JPH10161014A - ２次元センサを用いた自動焦点検出装置 - Google Patents
２次元センサを用いた自動焦点検出装置Info
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- JPH10161014A JPH10161014A JP8330420A JP33042096A JPH10161014A JP H10161014 A JPH10161014 A JP H10161014A JP 8330420 A JP8330420 A JP 8330420A JP 33042096 A JP33042096 A JP 33042096A JP H10161014 A JPH10161014 A JP H10161014A
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- Focusing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 広い測距エリアを持つ２次元センサから測光
データも得ることにより、別に測光用センサを設けるこ
となくその分のスペースを少なくでき、かつ焦点検出と
被写体輝度のデータ取得動作を状況に応じて制御するこ
とにより、焦点検出および測光それぞれにベストな制御
を可能にする２次元センサを用いた自動焦点検出装置を
提供する。 【解決手段】 撮影レンズ１，視野マスク２，コンデン
サレンズ３，再結像レンズ４を介して被写体像が一対光
電変換素子８上に結像される。モニタ手段２０により蓄
積量を監視し、所定の蓄積量になると蓄積動作および蓄
積時間計数を終了する。システムコントロール回路１４
の制御により第１および第２転送手段１０，１２を制御
し、焦点ズレ量演算手段１１と被写体輝度演算手段１３
にＡ／Ｄ変換器９のデータを転送する。演算された焦点
ズレ量と被写体輝度はシステムコントロール回路に入力
し、所定の処理が行われる。
データも得ることにより、別に測光用センサを設けるこ
となくその分のスペースを少なくでき、かつ焦点検出と
被写体輝度のデータ取得動作を状況に応じて制御するこ
とにより、焦点検出および測光それぞれにベストな制御
を可能にする２次元センサを用いた自動焦点検出装置を
提供する。 【解決手段】 撮影レンズ１，視野マスク２，コンデン
サレンズ３，再結像レンズ４を介して被写体像が一対光
電変換素子８上に結像される。モニタ手段２０により蓄
積量を監視し、所定の蓄積量になると蓄積動作および蓄
積時間計数を終了する。システムコントロール回路１４
の制御により第１および第２転送手段１０，１２を制御
し、焦点ズレ量演算手段１１と被写体輝度演算手段１３
にＡ／Ｄ変換器９のデータを転送する。演算された焦点
ズレ量と被写体輝度はシステムコントロール回路に入力
し、所定の処理が行われる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、２次元センサを用
いた焦点検出装置、さらに詳しくいえば、２次元センサ
から得られるデータにより焦点検出動作に加えて測光も
可能にする焦点検出装置に関する。
いた焦点検出装置、さらに詳しくいえば、２次元センサ
から得られるデータにより焦点検出動作に加えて測光も
可能にする焦点検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の焦点検出装置は、縦方向および横
方向にそれぞれラインセンサを配置しているため、被写
体像の縦方向および横方向の限られたエリアの焦点検出
のみしか行っていない（例えば、特開昭６２−２１２６
１１，特開昭６２−９５５１１，特開平１−２５１００
８）。そのため、カメラが縦または横方向を判断し、決
定した方向について焦点検出を行う場合、被写体のある
１ラインの上だけの信号を見るため、１ラインに重なっ
た被写体部分が焦点検出しずらい部分に当たったときに
は、測距精度が上がらず、場合によっては測距不能とい
うこともある。
方向にそれぞれラインセンサを配置しているため、被写
体像の縦方向および横方向の限られたエリアの焦点検出
のみしか行っていない（例えば、特開昭６２−２１２６
１１，特開昭６２−９５５１１，特開平１−２５１００
８）。そのため、カメラが縦または横方向を判断し、決
定した方向について焦点検出を行う場合、被写体のある
１ラインの上だけの信号を見るため、１ラインに重なっ
た被写体部分が焦点検出しずらい部分に当たったときに
は、測距精度が上がらず、場合によっては測距不能とい
うこともある。
【０００３】そこで、本件出願人は、焦点検出装置の光
電変換素子に２次元のエリアセンサを使用する自動焦点
検出装置を提案している（特願平８−２７１５８７，特
願平８−２７１５８８）。上記構成によれば、広い測距
エリアで精度の良い測距ができ、かつ縦横両エッジの検
出を一つのセンサでできるという特徴がある。
電変換素子に２次元のエリアセンサを使用する自動焦点
検出装置を提案している（特願平８−２７１５８７，特
願平８−２７１５８８）。上記構成によれば、広い測距
エリアで精度の良い測距ができ、かつ縦横両エッジの検
出を一つのセンサでできるという特徴がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】通常、エリアセンサに
