｓの散乱Ｘ線を除去するグリッド１８と、グリッド
１８を動かす移動グリッド手段１２と、被写体Ｓの体厚
を計測する被写体厚計測手段１４と、得られた被写体厚
情報に基づきＸ線照射時間を決定する照射時間決定手段
１５と、得られた照射時間に基づいて照射手段１１を制
御する照射制御手段１６と、該照射時間に基づいて移動
グリッド手段１２を制御する移動グリッド制御手段１７
と、を有する装置。Ｘ線を照射する被写体の体厚を計測
し、得られた被写体厚情報に基づいてＸ線照射時間を決
定し、このＸ線照射時間に基づいて、Ｘ線照射手段１１
の制御を行うとともに移動グリッド手段１２の制御を行
う方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は放射線撮影装置およ
び放射線撮影方法に係わり、特にグリッドを移動させつ
つ被写体の放射線撮影を行う放射線撮影装置および放射
線撮影方法に関するものである。
び放射線撮影方法に係わり、特にグリッドを移動させつ
つ被写体の放射線撮影を行う放射線撮影装置および放射
線撮影方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線撮影では、被写体内で散乱したＸ線
が画像に大きな影響を与える。この散乱Ｘ線を効率よく
除去するために散乱Ｘ線除去用グリッド（以下、グリッ
ドという）を使用し、Ｘ線画像のコントラストと鮮鋭度
の向上に役立てている。使用されるグリッドはその構造
により、平行グリッドと集束グリッドに区分することが
できる。図９は平行グリッドの断面図であり、鉛箔９１
と中間物質９０が相互に平行で、Ｘ線の入射に対して垂
直に配置されている。図１０は集束グリッドの断面図で
あり、鉛箔９１と中間物質９０が一つの点（ここでは集
束点１０１）に対して集束するように配置されている。
この中間物質はアルミニウムまたは木などである。
が画像に大きな影響を与える。この散乱Ｘ線を効率よく
除去するために散乱Ｘ線除去用グリッド（以下、グリッ
ドという）を使用し、Ｘ線画像のコントラストと鮮鋭度
の向上に役立てている。使用されるグリッドはその構造
により、平行グリッドと集束グリッドに区分することが
できる。図９は平行グリッドの断面図であり、鉛箔９１
と中間物質９０が相互に平行で、Ｘ線の入射に対して垂
直に配置されている。図１０は集束グリッドの断面図で
あり、鉛箔９１と中間物質９０が一つの点（ここでは集
束点１０１）に対して集束するように配置されている。
この中間物質はアルミニウムまたは木などである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようなグリッドを用いた場合、グリッドカットオフを生
ずる。図１１は平行グリッドによるグリッドカットオフ
が生じた場合を示し、ＦはＸ線管焦点、１１４ａ，１１
４ｂはＸ線がグリッド１１１の鉛箔１１２ａ，１１２ｂ
を透過した際の受像面１１３上における影像をそれぞれ
示している。鉛箔１１２ａは一次Ｘ線の方向に配置され
た鉛箔の影像よりも広い影像として投影され、その分だ
け一次Ｘ線は受像面に到着しない。その結果、Ｘ線画像
では広い影像が生じている部分は、それが生じていない
ところに比べて暗くなる。このグリッドカットオフの量
は一般にグリッド比が高くグリッドとＸ線管焦点Ｆの距
離が短いほど多くなる。
ようなグリッドを用いた場合、グリッドカットオフを生
ずる。図１１は平行グリッドによるグリッドカットオフ
が生じた場合を示し、ＦはＸ線管焦点、１１４ａ，１１
４ｂはＸ線がグリッド１１１の鉛箔１１２ａ，１１２ｂ
を透過した際の受像面１１３上における影像をそれぞれ
示している。鉛箔１１２ａは一次Ｘ線の方向に配置され
た鉛箔の影像よりも広い影像として投影され、その分だ
け一次Ｘ線は受像面に到着しない。その結果、Ｘ線画像
では広い影像が生じている部分は、それが生じていない
ところに比べて暗くなる。このグリッドカットオフの量
は一般にグリッド比が高くグリッドとＸ線管焦点Ｆの距
離が短いほど多くなる。
【０００４】集束グリッドを使用した際も、Ｘ線管焦点
Ｆとグリッドの集束点１０１との位置関係が適正でない
場合はグリッドカットオフを生じる。図１２はＸ線管焦
点Ｆがグリッドの集束点１０１から横方向に偏位してい
