JP6843683B2 - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6843683B2
JP6843683B2 JP2017078459A JP2017078459A JP6843683B2 JP 6843683 B2 JP6843683 B2 JP 6843683B2 JP 2017078459 A JP2017078459 A JP 2017078459A JP 2017078459 A JP2017078459 A JP 2017078459A JP 6843683 B2 JP6843683 B2 JP 6843683B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
ray
trimming
fdd
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017078459A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018179711A (ja
Inventor
雅実 長野
雅実 長野
祥司 鶴
祥司 鶴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba IT and Control Systems Corp
Original Assignee
Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba IT and Control Systems Corp filed Critical Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority to JP2017078459A priority Critical patent/JP6843683B2/ja
Priority to PCT/JP2018/011217 priority patent/WO2018190092A1/ja
Priority to CN201880015777.1A priority patent/CN110383051B/zh
Publication of JP2018179711A publication Critical patent/JP2018179711A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6843683B2 publication Critical patent/JP6843683B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]

Description

本発明の実施形態は、撮影画像の周囲に視野欠けが生じることがないX線検査装置に関する。
X線検査装置は、X線の照射源と、検査対象物(以下、ワークという)を載せるテーブルと、ワークを透過したX線を受光するX線検出器とから構成される。照射源から発したX線は、円錐状に広がってワークに達し、ワークを通過した後もさらに広がってX線検出器に達する。X線は、X線源から検出器までの距離(FDD:Focus to Detector Distance)の二乗に比例して減衰する。一方,CT画像の撮影倍率は、FDDを、X線源から撮影対象物が載っている試料テーブルの中心までの距離(FCD:Focus to Center Distance)で割った値である。そのため、所望の撮影倍率、かつ、高線量でS/Nの良いCT画像を撮影するには、撮影倍率を維持しつつFDDとFCDを小さくすればよい。
特開2016−118394号公報
しかし、FDDを小さくするとX線照射角による視野欠け、すなわちX線が検出器に照射されない範囲が発生する。大きな検出器を使うほど、視野欠けは起きやすい。視野欠けがある状態では、CT画像の撮影に次のような問題が生じる。
(1)CT画像の再構成には、X線源と試料テーブルの中心を結ぶ直線が、検出器のどこに当たるかという情報が必要になる。この情報を、360°方向から撮影したX線透視画像の対称性(0°〜180°と180°〜360°)から求める場合、視野欠け部分が邪魔してしまい、正しく求まらない場合がある。視野欠け部分は輝度がほぼ一定なため、対称性が良いため、透視画像本来の対称性判断に大きな影響を与えることになる。
(2)X線源と試料テーブルの中心を結ぶ直線が正しく求まり、CT画像が再構成できた場合でも、再構成処理後のCT画像の円周方向に視野欠け部分が現れ、X線照射角以外の不要な部分まで含むX線透視画像、CT画像になる。そのため、画像処理上、次のような問題が発生する。
