JPH10175330A - 光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置 - Google Patents

光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置

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JPH10175330A
JPH10175330A JP9198373A JP19837397A JPH10175330A JP H10175330 A JPH10175330 A JP H10175330A JP 9198373 A JP9198373 A JP 9198373A JP 19837397 A JP19837397 A JP 19837397A JP H10175330 A JPH10175330 A JP H10175330A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 用紙などの測定対象物の被測定面がレンズ光
軸方向に変動する場合でも、その変動に影響されない高
精度の測定を行うことができるようにする。 【解決手段】 光源41からの光を、レンズ43を介し
て、または介することなく、紙面37a上の特定の反射
領域42に照射する。光電変換素子44を、レンズ43
の後側焦点面43bに設置し、紙面37a上の反射領域
42からの反射光(散乱光または拡散光を含む)のうち
の、所定の角度範囲内に反射する光のみをすべて、レン
ズ43を介して光電変換素子44で受光する。その受光
出力から、紙面37a上に形成された画像の濃度を測定
する。光源41からの光をレンズ43を介して紙面37
a上に照射する場合には、光源41はレンズ43の後側
焦点面43bより後方に配置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば、カラー
プリンタなどの画像形成装置(画像出力装置)におい
て、出力されたプリント画像の画質を高精度で測定する
ことができる光学測定方法および光学測定装置に関す
る。また、この光学測定装置を内蔵し、その測定結果を
フィードバックして画質制御を行うことができる画像形
成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータを中心としたネットワーク
技術の進展により、画像出力装置としてのプリンタをネ
ットワークに接続するネットワークプリンタが急速に普
及している。特に、出力する画像のカラー化に伴い、近
年、カラープリンタの開発が盛んになっており、カラー
画質の安定性の向上、複数のカラープリンタ間における
カラー画質の均一化などの要求が高まってきている。
【0003】この要求のため、出力された画像の画質、
特にカラー画像の場合には色差を測定して、その測定結
果を画像形成の各工程にフィードバックする必要性が高
まっており、特に、プリンタに測定装置を内蔵させて、
出力された画像の画質をオンラインでモニターし、その
測定結果をフィードバックする技術が重要視されてきて
いる。そのため、プリンタに内蔵する、この種の測定装
置として、小型であるが高精度で、低コストの測定装置
が要求されている。
【0004】画質モニターに関して、オフラインによ
り、用紙などの画像形成媒体を固定した状態で測定する
装置としては、高精度の画像測定が可能な、X−riteと
呼ばれている測色装置が広く使用されている。
【0005】しかし、オンラインの測色装置としては、
上記のX−riteのような高精度のものは、現在のとこ
ろ、実用化されていない。これは、オンラインでの測色
では、測定対象物である画像形成媒体としての用紙の被
測定紙面の、搬送系による上下変動、すなわち用紙の進
行方向に垂直な方向の変動が問題となり、正確な測定が
できないためである。
【0006】すなわち、上記のX−riteなどで用いられ
ている、光源、レンズおよび受光素子(光電変換素子)
を組み合わせた光学系を用いて、上下変動する紙面を測
定する場合には、例えば、紙面が上下に1mm程度変動
すると、紙面で反射および散乱して受光素子に受光され
る光量が変動するため、受光素子の出力は15%程度変
化し、受光素子の出力に大きな誤差を生じて、正確な色
測定をすることができない。
【0007】このような紙面の上下変動を補正して測色
をする、オンライン用の測色装置も提案されている。こ
の装置は、図20に示すように、特性測定ユニット1、
距離測定ユニット2および距離補正計算ユニット3によ
って構成される。
【0008】特性測定ユニット1は、測定対象物である
用紙4が矢印方向に搬送される際に、測色センサによっ
て、用紙4上に形成されているカラー画像を測色し、そ
の測色出力を距離補正計算ユニット3に供給する。
【0009】距離測定ユニット2は、用紙4の搬送方向
において特性測定ユニット1より手前の位置に設けら
れ、距離検出センサによって、その位置における用紙4
の上下変動を測定する。そして、その上下変動の測定出
力を距離補正計算ユニット3に供給する。特性測定ユニ
ット1と距離測定ユニット2との用紙搬送方向の距離D
は、例えば70mmとされる。
【0010】距離補正計算ユニット3は、特性測定ユニ
ット1からの測色出力を、距離測定ユニット2からの用
紙4の上下変動の測定出力を用いて補正して、用紙4の
上下変動の影響を除去する。そして、その補正後の測色
出力を測定結果として出力する。
【0011】一方、特開昭63−16247号公報に
は、測定結果が一定の範囲内であれば測定装置から試料
(測定対象物)までの距離に実質的に影響されないとさ
れる拡散反射率測定装置が示されている。この装置は、
被測定面上における照明光の強度を均一にすることによ
って、その目的を達成しようとするもので、その概略構
成を図21に示す。
【0012】図21に示すように、この装置は、光源と
して点光源11を用いるとともに、この点光源11を集
光レンズ12の焦点位置に配置する。これによって、点
光源11から発した光は、集光レンズ12により平行光
となり、矢印10aの方向に搬送される用紙の紙面10
bに入射する。このとき、紙面10b上の光照明範囲W
を測定範囲mより大きくする。そして、紙面10b上
の、この測定範囲mからの反射光をレンズ13を介して
光ファイバ14の端面14aで受光する。
【0013】この公報に記載された方法は、紙面10b
に対して平行光を入射させることによって、光照明範囲
Wより小さい測定範囲mでは、照明強度を、点光源11
および光ファイバ端面14aとの距離に無関係に、ほぼ
一定に維持できるようにするものである。そして、照明
強度を一定に維持できることにより、紙面10bが上下
方向に一定範囲Δd内で変動しても、測定結果を、紙面
10bと光ファイバ端面14aとの距離に実質的に影響
されないようにすることができる、というものである。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図20
の測定装置では、特性測定ユニット1と距離測定ユニッ
ト2とを、用紙搬送方向に距離Dだけ離さなければなら
ないため、各測定対象箇所についての測色と距離測定と
を同時に行うことができず、高精度の補正を行うことは
困難であって、測色出力の高精度化に対して大きな制約
となる。
【0015】また、構成的にも、特性測定ユニット1と
距離測定ユニット2とが必要になるとともに、補正計算
が必須となるため、装置が大掛かりとなり、価格も高価
になる欠点がある。
【0016】また、図21に示した特開昭63−162
47号公報の方法は、光源として点光源11を用い、集
光レンズ12により平行光とすることによって、紙面1
0b上の測定面における照明強度をほぼ一定に維持し、
これにより紙面10bの上下変動に影響されない測定結
果を得るようにしているが、元来、完全な点光源は存在
しないため、点光源11を集光レンズ12の焦点位置に
配置しても、光量が均一な照明とはならず、また平行光
にもならない。そのため、実際には、紙面10bの上下
変動によって紙面10b上の照明強度は変化してしま
う。
【0017】さらに、受光系は、紙面10bからの反射
光がレンズ13を介して光ファイバ端面14a上で結像
する構成であるため、紙面10bが上下に変動して反射
点の位置がずれると、結像点も光ファイバ端面14aか
らずれてしい、結局、この公報の方法では、紙面10b
の上下変動の影響のない測定結果を得ることは困難であ
る。
【0018】以上のような方法のほかに、紙面の上下変
動を抑える一般的な対策として、ローラなどにより用紙
を押さえ付ける方法も考えられる。しかしながら、紙面
上に形成されたトナー画像などの画像の剥離やずれを防
止しなければならないために、強く押さえることには限
界があり、また、かりに強く押さえることができるとし
ても、用紙の上下変動量をゼロにすることは不可能で、
少なくとも数100μm程度の変動は残る。そのため、
受光素子の出力が変化し、高精度の測定出力を得ること
はできない。
【0019】この発明は、以上の点を考え、用紙などの
測定対象物の被測定面が変動する場合でも、その変動に
影響されない高精度の測定を行うことができるととも
に、測定装置を小型かつ安価に構成できるようにしたも
のである。
【0020】
【課題を解決するための手段】この発明の光学測定方法