はＣＣＤセンサが用いられる。ＣＣＤセンサは蓄積型の
センサであり、出力を得るために電荷の蓄積動作が行わ
れる。蓄積時間は被写体の明るさで変化し、暗いほど長
くなる。ここで、同一のセンサで焦点検出のほかに測光
を行うことを考えた場合、１回の蓄積動作で得られる出
力で焦点検出、測光の両方を演算したほうが、焦点検出
および測光動作の時間を短縮することができる。特に被
写体が暗い場合、焦点検出、測光それぞれの動作で蓄積
を行うと、蓄積時間が２倍になり非常に時間がかかるの
で、上記の方法を取ることが得策である。
はＣＣＤセンサが用いられる。ＣＣＤセンサは蓄積型の
センサであり、出力を得るために電荷の蓄積動作が行わ
れる。蓄積時間は被写体の明るさで変化し、暗いほど長
くなる。ここで、同一のセンサで焦点検出のほかに測光
を行うことを考えた場合、１回の蓄積動作で得られる出
力で焦点検出、測光の両方を演算したほうが、焦点検出
および測光動作の時間を短縮することができる。特に被
写体が暗い場合、焦点検出、測光それぞれの動作で蓄積
を行うと、蓄積時間が２倍になり非常に時間がかかるの
で、上記の方法を取ることが得策である。
【０００５】しかしながら、焦点検出と測光では得よう
としている信号成分が異なっている。焦点検出の場合、
信号のＡＣ成分（被写体のコントラスト成分）を必要と
し、測光では絶対信号レベルが必要になる。また、被写
体の状態によっては同一信号では不都合が生じる。この
ような場合には焦点検出、測光それぞれで蓄積動作を行
えば、それぞれにベストな制御が可能となる。そして、
長い蓄積時間が問題になる場合（例えば撮影者がレリー
ズを半押しで停止させる動作を行わず、一気に押した場
合、押してシャッタが切れるまでの時間が長くなり過ぎ
る場合）は同じ蓄積動作のデータにより焦点検出および
測光演算を行うことにより、状況に応じたきめ細かい制
御ができると考えられる。
としている信号成分が異なっている。焦点検出の場合、
信号のＡＣ成分（被写体のコントラスト成分）を必要と
し、測光では絶対信号レベルが必要になる。また、被写
体の状態によっては同一信号では不都合が生じる。この
ような場合には焦点検出、測光それぞれで蓄積動作を行
えば、それぞれにベストな制御が可能となる。そして、
長い蓄積時間が問題になる場合（例えば撮影者がレリー
ズを半押しで停止させる動作を行わず、一気に押した場
合、押してシャッタが切れるまでの時間が長くなり過ぎ
る場合）は同じ蓄積動作のデータにより焦点検出および
測光演算を行うことにより、状況に応じたきめ細かい制
御ができると考えられる。
【０００６】本発明の課題は上記考察に基づくもので、
広い測距エリアを持つ２次元センサから測光データも得
ることにより、別に測光用センサを設けることなくその
分のスペースを少なくでき、かつ焦点検出と被写体輝度
のデータ取得動作を状況に応じて制御することにより、
焦点検出および測光それぞれにベストな制御を可能にす
る２次元センサを用いた自動焦点検出装置を提供するこ
とにある。
広い測距エリアを持つ２次元センサから測光データも得
ることにより、別に測光用センサを設けることなくその
分のスペースを少なくでき、かつ焦点検出と被写体輝度
のデータ取得動作を状況に応じて制御することにより、
焦点検出および測光それぞれにベストな制御を可能にす
る２次元センサを用いた自動焦点検出装置を提供するこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明による自動焦点検出装置は、２次元に配列され
た光電変換素子，前記光電変換素子に被写体像を結像さ
せるための少なくとも一対のレンズおよび前記レンズの
予定焦点面領域を形成する視野マスクを有する自動焦点
検出装置であって、前記光電変換素子への電荷の蓄積を
制御する蓄積制御手段と、前記光電変換素子に蓄積され
出力される信号より焦点ズレ量を演算する第１の演算手
段と、前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より
被写体輝度情報を演算する第２の演算手段とを有し、前
記蓄積制御手段により蓄積動作させられて得られる前記
光電変換素子の出力を第１の演算手段および第２の演算
手段の両方に転送し、測距および測光を行うように構成
されている。また、本発明は、２次元に配列された光電
変換素子，前記光電変換素子に被写体像を結像させるた
めの少なくとも一対のレンズおよび前記レンズの予定焦
点面領域を形成する視野マスクを有する自動焦点検出装
置であって、前記光電変換素子への電荷の蓄積を制御す
る蓄積制御手段と、前記光電変換素子に蓄積され出力さ
れる信号より焦点ズレ量を演算する第１の演算手段と、
前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体
輝度情報を演算する第２の演算手段とを有し、前記蓄積
制御手段により蓄積動作させられて得られる前記光電変
換素子の出力を第１の演算手段に、つぎの蓄積動作によ
り得られる前記光電変換素子の出力を第２の演算手段に
転送するというようにそれぞれ異なる蓄積動作により得
られる前記光電変換素子の出力を前記第１および第２の
演算手段に交互に転送し、測距および測光を行うように