例1:CT画像から撮影対象物部分を自動で抽出したい場合、対象物の平均輝度値を閾値に使うことが多いが、視野欠け領域まで対象物とみなしてしまうことがある。
例2:CT画像から3次元データを作成する場合、CT画像の円周方向に視野欠け部分があるので、視野欠け部分が外側に見えるような3次元データになってしまう。
以上のように、検出器の受光面積に比較して照射角が広い場合は、検出器をX線源に近づけても受光面積の全域がX線の照射範囲内に収まるため視野欠けの問題はないが、照射角が狭い場合はFDDを小さくすると視野欠けに伴う種々の問題が発生する。そのため、従来は、検査対象が小型で大きな拡大率を必要とするなど、小さなFDDが要求される場合には、大きな検出器を使わずに小FDD専用の小さい検出器を使うことで、視野欠けが起きないようにしていた。
また、特許文献1に記載のように、X線で撮影した画像の一部をトリミングすること自体は知られているが、これらの従来技術は、ユーザが撮影画像中から所望の領域を抽出するものに過ぎず、検出器のFDDを小さくした場合における視野欠けの解消に適用することはできなかった。
本実施形態は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものである。本実施形態の目的は、CT画像の再構成に必要な領域のみのX線透視画像を作成することのできるX線検査装置を提供することにある。
第1実施形態のX線検査装置は、次のような構成を有する。
(1)X線の照射源と、被照射物を載せるテーブルと、被照射物を透過したX線を受光してその透過画像を検出するX線検出器。
(2)前記X線検出器をX線の光軸に沿って移動させるシフト機構。
(3)前記シフト機構による前記X線検出器の移動を制御する制御部。
(4)視野欠け領域を判定するための基準画像とトリミングの対象となるワークの画像を、前記X線検出器から取得する画像取得部。
(5)基準画像中の視野欠けの無い画像の平均輝度値を計算する平均輝度値計算部。
(6)撮影したX線透視画像について、前記平均輝度値計算部が計算した平均値輝度値の閾値未満の輝度を持つ画素を視野欠け領域と判定する視野欠け領域判定部。
(7)ワークを撮影した画像中から前記視野欠け領域判定部が判定した視野欠け領域以外のX線透視画像をトリミング領域の画像として取得するトリミング画像取得部。
(8)前記トリミング画像取得部が取得したトリミング領域のX線透視画像に基づいてCT画像を再構成する再構成処理部。
第1実施形態において次のような構成を採用すると良い。
(1)ワークを撮影した画像中から前記視野欠け領域判定部が判定した視野欠け領域と視野欠け領域以外の領域の境界を整正する境界整正部。
第2実施形態のX線検査装置は、次のような構成を有する。
(1)X線の照射源と、被照射物を載せるテーブルと、被照射物を透過したX線を受光してその透過画像を検出するX線検出器。
(2)前記X線検出器をX線の光軸に沿って移動させるシフト機構。
(3)前記シフト機構による前記X線検出器の移動を制御する制御部。
(4)視野欠け領域を判定するための基準画像とトリミングの対象となるワークの画像を、前記X線検出器から取得する画像取得部。
(5)ユーザが予め入力した下記のデータを読み込む設定値取得部。
(1) X線照射角(α)
(2) 検出器ピッチ(mm/検出器チャンネル)
(3) 基準FDD(L1)
(6)前記設定値取得部から取得したX線照射角(α)と基準FDDを基に、基準FDD(L1)における照射範囲を基準照射範囲(W1)として求める基準照射範囲計算部。
(7)前記設定値取得部及び前記基準照射範囲計算部から得られた値に基づいて、任意のFDD位置(L2)における照射範囲(W2)を下記の式1により求める撮影位置照射範囲計算部。
式1:求めたい照射範囲(W2)=基準照射範囲(W1)×(任意のFDD(L2)/基準FDD(L1))
(8)前記撮影位置照射範囲計算部が求めた照射範囲(W2)が検出器何チャンネルに相当するかを下記式2で計算して、トリミング領域を求めるトリミング領域計算部。
式2:トリミング領域=任意のFDDでの照射範囲(W2)/検出器ピッチ(mm)
(9)ワークを撮影した画像中から前記トリミング領域計算部が計算したトリミング領域のX線透視画像を取得するトリミング画像取得部。
(10)前記トリミング画像取得部が取得したトリミング領域のX線透視画像に基づいてCT画像を再構成する再構成処理部。
第2実施形態において次のような構成を採用すると良い。
(1)前記トリミング領域計算部が求めた複数のFDDにおけるトリミング領域を、各FDDと対応付けて記憶する記憶部。
