JPH10150123A - 配線基板及びその製造方法 - Google Patents

配線基板及びその製造方法

Info

Publication number
JPH10150123A
JPH10150123A JP8304905A JP30490596A JPH10150123A JP H10150123 A JPH10150123 A JP H10150123A JP 8304905 A JP8304905 A JP 8304905A JP 30490596 A JP30490596 A JP 30490596A JP H10150123 A JPH10150123 A JP H10150123A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermosetting resin
wiring conductor
wiring
resin
precursor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8304905A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3393768B2 (ja
Inventor
Fujito Nakakawaji
藤人 中川路
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP30490596A priority Critical patent/JP3393768B2/ja
Publication of JPH10150123A publication Critical patent/JPH10150123A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3393768B2 publication Critical patent/JP3393768B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】外力印加によって絶縁基体に欠けや割れが発生
し、また配線導体が絶縁基体より剥離してしまう。 【解決手段】60重量%乃至95重量%の無機絶縁物粉
末と5重量%乃至40重量%の熱硬化性樹脂とからな
り、前記無機絶縁物粉末を前記熱硬化性樹脂により結合
した少なくとも一枚の絶縁基板から成る絶縁基体1に、
金属粉末を熱硬化性樹脂により結合した配線導体2を被
着させて成る配線基板であって、前記絶縁基体1と配線
導体2との間に熱硬化性樹脂にシランカップリング剤を
2乃至10重量部含有させて成る中間層5を介在させ
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板に関し、
より詳細には半導体素子を収容するための半導体素子収
納用パッケージや混成集積回路装置等に用いられる配線
基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、配線基板、例えば半導体素子を収
容する半導体素子収納用パッケージに使用される配線基
板は、酸化アルミニウム質焼結体等のセラミックスより
成り、その上面中央部に半導体素子を収容する凹部を有
する絶縁基体と、前記絶縁基体の凹部周辺から下面にか
けて導出されたタングステン、モリブデン等の高融点金
属粉末から成る配線導体とから構成されており、前記絶
縁基体の凹部底面に半導体素子をガラス、樹脂、ロウ材
等の接着剤を介して接着固定するとともに該半導体素子
の各電極を、例えばボンディングワイヤ等の電気的接続
手段を介して配線導体に電気的に接続し、しかる後、前
記絶縁基体の上面に、金属やセラミックス等から成る蓋
体を絶縁基体の凹部を塞ぐようにしてガラス、樹脂、ロ
ウ材等の封止部材を介して接合させ、絶縁基体の凹部内
に半導体素子を気密に収容することによって製品として
の半導体装置となる。
【0003】なお、この従来の配線基板は一般に、セラ
ミックグリーンシート積層法によって製作されており、
具体的には酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシ
ウム、酸化カルシウム等のセラミック原料粉末に適当な
有機バインダー、溶剤等を添加混合して泥漿状となすと
ともにこれを従来周知のドクターブレード法を採用し、
シート状にすることによって複数枚のセラミックグリー
ンシートを得、しかる後、前記セラミックグリーンシー
トに適当な打ち抜き加工を施すとともに配線導体となる
金属ペーストを所定パターンに印刷塗布し、最後に前記
セラミックグリーンシートを所定の順に上下に積層して
生セラミック成形体となすとともに該生セラミック成形
体を還元雰囲気中、約1600℃の高温で焼成すること
によって製作される。
【0004】しかしながら、この従来の配線基板は、絶
縁基体を構成する酸化アルミニウム質焼結体等のセラミ
ックスが硬くて脆い性質を有するため、搬送工程や半導
体装置製作の自動ライン等において配線基板同士が、あ
るいは配線基板と半導体装置製作自動ラインの一部とが
激しく衝突すると絶縁基体に欠けや割れ、クラック等が
発生し、その結果、半導体素子を気密に収容することが
できず、半導体素子を長期間にわたり正常、かつ安定に
作動させることができなくなるという欠点を有してい
た。
【0005】また、前記配線基板の製造方法によれば、