構成されている。さらに本発明は、２次元に配列された
光電変換素子，前記光電変換素子に被写体像を結像させ
るための少なくとも一対のレンズおよび前記レンズの予
定焦点面領域を形成する視野マスクを有する自動焦点検
出装置であって、前記光電変換素子への電荷の蓄積を制
御する蓄積制御手段と、前記電荷の蓄積時間を計数する
時間計数手段と、前記光電変換素子に蓄積され出力され
る信号より焦点ズレ量を演算する第１の演算手段と、前
記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体輝
度情報を演算する第２の演算手段と、前記光電変換素子
の出力を前記第１および第２の演算手段に転送する転送
手段とを有し、前記時間計数手段の計数結果が予め決め
られた時間より長いときは、前記転送手段により前記光
電変換素子の出力を前記第１および第２の演算手段に転
送させ、前記時間計数手段の計数結果が予め決められた
時間より短いときは、前記光電変換素子の出力を前記第
１の演算手段に転送させた後、再度の蓄積動作により前
記光電変換素子の出力を前記第２の演算手段に転送させ
て測距および測光を行うように構成されている。
に本発明による自動焦点検出装置は、２次元に配列され
た光電変換素子，前記光電変換素子に被写体像を結像さ
せるための少なくとも一対のレンズおよび前記レンズの
予定焦点面領域を形成する視野マスクを有する自動焦点
検出装置であって、前記光電変換素子への電荷の蓄積を
制御する蓄積制御手段と、前記光電変換素子に蓄積され
出力される信号より焦点ズレ量を演算する第１の演算手
段と、前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より
被写体輝度情報を演算する第２の演算手段とを有し、前
記蓄積制御手段により蓄積動作させられて得られる前記
光電変換素子の出力を第１の演算手段および第２の演算
手段の両方に転送し、測距および測光を行うように構成
されている。また、本発明は、２次元に配列された光電
変換素子，前記光電変換素子に被写体像を結像させるた
めの少なくとも一対のレンズおよび前記レンズの予定焦
点面領域を形成する視野マスクを有する自動焦点検出装
置であって、前記光電変換素子への電荷の蓄積を制御す
る蓄積制御手段と、前記光電変換素子に蓄積され出力さ
れる信号より焦点ズレ量を演算する第１の演算手段と、
前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体
輝度情報を演算する第２の演算手段とを有し、前記蓄積
制御手段により蓄積動作させられて得られる前記光電変
換素子の出力を第１の演算手段に、つぎの蓄積動作によ
り得られる前記光電変換素子の出力を第２の演算手段に
転送するというようにそれぞれ異なる蓄積動作により得
られる前記光電変換素子の出力を前記第１および第２の
演算手段に交互に転送し、測距および測光を行うように
構成されている。さらに本発明は、２次元に配列された
光電変換素子，前記光電変換素子に被写体像を結像させ
るための少なくとも一対のレンズおよび前記レンズの予
定焦点面領域を形成する視野マスクを有する自動焦点検
出装置であって、前記光電変換素子への電荷の蓄積を制
御する蓄積制御手段と、前記電荷の蓄積時間を計数する
時間計数手段と、前記光電変換素子に蓄積され出力され
る信号より焦点ズレ量を演算する第１の演算手段と、前
記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体輝
度情報を演算する第２の演算手段と、前記光電変換素子
の出力を前記第１および第２の演算手段に転送する転送
手段とを有し、前記時間計数手段の計数結果が予め決め
られた時間より長いときは、前記転送手段により前記光
電変換素子の出力を前記第１および第２の演算手段に転
送させ、前記時間計数手段の計数結果が予め決められた
時間より短いときは、前記光電変換素子の出力を前記第
１の演算手段に転送させた後、再度の蓄積動作により前
記光電変換素子の出力を前記第２の演算手段に転送させ
て測距および測光を行うように構成されている。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳しく説明する。図１は、本発明による２次
元センサを用いた焦点検出装置の光学系の実施の形態を
示す斜視図である。撮影レンズ１の光軸上には視野マス
ク２を被せたコンデンサレンズ３が配置されている。な
お、撮影レンズ１からコンデンサレンズ３に到るまでの
光路は、リターンミラー（図示されていない）のハーフ
部分を透過してＡＦミラー（図示されていない）などに
より９０度光路が曲げられてコンデンサレンズ３に到る
ものである。さらにコンデンサレンズ３の後ろには、絞
りマスク５，再結像レンズ４が配置されている。再結像
レンズ４で一対の像になり、２次元センサ６に結像す
る。２次元センサ６の上では視野マスク２に対応する領
域内に像が形成されることとなる。
施の形態を詳しく説明する。図１は、本発明による２次
元センサを用いた焦点検出装置の光学系の実施の形態を
示す斜視図である。撮影レンズ１の光軸上には視野マス
ク２を被せたコンデンサレンズ３が配置されている。な
お、撮影レンズ１からコンデンサレンズ３に到るまでの
