JPH10172978A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
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- JPH10172978A JPH10172978A JP32528796A JP32528796A JPH10172978A JP H10172978 A JPH10172978 A JP H10172978A JP 32528796 A JP32528796 A JP 32528796A JP 32528796 A JP32528796 A JP 32528796A JP H10172978 A JPH10172978 A JP H10172978A
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- gas
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Abstract
置を提供する。 【解決手段】 装置外部より扉31を介して基板Wを格
納室3に一旦搬入し、搬送室2を介して処理室に基板W
を搬送して所定の処理を施す基板処理装置において、扉
31の内側の面に多数の細孔を有するフィルタプレート
311を設け、ガス供給管63から供給される不活性ガ
スをフィルタプレート311を介して一様に噴出させ
る。また、格納室3と搬送室2との間のゲート弁53の
弁箱531下部に排気管73を接続する。これにより、
フィルタプレート311から一様に噴出されたガスが複
数枚の基板Wの間を通り抜けて弁箱531から排気さ
れ、格納室3内部のガス置換が効率的に行われ、格納室
3を真空にすることなくガス置換が可能となる。その結
果、格納室3を真空に耐えうる構造にする必要はなく、
また、真空発生装置も不要となり、コストの削減を図る
ことができる。
Description
晶表示器製造用ガラス基板などの基板にRTP、CV
D、熱処理などの処理を施す基板処理装置に関する。
中には、処理中の雰囲気を適正に維持するため、基板を
一旦格納室に搬入し、この格納室内部を所定の雰囲気に
してから基板を処理室に搬送するものがある。図9はこ
のような基板処理装置101の一例を示す側面図であ
る。この基板処理装置101では、格納室102と搬送
室103とは開閉自在なゲート弁151を介して接続さ
れており、搬送室103と処理室104もゲート弁15
2を介して接続されている。
トされた状態で格納室102に搬入される。次に、搬送
室103内に設けられた搬送ロボット(図示省略)が基
板Wを1枚ずつ矢印M1およびM2に示すように処理室
104へと搬送し、処理が完了すると基板Wを格納室1
02に戻す。そして、全ての基板Wについて処理が完了
するとカセットCにセットされた状態のままで装置外部
へと搬出されるようになっている。
102や搬送室103を処理室104内部と同様の圧力
の雰囲気に維持する必要があり、このために格納室10
2や搬送室103にはガス供給管161、171や排気
管162、172が接続されている。
01では、格納室102には基板Wの搬出入の際に直接
外気が侵入するため、酸素などの活性ガスの処理室への
拡散を防止するために格納室102内部の活性ガスの除
去を行う必要がある。
より複数の基板が基板の大きさに比較して小さなピッチ
(基板の代表寸法の1/30程度)で多段に積み重ねて
配置されているため基板に対して不活性なガス(所定の
ガス)を導入してもガスの置換が十分に行われず、活性
なガス濃度を所定濃度以上に出来なかったり、非常に長
い時間を要することになり、処理済基板に悪影響(主に
酸化)を与えたり、スループットの低下を招く。これら
を防止する手段として、活性ガスの除去のために格納室
102を一度真空にしてから不活性ガスを常圧となるま
で充填するようにする方法もあるが、格納室102は真
空に耐え得る構造としなければならず、また、排気管1
62も真空発生装置に接続する必要がある。
れたもので、格納室102内部を短時間に活性ガスを所
定濃度以下にし、処理済基板への悪影響やスループット
の低下を抑え、又、格納室102を真空にすることなく
格納室102内部の適切なガス置換を行うことにより、
格納室102を真空に耐えうる構造にする必要がなく、
また、真空発生装置も不要とし、その結果、コスト削減
を図ることができるを基板処理装置を提供することを目
的とする。
に所定の処理を施す基板処理装置であって、外部と前記
基板の受渡を行う受渡し部と、前記受渡し部に接続され
た本体部と、前記受渡し部に所定のガスを供給するガス
供給手段と、前記受渡し部内のガスを排気する排気手段
とを備え、前記受渡し部が、外部より受け入れた前記基
板を格納する格納室と、前記格納室と前記本体部との間
に介在する開閉自在なゲート弁とを有し、前記受渡し部