生セラミック成形体を焼成する際、生セラミック成形体
に不均一な焼成収縮が生じ、得られる配線基板に反り等
の変形や寸法のばらつきが発生して半導体素子の各電極
を所定の配線導体に、あるいは配線導体を所定の外部電
気回路に正確、かつ確実に電気的接続することができな
いという欠点を有していた。
【0006】そこで、配線基板の絶縁基体を従来のセラ
ミックスに代えて無機絶縁物粉末を熱硬化性樹脂で結合
したものに、配線導体を従来の高融点金属粉末に代えて
金属粉末を熱硬化性樹脂で結合したものにした配線基板
が提案されている。この無機絶縁物粉末を熱硬化性樹脂
で結合して成る絶縁基体と金属粉末を熱硬化性樹脂で結
合して成る配線導体とから成る配線基板は、熱硬化性樹
脂と無機絶縁物粉末とを混合して成る半硬化状態の前駆
体シートを準備するとともに該前駆体シートに適当な打
ち抜き加工を施し、次にこれに熱硬化性樹脂と金属粉末
とを混合して成る金属ペーストを所定パターンに印刷塗
布し、最後に前記金属ペーストが印刷塗布された前駆体
シートを必要に応じて積層するとともにこれを約100
〜300℃の温度で熱硬化させることによって製作され
る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この無
機絶縁物粉末を熱硬化性樹脂で結合して成る絶縁基体と
金属粉末を熱硬化性樹脂で結合して成る配線導体とから
成る配線基板は、絶縁基体に対する配線導体の接合強度
が若干弱く、配線導体に半導体素子の電極を接続する際
等において配線導体に大きな外力が印加されると該外力
によって配線導体が絶縁基体より剥離し、半導体素子等
の電極と配線導体との電気的接続の信頼性が若干劣ると
いう解決すべき課題を有していた。
【0008】本発明は上記欠点に鑑み案出されたもの
で、その目的は絶縁基体と配線導体との接合を強固と
し、配線導体に半導体素子の電極等を強固に電気的接続
することができる配線基板を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、60重量%乃
至95重量%の無機絶縁物粉末と5重量%乃至40重量
%の熱硬化性樹脂とからなり、前記無機絶縁物粉末を前
記熱硬化性樹脂により結合した少なくとも一枚の絶縁基
板から成る絶縁基体に、金属粉末を熱硬化性樹脂により
結合した配線導体を被着させて成る配線基板であって、
前記絶縁基体と配線導体との間に熱硬化性樹脂にシラン
カップリング剤を2乃至10重量部含有させて成る中間
層を介在させたことを特徴とするものである。
【0010】また本発明の配線基板の製造方法は、熱硬
化性樹脂前駆体と無機絶縁物粉末とを混合してなる前駆
体シートを準備する工程と、前記前駆体シートの一面に
熱硬化性樹脂前駆体にシランカップリング剤を添加した
樹脂ペーストを塗布する工程と、前記塗布された樹脂ペ
ースト上に熱硬化性樹脂前駆体と金属粉末とを混合して
なる金属ペーストを所定パターンに塗布する工程と、前
記前駆体シート、樹脂ペースト及び金属ペーストを加熱
処理し、熱硬化させる工程と、から成ることを特徴とす
るものである。
【0011】本発明の配線基板によれば、絶縁基体が無
機絶縁物粉末を靱性に優れる熱硬化性樹脂で結合するこ
とによって形成されていることから配線基板同士あるい
は配線基板と半導体装置製作ラインの一部とが激しく衝
突したとしても絶縁基体に欠けや割れ、クラック等を発
生することはない。
【0012】また本発明の配線基板によれば、絶縁基体
と配線導体との間に両者に対し密着性が良い熱硬化性樹
脂にγグリシドキシプロピルトリメトキシシラン等のシ
ランカップリング剤を2乃至10重量部含有させて成る
中間層を介在させたことから絶縁基体に対する配線導体
の接合強度が前記中間層によって極めて強いものとな
り、その結果、配線導体に半導体素子の電極を接続する
際等において配線導体に大きな外力が印加されても配線
導体が絶縁基体より剥離することはなく、半導体素子等
の電極を配線導体に確実、強固に電気的接続することが
可能となる。
【0013】更に本発明の配線基板は、熱硬化性樹脂前
駆体と無機絶縁物粉末とを混合してなる前駆体シートを
準備する工程と、前記前駆体シートの一面に熱硬化性樹
脂前駆体にシランカップリング剤を添加した樹脂ペース
トを塗布する工程と、前記塗布された樹脂ペースト上に
熱硬化性樹脂前駆体と金属粉末とを混合してなる金属ペ
ーストを所定パターンに塗布する工程と、前記前駆体シ
ート、樹脂ペースト及び金属ペーストを加熱処理し、熱
硬化させる工程とで製作され、前駆体シート、樹脂ペー
スト、金属ペーストの熱硬化性樹脂前駆体は熱硬化時に
殆ど収縮しないことから不均一な収縮による変形や寸法
のばらつきが発生することもない。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、本発明を添付図面に基づき
詳細に説明する。図1及び図2は、本発明の配線基板を
半導体素子を収容する半導体素子収納用パッケージに適
用した場合の一実施医を示し、1は絶縁基体、2は配線
導体である。
【0015】前記絶縁基体1は3枚の絶縁基板1a、1
b、1cを積層することによって形成されており、その
上面の中央部に半導体素子を収容するための凹部1dを
有し、該凹部1d底面には半導体素子3が樹脂等の接着
材を介して接着固定される。
【0016】前記絶縁基体1を構成する3枚の絶縁基板
1a、1b、1cは、例えば酸化珪素、酸化アルミニウ