は、互いに相対位置が一定となるように設置された光
源、レンズおよび光電変換素子を用いるものであって、
前記光源からの光を測定対象物に照射し、この測定対象
物からの反射光を前記レンズを介して前記光電変換素子
で受光し、この光電変換素子の受光出力から、前記測定
対象物に関する特性を測定する方法において、特に、前
記レンズの前記光電変換素子側の焦点面に、前記レンズ
を通過してくる前記測定対象物からの反射光のうちの任
意の一部の領域である特定領域を設定して、前記測定対
象物から、この特定領域に対応する角度範囲内に反射す
る光のすべてのみを、前記レンズを介して前記光電変換
素子で受光し、この光電変換素子が受光した総光量を、
この光電変換素子の出力とする。
【0021】この場合、前記光源からの光を前記レンズ
を介することなく前記測定対象物に照射し、または前記
光源からの光を前記レンズを介して前記測定対象物に照
射することができる。後者の場合には、前記光源を、前
記レンズの前記光電変換素子側の焦点面より前記レンズ
から遠い位置に配置することが望ましい。
【0022】また、いずれの場合も、前記レンズの前記
光電変換素子側の焦点面に、前記特定領域の面積を受光
面積とする光電変換素子を配置し、または前記特定領域
は開口であって、この開口を通る前記測定対象物からの
反射光のみを前記光電変換素子で受光するようにし、ま
たは前記特定領域の位置に、この特定領域を通過する光
のみを前記光電変換素子に入射させる集光レンズを設け
ることができる。
【0023】なお、この発明でいう「反射」は、正反射
だけでなく、散乱や拡散を含むものである。
【0024】
【作用】上記の構成の、この発明の光学測定方法におい
ては、レンズの光電変換素子側の焦点面(以下、後側焦
点面と称する)に設定された特定領域には、測定対象物
からの反射光(上記のように散乱光や拡散光を含む)の
うち、レンズ光軸方向に対して、その特定領域の面積に
より定まる特定の角度範囲内に入る光のみが集まり、そ
の光のみがすべて光電変換素子で受光される。
【0025】すなわち、測定対象物で反射した光のう
ち、レンズ光軸方向に対して特定の角度範囲内に入る光
のみが、光電変換素子に入射することになり、光電変換
素子の受光量は、測定対象物、例えば紙面がレンズ光軸
方向に変動しても、その変動に影響されない。
【0026】この発明の原理を、図3を用いて示す。図
3は、測定対象物の例としての紙面で反射した光が、レ
ンズを通ってレンズの後側焦点面に設置された光電変換
素子に入射する状態を示している。この図3を用いて、
光電変換素子に入射する光が紙面の上下変動に依存しな
いことを示す。ただし、図3では便宜上、レンズは収差
の無いレンズを仮定し、レンズの厚みはゼロ、レンズ幅
は無限として考える。
【0027】図3において、点Oはレンズの中心、軸4
3aはレンズの光軸、面43cはレンズの位置を、それ
ぞれ示す。紙面201,202は、変動する紙面位置を
示し、結像面301,302は、その変動する紙面位置
201,202に対応する結像面位置を示す。点Fa
は、レンズの紙面側の焦点、点Fbは、レンズの光電変
換素子側の焦点(後側焦点)、距離faは、紙面側にみ
たレンズの焦点距離、距離fbは、光電変換素子側にみ
たレンズの焦点距離、点Cは、光電変換素子の受光領域
の端、距離rは、その受光領域の端Cとレンズの後側焦
点Fbとの間の距離である。
【0028】ここで、レンズの光軸43aの方向に異な
る紙面位置201,202上の反射点A1,A2で反射
して、レンズを通って結像面位置301,302上の結
像点B1,B2で結像する光を考えるとき、この光が光
電変換素子の受光領域の端Cを通るときの、反射点A
1,A2での反射角度(光軸43aの方向に対する角
度)をs1,s2とする。
【0029】また、紙面位置201,202とレンズと
の間の距離をa1,a2、後側焦点面43bと結像面位
置301,302との間の距離をb1,b2、反射点A
1,A2からの反射光のうちの光軸43aに平行な光が
レンズ面を通過する点をL1,L2とする。そして、反
射点A1,A2で反射して、光電変換素子の受光領域の
端Cを通って結像点B1,B2に結像する光がレンズ面
を通過する点をM1,M2とする。さらに、点L1,M
1間の距離をd1、点L2,M2間の距離をd2とす
る。
【0030】この結像系におけるニュートンの式から、 (a1−fa)/fa=fb/b1 …(1) (a2−fa)/fa=fb/b2 …(2) が成り立つ。また、3角形B1L1M1と3角形B1F
bCの相似、および3角形B2L2M2と3角形B2F
bCの相似から、 r/b1=d1/(b1+fb) …(3) r/b2=d2/(b2+fb) …(4) が成り立つ。
【0031】さらに、3角形A1L1M1および3角形
A2L2M2において、角度s1およびs2を用いて、 d1=a1・tan(s1) …(5) d2=a2・tan(s2) …(6) が成り立つ。
【0032】この式(5)(6)を、それぞれ式(3)
(4)に代入すると、 a1=(b1+fb)r/(b1・tan(s1)) …(7) a2=(b2+fb)r/(b2・tan(s2)) …(8) が得られ、さらに、この式(7)(8)を、それぞれ式
(1)(2)に代入すると、 r/tan(s1)=fa …(9) r/tan(s2)=fa …(10) が得られる。
【0033】そして、この式(9)(10)から、 s1=s2 …(11) が導き出される。
【0034】このことを一般化すると、紙面位置20
1,202などのように光軸43aの方向に変動する紙
面のそれぞれの紙面位置20i(iは1,2,3…)上
の、反射点A1,A2などのそれぞれの反射点Aiで反
射して、レンズを通って結像面位置301,302など
のそれぞれの結像面位置30i上の、結像点B1,B2
などのそれぞれの結像点Biで結像する光を考えると
き、この光が光電変換素子の受光領域の端Cを通るとき
の、反射点Aiでの反射角度をsiとすると、他のパラ
メータに関係なく、反射角度siが常に一定となる。
【0035】すなわち、紙面の変動に伴つて、紙面にお
ける反射領域が移動し、反射点Aiが移動しても、反射
角度siは常に一定である。反射(上記のように散乱や
拡散を含む)が理想的に生じているとすれば、反射点A
iでの状態が同一のとき、この反射角度si内に含まれ
る光線数は一定であると考えられるので、光電変換素子
の受光領域中のFb−C間に入射する光量は、紙面−レ
ンズ間の距離a、および紙面−光電変換素子間の距離に
依存しないで、各反射点Aiの状態に応じた正確な光量
となる。
【0036】したがって、紙面の特定の領域から反射し
て光電変換素子に入射する光は、紙面−光電変換素子間
の距離に依存せず、その領域の状態に応じたものとな
る。
【0037】なお、図3では各線分を平面上で表現して
いるが、実際の光学系は、レンズの光軸43aを中心と
した回転体として考えることができる。すなわち、光電
変換素子の受光領域のFb−C間の長さrは、レンズの
光軸43aを中心とした円の半径のように一定である必
要はなく、光電変換素子の受光領域は、円形や四角形な
ど、任意の形状にすることができる。
【0038】また、光電変換素子は、レンズの光軸43
aの位置を、その中心位置とする必要はなく、また、測
定対象物からの光がレンズを通って入射する後側焦点面
43b内であれば、レンズの光軸43aを含まない位置
に設置することも可能である。
【0039】以上のように、この発明によれば、測定対
象物上の点から特定の角度範囲内に反射した光のみを、
レンズの後側焦点面に設置した光電変換素子の特定の領
域において受光することによって、測定対象物の上下変
動にかかわらず常に、測定対象物上の反射領域の反射
率、濃度、色などの特性を正確に測定することが可能と
なる。
【0040】
【発明の実施の形態】以下に、まず、この発明の光学測
定方法ないし光学測定装置を用いる、この発明の画像形
成装置の実施形態を示し、次いで、この発明の光学測定
方法および光学測定装置の実施形態を示す。
【0041】[画像形成装置の実施形態]図18は、こ
の発明の画像形成装置の一例の要部を示す。この例の画
像形成装置は、電子写真方式によって用紙上に画像を形
成するものである。
【0042】図では省略した画像入力部では、原槁上の
画像がスキャナにより読み取られて入力画像データが得
られ、または外部のコンピュータ上で生成された入力画
像データが装置内に取り込まれる。そして、同様に図で
は省略した画像処理部では、画像入力部からの入力画像
データに対して色変換や階調補正などの必要な処理がな
されて、画像出力部100で出力すべき出力画像データ
が得られる。
【0043】図では省略したスクリーンジェネレータに
より、画像処理部からの出力画像データが、その画素値
に応じてパルス幅が変調されたレーザ・オンオフ信号に
変換される。画像出力部100では、そのレーザ・オン
オフ信号により、レーザ出力部31のレーザダイオード
が駆動されて、レーザ出力部31から、画像信号によっ
て変調されたレーザ光が得られ、そのレーザ光が、感光
体32上に照射される。
【0044】感光体32は、スコロトロン帯電器33に
より一様に帯電されて、レーザ光が照射されることによ
り、感光体32上に静電潜像が形成され、その静電潜像
が形成された感光体32に対して現像器34の現像ロー
