JPH10163431A - 半導体装置およびその設計方法 - Google Patents

半導体装置およびその設計方法

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JPH10163431A
JPH10163431A JP8320622A JP32062296A JPH10163431A JP H10163431 A JPH10163431 A JP H10163431A JP 8320622 A JP8320622 A JP 8320622A JP 32062296 A JP32062296 A JP 32062296A JP H10163431 A JPH10163431 A JP H10163431A
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JP
Japan
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wiring
power supply
layers
layer
semiconductor device
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JP8320622A
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English (en)
Inventor
Takashi Tsuji
孝志 辻
Takuya Yasui
卓也 安井
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 全体のチップサイズを縮小化することができ
る半導体装置およびその設計方法を提供する。 【解決手段】 追加層T1,T2を、電源配線25,2
6用の配線層として、回路ブロック21,22,23,
24,27を配置した他の層S1,S2と階層状態にす
ることにより、チップ上で配線面積の占有率の大きい電
源配線25,26を、平面的に他の層S1,S2の回路
ブロック21,22,23,24,27に重なった状態
で配置可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、1チップ内に半導
体素子からなる複数の回路ブロックを階層状に配置して
構成した半導体装置およびその設計方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】近年では、1チップ内に半導体素子から
なる複数の回路ブロックを階層状に配置して構成した半
導体装置であるLSI(Large Scale Integration )
は、プロセス技術や設計技術などの進歩により、高性能
化および高集積度化が進んでいる。
【0003】これら高性能化および高集積度化が進んだ
LSIの実現には、高精度設計を行なうことが要求さ
れ、CAD(Computer Aided Design )ツールが重要な
役割を果たしている。特に、レイアウトツールは、LS
Iの動作を決定するマスクレイアウトを作成するという
点で、非常に重要である。
【0004】以下、従来から行われている半導体マスク
レイアウト装置(以下、単に、レイアウト装置とする)
によるLSI(半導体装置)の設計方法について説明す
る。図1は、従来から一般的に行われているレイアウト
装置によるLSIの設計作業の際の処理手順を示すフロ
ーチャートであり、そのフローチャートに従って、LS
Iの設計作業を実行するレイアウト装置の構成を示すブ
ロック図でもある。図1において、1はレイアウトに必
要なセルデータ群を保管するセルライブラリ、2は接続
情報を与えるネットリスト、3は電源配線やそれらとの
接続配線などの配線の際の配線制約(例えば、幅,長
さ,間隔など)等を決めている製造プロセスルール、4
はセルライブラリ1からのセルデータを配置する配置生
成部、5は製造プロセスルール3を満足する配線パター
ンを生成する配線生成部、6は配線生成部5内に設けら
れ配線パターンのうちの幹線配線パターンのみの生成を
実行する幹線実行部、7は、幹線実行部6と同様に、配
線生成部5内に設けられ配線パターンのうちの支線配線
パターンのみの生成を実行する支線実行部、8は最終的
に生成されるマスクレイアウトデータ、9はセルデータ
を配置したり配線パターンを生成したりするレイアウト
ツールである。
【0005】以上のように構成されたレイアウト装置に
よるマスクレイアウト作成動作を以下に説明する。図1
に示すように、セルライブラリ1からのセルデータとネ
ットリスト2と製造プロセスルール3とを、レイアウト
ツール9に読み込ませ、配置生成部4にてセルデータの
配置を実行する。配線生成部5にて製造プロセスルール
3を満足しているか否かを判断しながら、幹線実行部6
と支線実行部7とにおいて配線作業を実行し、マスクレ
イアウトデータ8を出力する。
【0006】このようにして、製造プロセスルールを満
足しているか否かの判断を繰り返しながら、マスクレイ
アウトデータ8を生成し、そのマスクレイアウトデータ
8に従って、マスクレイアウト作成のための処理を実行
していく。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来の半導体装置の設計方法では、半導体装置を製
造する際の製造プロセスルールに基づく配線ルールを満
足させながらレイアウトするレイアウト方法を用いるも
のであり、そのレイアウト方法により、マスクレイアウ
トデータに基づいて形成された半導体などの素子間を結
ぶ電源配線をレイアウトする場合には、それらの電源配
線は、各素子の周辺に存在する取り出し口に接続され、
各素子間に存在する配線のために設けられた配線領域を
用いて配線されている。
【0008】この場合、一般的に電源配線はその各ライ
ン幅が広いため、この電源配線に必要な配線領域の面積
を広げることになり、その結果、チップ全体の面積を増
大させることになるという問題点を有していた。
【0009】この問題点について、以下、図2を参照し
ながら追加説明をする。図2は素子間を結ぶ電源配線を
配線領域内で配線した従来の1チップレイアウトの半導
体装置の概略構成図であり、その平面図を図2(a)に
示し、部分断面図を図2(b)に示す。なお、図2
(b)に示す部分断面図では、半導体などの素子などか
らなる回路ブロックのレイアウト用の層である回路ブロ
ック層のみが表されている。
【0010】図2(a)において、10はコーナー素
子、11はIO素子、12,13はスタンダード素子
群、14,15,16はマクロ素子、17は幅の広い電
源配線(A)、18は幅の広い電源配線(B)、19は
配線領域である。
【0011】また、図2(b)において、S21,S2
2は、それぞれ半導体素子などからなる回路ブロックの
レイアウト用の層である回路ブロック層、B21は、各
電源配線17,18から、それらが形成された層以外の
層に形成された回路ブロックに電源を供給するために、
各回路ブロック層間を貫通して電気的に接続するビアで
ある。
【0012】図2に示すように、従来のレイアウト方法
では、そのレイアウト方法によってレイアウトした電源
配線(A)17,電源配線(B)18により、それぞれ
の半導体素子10,11,12,13,14,15,1
6間に設けられた配線領域19によるチップ内での占有
面積が広域化してしまい、その結果、全体のチップ面積
も増大化してしまう。
【0013】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、チップ上に電源配線をレイアウトする際に、その
電源配線を製造プロセス上の配線ルールに違反しないよ
うにレイアウトした場合でも、平面的にみてチップ上に
おける配線のみの領域を狭域化することができ、全体の
チップサイズを縮小化することができる半導体装置およ
びその設計方法を提供する。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明の半導体装置およびその設計方法は、追加層を、
電源配線用の配線層として、回路ブロックを配置した他
の層と階層状態にすることにより、チップ上で配線面積
の占有率の大きい電源配線を、平面的に他の層の回路ブ
ロックに重なった状態で配置可能とすることを特徴とす
る。
【0015】以上により、チップ上に電源配線をレイア
ウトする際に、その電源配線を製造プロセス上の配線ル
ールに違反しないようにレイアウトした場合でも、平面
的にみてチップ上における配線のみの領域を狭域化する
ことができ、全体のチップサイズを縮小化することがで
きる。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の半導体
装置は、1チップ内に半導体素子からなる複数の回路ブ
ロックを階層状に配置して構成した半導体装置におい
て、前記回路ブロックを配置した層とは別の層を追加形
成し、その追加層に、前記複数の回路ブロックのそれぞ
れに電源を供給するための電源配線を配置して構成す
る。
【0017】請求項2に記載の半導体装置は、請求項1
に記載の電源配線を、平面的に見て網状になるように配
置して構成する。請求項3に記載の半導体装置は、請求
項1または請求項2に記載の電源配線を、平面的に見て
格子状になるように配置して構成する。
【0018】請求項4に記載の半導体装置の設計方法
は、1チップ内に半導体素子からなる複数の回路ブロッ
クを階層状に配置して構成した半導体装置を設計するに
際し、前記回路ブロックを配置した層とは別の層を追加
形成し、前記複数の回路ブロックのそれぞれに電源を供
給するための電源配線を、前記追加層にレイアウトする
方法とする。
【0019】請求項5に記載の半導体装置の設計方法
は、請求項4に記載の電源配線を、平面的に見て網状に
なるようにレイアウトする方法とする。請求項6に記載
の半導体装置の設計方法は、請求項4または請求項5に
記載の電源配線を、平面的に見て格子状になるようにレ
イアウトする方法とする。
【0020】これらの構成および方法によると、追加層
を、電源配線用の配線層として、回路ブロックを配置し
た他の層と階層状態にすることにより、チップ上で配線
面積の占有率の大きい電源配線を、平面的に他の層の回
路ブロックに重なった状態で配置可能とする。
【0021】以下、本発明の実施の形態を示す半導体装
置およびその設計方法について、図面を参照しながら具
体的に説明する。図3は本実施の形態の設計方法に基づ
いて1チップレイアウトした半導体装置の概略構成図で
あり、その平面図を図3(a)に示し、断面図を図3
(b)に示す。図3(a)において、20はコーナー素
子、21はIO素子、22,28はスタンダード素子
群、23,24,25はマクロ素子、26は幅の広い電
源配線(A)、27は幅の広い電源配線(B)、29は
各素子20,21,22,28,23,24,25間に
設けられた配線領域である。ここで、各素子20,2
1,22,28,23,24,25は、それぞれ半導体
素子等からなる回路ブロックである。
【0022】また、図3(b)において、S1,S2
は、それぞれ半導体素子などからなる回路ブロックのレ
イアウト用の層である回路ブロック層、T1,T2は、
それぞれ、回路ブロック層S1,S2上に、図2に示す
従来の半導体装置の構成に対して新たに別の層として追
加形成した追加層である。ここでは、追加層T1,T2
は、それぞれ、電源配線26,27専用の配線層である
電源配線層として利用されている。
【0023】ここで、幅の広い電源配線26,27は、
各素子20,21,22,23,24,25,28の配
置位置が決定した後、各素子20,21,22,23,
24,25,28用に使用している配線層以外の配線層
を用いて、チップ上に平面的にみて網状に配線する。
【0024】以下、図3に示す幅の広い電源配線(A)
26と幅の広い電源配線(B)27とを、IO素子21
に配線接続する方法について、図4を参照しながら詳細
に説明する。
【0025】図4は、図3に示すA部分の拡大図であ
り、幅の広い電源配線(A)30と電源IO素子(A)
36との接続部分と、幅の広い電源配線(B)32と電
源IO素子(B)34との接続部分を示す簡略図であ
る。図4において、30は幅の広い電源配線(A)、3
1は幅の広い電源配線(A)30と電源IO素子(A)
36とを接続する接続専用配線(A)(以下、コンタク
ト(A)とする)、38は電源IO素子(A)36内に
ある配線取り出し口の電源接続部(A)、37は電源I
O素子(A)36内にあるパッド部のパッド(A)、3
2は幅の広い電源配線(B)、33は幅の広い電源配線
(B)32と電源IO素子(B)34とを接続する接続
専用配線(B)(以下、コンタクト(B)とする)、3
9は電源IO素子(B)34内にある配線取り出し口の
電源接続部(B)、35は電源IO素子(B)34内に
あるパッド部のパッド(B)である。
【0026】次に、図4に示す幅の広い電源配線(A)
30と電源IO素子(A)36との配線接続方法につい
て説明する。図4に示すように、幅の広い電源配線
(A)30は、電源IO素子(A)36内に使用してい
る配線層以外の配線層にて配線しているため、幅の広い
電源配線(A)30は、電源IO素子(A)36に直接
配線接続することはできない。つまり、幅の広い電源配
線(A)30の配線層と電源IO素子(A)36の配線
層とをつなげるためには、接続を可能にする部品が必要
である。その部品が、コンタクト(A)31と電源IO
素子(A)36内にある電源接続部(A)38である。
【0027】コンタクト(A)31は、異なった配線層
でも配線接続を可能にする役割をもっていて、電源IO
素子(A)36内にある電源接続部(A)38は、コン
タクト(A)31との接続を可能にする役割をもってい
る。つまり、異なった配線層間の配線接続は、コンタク
ト(A)31にて接続するようにし、電源IO素子
(A)36への配線接続は、電源IO素子(A)36内
にある電源接続部(A)38にて接続するようにする。
このようにすれば、異なった配線層間の配線接続をする
ことが可能である。
【0028】なお、幅の広い電源配線(B)32と電源
IO素子(B)34との接続方法についても、電源配線
(A)30と電源IO素子(A)36との接続方法と同
様である。
【0029】以下、図3に示す幅の広い電源配線(A)
26と幅の広い電源配線(B)27とを、スタンダード
素子群22,28内のスタンダード素子に配線接続する
方法について、図5を参照しながら詳細に説明する。
【0030】図5は、図3に示すB部分の拡大図であ
り、幅の広い電源配線(A)40とスタンダード素子
(A)45との接続部分と、幅の広い電源配線(B)4
1とスタンダード素子(B)44との接続部分を示す簡
略図である。図5において、40は幅の広い電源配線
(A)、41は幅の広い電源配線(B)、42は幅の広
い電源配線(B)41とスタンダード素子(B)44と
を接続する部分のコンタクトB、43はスタンダード素
子(B)44内にある電源接続部(B)、47は幅の広
い電源配線(A)40とスタンダード素子(A)45と
を接続する部分のコンタクトA、46はスタンダード素
子(A)45内にある電源接続部(A)である。
【0031】図5に示すように、幅の広い電源配線
(A)40と幅の広い電源配線(B)41とは、図4に
示す幅の広い電源配線(A)30および幅の広い電源配
線(B)32と同様に、スタンダード素子(B)44お
よびスタンダード素子(A)45用に使用している配線
層以外の配線層にて配線しているため、スタンダード素
子(B)44およびスタンダード素子(A)45に直接
配線接続するには、コンタクト(B)42およびコンタ
クト(A)47を用いて、スタンダード素子(B)44
内とスタンダード素子(A)45内とにある電源接続部
(B)43および電源接続部(A)46に配線接続する
ようにする。
【0032】つまり、図3に示すように、電源配線
(A)26,電源配線(B)27を、それぞれの素子群
20,21,22,23,24,25,28用に使用さ
れていない配線層である追加層T1,T2を用いて網上
に配線し、それらの電源配線(A),電源配線(B)に
一番近いところからそれぞれの半導体素子に電源を供給
するようにする。
【0033】以上のようにして半導体装置を設計するこ
とにより、追加層を、電源配線用の配線層として、回路
ブロックを配置した他の層と階層状態にすることによ
り、チップ上で配線面積の占有率の大きい電源配線を、
平面的に他の層の回路ブロックに重なった状態で配置可
能とすることができる。
【0034】そのため、チップ上に電源配線をレイアウ
トする際に、その電源配線を製造プロセス上の配線ルー
ルに違反しないようにレイアウトした場合でも、平面的
にみてチップ上における配線のみの領域を狭域化するこ
とができ、全体のチップサイズを縮小化することができ
る。
【0035】また、回路ブロック層上に新たに追加した
追加層を電源配線専用の配線層とすることができ、その
電源配線層のみを、他の半導体装置用チップにも汎用的
に利用することができる。
【0036】また、電源配線層上の電源配線が網状に形
成されているので、各回路ブロックと電源配線との接続
のためのレイアウトを容易に設計することができ、半導
体装置の設計作業における作業能率を向上することがで
きる。
【0037】なお、図3に示す電源配線26,27の一
方を、各素子20,21,22,28,23,24,2
5間に設けられた配線領域29に設け、残りの一方を、
配線領域29が設けられている配線層以外の配線層に設
けることによっても、製造プロセスルールを満足したう
えで、従来に比べて、平面的にみてチップ上における配
線のみの領域を狭域化することができ、全体のチップサ
イズを縮小化することができる。
【0038】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、追加層
を、電源配線用の配線層として、回路ブロックを配置し
た他の層と階層状態にすることにより、チップ上で配線
面積の占有率の大きい電源配線を、平面的に他の層の回
路ブロックに重なった状態で配置可能とすることができ
る。
【0039】そのため、チップ上に電源配線をレイアウ
トする際に、その電源配線を製造プロセス上の配線ルー
ルに違反しないようにレイアウトした場合でも、平面的
にみてチップ上における配線のみの領域を狭域化するこ
とができ、全体のチップサイズを縮小化することができ
る。
【0040】また、回路ブロック層上に新たに追加した
追加層を電源配線専用の配線層とすることができ、その
電源配線層のみを、他の半導体装置用チップにも汎用的
に利用することができる。
【0041】また、電源配線層上の電源配線が網状に形
成されているので、各回路ブロックと電源配線との接続
のためのレイアウトを容易に設計することができ、半導
体装置の設計作業における作業能率を向上することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体装置の設計時の処理手順を示すフローチ
ャート
【図2】従来の半導体装置のチップレイアウトを示す平
面図
【図3】本発明の実施の形態の半導体装置のチップレイ
アウトを示す平面図
【図4】同実施の形態におけるA部分の拡大概略図
【図5】同実施の形態におけるB部分の拡大概略図
【符号の説明】
21 IO素子 22,28 スタンダード素子群 23,24,25 マクロ素子 26,27 電源配線 T1,T2 追加層

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1チップ内に半導体素子からなる複数の
    回路ブロックを階層状に配置して構成した半導体装置に
    おいて、前記回路ブロックを配置した層とは別の層を追
    加形成し、その追加層に、前記複数の回路ブロックのそ
    れぞれに電源を供給するための電源配線を配置した半導
    体装置。
  2. 【請求項2】 電源配線を、平面的に見て網状になるよ
    うに配置した請求項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 電源配線を、平面的に見て格子状になる
    ように配置した請求項1または請求項2に記載の半導体
    装置。
  4. 【請求項4】 1チップ内に半導体素子からなる複数の
    回路ブロックを階層状に配置して構成した半導体装置を
    設計するに際し、前記回路ブロックを配置した層とは別
    の層を追加形成し、前記複数の回路ブロックのそれぞれ
    に電源を供給するための電源配線を、前記追加層にレイ
    アウトする半導体装置の設計方法。
  5. 【請求項5】 電源配線を、平面的に見て網状になるよ
    うにレイアウトする請求項4に記載の半導体装置の設計
    方法。
  6. 【請求項6】 電源配線を、平面的に見て格子状になる
    ようにレイアウトする請求項4または請求項5に記載の
    半導体装置の設計方法。
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