光路は、リターンミラー（図示されていない）のハーフ
部分を透過してＡＦミラー（図示されていない）などに
より９０度光路が曲げられてコンデンサレンズ３に到る
ものである。さらにコンデンサレンズ３の後ろには、絞
りマスク５，再結像レンズ４が配置されている。再結像
レンズ４で一対の像になり、２次元センサ６に結像す
る。２次元センサ６の上では視野マスク２に対応する領
域内に像が形成されることとなる。
【０００９】図２は、本発明による２次元センサを用い
た焦点検出装置の回路の実施の形態を示すブロック図で
ある。２次元センサである光電変換素子８は図３（ａ）
に示すように入射する被写体光の明るさに基づき蓄積す
る時間が変化する。被写体が明るい場合には時間に対す
る蓄積電荷レベル特性の立ち上がりは大きくなり、被写
体が暗い場合には時間に対する蓄積レベル特性の立ち上
がりは小さくなる。光電変換素子８の蓄積は、システム
コントロール回路１４の指示の下に蓄積制御手段１５に
より制御される。蓄積時間は、時間計数手段１６により
計数され、システムコントロール回路１４に計数値が送
られる。
た焦点検出装置の回路の実施の形態を示すブロック図で
ある。２次元センサである光電変換素子８は図３（ａ）
に示すように入射する被写体光の明るさに基づき蓄積す
る時間が変化する。被写体が明るい場合には時間に対す
る蓄積電荷レベル特性の立ち上がりは大きくなり、被写
体が暗い場合には時間に対する蓄積レベル特性の立ち上
がりは小さくなる。光電変換素子８の蓄積は、システム
コントロール回路１４の指示の下に蓄積制御手段１５に
より制御される。蓄積時間は、時間計数手段１６により
計数され、システムコントロール回路１４に計数値が送
られる。
【００１０】光電変換素子８には、その出力（信号レベ
ル）を監視するモニタ手段２０が設けられており、モニ
タ手段２０は、その出力をシステムコントロール回路１
４に送出する。図３（ｂ）は測光のための絶対的レベル
Ｈ1 と焦点検出のための交流レベルＬ1 のうち、交流レ
ベルＬ1 が十分得られていない例を示している。蓄積制
御手段１５により蓄積されたデータ出力は例えば図３
（ｃ）に示すように測光および焦点検出に十分な絶対的
レベルＨ2 と交流レベルＬ2 となることが必要がある。
モニタ手段２０は、光電変換素子８での蓄積動作による
レベルが測光および焦点検出に十分なレベルに達したか
否かの監視を行うためのものである。
ル）を監視するモニタ手段２０が設けられており、モニ
タ手段２０は、その出力をシステムコントロール回路１
４に送出する。図３（ｂ）は測光のための絶対的レベル
Ｈ1 と焦点検出のための交流レベルＬ1 のうち、交流レ
ベルＬ1 が十分得られていない例を示している。蓄積制
御手段１５により蓄積されたデータ出力は例えば図３
（ｃ）に示すように測光および焦点検出に十分な絶対的
レベルＨ2 と交流レベルＬ2 となることが必要がある。
モニタ手段２０は、光電変換素子８での蓄積動作による
レベルが測光および焦点検出に十分なレベルに達したか
否かの監視を行うためのものである。
【００１１】光電変換素子８で蓄積された信号出力は、
Ａ／Ｄ変換器９によりアナログ量からディジタルデータ
に変換され、第１転送手段１０および第２転送手段１２
よりなる転送手段に送られる。第１転送手段１０および
第２転送手段１２は、システムコントロール回路１４の
制御の下に、Ａ／Ｄ変換器９の出力を焦点ズレ量演算手
段１１と被写体輝度演算手段１３に転送する。焦点ズレ
量演算手段１１はＡ／Ｄ変換器９からの出力（交流レベ
ル）を得ることにより現在のレンズの位置が焦点からど
れだけズレているかを示すズレ量を算出する。
Ａ／Ｄ変換器９によりアナログ量からディジタルデータ
に変換され、第１転送手段１０および第２転送手段１２
よりなる転送手段に送られる。第１転送手段１０および
第２転送手段１２は、システムコントロール回路１４の
制御の下に、Ａ／Ｄ変換器９の出力を焦点ズレ量演算手
段１１と被写体輝度演算手段１３に転送する。焦点ズレ
量演算手段１１はＡ／Ｄ変換器９からの出力（交流レベ
ル）を得ることにより現在のレンズの位置が焦点からど
れだけズレているかを示すズレ量を算出する。
【００１２】一方、被写体輝度演算手段１３は、Ａ／Ｄ
変換器９からの絶対的なレベルより輝度情報を演算す
る。システムコントロール回路１４は、上記時間計数手
段１６およびモニタ手段２０からのデータ入力に基づき
蓄積制御手段１５，第１転送手段１０および第２転送手
段１２の制御を行う他、焦点ズレ量演算手段１１からの
ズレ量に基づきレンズ駆動手段１９を制御してレンズ１
を焦点位置にもたらすように動作する。また被写体輝度
演算手段１３からの輝度情報により絞り値およびシャッ
タ時間など露出に関する制御量を算出し、絞り１８およ
びシャッタ１７を制御する。
変換器９からの絶対的なレベルより輝度情報を演算す
る。システムコントロール回路１４は、上記時間計数手
段１６およびモニタ手段２０からのデータ入力に基づき
蓄積制御手段１５，第１転送手段１０および第２転送手
段１２の制御を行う他、焦点ズレ量演算手段１１からの
ズレ量に基づきレンズ駆動手段１９を制御してレンズ１
を焦点位置にもたらすように動作する。また被写体輝度
演算手段１３からの輝度情報により絞り値およびシャッ