ルが当接することにより、その静電潜像がトナー像に現
像される。
【0045】さらに、その感光体32上のトナー像が、
転写器35によって用紙37上に転写され、その用紙3
7上のトナー像が、定着器36によって定着される。感
光体32は、トナー像が用紙37上に転写された後、ク
リーナ38によってクリーニングされて、1回の画像形
成過程が終了する。
【0046】画像出力部100では、画像形成装置の電
源投入時や、ユーザのマニュアル操作による装置のセッ
トアップ時に、バナーシートが出力される。ユーザのマ
ニュアル操作によるセットアップは、画像形成装置の図
では省略したユーザインタフェース上に設けられたモー
ド切換スイッチによって選択できるようにされ、このモ
ード切換スイッチによりマニュアルセットアップモード
が選択されると、ユーザが出力しようとした文書の出力
の直前にバナーシートが出力され、装置のセットアップ
が行われる。
【0047】そして、画像出力部100には、定着器3
6より後方の位置において、このバナーシート上に形成
された、画質制御用のパッチと呼ばれる基準パターンの
定着画像を測定する、上述した原理により後述するよう
な構成とされる、この発明の光学測定装置40が設けら
れる。この光学測定装置40では、用紙37上に光を照
射し、その反射光を受光して、反射率を測定し、その反
射率に基づいて濃度や色などの測定結果の情報を得る。
【0048】この光学測定装置40での測定結果の情報
は、画像制御部50に送られる。画像制御部50は、光
学測定装置40での測定結果を元に、画像出力部100
のレーザ出力部31、スコロトロン帯電器33または現
像器34などを制御して、出力画像の画質を制御する。
【0049】図19は、この例の画像形成装置の画像出
力部100の画質制御を主体として構成を示す。画像出
力部100は、レーザ出力部31からのレーザ光の光量
を制御するための光量コントローラ101、スコロトロ
ン帯電器33のグリッド電源102、現像器34へのト
ナー供給を制御するためのディスペンスモータ103な
どを有する。
【0050】画像制御部50は、光学測定装置40での
測定結果に基づいて、すなわち基準パターンの定着画像
の濃度などの測定出力に基づいて、画像出力部100の
操作量、この例では、スコロトロン帯電器33のグリッ
ド電圧およびレーザ出力部31のレーザ出力パワーを制
御して、出力画像の画質を制御する。さらに、画像制御
部50は、光学測定装置40での測定結果に基づいて、
ディスペンスモータ103を駆動して、現像器34への
トナー補給量を制御し、現像濃度を制御して、出力画像
の画質を制御する。
【0051】なお、画像制御部50は、転写器35や定
着器36などにおける画質に関与するパラメータを制御
するように構成することもできる。
【0052】以上のように、この例の画像形成装置で
は、光学測定装置40での測定結果を画像制御部50に
フィードバックし、画像制御部50において、画像出力
部100のレーザ出力部31やスコロトロン帯電器33
などの各部を制御して出力画像の画質を制御することが
できる。このとき、用紙37は、その紙面が用紙搬送方
向とは直交する上下方向に変動しながら移動するが、光
学測定装置40では、この紙面の上下変動に影響されず
に高精度の測定が行われる。
【0053】[光学測定方法および光学測定装置の実施
形態]図1および図2は、この発明の光学測定装置40
の基本的構成を示し、図1は、光源41からの光をレン
ズ43を介することなく測定対象物である紙面37aに
照射する場合であり、図2は、光源41からの光をレン
ズ43を介して測定対象物である紙面37aに照射する
場合である。
【0054】この光学測定装置40は、基本的には、紙
面37a上の後述するように定められる所定の反射領域
42内に光を照射する光源41と、この反射領域42か
らの反射光を集光するレンズ43と、このレンズ43の
後側焦点面43bに設置する光電変換素子44とによっ
て構成する。
【0055】光電変換素子44の受光領域は、後側焦点
面43bに含ませ、レンズ43を通過してくる光の一部
を受光する特定の大きさとする。この受光領域の大きさ
は、受光出力として周波数応答を考慮したものとし、比
較的小さくする。
【0056】この構成によって、上述したように、紙面
37aからの反射光のうちの、光電変換素子44の受光
領域により定まる特定の角度範囲内に入る光のみが、光
電変換素子44で受光される。そして、この光電変換素
子44が受光した総光量が光電変換素子44の出力とさ
れる。図では省略したが、光学測定装置40は、この受
光出力を分析して、例えば反射率から種々の測定結果を
得る分析部を備えるものとする。
【0057】光源41からの照射光は、平行光に近いこ
とが望ましいが、平行光以外であってもよい。この例で
は、光源41としてはLEDを用い、レンズ43として
は平凸レンズを用い、光電変換素子44としてはPIN
−Siフォトダイオードを用いる。
【0058】図3での原理説明では、レンズ43の幅を
無限大と仮定したが、実際にはレンズ幅は有限であり、
このレンズ幅を考慮しなければならない。そのため、光
源41からの光は、レンズ幅との関係で以下のような制
限条件を満たす反射領域42内に照射する必要がある。
【0059】図4に示すように、紙面37a上の反射領
域42内の各点で反射して光電変換素子44に入射する
光は、上記の式(5)(6)に従って、各点から光軸4
3aに平行な方向の両側のそれぞれ角度sの範囲に、す
なわちs×2の角度範囲に反射して、レンズ43上では
d×2の幅に広がることになる。
【0060】図4から明らかなように、反射領域42の
端tl,trで反射した光が、レンズ43の幅u内を通
過して光電変換素子44に入射するには、 u≧t+2・d …(12) の条件を満足する必要がある。
【0061】ここで、 d=a・tan(s) …(13) であり、上記の式(9)(10)から、 tan(s)=r/fa …(14) であるので、式(12)は、 u≧t+2・a・r/fa …(15) となる。
【0062】レンズ幅u、光電変換素子44の幅2r、
および焦点距離faは、固定された値であるので、紙面
37aへの光の照射と紙面37aでの光の反射に関わ
る、反射領域42の幅t、およびレンズ43と紙面37
aとの間の距離aが、式(15)の制限条件を満たす範
囲内であれば、光電変換素子44に入射すべき光で、レ
ンズ43を通らないものは存在しないことになる。
【0063】したがって、式(15)の制限条件を満た
す反射領域42内に照射されて、s×2の角度範囲内に
反射した光は、すべてレンズ43を通って光電変換素子
44に入射することになり、紙面37aの上下変動にか
かわらず、原理的に出力変化がゼロとなる、非常に高精
度の測定が可能となる。
【0064】この例では、図5に示すように、紙面37
aが上下に変動しても、光源41による紙面37a上の
照射領域Tが、常に上記の反射領域42内となるよう
に、照射領域Tを設定する。したがって、紙面37aの
上下変動があっても、その上下変動に影響されずに、紙
面37aからの反射光をレンズ43を介して光電変換素
子44で受光することができる。
【0065】なお、照射領域Tは、画質制御用の基準パ
ターンの単位パッチより小さくする。照射領域Tが単位
パッチより大きいときには、パッチ周囲の白地部分から
の反射光が測定結果に影響するからである。
【0066】なお、図4および図5では、反射領域42
および光電変換素子44を、それぞれ光軸43aの両側
において同じ長さにしたが、光軸43aの両側において
異なる長さにしてもよい。その場合には、反射領域42
内の各点から光電変換素子44に入射する光の角度範囲
は、光軸43aに平行な方向の両側で異なる角度範囲と
なる。
【0067】また、上述したように、光電変換素子44
の設置位置は、レンズ43の後側焦点面43b内であれ
ば、レンズ43の光軸43aを含む位置でなくてもよ
い。その場合には、図4および図5において、反射領域
42内の各点から光電変換素子44に入射する光の角度
範囲は、光軸43aに平行な方向の片側のみになる。
【0068】さらに、上述したように、実際の光学系
は、レンズ43の光軸43aを中心とした回転体として
考えることができるので、光軸43aから光電変換素子
44の端までの距離は一定である必要はなく、光電変換
素子44の形状は、円形や四角形など、任意の形状にす
ることができる。このとき、一般的に、 u/2≧t/2+a・r/fa …(16) が成り立つ。
【0069】このように、この発明における制限条件
は、レンズ43および光電変換素子44のスペックに依
存した反射領域42の設定であり、これ以外の条件、例
えば、光源41からの光が拡散光であるか平行光である
か、光量の分布が均一であるか否か、などの特性の影響
を受けない。
【0070】ただし、上記の制限条件に含まれない領域
に光を照射し、そこを反射領域として測定する場合にお
いても、測定対象物の変動量に起因する誤差が測定者が
要求する誤差を下回っている範囲内においては、測定対
象物の特性の測定は十分可能である。
【0071】なお、光電変換素子44をレンズ43の後
側焦点面43b内に設置するには、次のようにする。す
なわち、例えば、紙面37aの状態が均一な白紙に光源
41から光を照射し、この白紙をレンズ43の光軸43
aに垂直な面内で移動させると同時に、光軸43aに垂