る場合の例である。この場合は、グリッドのすべての鉛
箔が均等に一次Ｘ線をグリッドカットオフするので、前
面にわたり均等に暗いＸ線画像となる。
Ｆとグリッドの集束点１０１との位置関係が適正でない
場合はグリッドカットオフを生じる。図１２はＸ線管焦
点Ｆがグリッドの集束点１０１から横方向に偏位してい
る場合の例である。この場合は、グリッドのすべての鉛
箔が均等に一次Ｘ線をグリッドカットオフするので、前
面にわたり均等に暗いＸ線画像となる。
【０００５】また、グリッドは使用方法によって、静止
グリッドと移動グリッドに区分される。静止グリッドは
Ｘ線受像面（以下、受像面という）に対して静止した状
態で使用するグリッドであり、移動グリッドは鉛箔の影
像を消すために、Ｘ線照射中にグリッドを受像面に対し
て相対的に動かす装置に組み込んで使用するグリッドで
ある。
グリッドと移動グリッドに区分される。静止グリッドは
Ｘ線受像面（以下、受像面という）に対して静止した状
態で使用するグリッドであり、移動グリッドは鉛箔の影
像を消すために、Ｘ線照射中にグリッドを受像面に対し
て相対的に動かす装置に組み込んで使用するグリッドで
ある。
【０００６】この移動グリッドを用いた従来の装置にお
いても、グリッドを移動させる速度が一定であるため
に、Ｘ線照射時間においてグリッドがＸ線照射野の中心
を挟んで等間隔に移動せず、グリッドカットオフの影響
により、先に述べた横方向偏位の状態を照射時間内で積
分した結果と同様になりＸ線画像に明暗を生じることが
あった。また、撮影時間が長く、グリッドの移動が往復
移動となった場合、折り返し位置で鉛箔の影像が生じる
ことがあった。
いても、グリッドを移動させる速度が一定であるため
に、Ｘ線照射時間においてグリッドがＸ線照射野の中心
を挟んで等間隔に移動せず、グリッドカットオフの影響
により、先に述べた横方向偏位の状態を照射時間内で積
分した結果と同様になりＸ線画像に明暗を生じることが
あった。また、撮影時間が長く、グリッドの移動が往復
移動となった場合、折り返し位置で鉛箔の影像が生じる
ことがあった。
【０００７】本発明の目的は、Ｘ線照射前に被写体の体
厚を計測することで、Ｘ線照射時間を決定し、そのＸ線
照射時間情報をもとに移動グリッドを制御し、Ｘ線画像
に生じる鉛箔の影像の影響を少なくするＸ線撮影装置を
提供することにある。
厚を計測することで、Ｘ線照射時間を決定し、そのＸ線
照射時間情報をもとに移動グリッドを制御し、Ｘ線画像
に生じる鉛箔の影像の影響を少なくするＸ線撮影装置を
提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係わる放射線撮影装置は、被写体に放射線
を照射する放射線照射手段と、前記被写体の放射線画像
を撮影する放射線撮影手段と、前記被写体の散乱放射線
を除去するグリッドと、該グリッドを動かす移動グリッ
ド手段と、前記被写体の体厚を計測する被写体厚計測手
段と、該被写体厚計測手段で得られた被写体厚情報に基
づいて放射線の照射時間を決定する放射線照射時間決定
手段と、該放射線照射時間決定手段で得られた照射時間
に基づいて前記放射線照射手段を制御する放射線照射制
御手段と、前記放射線照射時間決定手段で得られた照射
時間に基づいて前記移動グリッド手段を制御する移動グ
リッド制御手段と、を有することを特徴とする。
に、本発明に係わる放射線撮影装置は、被写体に放射線
を照射する放射線照射手段と、前記被写体の放射線画像
を撮影する放射線撮影手段と、前記被写体の散乱放射線
を除去するグリッドと、該グリッドを動かす移動グリッ
ド手段と、前記被写体の体厚を計測する被写体厚計測手
段と、該被写体厚計測手段で得られた被写体厚情報に基
づいて放射線の照射時間を決定する放射線照射時間決定
手段と、該放射線照射時間決定手段で得られた照射時間
に基づいて前記放射線照射手段を制御する放射線照射制
御手段と、前記放射線照射時間決定手段で得られた照射
時間に基づいて前記移動グリッド手段を制御する移動グ
リッド制御手段と、を有することを特徴とする。
【０００９】また、本発明に係わる放射線撮影方法は、
被写体に放射線を照射する放射線照射手段と、前記被写
体の放射線画像を撮影する放射線撮影手段と、前記被写