タ時間など露出に関する制御量を算出し、絞り１８およ
びシャッタ１７を制御する。
【００１３】つぎに上記回路の具体的な制御内容につい
て説明する。図４は制御内容を示すもので、（ａ）は同
じ蓄積動作によるデータで焦点ズレ量および被写体輝度
演算を行う場合である。（ｂ）は最初の蓄積動作による
データで焦点ズレ量を演算し、次の蓄積動作で被写体輝
度演算を行う場合である。さらに蓄積時間条件により
（ａ）と（ｂ）を組み合わせて制御する場合がある。図
５は、図４（ａ）の制御を行う場合のフローチャートで
ある。蓄積制御手段１５が蓄積を開始すると（ステップ
（以下、「Ｓ」という）５０１）、時間計数手段１６は
蓄積時間の測定を開始する（Ｓ５０２）。システムコン
トロール回路１４はモニタ手段２０からのモニタ出力に
より所定蓄積量に達したか否かを判断する（Ｓ５０
３）。
て説明する。図４は制御内容を示すもので、（ａ）は同
じ蓄積動作によるデータで焦点ズレ量および被写体輝度
演算を行う場合である。（ｂ）は最初の蓄積動作による
データで焦点ズレ量を演算し、次の蓄積動作で被写体輝
度演算を行う場合である。さらに蓄積時間条件により
（ａ）と（ｂ）を組み合わせて制御する場合がある。図
５は、図４（ａ）の制御を行う場合のフローチャートで
ある。蓄積制御手段１５が蓄積を開始すると（ステップ
（以下、「Ｓ」という）５０１）、時間計数手段１６は
蓄積時間の測定を開始する（Ｓ５０２）。システムコン
トロール回路１４はモニタ手段２０からのモニタ出力に
より所定蓄積量に達したか否かを判断する（Ｓ５０
３）。
【００１４】そして、所定蓄積量すなわち焦点検出およ
び測光できるレベルに達したとき、時間計数手段１６か
らの時間計測を終了するとともに蓄積制御手段１５の蓄
積を終了させる（Ｓ５０４，Ｓ５０５）。これにより光
電変換素子８の出力はＡ／Ｄ変換器９によりディジタル
データに変換される（Ｓ５０６）。システムコントロー
ル回路１４は第１転送手段１０により上記ディジタルデ
ータを焦点ズレ量演算手段１１に転送させる（Ｓ５０
７）。焦点ズレ量演算手段１１はディジタルデータの中
から交流データを取り出し、焦点ズレ量を演算する（Ｓ
５０８）。一方、システムコントロール回路１４は第２
転送手段１２によりディジタルデータを被写体輝度演算
手段１３に送り（Ｓ５０９）、被写体輝度演算手段１３
はディジタルデータより絶対的レベル信号を取り出し、
被写体輝度を演算する（Ｓ５１０）。以後はシステムコ
ントロール回路１４の処理へと移る。
び測光できるレベルに達したとき、時間計数手段１６か
らの時間計測を終了するとともに蓄積制御手段１５の蓄
積を終了させる（Ｓ５０４，Ｓ５０５）。これにより光
電変換素子８の出力はＡ／Ｄ変換器９によりディジタル
データに変換される（Ｓ５０６）。システムコントロー
ル回路１４は第１転送手段１０により上記ディジタルデ
ータを焦点ズレ量演算手段１１に転送させる（Ｓ５０
７）。焦点ズレ量演算手段１１はディジタルデータの中
から交流データを取り出し、焦点ズレ量を演算する（Ｓ
５０８）。一方、システムコントロール回路１４は第２
転送手段１２によりディジタルデータを被写体輝度演算
手段１３に送り（Ｓ５０９）、被写体輝度演算手段１３
はディジタルデータより絶対的レベル信号を取り出し、
被写体輝度を演算する（Ｓ５１０）。以後はシステムコ
ントロール回路１４の処理へと移る。
【００１５】図６は、図４（ｂ）の制御を行う場合のフ
ローチャートである。この例のＳ６０１からＳ６０８ま
での動作は、図５のＳ５０１からＳ５０８の動作と同じ
である。焦点検出演算を行った後、再度光電変換素子８
の蓄積を開始し（Ｓ６０９）、時間計数手段１６により
蓄積時間の測定を開始する（Ｓ６１０）。システムコン
トロール回路１４は所定蓄積量に達したか否かを判断し
（Ｓ６１１）、所定蓄積量に達すると、蓄積時間測定を
終了するとともに蓄積を終了する（Ｓ６１２，Ｓ６１
３）。
ローチャートである。この例のＳ６０１からＳ６０８ま
での動作は、図５のＳ５０１からＳ５０８の動作と同じ
である。焦点検出演算を行った後、再度光電変換素子８
の蓄積を開始し（Ｓ６０９）、時間計数手段１６により
蓄積時間の測定を開始する（Ｓ６１０）。システムコン
トロール回路１４は所定蓄積量に達したか否かを判断し
（Ｓ６１１）、所定蓄積量に達すると、蓄積時間測定を
終了するとともに蓄積を終了する（Ｓ６１２，Ｓ６１
３）。
【００１６】光電変換素子８の出力はＡ／Ｄ変換器９に
よりディジタルデータに変換される（Ｓ６１４）。シス
テムコントロール回路１４は第２転送手段１２により上
記ディジタルデータを被写体輝度演算手段１３に転送さ
せる（Ｓ６１５）。被写体輝度演算手段１３はディジタ
ルデータより絶対的レベル信号を取り出し、被写体輝度
を演算する（Ｓ６１６）。以後はシステムコントロール
回路１４の処理へと移る。この例は焦点ズレ量と被写体
輝度の演算のための蓄積動作を別々にしているため、そ
れぞれに最適な蓄積時間を設定できるという特徴があ
る。
よりディジタルデータに変換される（Ｓ６１４）。シス
テムコントロール回路１４は第２転送手段１２により上
記ディジタルデータを被写体輝度演算手段１３に転送さ
せる（Ｓ６１５）。被写体輝度演算手段１３はディジタ
ルデータより絶対的レベル信号を取り出し、被写体輝度