への前記所定のガスの供給と前記受渡し部内のガスの排
気とにより前記格納室内部に生じる気流の向きが、前記
格納室に格納される前記基板の主面にほぼ平行である。
理装置であって、前記本体部が、前記格納室に前記ゲー
ト弁を介して接続されると共に、前記基板の搬送を行う
搬送手段を内部に有する搬送室と、前記搬送室に接続さ
れ、前記基板に前記所定の処理を施す処理室とを備えて
いる。
の基板処理装置であって、前記格納室が、前記ゲート弁
に対向するように配置され、前記ガス供給手段に接続さ
れて前記所定のガスを前記ゲート弁へ向かう方向に所定
の領域から一様に噴出する開閉自在な扉を有する。
理装置であって、前記所定の領域に複数の細孔を分布形
成した細孔板が取り付けられており、前記所定のガスが
前記細孔板の前記複数の細孔から噴出される。
ずれかに記載の基板処理装置であって、前記排気手段が
前記ゲート弁の弁箱に接続されている。
ずれかに記載の基板処理装置であって、前記排気手段
が、前記受渡し部に接続された第1排気管と、前記第1
排気管に取り付けられた開閉自在な弁と、前記本体部に
接続された第2排気管と、前記第1排気管と前記第2排
気管とに接続された主排気管と、前記主排気管内部のガ
スを排気する手段とを有し、前記主排気管に外気を流入
させる外気吸込部が設けられている。
施の形態である基板処理装置1の構造の概略を示す平面
図である。
搬送室2の周囲に基板Wを一時的に格納しておく搬入出
用格納室3、4、および、基板Wに所定の処理を施す処
理室5がそれぞれ開閉自在なゲート弁53、54、55
を介して接続されており、さらに、ガス供給系6および
排気系7が所定位置に接続される構成となっている。
53を示す斜視図であり、図3は搬入出用格納室3やゲ
ート弁53の縦断面図である。
部から搬出入される基板Wを一時的に格納しておく格納
室であり、このとき、基板Wは図3に示すようにカセッ
トCに複数枚セットされた状態で装置外部から搬入され
る。なお、搬入出用格納室4も同様の構造となってい
る。
を搬送する搬送ロボット21が設けられており、搬入出
用格納室3、4、および、処理室5相互間において基板
Wを搬送するようになっている。
箱531内部に弁体532を有しており、弁体532が
軸533を介してシリンダ534に連結されている。こ
れにより、シリンダ534が軸533を矢印S1に示す
ように上下に移動させると弁体532が搬送室2の開口
23を開閉して、搬送室2内部と搬入出用格納室3内部
とを接続したり隔離したりするようになっている。な
お、図3においては弁体532を搬送室2側に押さえつ
ける機構を省略して図示している。また、他のゲート弁
54や55も同様の構造となっている。
整可能なガス供給装置61およびこれに接続された供給
管62、63、64を有しており、供給管62、63、
64はそれぞれ搬送室2、搬入出用格納室3の扉31、
および、搬入出用格納室4の扉41に接続されている。
これらの供給管62ないし64を用いて搬送室2、搬入
出用格納室3、4には窒素ガスなどの不活性ガスが供給
されるようになっている。また、供給管62ないし64
にはそれぞれ開閉自在な弁76が取り付けられている。
3、74、外気吸込管77、これらに接続された主排気
管78、および、圧力計79から構成されており、排気
管72、73、74はそれぞれ搬送室2、ゲート弁5
3、および、ゲート弁54に接続されて搬送室2、搬入
出用格納室3、および、搬入出用格納室4を排気するよ
うになっている。また、排気管73、74には弁76が
取り付けられており、さらに、排気装置71の直前では
外気吸込管77から調整ダンパで調整し、外気が主排気
管78に流れ込むようにされているとともに、外気と合
流直前の主排気管78の圧力が圧力計79を用いて計測
されるようになっている。
一般的に換言するならば、搬入出用格納部3、4やゲー
ト弁53、54からなる受渡し部と、搬送室2や処理室
5などのその他の部分である本体部とのそれぞれにガス
供給系6および排気系7が接続されている形態となって
いる。
が、次に、この基板処理装置1の動作の概略について説
明する。
用格納室3へのガスの供給および排気を停止し、扉31
を開ける。そして、基板Wを複数枚カセットCにセット
した状態で装置外部より搬入出用格納室3に搬入し、扉
31を閉じる。この状態を示した図が図2および図3で
ある。
6を開け、不活性ガスを扉31を介して供給し、搬入出
用格納室3内部のガスをゲート弁53に取り付けられた
排気管73から排気する。これにより搬入出用格納室3
内部が不活性ガスに置換される。なお、この置換動作の
詳細については後述する。
ると図3に示すようにシリンダ534を用いて弁体53
2を下降させてゲート弁53を開く。そして、開口23
を介して図1に示す搬送ロボット21が基板Wを1枚だ
け搬送室2へと取り出す。さらに、ゲート弁55を開い