体の散乱放射線を除去するグリッドと、前記グリッドを
動かす移動グリッド手段と、を有する放射線撮影装置の
放射線撮影方法において、放射線を照射する被写体の体
厚を計測し、得られた被写体厚情報に基づいて放射線照
射時間を決定し、この放射線照射時間に基づいて、前記
放射線照射手段の制御を行うとともに前記移動グリッド
手段の制御を行うことを特徴とする。
被写体に放射線を照射する放射線照射手段と、前記被写
体の放射線画像を撮影する放射線撮影手段と、前記被写
体の散乱放射線を除去するグリッドと、前記グリッドを
動かす移動グリッド手段と、を有する放射線撮影装置の
放射線撮影方法において、放射線を照射する被写体の体
厚を計測し、得られた被写体厚情報に基づいて放射線照
射時間を決定し、この放射線照射時間に基づいて、前記
放射線照射手段の制御を行うとともに前記移動グリッド
手段の制御を行うことを特徴とする。
【００１０】なお、本願では放射線にはＸ線を含むもの
とする。なお、以下に説明する実施の形態ではＸ線撮影
装置について説明するが、本発明は特に放射線はＸ線に
限定されるものではない。
とする。なお、以下に説明する実施の形態ではＸ線撮影
装置について説明するが、本発明は特に放射線はＸ線に
限定されるものではない。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図１〜図８に図示
の実施形態に基づいて詳細に説明する。
の実施形態に基づいて詳細に説明する。
【００１２】図１は本発明のＸ線撮影装置の構成図であ
り、同図に示すように、Ｘ線を発生させるＸ線照射手段
１１と、その前方には、散乱Ｘ線を除去するグリッド１
８、このグリッド１８を平行移動させる移動グリッド手
段１２と、このグリッド１８を透過したＸ線画像を撮影
するＸ線撮影手段１３が配置されている。ここでＸ線撮
影手段１３は、例えばスクリーンフィルムや輝尽性蛍光
体や固体撮像素子などをＸ線受像面に用いた装置であ
る。
り、同図に示すように、Ｘ線を発生させるＸ線照射手段
１１と、その前方には、散乱Ｘ線を除去するグリッド１
８、このグリッド１８を平行移動させる移動グリッド手
段１２と、このグリッド１８を透過したＸ線画像を撮影
するＸ線撮影手段１３が配置されている。ここでＸ線撮
影手段１３は、例えばスクリーンフィルムや輝尽性蛍光
体や固体撮像素子などをＸ線受像面に用いた装置であ
る。
【００１３】被写体Ｓの体厚を計測する被写体厚計測手
段１４と被写体厚計測手段１４で得られた被写体厚情報
に基づいてＸ線照射時間を決定するＸ線照射時間決定手
段１５が、Ｘ線照射制御手段１６と移動グリッド制御手
段１７に接続されている。Ｘ線照射制御手段１６は決定
されたＸ線照射時間に基づいてＸ線照射手段１１を制御
している。同様に移動グリッド制御手段１７は決定され
たＸ線照射時間に基づいて移動グリッド手段１２を制御
している。
段１４と被写体厚計測手段１４で得られた被写体厚情報
に基づいてＸ線照射時間を決定するＸ線照射時間決定手
段１５が、Ｘ線照射制御手段１６と移動グリッド制御手
段１７に接続されている。Ｘ線照射制御手段１６は決定
されたＸ線照射時間に基づいてＸ線照射手段１１を制御
している。同様に移動グリッド制御手段１７は決定され
たＸ線照射時間に基づいて移動グリッド手段１２を制御
している。
【００１４】図２に被写体厚計測手段１４の体厚計測の
原理を示す。光源２１、例えばレーザダイオードから出
た光束は投影光学系２２によって細い光束に絞られ、観
察面上に小さい光スポットＰを形成する。この光スポッ
トＰは結像光学系２３によって位置検出素子２４、例え
ばＣＣＤセンサ上に結像され、光スポット像ｐを形成す
る。観察面上の光スポットＰと被写体厚計測手段１４ま
での相対距離Ｚは、位置検出素子２４上のこの光スポッ
ト像ｐの座標から算出することができる。
原理を示す。光源２１、例えばレーザダイオードから出
た光束は投影光学系２２によって細い光束に絞られ、観
察面上に小さい光スポットＰを形成する。この光スポッ
トＰは結像光学系２３によって位置検出素子２４、例え
ばＣＣＤセンサ上に結像され、光スポット像ｐを形成す
る。観察面上の光スポットＰと被写体厚計測手段１４ま
での相対距離Ｚは、位置検出素子２４上のこの光スポッ
ト像ｐの座標から算出することができる。