(2)トリミング画像取得部は、前記ワークの撮影箇所のFDDに合わせて対応するトリミング領域を記憶部から読み出してトリミング領域のX線透視画像を取得する。
第1実施形態の全体構成を示すブロック図。 第1実施形態における視野欠け領域が含まれたX線透視画像の一例を示す図。 第2実施形態の全体構成を示すブロック図。 第3実施形態において、視野欠け領域を判定する方法を説明する図。
[1.第1実施形態]
[1−1.実施形態の構成]
以下、第1実施形態を、図面に従って具体的に説明する。第1実施形態は、透視画像の輝度に付いて予め設定された閾値を使用してトリミングを行うものである。
本実施形態のX線検査装置は、図1の平面図に示すように、放射線源であるX線管1と、ワークを載せるテーブル2と、X線管1から放射されたX線ビームを受光するX線検出器3を、所定の間隔を保って配置して構成される。
X線管1は、その焦点から水平方向に円錐状のX線ビームを発するもので、X線ビームはテーブル2上に載置されたワークを透過して、X線検出器3に達する。テーブル2は、図示しない回転テーブルやXY駆動機構によって、垂直方向の軸を中心として回転し、あるいはX線管1の接離する方向及びX線検出器3の移動方向と平行な方向に移動する。
X線検出器3は、X線ビームを2次元の空間分解能をもって検出し、透過像をディスプレイやフィルム上に表示するデータを出力する。X線検査装置は、X線検出器3をワークの寸法や必要とする撮影倍率に応じて定められた所定のFDDの位置に停止させて、ワークを撮影する。そのため、X線検出器3は、移動のための駆動源としてシフト機構4と、シフト機構4によるX線検出器3の移動方向及び移動量を制御する制御部5が接続される。制御部5は、X線検出器3をX線管1の光軸に沿って移動する方向、すなわちFDDが変化する方向に移動させる。制御部5には、X線検出器3の移動位置や移動方向をユーザが予め設定するための入力部6が設けられる。入力部6は、キーボード、マウスなどの入力装置、ネットワークなどの外部装置などから構成することができる。
X線検出器3は、停止位置で撮影した画像中から、視野欠け部分を除去するトリミング処理部7を備えている。本実施形態のトリミング処理部7は、画像取得部71、平均輝度値計算部72、視野欠け領域判定部73、境界整正部74及びトリミング画像取得部75を備える。
画像取得部71は、視野欠け領域を判定するための基準画像と、トリミングの対象となるワークの画像を、X線検出器3から取得する。基準画像とは、何も映っていないX線透視画像のことである。平均輝度値計算部72は、基準画像中の視野欠けの無い画像の中央部、例えば、図2の点線枠内の平均輝度値を計算する。視野欠け領域判定部73は、撮影した透視画像について、平均輝度値計算部72が計算した平均値輝度値の所定%未満の輝度を持つ画素を視野欠け領域と判定する。平均値輝度値の所定%は、その画素が視野欠け領域に属すると判定できるような閾値であり、予めユーザが入力部6からその値をトリミング処理部7に設定しておく。
視野欠け領域判定部73が画素単位で行った視野欠け領域と視野欠け無の領域の境界はギザギザになると考えられるので、境界整正部74は、視野欠け領域が四角形となるように調整する。調整の方法は従来公知の手法を適宜採用できる。例えば、基準画像をXYの二次元座標として設定し、視野欠け領域と判定された画素の座標の最大値あるいは最小値を通るXY方向の直線を視野欠けが無い領域の外縁とする。
トリミング画像取得部75は、ワークを撮影した画像中から、境界整正部74によって得られた視野欠け領域以外のX線透視画像を取得する。トリミング画像取得部75の出力側には、視野欠け領域以外のX線透視画像にもとづいてCT画像を再構成する再構成処理部8が設けられる。
前記の各部には、入力部6から入力されたデータ、検出器3が読み込んだ画像のデータ、トリミング処理部7の計算結果や判定した視野欠け領域などのデータを格納すると共に適宜読み出すための記憶部9が接続されている。この記憶部9はメモリやハードディスクなどの記憶装置によって構成される。
[1−2.実施形態の作用]
本実施形態においては、入力部6からワークWの撮影位置のFDDを入力し、このFDDに基づき制御部5はシフト機構4を制御して、検出器3を入力されたFDDの位置に停止させる。この状態で、何も映っていないX線透視画像を撮影する。このようにすると、図2に示すような視野欠けのない画像中央部と、その周囲に形成される視野欠け領域とを有する透視画像が得られる。通常、何も映っていないX線透視画像は、視野欠けの無い画像中央部(図2の右上傾斜ハッチング部分)は空気の透視画像であるため、周囲の視野欠け領域(図2のクロスハッチング部分)に比較して輝度が大きく、一方視野欠け領域はX線を受光していないため輝度が殆ど0である。