て搬送ロボット21が基板Wを処理室5へと搬送し、ゲ
ート弁55を閉じて基板Wに所定の処理が施される。
5を開け、搬送室2に設けられた図示しないクーリング
ユニットで所定温度になるまで基板を冷却してから搬送
ロボット21が基板Wを搬入出用格納室3へと搬送す
る。このような処理を繰り返し、格納室のすべての基板
の処理が終了するとゲート弁53を閉じ、さらに搬入出
用格納室3へのガスの供給および排気を停止して扉31
を開けて基板WをカセットCにセットした状態で装置外
部へと取り出す。なお、基板Wの装置外部への搬出が完
了すると新たな基板を入れたカセットをセットし扉31
を閉じて、内部のガス置換が行われ、不活性ガスが充填
される。
であるが、次に、この基板処理装置1の搬入出用格納室
3、4にて行われるガス置換動作について搬入出用格納
室3を例に詳説する。
視図であり、搬入出用格納室3内部側から見たものとな
っている。
を介して搬入出用格納室3を密閉するようになっている
が、Oリング312で囲まれる領域には多数の細孔を均
一に分布形成させたフィルタプレート311が取り付け
られており、フィルタプレート311の裏側(装置外部
側)には空間313が形成されている。この空間313
には供給管63が接続されており、不活性ガスが供給さ
れるようになっている。空間313に不活性ガスが供給
されるとフィルタプレート311の多数の細孔から不活
性ガスが噴き出すこととなるが、この噴き出した不活性
ガスの気流は図3の矢印G1に示すようにフィルタプレ
ート311の面にほぼ垂直に(すなわち、ほぼ水平方向
に)一様に生じることとなる。
管73が取り付けられており、ここから搬入出用格納室
3内部のガスを排気している。したがって、フィルタプ
レート311から水平に一様に生じる不活性ガスの気流
は、複数の基板Wの隙間を通り抜けて弁体532に向か
って流れ、その後、矢印G2およびG3に示すように弁
箱531内部を下降して排気管73から排気されること
となる。なお、カセットCは矢印G1の気流を乱さない
ように扉31側および弁体53側が開口しており、ま
た、このようなカセットCの形状および載置姿勢は一般
的なものでもある。
に供給管63を接続し、フィルタプレート311を介し
て不活性ガスを搬入出用格納室3内部に供給し、また、
ゲート弁53の弁箱531に排気管73を接続して排気
を行うことにより、搬入出用格納室3内部ではほぼ水平
方向に層状の気流が発生し、複数の基板Wの隙間までガ
ス置換を行うことができる。さらに、図3に示すように
排気管73を弁箱531の下部に接続することにより弁
箱531の内部も余すところなくガス置換が行われる。
これにより、搬入出用格納室3および弁箱531内部を
真空とすることなく適切なガス置換が実現される。その
結果、搬入出用格納室3を真空に耐えうる構造とする必
要がなく、また、高価な真空発生装置なども不要とな
り、コストの削減を図ることができる。また、短時間に
活性ガス濃度を所定濃度以下にできる。
7においても簡易な構成にて排気処理を実現している。
次に、この排気系7の構成について詳説する。
な真空発生装置を必要とせず、通常の排気設備71を用
いて排気を実現しているが、さらに、簡易な構造にて搬
送室2の排気と搬入出用格納室3および4の排気とを1
つの排気設備71を用いて行っている。
室3、4はそれぞれ排気管72、73、74に接続され
ているが、これらの排気管は途中で1つの主排気管78
となって排気設備71と接続されている。主排気管78
にはさらに吸入量を可変できる手段をもった外気吸込管
77が接続されており、所定の流量の外気が流れ込むよ
うになっている。そして、外気が流れ込む直前の主排気
管78の圧力が圧力計79において計測されて管理され
るようになっている。
けられた弁76を開閉しても排気設備71が排気すべき
ガスの量は大きな変化を生じない。その結果、主排気管
78内部の圧力の変動が抑えられることとなる。すなわ
ち、搬入出用格納室3や搬入出用格納室4における基板
Wの搬出入の際に排気管73や74の弁76が閉じられ
ることとなるが、その際に主排気管78の圧力は大きな
変化をすることはなく、搬送室2に接続された排気管7
2から急激にガスが排気されるということはない。
77を設けることにより、簡単な構造にて搬送室2、搬
入出用格納室3、および、搬入出用格納室4の排気を1
つの排気設備71にて実現することができ、搬送室、搬
入出用格納室を同じ圧力に保つことが可能でゲート弁5
3、54開閉時の急激なガスの移動をなくし、パーティ
クルの巻き上げによるウエハへの付着を抑制できる。
明の第2の実施の形態である基板処理装置の搬入出用格
納室3およびゲート弁53を示す断面図であり、搬入出
用格納室3の構造が第1の実施の形態と異なる点を除い
てはほぼ第1の実施の形態と同様であり、同様の符号を
付している。
は、カセットCが昇降台32上に載置されるようになっ