ム、窒化アルミニウム、炭化珪素、チタン酸バリウム、
ゼオライト等の無機絶縁物粉末をエポキシ樹脂、ポリイ
ミド樹脂等の熱硬化性樹脂で結合することによって形成
されており、絶縁基体1を構成する3枚の絶縁基板1
a、1b、1cはその各々が無機絶縁物粉末を靱性に優
れる熱硬化性樹脂で接合することによって形成されてい
ることから絶縁基体1に外力が印加されても、該外力に
よって絶縁基体1に欠けや割れ、クラック等が発生する
ことはない。
【0017】なお、前記無機絶縁物粉末を熱硬化性樹脂
で結合して成る絶縁基体1を構成する3枚の絶縁基板1
a、1b、1cは無機絶縁物粉末の含有量が60重量%
未満であると絶縁基体1の熱膨張係数が半導体素子3の
熱膨張係数に対して大きく相違し、半導体素子3が作動
時に熱を発し、該熱が半導体素子3と絶縁基体1の両者
に印加されると両者間に熱膨張係数の相違に起因する大
きな熱応力が発生し、この大きな熱応力によって半導体
素子3が絶縁基体1より剥離したり、半導体素子3に割
れや欠け等が発生してしまう。また95重量%を越える
と無機絶縁物粉末を熱硬化性樹脂で完全に結合させるこ
とができず、所定の絶縁基板1a、1b、1cを得るこ
とができなくなる。従って、前記絶縁基体1を構成する
絶縁基板1a、1b、1cはその各々の内部に含有され
る無機絶縁物粉末の量が60重量%乃至95重量%の範
囲に特定される。
【0018】また前記絶縁基体1はその凹部1dの周辺
から下面にかけて例えば、銅、銀、金等の金属粉末をエ
ポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂より結合した配線導体2が
形成されている。
【0019】前記配線導体2は、内部に収容する半導体
素子3を外部電気回路に電気的に接続する作用をなし、
凹部1dの周辺部位には半導体素子3の各電極がボンデ
ィングワイヤ4を介して電気的に接続され、また絶縁基
体1の下面に導出する部位は外部電気回路基板に電気的
に接続される。
【0020】前記配線導体2はそれに含有される金属粉
末の量が70重量%未満では配線導体2の導電性が悪く
なる傾向にあり、また95重量%を越えると金属粉末を
熱硬化性樹脂で強固に結合することが困難となる傾向に
ある。従って、前記金属粉末を熱硬化性樹脂で結合して
成る配線導体2は金属粉末の含有量を70重量%乃至9
5重量%の範囲としておくことが好ましい。
【0021】また前記配線導体2は、その露出する表面
にニッケル、金等の耐蝕性に優れ、かつ良導電性の金属
をめっき法により1μm乃至20μmの厚みに被着させ
ておくと、配線導体2の酸化腐食を有効に防止すること
ができるとともに配線導体2とボンディングワイヤ4と
を強固に電気的接続させることができる。従って、前記
配線導体2はその露出する表面にニッケルや金等の耐蝕
性に優れ、かつ良導電性である金属をめっき法により1
μm乃至20μm厚みに被着させておくことが好まし
い。
【0022】前記配線導体2はまた絶縁基体1の下面に
導出する部位に、外部電気回路と電気的に接続されるバ
ンプ電極2aが形成されており、該バンプ電極2aを外
部電気回路基板の配線導体に半田等の導電性接着剤を介
して接合することにより内部に収容する半導体素子3は
外部電気回路に電気的に接続されることとなる。
【0023】更に前記配線導体2と絶縁基体1を構成す
る絶縁基板1bの上面との間に図2に示すように、中間
層5が介在されており、該中間層5によって配線導体2
と絶縁基板1bとの密着性が大きく向上し、配線導体2
に半導体素子3の電極をボンディングワイヤ4を介して
接続させる際等において、配線導体2に大きな外力が印
加されたとしても該外力によって配線導体2が絶縁基体
1(絶縁基板1bの上面)より剥離することはなく、こ
れによって半導体素子3の各電極を配線導体2に確実、
強固に電気的接続することが可能となる。
【0024】前記中間層5はエポキシ樹脂、ポリイミド
樹脂等の熱硬化性樹脂にシランカップリング剤を2乃至
10重量部含有させて成り、該シランカップリング剤は
その官能基が絶縁基板1bの表面に露出する無機絶縁物
粉末及び配線導体2の金属粉末と水素結合し、同時に親
油基が中間層5の熱硬化性樹脂と結合することによって
配線導体2を絶縁基板1bの上面に極めて強固に接合さ
せる。
【0025】前記中間層5に含有されるシランカップリ
ング剤としてはγグリシドキシプロピルトリメトキシシ
ラン、γグリシドキシプロピルメチルジエトキシシラ
ン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、
β−(3,4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメト
キシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピ
ルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキ
シシラン等があるが、特にγグリシドキシプロピルトリ
メトキシシランは中間層5の熱硬化性樹脂と相溶性が良
く、膜表面も滑らかとなることから好適である。
【0026】また前記中間層5に含有されるシランカッ
プリング剤はその含有量が2重量部未満であると配線導
体2を絶縁基板1b上に強固に接合することができなく
なり、また10重量部を越えると中間層5の膜強度が低