図2の透視画像は、検出器3から画像取得部71に出力される。平均輝度計算部72は、画像取得部71に入力された透視画像の中から、視野欠けの無い画像中央部の平均輝度値を計算する。視野欠け領域判定部73は、撮影した透視画像について、平均輝度計算部72が計算した平均値輝度値と、予め入力部6からユーザが設定した閾値の未満の輝度をもつ画素を判定し、その画素の部分を視野欠け領域とみなす。
境界整正部74は、視野欠け領域判定部73が画素単位で行った視野欠け領域と視野欠け無の領域の境界が四角形となるように調整する。本実施形態では、基準画像をXYの二次元座標として設定し、視野欠け領域と判定された画素の座標の最大値あるいは最小値を通るXY方向の直線を視野欠けが無い領域の外縁とする。このようにして得られた視野欠け領域あるいは視野欠けがない領域の座標は、対応するFDDとともに、記憶部9に保存される。
(2)ワークWの撮影
ワークWの撮影にあたっては、前記のようにして検出器3を視野欠け領域あるいは視野欠けがない領域の座標を求めたFDDの位置に検出器3を停止させる。その状態で、テーブル2の上にワークWを載置して、X線透視画像を撮影する。検出器3によって検出されたX線透視画像は、トリミング画像取得部75に出力される。トリミング画像取得部75は、検出器3の停止位置のFDDに対応した座標を記憶部9から読み出して、この座標位置に基づいてワークWのX線透視画像中から、視野欠け領域以外の画像を取得する。
トリミング画像取得部75によって得られた視野欠け領域以外のX線透視画像は、再構成処理部8に出力され、再構成処理部8においては、視野欠け領域がないX線透視画像に基づいてCT画像が再構成される。
[1−3.実施形態の効果]
本実施形態は、次のような効果を有する。
(1)視野欠け領域の無いX線透視画像に基づいて、画像の再構成をすることができるので、ワークWの実態に即した適切なCT画像を得ることができる。
(2)どのような検出器3のサイズやFDDでも常に、最適なX線透視画像でCT画像撮影を行うことができる。
(3)検出器3をX線発生装置側に接近させ、X線幾何学倍率を拡大した場合でも視野欠けのないX線透視画像及びCT画像が得られる。
(4)FDDと視野欠け領域の画像を対応付けて記憶部9に保存しておくことにより、そのFDDに検出器3を停止させれば、その都度視野欠け領域を判定することなく、ワークWを撮影したX線透視画像から視野欠け領域の無い透視画像を得ることができる。
(5)境界整正部74によって画素単位で行った視野欠け領域と視野欠け無の領域の境界が四角形となるように調整するので、外縁部が綺麗に整った視野欠け領域の無いX線透視画像を得ることができる。
[2.第2実施形態]
[2−1.実施形態の構成]
第2実施形態は、トリミング処理部7の構成が第1実施形態とは異なるもので、他の構成は第1実施形態と同様である。第1実施形態と同様な構成については、同一の符号を付し、説明を省略する。
第2実施形態のトリミング処理部7は、設定値取得部76、基準照射範囲計算部77、撮影位置照射範囲計算部78及びトリミング領域計算部79を備える。
設定値取得部76は、ユーザが予め設定部6に対して入力した下記のデータを読み込む(図3を参照)。
(1) X線照射角(α)
(2) 検出器ピッチ(mm/検出器チャンネル)
(3) 基準FDD(L1)(照射範囲と検出器の受光面とが一致し、視野欠けが生じないFDD)
基準照射範囲計算部77は、設定値取得部76から取得したX線照射角(α)と基準FDD(L1)を基に、基準FDD(L1)での照射範囲を基準照射範囲(W1)として求める。撮影位置照射範囲計算部78は、設定値取得部76及び基準照射範囲計算部77により既知となった値を基に、三角形の相似を使って、任意のFDD位置(L2)における照射範囲(W2)を下記の式により求める。
式1:求めたい照射範囲(W2)=基準照射範囲(W1)×(任意のFDD(L2)/基準FDD(L1))
トリミング領域計算部79は、求めた照射範囲(W2)が検出器何チャンネルに相当するかを下記の式で計算して、トリミング領域を求める。
式2:トリミング領域=任意のFDDでの照射範囲(W2)/検出器ピッチ(mm)
[2−2.実施形態の作用]
第2実施形態においては、ワークWの撮影に先立ち、入力部6から下記の値を入力して記憶部9に保存しておく。これらの値は、第2実施形態を適用するX線撮影装置固有のものであるから、一度設定すればよく、ワークWの撮影の都度入力する必要は無い。
(1) X線照射角(α)
(2) 検出器ピッチ(mm/検出器チャンネル)