直な面内で光電変換素子44を移動させたときに、その
面内のいずれの位置でも受光出力レベルが等しくなるよ
うな面位置を探し、その面位置内の所望の位置に光電変
換素子44を設置する。
【0072】図1のように、光源41からの光をレンズ
43を介することなく紙面37aに照射する例で、レン
ズ43として、幅(直径)uが15mm、焦点距離f
(=fa=fb)が20mmの平凸レンズを用い、光電
変換素子44として、直径2rが1.2mmのPIN−
Siフォトダイオードを用いて、その中心位置をレンズ
43の光軸43aに一致させ、光源41として、上述し
たようにLEDを用いることによって、全体で30mm
×30mm×20mmという小型サイズの光学測定装置
を実現することができた。
【0073】この具体例の場合、反射領域42の制限条
件については、レンズ43の直径uが15mm、光電変
換素子44の直径2rが1.2mm、レンズ43の焦点
距離faが20mmであるので、紙面−レンズ間の距離
aが20mmの場合には、式(15)から、反射領域4
2の直径tは13.8mmまでが可能となる。
【0074】なお、より微小な領域を測定する場合に
は、これらの数値をそのまま縮小することによって、直
径tが1mm程度、さらにはそれ以下の領域を測定して
評価することも可能である。
【0075】図6は、この具体例の光学測定装置を用い
て、紙面を変動させて測定を行った場合の受光出力の変
化を示す。これから明らかなように、この具体例によれ
ば、紙面の上下変動が1mm以上であっても、受光出力
の変化を0.1%以下に抑制でき、レンズ43の収差な
どの各部品に起因する誤差が残る程度の、高精度の測定
が可能となる。上述したように、この発明の方法ないし
装置によらない場合には、紙面の上下変動量が1mmの
とき、受光出力の変化が15%程度となるため、上記の
具体例によって2桁以上の大幅な高精度化を実現できる
ことになる。
【0076】さらに、この例では、1個あたり数10円
から数100円の部品を使用して装置を構成できるた
め、光学測定装置本体は1000円程度という非常に低
いコストで製造可能である。
【0077】図2のように、光源41からの光をレンズ
43を介して紙面37aに照射する例で、レンズ43と
して、幅(直径)uが20mm、焦点距離f(=fa=
fb)が30mmの平凸レンズを用い、光電変換素子4
4として、直径2rが1.2mmのPIN−Siフォト
ダイオードを用いて、その中心位置をレンズ43の光軸
43aに一致させ、光源41として、上述したようにL
EDを用いることによって、全体で30mm×30mm
×40mmという小型サイズの光学測定装置を実現する
ことができた。
【0078】この具体例の場合、反射領域42の制限条
件については、レンズ43の直径uが20mm、光電変
換素子44の直径2rが1.2mm、レンズ43の焦点
距離faが30mmであるので、紙面−レンズ間の距離
aが20mmの場合には、式(15)から、反射領域4
2の直径tは19.2mmまでが可能となる。
【0079】なお、この場合も、より微小な領域を測定
する場合には、これらの数値をそのまま縮小することに
よって、直径tが1mm程度、さらにはそれ以下の領域
を測定して評価することも可能である。
【0080】図7は、この具体例の光学測定装置を用い
て、紙面を変動させて測定を行った場合の受光出力の変
化を示す。これから明らかなように、この具体例によれ
ば、紙面の上下変動が1mm以上であっても、受光出力
の変化を0.1%以下に抑制でき、レンズ43の収差な
どの各部品に起因する誤差が残る程度の、高精度の測定
が可能となる。上述したように、この発明の方法ないし
装置によらない場合には、紙面の上下変動量が1mmの
とき、受光出力の変化が15%程度となるため、上記の
具体例によって2桁以上の大幅な高精度化を実現できる
ことになる。
【0081】さらに、この例でも、1個あたり数10円
から数100円の部品を使用して装置を構成できるた
め、光学測定装置本体は1000円程度という非常に低
いコストで製造可能である。
【0082】ここで、図1のように光源41からの光を
レンズ43を介することなく紙面37aに照射する場合
と、図2のように光源41からの光をレンズ43を介し
て紙面37aに照射する場合とを、比較する。
【0083】図1のように、光源41からの光をレンズ
43を介することなく紙面37aに照射する場合には、
光源41をレンズ43の側方に配置するため、光源41
からの光はレンズ43の光軸43aに対して大きな角度
で紙面37aに入射することになる。そのため、図8
(A)に示すように、紙面37aが上下方向に変動した
とき、光源41による紙面37a上の照射領域Tが水平
方向(光軸43aに垂直な方向)に大きく移動すること
になる。
【0084】これに対して、図2のように、光源41か
らの光をレンズ43を介して紙面37aに照射する場合
には、光源41からの光はレンズ43の光軸43aに対
して小さな角度で紙面37aに入射するので、図8
(B)に示すように、紙面37aが上下方向に同じ量だ
け変動したときの、光源41による紙面37a上の照射
領域Tの水平方向への移動量は小さくなる。
【0085】そのため、光源41からの光をレンズ43
を介することなく紙面37aに照射する場合には、紙面
37aが上下方向に変動したとき、紙面37a上の照射
領域Tからの反射光中で、レンズ43の周辺部分を通る
光が多くなって、レンズ43が有する球面収差により、
光電変換素子44で受光される光量が変化し、光源41
からの光をレンズ43を介して紙面37aに照射する場
合に比べると、紙面の上下変動による受光出力の変化が
大きくなる。
【0086】そこで、光源41からの光をレンズ43を
介することなく紙面37aに照射する場合に、レンズ4
3を介して紙面37aに照射する場合と同程度に受光出
力の変化を小さくするために、レンズ43の幅(直径)
uを小さくして、光源41をより光軸43aに近付ける
ことにより、光源41からの光を光軸43aに対して小
さな角度で紙面37aに入射させようとすると、上記の
式(15)で表される制限条件を満たすことが困難とな
る。
【0087】そのため、レンズ43を紙面37aから遠
ざけることにより、光源41からの光を光軸43aに対
して小さな角度で紙面37aに入射させようとすると、
光学測定装置全体が紙面37aに垂直な方向に大型化し
てしまう。また、光源41をレンズ43の側方ではな
く、レンズ43と紙面37aとの間に配置することによ
り、光源41からの光を光軸43aに対して小さな角度
で紙面37aに入射させようとすると、光源41が紙面
37aからの反射光を遮ってしまい、測定が困難とな
る。
【0088】以上の点から、図2のように光源41から
の光をレンズ43を介して紙面37aに照射する方が、
図1のように光源41からの光をレンズ43を介するこ
となく紙面37aに照射する場合に比べて、より望まし
い。ただし、上述したように、光源41からの光をレン
ズ43を介することなく紙面37aに照射する場合で
も、紙面37aの上下変動による受光出力の変化を十分
に抑制することが可能である。
【0089】図2のように、光源41からの光をレンズ
43を介して紙面37aに照射する場合には、同図に示
すように、光源41は、レンズ43の後側焦点面43b
より後方に配置することが望ましい。このように、光源
41を後側焦点面43bよりレンズ43から遠い位置に
配置することによって、光源41から発した光はレンズ
43を通過する際に集光されるので、紙面37a上の反
射領域42を、より確実に式(15)の条件に制限する
ことができる。
【0090】これに対して、光源41を後側焦点面43
bよりレンズ43に近い位置に配置すると、光源41か
らの光はレンズ43を通った後、さらに広がっていくの
で、反射領域42を式(15)の条件に制限することが
困難となる。また、光源41を後側焦点面43b上に配
置すると、光源41からの光はレンズ43を通った後、
ほぼ平行光となり、反射領域42はレンズ43の幅(直
径)と同じ大きさになるので、やはり反射領域42を式
(15)の条件に制限することは困難となる。
【0091】図1のように、光源41からの光をレンズ
43を介することなく紙面37aに照射する場合、実際
には、反射領域42を制限するために、光源41に絞り
などを設けて、光源41からの光を細い光路のものにす
る必要がある。
【0092】また、光源41からの光をレンズ43を介
して紙面37aに照射する場合、光源41に絞りなどを
設けて、光源41からの光を十分に細い光路のものにす
れば、光源41を後側焦点面43bよりレンズ43に近
い位置に配置し、または後側焦点面43b上に配置して
もよい。
【0093】[光学測定方法および光学測定装置の他の
実施形態] (開口部または集光レンズを設ける場合)図1または図
2に示した例は、光電変換素子44をレンズ43の後側
焦点面43bに配置する場合であるが、この発明は、原
理的に、紙面37aで特定の角度範囲内に反射して後側
焦点面43bの特定領域に入射する光のみをすべて、光
電変換素子44で受光できればよいので、光電変換素子
44は、必ずしも後側焦点面43bに配置する必要はな
く、後側焦点面43bより後方に配置してもよい。
【0094】図9または図10は、このように光電変換
素子44を後側焦点面より後方に配置する場合の一例
で、後側焦点面の特定領域の位置に開口部45を設け
て、この開口部45を通過した光のみをすべて、開口部
45の後方に設けた光電変換素子44で受光する場合で
ある。
【0095】なお、図9は、光源41からの光をレンズ
43を介することなく紙面37aに照射する場合であ
り、図10は、光源41からの光をレンズ43を介して
紙面37aに照射する場合である。
【0096】この例では、紙面37aで特定の角度範囲
内に反射して後側焦点面の特定領域に入射する光のみが
すべて、開口部45を通過して光電変換素子44で受光
されるので、光電変換素子44からは、図1または図2
の例と同様に、紙面37aの上下変動に影響されない受
光出力を得ることができる。
【0097】また、この例では、開口部45の大きさ
を、図4および図5に示した長さ2rに設定すればよ
く、光電変換素子44の大きさは、開口部45を通過し
た光のみをすべて受光できれば、任意に選定することが
できる。
【0098】図11または図12は、図9または図10
の例の開口部45の位置、すなわちレンズ43の後側焦
点面の特定領域の位置に集光レンズ46を設けて、この
集光レンズ46で集光された光のみをすべて、集光レン
ズ46の後方に設けた光電変換素子44で受光する場合
である。
【0099】なお、図11は、光源41からの光をレン
ズ43を介することなく紙面37aに照射する場合であ
り、図12は、光源41からの光をレンズ43を介して
紙面37aに照射する場合である。
【0100】この例でも、紙面37aで特定の角度範囲
内に反射して後側焦点面の特定領域に入射する光のみが
すべて、集光レンズ46で集光されて光電変換素子44
で受光されるので、光電変換素子44からは、図1また
は図2の例と同様に、紙面37aの上下変動に影響され
ない受光出力を得ることができる。
【0101】(画像の色を測定する場合)画像の色を測
定する場合には、一般的に、画像が形成された紙面に垂
直な方向に対して45度の方向から光を照射して、0度
の方向で受光する方法、または逆に、0度の方向から光
を照射して、45度の方向で受光する方法が採られる。
【0102】そこで、この発明でも、測色を行う場合に
は、図1または図2などに示したように、光源41から
の光を、レンズ43を介することなく、またはレンズ4
3を介して、紙面37aに照射するに当たって、光源4
1からの光を、レンズ43の光軸43aに対して45度
前後の角度で、紙面37aに照射する。ただし、紙面3
7aの拡散方向の偏りが大きくなければ、45度前後に
限らず、光軸43aに対して60度以下の角度で照射す
ることができる。
【0103】図1、図2、図9、図10、図11または
図12の例において、光源41として赤、緑または青の
色光を発するものを用いることによって、紙面37a上
に形成された、それぞれ赤、緑または青の補色であるシ
アン、マゼンダまたはイエローの画像の濃度を、光電変
換素子44の受光出力によって測定することができる。
また、ブラック(黒)の画像の濃度の測定用には、上記
の赤、緑または青の色光を発する光源、または白色光を
発する光源を用いることができる。
【0104】このように、上述した例の光学測定装置に
おいて、光源41として赤、緑または青の色光を発する
ものを用いて、紙面37a上のシアン、マゼンダまたは
イエローの画像の濃度を測定した結果、紙面37aの上
下変動が1mm以上であっても、受光出力の変化を0.
1%以下に抑制することができた。これは、色差に関し
ては、濃度に応じて0.1以下から0.4程度の判別が
可能なレベルに相当し、肉眼では判別不可能なレベルの
色差まで容易に判別可能となる。
【0105】さらに、赤、緑および青の色光を発する光
源などの複数の光源を設けて、これら複数の光源を順次
点灯させることによって、フルカラー画像の色を評価す
ることができる。
【0106】図13は、この場合の例を示し、紙面37
a上には、その進行方向に、それぞれ赤、緑、青の補色
であるシアン、マゼンダ、イエローのパッチ画像が形成
されるもので、光源41として、それぞれ赤、緑、青の
色光を発する3つの光源41R,41G,41Bを、例
えばレンズ43の光軸方向からみて120度の角間隔で
配置する。
【0107】これら光源41R,41G,41Bを、紙
面37a上のシアン、マゼンダ、イエローの画像に同期
させて、光源切換器71によって切り換え、光電変換素
子44の受光出力を、増幅器63を介してゲート回路7
2R,72G,72Bに供給して、これらゲート回路7
2R,72G,72Bを、光源切換器71からの切換信
号に同期させて、それぞれ光源41R,41G,41B
が点灯する期間においてゲートが開く状態にして、ゲー
ト回路72R,72G,72Bから、それぞれ光源41
R,41G,41Bが点灯する期間における光電変換素
子44の受光出力SR,SG,SBを取り出し、その受
光出力SR,SG,SBを、図では省略した測定演算部
に供給する。
【0108】したがって、紙面37a上のシアン、マゼ
ンダ、イエローの画像の濃度を、ゲート回路72R,7
2G,72Bの出力SR,SG,SBによって測定する
ことができ、さらに、その出力SR,SG,SBを測定
演算部で総合的に計算することによって、フルカラー画
像の色を評価することができる。
【0109】紙面37a上にブラックのパッチ画像も形
成される場合には、光源41R,41G,41Bのいず
れかをブラックの画像の測定用に兼ねさせ、またはブラ
ックの画像の測定用に白色光を発する光源を追加すると
ともに、光電変換素子44の受光出力からブラックの画
像の測定出力を取り出すゲート回路を追加して設ければ
よい。
【0110】図13は、光源41からの光をレンズ43
を介することなく紙面37aに照射する場合であるが、
光源41からの光をレンズ43を介して紙面37aに照
射する場合にも、同様に構成することができる。
【0111】図14は、画像の色を測定する場合の他の
例を示す。この例では、用紙37上には、矢印で示す搬
送方向に対して直交する左右方向に並べられて、シア
ン、マゼンダ、イエローおよびブラックのパッチ画像が
形成される。
【0112】そして、光学測定システムとして、それぞ
れ上述した光源41として赤、緑、青および赤の色光を
発する光源を用いた、上述したレンズ43および光電変
換素子44を別個に有する4つの光学測定装置40R,
40G,40Bおよび40Rを、用紙37の搬送方向に
対して直交する左右方向に並べて設け、それぞれの光学
測定装置40R,40G,40Bおよび40Rによっ
て、用紙37上のシアン、マゼンダ、イエローおよびブ
ラックの画像の濃度を測定する。
【0113】したがって、光学測定装置40R,40
G,40Bおよび40Rの測定出力を総合的に計算する
ことによって、フルカラー画像の色を評価することがで
きるとともに、その測定結果を画像形成装置の各工程に
フィードバックすることによって、画像形成装置におい
て高画質の画像を得ることが可能となる。
【0114】図15は、画像の色を測定する場合のさら
に他の例を示す。この例では、図13の例のように複数
の光源を設けて、これを切り換える代わりに、レンズ4
3と光電変換素子44との間に色フィルタ47を設け
て、これを色フィルタ交換手段48によって、測定する
画像の色に応じて切り換える。
【0115】そして、図13の例と同様に、色フィルタ
47の切り換えに同期させて、光電変換素子44の受光
出力を取り出すことによって、紙面37a上に形成され
た各色の画像の濃度を測定することができ、さらに、そ
の測定出力を測定演算部で総合的に計算することによっ
て、フルカラー画像の色を評価することができる。
【0116】なお、色フィルタ47は、光源41と紙面
37aとの間、または紙面37aとレンズ43との間に
設けるようにしてもよい。また、図15は、光源41か
らの光をレンズ43を介することなく紙面37aに照射
する場合であるが、光源41からの光をレンズ43を介
して紙面37aに照射する場合にも、同様に構成するこ
とができる。
【0117】また、図9または図10の例のように開口
部45を設ける場合には、開口部45と光電変換素子4
4との間に、また図11または図12の例のように集光
レンズ46を設ける場合には、集光レンズ46と光電変
換素子44との間に、色フィルタを設けてもよい。
【0118】図16は、画像の色を測定する場合のさら
に他の例を示す。この例では、図10の例のように開口
部45を設ける場合に、その開口部45の位置に分光器
49を設けて、紙面37aからの反射光を赤、緑、青の
色光などに分離し、それぞれの色光を別個の光電変換素
子44R,44G,44Bにより受光することによっ
て、紙面37a上に形成された各色の画像の濃度を測定
する。
【0119】なお、図16は、光源41からの光をレン
ズ43を介して紙面37aに照射する場合であるが、光
源41からの光をレンズ43を介することなく紙面37
aに照射する場合にも、同様に構成することができる。
【0120】また、分光器49は、開口部45の位置で
はなく、開口部45の後方位置に設けてもよい。さら
に、図11または図12の例のように集光レンズ46を
設ける場合にも、その集光レンズ46の後方位置に分光
器を設けて、同様に構成することができる。
【0121】(外乱光による影響の除去)上述した光学
測定装置においては、光源41からの光以外の室内の照
明光などが、外乱光として光電変換素子44に入射する
可能性がある。そこで、外乱光が光電変換素子44に入
射しないように装置周辺を筐体で覆うことも考えられる
が、以下のように構成することによって、外乱光による
影響をより確実に除去することができる。
【0122】すなわち、図17は、外乱光による影響を
除去する場合の例で、光源41を一定周期で点滅させ、
その点滅周期に合わせて光電変換素子44の受光出力を
取り出すことによって、外乱光による影響を除去するも
のである。
【0123】この例では、タイミング制御部61から光
源41の発光ドライブ回路62に、一定周期でハイレベ
ルとローレベルを繰り返す発光タイミング信号TGを供
給して、光源41を、発光タイミング信号TGのハイレ
ベル期間で発光させ、ローレベル期間では消灯状態とす
る。
【0124】そして、光電変換素子44の受光出力を、
増幅器63を通じて2つのサンプルホールド回路64お
よび65に供給し、サンプルホールド回路64には、発
光タイミング信号TGをサンプルホールド信号として供
給し、サンプルホールド回路65には、発光タイミング
信号TGを極性反転回路67により極性反転させた信号
をサンプルホールド信号として供給する。
【0125】したがって、サンプルホールド回路64で
は、発光タイミング信号TGのハイレベル期間におい
て、光電変換素子44の受光出力がサンプルホールドさ
れて、サンプルホールド回路64からは、光源41が発
光しているときの受光出力が得られるとともに、サンプ
ルホールド回路65では、発光タイミング信号TGのロ
ーレベル期間において、光電変換素子44の受光出力が
サンプルホールドされて、サンプルホールド回路65か
らは、光源41が消灯しているときの受光出力が得られ
る。
【0126】光源41が消灯しているときの受光出力
は、外乱光のみによる受光出力で、この外乱光による受
光成分は、サンプルホールド回路64の出力にも含まれ
る。
【0127】そこで、サンプルホールド回路64および
65の出力を減算回路68に供給して、両者の差を演算
する。その結果、減算回路68からは、外乱光による受
光成分が除去された、光源41からの光のみによる受光
出力が得られる。したがって、この減算回路68の出力
から、外乱光の影響のない正確な測定結果を得ることが
できる。
【0128】なお、光源41を点滅させる代わりに、光
源41の発光強度を一定周期で変え、その強弱の周期に
合わせて光電変換素子44の受光出力を取り出すように
してもよい。また、図17は、図1の例に適用した場合
であるが、図2の例や図9以下の例に適用することもで
きる。
【0129】〔その他の実施形態または実施例〕図示し
た例は、レンズ43を一つのレンズにより構成する場合
であるが、レンズ43を複数のレンズからなるレンズ系
として構成してもよい。
【0130】また、光電変換素子44としても、例え
ば、複数の光電変換素子を設けて、それぞれの受光出力
を合計したものを取り出すようにしてもよい。受光面積
の大きい光電変換素子を用いると、周波数応答特性とし
て十分なものを得にくいが、受光面積の小さい光電変換
素子を複数用いて、それらの受光出力を合計したものを
取り出すことによって、十分な周波数応答特性を確保す
ることができ、かつ十分なレベルの受光出力を得ること
ができるようになる。
【0131】なお、光電変換素子を複数設ける代わり
に、1個の光電変換素子を後側焦点面内の複数の位置に
移動させ、各位置での受光出力を合計するようにして
も、同様の作用効果が得られる。
【0132】このように複数の光電変換素子を後側焦点
面内に設け、または1個の光電変換素子を後側焦点面内
の複数の位置に移動させる場合、異なる位置の光電変換
素子に入射する光は、紙面37aからの反射光のうちの
異なる角度範囲の光である。そこで、異なる位置での光
電変換素子の出力を別個に読み取って、その分布を求め
ることによって、複数の反射角度範囲への反射光の出力
分布を得ることも可能である。
【0133】なお、光源41からの光がレンズ43を保
持する部材で反射し、その反射光が外乱光として光電変
換素子44に入射する可能性がある場合には、それを阻
止するために、レンズ43の前または後に絞りを設ける
ことが望ましい。
【0134】図18に示した例は、画像形成装置の画像
出力部100において、定着器36による定着後の位置
で、光学測定装置40により画像を測定する場合である
が、転写器35による転写と定着器36による定着との
間の位置などで、光学測定装置40により画像を測定す
るようにしてもよい。
【0135】また、図18および図19の例は、電子写
真方式の画像形成装置の場合であるが、この発明の光学
測定装置40による画像の測定、およびその測定出力に
基づく画質の制御は、インクジェット方式、感熱フィル
ム方式などの他の方式の画像形成装置にも適用すること
ができる。
【0136】さらに、画像を形成する工程を含まず、画
像が形成された用紙などを搬送する装置において、その
搬送中に、用紙などに形成された画像を測定する場合に
も適用することができ、画像形成装置に適用した場合と
同様に高精度の測定が可能となる。
【0137】また、測定対象物は、以上の例のような用
紙でなくてもよい。さらに、平坦なものでなく、凹凸を
有する形状のものでも、上述した式(15)の条件を満
たしていれば、反射領域の特性を正確に測定することが
できる。したがって、この発明は、画像の測定だけでは
なく、測定対象物の種々の特性を測定する場合に広く適
用することができる。
【0138】また、上述したように、後側焦点面に複数
の光電変換素子を設ける場合には、測定対象物からの反
射光の反射角度分布を求めることができるので、測定対
象物の表面性を評価することも可能になる。
【0139】
【発明の効果】上述したように、この発明の光学測定方
法または光学測定装置によれば、用紙などの測定対象物
がレンズ光軸方向に変動する場合でも、その変動に影響
されない高精度の測定を行うことができる。特に、光源
からの光をレンズを介して測定対象物に照射する場合に
は、より高精度の測定が可能となる。
【0140】また特に、特定の制限条件を満たす反射領
域を設定することによって、紙面の上下変動などの、測
定対象物のレンズ光軸方向における変動による測定出力
の変化をゼロにすることができ、非常に高精度の測定が
可能となる。
【0141】さらに、光学測定装置を小型かつ低コスト
にすることができ、カラープリンタなどの画像形成装置
において、装置の大きさおよびコストを増加させずに、
オンライン測定によるフィードバック制御によって、出
力する画像の画質を大幅に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の光学測定装置の一例を示す図であ
る。
【図2】この発明の光学測定装置の他の例を示す図であ
る。
【図3】この発明の光学測定方法の原理を説明するため
の図である。
【図4】この発明の光学測定方法での必要な条件を説明
するための図である。
【図5】この発明の光学測定方法での必要な条件を説明
するための図である。
【図6】図1の例の光学測定装置の具体例の特性を示す
図である。
【図7】図2の例の光学測定装置の具体例の特性を示す
図である。
【図8】図1の例の光学測定装置と図2の例の光学測定
装置との比較の説明に供する図である。
【図9】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示す
図である。
【図10】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図11】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図12】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図13】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図14】この発明の光学測定システムの一例を示す図
である。
【図15】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図16】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図17】この発明の光学測定装置のさらに他の例を示
す図である。
【図18】この発明の光学測定装置を用いた画像形成装
置の一例を示す図である。
【図19】図18の画像形成装置の画質を制御する部分
を示す図である。
【図20】従来の光学測定装置の一例を示す図である。
【図21】従来の光学測定装置の他の例を示す図であ
る。
【符号の説明】
31 レーザ出力部 32 感光体 33 スコロトロン帯電器 34 現像器 35 転写器 36 定着器 37 用紙 37a 紙面 40 光学測定装置 41 光源 42 反射領域 43 レンズ 43a 光軸 43b 後側焦点面 44 光電変換素子 45 開口部 46 集光レンズ 47 色フィルタ 48 色フィルタ交換手段 49 分光器 50 画像制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 久夫 神奈川県足柄上郡中井町境430 グリーン テクなか い 富士ゼロックス株式会社内