を演算する（Ｓ６１６）。以後はシステムコントロール
回路１４の処理へと移る。この例は焦点ズレ量と被写体
輝度の演算のための蓄積動作を別々にしているため、そ
れぞれに最適な蓄積時間を設定できるという特徴があ
る。
【００１７】図７は、図４（ａ）と（ｂ）の制御を蓄積
時間の条件により組み合わせた場合のフローチャートで
ある。この例のＳ７０１からＳ７０８までの動作は、図
５のＳ５０１からＳ５０８の動作と同じである。Ｓ７０
８のステップにより焦点検出演算が行われると、システ
ムコントロール回路１４は時間計数手段１６で計数した
時間が所定の時間を越えているか否か判断する（Ｓ７０
９）。この例では５０ｍｓを越えているか否かを判断す
る。所定時間を越えていると判断すると、図５のＳ５０
９およびＳ５１０の動作と同じ動作、すなわち被写体輝
度演算手段１３にデータを転送し、被写体輝度を演算す
る（Ｓ７１６，Ｓ７１７）。
時間の条件により組み合わせた場合のフローチャートで
ある。この例のＳ７０１からＳ７０８までの動作は、図
５のＳ５０１からＳ５０８の動作と同じである。Ｓ７０
８のステップにより焦点検出演算が行われると、システ
ムコントロール回路１４は時間計数手段１６で計数した
時間が所定の時間を越えているか否か判断する（Ｓ７０
９）。この例では５０ｍｓを越えているか否かを判断す
る。所定時間を越えていると判断すると、図５のＳ５０
９およびＳ５１０の動作と同じ動作、すなわち被写体輝
度演算手段１３にデータを転送し、被写体輝度を演算す
る（Ｓ７１６，Ｓ７１７）。
【００１８】一方、所定時間以下であると、図６のＳ６
０９からＳ６１６までの動作、すなわち再度蓄積し、所
定蓄積量に達したとき蓄積を終了し、被写体輝度演算手
段１３にデータを転送し被写体輝度演算を行う（Ｓ７１
０〜Ｓ７１７）。この例は、蓄積時間が一定時間以下の
場合には焦点検出および測光に費やすための時間に占め
る蓄積時間の割合が少なくなるため、それぞれ焦点検出
および測光に最適な蓄積時間を設定するようにし、蓄積
時間が一定時間以上の場合には、焦点検出および測光に
ついて別々に蓄積時間を設けると、例えばレリーズを一
気に押した場合に、すぐにシャッタが切れず違和感を生
ずるのを防止するために上記のような場合には同じ蓄積
動作によるデータで焦点検出および被写体輝度を演算す
るようにしたものである。
０９からＳ６１６までの動作、すなわち再度蓄積し、所
定蓄積量に達したとき蓄積を終了し、被写体輝度演算手
段１３にデータを転送し被写体輝度演算を行う（Ｓ７１
０〜Ｓ７１７）。この例は、蓄積時間が一定時間以下の
場合には焦点検出および測光に費やすための時間に占め
る蓄積時間の割合が少なくなるため、それぞれ焦点検出
および測光に最適な蓄積時間を設定するようにし、蓄積
時間が一定時間以上の場合には、焦点検出および測光に
ついて別々に蓄積時間を設けると、例えばレリーズを一
気に押した場合に、すぐにシャッタが切れず違和感を生
ずるのを防止するために上記のような場合には同じ蓄積
動作によるデータで焦点検出および被写体輝度を演算す
るようにしたものである。
【００１９】
【発明の効果】以上、説明したように本発明は、焦点検
出用のセンサとして２次元に配列された光電変換素子を
用い、この出力を焦点検出だけではなく測光のためのデ
ータとして用いるようにし、蓄積時間の長短に応じて同
じデータを焦点検出および測光の演算のために共通に使
用したり、焦点検出および測光のためにそれぞれ最適な
蓄積時間で蓄積したデータをそれぞれの演算に用いたり
するように構成されている。したがって、ラインセンサ
ではなくエリアによる焦点検出でデータ量が多くなるた
め精度の良い測距ができるとともに測光に対する別個の
センサおよび光学系を削除できるので、焦点検出および
測光のための光学系のためのスペースを削減できる。ま
た、蓄積時間に対する条件を設けることにより焦点ズレ
量演算および被写体輝度演算に対し２次元センサから最
適なデータを得た焦点検出および測光ができるという効
果がある。
出用のセンサとして２次元に配列された光電変換素子を
用い、この出力を焦点検出だけではなく測光のためのデ
ータとして用いるようにし、蓄積時間の長短に応じて同
じデータを焦点検出および測光の演算のために共通に使
用したり、焦点検出および測光のためにそれぞれ最適な
蓄積時間で蓄積したデータをそれぞれの演算に用いたり
するように構成されている。したがって、ラインセンサ
ではなくエリアによる焦点検出でデータ量が多くなるた
め精度の良い測距ができるとともに測光に対する別個の
センサおよび光学系を削除できるので、焦点検出および
測光のための光学系のためのスペースを削減できる。ま
た、蓄積時間に対する条件を設けることにより焦点ズレ
量演算および被写体輝度演算に対し２次元センサから最
適なデータを得た焦点検出および測光ができるという効
果がある。
【図１】本発明による２次元センサを用いた焦点検出装
置の光学系の実施の形態を示す斜視図である。
置の光学系の実施の形態を示す斜視図である。
【図２】本発明による２次元センサを用いた焦点検出装
置の回路の実施の形態を示すブロック図である。
置の回路の実施の形態を示すブロック図である。
【図３】２次元センサに蓄積する動作を説明するための
図である。
図である。
【図４】焦点ズレ量演算と被写体輝度演算の制御シーケ
ンスを説明するための図である。
ンスを説明するための図である。
【図５】図４（ａ）の制御を行う場合のフローチャート
である。
である。
【図６】図４（ｂ）の制御を行う場合のフローチャート
である。
である。
【図７】図４（ａ）と（ｂ）の制御を蓄積時間の条件に
より組み合わせた場合のフローチャートである。
より組み合わせた場合のフローチャートである。
１…撮影レンズ ２…視野マスク ３…コンデンサレンズ ４…再結像レンズ ５…絞りマスク ６…２次元センサ（エリアセンサ） ７…視野マスクで形成される領域 ８…光電変換素子 ９…Ａ／Ｄ変換器 １０…第１転送手段 １１…焦点ズレ量演算手段 １２…第２転送手段 １３…被写体輝度演算手段 １４…システムコントロール回路 １５…蓄積制御手段 １６…時間計数手段 １７…シャッタ １８…絞り １９…レンズ駆動手段 ２０…モニタ手段
Claims (3)
- 【請求項１】 ２次元に配列された光電変換素子，前記
光電変換素子に被写体像を結像させるための少なくとも
一対のレンズおよび前記レンズの予定焦点面領域を形成
する視野マスクを有する自動焦点検出装置であって、 前記光電変換素子への電荷の蓄積を制御する蓄積制御手
段と、 前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より焦点ズ
レ量を演算する第１の演算手段と、 前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体
輝度情報を演算する第２の演算手段とを有し、 前記蓄積制御手段により蓄積動作させられて得られる前
記光電変換素子の出力を第１の演算手段および第２の演
算手段の両方に転送し、測距および測光を行うことを特
徴とする２次元センサを用いた自動焦点検出装置。 - 【請求項２】 ２次元に配列された光電変換素子，前記
光電変換素子に被写体像を結像させるための少なくとも
一対のレンズおよび前記レンズの予定焦点面領域を形成
する視野マスクを有する自動焦点検出装置であって、 前記光電変換素子への電荷の蓄積を制御する蓄積制御手
段と、 前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より焦点ズ
レ量を演算する第１の演算手段と、 前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体
輝度情報を演算する第２の演算手段とを有し、 前記蓄積制御手段により蓄積動作させられて得られる前
記光電変換素子の出力を第１の演算手段に、つぎの蓄積
動作により得られる前記光電変換素子の出力を第２の演
算手段に転送するというようにそれぞれ異なる蓄積動作
により得られる前記光電変換素子の出力を前記第１およ
び第２の演算手段に交互に転送し、測距および測光を行
うことを特徴とする２次元センサを用いた自動焦点検出
装置。 - 【請求項３】 ２次元に配列された光電変換素子，前記
光電変換素子に被写体像を結像させるための少なくとも
一対のレンズおよび前記レンズの予定焦点面領域を形成
する視野マスクを有する自動焦点検出装置であって、 前記光電変換素子への電荷の蓄積を制御する蓄積制御手
段と、 前記電荷の蓄積時間を計数する時間計数手段と、 前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より焦点ズ
レ量を演算する第１の演算手段と、 前記光電変換素子に蓄積され出力される信号より被写体
輝度情報を演算する第２の演算手段と、 前記光電変換素子の出力を前記第１および第２の演算手
段に転送する転送手段とを有し、 前記時間計数手段の計数結果が予め決められた時間より
長いときは、前記転送手段により前記光電変換素子の出
力を前記第１および第２の演算手段に転送させ、 前記時間計数手段の計数結果が予め決められた時間より
短いときは、前記光電変換素子の出力を前記第１の演算
手段に転送させた後、再度の蓄積動作により前記光電変
換素子の出力を前記第２の演算手段に転送させて測距お
よび測光を行うことを特徴とする２次元センサを用いた
自動焦点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33042096A JP3385172B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | ２次元センサを用いた自動焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33042096A JP3385172B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | ２次元センサを用いた自動焦点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10161014A true JPH10161014A (ja) | 1998-06-19 |
| JP3385172B2 JP3385172B2 (ja) | 2003-03-10 |
Family
ID=18232414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33042096A Expired - Fee Related JP3385172B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | ２次元センサを用いた自動焦点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3385172B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003057533A (ja) * | 2001-08-21 | 2003-02-26 | Nikon Corp | 焦点検出装置 |
| WO2009104415A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104418A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104390A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104416A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104417A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
-
1996
- 1996-11-26 JP JP33042096A patent/JP3385172B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003057533A (ja) * | 2001-08-21 | 2003-02-26 | Nikon Corp | 焦点検出装置 |
| WO2009104415A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104418A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104390A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104416A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| WO2009104417A1 (ja) * | 2008-02-22 | 2009-08-27 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| CN101952759A (zh) * | 2008-02-22 | 2011-01-19 | 松下电器产业株式会社 | 摄像装置 |
| US8068728B2 (en) | 2008-02-22 | 2011-11-29 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus |
| US8077233B2 (en) | 2008-02-22 | 2011-12-13 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus |
| US8077255B2 (en) | 2008-02-22 | 2011-12-13 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus |
| US8078047B2 (en) | 2008-02-22 | 2011-12-13 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus |
| JP4902890B2 (ja) * | 2008-02-22 | 2012-03-21 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| JP4902891B2 (ja) * | 2008-02-22 | 2012-03-21 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| JP4902892B2 (ja) * | 2008-02-22 | 2012-03-21 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| JP4902893B2 (ja) * | 2008-02-22 | 2012-03-21 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
| US8319870B2 (en) | 2008-02-22 | 2012-11-27 | Panasonic Corporation | Imaging apparatus |
| JP5128616B2 (ja) * | 2008-02-22 | 2013-01-23 | パナソニック株式会社 | 撮像装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3385172B2 (ja) | 2003-03-10 |
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