(3) 基準FDD(L1)
次に、ワークWのX線透視画像を撮影するには、検出器3を撮影しようとするFDDの位置に移動させる。検出器3の移動は、入力部6からワークWの撮影位置のFDD(L2)を入力し、このFDDに基づき制御部5はシフト機構4を制御して、検出器3を入力されたFDDの位置に停止させる。また、検出器3を手動で移動させる場合のように、撮影位置のFDDが予め分かっていない場合には、検出器3を撮影位置に停止させた状態において、そのFDDを自動あるいは手動で撮影位置のFDD(L2)として、入力部6に設定する。
このようにすると、前記式1及び式2を実行するに必要な値が得られるので、トリミング処理部7の設定値取得部76は、これらの値を読み込んで、基準照射範囲計算部77において、基準FDD(L1)での照射範囲である基準照射範囲(W1)を求める。この基準照射範囲は、一度計算すれば、検出器3の受光面積やX線照射角が変更されない限り、撮影位置のFDDが異なる場合であっても同じ値となるので、記憶部9に保存することにより、次回以降は計算不要である。
前記のようにして求められた値に基づき、撮影位置照射範囲計算部78は、式1に基づいてワークWの撮影位置のFDD(L2)における照射範囲(W2)を求める。続いて、これらの値に基づき、トリミング領域計算部79は、式2に基づいてトリミング領域を求める。
この状態で、ワークWのX線透視画像を撮影し、その画像中から、前記のようにして求められたトリミング領域、すなわち、FDD(L2)における照射範囲(W2)に相当する部分の画像のみを抽出することにより、周囲に視野欠け領域を含まないX線透視画像を撮影することができる。
なお、第2実施形態において、トリミング領域の計算とワークWのX線透視画像の撮影とは、それぞれのデータを記憶部9に保存しておき適宜読み出すことにより、いずれを先に実施しても良い。
[2−3.実施形態の効果]
第2実施形態においては、第1実施形態と共通する効果に加え、次のような特有な効果を有する。
(1)第2実施形態においては、図3に示すようなX線照射角(α)、基準照射範囲(W1)から得られる検出器のサイズ、及びFDDの情報(L1,L2)から、幾何学計算によりトリミングする領域を簡単に求めることができる。
(2)第2実施形態は、第1実施形態のようにワークを撮影する位置において予め空気の透視画像を撮影して輝度の閾値によるトリミング領域の計算も不要であるから、トリミング領域の判定が迅速かつ簡単に実施できる。また、視野欠け領域と視野欠けらない領域との境界線も直線状に形成されることから、境界部分を整正するための計算も不要であり、その点でも有利である。
[3.第3実施形態]
第3実施形態は、第2実施形態の変形例である。図3に示すように、第2実施形態の方法により、ワークWを撮影すると予想される複数のFDD(L2,L3,L4)で基準となるトリミング領域(W2,W3,W4)を求めて、記憶部9に登録しておくものである。
ワークWの撮影時には、記憶部9に登録した複数のFDDの中から、ワークの撮影に最適なFDDの領域に検出器3を移動させてX線透視画像を撮影し、そのFDDに対応したトリミング領域を利用して、撮影したX線透視画像中から視野欠け部分を削除する。一方、登録したFDD中にワークWの撮影に最適なFDD存在しない場合、すなわち、任意のFDD位置において撮影を行う場合には、記憶部9に登録した最も近いFDDの値とそれに対応するトリミング領域の値を使って任意の位置のトリミング領域を三角形の相似から求める。
このように第3実施形態では、大きく視野が欠ける位置と欠けない位置、その間の位置(複数位置可)で空気のX線透視画像を撮影しておき、トリミングする領域を求めて登録しておく。トリミングの領域は幾何系に応じて増減するため、撮影してない位置のトリミング領域については補間することで求める。
第3実施形態では、予め複数の撮影箇所のトリミング領域を各撮影箇所のFDDと対応付けて記憶しておき、ワークWの撮影位置のFDDに応じて適切なトリミング領域を呼び出して、X線透視画像中の視野欠け領域を削除することができる。その結果、新たなFDDに移動する都度トリミング領域を計算する必要が無く、視野欠け領域の無いX線透視画像を迅速に得ることができる。また、トリミング領域を登録していないFDDについても、FDDに合わせて幾何学的に補間することにより、簡単な計算で正確なトリミング領域を得ることができる。
[4.他の実施形態]
本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。具体的には、次のような他の実施形態も包含する。