ており、昇降軸33が矢印S2に示すように昇降するこ
とによりカセットCが昇降するようになっている。した
がって、搬入出用格納室3は第1の実施の形態に比べて
上下方向に大きくなっている。そこで、この基板処理装
置では、扉31の上方の搬入出用格納室3内部壁面に扉
31と同様の構造を設けて不活性ガスを供給するように
なっている。
3内部壁面にフィルタプレート311aを取り付け、フ
ィルタプレート311aの背後に空間313aを形成し
ている。そして、扉31と同様にこの空間313aに供
給管63aを接続して不活性ガスを供給するようにして
いる。
レート311aを介して不活性ガスを供給することによ
り、搬入出用格納室3の扉31側の壁面全面から水平を
向く一様な気流が矢印G4およびG5に示すように発生
する。したがって、第1の実施の形態と同様、搬入出用
格納室3内部を真空とすることなく適切なガス置換が可
能となり、コスト削減を図ることができ、さらに短時間
で活性ガス濃度を所定濃度以下にできる。
入出用格納室3下部の昇降軸33近傍に供給管63bを
接続し、昇降軸33のガイドなどに滞留するガスも置換
されるようになっている。これにより、さらに適切なガ
ス置換を実現している。また、以上の構造は搬入出用格
納室4においても同様のものとすることができる。
形態について説明してきたが、この発明は上記実施の形
態に限定されるものではない。
ート311を設け、フィルタプレート311を介して不
活性ガスを供給するようにしているが、基板Wの主面に
平行に一様に不活性ガスが供給されるのであるならばど
のような形態であってもよい。
ート311に代えて複数の細孔314aを設けた管31
4を扉31に張り巡らし、同様の効果を得るようにして
もよいし、図7に示すようフィルタプレートをフィルタ
プレート311bおよび311cのように2つ設け、こ
れらの背後の空間を接続管315を介して接続すること
により両フィルタプレート311b、311cから水平
方向を向く一様な不活性ガスの気流を発生するようにし
てもよい。これにより、両フィルタプレート311b、
311cの間に覗窓Eを設けることができるようにな
る。
管73も弁箱531の下部であればどこに取り付けても
よい。図8はその一例を示す図であり、搬送室2側から
ゲート弁53を見た図である。図示するようにこの例で
は排気管73をシリンダ534の側方に位置させ、弁箱
531の最下部に接続している。これにより、弁箱53
1内のガスをより適切に排気するようにしている。
てももちろん同様のことがいえる。
を供給してゲート弁側からガスを排気しているが、基板
Wの主面に平行に気流を発生するのであるならば(搬入
出用)格納室の他の壁面からガスを供給し排気するよう
にしてもよいし、格納室内部にガスの供給口および排気
口を別途設けるようにしてもよい。
複数の基板Wを格納するようにしているが、単数の基板
であってもよい。
る基板処理装置であるがこれは一例に過ぎず、処理室と
格納室のみを有する基板処理装置であっても格納室にお
いて同様の構造とすることにより同様の効果を得ること
ができる。
いてガスの供給を断続的に行う回分パージ操作をするよ
うにしてもよい。これにより、各格納室や弁箱に滞留す
るガスをさらに効率よく排気することができる。
をシリンダを用いた自動扉としてもよい。
常圧の雰囲気であるものに限定されるわけではなく、減
圧や真空の雰囲気であっても格納室が常圧で問題が生じ
ない装置であれば上記実施の形態と同様の格納室を用い
ることができる。
記載の発明では、格納室内部において基板の主面にほぼ
平行に気流を生じさせるので、小さなピッチで多段に積
み重ねて配置された基板間や基板とカセットとそれを設
置する格納室の台の間も効率よくガスの入れ替えが可能
となり、短時間で存在ガスの濃度を十分に低くする事が
でき、又、ガスの乱れが少なく格納室底面にあるパーテ
ィクルを巻き上げ難い。
一様に所定のガスを噴出させるので、さらに効率的なガ
スの置換が格納室において可能となる。
孔板を設け、細孔板より所定のガスを噴出させるので、
細孔板全面より一様に格納室内部へとガスを供給するこ
とができる。これにより効率的なガスの置換が格納室に
おいて可能となる。
ト弁の弁箱に接続されているので、弁箱内部のガスの置
換も効率的に行うことができる。
部とを排気手段に接続し、主排気管に外気吸込部を設け
ているので、受渡し部と外部との基板の受渡の際に受渡
し部の排気を停止しても本体部の排気流量が大きく変動
することはない。これにより、本体部と受渡し部とを1
つの排気手段により排気することが可能となり、効率の
よいガスの入替えが可能となり、さらに短時間でガスの
濃度を所定濃度以下にでき、コスト削減を図ることがで
きる。
構造を示す平面図である。
ある。
である。
搬入出用格納室およびゲート弁を示す縦断面図である。
ート 314 管 314a 細孔 531 弁箱 G1〜G5 矢印 W 基板