下してしまう。従って、前記中間層5に含有されるシラ
ンカップリング剤はその含有量が2乃至10重量部の範
囲に特定される。
【0027】更に前記中間層5はその厚みが3μm未満
となると配線導体2を絶縁基板1b上に強固に接合する
のが困難となり、また20μmを越えると熱硬化性樹脂
に無機絶縁物粉末を含有させて成る絶縁基板1bと、熱
硬化性樹脂にシランカップリング剤を含有させて成る中
間層5の熱膨張係数の相異に起因して両者に熱が印加さ
れた場合に両者間に剥離が発生してしまう危険性があ
る。従って、前記中間層5はその厚みを3μm乃至20
μmの範囲としておくことが好ましい。
【0028】かくして上述の配線基板よれば、絶縁基体
1の凹部1d底面に半導体素子3を接着剤を介して接着
固定するとともに半導体素子3の各電極をボンディング
ワイヤ4を介して配線導体2に電気的に接続し、しかる
後、前記絶縁基体1の上面に蓋体6を封止剤を介して接
合させ、絶縁基体11と蓋体6とから成る容器内部に半
導体素子3を気密に収容することによって製品としての
半導体装置となる。
【0029】次に前記半導体素子収納用パッケージに使
用される配線基板の製造方法について図3に基づき説明
する。まず図3(a)に示すように、3枚の前駆体シー
ト11a、11b、11cを準備する。
【0030】前記3枚の前駆体シート11a、11b、
11cは酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウ
ム、炭化珪素、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチ
ウム、酸化チタン等の無機絶縁物粉末をエポキシ樹脂、
ポリイミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂等の熱硬
化性樹脂前駆体で結合することによって形成されてお
り、例えば粒径が0.1〜100μmの酸化珪素粉末
に、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ノボラック型エ
ポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂等のエ
ポキシ樹脂、及びアミン系硬化剤、イミダゾール系硬化
剤、酸無水物系硬化剤等の硬化剤を添加混合してペース
ト状となし、しかる後、このペーストをシート状になす
とともに約25〜100℃の温度で1〜60分間加熱
し、半硬化させことによって製作される。
【0031】次に図3(b)に示すように、前記前駆体
シート11bの上面に樹脂ペースト膜15を形成する。
【0032】前記樹脂ペースト膜15はエポキシ樹脂、
ポリイミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂等の熱硬
化性樹脂前駆体にγグリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン等のシランカップリング剤を2乃至10重量部含
有させた樹脂ペーストをつくるとともにこれを前記前駆
体シート11bの上面に3μm〜20μmの厚みに被着
させることよって前駆体シート11bの上面に形成され
る。
【0033】前記樹脂ペースト膜15の前駆体シート1
1bの上面への形成は一旦、前駆体シート11bを形成
し、その後に前記前駆体シート11bの上面に熱硬化性
樹脂前駆体にシランカップリング剤を含有させた樹脂ペ
ーストを塗布するとともにこれを熱処理し、樹脂ペース
ト中の熱硬化性樹脂を半硬化させることによって、或い
は無機絶縁物粉末と熱硬化性樹脂前駆体とを混合したペ
ーストをシート状に成形し、このシートの上面に熱硬化
性樹脂前駆体にシランカップリング剤を含有させた樹脂
ペーストを所定厚みに被着させ、その後、これらを約2
5〜100℃の温度で1〜60分間熱処理し、シートの
熱硬化性樹脂及び樹脂ペースト中の熱硬化性樹脂の各々
半硬化させることによって行われる。
【0034】次に図3(c)に示すように、前記3枚の
前駆体シート11a、11b、11cのうち2枚の前駆
体シート11a、11bに半導体素子3を収容する凹部
1dとなる開口A、A’を、2枚の前駆体シート11
b、11cに配線導体2を引き回すための貫通孔B、
B’を各々形成する。
【0035】前記開口A、A’及び貫通孔B、B’は前
駆体シート11a、11b、11cに従来周知のパンチ
ング加工法を施し、前駆体シート11a、11b、11
cの各々に所定形状の孔を穿孔することによって形成さ
れる。
【0036】次に図3(d)に示すように、前記前駆体
シート11b、11cの上下面及び貫通孔B、B’内に
配線導体2となる金属ペースト12を従来周知のスクリ
ーン印刷法により所定パターンに印刷塗布するとともに
これを約25〜100℃の温度で1〜60分間加熱し、
半硬化させる。
【0037】前記金属ペースト12としては、例えば、
粒径が0.1〜20μm程度の銅等の粉末にビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、グ
リシジルエステル型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂、及
びアミン系硬化剤、イミダゾール系硬化剤、酸無水物系
硬化剤等の硬化剤を添加混合しペースト状となしたもの
が使用される。