(1)X線管1、テーブル2及びX線検出器3は、X線検査装置の据え付け面と平行に並べて設置する以外に、垂直方向に並べて設置して良い。
(2)X線検出器3はX線の光軸と直交する平板に限定されるものでは無く、X線焦点を軸に湾曲した受光面を有するものでも良い。
(3)第1実施形態おいて、第3実施形態と同様に、大きく視野が欠ける位置と欠けない位置、その間の位置(複数位置可)で空気のX線透視画像を撮影しておき、トリミングする領域を求めて記憶部9に登録しておいても良い。その場合、トリミングの領域は幾何系に応じて増減するため、空気のX線透視画像を撮影してない位置のトリミング領域については、記憶部9に登録したトリミングの領域を、ワークWの撮影位置のFDD位置に合わせて補間することで求める。
1…X線管
2…テーブル
3…X線検出器
4…シフト機構
5…制御部
6…入力部
7…トリミング処理部
71…画像取得部
72…平均輝度値計算部
73…視野欠け領域判定部
74…境界整正部
75…トリミング画像取得部
76…設定値取得部
77…基準照射範囲計算部
78…撮影位置照射範囲計算部
79…トリミング領域計算部
8…再構成処理部
9…記憶部

Claims (4)

  1. X線の照射源と、被照射物を載せるテーブルと、被照射物を透過したX線を受光してその透過画像を検出するX線検出器と、を備えたX線検査装置であって、
    前記X線検出器をX線の光軸に沿って移動させるシフト機構と、
    前記シフト機構による前記X線検出器の移動を制御する制御部と、
    視野欠け領域を判定するための基準画像とトリミングの対象となるワークの画像を、前記X線検出器から取得する画像取得部と、
    基準画像中の視野欠けの無い画像の平均輝度値を計算する平均輝度値計算部と、
    撮影したX線透視画像について、前記平均輝度値計算部が計算した平均値輝度値の閾値未満の輝度を持つ画素を視野欠け領域と判定する視野欠け領域判定部と、
    ワークを撮影した画像中から前記視野欠け領域判定部が判定した視野欠け領域以外のX線透視画像をトリミング領域の画像として取得するトリミング画像取得部と、
    前記トリミング画像取得部が取得したトリミング領域のX線透視画像に基づいてCT画像を再構成する再構成処理部を備えることを特徴とするX線検査装置。
  2. ワークを撮影した画像中から前記視野欠け領域判定部が判定した視野欠け領域と視野欠け領域以外の領域の境界を整正する境界整正部を有する請求項1に記載のX線検査装置。
  3. X線の照射源と、被照射物を載せるテーブルと、被照射物を透過したX線を受光してその透過画像を検出するX線検出器と、を備えたX線検査装置であって、
    前記X線検出器をX線の光軸に沿って移動させるシフト機構と、
    前記シフト機構による前記X線検出器の移動を制御する制御部と、
    視野欠け領域を判定するための基準画像とトリミングの対象となるワークの画像を、前記X線検出器から取得する画像取得部と、
    ユーザが予め入力した下記のデータを読み込む設定値取得部と、
    (1) X線照射角(α)
    (2) 検出器ピッチ(mm/検出器チャンネル)
    (3) 基準FDD(L1)
    前記設定値取得部から取得したX線照射角(α)と基準FDDを基に、基準FDD(L1)における照射範囲を基準照射範囲(W1)として求める基準照射範囲計算部と、
    前記設定値取得部及び前記基準照射範囲計算部から得られた値に基づいて、任意のFDD位置(L2)における照射範囲(W2)を下記の式1により求める撮影位置照射範囲計算部と、
    式1:求めたい照射範囲(W2)=基準照射範囲(W1)×(任意のFDD(L2)/基準FDD(L1))
    前記撮影位置照射範囲計算部が求めた照射範囲(W2)が検出器何チャンネルに相当するかを下記式2で計算して、トリミング領域を求めるトリミング領域計算部と、
    式2:トリミング領域=任意のFDDでの照射範囲(W2)/検出器ピッチ(mm)
    ワークを撮影した画像中から前記トリミング領域計算部が計算したトリミング領域のX線透視画像を取得するトリミング画像取得部と、
    前記トリミング画像取得部が取得したトリミング領域のX線透視画像に基づいてCT画像を再構成する再構成処理部を備えることを特徴とするX線検査装置。
  4. 前記トリミング領域計算部が求めた複数のFDDにおけるトリミング領域を、各FDDと対応付けて記憶する記憶部を備え、
    トリミング画像取得部は、前記ワークの撮影箇所のFDDに合わせて対応するトリミング領域を記憶部から読み出してトリミング領域のX線透視画像を取得する請求項3に記載のX線検査装置。

JP2017078459A 2017-04-11 2017-04-11 X線検査装置 Active JP6843683B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017078459A JP6843683B2 (ja) 2017-04-11 2017-04-11 X線検査装置
PCT/JP2018/011217 WO2018190092A1 (ja) 2017-04-11 2018-03-20 X線検査装置
CN201880015777.1A CN110383051B (zh) 2017-04-11 2018-03-20 X射线检查装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017078459A JP6843683B2 (ja) 2017-04-11 2017-04-11 X線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018179711A JP2018179711A (ja) 2018-11-15
JP6843683B2 true JP6843683B2 (ja) 2021-03-17

Family

ID=63793280

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017078459A Active JP6843683B2 (ja) 2017-04-11 2017-04-11 X線検査装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6843683B2 (ja)
CN (1) CN110383051B (ja)
WO (1) WO2018190092A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113406710A (zh) * 2020-03-17 2021-09-17 同方威视技术股份有限公司 探测器模块、探测器设备和检查设备
JP2022013150A (ja) * 2020-07-03 2022-01-18 オムロン株式会社 X線検査装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62254737A (ja) * 1986-04-28 1987-11-06 株式会社東芝 X線ct装置
JPS63243852A (ja) * 1987-03-31 1988-10-11 Toshiba Corp Ctスキヤナの画像再構成方式
JP4654551B2 (ja) * 2001-08-27 2011-03-23 株式会社島津製作所 Ct装置
JP2004362876A (ja) * 2003-06-03 2004-12-24 Toshiba Corp X線透視撮影装置
JP2005241575A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Toshiba Corp X線断層撮影装置および立体透視画像構成装置
JP4640589B2 (ja) * 2005-05-12 2011-03-02 株式会社島津製作所 X線撮影装置
JP4150390B2 (ja) * 2005-09-14 2008-09-17 Tdk株式会社 外観検査方法及び外観検査装置
CN101210896B (zh) * 2006-12-30 2011-05-11 同方威视技术股份有限公司 一种射线源与探测器的对准机构及其方法
JP5075490B2 (ja) * 2007-06-07 2012-11-21 株式会社日立メディコ X線ct装置
TWI394490B (zh) * 2008-09-10 2013-04-21 Omron Tateisi Electronics Co X射線檢查裝置及x射線檢查方法
JP5522345B2 (ja) * 2009-02-10 2014-06-18 東芝Itコントロールシステム株式会社 Ct装置およびct装置の較正方法
JP2010204060A (ja) * 2009-03-06 2010-09-16 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd X線検査装置及びx線検査装置の検査方法
JP5395614B2 (ja) * 2009-10-23 2014-01-22 パナソニック株式会社 X線検査装置
US9384547B2 (en) * 2011-07-19 2016-07-05 Hitachi, Ltd. X-ray image diagnostic apparatus and method for controlling X-ray generation device