【００１５】結像光学系２３の主点を原点Ｏとし、Ｚ＝
−ｄの位置に位置検出素子２４の結像面を、Ｘ＝Ｌの位
置に投影光学系２２の主点を配置したとする。φ方向に
照射した光束によって観察面上に形成させた光スポット
Ｐが、原点Ｏからθ方向に観察された場合、例えば被写
体厚計測手段１４の位置を結像光学系２３の位置とする
と、光スポットＰまでの相対距離Ｄは次式によって求め
られる。
−ｄの位置に位置検出素子２４の結像面を、Ｘ＝Ｌの位
置に投影光学系２２の主点を配置したとする。φ方向に
照射した光束によって観察面上に形成させた光スポット
Ｐが、原点Ｏからθ方向に観察された場合、例えば被写
体厚計測手段１４の位置を結像光学系２３の位置とする
と、光スポットＰまでの相対距離Ｄは次式によって求め
られる。
【００１６】Ｄ＝Ｌ／（ｔａｎθ＋ｔａｎφ） 角度θは次式によって求められる。ただし、ｘは位置検
出素子２４上の光スポット像ｐの座標である。
出素子２４上の光スポット像ｐの座標である。
【００１７】θ＝ｔａｎ-1（ｘ／ｄ） 被写体の体厚は、例えばＸ線撮影手段１３に光スポット
を投影して求めたＸ線撮影手段１３と被写体厚計測手段
１４との相対距離と、被写体Ｓに光スポットを投影して
求めた被写体Ｓと被写体厚計測手段１４との相対距離と
の差より算出することができる。
を投影して求めたＸ線撮影手段１３と被写体厚計測手段
１４との相対距離と、被写体Ｓに光スポットを投影して
求めた被写体Ｓと被写体厚計測手段１４との相対距離と
の差より算出することができる。
【００１８】上記の方法は被写体上に光スポットを投影
し、その一点までの距離を算出しているが、図３に示す
ように光源３１から照射されたレーザ光を回転ミラー３
２を用いて被写体上を光スポットで走査することにより
被写体の光切断面の体厚を計測することもできる。
し、その一点までの距離を算出しているが、図３に示す
ように光源３１から照射されたレーザ光を回転ミラー３
２を用いて被写体上を光スポットで走査することにより
被写体の光切断面の体厚を計測することもできる。
【００１９】また、図４に示すように、光源４１から照
射されたレーザ光をシリンドリカルレンズ４２を用い
て、１本の帯のように広げて被写体Ｓに投影しても、被
写体の光切断面の体厚を計測することもできる。
射されたレーザ光をシリンドリカルレンズ４２を用い
て、１本の帯のように広げて被写体Ｓに投影しても、被
写体の光切断面の体厚を計測することもできる。
【００２０】同様に図５に示すように、光源５１から照
射されたレーザ光をシリンドリカルミラー５２に反射さ
せても、被写体の光切断面の体厚を計測することもでき
る。
射されたレーザ光をシリンドリカルミラー５２に反射さ
せても、被写体の光切断面の体厚を計測することもでき
る。
【００２１】図６にＸ線照射時間決定手段のダイアグラ
ムの一例を示す。被写体厚計測手段１４で計測された体
厚情報と、操作パネル等の撮影条件入力手段６１で入力
された撮影条件情報、例えば撮影部位や管電圧や管電流
などをＸ線照射時間決定手段１５に入力する。Ｘ線照射
時間決定手段１５は、各管電圧における被写体の体厚に
対する照射条件の関係のルックアップテーブル６２を参
照してＸ線照射時間を決定し、Ｘ線照射制御手段１６と
移動グリッド制御手段１７にＸ線照射時間情報を出力す
る。
ムの一例を示す。被写体厚計測手段１４で計測された体
厚情報と、操作パネル等の撮影条件入力手段６１で入力
された撮影条件情報、例えば撮影部位や管電圧や管電流
などをＸ線照射時間決定手段１５に入力する。Ｘ線照射
時間決定手段１５は、各管電圧における被写体の体厚に
対する照射条件の関係のルックアップテーブル６２を参
照してＸ線照射時間を決定し、Ｘ線照射制御手段１６と
移動グリッド制御手段１７にＸ線照射時間情報を出力す
る。
【００２２】図７に被写体の厚さの増減に対する照射係
数Ｋの関係を表したルックアップテーブル６２を図にし
た一例を示す。照射係数Ｋは、例えば基準となる被写体
の体厚をｄ1 、照射すべき線量をＩ1 、撮影する被写体
の体厚をｄ2 、同一の濃度を得るために被写体に照射す
べき線量をＩ2 としたとき以下の式で与えられる。
数Ｋの関係を表したルックアップテーブル６２を図にし
た一例を示す。照射係数Ｋは、例えば基準となる被写体