【0038】そして最後に前記3枚の前駆体シート11
a、11b、11cを上下に積層するとともにこれを約
80〜300℃の温度で10秒〜24時間加熱し、前記
前駆体シート11a、11b、11c、樹脂ペースト膜
15及び所定パターンに印刷塗布された金属ペースト1
2を完全に熱硬化させることによって図1に示すような
絶縁基体1に配線導体2を被着させた配線基板が完成す
る。この場合、前記前駆体シート11a、11b、11
c、樹脂ペースト膜15及び金属ペースト12は熱硬化
時に収縮することは殆どなく、従って、得られる配線基
板に変形や寸法のばらつきが発生することはなく、これ
によって半導体素子と配線導体とを正確に接続すること
が可能となる。
【0039】なお、本発明は上述の実施例に限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば
種々の変更は可能であり、例えば上述の実施例では、本
発明の配線基板を半導体素子を収容する半導体素子収納
用パッケージに適用した場合を例に採って説明したが、
これを構成集積回路等に用いられる配線基板としても適
用できることはいうまでもない。
【0040】また上述の実施例では、3枚の前駆体シー
トを積層することによって配線基板を製作したが、一枚
や二枚、或いは四枚以上の絶縁基板を積層することによ
って形成してもよい。
【0041】
【発明の効果】本発明の配線基板によれば、絶縁基体が
無機絶縁物粉末を靱性に優れる熱硬化性樹脂で結合する
ことによって形成されていることから配線基板同士ある
いは配線基板と半導体装置製作ラインの一部とが激しく
衝突したとしても絶縁基体に欠けや割れ、クラック等を
発生することはない。
【0042】また本発明の配線基板によれば、絶縁基体
と配線導体との間に両者に対し密着性が良い熱硬化性樹
脂にγグリシドキシプロピルトリメトキシシラン等のシ
ランカップリング剤を2乃至10重量部含有させて成る
中間層を介在させたことから絶縁基体に対する配線導体
の接合強度が前記中間層によって極めて強いものとな
り、その結果、配線導体に半導体素子の電極を接続する
際等において配線導体に大きな外力が印加されても配線
導体が絶縁基体より剥離することはなく、半導体素子等
の電極を配線導体に確実、強固に電気的接続することが
可能となる。
【0043】更に本発明の配線基板は、熱硬化性樹脂前
駆体と無機絶縁物粉末とを混合してなる前駆体シートを
準備する工程と、前記前駆体シートの一面に熱硬化性樹
脂前駆体にシランカップリング剤を添加した樹脂ペース
トを塗布する工程と、前記塗布された樹脂ペースト上に
熱硬化性樹脂前駆体と金属粉末とを混合してなる金属ペ
ーストを所定パターンに塗布する工程と、前記前駆体シ
ート、樹脂ペースト及び金属ペーストを加熱処理し、熱
硬化させる工程とで製作され、前駆体シート、樹脂ペー
スト、金属ペーストの熱硬化性樹脂前駆体は熱硬化時に
殆ど収縮しないことから不均一な収縮による変形や寸法
のばらつきが発生することもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の配線基板を半導体素子収納用パッケー
ジに適用した場合の一実施例を示す断面図である。
【図2】図1に示す配線基板の要部拡大断面図である。
【図3】(a)乃至(d)は本発明の配線基板の製造方
法を説明するための工程毎の断面図である。
【符号の説明】
1・・・・・・・・・・絶縁基体 1a、1b、1c・・・絶縁基板 2・・・・・・・・・・配線導体 5・・・・・・・・・・中間層 11a、11b、11c・・前駆体シート 12・・・・・・・・・・・金属ペースト 15・・・・・・・・・・・樹脂ペースト膜
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H05K 3/38 H05K 3/38 E

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】60重量%乃至95重量%の無機絶縁物粉
    末と5重量%乃至40重量%の熱硬化性樹脂とからな
    り、前記無機絶縁物粉末を前記熱硬化性樹脂により結合
    した少なくとも一枚の絶縁基板から成る絶縁基体に、金
    属粉末を熱硬化性樹脂により結合した配線導体を被着さ
    せて成る配線基板であって、前記絶縁基体と配線導体と
    の間に熱硬化性樹脂にシランカップリング剤を2乃至1
    0重量部含有させて成る中間層を介在させたことを特徴
    とする配線基板。
  2. 【請求項2】前記中間層の厚みが3μm乃至20μmで
    あることを特徴とする請求項1に記載の配線基板。
  3. 【請求項3】前記シランカップリング剤がγグリシドキ
    シプロピルトリメトキシシランであることを特徴とする
    請求項1に記載の配線基板。
  4. 【請求項4】熱硬化性樹脂前駆体と無機絶縁物粉末とを
    混合してなる前駆体シートを準備する工程と、前記前駆
    体シートの一面に熱硬化性樹脂前駆体にシランカップリ
    ング剤を添加した樹脂ペーストを塗布する工程と、前記
    塗布された樹脂ペースト上に熱硬化性樹脂前駆体と金属
    粉末とを混合してなる金属ペーストを所定パターンに塗
    布する工程と、前記前駆体シート、樹脂ペースト及び金
    属ペーストを加熱処理し、熱硬化させる工程と、から成
    る配線基板の製造方法。