Claims (6)
- 【請求項1】 基板に所定の処理を施す基板処理装置で
あって、 外部と前記基板の受渡を行う受渡し部と、 前記受渡し部に接続された本体部と、 前記受渡し部に所定のガスを供給するガス供給手段と、 前記受渡し部内のガスを排気する排気手段と、を備え、 前記受渡し部が、 外部より受け入れた前記基板を格納する格納室と、 前記格納室と前記本体部との間に介在する開閉自在なゲ
ート弁と、を有し、 前記受渡し部への前記所定のガスの供給と前記受渡し部
内のガスの排気とにより前記格納室内部に生じる気流の
向きが、前記格納室に格納される前記基板の主面にほぼ
平行であることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置であって、 前記本体部が、 前記格納室に前記ゲート弁を介して接続されると共に、
前記基板の搬送を行う搬送手段を内部に有する搬送室
と、 前記搬送室に接続され、前記基板に前記所定の処理を施
す処理室と、 を備えていることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の基板処理装置で
あって、 前記格納室が、 前記ゲート弁に対向するように配置され、前記ガス供給
手段に接続されて前記所定のガスを前記ゲート弁へ向か
う方向に所定の領域から一様に噴出する開閉自在な扉、
を有することを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の基板処理装置であって、 前記所定の領域に複数の細孔を分布形成した細孔板が取
り付けられており、 前記所定のガスが前記細孔板の前記複数の細孔から噴出
されることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
板処理装置であって、 前記排気手段が前記ゲート弁の弁箱に接続されているこ
とを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項6】 請求項1ないし5のいずれかに記載の基
板処理装置であって、 前記排気手段が、 前記受渡し部に接続された第1排気管と、 前記第1排気管に取り付けられた開閉自在な弁と、 前記本体部に接続された第2排気管と、 前記第1排気管と前記第2排気管とに接続された主排気
管と、 前記主排気管内部のガスを排気する手段と、を有し、 前記主排気管に外気を流入させる外気吸込部が設けられ
ていることを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32528796A JP4502411B2 (ja) | 1996-12-05 | 1996-12-05 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32528796A JP4502411B2 (ja) | 1996-12-05 | 1996-12-05 | 基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10172978A true JPH10172978A (ja) | 1998-06-26 |
JP4502411B2 JP4502411B2 (ja) | 2010-07-14 |
Family
ID=18175139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32528796A Expired - Lifetime JP4502411B2 (ja) | 1996-12-05 | 1996-12-05 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4502411B2 (ja) |
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US12002693B2 (en) | 2018-03-15 | 2024-06-04 | Sinfonia Technology Co., Ltd. | Efem |
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JP4502411B2 (ja) | 2010-07-14 |
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A521 | Written amendment |
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A02 | Decision of refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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