の体厚をｄ1 、照射すべき線量をＩ1 、撮影する被写体
の体厚をｄ2 、同一の濃度を得るために被写体に照射す
べき線量をＩ2 としたとき以下の式で与えられる。
【００２３】
【数１】 ただし、Ｉは被写体を透過した線量、μは被写体の減弱
係数、ｅは自然対数の底を表す。
係数、ｅは自然対数の底を表す。
【００２４】つまり、異なる体厚ｄ2 の被写体において
基準となる濃度を得るためには、
基準となる濃度を得るためには、
【００２５】
【数２】 倍の線量を必要とする。
【００２６】このように、Ｘ線照射時間決定手段１５
は、撮影条件入力手段６１で入力された管電流情報Ａと
管電圧情報より、ルックアップテーブル６２を参照して
Ｉ1 ×Ｋの値を得、以下の式よりＸ線照射時間Ｔを決定
することができる。
は、撮影条件入力手段６１で入力された管電流情報Ａと
管電圧情報より、ルックアップテーブル６２を参照して
Ｉ1 ×Ｋの値を得、以下の式よりＸ線照射時間Ｔを決定
することができる。
【００２７】Ｔ＝Ｉ1 ×Ｋ／Ａ 図８にグリッド１８と移動グリッド手段１２と移動グリ
ッド制御手段１７の構成の一例を示す。移動グリッド手
段１２は、例えば回転モータ８１と、回転モータ８１の
回転運動を往復運動に変える板カム８２からなる。集束
距離がｆｃｍ、グリッド比がｒ：１の集束グリッドを用
いて、横方向にｂｃｍ動かした場合の一次Ｘ線損失量
（％）は以下の式で与えられる。
ッド制御手段１７の構成の一例を示す。移動グリッド手
段１２は、例えば回転モータ８１と、回転モータ８１の
回転運動を往復運動に変える板カム８２からなる。集束
距離がｆｃｍ、グリッド比がｒ：１の集束グリッドを用
いて、横方向にｂｃｍ動かした場合の一次Ｘ線損失量
（％）は以下の式で与えられる。
【００２８】Ｌ＝ｒ×ｂ／ｆ×１００（％） 例えば、集束距離が１８０ｃｍ、グリッド比が１２：１
のグリッドを用いて撮影する場合、一次Ｘ線損失量を１
０％以下にしたい場合は、上式より横方向の移動は１．
５ｃｍ以下にする必要がある。
のグリッドを用いて撮影する場合、一次Ｘ線損失量を１
０％以下にしたい場合は、上式より横方向の移動は１．
５ｃｍ以下にする必要がある。
【００２９】グリッドは、カットオフのＸ線画像上での
偏りを生じさせないために、Ｘ線照射中にＸ線照射野の
中心を挟んで同じ幅だけ移動させる。移動グリッド制御
手段１７はＸ線照射中にグリッドがＸ線照射野の中心を
挟んである一定の幅だけ移動するように回転モータ８１
を制御するものである。
偏りを生じさせないために、Ｘ線照射中にＸ線照射野の
中心を挟んで同じ幅だけ移動させる。移動グリッド制御
手段１７はＸ線照射中にグリッドがＸ線照射野の中心を
挟んである一定の幅だけ移動するように回転モータ８１
を制御するものである。
【００３０】そして、Ｘ線照射制御手段１６は回転モー
タ８１がある条件を満たしたとき、Ｘ線照射時間決定手
段１５で決定されたＸ線照射時間だけＸ線を照射するよ
うに制御する。例えば、図１３に示すように、Ｘ線照射
時間決定手段１５によりＸ線照射時間がＴと決定され、
グリッドの移動距離を２ｂ、回転モータ８１の回転半径
をＲとした場合、Ｘ線照射時間Ｔの間に、回転モータ８
１が回転する回転角２θは、 ２θ＝ｓｉｎ-1（ｂ／Ｒ）×２ となる。よって、移動グリッド制御手段１７は、Ｘ線照
射時間Ｔの間に、回転モータ８１が２θ回転するように
制御する。
タ８１がある条件を満たしたとき、Ｘ線照射時間決定手
段１５で決定されたＸ線照射時間だけＸ線を照射するよ
うに制御する。例えば、図１３に示すように、Ｘ線照射
時間決定手段１５によりＸ線照射時間がＴと決定され、
グリッドの移動距離を２ｂ、回転モータ８１の回転半径
をＲとした場合、Ｘ線照射時間Ｔの間に、回転モータ８
１が回転する回転角２θは、 ２θ＝ｓｉｎ-1（ｂ／Ｒ）×２ となる。よって、移動グリッド制御手段１７は、Ｘ線照
射時間Ｔの間に、回転モータ８１が２θ回転するように
制御する。
【００３１】また、Ｘ線照射制御手段１６は、グリッド
がＸ線照射野の中心位置にある位置より板カム８２との
接点がθだけ前の位置、またはシステムの遅延を考慮し
てθより遅延時間分だけ前の位置で、Ｘ線を照射するよ
うに制御する。
がＸ線照射野の中心位置にある位置より板カム８２との
接点がθだけ前の位置、またはシステムの遅延を考慮し
てθより遅延時間分だけ前の位置で、Ｘ線を照射するよ
うに制御する。
【００３２】Ｘ線照射時間中のグリッドの移動距離２ｂ
をなるべく小さくすることで、例えば１ｃｍ以下にする
ことで、グリッドカットオフの影響を少なくすることが
できる。
をなるべく小さくすることで、例えば１ｃｍ以下にする
ことで、グリッドカットオフの影響を少なくすることが
できる。
【００３３】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、放射線照射前に被写体の体厚を計測することで、放
射線照射時間を決定し、その放射線照射時間情報をもと
に移動グリッドを制御し、放射線画像に生じる鉛箔の影
像の影響を少なくし、観察しやすい放射線画像を提供で
きる。
ば、放射線照射前に被写体の体厚を計測することで、放
射線照射時間を決定し、その放射線照射時間情報をもと
に移動グリッドを制御し、放射線画像に生じる鉛箔の影
像の影響を少なくし、観察しやすい放射線画像を提供で
きる。
【図１】本発明のＸ線撮影装置の実施形態の構成図であ
る。
る。
【図２】体厚計測の原理の説明図である。
【図３】回転ミラーを使った例の説明図である。
【図４】シリンドリカルレンズを使った例の説明図であ
る。
る。
【図５】シリンドリカルミラーを使った例の説明図であ
る。
る。
【図６】Ｘ線照射時間決定手段のダイヤグラムの説明図
である。
である。
【図７】被写体厚の増減に対する照射係数の関係図であ
る。
る。
【図８】移動グリッドとその制御手段の説明図である。
【図９】平行グリッドの説明図である。
【図１０】集光グリッドの説明図である。
【図１１】平行グリッドのカットオフの説明図である。
【図１２】集光グリッドの横方向偏位の説明図である。
【図１３】移動グリッド制御手段の動作を説明するため
の図である。
の図である。
１１ Ｘ線照射手段 １２ 移動グリッド手段 １３ Ｘ線撮影手段 １４ 被写体厚計測手段 １５ Ｘ線照射時間決定手段 １６ Ｘ線照射制御手段 １７ 移動グリッド制御手段 １８ グリッド
Claims (4)
- 【請求項１】 被写体に放射線を照射する放射線照射手
段と、 前記被写体の放射線画像を撮影する放射線撮影手段と、 前記被写体の散乱放射線を除去するグリッドと、 該グリッドを動かす移動グリッド手段と、 前記被写体の体厚を計測する被写体厚計測手段と、 該被写体厚計測手段で得られた被写体厚情報に基づいて
放射線の照射時間を決定する放射線照射時間決定手段
と、 該放射線照射時間決定手段で得られた照射時間に基づい
て前記放射線照射手段を制御する放射線照射制御手段
と、 前記放射線照射時間決定手段で得られた照射時間に基づ
いて前記移動グリッド手段を制御する移動グリッド制御
手段と、を有することを特徴とする放射線撮影装置。 - 【請求項２】 前記放射線はＸ線であることを特徴とす
る請求項１記載の放射線撮影装置。 - 【請求項３】 被写体に放射線を照射する放射線照射手
段と、前記被写体の放射線画像を撮影する放射線撮影手
段と、前記被写体の散乱放射線を除去するグリッドと、
前記グリッドを動かす移動グリッド手段と、を有する放
射線撮影装置の放射線撮影方法において、 放射線を照射する被写体の体厚を計測し、得られた被写
体厚情報に基づいて放射線照射時間を決定し、この放射
線照射時間に基づいて、前記放射線照射手段の制御を行
うとともに前記移動グリッド手段の制御を行うことを特
徴とする放射線撮影方法。 - 【請求項４】 前記放射線はＸ線であることを特徴とす
る請求項３記載の放射線撮影方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9006388A JPH10192273A (ja) | 1997-01-17 | 1997-01-17 | 放射線撮影装置および放射線撮影方法 |
| US09/008,510 US6502984B2 (en) | 1997-01-17 | 1998-01-16 | Radiographic apparatus |
| US10/299,806 US6731718B2 (en) | 1997-01-17 | 2002-11-20 | Radiographic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9006388A JPH10192273A (ja) | 1997-01-17 | 1997-01-17 | 放射線撮影装置および放射線撮影方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10192273A true JPH10192273A (ja) | 1998-07-28 |
Family
ID=11637002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9006388A Pending JPH10192273A (ja) | 1997-01-17 | 1997-01-17 | 放射線撮影装置および放射線撮影方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10192273A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003093375A (ja) * | 2001-09-21 | 2003-04-02 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像方法 |
| US6900453B2 (en) | 1999-01-26 | 2005-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus |
| JP2005261924A (ja) * | 2003-12-04 | 2005-09-29 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置およびこの装置での画像生成方法 |
| JP2011067333A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置及び撮影制御装置 |
| JP2013248091A (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-12 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
-
1997
- 1997-01-17 JP JP9006388A patent/JPH10192273A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6900453B2 (en) | 1999-01-26 | 2005-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus |
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| JP4695795B2 (ja) * | 2001-09-21 | 2011-06-08 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
| JP2005261924A (ja) * | 2003-12-04 | 2005-09-29 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置およびこの装置での画像生成方法 |
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| US8571178B2 (en) | 2009-09-25 | 2013-10-29 | Fujifilm Corporation | Radiation imaging apparatus and imaging control device controlling a filter based on subject information |
| JP2013248091A (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-12 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040317 |