Claims (25)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】互いに相対位置が一定となるように設置さ
    れた光源、レンズおよび光電変換素子を用いるものであ
    って、前記光源からの光を測定対象物に照射し、この測
    定対象物からの反射光を前記レンズを介して前記光電変
    換素子で受光し、この光電変換素子の受光出力から、前
    記測定対象物に関する特性を測定する方法において、 前記レンズの前記光電変換素子側の焦点面に、前記レン
    ズを通過してくる前記測定対象物からの反射光のうちの
    任意の一部の領域である特定領域を設定して、前記測定
    対象物から、この特定領域に対応する角度範囲内に反射
    する光のすべてのみを、前記レンズを介して前記光電変
    換素子で受光し、この光電変換素子が受光した総光量
    を、この光電変換素子の出力とすることを特徴とする光
    学測定方法。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の光学測定方法において、 前記光源からの光を前記レンズを介することなく前記測
    定対象物に照射することを特徴とする光学測定方法。
  3. 【請求項3】請求項1に記載の光学測定方法において、 前記光源からの光を前記レンズを介して前記測定対象物
    に照射することを特徴とする光学測定方法。
  4. 【請求項4】請求項3に記載の光学測定方法において、 前記光源を、前記レンズの前記光電変換素子側の焦点面
    より前記レンズから遠い位置に配置することを特徴とす
    る光学測定方法。
  5. 【請求項5】請求項1〜4のいずれかに記載の光学測定
    方法において、 前記レンズの前記光電変換素子側の焦点面に、前記特定
    領域の面積を受光面積とする光電変換素子を配置するこ
    とを特徴とする光学測定方法。
  6. 【請求項6】請求項1〜4のいずれかに記載の光学測定
    方法において、 前記特定領域は開口であって、この開口を通る前記測定
    対象物からの反射光のみを前記光電変換素子で受光する
    ことを特徴とする光学測定方法。
  7. 【請求項7】請求項1〜4のいずれかに記載の光学測定
    方法において、 前記特定領域の位置に、この特定領域を通過する光のみ
    を前記光電変換素子に入射させる集光レンズを設けるこ
    とを特徴とする光学測定方法。
  8. 【請求項8】請求項1〜7のいずれかに記載の光学測定
    方法において、 前記測定対象物上での、前記光源からの光を反射する領
    域の大きさを、 A≧B+(C×D)/f の条件の範囲に設定することを特徴とする光学測定方
    法。ただし、Aは前記レンズの端と前記レンズの光軸と
    の間の距離、Bは前記測定対象物上の反射領域の端と前
    記光軸との間の距離、Cは前記レンズと前記反射領域と
    の間の距離、Dは前記特定領域の端と前記光軸との間の
    距離、fは前記レンズの焦点距離である。
  9. 【請求項9】測定対象物に対して光を照射する光源と、 この光源からの光の入射方向とは異なる方向を光軸と
    し、前記測定対象物からの反射光の一部が入射するレン
    ズと、 このレンズの前記測定対象物側とは反対側の焦点面の位
    置において、このレンズを通過してくる前記測定対象物
    からの反射光のうちの、その受光面積により定まる特定
    の角度範囲内に反射する光のみをすべて受光するように
    配置され、その受光した総光量を、その出力とする光電
    変換素子とを備え、 前記光源、前記レンズおよび前記光電変換素子は、互い
    に相対位置が一定となるように設置され、前記測定対象
    物は、前記光源、前記レンズおよび前記光電変換素子に
    対する相対位置が、少なくとも前記レンズの光軸方向に
    変化するものであり、前記光電変換素子の出力から、前
    記測定対象物に関する特性を測定することを特徴とする
    光学測定装置。
  10. 【請求項10】請求項9に記載の光学測定装置におい
    て、 前記光源からの光が前記レンズを介することなく前記測
    定対象物に照射されることを特徴とする光学測定装置。
  11. 【請求項11】請求項9に記載の光学測定装置におい
    て、 前記光源からの光が前記レンズを介して前記測定対象物
    に照射されることを特徴とする光学測定装置。
  12. 【請求項12】請求項11に記載の光学測定装置におい
    て、 前記光源が、前記レンズの前記光電変換素子側の焦点面
    より前記レンズから遠い位置に配置されたことを特徴と
    する光学測定装置。
  13. 【請求項13】請求項9〜12のいずれかに記載の光学
    測定装置において、 前記測定対象物上での、前記光源からの光を反射する領
    域の大きさが、 A≧B+(C×D)/f の条件の範囲に設定されたことを特徴とする光学測定装
    置。ただし、Aは前記レンズの端と前記レンズの光軸と
    の間の距離、Bは前記測定対象物上の反射領域の端と前
    記光軸との間の距離、Cは前記レンズと前記反射領域と
    の間の距離、Dは前記光電変換素子の受光領域の端と前
    記光軸との間の距離、fは前記レンズの焦点距離であ
    る。
  14. 【請求項14】測定対象物に対して光を照射する光源
    と、 この光源からの光の入射方向とは異なる方向を光軸と
    し、前記測定対象物からの反射光の一部が入射する第1
    レンズと、 この第1レンズの前記測定対象物側とは反対側の焦点面
    の位置において、この第1レンズを通過してくる前記測
    定対象物からの反射光のうちの、その面積により定まる
    特定の角度範囲内に反射する光のみをすべて透過させる
    ように設けられた第2レンズまたは開口と、 この第2レンズまたは開口を透過した光を受光し、その
    受光した総光量を、その出力とする光電変換素子とを備
    え、 前記光源、前記第1レンズ、前記第2レンズまたは開
    口、および前記光電変換素子は、互いに相対位置が一定
    となるように設置され、前記測定対象物は、前記光源、
    前記第1レンズ、前記第2レンズまたは開口、および前
    記光電変換素子に対する相対位置が、少なくとも前記第
    1レンズの光軸方向に変化するものであり、前記光電変
    換素子の出力から、前記測定対象物に関する特性を測定
    することを特徴とする光学測定装置。
  15. 【請求項15】請求項14に記載の光学測定装置におい
    て、 前記光源からの光が前記第1レンズを介することなく前
    記測定対象物に照射されることを特徴とする光学測定装
    置。
  16. 【請求項16】請求項14に記載の光学測定装置におい
    て、 前記光源からの光が前記第1レンズを介して前記測定対
    象物に照射されることを特徴とする光学測定装置。
  17. 【請求項17】請求項16に記載の光学測定装置におい
    て、 前記光源が、前記第1レンズの前記光電変換素子側の焦
    点面より前記第1レンズから遠い位置に配置されたこと
    を特徴とする光学測定装置。
  18. 【請求項18】請求項14〜17のいずれかに記載の光
    学測定装置において、 前記測定対象物上での、前記光源からの光を反射する領
    域の大きさが、 A≧B+(C×D)/f の条件の範囲に設定されたことを特徴とする光学測定装
    置。ただし、Aは前記第1レンズの端と前記第1レンズ
    の光軸との間の距離、Bは前記測定対象物上の反射領域
    の端と前記光軸との間の距離、Cは前記第1レンズと前
    記反射領域との間の距離、Dは前記第2レンズまたは開
    口の端と前記光軸との間の距離、fは前記第1レンズの
    焦点距離である。
  19. 【請求項19】請求項9〜18のいずれかに記載の光学
    測定装置において、 点滅させて発光させるように、または発光強度に強弱を
    つけて発光させるように前記光源を制御する手段と、前
    記光電変換素子の受光出力を、前記光源の点滅または発
    光強度の強弱に同期させて取り出す手段とを設けたこと
    を特徴とする光学測定装置。
  20. 【請求項20】請求項9〜19のいずれかに記載の光学
    測定装置において、 前記光電変換素子または前記第2レンズもしくは開口
    を、互いに異なる複数の位置に設置し、または、前記光
    電変換素子または前記第2レンズもしくは開口を、前記
    レンズまたは前記第1レンズの前記光電変換素子側の焦
    点面内において複数の位置に移動させ、前記複数の位置
    での受光出力の合計から、前記測定対象物に関する特性
    を測定することを特徴とする光学測定装置。
  21. 【請求項21】請求項9〜20のいずれかに記載の光学
    測定装置において、 前記光源から前記光電変換素子までの光路中に光学的フ
    ィルタを設けて、前記光電変換素子の受光出力から、前
    記測定対象物の色を測定することを特徴とする光学測定
    装置。
  22. 【請求項22】請求項9〜20のいずれかに記載の光学
    測定装置において、 前記光源として、発光する光の波長が異なる複数の光源
    を設けるとともに、この複数の光源からの光の前記測定
    対象物からの反射光の前記光電変換素子による受光出力
    を、それぞれの光源ごとに分離して得る手段を設けて、
    前記測定対象物の色を測定することを特徴とする光学測
    定装置。
  23. 【請求項23】請求項14〜18のいずれかに記載の光
    学測定装置において、 前記第2レンズまたは開口に到達する光を分光器により
    検出して、前記測定対象物の色を測定することを特徴と
    する光学測定装置。
  24. 【請求項24】請求項9〜20のいずれかに記載の光学
    測定装置を一つの測定対象物に対して複数設けるととも
    に、その複数の光学測定装置の前記光源の発光波長は互
    いに異なるものとし、その複数の光学測定装置の前記光
    電変換素子の受光出力から、前記測定対象物の色を測定
    することを特徴とする光学測定システム。
  25. 【請求項25】画像形成手段により画像が形成された画
    像形成媒体を前記測定対象物として、この画像形成媒体
    の搬送路中に、請求項9〜23のいずれかに記載の光学
    測定装置または請求項24に記載の光学測定システムが
    設置されるとともに、 その光学測定装置または光学測定システムの測定結果に
    基づいて、画像形成媒体に形成される画像の画質を制御
    する制御手段を備えることを特徴とする画像形成装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001075423A1 (fr) * 2000-03-30 2001-10-11 Nippon Paper Industries Co., Ltd. Procede et appareil pour mesurer l'orientation de fibres de papier
EP2141547A1 (en) 2008-07-04 2010-01-06 Konica Minolta Business Corporation, Inc. Color Image Forming Apparatus and Control Method of the Same
US9739662B2 (en) 2015-03-27 2017-08-22 Seiko Epson Corporation Spectrometry device and image forming apparatus
JP2019074399A (ja) * 2017-10-16 2019-05-16 ジャパンシステム株式会社 検査装置、検査用照明装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4105256B2 (ja) * 1997-07-29 2008-06-25 株式会社ナノシステムソリューションズ 光照射装置及び表面検査装置
US20030156293A1 (en) * 2000-03-30 2003-08-21 Fukuoka Kazuhiko Method for measuring orientation of paper fibers and apparatus for measuring orientation of paper fibers
EP1260877A3 (en) * 2001-05-22 2006-04-12 Xerox Corporation Color imager bar based spectrophotometer for color printer color control system
JP4031824B2 (ja) * 2001-05-22 2008-01-09 ゼロックス コーポレイション カラープリント用色修正システム及び分光光度計
US6596996B1 (en) * 2001-07-24 2003-07-22 The Board Of Regents For Oklahoma State University Optical spectral reflectance sensor and controller
US7433535B2 (en) * 2003-09-30 2008-10-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Enhancing text-like edges in digital images
EP1729102B1 (en) 2005-05-24 2019-04-24 Yonathan Gerlitz Detector with miniature optics for constant energy collection from different distances
JP6070747B2 (ja) 2015-03-26 2017-02-01 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法
JP2019163960A (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 アズビル株式会社 検出装置
CN111351794B (zh) * 2018-12-20 2021-12-10 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种物体表面检测装置及检测方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
HU190892B (en) * 1983-04-13 1986-12-28 Mta Mueszaki Fizikai Kutato Intezete,Hu Aparatus for measuring reflection of the planar surfaces, in particular fluckering meter
US4715718A (en) * 1985-06-24 1987-12-29 The Dow Chemical Company Method and apparatus for on-line monitoring of laminate bond strength
DE3526553A1 (de) * 1985-07-25 1987-01-29 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung
EP0234579B1 (en) * 1986-02-26 1995-01-11 Fuji Photo Film Co., Ltd. Reflection density measuring system
DE3701721A1 (de) * 1987-01-22 1988-08-04 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung
JP2567601B2 (ja) * 1987-03-27 1996-12-25 サンスター技研 株式会社 塗布剤の塗布状態検査方法
CH675133A5 (ja) * 1987-07-06 1990-08-31 Zellweger Uster Ag
US5028139A (en) * 1987-07-16 1991-07-02 Miles Inc. Readhead for reflectance measurement of distant samples
NL8901722A (nl) * 1989-07-06 1991-02-01 Oce Nederland Bv Inrichting voor het meten van door een informatiedrager verstrooid licht.

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001075423A1 (fr) * 2000-03-30 2001-10-11 Nippon Paper Industries Co., Ltd. Procede et appareil pour mesurer l'orientation de fibres de papier
EP2141547A1 (en) 2008-07-04 2010-01-06 Konica Minolta Business Corporation, Inc. Color Image Forming Apparatus and Control Method of the Same
US8320023B2 (en) 2008-07-04 2012-11-27 Konica Minolta Business Technologies, Inc. Color image forming apparatus and control method of the same
US9739662B2 (en) 2015-03-27 2017-08-22 Seiko Epson Corporation Spectrometry device and image forming apparatus
JP2019074399A (ja) * 2017-10-16 2019-05-16 ジャパンシステム株式会社 検査装置、検査用照明装置

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