CN103163163A (zh) * 2011-12-16 2013-06-19 株式会社岛津制作所 X射线检查装置
CN102932582B (zh) * 2012-10-26 2015-05-27 华为技术有限公司 实现运动检测的方法及装置
CN104865281B (zh) * 2014-02-24 2017-12-12 清华大学 人体背散射检查方法和系统
JP6583649B2 (ja) * 2015-02-24 2019-10-02 株式会社島津製作所 X線透視撮影装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018179711A (ja) 2018-11-15
CN110383051B (zh) 2022-07-05
WO2018190092A1 (ja) 2018-10-18
CN110383051A (zh) 2019-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4977201B2 (ja) マルチx線発生装置のための制御装置、制御方法、及びコンピュータ可読メモリ
JP6636923B2 (ja) X線画像装置
US6901132B2 (en) System and method for scanning an object in tomosynthesis applications
US7244063B2 (en) Method and system for three dimensional tomosynthesis imaging
US11783479B2 (en) Methods and systems for a field-of-view preview
US8345818B2 (en) Tomosynthesis system for digital X-ray imaging and method of controlling the same
JP6843683B2 (ja) X線検査装置
US9782138B2 (en) Imaging apparatus and method
EP3850346B1 (en) Dynamic radiation collimation for non-destructive analysis of test objects
JP2020048991A5 (ja)
CN107049346B (zh) 医疗摄影控制方法、医疗摄影控制装置和医疗摄影设备
JP6591332B2 (ja) 放射線強度分布測定システム及び方法
KR102117290B1 (ko) 의료 영상 재구성 장치 및 그 방법
KR102096561B1 (ko) 의료 영상 재구성 장치 및 그 방법
KR102286358B1 (ko) X선 촬상 장치
JP5564385B2 (ja) 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影方法およびプログラム
KR102246090B1 (ko) Fov 확장기능을 갖는 방사선 촬영 장치
KR102304968B1 (ko) 삼차원 x-레이 이미지를 캡처하기 위한 방법
JP6299045B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びx線撮影装置
CN112568918A (zh) 求取断层图像的方法、图像生成单元、程序产品和介质
KR20200120108A (ko) Fov 확장기능을 갖는 방사선 촬영 장치
JP2014068985A (ja) 放射線撮影装置
JP2011036407A (ja) 放射線撮影装置
WO2019202841A1 (ja) 放射線画像処理装置、放射線画像処理方法及びプログラム
JP6375575B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びx線撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191216

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210126

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6843683

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250