JP30490596A 1996-11-15 1996-11-15 配線基板及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3393768B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30490596A JP3393768B2 (ja) 1996-11-15 1996-11-15 配線基板及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30490596A JP3393768B2 (ja) 1996-11-15 1996-11-15 配線基板及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10150123A true JPH10150123A (ja) 1998-06-02
JP3393768B2 JP3393768B2 (ja) 2003-04-07

Family

ID=17938713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30490596A Expired - Fee Related JP3393768B2 (ja) 1996-11-15 1996-11-15 配線基板及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3393768B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261427A (ja) * 2001-02-27 2002-09-13 Kyocera Corp 配線基板及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261427A (ja) * 2001-02-27 2002-09-13 Kyocera Corp 配線基板及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3393768B2 (ja) 2003-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1074858A (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3152852B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3393768B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3301907B2 (ja) 配線基板の製造方法
JP3398310B2 (ja) 配線基板の製造方法
JP3292644B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3145621B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3292623B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3297573B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3297576B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3297574B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3305574B2 (ja) 配線基板
JP3145620B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3393769B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3292646B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3605235B2 (ja) 配線基板の製造方法
JP3145619B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3297575B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP3181019B2 (ja) 配線基板の製造方法
JPH10209324A (ja) 配線基板
JP3393747B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JPH08288596A (ja) 配線基板及びその製造方法
JPH08307025A (ja) 配線基板及びその製造方法
JPH1050890A (ja) 配線基板及びその製造方法
JPH10163380A (ja) 配線基板及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090131

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100131

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees